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JPH03102641A - Automatic gain controller for optical memory device - Google Patents

Automatic gain controller for optical memory device

Info

Publication number
JPH03102641A
JPH03102641A JP23901389A JP23901389A JPH03102641A JP H03102641 A JPH03102641 A JP H03102641A JP 23901389 A JP23901389 A JP 23901389A JP 23901389 A JP23901389 A JP 23901389A JP H03102641 A JPH03102641 A JP H03102641A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
data
recorded
mark
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23901389A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Fuji
寛 藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP23901389A priority Critical patent/JPH03102641A/en
Priority to US07/581,218 priority patent/US5361247A/en
Priority to DE69029115T priority patent/DE69029115T2/en
Priority to CA002025121A priority patent/CA2025121C/en
Priority to EP90310006A priority patent/EP0418070B1/en
Publication of JPH03102641A publication Critical patent/JPH03102641A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

PURPOSE:To always apply reproduction properly by discriminating whether a signal is a data recorded or a defect pulse with a reproduction signal state discrimination means. CONSTITUTION:A reproduction signal state discrimination means 105 consists of a shift register making up of plural D flip-flops 106 and a pattern comparator circuit 107 compares a signal corresponding to plural consecutive bits in a synchronizing data 2513 outputted from output terminals O with a pattern of a VFO mark. Since the reproduction signal state discrimination means 105 discriminating whether or not a reproduction signal is a recorded data is provided in this way, whether a recorded area of current information is reproduced or an unrecorded area is reproduced is discriminated and when an information pulse group exists, whether it is a recorded data or a defect pulse is also discriminated. Thus, the reproduction of the information in the recorded area is always implemented properly.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光メモリに記録、消去又は再生を行う光メモ
リ装置に設けられ、再生信号の振幅に応じてゲインを調
整するオートゲインコントロール装置に関するものであ
る。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an automatic gain control device that is installed in an optical memory device that performs recording, erasing, or reproduction in an optical memory, and that adjusts the gain according to the amplitude of a reproduced signal. It is.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の光メモリ装置について、以下、光磁気ディスクに
記録、消去及び再生を行う光磁気メモリ装置を例に挙げ
て説明する。
Conventional optical memory devices will be described below, taking as an example a magneto-optical memory device that performs recording, erasing, and reproduction on a magneto-optical disk.

第34図(a)に示すように、光磁気ディスクは、ディ
スク基板2804上に記録磁性Jfl2805が或膜さ
れて形威されている。記録磁性膜2805は、磁化容易
軸がその膜面に垂直な方向になるように威膜されており
、記録磁性膜2805内に矢印で示す磁化の向きが予め
一定の向き(例えば、同図中の磁化の向きA)となるよ
うにイニシャライズされている。
As shown in FIG. 34(a), the magneto-optical disk has a recording magnetic Jfl2805 film formed on a disk substrate 2804. The recording magnetic film 2805 is formed so that the axis of easy magnetization is perpendicular to the film surface, and the direction of magnetization shown by the arrow in the recording magnetic film 2805 is predetermined (for example, in the same figure). It is initialized so that the direction of magnetization is A).

記録に際しては、半導体レーザ2801から出射された
レーザビーム2803は対物レンズ2802で1μm程
度の径に集光され、記録磁性膜2805に照射される。
During recording, a laser beam 2803 emitted from a semiconductor laser 2801 is focused by an objective lens 2802 to a diameter of about 1 μm, and is irradiated onto a recording magnetic film 2805.

その際、記録すべき情報に対応する記録信号2807 
(同図(b)参照)に基づいてレーザビーム2803の
光強度の強弱が制御される。光強度の強いレーザビーム
2803が照射された部位の温度は局所的に上昇してキ
ュリー温度を超え、その部分の保磁力が著しく低下する
。その結果、保磁力の低下した部位の磁化の向きは、レ
ーザビーム2803の照射と同時に印加される外部印加
磁場2806と同一の向き(同図中の磁化の向きB)に
反転する。このようにして、記録信号2807に対応し
た情報が記録磁性膜2805に記録される。以下、上記
のようにして向きBの磁化が記録された部位をマーク2
809、そうでない向き八の磁化が記録された部位を非
マーク2810と称する。
At that time, a recording signal 2807 corresponding to the information to be recorded
The strength of the light intensity of the laser beam 2803 is controlled based on the following (see FIG. 2(b)). The temperature of the region irradiated with the high-intensity laser beam 2803 locally increases to exceed the Curie temperature, and the coercive force of that region decreases significantly. As a result, the direction of magnetization in the region where the coercive force has decreased is reversed to the same direction as the externally applied magnetic field 2806 applied simultaneously with the irradiation of the laser beam 2803 (direction of magnetization B in the figure). In this way, information corresponding to the recording signal 2807 is recorded on the recording magnetic film 2805. Below, mark 2 is the part where the magnetization in direction B is recorded as described above.
809, and a portion where magnetization in the other direction 8 is recorded is referred to as a non-mark 2810.

記録磁性膜2805に記録された情報の消去は、外部印
加磁場2806の向きを記録時と逆にして記録時と同様
の方法で行い、磁化の向きを元のイニシャライズ時の向
き(即ち、同図中の磁化の向きA)に戻すことにより実
行される。この結果、消去された部分は非マーク281
0となる。
Erasing information recorded on the recording magnetic film 2805 is performed in the same manner as during recording by reversing the direction of the externally applied magnetic field 2806 from that during recording, and changing the direction of magnetization to the original initializing direction (i.e., This is carried out by returning the magnetization direction A). As a result, the erased portion is a non-mark 281
It becomes 0.

なお、本例ではレーザビーム2803を記録信号280
7に応じて変調し、一定の強さの外部印加磁場2806
を印加して記録する光変調方式を示したが、それ以外に
、レーザビーム2803の強さを一定にし、外部印加磁
場2806の向きを記録信号2807に応じて変調して
記録する磁界変調方式で記録しても良い。
Note that in this example, the laser beam 2803 is used as the recording signal 280.
Externally applied magnetic field 2806 of constant strength modulated according to 7
In addition to this, there is a magnetic field modulation method in which the intensity of the laser beam 2803 is kept constant and the direction of the externally applied magnetic field 2806 is modulated according to the recording signal 2807. You may record it.

上記ディスク基板2804にはガラス、又はプラスチッ
ク等からなり、第34図(a)に示すように、トラック
やセクタの番地を示すアドレス情報が、予め物理的な凹
凸2808として刻み込まれて形威されている。
The disk substrate 2804 is made of glass or plastic, and as shown in FIG. 34(a), address information indicating the addresses of tracks and sectors is carved in advance as physical irregularities 2808. There is.

上記のアドレス情報は予め一定のフォーマットで刻み込
まれているので、それ以後は記録・消去の各動作はでき
ないものである。予め物理的な凹凸2808として刻み
込まれた部分を以後プリフォーマット部3003と称す
る。これに対して情報の記録・消去の各動作はブリフォ
ーマット部3003以外の部分で行われるが、この部分
をMO(光磁気)部3002と称する。通常、プリフォ
ーマット部3003及びMO部3002は、第36図に
示すように、渦巻状又は同心円状のトラック3005上
に交互に配置されている。そして、プリフォーマット部
3003とMO部3002とが一対で一つのセクタ30
04を構或している。
Since the above address information is inscribed in advance in a certain format, recording and erasing operations cannot be performed thereafter. The portion carved in advance as physical unevenness 2808 will be referred to as a preformat portion 3003 hereinafter. On the other hand, each operation of recording and erasing information is performed in a portion other than the format section 3003, and this section is referred to as an MO (magneto-optical) section 3002. Usually, the preformat section 3003 and the MO section 3002 are arranged alternately on spiral or concentric tracks 3005, as shown in FIG. The preformat section 3003 and the MO section 3002 form one sector 30 as a pair.
It consists of 04.

光磁気ディスク3001はトラック3005上に、それ
ぞれアドレス(番地)情報が付与された多数のセクタ3
004を含む構或であり、情報の記録・再生・消去の各
動作は、セクタ3004単位毎に行われるようになって
いる。
The magneto-optical disk 3001 has a large number of sectors 3 on a track 3005, each of which is assigned address information.
004, and each operation of recording, reproducing, and erasing information is performed in units of 3004 sectors.

又、第37図に示すように、上記トラック3005上の
プリフォーマット部3003においては、第34図の凹
凸2808の凹部又は凸部のいずれかがマーク2811
を構或するとともに、凹部又は凸部の他方が非マーク2
8l2を構或する。
Further, as shown in FIG. 37, in the preformat section 3003 on the track 3005, either the concave part or the convex part of the concavo-convex part 2808 in FIG.
and the other of the concave part or the convex part is a non-mark 2
It consists of 8l2.

更に、前記の如く、MO部3002にはMO(光磁気)
信号によるマーク2809とその間の非マーク2910
が記録されることになる。
Furthermore, as mentioned above, the MO section 3002 has an MO (magneto-optical)
Signal mark 2809 and non-mark 2910 in between
will be recorded.

次に、光磁気ディスク3001の再生時には、第35図
(a)に示すように、半導体レーザ2801から出射さ
れ、対物レンズ2802で1μm程度の径に集光された
レーザビーム2803は、記録磁性1g2 8 0 5
に照射される。但し、レーザビーム2803の光強度は
記録・消去の各動作時よりも弱くしてある。直線偏光の
レーザビーム2803の光磁気ディスク3001からの
反射光は、記録磁性膜2805を通過又は反射する際に
ファラデー効果又はカー効果によってその偏光面が回転
する。この回転方向は、マーク2809と非マーク28
10とでは、互いに逆方向に回転する。この偏光方向の
違いを検出することにより再生を行う。これにより、例
えば、同図(b)(c)に示すような2種類の再生信号
S1・S2が生戒される。
Next, when reproducing the magneto-optical disk 3001, as shown in FIG. 8 0 5
is irradiated. However, the light intensity of the laser beam 2803 is made weaker than during each recording and erasing operation. When the reflected light of the linearly polarized laser beam 2803 from the magneto-optical disk 3001 passes through or is reflected by the recording magnetic film 2805, its plane of polarization is rotated by the Faraday effect or the Kerr effect. This direction of rotation is between mark 2809 and non-mark 28
10, they rotate in opposite directions. Reproduction is performed by detecting this difference in polarization direction. As a result, for example, two types of reproduction signals S1 and S2 as shown in FIGS. 3(b) and (c) are generated.

次に、上記の再生信号S1・S2を得るための再生光学
系につき簡単に説明すると、第38図に示すように、光
磁気ディスク3001からの反射光3201はPBS 
(検光子)3202に入射され、2つの検波光3210
・3211がそれぞれの偏光方向毎に2つの光検出器3
203・3204に導かれる。そして、光検出器320
3・3204においてそれぞれ光強度に応じて変化する
電気信号に変換され、再生信号S1・S2として出力さ
れる。後に詳述するように、上記の再生信号S1・S2
を加算及び作動することにより、プリフォーマット部3
003とMO部3002の信号を分離して得ることがで
き、更に、MO部3002の信号からマーク2809と
非マーク2810とを分離して読み出せるので、記録磁
性膜2805に記録された情報の再生を行うことができ
る.第39図に示すように、MO部3002における非
マーク2810 (磁化の向きA)からの反射光ベクト
ルをα、マーク2809(la化の向きB)からの反射
光ベクトルをβとすると、αとβとは互いに偏光面の回
転角分だけ逆方向に回転した反射光ベクトルである。反
射光ベクトルα、βは、検光子CPBS)3202にお
ける2つの偏光方向XSYへそれぞれ検波される。この
2つの偏光方向X,Yは互いに直角な関係にある。反射
光ベクトルα、βを偏光方向X,Yにそれぞれ投影した
検波光ベクトルακ、β7の大きさが再生信号S1及び
再生信号S2に対応している。さらに検波光ベクトルα
8、β9は、第38図の検波光3210・3211にそ
れぞれ対応している。
Next, to briefly explain the reproduction optical system for obtaining the above-mentioned reproduction signals S1 and S2, as shown in FIG.
(Analyzer) 3202 and two detected light beams 3210
・3211 has two photodetectors 3 for each polarization direction
Guided by 203/3204. And photodetector 320
3 and 3204, the signals are converted into electrical signals that vary depending on the light intensity, and output as reproduced signals S1 and S2. As will be detailed later, the above reproduced signals S1 and S2
By adding and operating , the preformat section 3
003 and the signal of the MO section 3002 can be obtained separately, and furthermore, the mark 2809 and the non-mark 2810 can be read out separately from the signal of the MO section 3002, so that the information recorded on the recording magnetic film 2805 can be reproduced. It can be performed. As shown in FIG. 39, if the reflected light vector from the non-mark 2810 (magnetization direction A) in the MO section 3002 is α, and the reflected light vector from the mark 2809 (la orientation B) is β, then α and β is a reflected light vector rotated in opposite directions by the rotation angle of the plane of polarization. The reflected light vectors α and β are respectively detected in two polarization directions XSY by an analyzer CPBS) 3202. These two polarization directions X and Y are perpendicular to each other. The magnitudes of detected light vectors ακ and β7, which are obtained by projecting the reflected light vectors α and β in the polarization directions X and Y, respectively, correspond to the reproduced signal S1 and the reproduced signal S2. Furthermore, the detection light vector α
8 and β9 correspond to detected light beams 3210 and 3211 in FIG. 38, respectively.

第39図から明らかなように、再生信号S1は非マーク
2810に対してハイレベル、マーク2809に対して
はローレベルが対応している。一方、再生信号S2は非
マーク2810に対してローレベル、マーク2809に
対してはハイレベルが対応しており、再生信号S1とは
逆極性となっている。そして、再生信号31−32は、
S/N比を向上させるために差動増幅器に入力され、差
動増幅されて情報の再生が行われるようになっている. 次に、第40図に基づいてブリフォーマット部3003
から再生される再生信号S1・S2につき述べる.プリ
フォーマット部3003は記録・消去の各動作が行われ
ないので、磁化の向きはAのみである.ブリフォーマッ
ト部3003では、凹凸2808からなるマーク281
1及び非マーク2812の形状によりレーザビームの回
折が生じる。従って、第40図に示すように、反射光ベ
クトルは凹凸2808に応じてそれぞれ長い反射光ベク
トルα(非マーク28l2の再生に対応)、及び短い反
射光ベクトルT(マーク2811の再生に対応)となる
As is clear from FIG. 39, the reproduced signal S1 corresponds to the non-mark 2810 at a high level and corresponds to the mark 2809 at a low level. On the other hand, the reproduced signal S2 has a low level corresponding to the non-mark 2810 and a high level corresponding to the mark 2809, and has a polarity opposite to that of the reproduced signal S1. The reproduced signals 31-32 are
In order to improve the S/N ratio, the signal is input to a differential amplifier, where it is amplified differentially and the information is reproduced. Next, based on FIG.
The reproduced signals S1 and S2 reproduced from the following will be described. Since recording and erasing operations are not performed in the preformat section 3003, the direction of magnetization is only A. In the brief format section 3003, a mark 281 consisting of unevenness 2808
1 and the shape of the non-mark 2812 cause diffraction of the laser beam. Therefore, as shown in FIG. 40, the reflected light vector becomes a long reflected light vector α (corresponding to the reproduction of the non-mark 28l2) and a short reflected light vector T (corresponding to the reproduction of the mark 2811) depending on the unevenness 2808. Become.

これを検光子(PBS)3202の偏光方向X、Yに投
影すると検光子ベクトルα8、γヶがそれぞれ得られる
。検光子ベクトルα8、γ,の大きさが再生信号S1・
S2に対応している。再生信号S1及びS2はともに、
凹凸2808による非マーク2812に対してハイレベ
ル、マーク2811に対してローレベルに対応している
。従って、この再生信号S1・S2は第39図に示した
光磁気記録のマーク2809、非マーク28lOの場合
とは異なり、極性が同じものとなる。即ち、第35図(
b)(C)に示すように、再生信号S1・S2はブリフ
ォーマット部3003において極性が同じであり、MO
部3002においては互いに極性が反転した信号になる
By projecting this onto the polarization directions X and Y of the analyzer (PBS) 3202, analyzer vectors α8 and γ are obtained, respectively. The magnitude of the analyzer vector α8, γ is the reproduced signal S1・
Compatible with S2. Both reproduced signals S1 and S2 are
The non-mark 2812 due to the unevenness 2808 corresponds to a high level, and the mark 2811 corresponds to a low level. Therefore, unlike the case of the magneto-optical recording mark 2809 and non-mark 28lO shown in FIG. 39, the reproduced signals S1 and S2 have the same polarity. That is, Fig. 35 (
b) As shown in (C), the reproduced signals S1 and S2 have the same polarity in the BRI format section 3003, and the MO
In the section 3002, the signals are inverted in polarity.

従って、再生信号S1・S2を加算すれば、ブリフォー
マット部3003の信号のみが得られ、再生信号Sl−
32を差動することによりMO部3002の信号のみを
得ることができ、このようにして、S/N比の向上を図
ることができる。
Therefore, by adding the reproduced signals S1 and S2, only the signal of the BR format section 3003 is obtained, and the reproduced signal Sl-
32 makes it possible to obtain only the signal of the MO section 3002, and in this way, it is possible to improve the S/N ratio.

