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JP2589824B2 - Automatic gain control device for optical memory device - Google Patents

Automatic gain control device for optical memory device

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Publication number
JP2589824B2
JP2589824B2 JP1239012A JP23901289A JP2589824B2 JP 2589824 B2 JP2589824 B2 JP 2589824B2 JP 1239012 A JP1239012 A JP 1239012A JP 23901289 A JP23901289 A JP 23901289A JP 2589824 B2 JP2589824 B2 JP 2589824B2
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JP
Japan
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signal
recording
circuit
reproduction
agc
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寛 藤
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Sharp Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光メモリに記録、消去又は再生を行う光メ
モリ装置に設けられ、再生信号の振幅に応じてゲインを
調整するオートゲインコントロール装置に関するもので
ある。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic gain control device provided in an optical memory device for recording, erasing or reproducing data in an optical memory and adjusting a gain according to the amplitude of a reproduced signal. It is.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の光メモリ装置について、以下、光磁気ディスク
に記録、消去及び再生を行う光磁気メモリ装置を例に挙
げて説明する。
A conventional optical memory device will be described below with reference to a magneto-optical memory device that performs recording, erasing, and reproducing on a magneto-optical disk.

第33図(a)に示すように、光磁気ディスクは、ディ
スク基板2804上に記録磁性膜2805が成膜されて形成され
ている。記録磁性膜2805は、磁化容易軸がその膜面に垂
直な方向になるように成膜されており、記録磁性膜2805
内に矢印で示す磁化の向きが予め一定の向き(例えば、
同図中の磁化の向きA)となるようにイニシャライズさ
れている。
As shown in FIG. 33 (a), the magneto-optical disk is formed by forming a recording magnetic film 2805 on a disk substrate 2804. The recording magnetic film 2805 is formed so that the axis of easy magnetization is perpendicular to the film surface.
The direction of the magnetization indicated by the arrow in a predetermined direction (for example,
It is initialized so as to have the magnetization direction A) in FIG.

記録に際しては、半導体レーザ2801から出射されたレ
ーザビーム2803は対物レンズ2802で1μm程度の径に集
光され、記録磁性膜2805に照射される。その際、記録す
べき情報に対応する記録信号2807(同図(b)参照)に
基づいてレーザビーム2803の光強度の強弱が制御され
る。光強度の強いレーザビーム2803が照射された部位の
温度は局所的に上昇してキュリー温度を超え、その部分
の保磁力が著しく低下する。その結果、保磁力の低下し
た部位の磁化の向きは、レーザビーム2803の照射と同時
に印加される外部印加磁場2806と同一の向き(同図中の
磁化の向きB)に反転する。このようにして、記録信号
2807に対応した情報が記録磁性膜2805に記録される。以
下、上記のようにして向きBの磁化が記録された部位を
マーク2809、そうでない向きAの磁化が記録された部位
を非マーク2810と称する。
At the time of recording, a laser beam 2803 emitted from a semiconductor laser 2801 is condensed by an objective lens 2802 to a diameter of about 1 μm, and irradiates a recording magnetic film 2805. At this time, the intensity of the laser beam 2803 is controlled based on a recording signal 2807 (see FIG. 13B) corresponding to information to be recorded. The temperature of the part irradiated with the laser beam 2803 having high light intensity locally rises and exceeds the Curie temperature, and the coercive force of that part is significantly reduced. As a result, the direction of the magnetization at the portion where the coercive force is reduced is reversed to the same direction as the externally applied magnetic field 2806 applied simultaneously with the irradiation of the laser beam 2803 (the direction B of the magnetization in the figure). In this way, the recording signal
Information corresponding to 2807 is recorded on the recording magnetic film 2805. Hereinafter, a portion where the magnetization in the direction B is recorded as described above is referred to as a mark 2809, and a portion where the magnetization in the direction A is not recorded is referred to as a non-mark 2810.

記録磁性膜2805に記録された情報の消去は、外部印加
磁場2806の向きを記録時と逆にして記録時と同様の方法
で行い、磁化の向きを元のイニシャライズ時の向き(即
ち、同図中の磁化の向きA)に戻すことにより実行され
る。この結果、消去された部分は非マーク2810となる。
Erasing of information recorded on the recording magnetic film 2805 is performed in the same manner as in recording by reversing the direction of the externally applied magnetic field 2806 from the direction of recording, and the direction of magnetization is changed to the original initialization direction (that is, FIG. It is executed by returning to the magnetization direction A) in the middle. As a result, the erased portion becomes a non-mark 2810.

なお、本例ではレーザビーム2803を記録信号2807に応
じて変調し、一定の強さの外部印加磁場2806を印加して
記録する光変調方式を示したが、それ以外に、レーザビ
ーム2803の強さを一定にし、外部印加磁場2806の向きを
記録信号2807に応じて変調して記録する磁界変調方式で
記録しても良い。
In this example, an optical modulation method in which the laser beam 2803 is modulated according to the recording signal 2807 and recording is performed by applying an externally applied magnetic field 2806 having a constant intensity has been described. Alternatively, recording may be performed by a magnetic field modulation method in which recording is performed by modulating the direction of the externally applied magnetic field 2806 in accordance with the recording signal 2807 while keeping the constant.

上記ディスク基板2804にはガラス、又はプラスチック
等からなり、第33図(a)に示すように、トラックやセ
クタの番地を示すアドレス情報が、予め物理的な凹凸28
08として刻み込まれて形成されている。
The disk substrate 2804 is made of glass, plastic, or the like. As shown in FIG. 33 (a), address information indicating the address of a track or a sector has physical unevenness 28 in advance.
It is formed by engraving as 08.

上記のアドレス情報は予め一定のフォーマットで刻み
込まれているので、それ以後は記録・消去の各動作はで
きないものである。予め物理的な凹凸2808として刻み込
まれた部分を以後プリフォーマット部3003と称する。こ
れに対して情報の記録・消去の各動作はプリフォーマッ
ト部3003以外の部分で行われるが、この部分をMO(光磁
気)部3002と称する。
Since the above address information is previously engraved in a fixed format, after that, recording and erasing operations cannot be performed. The portion engraved in advance as the physical unevenness 2808 is hereinafter referred to as a preformat unit 3003. On the other hand, each operation of recording and erasing of information is performed in a part other than the preformat unit 3003, and this part is referred to as an MO (magneto-optical) unit 3002.

通常、プリフォーマット部3003及びMO部3002は、第35
図に示すように、渦巻状又は同心円状のトラック3005上
に交互に配置されている。そして、プリフォーマット部
3003とMO部3002とが一対で一つのセクタ3004を構成して
いる。光磁気ディスク3001はトラック3005上に、それぞ
れアドレス(番地)情報が付与された多数のセクタ3004
を含む構成であり、情報の記録・再生・消去の各動作
は、セクタ3004単位毎に行われるようになっている。
Normally, the preformat unit 3003 and the MO unit 3002
As shown in the figure, they are alternately arranged on spiral or concentric tracks 3005. And the pre-format section
The 3003 and the MO unit 3002 constitute one sector 3004 as a pair. The magneto-optical disk 3001 has a large number of sectors 3004 each having address (address) information on a track 3005.
Each operation of recording, reproducing, and erasing information is performed for each sector 3004 unit.