上記の2種類の再生信号S1・S2による差動信号又は
加算信号をオートゲインコントロールアンプ(以下、A
GCアンプと呼ぶ)にて、増幅後の振幅がほぼ一定とな
るように増幅度の調整を行いながら増幅することが考え
られる。上記のAGCアンプは、例えば、第41図に符
号10で示すように、制御電圧(以下、AGC電圧と呼
ぶ)に基づいて増幅度が変化する電圧制御アンプ(以下
、vCAと呼ぶ)11と、VCAIIが出力する信号の
レベルに応じた電圧を発生する信号レベル検出回路12
と、この信号レベル検出回路12によって検出されたV
CAIIの出力信号レベルと、予め設定された基準信号
レベルとの差に比例した上記AGC電圧を出力する演算
増幅器13から威り、演算増幅器13から出力されるA
GC電圧をVCAIIに入力することにより、再生信号
レベルをフィードバック制御してほぼ一定に保つもので
あった。
The differential signal or addition signal from the above two types of reproduced signals S1 and S2 is output to an auto gain control amplifier (hereinafter referred to as A).
It is conceivable to amplify the signal using a GC amplifier (referred to as a GC amplifier) while adjusting the degree of amplification so that the amplitude after amplification is approximately constant. The above AGC amplifier includes, for example, a voltage control amplifier (hereinafter referred to as vCA) 11 whose amplification degree changes based on a control voltage (hereinafter referred to as AGC voltage), as shown by reference numeral 10 in FIG. Signal level detection circuit 12 that generates a voltage according to the level of the signal output by VCA II
and V detected by this signal level detection circuit 12.
A is output from the operational amplifier 13 which outputs the AGC voltage proportional to the difference between the output signal level of the CAII and a preset reference signal level.
By inputting the GC voltage to the VCA II, the level of the reproduced signal is feedback-controlled and kept almost constant.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

ところが、上記の光磁気ディスク3001には、必ずし
も全てのセクタ3004のMO部3002にMO信号か
らなる情報が記録されているとは限らず、通常、情報の
記録されていないMO部3004も存在する。
However, in the above magneto-optical disk 3001, information consisting of an MO signal is not necessarily recorded in the MO section 3002 of all sectors 3004, and there are usually some MO sections 3004 in which no information is recorded. .

その場合、現在の再生位置が情報の記録されていないセ
クタ3004であるときには、AGCアンブ10は、M
O信号からなるパルス群の含まれない低レベルの再生信
号に応答し、VCAIIの増幅度は過大になる。その場
合、再生位置が情報の記録されているセクタ3004に
差し掛かって、MO信号による情報パルス群の含まれた
再生信号がVCAIIに入力され始めた時に、増幅度は
、即座には再生信号レベルに追随できない。
In that case, when the current playback position is the sector 3004 in which no information is recorded, the AGC amplifier 10
In response to a low-level reproduction signal that does not include the pulse group consisting of the O signal, the amplification degree of the VCA II becomes excessive. In that case, when the reproduction position approaches the sector 3004 where information is recorded and the reproduction signal containing the information pulse group by the MO signal begins to be input to the VCA II, the amplification degree does not immediately reach the reproduction signal level. I can't follow.

即ち、パルス信号の含まれた再生信号(第42図(a)
参照)が入力された直後には、例えば、同図(b)の1
部の如く、VCAIIの出力信号レベルが大幅に上昇す
る。その結果、増幅度が再生信号レベルに追随して適正
な増幅度になるまでの間、正常な再生信号が得られなく
なる不具合が生じる。
That is, the reproduced signal containing the pulse signal (Fig. 42(a)
For example, immediately after the input
As shown in the figure, the output signal level of VCA II increases significantly. As a result, a problem arises in which a normal reproduction signal cannot be obtained until the amplification degree follows the reproduction signal level and reaches an appropriate amplification degree.

一方、光磁気ディスク3001の表面に疵がついていた
り、ごみが付着している場合、再生信号中に、第43図
(a)に示すように、データの未記録領域においてVC
AIIの入力信号にディフエクトバルス41が含まれる
ことがある。このディフェクトバルス41にAGCアン
プIOが応答すると、VCAIIの増幅度は過小になる
が、過小になった増幅度が適正な増幅度に戻るまでには
、上記増幅度が過大になった場合よりも、一層長い時間
を要するものである。
On the other hand, if the surface of the magneto-optical disk 3001 is scratched or has dust attached to it, the VC may appear in the unrecorded area of the reproduced signal as shown in FIG. 43(a).
A defective pulse 41 may be included in the input signal of AII. When the AGC amplifier IO responds to this defect pulse 41, the amplification degree of VCA II becomes too small, but by the time the too small amplification degree returns to the proper amplification degree, it takes longer than when the amplification degree becomes too large. , which takes a longer time.

それゆえ、ディフェクトパルス41が発生した後には、
同図(b)に■で示すように、長時間にわたってVCA
IIの出力信号レベルが大幅に低下し、やはり、正常な
再生信号が得られなくなる。
Therefore, after the defect pulse 41 is generated,
As shown by ■ in the same figure (b), VCA
The output signal level of II will drop significantly, and a normal reproduction signal will no longer be obtained.

又、光磁気ディスク3001に情報の未記録のMO部3
002が存在することに起因するAGCアンブ10の増
幅度の変動を抑制するため、MO部3002に情報パル
ス群が存在しているか否かを検出するパルス群検出回路
を設けるとともに、MO部3002に情報パルス群が存
在していない未記録領域では、その未記録領域に入る直
前のAGC電圧をホールドしてVCAIIの増幅度を一
定としておき、次に情報パルス群の存在する記録済領域
に差し掛かった時に、AGC電圧のホールドを解除する
ように構或することが考えられる。
Moreover, the MO section 3 on which information is not recorded on the magneto-optical disk 3001
In order to suppress fluctuations in the amplification degree of the AGC amplifier 10 caused by the presence of 002, a pulse group detection circuit is provided in the MO section 3002 to detect whether or not an information pulse group is present. In the unrecorded area where the information pulse group does not exist, the AGC voltage immediately before entering the unrecorded area is held to keep the amplification degree of VCA II constant, and then the recorded area where the information pulse group exists is reached. At times, it may be possible to release the hold on the AGC voltage.

この方法によれば、情報の未記録領域の存在に起因する
AGCアンプ10の増幅度の不規則的な変動はほぼ抑制
することができる。
According to this method, irregular fluctuations in the amplification degree of the AGC amplifier 10 due to the presence of unrecorded areas can be substantially suppressed.

ところが、その場合、上記のディフェクトバルス41が
情報パルス群であると誤判定されてAGC電圧のホール
ドが解除されることがある。特に、AGCアンブ10の
リセット時に増幅度が最大となるように設定されたもの
では、AGCアンブ10のリセット直後又は光磁気ディ
スク装置自体の起動直後に、AGCアンプ10がディフ
ェクトパルス4lに応答する可能性がとりわけ高くなる
ものである。
However, in that case, the defective pulse 41 described above may be erroneously determined to be an information pulse group, and the hold on the AGC voltage may be released. In particular, if the amplification degree is set to be maximum when the AGC amplifier 10 is reset, the AGC amplifier 10 may respond to the defect pulse 4l immediately after the AGC amplifier 10 is reset or immediately after the magneto-optical disk drive itself is started. The quality of the product is particularly high.

その場合、ディフェクトパルス41の振幅に応じてAG
Cアンプ10の増幅度が変動し、ディフエクトバルス4
1が終了した時点で増幅度が固定されるので、次の記録
済領域に差し掛かった時にMO信号による情報の再生に
不具合が生じゃすくなる。特に、ディフェクトバルス4
1の振幅が大きい場合、デイフエクトパルス41が終了
した時点でAGCアンプ10の増幅度は極めて小さい値
で固定されるので、次の記録済領域に差し掛かっても、
過小な増幅度に起因して記録済の情報が再生できない恐
れがある。このような場合、増幅度はその後も上記ディ
フェクトパルス4lの終了時の極めて小さい値に固定さ
れ続けるので、次に、AGCアンブ1o又は光磁気ディ
スク装置自体がリセットされない限り、情報の再生が行
えない状態が続くものである。
In that case, depending on the amplitude of the defect pulse 41, the AG
The amplification degree of C amplifier 10 fluctuates, and the defective pulse 4
Since the amplification degree is fixed at the point when the MO signal ends, problems are likely to occur in the reproduction of information by the MO signal when the next recorded area is reached. In particular, Defect Vals 4
1 has a large amplitude, the amplification degree of the AGC amplifier 10 is fixed at an extremely small value when the defect pulse 41 ends, so even when the next recorded area is reached,
There is a possibility that recorded information cannot be reproduced due to insufficient amplification. In such a case, the amplification degree continues to be fixed at the extremely small value at the end of the defect pulse 4l, so information cannot be reproduced unless the AGC amplifier 1o or the magneto-optical disk device itself is reset. The condition continues.

以上のように、パルス群検出回路を使用すれば、AGC
アンプ10の信頼性を多少は向上させることができるが
、デイフエクトパルス41等に対する完全な対策とはな
りにくいものであった。
As described above, if the pulse group detection circuit is used, the AGC
Although the reliability of the amplifier 10 can be improved to some extent, it is difficult to provide a complete countermeasure against the defective pulse 41 and the like.

なお、一般に磁気ディスクに比して光磁気ディスク等の
光メモリは上記のデイフエクトパルスの発生頻度が高い
のが特徴である。従って、特にディフェクトパルスによ
って再生情報のエラーが生じないように対処する必要が
ある。
Note that, in general, optical memories such as magneto-optical disks are characterized in that the above-mentioned defective pulses occur more frequently than magnetic disks. Therefore, it is necessary to take special measures to prevent errors in reproduced information caused by defective pulses.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明に係る光メモリ装置のオートゲインコントロール
装置は、上記の課題を解決するために、光メモリに記録
・再生又は消去を行う光メモリ装置に設けられ、再生信
号の振幅に応じて増幅度の調整を行うオートゲインコン
トロール装置において、再生信号状態に基づき、再生信
号が記録されたデータを表すものであるか否かを判定す
る再生信号状態判定手段と、再生信号状態判定手段によ
り再生信号が記録されたデータを表すものであると判定
された時に本オートゲインコントロール装置による増幅
度の調整を行わせ、再生信号が記録されたデータを表す
ものではないと判定された時には増幅度を固定させる制
御手段とを備えていることを特徴とするものである。
In order to solve the above-mentioned problems, an automatic gain control device for an optical memory device according to the present invention is provided in an optical memory device that performs recording, reproduction, or erasing in an optical memory, and adjusts the degree of amplification according to the amplitude of a reproduced signal. In an automatic gain control device, a reproduced signal state determining means determines whether the reproduced signal represents recorded data based on the reproduced signal state, and the reproduced signal is recorded by the reproduced signal state determining means. control means for causing the automatic gain control device to adjust the amplification degree when it is determined that the reproduced signal represents the recorded data, and for fixing the amplification degree when it is determined that the reproduced signal does not represent the recorded data. It is characterized by the fact that it is equipped with

〔作 用〕[For production]

上記の構威によれば、再生信号が記録されたデータであ
るか否かを判定する再生信号状態判定手段を設けたので
、この再生信号状態判定手段により、現在、情報の記録
済領域が再生されているか、又は未記録領域が再生され
ているかの判定が行え、かつ、情報パルス群が存在する
時にそれが記録されたデータであるか、ディフエクトパ
ルスであるかの判定も行えるようになる。従って、再生
信号状態判定手段の判定結果に基づき、情報の記録済領
域のみでオートゲインコントロール装置による増幅度の
調整を行い、未記録領域又はディフェクトパルスの発生
時等には増幅度を前回の記録済領域の終了時における値
に固定することにより、情報の記録済領域における再生
を常時適正に行うことができるようになる。
According to the above structure, since the reproduced signal state determining means is provided to determine whether the reproduced signal is recorded data, the reproduced signal state determining means determines whether the recorded area of information is currently being reproduced or not. It becomes possible to determine whether the information pulse group is being recorded or whether an unrecorded area is being reproduced, and it can also be determined whether the information pulse group is recorded data or a defective pulse when it exists. . Therefore, based on the determination result of the reproduced signal condition determination means, the amplification degree is adjusted by the automatic gain control device only in the area where information has been recorded, and in the unrecorded area or when a defective pulse occurs, the amplification degree is adjusted from the previous recording. By fixing the value to the value at the end of the recorded area, it becomes possible to always properly reproduce information in the recorded area.

なお、再生信号状態判定手段によるデータ部の判定には
、例えば、光メモリのデータ再生の同期を行うために光
メモリにデータとともに一定のパターンを記録する場合
はこのパターンを検出することにより行ったり、又はデ
ータが一定の変調規則に従って変調されたものであれば
、再生信号中に含まれる情報が上記変調規則に適合して
いるか否かを検出することによりデータであるか否かを
判定したり、又はデータにエラー検出符号が付加される
場合はこのエラー検出符号を検出することによりデータ
が記録された部位を検出する等の方法を用いれば良い。
Note that the reproduction signal state determination means determines the data portion by, for example, detecting a certain pattern in the case where a certain pattern is recorded together with the data in the optical memory in order to synchronize the data reproduction of the optical memory, or If the data is modulated according to a certain modulation rule, it is determined whether the information contained in the reproduced signal is data by detecting whether it conforms to the above modulation rule, or If an error detection code is added to the data, a method such as detecting the location where the data is recorded by detecting the error detection code may be used.

〔実施例1〕 本発明の一実施例を第1図乃至第33図に基づいて説明
すれば、以下のとおりである。
[Embodiment 1] An embodiment of the present invention will be described below based on FIGS. 1 to 33.

まず、光メモリの一例としての光磁気ディスク1201
に記録・再生及び消去を行うための光メモリ装置を構或
する光磁気ディスク装置につき述ベる。
First, a magneto-optical disk 1201 as an example of optical memory
A magneto-optical disk device comprising an optical memory device for recording, reproducing and erasing information will be described below.

第10図に示すように、光磁気ディスク120lはスピ
ンドルモータ1202によって回転駆動され、光ヘッド
1203から出射されたレーザビーム1204によって
データの記録・再生・消去が行われるようになっている
。記録又は消去時には上記のレーザビーム1204の照
射と同時に外部磁場印加用磁石l205から外部磁場が
印加される。なお、記録時と消去時における外部磁場の
向きの反転は、例えば、外部磁場印加用磁石1205を
図示しないモータ等で回転させることにより行える。又
、外部磁場印加用磁石1205を電磁石として、記録・
消去時に外部磁場の向きを反転させるようにしても良い
As shown in FIG. 10, a magneto-optical disk 120l is rotationally driven by a spindle motor 1202, and data is recorded, reproduced, and erased by a laser beam 1204 emitted from an optical head 1203. During recording or erasing, an external magnetic field is applied from an external magnetic field applying magnet 1205 at the same time as the laser beam 1204 is irradiated. Note that the direction of the external magnetic field during recording and erasing can be reversed, for example, by rotating the external magnetic field applying magnet 1205 with a motor or the like (not shown). In addition, the external magnetic field applying magnet 1205 is an electromagnet to perform recording and recording.
The direction of the external magnetic field may be reversed during erasing.

記録時には、光ヘッド1203内の半導体レーザ280
1(第11図参照)に、記録回路1206から半導体レ
ーザ駆動電流1210が入力される。半導体レーザ駆動
電流1210によって半導体レーザ2801の光強度が
適切に制御される。
During recording, the semiconductor laser 280 in the optical head 1203
1 (see FIG. 11), a semiconductor laser drive current 1210 is input from the recording circuit 1206. The light intensity of the semiconductor laser 2801 is appropriately controlled by the semiconductor laser drive current 1210.

又、再生時には、光ヘッド12o3からは再生回路12
07へ再生信号1211 (第35図に示すような2種
類の再生信号S1・S2からなる)が出力される。再生
回路1207において再生された再生データ1212は
コントローラ1208へ送られる。
Also, during playback, the playback circuit 12 is connected from the optical head 12o3.
A reproduced signal 1211 (consisting of two types of reproduced signals S1 and S2 as shown in FIG. 35) is output to 07. Reproduction data 1212 reproduced by reproduction circuit 1207 is sent to controller 1208.

コントローラ1208では、再生データ1212に基づ
いて各種制御信号1213のタイミングが取られ、これ
らの制御信号12l3が記録回路1206及び再生回路
1207へ送られるようになっている。又、コントロー
ラ1208から磁場制御信号1214が外部磁場印加用
磁石l205へ伝送され、外部磁場の向きが制御される
The controller 1208 determines the timing of various control signals 1213 based on the reproduction data 1212, and sends these control signals 12l3 to the recording circuit 1206 and the reproduction circuit 1207. Further, a magnetic field control signal 1214 is transmitted from the controller 1208 to the external magnetic field applying magnet 1205, and the direction of the external magnetic field is controlled.

第11図に示すように、上記記録回路1206は変調回
路1302を備え、コントローラ1208(第10図)
から送られた記録データ1311は変調回路1302に
入力されるようになっている。変調回路1302では、
記録データ1311が、制御信号1213によって記録
フォーマットに応じた変調データ1310に変換される
。この変調は、例えば、後述する2,7変調方弐に従っ
て行われる。
As shown in FIG. 11, the recording circuit 1206 includes a modulation circuit 1302, and a controller 1208 (FIG. 10).
The recording data 1311 sent from the controller is input to the modulation circuit 1302. In the modulation circuit 1302,
Recorded data 1311 is converted into modulated data 1310 according to the recording format by a control signal 1213. This modulation is performed, for example, according to 2,7 modulation method 2, which will be described later.

変調データ1310は、半導体レーザ駆動回路l301
に伝送され、それに基づいて半導体レーザ駆動回路13
01から前記半導体レーザ駆動電ffll 2 1 0
が出力され、光ヘッド1203内の半導体レーザ280
lへ伝送される。これと同時に、半導体レーザ駆動回路
1301へはコントローラ1208からの制御信号12
l3が入力され、半導体レーザ2801の光強度が記録
、再生及び消去の各動作に応じて適切に制御される。
Modulation data 1310 is transmitted to semiconductor laser drive circuit l301
Based on this, the semiconductor laser drive circuit 13
01 to the semiconductor laser drive voltage ffll 2 1 0
is output, and the semiconductor laser 280 in the optical head 1203
transmitted to l. At the same time, the control signal 12 from the controller 1208 is sent to the semiconductor laser drive circuit 1301.
13 is input, and the light intensity of the semiconductor laser 2801 is appropriately controlled according to each recording, reproducing, and erasing operation.

又、第12図に示すように、上記再生回路1207は信
号処理回路1401を備え、光ヘッド1203(第10
図)からの再生信号1211 (再生信号S1・32)
は信号処理回路1401に入力され、ここで同期が取ら
れる。信号処理回路工401からは、同期データl41
0が復調回路1402へ送られ、同時にセクタマーク信
号141lがコントローラl208へ伝送される。同期
データ1410の復調は、第11図の変調回路1302
とは逆の変換を行うことによって実現される。信号処理
回路1401及び復調回路14o2へはコントローラ1
208から各種制御信号1213が伝送される。復調回
路1402からは復調済の再生データ12l2がコント
ローラ120Bへ出力される。
Further, as shown in FIG. 12, the reproducing circuit 1207 includes a signal processing circuit 1401, and the optical head 1203 (10th
Reproduction signal 1211 from (Fig.) (Reproduction signal S1/32)
is input to the signal processing circuit 1401, where synchronization is achieved. From the signal processing circuit engineer 401, synchronization data l41
0 is sent to the demodulation circuit 1402, and at the same time, a sector mark signal 141l is sent to the controller l208. Demodulation of the synchronous data 1410 is performed by the modulation circuit 1302 in FIG.
This is achieved by performing the opposite transformation. The controller 1 is connected to the signal processing circuit 1401 and the demodulation circuit 14o2.
Various control signals 1213 are transmitted from 208 . Demodulated reproduced data 12l2 is output from the demodulation circuit 1402 to the controller 120B.

第13図に示すように、上記コントローラ1208はタ
イξング発生回路1501を備えている。信号処理回路
1401 (第12図)からのセクタマーク信号l41
1はタイミング発生回路150lに人力され、ここでセ
クタ単位のタイミングで基準タイミング信号151oが
発生されてコントロール回路l502へ伝送される。又
、復調回路1402 (第l2図)からの再生データ1
212がコントロール回路15o2に入力される。コン
トロール回路15o2では、上記2種類の入力信号から
各種制御信号1213が生或されるとともに、外部装置
との情報の入出カが行われるようになっている。
As shown in FIG. 13, the controller 1208 includes a timing generation circuit 1501. Sector mark signal l41 from signal processing circuit 1401 (Fig. 12)
1 is manually inputted to a timing generation circuit 150l, where a reference timing signal 151o is generated at the timing of each sector and transmitted to the control circuit 1502. Also, reproduced data 1 from the demodulation circuit 1402 (Fig. 12)
212 is input to the control circuit 15o2. The control circuit 15o2 generates various control signals 1213 from the above two types of input signals, and also inputs and outputs information to and from external devices.

第11図の変調回路13o2では、例えば、第1表に示
す変調方式に基づいて変調が行われる。
The modulation circuit 13o2 in FIG. 11 performs modulation based on the modulation method shown in Table 1, for example.

これは、所謂、2.7変調方式と呼ばれるものであり、
第1表の左欄に示す入力データ(記録情報)は同図中右
欄に示す所定の変調データに変換され、その際、変調デ
ータにおいて、′0”の連続するビット数が2〜7ビッ
トになるように設定されている。そして、例えば、第1
5図(a)に示すセクタフォーマットに従って、適切な
タイξングで、変調データ1310を第11図の半導体
レーザ駆動回路1301に出力する。
This is the so-called 2.7 modulation method,
The input data (recorded information) shown in the left column of Table 1 is converted into the predetermined modulation data shown in the right column of the same figure. At this time, in the modulation data, the number of consecutive '0' bits is 2 to 7 bits. For example, the first
According to the sector format shown in FIG. 5(a), modulated data 1310 is outputted to the semiconductor laser drive circuit 1301 in FIG. 11 with appropriate timing.

第1表 第15図(a)において、ブリフォーマット部3003
は、セクタ単位の同期タイミングを得るためのセクタマ
ーク部l701と、セクタのアドレス(番地)情報を含
んだID部1702とから構威される。これらは第34
図(a)に示したように、記録・消去できないマーク2
811及び非マーク2812に対応する物理的な凹凸2
808により光磁気ディスクl201に刻み込まれてい
る。データ部としてのMO部3002は、情報データを
記録・再生・消去するためのデータ部1703と、その
前後に位置する1対のギャップ部1704・1705と
から構威されている。
In Table 1, FIG. 15(a), the briformat portion 3003
consists of a sector mark section 1701 for obtaining synchronization timing in units of sectors, and an ID section 1702 containing sector address information. These are the 34th
As shown in figure (a), mark 2 that cannot be recorded or erased
Physical unevenness 2 corresponding to 811 and non-mark 2812
808 is engraved on the magneto-optical disk l201. The MO section 3002 as a data section consists of a data section 1703 for recording, reproducing, and erasing information data, and a pair of gap sections 1704 and 1705 located before and after the data section 1703.

そして、データ部1703に上記変調データ1310が
記録される。この時の記録は、第34図(a)に示した
ように、MO信号によるマーク2809及び非マーク2
810で行われる。なお、ブリフォーマット部3003
とMO部3002との間に配置された上記ギャップ部1
704・1705は、データ部1703に情報を記録す
る際の余裕領域である。つまり、これらのギャップ部1
704・1705は、スピンドルモータ1202の回転
と上記セクタ3004単位の同期タイ亀ングとの間に発
生する位相誤差等によって、記録開始位置及び記録終了
位置が前後にずれるため、これを見込んだ領域である。
Then, the modulation data 1310 is recorded in the data section 1703. The recording at this time is a mark 2809 and a non-mark 2 by the MO signal, as shown in FIG. 34(a).
810. In addition, the briformat section 3003
and the above-mentioned gap portion 1 disposed between the MO portion 3002
704 and 1705 are free areas for recording information in the data section 1703. In other words, these gap parts 1
704 and 1705 are areas in which the recording start position and recording end position shift back and forth due to the phase error that occurs between the rotation of the spindle motor 1202 and the synchronized timing of the sector 3004 unit, so this is taken into account. be.

第14図に示すように、上記半導体レーザ駆動回路13
01は記録・消去光量制御回路1803を備え、この記
録・消去光量制御回路1803には、変調回路1302
 (第11図)からは変調データ1310が半導体レー
ザ駆動回路1301に入力されるようになっている。又
、コントローラ1208 (第10図)から再生光量制
御信号1810が再生光量制御回路1801に人力され
、再生時に光ヘッド1203内の半導体レーザ2801
の再生光量が適切に制御されるようになっている。
As shown in FIG. 14, the semiconductor laser drive circuit 13
01 includes a recording/erasing light amount control circuit 1803, and this recording/erasing light amount control circuit 1803 includes a modulation circuit 1302.
From (FIG. 11), modulation data 1310 is input to the semiconductor laser drive circuit 1301. Further, a reproduction light amount control signal 1810 is input from the controller 1208 (FIG. 10) to the reproduction light amount control circuit 1801, and the semiconductor laser 2801 in the optical head 1203 is inputted during reproduction.
The reproduction light amount is appropriately controlled.

コントローラ1208からの記録・消去光量制御信号1
811は、記録・消去光量制御回路1803に入力され
、記録時・消去時に対応する半導体レーザ2801の光
量が制御されるようになっている。更に、コントローラ
1208からの高周波重畳スイッチ信号1812は、高
周波重畳回路1802に入力され、これに基づいて、高
周波重畳回路1802にて高周波でオン・オフされる出
力信号1816が発生されて加算器1805で再生光量
制御回路1801の出力信号1814に重畳されること
により、光磁気ディスク1201からの戻り光に起因し
て発生する半導体レーザ2801のノイズが低減される
ようになっている。なお、高周波重畳回路1802の出
力信号1816は再生時にのみ加算回路1805へ出力
されるものである。
Recording/erasing light amount control signal 1 from controller 1208
811 is input to a recording/erasing light amount control circuit 1803, and the light amount of the semiconductor laser 2801 corresponding to recording and erasing is controlled. Furthermore, the high frequency superposition switch signal 1812 from the controller 1208 is input to the high frequency superposition circuit 1802, and based on this, the high frequency superposition circuit 1802 generates an output signal 1816 that is turned on and off at high frequency, and the adder 1805 generates an output signal 1816 that is turned on and off at high frequency. By being superimposed on the output signal 1814 of the reproduction light amount control circuit 1801, the noise of the semiconductor laser 2801 caused by the return light from the magneto-optical disk 1201 is reduced. Note that the output signal 1816 of the high frequency superimposing circuit 1802 is output to the adding circuit 1805 only during reproduction.

再生光量制御回路1801、記録・消去光量制御回路1
803及び高周波数重畳回路1802の各出力信号18
14〜1816は、加算回路1805で加算され、半導
体レーザ駆動電流1210が半導体レーザ2801に入
力される。半導体レーザ2801の光量(光強度)は、
光へッド1203内の光検出器1806によってその光
強度に応じて変化する電気信号に変換され、光量モニタ
ー回路1804を介して光量モニター信号1813がコ
ントローラ1208へ伝送されるようになっている。コ
ントローラ1208では、光量モニター信号1813に
基づいて、上記の再生光量制御信号1810、記録・消
去光量制御信号181l及び高周波重畳スイッチ信号1
812が出力される。つまり、半導体レーザ2801の
光強度(光量)が再生時と、記録・消去時とで適切な強
度になるように制御される。
Reproducing light amount control circuit 1801, recording/erasing light amount control circuit 1
803 and each output signal 18 of the high frequency superimposition circuit 1802
14 to 1816 are added by an adding circuit 1805, and a semiconductor laser drive current 1210 is input to the semiconductor laser 2801. The light amount (light intensity) of the semiconductor laser 2801 is
A photodetector 1806 in the optical head 1203 converts the light into an electrical signal that changes according to the intensity of the light, and a light amount monitor signal 1813 is transmitted to the controller 1208 via a light amount monitor circuit 1804. In the controller 1208, based on the light amount monitor signal 1813, the above-mentioned reproduction light amount control signal 1810, recording/erasing light amount control signal 181l and high frequency superimposition switch signal 1 are transmitted.
812 is output. In other words, the light intensity (amount of light) of the semiconductor laser 2801 is controlled to be appropriate during reproduction and during recording/erasing.

次に、情報の記録・消去の各動作を説明すると、第15
図(b)に示すように、高周波重畳スイッチ信号181
2は、通常使用範囲1703 (同図(a)参照)にお
いてローレベル(゛′0”)になり、それ以外の部位で
はハイレベル( ”1”)になる。即ち、MO部300
2内のデータ部1703において高周波重畳回路180
2による高周波重畳をオフとし、データ部1703以外
ではオンとするようになっている。これに伴って、同図
(C)に示すように、変調データ1310はデータ部1
703においてMO信号として記録される。この時、同
図(d)に示すように、半導体レーザ2801の光量レ
ベル(光強度)1910はデータ部1703で高レベル
になり、それ以外では低レベルになる。つまり、ブリフ
ォーマット部3003内のセクタマーク部1701から
セクタ同期タイξングを検出し、ID部1702からア
ドレス(番地)情報等を読み出して、所定のアドレス(
番地)を確認しながら、MO部3002において情報が
記録・消去される。
Next, to explain each operation of recording and erasing information, the 15th
As shown in Figure (b), the high frequency superimposed switch signal 181
2 is at a low level ('0'') in the normal use range 1703 (see (a) in the same figure), and is at a high level ('1') at other parts. That is, the MO section 300
High frequency superimposition circuit 180 in data section 1703 in 2
2 is turned off, and turned on except for the data section 1703. Along with this, as shown in FIG.
703, it is recorded as an MO signal. At this time, as shown in FIG. 4(d), the light amount level (light intensity) 1910 of the semiconductor laser 2801 becomes a high level in the data portion 1703, and becomes a low level in other areas. In other words, sector synchronization timing is detected from the sector mark section 1701 in the flash formatting section 3003, address information etc. are read out from the ID section 1702, and a predetermined address (
Information is recorded and erased in the MO section 3002 while checking the address).

一方、データ部1703に記録された情報の再生時には
、第16図(b)に示すように、プリフォーマット部3
003及びMO部3002のいずれの部分でも高周波重
畳スイッチ信号1812はハイレベル(“l”)である
。又、記録は行われないので、同図(C)に示すように
、変調データl310はローレベル(″O”〉である。
On the other hand, when reproducing information recorded in the data section 1703, as shown in FIG. 16(b), the preformat section 1703
The high frequency superimposed switch signal 1812 is at a high level (“l”) in both the MO section 3003 and the MO section 3002. Further, since no recording is performed, the modulated data l310 is at a low level ("O") as shown in FIG.

更に、同図(d)に示すように、光量レベル1910は
低レベルである。つまり、ブリフォーマット部3003
(同図(a))内のセクタマーク部1701からセクタ
3004の同期タイミングを検出しID部1702から
アドレス(番地)情報等を読み出して、所定のアドレス
(番地)を逐次確認しながら、MO部3002からMO
信号として記録された情報が再生される。
Furthermore, as shown in FIG. 2(d), the light amount level 1910 is a low level. In other words, the briformat section 3003
The synchronization timing of the sector 3004 is detected from the sector mark section 1701 (in (a) of the same figure), and the address (address) information etc. is read out from the ID section 1702, and while checking the predetermined address (address) one after another, the MO section 3002 to MO
Information recorded as a signal is reproduced.

第13図のタイミング発生回路1501は、より具体的
には、第17図に示すように、信号処理回路1401(
第12図)から出力されたセクタマーク信号1411が
入力されるセクタマーク検出回路2101を備えている
。セクタマーク検出回路210tでは、セクタマークの
有無が検出され、それに基づいて、セクタマーク検出信
号2110が出力される。セクタマーク検出信号211
0は、カウンタ2102、タイマー回路2104及び判
定回路2106へそれぞれ伝送される。
More specifically, as shown in FIG. 17, the timing generation circuit 1501 in FIG. 13 is a signal processing circuit 1401 (
The sector mark detection circuit 2101 is provided with a sector mark detection circuit 2101 to which a sector mark signal 1411 outputted from the circuit shown in FIG. 12 is input. The sector mark detection circuit 210t detects the presence or absence of a sector mark, and outputs a sector mark detection signal 2110 based on the detection. Sector mark detection signal 211
0 is transmitted to the counter 2102, timer circuit 2104, and determination circuit 2106, respectively.

カウンタ2102及びタイマー回路2104の出力信号
2111・2112はそれぞれスイッチ回路2103に
入力され、スイッチ回路2103でいずれか一方の出力
信号2111・2112が選択されて、基準タイミング
信号1510として出力される。
The output signals 2111 and 2112 of the counter 2102 and the timer circuit 2104 are respectively input to the switch circuit 2103, and the switch circuit 2103 selects one of the output signals 2111 and 2112 and outputs it as the reference timing signal 1510.

この基準タイξング信号1510は、データ部判定回路
2107にも入力され、これに基づいて後述するデータ
部判定信号2116が出力される。タイマー回路210
4からは、他の出力信号2113がウインドウ発生回路
2105へ伝送される。ウインドウ発生回路2105の
出力信号2114は、判定回路2106へ入力される。
This reference timing signal 1510 is also input to the data portion determination circuit 2107, and based on this, a data portion determination signal 2116, which will be described later, is output. Timer circuit 210
4, another output signal 2113 is transmitted to the window generation circuit 2105. The output signal 2114 of the window generation circuit 2105 is input to the determination circuit 2106.

判定回路2106では、出力信号2114とセクタマー
ク検出信号2110とから、タイミング判定信号211
5(後述)が出力される。タイミング判定信号2115
により、スイッチ回路2l03では、カウンタ2102
の出力信号21l1とタイマー回路2104の出力信号
2112のいずれか一方が選択される。基準タイミング
信号l510、データ部判定信号2116及びタイξン
グ判定信号2115は、それぞれコントロール回路15
02 (第13図)へ伝送される。コントロール回路1
502は、これらのタイミング発生回路1501から出
力される各種信号1510・2115・2116と、再
生データ1212とに基づいて、前述した各種制御信号
1213を記録回路1206及び再生回路1207 (
第10図)へ伝送し、情報の記録・再生・消去の各制御
を行うようになっている。
The determination circuit 2106 generates a timing determination signal 211 from the output signal 2114 and the sector mark detection signal 2110.
5 (described later) is output. Timing judgment signal 2115
Therefore, in the switch circuit 2l03, the counter 2102
Either the output signal 21l1 of the timer circuit 2104 or the output signal 2112 of the timer circuit 2104 is selected. The reference timing signal 1510, the data section determination signal 2116, and the timing determination signal 2115 are each supplied to the control circuit 15.
02 (Figure 13). Control circuit 1
502, based on the various signals 1510, 2115, 2116 outputted from these timing generation circuits 1501 and the reproduction data 1212, the various control signals 1213 described above are transmitted to the recording circuit 1206 and the reproduction circuit 1207 (
(Fig. 10), and each control of recording, reproduction, and erasure of information is performed.