又、第36図に示すように、上記トラック3005上のプリ
フォーマット部3003においては、第33図の凹凸2808の凹
部又は凸部のいずれかがマーク2811を構成するととも
に、凹部又は凸部の他方が非マーク2812を構成する。更
に、前記の如く、MO部3002にはMO(光磁気)信号による
マーク2809とその間の非マーク2910が記録されることに
なる。
In addition, as shown in FIG. 36, in the preformat portion 3003 on the track 3005, either the concave portion or the convex portion of the unevenness 2808 in FIG. 33 constitutes the mark 2811 and the other of the concave portion or the convex portion Constitute the non-mark 2812. Further, as described above, the mark 2809 by the MO (magneto-optical) signal and the non-mark 2910 therebetween are recorded in the MO section 3002.

次に、光磁気ディスク3001の再生時には、第34図
(a)に示すように、半導体レーザ2801から出射され、
対物レンズ2802で1μm程度の径に集光されたレーザビ
ーム2803は、記録磁性膜2805に照射される。但し、レー
ザビーム2803は直線偏光とされており、かつ、レーザビ
ーム2803の光強度は記録・消去の各動作時よりも弱くし
てある。直線偏光とされたレーザビーム2803の光磁気デ
ィスク3001からの反射光は、記録磁性膜2805を通過又は
反射する際にファラデー効果又はカー効果によってその
偏光面が回転する。この回転方向は、マーク2809と非マ
ーク2810とでは、互いに逆方向に回転する。この偏光方
向の違いを検出することにより再生を行う。これによ
り、例えば、同図(b)(c)に示すような2種類の再
生信号S1・S2が生成される。
Next, at the time of reproduction of the magneto-optical disk 3001, the light is emitted from the semiconductor laser 2801 as shown in FIG.
The laser beam 2803 condensed by the objective lens 2802 to a diameter of about 1 μm is irradiated on the recording magnetic film 2805. However, the laser beam 2803 is linearly polarized, and the light intensity of the laser beam 2803 is weaker than in each of the recording and erasing operations. The reflected light of the linearly polarized laser beam 2803 from the magneto-optical disk 3001 rotates its polarization plane due to the Faraday effect or the Kerr effect when passing or reflecting through the recording magnetic film 2805. The rotation direction of the mark 2809 and the rotation of the non-mark 2810 are opposite to each other. Reproduction is performed by detecting the difference in the polarization direction. As a result, for example, two types of reproduced signals S1 and S2 as shown in FIGS.

次に、上記の再生信号S1・S2を得るための再生光学系
につき簡単に説明すると、第37図に示すように、光磁気
ディスク3001からの反射光3201はPBS(検光子)3202に
入射され、2つの検波光3210・3211がそれぞれの偏光方
向毎に2つの光検出器3203・3204に導かれる。そして、
光検出器3203・3204においてそれぞれ光強度に応じて変
化する電気信号に変換され、再生信号S1・S2として出力
される。
Next, the reproduction optical system for obtaining the reproduction signals S1 and S2 will be briefly described. As shown in FIG. 37, the reflected light 3201 from the magneto-optical disk 3001 is incident on a PBS (analyzer) 3202. The two detection lights 3210 and 3211 are guided to two photodetectors 3203 and 3204 for each polarization direction. And
The light detectors 3203 and 3204 convert the electric signals into electric signals that change according to the light intensity, and output the electric signals as reproduction signals S1 and S2.

後に詳述するように、上記の再生信号S1・S2を加算及
び差動することにより、プリフォーマット部3003とMO部
3002の信号を分離して得ることができ、更に、MO部3002
の信号からマーク2809と非マーク2810とを分離して読み
出せるので、記録磁性膜2805に記録された情報の再生を
行うことができる。
As will be described in detail later, the pre-format unit 3003 and the MO unit
3002 signals can be separated and obtained.
Since the mark 2809 and the non-mark 2810 can be read separately from the signal, the information recorded on the recording magnetic film 2805 can be reproduced.

第38図(a)に示すように、MO部3002における非マー
ク2810(磁化の向きA)からの反射光ベクトルをα、マ
ーク2809(磁化の向きB)からの反射光ベクトルをβと
すると、αとβとは互いに偏光面の回転角分だけ逆方向
に回転した反射光ベクトルである。反射光ベクトルα、
βは、検光子(PBS)3202における2つの偏光方向X、
Yへそれぞれ検波される。この2つの偏光方向X、Yは
互いに直角な関係にある。反射光ベクトルα、βを偏光
方向X、Yにそれぞれ投影した検波光ベクトルα、β
の大きさが再生信号S1及び再生信号S2に対応してい
る。さらに検波光ベクトルα、βは、第37図の検波
光3210・3211にそれぞれ対応している。
As shown in FIG. 38 (a), when the reflected light vector from the non-mark 2810 (magnetization direction A) in the MO unit 3002 is α, and the reflected light vector from the mark 2809 (magnetization direction B) is β, α and β are reflected light vectors rotated in opposite directions by the rotation angle of the polarization plane. Reflected light vector α,
β is the two polarization directions X in the analyzer (PBS) 3202,
Each is detected to Y. The two polarization directions X and Y are perpendicular to each other. Detected light vectors α X , β by projecting the reflected light vectors α, β in the polarization directions X, Y, respectively
The magnitude of Y corresponds to the reproduction signal S1 and the reproduction signal S2. Further, the detection light vectors α X and β Y correspond to the detection lights 3210 and 3211 in FIG. 37, respectively.

第38図(a)から明らかなように、再生信号S1は非マ
ーク2810に対してハイレベル、マーク2809に対してはロ
ーレベルが対応している。一方、再生信号S2は非マーク
2810に対してローレベル、マーク2809に対してはハイレ
ベルが対応しており、再生信号S1とは逆極性となってい
る。そして、再生信号S1・S2は、S/N比を向上させるた
めに差動増幅器に入力され、差動増幅されて情報の再生
が行われるようになっている。
As is clear from FIG. 38 (a), the reproduction signal S1 has a high level corresponding to the non-mark 2810 and a low level corresponding to the mark 2809. On the other hand, the reproduction signal S2 is non-mark
The low level corresponds to 2810, the high level corresponds to the mark 2809, and has a polarity opposite to that of the reproduced signal S1. Then, the reproduction signals S1 and S2 are input to a differential amplifier in order to improve the S / N ratio, and are differentially amplified to reproduce information.

次に、第38図(b)に基づいてプリフォーマット部30
03から再生される再生信号S1・S2につき述べる。プリフ
ォーマット部3003は記録・消去の各動作が行われないの
で、磁化の向きはAのみである。プリフォーマット部30
03では、凹凸2808からなるマーク2811及び非マーク2812
の形状によりレーザビームの回折が生じる。従って、第
38図(b)に示すように、反射光ベクトルは凹凸2808に
応じてそれぞれ長い反射光ベクトルα(非マーク2812の
再生に対応)、及び短い反射光ベクトルγ(マーク2811
の再生に対応)となる。
Next, based on FIG.
The reproduced signals S1 and S2 reproduced from 03 will be described. Since the recording / erasing operations are not performed in the preformat unit 3003, the magnetization direction is only A. Preformat section 30
In 03, marks 2811 and non-marks 2812 consisting of irregularities 2808
Causes diffraction of the laser beam. Therefore,
As shown in FIG. 38 (b), the reflected light vector has a long reflected light vector α (corresponding to reproduction of non-mark 2812) and a short reflected light vector γ (mark 2811
Corresponding to playback).

これを検光子(PBS)3202の偏光方向X、Yに投影す
ると検光子ベクトルα、γがそれぞれ得られる。検
光子ベクトルα、γの大きさが再生信号S1・S2に対
応している。再生信号S1及びS2はともに、凹凸2808によ
る非マーク2812に対してハイレベル、マーク2811に対し
てローレベルに対応している。従って、この再生信号S1
・S2は第38図(a)に示した光磁気記録のマーク2809、
非マーク2810の場合とは異なり、極性が同じものとな
る。
When this is projected on the polarization directions X and Y of an analyzer (PBS) 3202, analyzer vectors α X and γ Y are obtained, respectively. The magnitudes of the analyzer vectors α X and γ Y correspond to the reproduced signals S1 and S2. Both the reproduction signals S1 and S2 correspond to the high level for the non-mark 2812 due to the unevenness 2808 and the low level for the mark 2811. Therefore, the reproduction signal S1
S2 is the mark 2809 of magneto-optical recording shown in FIG.
Unlike the case of the non-mark 2810, the polarity is the same.

即ち、第34図(b)(c)に示すように、再生信号S1
・S2はプリフォーマット部3003において極性が同じであ
り、MO部3002においては互いに極性が反転した信号にな
る。従って、再生信号S1・S2を加算すれば、プリフォー
マット部3003の信号のみが得られ、再生信号S1・S2を差
動することによりMO部3002の信号のみを得ることがで
き、このようにして、S/N比の向上を図ることができ
る。
That is, as shown in FIGS. 34 (b) and (c), the reproduced signal S1
S2 has the same polarity in the preformat unit 3003, and is a signal whose polarity is inverted in the MO unit 3002. Therefore, if the reproduction signals S1 and S2 are added, only the signal of the preformat unit 3003 can be obtained, and only the signal of the MO unit 3002 can be obtained by differentially reproducing the reproduction signals S1 and S2. And the S / N ratio can be improved.

上記の2種類の再生信号S1・S2による差動信号又は加
算信号はオートゲインコントコールアンプ(以下、AGC
アンプと呼ぶ)にて、増幅後の振幅がほぼ一定となるよ
うに増幅度の調整を行いながら増幅することが考えられ
る。上記のAGCアンプは、例えば、電圧制御アンプと、
この電圧制御アンプの出力信号の振幅がほぼ所定レベル
となるように電圧制御アンプの増幅度を調整するための
制御電圧(以下、AGC電圧と呼ぶ)を発生するAGC電圧発
生部とにより構成できる。
A differential signal or an addition signal based on the two types of reproduced signals S1 and S2 is an auto gain control amplifier (hereinafter, AGC).
It is conceivable to perform amplification while adjusting the degree of amplification so that the amplitude after amplification is substantially constant. The AGC amplifier is, for example, a voltage control amplifier,
An AGC voltage generator for generating a control voltage (hereinafter, referred to as an AGC voltage) for adjusting the amplification of the voltage control amplifier so that the amplitude of the output signal of the voltage control amplifier becomes substantially a predetermined level can be provided.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

ところが、上記のような光磁気メモリ装置において
は、記録又は消去動作の直後にAGCアンプの増幅度が過
度に小さくなって再生が適正に行えない場合がある。
However, in the above-described magneto-optical memory device, immediately after the recording or erasing operation, the amplification of the AGC amplifier becomes excessively small, and the reproduction may not be performed properly.

即ち、第46図において、同図(a)にAで示すセクタ
3004ではプリフォーマット部3003の再生を行うとともに
MO部3002に記録を行い、Bで示すセクタ3004では再生を
行い、Cで示すセクタ3004ではプリフォーマット部3003
の再生とMO部3002に記録されている情報の消去を行うも
のとする。
That is, in FIG. 46, the sector indicated by A in FIG.
In 3004, while playing the preformat section 3003
Recording is performed on the MO unit 3002, reproduction is performed on the sector 3004 indicated by B, and pre-formatting unit 3003 is performed on the sector 3004 indicated by C.
And the information recorded in the MO unit 3002 is deleted.

その場合、Aのセクタ3004では、半導体レーザ2801
(第33図)の光量が上述した記録光量に相当する高いレ
ベルまで上昇するので、第46図(b)に示すように、MO
部3002での再生信号S1・S2(ここでは、記録のためのレ
ーザビーム2803(第27図)が光磁気ディスク3001で反射
された反射光に基づく信号)の振幅が極めて大きくな
る。その結果、同図(d)に示すように、AGC電圧が上
昇し始め、それに伴って、電圧制御アンプの増幅度は低
下し始めるので、同図(c)の如く、電圧制御アンプの
出力信号レベルは次第に低下する。
In that case, in the sector 3004 of A, the semiconductor laser 2801
Since the light quantity in FIG. 33 rises to a high level corresponding to the above-mentioned recording light quantity, as shown in FIG.
The amplitude of the reproduction signals S1 and S2 (here, the signal based on the reflected light of the laser beam 2803 for recording (FIG. 27) reflected by the magneto-optical disk 3001) in the unit 3002 becomes extremely large. As a result, as shown in FIG. 3D, the AGC voltage starts to increase, and accordingly, the amplification degree of the voltage control amplifier starts to decrease. As shown in FIG. Levels gradually decrease.

ところが、その後、B、更にはCで示すセクタ3004に
差し掛かってB・Cのセクタ3004のプリフォーマット部
3002の再生を行う際に、電圧制御アンプの増幅度は低下
したままであるので、B1又はC1で示すように電圧制御ア
ンプで増幅された後のプリフォーマット部3002の再生信
号の振幅が極めて小さくなり、再生エラーが生じる恐れ
がある。
However, after that, it comes to the sector 3004 indicated by B and further to C, and the preformat portion of the sector 3004 of BC
When performing 3002 regeneration, since the amplification degree of the voltage controlled amplifier remains decreased, the amplitude of the reproduced signal of the pre-format section 3002 after being amplified by a voltage controlled amplifier, as shown by B 1 or C 1 is It becomes extremely small and a reproduction error may occur.

同様にCで示すセクタ3004で消去を行う際にも、再生
時に比して半導体レーザ2801の光量が大きくなるので、
同図(b)に示すように、再生信号S1・S2(ここでは消
去用のレーザビーム2803が光磁気ディスク3001で反射さ
れた反射光に基づく信号)の振幅が大きくなり、その結
果、電圧制御アンプの増幅度が低下するので、Dで示す
セクタ3004のプリフォーマット部3002の再生時(D1部参
照)にやはり電圧制御アンプの出力信号レベルが低下
し、正確な再生が行えなくなる。
Similarly, when erasing data in the sector 3004 indicated by C, the light amount of the semiconductor laser 2801 becomes larger than that during reproduction.
As shown in FIG. 13B, the amplitude of the reproduced signals S1 and S2 (here, the signal based on the reflected light of the erasing laser beam 2803 reflected by the magneto-optical disk 3001) increases, and as a result, the voltage control since the amplification degree of the amplifier is lowered, reduces the output signal level of the still voltage controlled amplifier during reproduction of the preformat portion 3002 of the sector 3004 shown by D (see part D), it can not be performed accurately reproduced.