第18図に示すように、上記セクタマーク検出回路21
01はカウンタ回路2201を備え、信号処理回路14
01 (第12図)から出力されたセクタマーク信号1
411は、カウンタ回路2201を構戒する、例えば、
9個のカウンタNo.1〜NO.9へ伝送される。カウ
ンタNo.1〜No.9の各出力信号2211〜221
9は、判定回路2202へそれぞれ伝送され、判定回路
2202での判定結果に基づいてセクタマーク検出信号
2110が出力される。以上のように、セクタマーク検
出回路2101は、セクタマーク部1701(例えば、
第15図(a))を検出し、セクタ単位の記録・再生・
消去の各動作を行うのに必要な同期タイミングを得る回
路である。
As shown in FIG. 18, the sector mark detection circuit 21
01 includes a counter circuit 2201 and a signal processing circuit 14
Sector mark signal 1 output from 01 (Figure 12)
411 monitors the counter circuit 2201, for example,
9 counter numbers. 1~NO. 9. Counter No. 1~No. 9 output signals 2211 to 221
9 are respectively transmitted to a determination circuit 2202, and a sector mark detection signal 2110 is output based on the determination result of the determination circuit 2202. As described above, the sector mark detection circuit 2101 detects the sector mark portion 1701 (for example,
Detection of Fig. 15(a)), recording/playback/recording/playback in sector units
This circuit obtains the synchronization timing necessary to perform each erase operation.

第19図に基づいて上記のカウンタ回路2201におけ
るカウンタNo,1〜No,9の動作を説明する。ここ
で、セクタマーク部1701のパターンが、例えば、同
図(b)に示すようなマーク2811及び非マーク28
12から構成されているものとする。この例では、同図
(a)に示すように、マーク長、および非マーク長の比
が5:3:3:7:3:3:3:3:5の順序になるよ
うに複数のマーク2811が刻み込まれている。
The operations of counters No. 1 to No. 9 in the counter circuit 2201 will be explained based on FIG. 19. Here, the pattern of the sector mark portion 1701 is, for example, a mark 2811 and a non-mark 28 as shown in FIG.
12. In this example, as shown in Figure (a), multiple marks are created so that the ratio of mark length and non-mark length is in the order of 5:3:3:7:3:3:3:3:5. 2811 is engraved.

マーク2811及び非マーク28l2のパターンを再生
して得られるセクタマーク信号l411は、同図(c)
に示すように、例えばマークの部分でローレベル(゛0
”)、非マークの部分でハイレベル(“′1”)となる
2値信号に変換される。
The sector mark signal l411 obtained by reproducing the pattern of marks 2811 and non-marks 28l2 is shown in FIG.
As shown in , for example, the low level (゛0
”), and is converted into a binary signal with a high level (“'1”) in the non-marked portion.

セクタマーク信号1411が上記カウンタNo,1−N
o.9にそれぞれ入力されると、まず、カウンタNo.
1(同図(e)参照)は、マーク長“5”の長さに対応
するカウンタクロック2310のクロック数をカウント
する。カウンタクロック2310は、同図(d)で示す
ように、セクタマーク信号1411よりも高い周波数を
有している。そして、このカウント数が所定範囲内であ
れば最初のマーク2811(マーク長u5”)が正確に
検出されたことになる。
The sector mark signal 1411 is the counter No. 1-N.
o. When each input is made to counter No.9, first, counter No.9 is input.
1 (see (e) in the figure) counts the number of clocks of the counter clock 2310 corresponding to the mark length "5". The counter clock 2310 has a higher frequency than the sector mark signal 1411, as shown in FIG. 2(d). If this count is within a predetermined range, it means that the first mark 2811 (mark length u5'') has been detected accurately.

続いて、カウンタNo.2において同様に非マーク長゛
3”の長さの非マーク2812が検出される。このよう
に、順次、セクタマーク部1701のマーク2811及
び非マーク2812が検出され、最後にマーク長“5”
の長さをカウンタNo.9が検出する。上記の如くして
得られた9個のマーク28l1又は非マーク2812の
検出信号2211〜2219が判定回路2202 (第
18図)へ送られる。
Next, counter No. 2, a non-mark 2812 with a non-mark length of "3" is detected in the same way. In this way, the mark 2811 and the non-mark 2812 of the sector mark part 1701 are detected in sequence, and finally the mark length of "5" is detected.
Counter No. 9 detects. The detection signals 2211 to 2219 of the nine marks 28l1 or non-marks 2812 obtained as described above are sent to the determination circuit 2202 (FIG. 18).

そして、この9個のマーク2811又は非マーク281
2についての検出結果のうち、全て又はその一部がセク
タマーク部1701のパターンと一致しているか否かが
判定されるとともに、マーク2811、非マーク281
2の順序が判定される。この結果、セクタマーク部17
0lであると判定された場合のみ、セクタマーク検出信
号21lOがローレベル(“0″)になる。上記のよう
にして得られたセクタマーク検出信号2110はセクタ
3004単位の同期タイξングとして使用することがで
きる。
Then, these nine marks 2811 or non-marks 281
It is determined whether or not all or part of the detection results for 2 match the pattern of the sector mark portion 1701.
2 is determined. As a result, the sector mark portion 17
Only when it is determined that it is 0l, the sector mark detection signal 21lO becomes low level ("0"). The sector mark detection signal 2110 obtained as described above can be used as synchronization timing for each sector 3004.

次に、第20図に基づいてタイξング発生回路1501
の各部の波形を以下に説明する。
Next, based on FIG. 20, the timing generation circuit 1501
The waveforms of each part of will be explained below.

同図(b)に示すように、セクタマーク検出信号211
0は、前述の如く、ブリフォーマット部3003内のセ
クタマーク部1701 (同図中(a))を検出すると
ローレベルになり、このセクタマーク検出信号211o
の立ち下がりエッジがセクタ3004の同期タイミング
になる。カウンタ2102は、セクタマーク検出信号2
110の立ち下がりエッジから所定カウント数のカウン
ト後に、同図(C)に示すように、カウンタ出力信号2
111をローレベルにする。
As shown in FIG. 2(b), the sector mark detection signal 211
0 becomes low level when detecting the sector mark section 1701 ((a) in the figure) in the format section 3003, and this sector mark detection signal 211o
The falling edge of is the synchronization timing of sector 3004. The counter 2102 receives the sector mark detection signal 2.
After counting a predetermined number of counts from the falling edge of 110, the counter output signal 2 is output as shown in FIG.
Set 111 to low level.

一方、タイマー回路2104のカウント数は、上記カウ
ンタ2102のカウント数を加えて1つのセクタ300
4のセクタ長分だけ大きくなるように設定されている。
On the other hand, the count number of the timer circuit 2104 is calculated by adding the count number of the counter 2102 to one sector 300.
It is set to be larger by the sector length of 4.

従って、第20図(d)に示すように、タイマ回路21
o4の出カ信号21l2の立ち下がりエッジは、次のセ
クタ3004のカウンタ出力信号2l11の立ち下がり
エッジとタイミングがほぼ一致する。
Therefore, as shown in FIG. 20(d), the timer circuit 21
The falling edge of the o4 output signal 21l2 almost coincides in timing with the falling edge of the counter output signal 2l11 of the next sector 3004.

又、同図(e)に示すように、ウィンドゥ発生回路21
05の出力信号2114は、セクタマーク検出信号21
10の立ち下がりエッジを基準に、次のセクタ3004
におけるセクタマーク検出信号2110の立ち下がりエ
ッジ付近で所定のウインドウ幅をもってローレベルにな
るようになっている。判定回路2106の出力信号であ
るタイミング判定信号2115は、ウインドウ発生回路
2105の出力信号2114がローレベルの時に、セク
タマーク検出信号2110の立ち下がりエッジが存在す
れば、同図(f)中の実線で示すように、ハイレベルに
なるようになっている。一方、セクタマーク検出信号2
110の立ち下がりエッジが存在しなければローレベル
になる(同図(f)中の点線で示す)。従って、タイミ
ング判定信号2115は、セクタマーク部1701の検
出が所定の範囲で検出できたか、あるいは検出ミスであ
ったかを判定する信号になる。
Further, as shown in FIG. 2(e), the window generation circuit 21
The output signal 2114 of 05 is the sector mark detection signal 21
Based on the falling edge of 10, the next sector 3004
The sector mark detection signal 2110 becomes low level with a predetermined window width near the falling edge. If a falling edge of the sector mark detection signal 2110 exists when the output signal 2114 of the window generation circuit 2105 is at a low level, the timing determination signal 2115, which is the output signal of the determination circuit 2106, will change to the solid line in FIG. As shown in , the level has reached a high level. On the other hand, sector mark detection signal 2
If there is no falling edge of 110, the signal becomes low level (indicated by the dotted line in FIG. 3(f)). Therefore, the timing determination signal 2115 is a signal that determines whether the sector mark portion 1701 was detected within a predetermined range or whether there was a detection error.

スイッチ回路2103においては、セクタマーク部17
0lの検出ができた場合にはカウンタ出力信号21l1
が選択され、そうでなく検出ミスである場合にはタイマ
回路出力信号2112が選択されるようになっている。
In the switch circuit 2103, the sector mark section 17
If 0l is detected, the counter output signal 21l1
is selected, and if there is a detection error, the timer circuit output signal 2112 is selected.

この結果、同図(g)に示すように、基準タイ藁ング信
号1510はセクタマーク部1701の検出ミスが発生
しても1つ前のセクタ3004のタイミングに基づいて
補正を行うことにより確実に出力できる。このようにし
て得られた基準タイミング信号1510は、データ部判
定回路2107へ伝送される。
As a result, as shown in FIG. 3(g), even if a detection error occurs in the sector mark section 1701, the reference tie signal 1510 can be reliably corrected based on the timing of the previous sector 3004. Can be output. The reference timing signal 1510 obtained in this way is transmitted to the data part determination circuit 2107.

データ部判定回路2107はカウンタの一種であり、そ
の出力信号であるデータ部判定信号2116はMO部3
002における通常使用範囲l703でローレベルにな
る(同図(h)).つまり、データ部判定信号2116
は、ブリフォーマット部3003とMO部3002とを
判別する信号として利用できる。このようにして得られ
た基準タイξング信号1510、タイξング判定信号2
115及びデータ部発生信号2116は、第12図のコ
ントロール回路1502へ伝送される。コントロール回
路1502では、上記の信号1510・2115及び2
116に基づいて前述の各種制御信号1213が生或さ
れる。
The data section determination circuit 2107 is a type of counter, and its output signal, the data section determination signal 2116, is the MO section 3
It becomes a low level in the normal use range 1703 of 002 ((h) in the same figure). In other words, the data section determination signal 2116
can be used as a signal for distinguishing between the BR format section 3003 and the MO section 3002. The reference timing signal 1510 and timing determination signal 2 obtained in this way
115 and data portion generation signal 2116 are transmitted to control circuit 1502 in FIG. In the control circuit 1502, the above signals 1510, 2115 and 2
The various control signals 1213 described above are generated based on the signal 116.

次に、第21図乃至第23図に基づいて、第12図の信
号処理回路1401の動作について説明すると、光磁気
ディスク1201から再生された再生信号1211 (
再生信号S1・S2)は、第21図に示すように、信号
処理回路1401内のバッファアンプ2501に入力さ
れる。バ・ンファアンプ2501の出力信号2510は
、MO波形処理部2502とブリフォーマット波形処理
部2503とへ伝送される。
Next, the operation of the signal processing circuit 1401 in FIG. 12 will be explained based on FIGS. 21 to 23. The reproduction signal 1211 (
The reproduced signals S1 and S2) are input to a buffer amplifier 2501 in the signal processing circuit 1401, as shown in FIG. The output signal 2510 of the buffer amplifier 2501 is transmitted to the MO waveform processing section 2502 and the BR format waveform processing section 2503.

MO波形処理部2502からはMO部3002にMO信
号として記録されたマーク2809及び非マーク281
0に対応したMOZ値化信号2511が出力される一方
、プリフォーマット波形処理部2503からはブリフォ
ーマット部3003のマーク2811及び非マーク28
12に対応したID2値化信号2512が出力される。
From the MO waveform processing unit 2502, marks 2809 and non-marks 281 recorded as MO signals are sent to the MO unit 3002.
While the MOZ value signal 2511 corresponding to 0 is output, the preformat waveform processing section 2503 outputs the mark 2811 and non-mark 28 of the preformat section 3003.
An ID binary signal 2512 corresponding to 12 is output.

これらの2値化信号251l・2512はデータ同期部
2504に入力されて、データ同期部2504内のP 
L L (P8ASE LOCKE!CD LOOP)
において、クロックと同期した同期データ2513が生
戒され、復調回路1402 (第12図)へ伝送される
These binary signals 251l and 2512 are input to the data synchronization unit 2504, and the P in the data synchronization unit 2504
L L (P8ASE LOCKE!CD LOOP)
, synchronized data 2513 synchronized with the clock is detected and transmitted to the demodulation circuit 1402 (FIG. 12).

又、ブリフォーマット波形処理部2503ではセクタマ
ーク信号l411が生或され、タイミング発生回路15
01 (第13図)へ伝送される。
Further, the sector mark signal l411 is generated in the flash format waveform processing section 2503, and the sector mark signal l411 is generated in the timing generation circuit 15.
01 (Figure 13).

{K号処理コントロール部2505では、信号処理回路
1401内の各部間の各種制御信号2514〜2517
が入出力される。又、第10図のコントローラ120日
との間で各種制御信号1213が入出力される。
{The K processing control unit 2505 sends various control signals 2514 to 2517 between each unit in the signal processing circuit 1401.
is input and output. Further, various control signals 1213 are input/output to/from the controller 120 in FIG.

第22図に信号処理回路1401の各部の波形を示す。FIG. 22 shows waveforms of each part of the signal processing circuit 1401.

同図(b)(c)の如く、再生信号S1・S2はMO波
形処理部2502において差動されてMO部3002の
MO信号のみが分離され、更に2値化されて、MO2値
化信号2511が生戒される(同図(d))。又、再生
信号S1・S2はプリフォーマット波形処理部2503
において加算されてプリフォーマット部3003の情報
のみが分離され、更に2値化されて、ID2値化信号2
512とセクタマーク信号1411が得られる(同図(
e)及び(g))。
As shown in (b) and (c) of the same figure, the reproduced signals S1 and S2 are differentially generated in the MO waveform processing section 2502, and only the MO signal of the MO section 3002 is separated, and further binarized, and the MO binary signal 2511 ((d) in the same figure). In addition, the reproduced signals S1 and S2 are processed by the preformat waveform processing section 2503.
, only the information in the preformat section 3003 is separated, and further binarized to produce an ID binary signal 2.
512 and sector mark signal 1411 are obtained (same figure (
e) and (g)).

再生信号S1・S2の差動及び加算によってMO部30
02とプリフォーマット部3003が分離できる理由は
、第39図に示したように、再生信号S1・S2の極性
がMO部3002では逆であり、一方、第40図に示し
たように、ブリフォーマット部3003においては同じ
だからである。MO2値化信号2511とID2値化信
号2512とは、第22図(f)に示すように、それぞ
れデータ同期部2504においてクロックと同期した同
期データ2513に変換される。
MO section 30 by differential and addition of reproduced signals S1 and S2.
The reason why the preformat section 3003 and the preformat section 3003 can be separated is that the polarities of the reproduced signals S1 and S2 are reversed in the MO section 3002, as shown in FIG. This is because the portion 3003 is the same. The MO binary signal 2511 and the ID binary signal 2512 are each converted into synchronized data 2513 synchronized with a clock in a data synchronization section 2504, as shown in FIG. 22(f).

第23図は、第22図の波形を詳細に説明するものであ
り、例えば、前述の第1表の変調規則に基づいて生或さ
れた変調データ1310に基づいて凹凸280B (又
はMO信号)で同図(b)の如く、マーク2811(又
は2809)及び非マーク2812(又は2810)が
記録されているものとする。これらのマーク2811(
又は2809)及び非7−ク2812(又は2 8 1
 0 )ハレーザスポット2701の照射によって再生
されるが、同図(C)の如く、再生信号s1・s2はマ
ーク2811(又は2809)の中心でピーク値を取る
信号である. MOZ値化信号2511又はID2値化信号2512は
、このピーク位置を検出した信号であり、その立ち上が
りエッジがピーク位置と一致している(同図(d)参照
).データ同期部2504内のPLLにおいて、MO2
値化信号2511又はID2値化信号2512から同期
クロックを生威し、このクロックと同期させて同期デー
タ2513を得ている。同図(e)に示すように、同期
データ25l3は変調データiaioを忠実に再生した
データとなる。
FIG. 23 explains the waveform of FIG. 22 in detail. For example, the waveform of FIG. 22 is shown in FIG. It is assumed that a mark 2811 (or 2809) and a non-mark 2812 (or 2810) are recorded as shown in FIG. These marks 2811 (
or 2809) and non-7-ku 2812 (or 2 8 1
0) The reproduced signals s1 and s2 are reproduced by the irradiation of the halo laser spot 2701, and as shown in FIG. The MOZ value signal 2511 or the ID binary signal 2512 is a signal that has detected this peak position, and its rising edge coincides with the peak position (see (d) in the same figure). In the PLL in the data synchronization unit 2504, MO2
A synchronous clock is generated from the digitized signal 2511 or the ID binary signal 2512, and synchronous data 2513 is obtained by synchronizing with this clock. As shown in FIG. 4(e), the synchronization data 25l3 is data obtained by faithfully reproducing the modulation data iaio.