又、光磁気メモリ装置において、アクセス時には、以
上のように、第47図に示すように、レーザビーム2803が
ディスク基板2804に設けられた案内溝の形態で設けられ
たトラック3005又はプリフォーマット部3003における凹
凸2808を横切りながら矢印P又はQで示すディスク基板
2804の半径方向に移動するものである。その結果、トラ
ック3005又は凹凸2808の部位のその他の部位とで反射光
量が異なるので、第48図中A部に示すような再生信号S1
又はS2が得られる。それに対し、情報の再生時の再生信
号S1又はS2は同図中B部に示すようになる。
In the magneto-optical memory device, at the time of access, as described above, as shown in FIG. 47, a laser beam 2803 is provided with a track 3005 or a preformat unit 3003 provided in the form of a guide groove provided in a disk substrate 2804. Disk substrate indicated by arrow P or Q while traversing unevenness 2808 in
It moves in the radial direction of 2804. As a result, the amount of reflected light differs between the track 3005 and other portions of the portion of the unevenness 2808, so that the reproduction signal S1 shown in the portion A in FIG.
Or S2 is obtained. On the other hand, the reproduction signal S1 or S2 at the time of reproducing the information is as shown in the B section in FIG.

このように、アクセス時には再生信号S1又はS2の振幅
が情報の再生時より大きくなったり、小さくなったりす
る。これは案内溝の深さ及び幅によって変化する。従っ
て、それだけAGCアンプの増幅度が低下したり、増加し
たりする。その結果、アクセス直後の情報の再生に際し
ても再生エラーが生じる恐れがある。なお、アクセス速
度が比較的低い場合は、再生信号S1又はS2の処理系にハ
イパスフィルタを備えることにより、第48図のA部に示
すようなトラック3005又は凹凸2808に起因する振動成分
を除去することができるので、アクセス直後の再生エラ
ーは生じにくくなるが、通常、アクセスはできるだけ高
速化するのが好ましいので、アクセス直後のAGCアンプ
の増幅度の低下又は増加に起因する再生エラーは回避し
にくいものである。
Thus, at the time of access, the amplitude of the reproduction signal S1 or S2 becomes larger or smaller than at the time of reproducing information. This depends on the depth and width of the guide groove. Therefore, the amplification degree of the AGC amplifier decreases or increases accordingly. As a result, a reproduction error may occur when reproducing information immediately after access. When the access speed is relatively low, a high-pass filter is provided in the processing system of the reproduced signal S1 or S2 to remove a vibration component caused by the track 3005 or the unevenness 2808 as shown in the part A of FIG. Therefore, a reproduction error immediately after access is less likely to occur, but it is usually preferable to make the access as fast as possible, so that a reproduction error due to a decrease or increase in the amplification degree of the AGC amplifier immediately after access is difficult to avoid. Things.

上記したような記録・消去又はアクセス直後の再生エ
ラーは、入力信号の振幅の変化に対するAGCアンプの応
答速度を上昇させることにより減少させることができ
る。又、上述の如くのテストライトに際しては、セクタ
単位でのMO信号(第42図(c))の振幅の変化にAGC電
圧(同図(d))を追従させる必要があるので、テスト
ライトを有意義に実施するにはAGCアンプの応答速度を
極力上昇させる必要がある。
The above-described reproduction error immediately after recording / erasing or access can be reduced by increasing the response speed of the AGC amplifier to a change in the amplitude of the input signal. In the test write as described above, it is necessary to make the AGC voltage ((d)) follow the change in the amplitude of the MO signal (FIG. 42 (c)) in sector units. It is necessary to increase the response speed of the AGC amplifier as much as possible in order to implement it effectively.

ところが、AGCアンプの応答速度を上昇させた場合
は、例えば、光磁気ディスク3001上の損傷部位又は塵埃
等に起因してディフェクトパルスが発生した時に、AGC
アンプが直ちにディフェクトパルスに応答して増幅度が
低下するため、やはり再生エラーが生じやすくなる。な
お、AGCアンプの応答速度が元々低めに設定されている
のは、上記のようなディフェクトパルスに起因する再生
エラーを減少させるためである。
However, when the response speed of the AGC amplifier is increased, for example, when a defect pulse occurs due to a damaged portion or dust on the magneto-optical disk 3001, the AGC amplifier
Since the amplification is immediately reduced by the amplifier in response to the defect pulse, a reproduction error is also likely to occur. The reason why the response speed of the AGC amplifier is originally set lower is to reduce the reproduction error caused by the defect pulse as described above.

以上のように、AGCアンプの応答速度を低めに設定し
た場合も高めに設定した場合も、それぞれ異なる理由に
より再生エラーが発生しやすくなる。基本的にはディフ
ェクトパルスによる影響を軽減するためにAGCアンプの
応答速度は低めに設定するのが好ましいが、その場合、
AGCアンプの応答遅れによる再生エラーが避けられなく
なるものである。
As described above, when the response speed of the AGC amplifier is set to be lower or higher, a reproduction error is likely to occur for different reasons. Basically, it is preferable to set the response speed of the AGC amplifier low to reduce the influence of the defect pulse.
A reproduction error due to a response delay of the AGC amplifier cannot be avoided.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明の第1の態様に係る光メモリ装置のオートゲイ
ンコントロール装置は、上記の課題を解決するために、
光メモリに記録、消去又は再生を行う光メモリ装置に設
けられ、再生信号の振幅に応じて発生される制御電圧に
基づき、増幅度を調整するようにした光メモリ装置のオ
ートゲインコントロール装置において、記録又は消去時
に上記制御電圧をホールドする第1制御手段と、再生時
に情報の記録済領域を判定する記録済領域判定手段と、
この記録済領域判定手段の判定に基づき、情報の未記録
領域で上記制御電圧をホールドする第2制御手段とを備
え、上記第1制御手段は、上記第2制御手段に対し優先
して上記制御電圧をホールドするようになっていること
を特徴とするものである。
An automatic gain control device for an optical memory device according to a first aspect of the present invention has the following features.
An automatic gain control device of an optical memory device provided in an optical memory device that performs recording, erasing, or reproducing on an optical memory and that controls an amplification degree based on a control voltage generated according to the amplitude of a reproduced signal. First control means for holding the control voltage at a time, a recorded area determination means for determining a recorded area of information during reproduction,
A second control means for holding the control voltage in an unrecorded area of information based on the determination by the recorded area determination means, wherein the first control means gives priority to the control by the second control means. It is characterized in that a voltage is held.

このオートゲインコントロール装置は、更に、上記オ
ートゲインコントロール装置の応答速度を多段階に変更
する応答速度変更手段を備えていることが好適である。
It is preferable that the automatic gain control device further includes a response speed changing unit that changes the response speed of the automatic gain control device in multiple stages.

又、本発明の第2の態様に係る光メモリ装置のオート
ゲインコントロール装置は、予めアドレス等が記録され
たプリフォーマット部と任意のデータが記録可能なデー
タ部とを有する光メモリに記録、消去又は再生を行う光
メモリ装置に設けられ、再生信号の振幅に応じて発生さ
れる制御電圧に基づき、ゲインを調整するようにした光
メモリ装置のオートゲインコントロール装置において、
上記プリフォーマット部から再生される再生信号のゲイ
ンを調整する第1のオートゲインコントロール部と、上
記データ部から再生される再生信号のゲインを調整する
第2のオートゲインコントロール部とを備え、かつ、上
記第2のオートゲインコントロール部のみに再生時に情
報の記録済領域を判定する記録済領域判定手段と、この
記録済領域判定手段の判定に基づき、情報の未記録領域
で上記制御電圧をホールドするホールド手段とが設けら
れていることを特徴としている。
Further, the automatic gain control device for an optical memory device according to the second aspect of the present invention provides a method for recording, erasing or reproducing data in an optical memory having a preformat portion in which addresses and the like are recorded in advance and a data portion in which arbitrary data can be recorded. Provided in an optical memory device for performing, based on a control voltage generated according to the amplitude of the reproduction signal, in the automatic gain control device of the optical memory device to adjust the gain,
A first auto gain control unit that adjusts a gain of a reproduction signal reproduced from the preformat unit; and a second auto gain control unit that adjusts a gain of a reproduction signal reproduced from the data unit; A recorded area determining means for determining a recorded area of information only in the second auto gain control section at the time of reproduction, and holding the control voltage in an unrecorded area of information based on the determination of the recorded area determining means. And holding means for performing the operation.

このオートゲインコントロール装置は、更に、上記第
1のオートゲインコントロール部の応答速度を多段階に
変更する応答速度変更手段を備えていることが好適であ
る。
It is preferable that the automatic gain control device further includes a response speed changing unit that changes the response speed of the first auto gain control unit in multiple stages.

〔作 用〕(Operation)

上記本発明の第1の態様に係る光メモリ装置のオート
ゲインコントロール装置は、記録又は消去時に上記制御
電圧をホールドするようにしたので、記録又は消去時に
はオートゲインコントロール装置の増幅度は記録又は消
去開始前の値のままで保持されることになる。従って、
記録又は消去の終了直後の再生開始時の増幅度は前回の
再生終了時と同一の増幅度となるので、記録又は消去の
終了直後の再生時にもほぼ適正な増幅度で再生信号の増
幅を行えるようになる。これにより、記録又は消去の終
了直後の再生エラーを減少させることができるようにな
る。
Since the automatic gain control device of the optical memory device according to the first aspect of the present invention holds the control voltage at the time of recording or erasing, the amplification degree of the auto gain control device at the time of recording or erasing starts recording or erasing. It will be kept at the previous value. Therefore,
Since the amplification at the start of reproduction immediately after the end of recording or erasure is the same as the amplification at the end of the previous reproduction, the reproduction signal can be amplified with an almost appropriate amplification even at the time of reproduction immediately after the end of recording or erasure. Become like This makes it possible to reduce a reproduction error immediately after the end of recording or erasing.

ところで、光メモリにおける情報の未記録領域では、
再生信号の振幅が低レベルとなるので、オートゲインコ
ントロール装置の増幅度は最大値近傍まで上昇する。そ
の場合、未記録領域を通過して記録済領域に差し掛かっ
た時に、増幅度が過大なレベルとなったままであるの
で、正常な再生が行いにくくなるものである。そこで、
再生時に情報の記録済領域と未記録領域とを判定し、情
報の未記録領域で上記制御電圧をホールドするようにす
れば、未記録領域を通過している際には増幅度が前回の
記録済領域の再生時の増幅度のままで保持されるので、
次に、記録済領域に差し掛かった直後にもほぼ適正な増
幅度で再生信号の増幅を行えるようになる。
By the way, in an unrecorded area of information in the optical memory,
Since the amplitude of the reproduction signal becomes low, the amplification of the automatic gain control device increases to near the maximum value. In this case, when passing through an unrecorded area and approaching a recorded area, the amplification degree remains at an excessive level, so that normal reproduction becomes difficult. Therefore,
If a recorded area and an unrecorded area of information are determined at the time of reproduction, and the control voltage is held in the unrecorded area of the information, the amplification degree becomes equal to that of the previous recording when passing through the unrecorded area. Is maintained at the amplification level at the time of reproduction of the
Next, it becomes possible to amplify the reproduction signal with an almost appropriate amplification degree immediately after the recording signal reaches the recorded area.

更に、上記本発明の第1の態様において、応答速度を
多段階に変更する応答速度変更手段を設ければ、例え
ば、上記のテストライト時のようなオートゲインコント
ロール装置の制御電圧(前述のAGC電圧に相当)の検出
時等にはオートゲインコントロール装置の応答速度を上
昇させることにより、又、その間に制御電圧をホールド
しないことにより、例えば、セクタ単位等の微小間隔で
の再生信号の振幅の変化にも対応できるようになる。一
方、通常の情報の再生時等には、応答速度を低めに設定
することにより、ディフェクトパルス等の影響を少なく
して再生エラーを減少させることができるようになる。
Further, in the first aspect of the present invention, if a response speed changing means for changing the response speed in multiple stages is provided, for example, the control voltage (eg, the above-described AGC (Equivalent to a voltage), by increasing the response speed of the auto gain control device, and by not holding the control voltage during that time, for example, to reduce the amplitude of the reproduced signal at minute intervals, such as in sector units. Be able to respond to changes. On the other hand, when normal information is reproduced, by setting a low response speed, the influence of a defect pulse or the like can be reduced to reduce a reproduction error.

又、前述の如く、光メモリをプリフォーマット部とデ
ータ部とに分割し、プリフォーマット部には予めアドレ
ス等を記録する一方、データ部には任意のデータを記録
することがある。ところで、上記のように情報の記録済
領域と未記録領域とを判定して未記録領域でオートゲイ
ンコントロール装置の制御電圧をホールドする場合、デ
ータ部には、通常、記録済領域と未記録領域とが存在す
るが、プリフォーマット部には必ずアドレス等の情報が
記録されているものである。従って、プリフォーマット
部では、通常、記録済領域と未記録領域との判定及びオ
ートゲインコントロール装置のホールドは不要である。
As described above, the optical memory may be divided into a preformat section and a data section, and an address or the like may be recorded in the preformat section in advance, while arbitrary data may be recorded in the data section. By the way, when the control voltage of the auto gain control device is held in the unrecorded area by determining the recorded area and the unrecorded area of the information as described above, the data area usually includes a recorded area and an unrecorded area. However, information such as an address is always recorded in the preformat portion. Therefore, in the preformat section, it is usually unnecessary to determine the recorded area and the unrecorded area and to hold the auto gain control device.

そのため、上記した第2の態様の如く、プリフォーマ
ット部から再生される再生信号の増幅度を調整する第1
のオートゲインコントロール部と、上記データ部から再
生される再生信号の増幅度を調整する第2のオートゲイ
ンコントロール部とを設け、第2のオートゲインコント
ロール部のみに再生時に情報の記録済領域を判定する記
録済領域判定手段と、この記録済領域判定手段の判定に
基づき、情報の未記録領域で上記制御電圧をホールドす
るホールド手段を設けるようにすれば、プリフォーマッ
ト部用の第1のオートゲインコントロール部には記録済
領域判定手段及びホールド手段は不要となるので、プリ
フォーマット部用の第1のオートゲインコントロール部
の構成を簡略化することができる。
Therefore, as in the above-described second aspect, the first mode for adjusting the amplification degree of the reproduction signal reproduced from the preformat unit is used.
And a second auto gain control section for adjusting the amplification degree of a reproduction signal reproduced from the data section. Only the second auto gain control section is provided with an area in which information is recorded during reproduction. By providing a recorded area determining means for determining and a holding means for holding the control voltage in an unrecorded area of information based on the determination of the recorded area determining means, the first auto format for the pre-format section can be provided. Since the recorded area determination means and the hold means are not required in the gain control section, the configuration of the first auto gain control section for the preformat section can be simplified.