第24図はブリフォーマット波形処理部2503の要部
を示している。上記した再生信号S1・S2はブリフォ
ーマット波形処理部2503内の加算増幅器64に入力
され、ここで前述の如く、S1・S2が加算されること
により、再生信号中のブリフォーマット部3003の情
報のみが分離されるようになっている。このブリフォー
マット部3003の情報はブリフォーマット用AGcア
ンプ65に入力され、ここで、増幅後の振幅がほぼ一定
となるように、振幅にほぼ逆比例する増幅度で増幅され
た後、2値化回路66において2値化されてIDZ値化
信号2512として出力される。
FIG. 24 shows the main parts of the BR format waveform processing section 2503. The above-mentioned reproduced signals S1 and S2 are input to the summing amplifier 64 in the BR format waveform processing section 2503, where, as described above, S1 and S2 are added, so that only the information of the BR format section 3003 in the reproduced signal is input. are now separated. The information of this BR format unit 3003 is input to the BR format AGc amplifier 65, where it is amplified with an amplification degree that is approximately inversely proportional to the amplitude so that the amplitude after amplification is approximately constant, and then binarized. The signal is binarized in the circuit 66 and output as an IDZ digitized signal 2512.

又、第25図は、MO波形処理部2502の要部を示し
ており、再生信号SL−32は、MO波形処理部250
2内の差動増幅器74に入力され、ここで前述の如く、
S1・S2が差動されることにより、再生信号中のMO
信号のみが分離されるようになっている。MO信号は、
MO信号用AGCアンプ75に入力され、ここで、振幅
に応じて増幅された後、2値化回路76において2値化
されてMOZ値化信号2511が出力される。このMO
Z値化信号2511に基づいて、MO部3002に記録
されたデータが認識される。
Further, FIG. 25 shows the main part of the MO waveform processing section 2502, and the reproduced signal SL-32 is transmitted to the MO waveform processing section 250.
2, where, as mentioned above,
By differentially connecting S1 and S2, the MO in the reproduced signal
Only the signal is separated. The MO signal is
The signal is input to the MO signal AGC amplifier 75, where it is amplified according to the amplitude, and then binarized by the binarization circuit 76, and the MOZ digitized signal 2511 is output. This M.O.
Based on the Z-valued signal 2511, data recorded in the MO section 3002 is recognized.

次に、テストライトにつき説明する。Next, the test light will be explained.

MO部3002に記録されるMO信号によるマーク28
09の大きさは、記録光量、記録パルス長や外部印加磁
場2806等の記録条件によって変化する。
Mark 28 by MO signal recorded in MO section 3002
The magnitude of 09 changes depending on recording conditions such as the recording light amount, recording pulse length, and externally applied magnetic field 2806.

即ち、第26図(a)(b)に示すように、記録パルス
の振幅、つまり、記録光量が大きくなると、記録される
マーク2809の大きさが大きくなる(但し、記録パル
ス長は一定)。又、第27図(a)(b)に示すように
、記録パルスの振幅を一定値に保持した状態で、記録パ
ルス長を大きくしても、記録パルス長にほぼ比例して記
録されるマーク2809の大きさが大きくなる。
That is, as shown in FIGS. 26(a) and 26(b), as the amplitude of the recording pulse, that is, the amount of recording light increases, the size of the recorded mark 2809 increases (however, the length of the recording pulse is constant). Furthermore, as shown in FIGS. 27(a) and 27(b), even if the recording pulse length is increased while the amplitude of the recording pulse is held constant, the mark recorded is almost proportional to the recording pulse length. The size of 2809 increases.

このように、マーク2809の大きさにばらつきが生じ
ると、再生エラーが発生することがある.例えば、第2
8図において、同図(a)に実線で示す大きさでマーク
2809を記録した記録条件下で同図(b)に実線で再
生信号を示すようにS/N比が最良である。それに対し
、記録する際、実線に対応する記録光量(又は記録パル
ス長)よりも大きくても、逆に小さくても、従って、同
図(a)に点線で示すようにマーク28o9の大きさが
大き過ぎても、小さ過ぎても、同図(b)中の点線で示
すように、再生信号の振幅(ピークピーク値)が小さく
なることがわかる(例えば、特開昭58−80138号
公報参照)。従って、エラーのない再生データを得るた
めには、上記記録条件を最適に制御する必要がある。
As described above, if the sizes of the marks 2809 vary, playback errors may occur. For example, the second
In FIG. 8, under recording conditions in which marks 2809 were recorded with the size shown by the solid line in FIG. 8(a), the S/N ratio was the best as shown by the reproduced signal shown by the solid line in FIG. 8(b). On the other hand, when recording, the size of the mark 28o9 is larger or smaller than the recording light amount (or recording pulse length) corresponding to the solid line. It can be seen that if the amplitude is too large or too small, the amplitude (peak-to-peak value) of the reproduced signal becomes small, as shown by the dotted line in FIG. ). Therefore, in order to obtain error-free reproduced data, it is necessary to optimally control the recording conditions.

そこで、記録条件の最適化のために、光磁気ディスク1
201に記録条件を順次変えながら試験的に記録(テス
トライト)して、再生時の再生信号の振輻が最大になる
条件を求め、その時の記録条件で以後の記録を行うこと
ができる。
Therefore, in order to optimize the recording conditions, the magneto-optical disk 1
It is possible to test record (test write) 201 while sequentially changing the recording conditions to find the conditions that maximize the amplitude of the reproduced signal during reproduction, and then perform subsequent recordings under the recording conditions at that time.

例えば、第29図に示すように、A−Hの8個のセクタ
3004 (同図(a))に同図(b)の如く、記録光
量又は記録パルス長を順次変更しながら記録を行う。そ
の時、例えば、記録光量を順次変更するのであれば、前
述の光量モニター回路1804 (第14図)を介して
光量モニター信号1813が、第30図に要部を示すコ
ントローラ1208内のプロセッサ70に入力され、例
えば、プロセッサ70内に備えられているRAM又はE
” FROM等の記憶素子に記憶される。
For example, as shown in FIG. 29, recording is performed in eight sectors 3004 of A to H (FIG. 29(a)) while sequentially changing the recording light amount or recording pulse length as shown in FIG. 29(b). At that time, for example, if the recording light intensity is to be changed sequentially, the light intensity monitor signal 1813 is input to the processor 70 in the controller 1208 whose main part is shown in FIG. For example, RAM or E provided in the processor 70
” It is stored in a storage element such as FROM.

その後、第29図(C)の如く、A−Hのセクタ300
4に記録されたMO信号を順次再生する.この際、例え
ば、同図Ce)に示すサンプルタイミングで各セクタ3
004毎にMO信号用AGCアンプ75のAGC電圧(
同図(d))がサンプリングされ、上記の記憶素子に記
憶される。
After that, as shown in FIG. 29(C), sectors 300 of A-H
The MO signals recorded in 4 are sequentially played back. At this time, for example, each sector 3 at the sample timing shown in Ce) of the same figure.
004, the AGC voltage of the MO signal AGC amplifier 75 (
(d)) of the same figure is sampled and stored in the above-mentioned storage element.

ところで、第31図に示すように、MO信号用AGCア
ンブ75(以下で詳述)においては、S1・S2の差動
信号からなるMO信号の通常振幅範囲ではMO信号の振
幅が大きくなるに伴ってAGC電圧が大きくなる関係が
あり、かつ、第32図に示すように、AGC電圧が大き
くなるに伴ってMO信号用ACCアンブ75の増幅度は
小さくなる関係がある。従って、MO信号用AGCアン
ブ75による増幅前のMO信号の振幅が最大になる記録
条件(増幅度が最小になる記録条件)が最適記録条件で
あるとすれば、AGC電圧が最大になる記録条件が最適
記録条件に相当する。
By the way, as shown in FIG. 31, in the MO signal AGC amplifier 75 (described in detail below), in the normal amplitude range of the MO signal consisting of the differential signals S1 and S2, as the amplitude of the MO signal increases, There is a relationship in which the AGC voltage increases, and as shown in FIG. 32, there is a relationship in which the amplification degree of the MO signal ACC amplifier 75 decreases as the AGC voltage increases. Therefore, if the optimal recording condition is the recording condition in which the amplitude of the MO signal before amplification by the MO signal AGC amplifier 75 is maximized (the recording condition in which the degree of amplification is minimized), then the recording condition in which the AGC voltage is maximized is corresponds to the optimal recording condition.

そこで、各セクタ3004毎に記録したAGC電圧から
最適記録条件が求められ、以後、記録に際しては、上記
の最適記録条件に対応した記録・消去光量制御信号18
11及び記録パルス長制御信号がプロセッサ70(第3
0図)から出力される。
Therefore, the optimum recording condition is determined from the AGC voltage recorded for each sector 3004, and thereafter, during recording, the recording/erasing light amount control signal 18 corresponding to the above-mentioned optimum recording condition is used.
11 and the recording pulse length control signal is sent to the processor 70 (third
Figure 0).

記録・消去光量制御信号1811は前述の記録・消去光
量制御回路1803 (第l4図)に入力され、記録時
・消去時に対応する半導体レーザ2801の光量が制御
されるようになっている。
The recording/erasing light amount control signal 1811 is input to the aforementioned recording/erasing light amount control circuit 1803 (FIG. 14), so that the light amount of the semiconductor laser 2801 corresponding to recording and erasing is controlled.

一方、パルス長制御信号は変調回路1302 (第11
図)に送られ、これに基づいて、変調データが制御され
る。
On the other hand, the pulse length control signal is transmitted to the modulation circuit 1302 (11th
(Fig.), and modulation data is controlled based on this.

変調回路1302はより具体的には第33図のような構
戒を有し、コントローラ1208 (第10図)から送
られた記録データ131lは変調回路1302内の変調
部71に入力される。変調部71では、例えば、第1表
に示したような2.7変調方式に従って、タイミング信
号に同期して変調が行われる.変調された記録データ1
311は、記録フォーマット部72において、タイミン
グ信号に同期して記録フォーマットに適合するように処
理され、更に記録パルス長制御部73において上述のパ
ルス長制御信号に基づいて変調データ1310が生或さ
れる。この変調データ1310は第14図の半導体レー
ザ駆動回路1301へ出力され、半導体レーザ駆動回路
1301からは半導体レーザ駆動電流1210が出力さ
れ、光ヘッド1203内の半導体レーザ280lヘッド
1203内の半導体レーザ2801へ伝送される。この
ようにして記録パルス長を制御することができる。
More specifically, the modulation circuit 1302 has a configuration as shown in FIG. 33, and record data 131l sent from the controller 1208 (FIG. 10) is input to the modulation section 71 in the modulation circuit 1302. The modulation section 71 performs modulation in synchronization with the timing signal, for example, according to the 2.7 modulation method as shown in Table 1. Modulated recording data 1
311 is processed in a recording format unit 72 in synchronization with the timing signal to match the recording format, and further in a recording pulse length control unit 73, modulated data 1310 is generated based on the above-mentioned pulse length control signal. . This modulation data 1310 is output to the semiconductor laser drive circuit 1301 in FIG. transmitted. In this way, the recording pulse length can be controlled.

次に、オートゲインコントロール装置としてのMO信号
用AGCアンブ75の構戒をより詳細に説明する。第3
図に示すように、MO信号用AGCアンプ75は主とし
て、クランブ回路78、コンバレータ79、AGC電圧
発生回路80及び電圧制御アンプ(VCA)77から構
戒されており、前述の差動増幅器74の出力信号である
差動信号がVCA77に入力されるようになっている。
Next, the structure of the MO signal AGC amplifier 75 as an automatic gain control device will be explained in more detail. Third
As shown in the figure, the MO signal AGC amplifier 75 is mainly connected to a clamp circuit 78, a comparator 79, an AGC voltage generation circuit 80, and a voltage control amplifier (VCA) 77. A differential signal is input to the VCA 77.

VCA77(7)出力は、2値化回路76(第25図)
へ伝送されるとともに、クランプ回路78に入力される
。クランブ回路78では、VCA77の出力信号中の直
流分がカットされるとともに、交流分(ビークビーク値
に相当する)のうちプラス方向のピークは、クランブ回
路78内のダイオードDによりダイオードDの順方向降
下電圧値にクランブされ、マイナス方向のピークはクラ
ンブされずにそのまま後続のコンパレータ79の反転入
力端子へ伝送される。なお、クランプ回路78は、全波
整流回路としても良い。
The VCA 77 (7) output is sent to the binarization circuit 76 (Fig. 25).
and is also input to the clamp circuit 78. In the clamp circuit 78, the DC component in the output signal of the VCA 77 is cut, and the positive peak of the AC component (corresponding to the peak-to-peak value) is reduced by the forward drop of the diode D by the diode D in the clamp circuit 78. The voltage value is clamped, and the peak in the negative direction is transmitted as it is to the inverting input terminal of the subsequent comparator 79 without being clamped. Note that the clamp circuit 78 may be a full-wave rectifier circuit.

コンパレータ79では、非反転入力端子に印加されてい
る基準電圧voと、クランブ回路78の出力電圧とが大
小比較される.コンパレータ79の出力信号はAND回
路90の一方の入力端子に入力され、AND回路90の
他方の入力端子には、インバータ91を介してホールド
タイミング信号113が入力されるようになっている。
The comparator 79 compares the reference voltage vo applied to the non-inverting input terminal with the output voltage of the clamp circuit 78. The output signal of the comparator 79 is input to one input terminal of an AND circuit 90, and the hold timing signal 113 is input to the other input terminal of the AND circuit 90 via an inverter 91.

そして、AND回路90の出力信号が抵抗92を介して
AGC電圧発生回路80に入力される。
The output signal of the AND circuit 90 is then input to the AGC voltage generation circuit 80 via the resistor 92.

AGC電圧発生回路80で発生されたAGC電圧はホー
ルド回路93とアナログスイッチ94の一方の接点94
aとに入力されるようになっている。ホールド回路93
は制御手段としての役割を有し、具体的には図示しない
が、例えば、A/Dコンバータと、その後段に位置する
D/Aコンバータとにより構威されている。そして、ホ
ールド時には、上記A/Dコンバータにより所定のタイ
ミングでAGC電圧をサンプリングしてホールドし、そ
れ以後ホールドしたAGC電圧値をD/Aコンバータで
アナログに変換してアナログスイッチ94の他方の接点
94bに供給するようになっている。なお、ホールド回
路93は、例えば、アナログ的なサンプルホールド回路
でも良い。
The AGC voltage generated by the AGC voltage generation circuit 80 is applied to the hold circuit 93 and one contact 94 of the analog switch 94.
It is designed to be input to a. Hold circuit 93
has a role as a control means, and is composed of, for example, an A/D converter and a D/A converter located at the subsequent stage, although not specifically shown. When holding, the AGC voltage is sampled and held at a predetermined timing by the A/D converter, and thereafter the held AGC voltage value is converted to analog by the D/A converter, and the other contact 94b of the analog switch 94 is It is designed to be supplied to Note that the hold circuit 93 may be, for example, an analog sample and hold circuit.

ホールド回路93及びアナログスイッチ94には、後に
詳述する再生信号状態判定回路105からホールドタイ
逅ング信号113が供給され、このホールドタイミング
信号113がローレベルの時、つまり、MO信号用AG
Cアンブ75におけるAGC電圧のホールドを行わない
時には、図示の如く、アナログスイッチ94の接点94
a・94b間が開かれて、AGC電圧がそのままVCA
77に帰還される。一方、ホールドタイξング信号11
3がハイレベルとなると、ホールド回路93でAGC電
圧がホールドされるとともにアナログスイッチ94の接
点94a・94b間が閉じられて、ホールドされた一定
のAGC電圧が接点94bを介してVCA77に帰還さ
れると同時にコンデンサ83の電位が一定に保たれる。
A hold timing signal 113 is supplied to the hold circuit 93 and the analog switch 94 from a reproduced signal state determination circuit 105, which will be described in detail later.When this hold timing signal 113 is at a low level,
When the AGC voltage in the C amplifier 75 is not held, the contact 94 of the analog switch 94 is closed as shown in the figure.
A and 94b are opened and the AGC voltage is directly passed to the VCA.
Returned in 1977. On the other hand, the hold timing signal 11
3 becomes high level, the AGC voltage is held in the hold circuit 93, and the contacts 94a and 94b of the analog switch 94 are closed, and the held constant AGC voltage is fed back to the VCA 77 via the contact 94b. At the same time, the potential of capacitor 83 is kept constant.

上記の構戒において、ホールドタイミング信号113が
ローレベルで、MO信号用AGCアンプ75でAGC電
圧のホールドを行わない場合の動作を、まず説明する。
In the above arrangement, the operation when the hold timing signal 113 is at a low level and the MO signal AGC amplifier 75 does not hold the AGC voltage will be described first.

この時、インバータ91からAND回路90への入力信
号はハイレベルとなるので、AND回路90の出力信号
はコンバレータ79からAND回路90への人力信号に
より決定される。
At this time, the input signal from the inverter 91 to the AND circuit 90 is at a high level, so the output signal of the AND circuit 90 is determined by the manual signal from the converter 79 to the AND circuit 90.

今、クランブ回路78の出力振幅が基準電圧v0を超え
る場合には、コンパレータ79の出力信号がハイレベル
となり、従って、AND回路9oの出力もハイレベルと
なるので、トランジスタ8lはオンとなる。そのため、
コンデンサ83が充電抵抗82を介して電源VCCによ
り充電され、コンデンサ83の両端の電圧であるAGC
電圧が大きくなる。この時、充電時定数は、充電抵抗8
2及びコンデンサ83によって決まる。充電抵抗82と
コンデンサ83との接続点Aに生じるAGC電圧が増幅
度調整用の制御電圧としてVCA77に帰還されるが、
上記のようにAGC電圧が大きくなれば、VCA77の
増幅度は低下する。
Now, when the output amplitude of the clamp circuit 78 exceeds the reference voltage v0, the output signal of the comparator 79 becomes high level, and therefore the output of the AND circuit 9o also becomes high level, so that the transistor 8l is turned on. Therefore,
The capacitor 83 is charged by the power supply VCC via the charging resistor 82, and the voltage across the capacitor 83 is AGC.
The voltage increases. At this time, the charging time constant is the charging resistance 8
2 and capacitor 83. The AGC voltage generated at the connection point A between the charging resistor 82 and the capacitor 83 is fed back to the VCA 77 as a control voltage for adjusting the amplification degree.
As described above, as the AGC voltage increases, the amplification degree of the VCA 77 decreases.