更に、上記本発明の第2の態様において、第1のオー
トゲインコントロール部の応答速度を多段階に変更する
応答速度変更手段を設ければ、例えば、上記のテストラ
イト時のようなオートゲインコントロール装置の制御電
圧(前述のAGC電圧に相当)の検出時等には第1のオー
トゲインコントロール部の応答速度を上昇させることに
より、例えば、セクタ単位等の微小間隔での再生信号の
振幅の変化にも対応できるようになる。一方、通常の情
報の再生時等には、応答速度を低めに設定することによ
り、ディフェクトパルス等の影響を少なくして再生エラ
ーを減少させることができるようになる。
Further, in the second aspect of the present invention, if a response speed changing means for changing the response speed of the first auto gain control unit in multiple stages is provided, for example, the automatic gain control as in the above-described test write is performed. At the time of detecting the control voltage of the apparatus (corresponding to the above-mentioned AGC voltage) or the like, the response speed of the first auto gain control unit is increased to change the amplitude of the reproduced signal at minute intervals, for example, in sector units. Will be able to respond. On the other hand, when normal information is reproduced, by setting a low response speed, the influence of a defect pulse or the like can be reduced to reduce a reproduction error.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の一実施例を第1図乃至第32図に基づいて説明
すれば、以下のとおりである。
One embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 32.

まず、光メモリの一例としての光磁気ディスク1201に
記録・再生・消去を行うための光磁気ディスク装置の構
成につき述べる。
First, a configuration of a magneto-optical disk device for recording, reproducing, and erasing data on a magneto-optical disk 1201 as an example of an optical memory will be described.

第9図に示すように、光磁気ディスク1201はスピンド
ルモータ1202によって回転駆動され、光ヘッド1203から
出射されたレーザビーム1204によって情報の記録・再生
・消去が行われるようになっている。記録又は消去時に
は上記のレーザビーム1204の照射と同時に外部磁場印加
用磁石1205から外部磁場が印加される。なお、記録時と
消去時との外部磁場の向きの反転は、例えば、外部磁場
印加用磁石1205を図示しないモータ等で回転させること
により行える。又、外部磁場印加用磁石1205を電磁石と
して、記録・消去のための外部磁場を得ても良い。
As shown in FIG. 9, the magneto-optical disk 1201 is driven to rotate by a spindle motor 1202, and information is recorded / reproduced / erased by a laser beam 1204 emitted from an optical head 1203. At the time of recording or erasing, an external magnetic field is applied from the external magnetic field applying magnet 1205 simultaneously with the irradiation of the laser beam 1204. The direction of the external magnetic field during recording and erasing can be reversed, for example, by rotating the external magnetic field applying magnet 1205 by a motor (not shown) or the like. Further, an external magnetic field for recording / erasing may be obtained by using the external magnetic field applying magnet 1205 as an electromagnet.

記録時には、光ヘッド1203内の半導体レーザ2801(第
10図参照)に、記録回路1206から半導体レーザ駆動電流
1210が入力される。半導体レーザ駆動電流1210によって
半導体レーザ2801の光強度が適切に制御される。
At the time of recording, the semiconductor laser 2801 (the
FIG. 10) shows the driving current of the semiconductor laser from the recording circuit 1206.
1210 is input. The light intensity of the semiconductor laser 2801 is appropriately controlled by the semiconductor laser drive current 1210.

又、再生時には、光ヘッド1203からは再生回路1207へ
再生信号1211(第34図に示すような2種類の再生信号S1
・S2からなる)が出力される。再生回路1207において再
生された再生データ1212はコントローラ1208へ送られ
る。
At the time of reproduction, the reproduction signal 1211 (two types of reproduction signals S1 as shown in FIG. 34) is sent from the optical head 1203 to the reproduction circuit 1207.
・ Consisting of S2) is output. The reproduction data 1212 reproduced by the reproduction circuit 1207 is sent to the controller 1208.

コントローラ1208では、再生データ1212に基づいて各
種制御信号1213のタイミングが取られ、これらの制御信
号1213が記録回路1206及び再生回路1207へ送られるよう
になっている。又、コントローラ1208から磁場制御信号
1214が外部磁場印加用磁石1205へ伝送され、外部磁場の
向きが制御される。
In the controller 1208, various control signals 1213 are timed based on the reproduction data 1212, and these control signals 1213 are sent to the recording circuit 1206 and the reproduction circuit 1207. Also, the magnetic field control signal from the controller 1208
1214 is transmitted to the external magnetic field applying magnet 1205, and the direction of the external magnetic field is controlled.

第10図に示すように、上記記録回路1206は変調回路13
02を備え、コントローラ1208(第9図)から送られた記
録データ1311は変調回路1302に入力されるようになって
いる。変調回路1302では、記録データ1311が、制御信号
1213によって記録フォーマットに応じた変調データ1310
に変換される。この変調は、例えば、後述する2,7変調
方式に従って行われる。
As shown in FIG. 10, the recording circuit 1206 is a modulation circuit 13
02, and the recording data 1311 sent from the controller 1208 (FIG. 9) is input to the modulation circuit 1302. In the modulation circuit 1302, the recording data 1311
Modulated data 1310 according to recording format by 1213
Is converted to This modulation is performed according to, for example, a 2,7 modulation method described later.

変調データ1310は、半導体レーザ駆動回路1301に伝送
され、それに基づいて半導体レーザ駆動回路1301から前
記半導体レーザ駆動電流1210が出力され、光ヘッド203
内の半導体レーザ2801へ伝送される。これと同時に、半
導体レーザ駆動回路1301へはコントローラ1208からの制
御信号1213が入力され、半導体レーザ2801の光強度が記
録、再生及び消去の各動作に応じて適切に制御される。
The modulation data 1310 is transmitted to the semiconductor laser drive circuit 1301, and based on the modulated data 1310, the semiconductor laser drive current 1210 is output from the semiconductor laser drive circuit 1301, and the optical head 203
Is transmitted to the semiconductor laser 2801 inside. At the same time, the control signal 1213 from the controller 1208 is input to the semiconductor laser drive circuit 1301, and the light intensity of the semiconductor laser 2801 is appropriately controlled according to the recording, reproducing, and erasing operations.

又、第11図に示すように、上記再生回路1207は信号処
理回路1401を備え、光ヘッド203(第9図)からの再生
信号1211(再生信号S1・S2)は信号処理回路1401に入力
され、ここで同期が取られる。信号処理回路1401から
は、同期データ1410が復調回路1402へ送られ、同時にセ
クタマーク信号1411がコントローラ1208へ伝送される。
同期データ1410の復調は、第10図の変調回路1302とは逆
の変換を行うことによって実現される。信号処理回路14
01及び復調回路1402へはコントローラ1208から各種制御
信号1213が伝送される。復調回路1402からは復調済の再
生データ1212がコントローラ1208へ出力される。
As shown in FIG. 11, the reproduction circuit 1207 includes a signal processing circuit 1401, and reproduction signals 1211 (reproduction signals S1 and S2) from the optical head 203 (FIG. 9) are input to the signal processing circuit 1401. , Where synchronization takes place. From the signal processing circuit 1401, synchronous data 1410 is sent to the demodulation circuit 1402, and at the same time, the sector mark signal 1411 is sent to the controller 1208.
The demodulation of the synchronization data 1410 is realized by performing a conversion reverse to that of the modulation circuit 1302 in FIG. Signal processing circuit 14
Various control signals 1213 are transmitted from the controller 1208 to the 01 and the demodulation circuit 1402. Demodulated reproduction data 1212 is output from the demodulation circuit 1402 to the controller 1208.

第12図に示すように、上記コントローラ1208はタイミ
ング発生回路1501を備えている。信号処理回路1401(第
11図)からのセクタマーク信号1411はタイミング発生回
路1501に入力され、ここでセクタ単位のタイミングで基
準タイミング信号1510が発生されてコントロール回路15
02へ伝送される。又、復調回路1402(第11図)からの再
生データ1212がコントロール回路1502に入力される。コ
ントロール回路1502では、上記2種類の入力信号から各
種制御信号1213が生成されるとともに、外部装置との情
報の入出力が行われるようになっている。
As shown in FIG. 12, the controller 1208 includes a timing generation circuit 1501. Signal processing circuit 1401 (No.
The sector mark signal 1411 from FIG. 11) is input to the timing generation circuit 1501, where the reference timing signal 1510 is generated at the timing of the sector unit and the control circuit 15
Transmitted to 02. Also, the reproduction data 1212 from the demodulation circuit 1402 (FIG. 11) is input to the control circuit 1502. The control circuit 1502 generates various control signals 1213 from the two types of input signals, and inputs and outputs information to and from an external device.

第10図の変調回路1302では、例えば、第1表に示す変
調方式に基づいて変調が行われる。これは、所謂、2,7
変調方式と呼ばれるものであり、第1表の左欄に示す入
力データ(記録情報)は同図中右欄に示す所定の変調デ
ータに変換され、その際、変調データにおいて、“0"の
連続するビット数が2〜7ビットになるように設定され
ている。そして、例えば、第14図(a)に示すセクタフ
ォーマットに従って、適切なタイミングで、変調データ
1310を第10図の半導体レーザ駆動回路1301に出力する。
The modulation circuit 1302 in FIG. 10 performs modulation based on, for example, the modulation schemes shown in Table 1. This is the so-called 2,7
The input data (recording information) shown in the left column of Table 1 is converted into predetermined modulation data shown in the right column of FIG. The number of bits is set to be 2 to 7 bits. Then, for example, according to the sector format shown in FIG.
1310 is output to the semiconductor laser drive circuit 1301 in FIG.

第14図(a)において、プリフォーマット部3003は、
セクタ単位の同期タイミングを得るためのセクタマーク
部1701と、セクタのアドレス(番地)情報を含んだID部
1702とから構成される。これらは第33図に示したよう
に、記録・消去できないマーク2811及び非マーク2812に
対応する物理的な凹凸2808により光磁気ディスク1201に
刻み込まれている。
In FIG. 14 (a), the pre-format unit 3003
Sector mark section 1701 for obtaining synchronization timing in sector units, and ID section including sector address (address) information
1702. As shown in FIG. 33, these are engraved on the magneto-optical disk 1201 by physical irregularities 2808 corresponding to marks 2811 and non-marks 2812 that cannot be recorded / erased.

データ部としてのMO部3002は、情報データを記録・再
生・消去するための通常使用範囲1703と、その前後に位
置する1対のギャップ部1704・1705とから構成されてい
る。そして、通常使用範囲1703に上記変調データ1310が
記録される。この時の記録は、第33図又は第36図に示し
たように、MO信号によるマーク2809及び非マーク2810で
行われる。
The MO section 3002 as a data section includes a normal use range 1703 for recording, reproducing, and erasing information data, and a pair of gap sections 1704 and 1705 positioned before and after the normal use range. Then, the modulation data 1310 is recorded in the normal use range 1703. At this time, the recording is performed on the mark 2809 and the non-mark 2810 by the MO signal as shown in FIG. 33 or FIG.

なお、プリフォーマット部3003とMO部3002との間に配
置された上記ギャップ部1704・1705は、通常使用範囲17
03に情報を記録する際の余裕領域である。つまり、これ
らのギャップ部1704・1705は、スピンドルモータ1202の
回転と上記セクタ3004単位の同期タイミングとの間に発
生する位相誤差等によって、記録開始位置及び記録終了
位置が前後にずれるため、これを見込んだ領域である。
The gaps 1704 and 1705 arranged between the preformat unit 3003 and the MO unit 3002 have a normal use range 17.
03 is a margin area for recording information. In other words, these gap portions 1704 and 1705 shift the recording start position and the recording end position back and forth due to a phase error or the like generated between the rotation of the spindle motor 1202 and the synchronization timing of the sector 3004. This is the expected area.

第13図に示すように、上記半導体レーザ駆動回路1301
は記録・消去光量制御回路1803を備え、この記録・消去
光量制御回路1803には、変調回路1302(第10図)からは
変調データ1310が半導体レーザ駆動回路1301に入力され
るようになっている。
As shown in FIG. 13, the semiconductor laser drive circuit 1301
Has a recording / erasing light amount control circuit 1803, to which modulation data 1310 is input from a modulation circuit 1302 (FIG. 10) to a semiconductor laser driving circuit 1301. .

又、コントローラ1208(第9図)から再生光量制御信
号1810が再生光量制御回路1801に入力され、再生時に光
ヘッド1203内の半導体レーザ2801の再生光量が適切に制
御されるようになっている。
A reproduction light amount control signal 1810 is input from a controller 1208 (FIG. 9) to a reproduction light amount control circuit 1801 so that the reproduction light amount of the semiconductor laser 2801 in the optical head 1203 is appropriately controlled during reproduction.

コントローラ1208からの記録・消去光量制御信号1811
は、記録・消去光量制御回路1803に入力され、記録時・
消去時に対応する半導体レーザ2801の光量が制御される
ようになっている。更に、コントローラ1208からの高周
波重畳スイッチ信号1812は、高周波重畳回路1802に入力
され、これに基づいて、高周波重畳回路1802にて高周波
でオン・オフされる出力信号1816が発生されて加算器18
05で再生光量制御回路1801の出力信号1814に重畳される
ことにより、光磁気ディスク1201からの戻り光に起因し
て発生する半導体レーザ2801のノイズが低減されるよう
になっている。なお、高周波重畳回路1802の出力信号18
16は再生時にのみ加算回路1805へ出力されるものであ
る。
Recording / erasing light amount control signal 1811 from controller 1208
Is input to the recording / erasing light amount control circuit 1803,
The light amount of the semiconductor laser 2801 corresponding to the erasing is controlled. Further, the high-frequency superposition switch signal 1812 from the controller 1208 is input to the high-frequency superposition circuit 1802, and based on this, an output signal 1816 that is turned on and off at high frequency is generated by the high-frequency superposition circuit 1802, and the adder 18
By superimposing on the output signal 1814 of the reproduction light amount control circuit 1801 at 05, the noise of the semiconductor laser 2801 caused by the return light from the magneto-optical disk 1201 is reduced. Note that the output signal 18 of the high-frequency superposition circuit 1802 is
16 is output to the addition circuit 1805 only during reproduction.