一方、クランプ回路78の出力振幅が基準電圧■。を超
えない場合には、コンパレータ79の出力信号、従って
、AND回路90の出力信号がローレベルとなり、トラ
ンジスタ81はオフとなるので、コンデンサ83に蓄え
られた電荷が放電抵抗84を介して放電される。この時
、放電時定数は、放電抵抗84及びコンデンサ83によ
って決まる。コンデンサ83の放電に伴って、AGC電
圧が小さくなり、VCA77の増幅度は大きくなる。
On the other hand, the output amplitude of the clamp circuit 78 is the reference voltage ■. If the output signal does not exceed the current value, the output signal of the comparator 79 and therefore the output signal of the AND circuit 90 becomes low level, and the transistor 81 is turned off, so that the charge stored in the capacitor 83 is discharged via the discharge resistor 84. Ru. At this time, the discharge time constant is determined by the discharge resistor 84 and the capacitor 83. As the capacitor 83 discharges, the AGC voltage decreases and the amplification degree of the VCA 77 increases.

上記の説明からも明らかなように、s1・s2の差動信
号のピークピーク値(P−P値)とAGC電圧との間に
は、第31図に示すような関係があり、同図に示す通常
振幅範囲においてAGC電圧は差動信号のビークビーク
値に対して単調増加することが分かる。即ち、AGC電
圧の最大値・最小値が、差動信号のビークビーク値の最
大値・最小値に対応する。
As is clear from the above explanation, there is a relationship as shown in Figure 31 between the peak-to-peak value (P-P value) of the differential signal of s1 and s2 and the AGC voltage. It can be seen that in the normal amplitude range shown, the AGC voltage increases monotonically with respect to the peak-to-peak value of the differential signal. That is, the maximum and minimum values of the AGC voltage correspond to the maximum and minimum values of the peak-to-peak values of the differential signal.

又、VCA77の増幅度はAGC電圧に応じて変化し、
第32図に示すように、AGC電圧が大きくなるにつれ
て増幅度が小さくなる。
Also, the amplification degree of VCA77 changes according to the AGC voltage,
As shown in FIG. 32, as the AGC voltage increases, the amplification degree decreases.

次に、MO信号用AGCアンプ75においてAGC電圧
をホールドする場合の動作につき述べる。再生信号状態
判定回路105では、例えば、MO部3002にて後述
するVFOマークが検出された時、換言すれば、MO部
3002にデータが記録されている時にホールドタイミ
ング信号113がローレベルとされてAGC電圧のホー
ルドは行われず、VFOマークが検出されない時には、
ホールドタイミング信号113がハイレベルとされてA
GC電圧がホールドされる。
Next, the operation when holding the AGC voltage in the MO signal AGC amplifier 75 will be described. The reproduction signal state determination circuit 105 determines that the hold timing signal 113 is set to a low level when, for example, a VFO mark, which will be described later, is detected in the MO section 3002, or in other words, when data is being recorded in the MO section 3002. When the AGC voltage is not held and the VFO mark is not detected,
The hold timing signal 113 is set to high level and A
GC voltage is held.

即ち、MO信号用AGCアンブ75においてAGC電圧
がホールドされるのは、MO部3002において、VF
Oマークが1度検出されてから次に検出されるまでの、
ほぼデータの未記録領域に対応する区間である. MO信号用AGCアンプ75にて、AGC電圧をホール
ドする際には、ホールドタイミング信号113をハイレ
ベルとすると、アナログスイッチ94の接点94a・9
4b間が閉じられて、ホールド回路93にてホールドさ
れた一定のAGC電圧がVCA77に帰還され、VCA
77の増幅度が次にVFOマークが検出され−るまで、
一定値に保持される. 又、MO信号用AGCアンブ75におけるAGC電圧の
ホールド時には、インバータ91の出力信号がハイレベ
ルからローレベルに反転する。それに伴って、AND回
路90の出力信号がそれまでローレベル(即ち、コンパ
レータ79の出力信号がローレベル)であれば以後もロ
ーレベルを維持し、AND回路90の出力信号がそれま
でハイレベル(即ち、コンパレータ79の出力信号がハ
イレベル)であればローレベルに反転するので、トラン
ジスタ81がそれまでオフであれば、オフ状態を維持し
、トランジスタ81がそれまでオンであればオフに切り
替わる。
That is, the AGC voltage is held in the MO signal AGC amplifier 75 because the VF
From when the O mark is detected once until it is detected again,
This section roughly corresponds to an area where no data is recorded. When holding the AGC voltage in the MO signal AGC amplifier 75, when the hold timing signal 113 is set to high level, the contacts 94a and 9 of the analog switch 94
4b is closed, the constant AGC voltage held in the hold circuit 93 is fed back to the VCA 77, and the VCA
77 amplification until the next VFO mark is detected.
It is held at a constant value. Further, when the AGC voltage in the MO signal AGC amplifier 75 is held, the output signal of the inverter 91 is inverted from high level to low level. Accordingly, if the output signal of the AND circuit 90 has been at a low level (that is, the output signal of the comparator 79 has been at a low level), it will remain at a low level from now on, and the output signal of the AND circuit 90 will remain at a high level until then ( That is, if the output signal of the comparator 79 is high level, it is inverted to low level, so if the transistor 81 was previously off, it remains off, and if the transistor 81 was previously on, it is switched off.

従って、MO信号用AGCアンブ75におけるAGC電
圧のホールド時にはコンデンサ83にホールド回路93
の出力電圧が加えられ、点Aの電位がAGC電圧に保持
される. 次に、MO信号用AGCアンブ75の応答速度を、例え
ば、高速と低速の2段階に切り替えるための回路につき
説明する。
Therefore, when holding the AGC voltage in the MO signal AGC amplifier 75, the capacitor 83 is connected to the hold circuit 93.
is applied, and the potential at point A is held at the AGC voltage. Next, a circuit for switching the response speed of the MO signal AGC amplifier 75 into two stages, for example, high speed and low speed, will be described.

第4図に示すように、この回路は、AGC電圧のリセッ
ト機能をも有する応答速度変更兼リセット回路101と
して構戒されている。即ち、応答速度変更兼リセット回
路101は、1対のオーブンコレクタ87・88と放電
抵抗89とから構威されており、オーブンコレクタ88
の出力は、MO信号用AGCアンブ75における充電抵
抗82とコンデンサ83との接続点Aに接続されている
As shown in FIG. 4, this circuit is designed as a response speed changing/resetting circuit 101 which also has an AGC voltage reset function. That is, the response speed change/reset circuit 101 is composed of a pair of oven collectors 87 and 88 and a discharge resistor 89.
The output of is connected to the connection point A between the charging resistor 82 and the capacitor 83 in the MO signal AGC amplifier 75.

オープンコレクタ87にはAGC速度制御信号97が入
力される一方、オープンコレクタ88にはAGCリセッ
ト信号98が入力されるようになっている。前記AGC
速度制御信号97は、上述したテストライト時等のAG
C電圧の検出時等、MO信号用AGCアンプ75の応答
速度を高速にする必要がある時にハイレベルになる。こ
の時、オープンコレクタ87の出力はローレベルになり
、第4図の放電抵抗84と並列に放電抵抗89が接続さ
れることになる。この結果、コンデンサ83の放電に要
する時間が短縮される。
An AGC speed control signal 97 is input to the open collector 87, and an AGC reset signal 98 is input to the open collector 88. Said AGC
The speed control signal 97 is the AG signal at the time of the above-mentioned test write.
It becomes high level when it is necessary to increase the response speed of the MO signal AGC amplifier 75, such as when detecting the C voltage. At this time, the output of the open collector 87 becomes low level, and a discharge resistor 89 is connected in parallel with the discharge resistor 84 in FIG. As a result, the time required for discharging the capacitor 83 is shortened.

一方、AGCリセット信号98は、光磁気ディスク装置
の起動時や異常時等にハイレベルになる.この時、放電
抵抗84が短絡されることになるので、瞬時に放電が完
了する。
On the other hand, the AGC reset signal 98 becomes high level when the magneto-optical disk device is started up or when an abnormality occurs. At this time, the discharge resistor 84 is short-circuited, so that the discharge is instantaneously completed.

次に、上記再生信号状態判定回路105のより具体的な
構或につき説明する。
Next, a more specific structure of the reproduced signal state determination circuit 105 will be explained.

再生信号状態判定回路105は、光磁気ディスク120
1のMO部3002にMO信号によるデータが存在して
いるか否かを判定するものである。具体的には、例えば
、MO部3002にデータを記録する際に同時に記録さ
れ、又、記録されたデータが消去される際には同時に消
去されるVFOマークを検出することにより、MO部3
002にデータが存在しているか否かを判定するように
なっている。即ち、MO部3002にてVFOマークが
検出されれば、そのMO部3002にデータが記録され
ているものと判定し、VFOマークが検出されなければ
、そのMO部3002にはデータが記録されていないも
のと判定する。
The reproduced signal state determination circuit 105 detects the magneto-optical disk 120.
This is to determine whether data based on the MO signal exists in the MO section 3002 of No. 1. Specifically, for example, by detecting a VFO mark that is recorded at the same time when data is recorded in the MO section 3002, and which is also erased at the same time when the recorded data is erased, the MO section 3002
It is determined whether data exists in 002. That is, if a VFO mark is detected in the MO section 3002, it is determined that data is recorded in that MO section 3002, and if a VFO mark is not detected, it is determined that data is not recorded in that MO section 3002. It is determined that there is no such thing.

上記のvFOマークは、例えば、(010010010
・・・・・・oo1o:但し、連続ビット数は12バイ
ト)等の一定の繰返しパターンからなり、スピンドルモ
ータ1202による光磁気ディスクl201の回転に変
動が生じた場合に上記VFOマークにデータ同期部25
04 (第21図)内のPLLをロックさせて確実にデ
ータの再生が行えるようにする目的でデータとともに記
録されるものである。
The above vFO mark is, for example, (010010010
...oo1o: However, the number of consecutive bits is 12 bytes), etc.), and when there is a change in the rotation of the magneto-optical disk l201 by the spindle motor 1202, the data synchronization part is displayed on the VFO mark. 25
This is recorded together with data for the purpose of locking the PLL in 04 (FIG. 21) and ensuring data reproduction.

第2図にVFOマークに基づいてデータの記録済領域を
検出する場合の再生信号状態判定回路105の具体例を
示す。即ち、再生信号状態判定回路105はDフリップ
フロップ106を複数個連結したシフトレジスタからな
り、第1段のDフリップフロップ106のデータ人力端
子Dに、第21図のデータ同期部2504からの同期デ
ータ2513が入力されるとともに、各Dフリップフロ
ップ106のクロツク入力端子CKには、同期データ2
513を生或するためにデータ同期部2504内のPL
Lにて生或されるクロックが入力され、クロックが入力
される度に上記同期データ25l3がlビットずつシフ
トされるようになっている。
FIG. 2 shows a specific example of the reproduced signal state determination circuit 105 when detecting an area where data has been recorded based on the VFO mark. That is, the reproduced signal state determination circuit 105 is composed of a shift register in which a plurality of D flip-flops 106 are connected, and synchronization data from the data synchronization unit 2504 in FIG. 2513 is input, and the clock input terminal CK of each D flip-flop 106 receives synchronous data 2.
513 in the data synchronization unit 2504.
A clock generated at L is input, and the synchronization data 25l3 is shifted by l bits each time the clock is input.

そして、各Dフリップフロップ106の出力端子Oから
出力される、上記同期データ2513中の連続する複数
ビットに対応する信号がパターン比較回路107にてV
FOマークのパターンと比較され、VFOマークのパタ
ーンと一致した時に、VFOマークが検出されたものと
して、パターン比較回路107の出力信号であるパター
ン検出信号102がハイレベルとされるようになってい
る。なお、本実施例では、MO部3002にVF0マー
クが記録されているか否かを検出するものであるから、
パターン比較回路107においては、同期データ251
3中に含まれるM○2値化信号25l1とVFOマーク
のパターンとが比較される。
Then, a signal corresponding to a plurality of consecutive bits in the synchronization data 2513 outputted from the output terminal O of each D flip-flop 106 is output to the pattern comparison circuit 107 at a voltage of V
When it is compared with the FO mark pattern and matches the VFO mark pattern, it is assumed that the VFO mark has been detected, and the pattern detection signal 102, which is the output signal of the pattern comparison circuit 107, is set to a high level. . In addition, in this embodiment, since it is detected whether or not the VF0 mark is recorded in the MO section 3002,
In the pattern comparison circuit 107, the synchronization data 251
The M◯ binary signal 25l1 included in the signal 3 is compared with the pattern of the VFO mark.

以上のように、各セクタ3004のMO部3002にデ
ータが記録されている場合は、第5図中(b)に示すよ
うに、各セクタ3004のVFOマークの記録されてい
る位置でパターン検出信号102がハイレベルとなる。
As described above, when data is recorded in the MO section 3002 of each sector 3004, a pattern detection signal is sent at the position where the VFO mark of each sector 3004 is recorded, as shown in FIG. 102 becomes a high level.

なお、パターン検出信号102を反転させた信号が上記
のホールドタイミング信号113となる。
Note that a signal obtained by inverting the pattern detection signal 102 becomes the above-mentioned hold timing signal 113.

又、本実施例では、VFOマークの検出等によるAGC
電圧のホールド制御はMO信号用AGCアンブ75のみ
に対して適用したが、同様の制御をプリフォーマット用
AGCアンブ65に対しても適用する場合、例えば、ブ
リフォーマント部3003にもVFOマークを形威して
おき、同図(C)に示すような、プリフォーマット部3
003でVFOマークを検出した旨のパターン検出信号
に基づいて、ブリフォーマット用AGCアンブ65のホ
ールド又はオンの切替え制御を行うことができる。
In addition, in this embodiment, AGC by detecting the VFO mark, etc.
Voltage hold control was applied only to the MO signal AGC amplifier 75, but if similar control is applied to the preformat AGC amplifier 65, for example, a VFO mark may also be formed on the preformant section 3003. After that, the preformat section 3 as shown in the same figure (C) is created.
Based on the pattern detection signal indicating that the VFO mark has been detected at 003, it is possible to control the holding or ON switching of the pre-format AGC amplifier 65.

又、再生信号状態判定回路105におけるMO部300
2にデータが記録されているか否かの判定は、例えば、
MO部3002に記録されるデータが、前記の2,マ変
調のような一定の変調規則に従って変調されるものであ
れば、同期データ2513中のMO2値化信号2511
により表されるデータが変調規則に従っているか否かの
判定により、MO部3002におけるデータの有無の検
出及びデータが存在している場合は正規のデータである
かディフエクトパルスであるかの判定を行うことができ
る。
Furthermore, the MO section 300 in the reproduced signal state determination circuit 105
For example, to determine whether data is recorded in 2.
If the data recorded in the MO section 3002 is modulated according to a certain modulation rule such as the above-mentioned 2, MA modulation, the MO binary signal 2511 in the synchronization data 2513
By determining whether or not the data represented by follows the modulation rule, the MO section 3002 detects the presence or absence of the data, and if the data is present, determines whether it is normal data or a defective pulse. be able to.

更に又、MO部3002のデータとともに同期信号或い
はCRC、エラー検出用付加符号等を記録する場合は、
これらの同期信号或いはエラー検出用付加符号等が存在
するか否か、或いは再生データがエラーであるか否かに
よりMO部3002にデータが記録されているか否かの
判定を行うようにしても良い. 又、上記した複数のデータ部の検出方法を組み合わせて
実施しても良い. 以下、第1図のフローチャートに従って、MO信号用A
GCアンブ75におけるAGC電圧のホールド制御の手
順につき、今1度述べると、まず、■FOマーク等の特
定のパターンの検出、再生されるデータ列が、2,7変
調等の変調規則に適合しているか否かの検出又はCRC
若しくはエラー検出用付加符号により再生データがエラ
ーであるか否かを検出すること等によりMO部3002
にデータが記録されているか否かを検出する(S1)。
Furthermore, when recording a synchronization signal, CRC, additional code for error detection, etc. together with the data of the MO section 3002,
It may be determined whether or not data is recorded in the MO section 3002 based on whether or not these synchronization signals or additional codes for error detection are present, or whether or not there is an error in the reproduced data. .. Furthermore, the above-described methods for detecting multiple data portions may be combined and implemented. Hereinafter, according to the flowchart in Fig. 1, the MO signal A
The procedure for holding control of the AGC voltage in the GC amplifier 75 will be described once again. First, detecting a specific pattern such as the FO mark, and detecting whether the data string to be reproduced conforms to modulation rules such as 2, 7 modulation, etc. detection or CRC
Alternatively, the MO unit 3002 detects whether or not the reproduced data is in error using an additional code for error detection.
It is detected whether data is recorded in (S1).

続いて、上記の検出結果に基づき、MO部3002にデ
ータが記録されているか否かを判定し(S2)、記録さ
れていれば、その時点でのAGC電圧をホールド回路9
3でサンプリングして、ホールドする(S3)。そして
、ホールドされたAGC電圧に基づいてMO信号用AG
Cアンプ75におけるVCA77の増幅度を制御し(s
4)、ホールドされたAGC電圧に対応する一定の増幅
度でVCA7 7による増幅を行う(S5)。
Next, based on the above detection result, it is determined whether or not data is recorded in the MO section 3002 (S2). If data is recorded, the AGC voltage at that point is stored in the hold circuit 9.
3 and hold it (S3). Then, based on the held AGC voltage, the MO signal AG
Controls the amplification degree of the VCA 77 in the C amplifier 75 (s
4) Amplification is performed by the VCA 77 at a constant amplification degree corresponding to the held AGC voltage (S5).

一方、S2でMO部3002にデータが記録されていな
ければ、ホールド回路93におけるAGCt圧のサンプ
リングは行わずに、その直前のデータの記録済領域でホ
ールドされたAGC電圧をそのまま保持する(S6)。
On the other hand, if no data is recorded in the MO section 3002 in S2, the AGC voltage held in the area where the previous data has been recorded is held as is without sampling the AGCt pressure in the hold circuit 93 (S6). .

なお、上記の実施例では、データが記録されていなけれ
ば、AGC電圧をそのまま保持する例を示したが、これ
以外に、例えば、プロセッサ等によって上記のデータの
前後のデータによって外挿又は内拝する等の処理を行っ
ても良い。
In the above embodiment, if no data is recorded, the AGC voltage is held as it is. You may also perform processing such as

又、コンデンサ83への充放電によりアナログ的なAG
Cを行う例を示したが.それ以外に上記ホールド回路9
3内のA/Dコンバータの出力をプロセッサに入力し、
ディジタル的に処理(フィルタ等)を行った後、D/A
コンバータで■CA77にフィードバックする、所謂デ
ィジタルACCを行っても良い。この場合、上記AGC
のホールド又はオンはディジタル的に行われる。
Also, by charging and discharging the capacitor 83, analog AG
I showed an example of performing C. In addition to the above hold circuit 9
Input the output of the A/D converter in 3 to the processor,
After digital processing (filter etc.), the D/A
It is also possible to perform so-called digital ACC in which the converter feeds back to the CA77. In this case, the above AGC
Holding or turning on is done digitally.

〔実施例2〕 次に、第2実施例を説明する。[Example 2] Next, a second embodiment will be explained.

第2実施例は、上記したVFOマーク等に基づく再生信
号状態の判定と、パルス群の検出によるデータの記録済
領域の判定とを組み合わせたものである。即ち、MO信
号用AGCアンプ75がディフェクトパルス等に応答し
やすいのは、前述のように、MO信号用AGCアンブ7
5のAGC電圧がリセットされた直後、又は光磁気ディ
スク装置自体の起動直後である。
The second embodiment combines the above-described determination of the reproduced signal state based on the VFO mark and the like and the determination of the data recorded area by detection of a pulse group. That is, as mentioned above, the reason why the MO signal AGC amplifier 75 is more likely to respond to defective pulses, etc.
This is immediately after the AGC voltage of No. 5 is reset, or immediately after the magneto-optical disk device itself is started.

そのため、本実施例では、MO信号用AGCアンブ75
のリセット直後又は光磁気ディスク装置の起動直後にの
みVF○マーク等に基づくデータの記録済領域の検出を
行い、検出されたデータの再生を行うことによりMO信
号用AGCアンプ75の増幅度が一度適正な値に設定さ
れた後はパルス群の検出によるAGC電圧のホールド又
はオン(ホールドを行わない状態)の切替え制御を行う
ようにしたものである。
Therefore, in this embodiment, the MO signal AGC amplifier 75
The amplification degree of the MO signal AGC amplifier 75 is increased by detecting the recorded data area based on the VF○ mark etc. only immediately after resetting or starting the magneto-optical disk device, and reproducing the detected data. After it is set to an appropriate value, the AGC voltage is controlled to be held or turned on (state in which no hold is performed) by detecting a group of pulses.

なお、VFOマークの検出等に基づく再生信号状態の判
定は上記の第1実施例と同様にして行えるので、以下、
パルス群検出回路の具体例につき述べる。
Note that the determination of the reproduced signal state based on the detection of the VFO mark, etc. can be performed in the same manner as in the first embodiment, so the following will be described below.
A specific example of a pulse group detection circuit will be described.

第7図に示すように、このパルス群検出回路31はワン
ショットマルチバイブレータ32を有し、ワンショット
マルチバイブレーク32のトリガ入力端子Tには、MO
信号用AGCアンブ75で増幅されたMO信号を2値化
する2値化回路76(第25図)の出力信号であるM○
2値化信号2511(又は第2l図のデータ同期部25
04で同期された同期データ2513中のMO2値化信
号2511)が入力されるようになっている。ワンショ
ットマルチバイブレータ32は、トリガ信号が入力され
た時、換言すれば、MO2値化信号251l中に1ビッ
トの信号“′1”が存在する時、抵抗33とコンデンサ
34とで定まる時定数T,の時間幅を有する負論理のパ
ルス信号を発し、タイマー回路35のリセット端子Rに
入力するようになっている。又、このワンショットマル
チバイブレーク32は、時間TI以内に次のトリガ信号
が入力されたときには、引き続き次のトリガ信号が入力
されてから時間T.経過するまでの間、出力信号をロー
レベルに維持するようになっている。
As shown in FIG. 7, this pulse group detection circuit 31 has a one-shot multi-vibrator 32, and the trigger input terminal T of the one-shot multi-vibrator 32 is connected to the MO
M○ is the output signal of the binarization circuit 76 (FIG. 25) that binarizes the MO signal amplified by the signal AGC amplifier 75.
Binarized signal 2511 (or data synchronization unit 25 in FIG. 2l)
The MO binary signal 2511) in the synchronized data 2513 synchronized at 04 is input. The one-shot multivibrator 32 has a time constant T determined by the resistor 33 and the capacitor 34 when a trigger signal is input, in other words, when a 1-bit signal "'1" is present in the MO binary signal 251l. A negative logic pulse signal having a time width of , is generated and is input to the reset terminal R of the timer circuit 35. Further, this one-shot multi-bye break 32 is configured such that when the next trigger signal is input within time TI, the time T. The output signal is maintained at a low level until the time elapses.

タイマー回路35は、リセット端子Rに入力される信号
がT2時間ローレベルを維持したときに、ハイレベルの
信号を出力する一方、リセット端子Rに入力される信号
がハイレベルになると、即座に出力信号をローレベルに
戻すようになっている。このタイマー回路35の出力信
号がパルス群検出信号36とされる。
The timer circuit 35 outputs a high-level signal when the signal input to the reset terminal R maintains a low level for a time T2, and immediately outputs a high-level signal when the signal input to the reset terminal R becomes high level. The signal is returned to low level. The output signal of this timer circuit 35 is used as a pulse group detection signal 36.

上記のパルス群検出回路31の動作につき説明すると、
MO部3002におけるデータの記録されていない未記
録領域が再生されている時には、例えば、第8図(a)
に示すように、MO信号用AGCアンプ75に入力され
る差動信号には、全くパルス信号が含まれていない。従
って、同図(b)の如く、MO信号用AGCアンブ75
で増幅されて出力される信号は低レベルの信号となる。
The operation of the above pulse group detection circuit 31 will be explained as follows.
When an unrecorded area in which no data is recorded in the MO section 3002 is being reproduced, for example, as shown in FIG.
As shown in FIG. 2, the differential signal input to the MO signal AGC amplifier 75 does not include any pulse signals. Therefore, as shown in the same figure (b), the AGC amplifier 75 for MO signal
The signal that is amplified and output is a low level signal.

そこで、MO信号用AGCアンブ75の出力信号が2値
化回路76によって2値化されると、2値化回路76の
出力信号であるMO2値化信号2511(同図(C))
は定常的にローレベルとなる。
Therefore, when the output signal of the MO signal AGC amplifier 75 is binarized by the binarization circuit 76, the MO binarization signal 2511 which is the output signal of the binarization circuit 76 ((C) in the same figure)
is constantly at a low level.

この時、同図(d)の如く、ワンショットマルチバイブ
レーク32の出力信号はハイレベルを維持し、タイマー
回路35の出力信号であるパルス群検出信号36はロー
レベルのままになる。
At this time, as shown in FIG. 3D, the output signal of the one-shot multi-by-break 32 remains at high level, and the pulse group detection signal 36, which is the output signal of the timer circuit 35, remains at low level.

なお、データの未記録領域において、点線で示すように
、差動信号中にディフェクトパルス4lが発生すると、
ワンショットマルチバイブレータ32の出力信号は時間
T1だけローレベルとなり、ディフエクトバルス41が
継続されると、ワンショットマルチバイブレーク32の
出力信号は引続きローレベルとなる。
In addition, when a defective pulse 4l occurs in the differential signal as shown by the dotted line in the data unrecorded area,
The output signal of the one-shot multi-vibrator 32 remains at a low level for a time T1, and when the defect pulse 41 continues, the output signal of the one-shot multi-vibrator 32 remains at a low level.

ところが、上述の如く、タイマー回路35の出力信号で
あるパルス群検出信号36はワンショットマルチバイブ
レーク32の出力信号がローレベルの状態が時間T2以
上継続した時に初めてハイレベルとなる。そして、時間
T2は、通常のディフェクトパルス4lによりワンシゴ
ットマルチバイブレータ32の出力信号がローレベルと
なる時間より充分長くなるように設定されているので、
ディフェクトパルス41によりパルス群検出信号36が
ハイレベルとされる危険性は極めて僅かである。
However, as described above, the pulse group detection signal 36, which is the output signal of the timer circuit 35, becomes high level only when the output signal of the one-shot multi-by-break 32 remains low level for a period of time T2 or more. Since the time T2 is set to be sufficiently longer than the time during which the output signal of the one-siggot multivibrator 32 becomes low level due to the normal defect pulse 4l,
There is a very small risk that the pulse group detection signal 36 will become high level due to the defective pulse 41.

次に、再生位置がMO部3002におけるデータの記録
されている記録済領域に差し掛かると、MO信号用AG
Cアンプ75には、パルス群を含んだ差動信号が入力さ
れ、MO信号用AGCアンブ75はこの差動信号を増幅
して出力する。このMO信号用AGCアンブ75の出力
信号は2値化回路76で2値化され、MOZ値化信号2
511がワンシジットマルチバイブレータ32に人力さ
れる。
Next, when the playback position approaches the recorded area where data is recorded in the MO section 3002, the AG for MO signal
A differential signal including a pulse group is input to the C amplifier 75, and the MO signal AGC amplifier 75 amplifies and outputs this differential signal. The output signal of this MO signal AGC amplifier 75 is binarized by a binarization circuit 76, and the MOZ digitized signal 2
511 is manually inputted to the one-sigid multivibrator 32.

ワンシざットマルチバイブレーク32の出力は、2値化
回路76から送られる最初のパルスが立ち上がったとき
にローレベルに切り換わる。そして、2値化回路76か
ら更に時間T1内に連続してパルスが入力されると、ワ
ンショットマルチバイフレーク32の出力は、最後に送
られるパルスが立ち上がってから時間T,が経過するま
で継続的にローレベルに維持される。
The output of the one-shit multi-by-break 32 switches to low level when the first pulse sent from the binarization circuit 76 rises. Then, when further pulses are input continuously from the binarization circuit 76 within the time T1, the output of the one-shot multi-by-flake 32 continues until the time T, elapses after the last pulse sent rises. is maintained at a low level.

そしてタイマー回路35は、ワンショットマルチバイブ
レーク32の出力がローレベルになってから、つまり、
再生信号に含まれるパルス群における最初のパルスが立
ち上がってから、T2時間経過した後にパルス群検出信
号36をハイレベルとし、ワンショットマルチバイブレ
ータ32の出力がハイレベルに戻ると同時に、パルス群
検出信号36をローレベルとする。
The timer circuit 35 operates after the output of the one-shot multi-by-break 32 becomes low level, that is,
After time T2 has elapsed since the first pulse in the pulse group included in the reproduced signal rises, the pulse group detection signal 36 is set to high level, and at the same time the output of the one-shot multivibrator 32 returns to high level, the pulse group detection signal is set to high level. 36 is set to low level.

本実施例では、上記のパルス群検出信号36及び第1実
施例で説明したパターン検出信号102等に基づいて、
MO信号用AGCアンブ75のAGC電圧をホールド又
はオンさせるためのホールドタイミング信号113が第
9図の回路で生戒される。
In this embodiment, based on the pulse group detection signal 36 and the pattern detection signal 102 described in the first embodiment,
A hold timing signal 113 for holding or turning on the AGC voltage of the MO signal AGC amplifier 75 is monitored by the circuit shown in FIG.

即ち、このホールドタイミング生戊回路42は、RSフ
リップフロップ43と、AND回路44とを備え、RS
フリップフロップ43のセット端子Sには、例えば、V
FOマークの検出によりハイレベルとされるパターン検
出信号102(第2図参照)が入力される一方、リセ・
ント端子Rには前述のAGCリセット信号98が入力さ
れるようになっている。AGCリセット信号98は、M
O信号用AGCアンプT5におけるAGC電圧のリセッ
ト時にハイレベルになる信号である。
That is, this hold timing generation circuit 42 includes an RS flip-flop 43 and an AND circuit 44, and
For example, the set terminal S of the flip-flop 43 has V
While the pattern detection signal 102 (see Fig. 2), which is set to high level upon detection of the FO mark, is input, the recess
The above-mentioned AGC reset signal 98 is input to the terminal R. The AGC reset signal 98 is M
This signal becomes high level when the AGC voltage in the O signal AGC amplifier T5 is reset.

RSフリップフロップ43の出力信号はAND回路44
の一方の入力端子に人力され、AND回路44の他方の
入力端子にはインバータ45を介してパルス群検出信号
36が入力される。そして、AND回路44の出力信号
がホールドタイミング信号113とされる。
The output signal of the RS flip-flop 43 is sent to an AND circuit 44.
The pulse group detection signal 36 is input to one input terminal of the AND circuit 44 via an inverter 45 to the other input terminal of the AND circuit 44 . The output signal of the AND circuit 44 is then used as the hold timing signal 113.

上記のホールドタイミング生戒回路42において、MO
信号用AGCアンブ75におけるAGC電圧のリセット
時には、AGCリセット信号98がハイレベルとなるの
で、RSフリップフロップ43の出力信号がローレベル
となり、又、光磁気ディスク装置の起動時にもRSフリ
ップフロップ43の出力信号はローレベルとなる。従っ
て、AGC電圧のリセット時又は光磁気ディスク装置の
起動時にはパルス群検出信号36のレベルにかかわらず
ホールドタイミング信号113はローレベルとなるので
、MO信号用AGCアンプ75におけるAGC電圧のホ
ールドは行われない。
In the hold timing control circuit 42 described above, the MO
When resetting the AGC voltage in the signal AGC amplifier 75, the AGC reset signal 98 goes high, so the output signal of the RS flip-flop 43 goes low. The output signal becomes low level. Therefore, when resetting the AGC voltage or starting up the magneto-optical disk device, the hold timing signal 113 becomes low level regardless of the level of the pulse group detection signal 36, so the AGC voltage is not held in the MO signal AGC amplifier 75. do not have.

その結果、MO信号用AGCアンプ75がディフエクト
バルス41に応答しやすいAGC電圧のリセット時又は
光磁気ディスク装置の起動時に、万一、ディフエクトバ
ルス41に応答しても、その時の極めて低い増幅度がホ
ールドされることはない. 次に、AGC電圧のリセット後又は光磁気ディスク装置
の起動後にVFOマークの検出等によりMO信号による
データが検出され、パターン検出信号102がハイレベ
ルとなると、それに応じてRSフリップフロップ43の
出力信号がハイレベルとなる。RSフリップフロソブ4
3の出力信号がハイレベルとなると、その後は、ホール
ドタイミング信号113はパルス群検出信号36に応じ
てレベルの反転が行われる。
As a result, even if the MO signal AGC amplifier 75 responds to the defect pulse 41 at the time of resetting the AGC voltage, which is likely to respond to the defect pulse 41, or at the startup of the magneto-optical disk device, the amplification at that time is extremely low. The degree is never held. Next, after resetting the AGC voltage or starting up the magneto-optical disk device, data based on the MO signal is detected by detecting a VFO mark or the like, and when the pattern detection signal 102 becomes high level, the output signal of the RS flip-flop 43 is becomes high level. RS flip flop 4
When the output signal No. 3 becomes high level, the level of the hold timing signal 113 is thereafter inverted in accordance with the pulse group detection signal 36.

即ち、パルス群が検出されるデータの記録済領域(パル
ス群検出信号36はハイレベル)ではホールドタイξン
グ信号113はローレベルとなってAGC電圧のホール
ドは行われず、一方、パルス群が検出されないデータの
未記録領域(パルス群検出信号36はローレベル)では
、ホールドタイミング信号113はハイレベルとなって
、MO信号用AGCアンプ75のAGC電圧が直前の記
録済領域の終了時における値にホールドされ、次の記録
済領域まで増幅度が一定値に保持される.なお、MO信
号用AGCアンプ75が1度MO部3002に記録され
た正規のデータに応答すると、増幅度が適正なレベルと
なるので、その後は、パルス群の検出のみに基づ<AG
C電圧のホールド又はオンの切替えを行うのみで、MO
部3002のデータをほぼ適正に再生することができる
That is, in the recorded area of data where a pulse group is detected (the pulse group detection signal 36 is at a high level), the hold timing signal 113 is at a low level and the AGC voltage is not held; In the unrecorded area of data that will not be recorded (the pulse group detection signal 36 is low level), the hold timing signal 113 becomes high level, and the AGC voltage of the MO signal AGC amplifier 75 returns to the value at the end of the immediately previous recorded area. The amplification level is held at a constant value until the next recorded area. Note that once the MO signal AGC amplifier 75 responds to the regular data recorded in the MO section 3002, the amplification level becomes an appropriate level, so from then on, the <AG
By simply holding the C voltage or switching it on, the MO
The data in section 3002 can be reproduced almost properly.

以下、第6図のフローチャートを参照しながら、第2実
施例におけるAGC電圧のホールド制御につき、今1度
説明する。
Hereinafter, the AGC voltage hold control in the second embodiment will be explained once again with reference to the flowchart of FIG.

MO信号用AGCアンプ75のリセット時(又は光磁気
ディスク装置の起動時)であれば(Sl)、AGC電圧
のホー)Lt Fは行わず(S2)、vFOマークの検
出等による再生信号状態の検出を行う (S3)。
If the MO signal AGC amplifier 75 is reset (or the magneto-optical disk device is started) (Sl), AGC voltage ho) LtF is not performed (S2), and the playback signal state is determined by detecting the vFO mark, etc. Detection is performed (S3).

そして、再生されるMO信号が記録されたデータに対応
したものであるか否かを判定し(S4)、記録されたデ
ータでなければ、S2に戻ってAGC電圧のホールドを
行わない状態を維持する。
Then, it is determined whether the reproduced MO signal corresponds to the recorded data (S4), and if it is not the recorded data, the process returns to S2 and the state where the AGC voltage is not held is maintained. do.

一方、記録されたデータであれば、それ以後はパルス群
の検出に基づ<AGC電圧のホールド又はオン(ホール
ドしない状B)の切替え制御を行う(S5)。より具体
的には、パルス群の検出に基づいて記録済領域であるか
否かを判定し(s6)、記録済領域であれば、MO信号
用AGCアンブ75のAGC電圧をオンとし、記録され
たデータの振幅に応じて増幅を行い(37)、記録済領
域でなければ、AGC電圧をホールドして直前の記録済
領域の終了時における増幅度を維持する(S8)。
On the other hand, if the data is recorded, then the AGC voltage is controlled to be held or turned on (state B where it is not held) based on the detection of the pulse group (S5). More specifically, it is determined whether the area is a recorded area based on the detection of the pulse group (s6), and if it is a recorded area, the AGC voltage of the MO signal AGC amplifier 75 is turned on and the area is not recorded. Amplification is performed according to the amplitude of the recorded data (37), and if it is not a recorded area, the AGC voltage is held to maintain the amplification degree at the end of the immediately previous recorded area (S8).

なお、以上の実施例では、各セクタ3004におけるM
O部3002のみについてVF○マーク等を利用したデ
ータの記録の有無の判定又はパルス群の検出によるデー
タの記録の有無の判定を行うようにしたが、例えば、ブ
リフォーマット部3003に対しても同様の判定を行い
、その判定結果に基づいてブリフォーマット用AGCア
ンブ65におけるAGC電圧のホールド又はオンの切替
え制御を行うようにしても良い。
Note that in the above embodiment, M in each sector 3004
Although only the O portion 3002 is configured to determine whether or not data is recorded using the VF○ mark or the like or by detecting a pulse group, the same applies to the BR format portion 3003, for example. The determination may be made, and the AGC voltage in the pre-format AGC amplifier 65 may be controlled to be held or turned on based on the determination result.

又、上記の実施例(第6図)では、1度のみ再生状態の
判定を行う例を示したが、これに限らず、複数回の判定
を行うことにより、更に、信頼性を向上させることがで
きる。
Further, in the above embodiment (FIG. 6), an example was shown in which the reproduction state is determined only once, but the reliability is not limited to this, and reliability can be further improved by performing the determination multiple times. I can do it.

又、上記の実施例では、2つの再生信号s1・S2を差
動及び加算することにより、ブリフォーマット部300
3及びMO部3002のデータを得るようにしたが、こ
のような構戒は必須ではない。
Further, in the above embodiment, by differentially adding the two reproduced signals s1 and S2, the preformat section 300
3 and MO section 3002, but such precautions are not essential.

又、上記の実施例では、光磁気ディスク120lのトラ
ック1205をそれぞれブリフォーマット部3003と
M O部3002からなる複数のセクタ3004に分割
して使用する場合について述ベたが、本発明はそれ以外
のフオーマツテイグが施された光磁気ディスク1201
に記録・再生等を行う場合にも適用できるものである。
Furthermore, in the above embodiment, a case has been described in which the track 1205 of the magneto-optical disk 120l is divided into a plurality of sectors 3004 each consisting of a preformat section 3003 and an MO section 3002, but the present invention is applicable to other sectors. Magneto-optical disk 1201 formatted with
It can also be applied when recording and reproducing data.

更に、本発明は、光磁気ディスクばかりでなく、所謂、
書替え可能型光ディスクとしての相変化型の光ディスク
もしくは一回のみ所望の記録が行える追記型の光ディス
クに記録・再生等を行う場合にも適用できるものである
Furthermore, the present invention applies not only to magneto-optical disks but also to so-called
The present invention can also be applied to recording/reproduction on a phase-change optical disc as a rewritable optical disc or a write-once optical disc on which desired recording can be performed only once.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明に係る光メモリ装置のオートゲインコントロール
装置は、以上のように、光メモリに記録・再生又は消去
を行う光メモリ装置に設けられ、再生信号の振幅に応じ
て増幅度の調整を行うオートゲインコントロール装置に
おいて、再生信号状態に基づき、再生信号が記録された
データを表すものであるか否かを判定する再生信号状態
判定手段と、再生信号状態判定手段により再生信号が記
録されたデータを表すものであると判定された時に本オ
ートゲインコントロール装置による増幅度の調整を行わ
せ、再生信号が記録されたデータを表すものではないと
判定された時には増幅度を固定させる制御手段とを備え
ている構或である.これにより、上記再生信号状態判定
手段により、現在、情報の記録済領域が再生されている
か、又は未記録領域が再生されているかの判定が行え、
かつ、情報パルス群が存在する時にそれが記録されたデ
ータであるか、ディフェクトパルスであるかの判定も行
えるようになる。従って、再生信号状態判定手段の判定
結果に基づき、データの記録済領域のみでオートゲイン
コントロール装置による増幅度の調整を行い、未記録領
域又はディフェクトパルスの発生時等には増幅度を前回
の記録済領域の終了時における値に固定することにより
、情報の記録済領域における再生を常時適正に行うこと
ができるようになる。
As described above, the auto gain control device for an optical memory device according to the present invention is provided in an optical memory device that performs recording, playback, or erasing in an optical memory, and is an auto gain control device that adjusts the degree of amplification according to the amplitude of a reproduced signal. a reproduction signal state determination means for determining whether the reproduction signal represents recorded data based on the reproduction signal state; and a reproduction signal state determination means for determining whether the reproduction signal represents the recorded data. control means that causes the automatic gain control device to adjust the amplification degree when it is determined that the reproduced signal does not represent the recorded data; and a control means that fixes the amplification degree when it is determined that the reproduced signal does not represent the recorded data. It is. Thereby, the reproduction signal state determination means can determine whether the recorded area of information is currently being reproduced or the unrecorded area is being reproduced;
Furthermore, when an information pulse group exists, it can be determined whether it is recorded data or a defective pulse. Therefore, based on the determination result of the reproduced signal condition determination means, the amplification degree is adjusted by the automatic gain control device only in the area where data has been recorded, and in the unrecorded area or when a defective pulse occurs, the amplification degree is adjusted from the previous recording. By fixing the value to the value at the end of the recorded area, it becomes possible to always properly reproduce information in the recorded area.

なお、再生信号状態判定手段によるデータの記録済領域
の判定には、例えば、光メモリの再生の同期を行うため
に光メモリにデータとともに一定のパターン(VFOマ
ーク等)を記録する場合はこのパターンを検出すること
により行ったり、又はデータが一定の変調規則に従って
変調されたものであれば、再生信号中に含まれるデータ
が上記変調規則に適合しているか否かを検出することに
より正規のデータであるか否かを判定したり、又はデー
タにエラー検出符号が付加される場合はこのエラー検出
符号を検出することによりデータが記録された部位を検
出する等の方法を用いれば良い。
Note that the reproduced signal state determining means determines the area where data has been recorded, for example, when a certain pattern (such as a VFO mark) is recorded together with data in the optical memory in order to synchronize the reproduction of the optical memory, this pattern is detected. Or, if the data is modulated according to a certain modulation rule, it can be determined whether the data contained in the reproduced signal conforms to the above modulation rule or not. A method may be used to determine whether or not the data is recorded, or to detect the location where the data is recorded by detecting the error detection code if an error detection code is added to the data.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図乃至第5図は本発明の第1実施例を示すものであ
る。 第1図はMO信号用AGCアンプにおけるAGC電圧の
ホールド制御の手順を示すフローチャートである。 第2図は再生信号状態判定回路の内部構或を示す説明図
である。 第3図はMO信号用AGCアンプを示す回路図である。 第4図は応答速度制御兼リセット回路を示す説明図であ
る。 第5図はパターン検出信号の波形を示す説明図である。 第6図乃至第9図は本発明の第2実施例を示すものであ
る。 第6図はMO信号用AGCアンプにおけるAGC電圧の
ホールド制御の手順を示すフローチャートである。 第7図はパルス群検出回路を示す説明図である。 第8図はパルス群検出回路における各部の波形を示す説
明図である。 第9図はホールドタイミング生戒回路を示す回路図であ
る。 第10図乃至第33図は第1及び第2実施例に共通の構
或を示す図面である。 第10図は光磁気ディスク装置の全体構或を示す説明図
である。 第11図は記録回路を示すブロック図である。 第12図は再生トー11路を示すブロック図である。 第13図はコントローラの要部を示すプロック図である
。 第14図は半導体レーザ駆動回路を示すブロック図であ
る. 第15図は高周波重畳スイッチ信号等の記録時における
切替えタイミングを示す説明図である。 第16図は高周波重畳スイッチ信号等の再生時における
切替えタイミングを示す説明図である。 第17図はタイミング発生回路を示すブロック図である
。 第18図はセクタマーク検出回路の構或を示すブロック
図である。 第19図はセクタマークの検出手順を示す説明図である
。 第20図はタイミング発生回路における各部の波形を示
す説明図である。 第21図は信号処理回路の構威を示すブロック図である
。 第22図は信号処理回路における各部の波形を示す説明
図である。 第23図はマーク及び非マークと再生信号の関係等を示
す説明図である。 第24図はブリフォーマット波形処理部の構戒を示すブ
ロック図である。 第25図はMO波形処理部の構或を示すブロック図であ
る。 第26図(a)(b)は記録光量とマークの大きさとの
関係を示す説明図である。 第27図(a)(b)は記録パルス長とマークの大きさ
との関係を示す説明図である。 第28図(a)(b)はマークの大きさと再生信号の振
幅との関係を示す説明図である。 第29図はテストライトの手順を示す説明図である。 第30図はコントローラの要部を示すブロック図である
。 第31図は差動信号のビークビーク値とAGC電圧との
関係を示すグラフである。 第32図はAGC電圧と増幅度との関係を示すグラフで
ある。 第33図は変調回路の構或を示すブロック図である。 第34図乃至第43図は従来例を示すものである。 第34図は光磁気ディスク装置における記録動作を示す
説明図である。 第35図は光磁気ディスク装置における再生動作を示す
説明図である。 第36図は光磁気ディスクの概略平面図である.第37
図は第36図の要部拡大図である。 第38図は再生処理系を示す説明図である。 第39図はMO部における2つの再生信号の極性の関係
を示す説明図である。 第40図はプリフォーマット部における2つの再生信号
の極性の関係を示す説明図である。 第41図はAGCアンプ示す回路図である。 第42図及び第43図はそれぞれVCAの入力信号と出
力信号との関係を示す説明図である。 75はMO信号用AGCアンプ(オートゲインコントロ
ール装置)、93はホールド回路(制御手段)、105
は再生信号状態判定回路(再生信号状態判定手段)、1
201は光磁気ディスク(光メモリ)である。
1 to 5 show a first embodiment of the present invention. FIG. 1 is a flowchart showing the procedure for holding control of the AGC voltage in the MO signal AGC amplifier. FIG. 2 is an explanatory diagram showing the internal structure of the reproduced signal state determination circuit. FIG. 3 is a circuit diagram showing an AGC amplifier for MO signals. FIG. 4 is an explanatory diagram showing the response speed control and reset circuit. FIG. 5 is an explanatory diagram showing the waveform of the pattern detection signal. 6 to 9 show a second embodiment of the present invention. FIG. 6 is a flowchart showing the procedure for holding control of the AGC voltage in the MO signal AGC amplifier. FIG. 7 is an explanatory diagram showing the pulse group detection circuit. FIG. 8 is an explanatory diagram showing waveforms of various parts in the pulse group detection circuit. FIG. 9 is a circuit diagram showing a hold timing control circuit. FIG. 10 to FIG. 33 are drawings showing a structure common to the first and second embodiments. FIG. 10 is an explanatory diagram showing the overall structure of the magneto-optical disk device. FIG. 11 is a block diagram showing the recording circuit. FIG. 12 is a block diagram showing 11 paths of regeneration. FIG. 13 is a block diagram showing the main parts of the controller. Figure 14 is a block diagram showing the semiconductor laser drive circuit. FIG. 15 is an explanatory diagram showing switching timing during recording of a high frequency superimposed switch signal, etc. FIG. 16 is an explanatory diagram showing switching timing during reproduction of a high frequency superimposed switch signal, etc. FIG. 17 is a block diagram showing the timing generation circuit. FIG. 18 is a block diagram showing the structure of a sector mark detection circuit. FIG. 19 is an explanatory diagram showing the sector mark detection procedure. FIG. 20 is an explanatory diagram showing waveforms of various parts in the timing generation circuit. FIG. 21 is a block diagram showing the structure of the signal processing circuit. FIG. 22 is an explanatory diagram showing waveforms of each part in the signal processing circuit. FIG. 23 is an explanatory diagram showing the relationship between marks, non-marks, and reproduced signals. FIG. 24 is a block diagram illustrating the structure of the BR format waveform processing section. FIG. 25 is a block diagram showing the structure of the MO waveform processing section. FIGS. 26(a) and 26(b) are explanatory diagrams showing the relationship between the recording light amount and the mark size. FIGS. 27(a) and 27(b) are explanatory diagrams showing the relationship between recording pulse length and mark size. FIGS. 28(a) and 28(b) are explanatory diagrams showing the relationship between the size of a mark and the amplitude of a reproduced signal. FIG. 29 is an explanatory diagram showing the test write procedure. FIG. 30 is a block diagram showing the main parts of the controller. FIG. 31 is a graph showing the relationship between the peak-to-peak value of the differential signal and the AGC voltage. FIG. 32 is a graph showing the relationship between AGC voltage and amplification degree. FIG. 33 is a block diagram showing the structure of the modulation circuit. 34 to 43 show conventional examples. FIG. 34 is an explanatory diagram showing the recording operation in the magneto-optical disk device. FIG. 35 is an explanatory diagram showing the reproducing operation in the magneto-optical disk device. Figure 36 is a schematic plan view of the magneto-optical disk. 37th
The figure is an enlarged view of the main part of FIG. 36. FIG. 38 is an explanatory diagram showing the reproduction processing system. FIG. 39 is an explanatory diagram showing the relationship between the polarities of two reproduced signals in the MO section. FIG. 40 is an explanatory diagram showing the relationship between the polarities of two reproduced signals in the preformat section. FIG. 41 is a circuit diagram showing the AGC amplifier. FIG. 42 and FIG. 43 are explanatory diagrams showing the relationship between the input signal and output signal of the VCA, respectively. 75 is an AGC amplifier for MO signal (auto gain control device), 93 is a hold circuit (control means), 105
is a reproduction signal state determination circuit (reproduction signal state determination means), 1
201 is a magneto-optical disk (optical memory).

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、光メモリに記録・再生又は消去を行う光メモリ装置
に設けられ、再生信号の振幅に応じて増幅度の調整を行
うオートゲインコントロール装置において、 再生信号状態に基づき、再生信号が記録されたデータを
表すものであるか否かを判定する再生信号状態判定手段
と、再生信号状態判定手段により再生信号が記録された
データを表すものであると判定された時に本オートゲイ
ンコントロール装置による増幅度の調整を行わせ、再生
信号が記録されたデータを表すものではないと判定され
た時には増幅度を固定させる制御手段とを備えているこ
とを特徴とする光メモリ装置のオートゲインコントロー
ル装置。
[Claims] 1. In an automatic gain control device that is installed in an optical memory device that performs recording, playback, or erasing in an optical memory and adjusts the degree of amplification according to the amplitude of a playback signal, the playback signal is adjusted based on the playback signal state. a reproduced signal state determining means for determining whether or not the reproduced signal represents recorded data; and an automatic gain control function when the reproduced signal state determining means determines that the reproduced signal represents recorded data. An automatic gain control for an optical memory device, comprising a control means for causing the device to adjust the amplification degree and fixing the amplification degree when it is determined that the reproduced signal does not represent recorded data. Device.
JP23901389A 1989-09-12 1989-09-14 Automatic gain controller for optical memory device Pending JPH03102641A (en)

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US07/581,218 US5361247A (en) 1989-09-12 1990-09-11 Information recording and reproducing device with reproduction and automatic gain control circuit
DE69029115T DE69029115T2 (en) 1989-09-12 1990-09-12 Information recording and reproducing apparatus
CA002025121A CA2025121C (en) 1989-09-12 1990-09-12 Information recording and reproducing device
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