再生光量制御回路1801、記録・消去光量制御回路1803
及び高周波数重畳回路1802の各出力信号1814〜1816は、
加算回路1805で加算され、半導体レーザ駆動電流1210が
半導体レーザ2801に入力される。半導体レーザ2801の光
量(光強度)は、光ヘッド1203内の光検出器1806によっ
てその光強度に応じて変化する電気信号に変換され、光
量モニター回路1804を介して光量モニター信号1813がコ
ントローラ1208へ伝送されるようになっている。コント
ローラ1208では、光量モニター信号1813に基づいて、上
記の再生光量制御信号1810、記録・消去光量制御光量18
11及び高周波重畳スイッチ信号1812が出力される。つま
り、半導体レーザ2801の光強度(光量)が再生時と、記
録・消去時とで適切な強度になるように制御される。
Reproduction light quantity control circuit 1801, recording / erasing light quantity control circuit 1803
And each output signal 1814 to 1816 of the high frequency superposition circuit 1802 is
The addition is performed by the addition circuit 1805, and the semiconductor laser drive current 1210 is input to the semiconductor laser 2801. The light amount (light intensity) of the semiconductor laser 2801 is converted by a photodetector 1806 in an optical head 1203 into an electric signal that changes according to the light intensity, and a light amount monitor signal 1813 is sent to a controller 1208 via a light amount monitor circuit 1804. It is to be transmitted. In the controller 1208, the reproduction light amount control signal 1810, the recording / erasing light amount control light amount
11 and a high frequency superposition switch signal 1812 are output. That is, the light intensity (light amount) of the semiconductor laser 2801 is controlled so as to be appropriate between the time of reproduction and the time of recording / erasing.

次に、情報の記録・消去の各動作を説明すると、第14
図(b)に示すように、高周波重畳スイッチ信号1812
は、通常使用範囲1703(同図(a)参照)においてロー
レベル(“0")になり、それ以外の部位ではハイレベル
(“1")になる。即ち、MO部3002内の通常使用範囲1703
において高周波重畳回路1802による高周波重畳をオフと
し、通常使用範囲1703以外ではオンとするようになって
いる。これに伴って、同図(c)に示すように、変調デ
ータ1310は通常使用範囲1703においてMO信号として記録
される。
Next, the operations of recording and erasing information will be described.
As shown in FIG.
Becomes low level (“0”) in the normal use range 1703 (see FIG. 17A), and becomes high level (“1”) in other parts. That is, the normal use range 1703 in the MO unit 3002
, The high-frequency superposition by the high-frequency superposition circuit 1802 is turned off, and is turned on outside the normal use range 1703. Accordingly, the modulated data 1310 is recorded as an MO signal in the normal use range 1703 as shown in FIG.

この時、同図(d)に示すように、半導体レーザ2801
の光量レベル(光強度)1910は通常使用範囲1703で高レ
ベルになり、それ以外では低レベルになる。つまり、プ
リフォーマット部3003内のセクタマーク部1701からセク
タ同期タイミングを検出し、ID部1702からアドレス(番
地)情報等を読み出して、所定のアドレス(番地)を確
認しながら、MO部3002において情報が記録・消去され
る。
At this time, as shown in FIG.
The light intensity level (light intensity) 1910 of the normal use range 1703 is high, and otherwise is low. That is, the sector synchronization timing is detected from the sector mark section 1701 in the pre-format section 3003, the address (address) information and the like are read from the ID section 1702, and the information is read from the MO section 3002 while confirming the predetermined address (address). Is recorded / erased.

一方、通常使用範囲1703に記録された情報の再生時に
は、第15図(b)に示すように、プリフォーマット部30
03及びMO部3002のいずれの部分でも高周波重畳スイッチ
信号1812はハイレベル(“1")である。又、記録は行わ
れないので、同図(c)に示すように、変調データ1310
はローレベル(“0")である。更に、同図(d)に示す
ように、光量レベル1910は低レベルである。つまり、プ
リフォーマット部3003(同図(a))内のセクタマーク
部1701からセクタ3004の同期タイミングを検出し、ID部
1702からアドレス(番地)情報等を読み出して、所定の
アドレス(番地)を逐次確認しながら、MO部3002からMO
信号として記録された情報が再生される。
On the other hand, at the time of reproducing the information recorded in the normal use range 1703, as shown in FIG.
The high-frequency superposition switch signal 1812 is at a high level (“1”) in both the 03 and the MO section 3002. Further, since no recording is performed, the modulated data 1310 as shown in FIG.
Is low level (“0”). Further, as shown in FIG. 11D, the light amount level 1910 is a low level. That is, the synchronization timing of the sector 3004 is detected from the sector mark portion 1701 in the pre-format portion 3003 (FIG.
The address (address) information and the like are read out from the 1702, and while the predetermined address (address) is sequentially confirmed, the MO
Information recorded as a signal is reproduced.

第12図のタイミング発生回路1501は、より具体的に
は、第16図に示すように、信号処理回路1401(第11図)
から出力されたセクタマーク信号1411が入力されるセク
タマーク検出回路2101を備えている。セクタマーク検出
回路2101では、セクタマークの有無が検出され、それに
基づいて、セクタマーク検出信号2110が出力される。セ
クタマーク検出信号2110は、カウンタ2102、タイマー回
路2104及び判定回路2106へそれぞれ伝送される。
More specifically, as shown in FIG. 16, a timing generation circuit 1501 shown in FIG. 12 is a signal processing circuit 1401 (FIG. 11).
And a sector mark detection circuit 2101 to which a sector mark signal 1411 output from is input. The sector mark detection circuit 2101 detects the presence or absence of a sector mark, and outputs a sector mark detection signal 2110 based on the detection. The sector mark detection signal 2110 is transmitted to the counter 2102, the timer circuit 2104, and the determination circuit 2106.

カウンタ2102及びタイマー回路2104の出力信号2111・
2112はそれぞれスイッチ回路2103に入力され、スイッチ
回路2103でいずれか一方の出力信号2111・2112が選択さ
れて、基準タイミング信号1510として出力される。
The output signal 2111 of the counter 2102 and the timer circuit 2104
2112 is input to the switch circuit 2103, and one of the output signals 2111, 2112 is selected by the switch circuit 2103 and output as the reference timing signal 1510.

この基準タイミング信号1510は、データ部判定回路21
07にも入力され、これに基づいて後述するデータ部判定
信号2116が出力される。タイマー回路2104からは、他の
出力信号2113がウインドウ発生回路2105へ伝送される。
ウインドウ発生回路2105の出力信号2114は、判定回路21
06へ入力される。
The reference timing signal 1510 is supplied to the data
07 is also input, and based on this, a data part determination signal 2116 described later is output. Another output signal 2113 is transmitted from the timer circuit 2104 to the window generation circuit 2105.
The output signal 2114 of the window generation circuit 2105 is
Entered in 06.

判定回路2106では、出力信号2114とセクタマーク検出
信号2110とから、タイミング判定信号2115(後述)が出
力される。タイミング判定信号2115により、スイッチ回
路2103では、カウンタ2102の出力信号2111とタイマー回
路2104の出力信号2112のいずれか一方が選択される。基
準タイミング信号1510、データ部判定信号2116及びタイ
ミング判定信号2115は、それぞれコントロール回路1502
(第12図)へ伝送される。コントロール回路1502は、こ
れらのタイミング発生回路1501から出力される各種信号
1510・2115・2116と、再生データ1212とに基づいて、前
述した各種制御信号1213を記録回路1206及び再生回路12
07(第9図)へ伝送し、情報の記録・再生・消去の各制
御を行うようになっている。
The determination circuit 2106 outputs a timing determination signal 2115 (described later) from the output signal 2114 and the sector mark detection signal 2110. The switch circuit 2103 selects one of the output signal 2111 of the counter 2102 and the output signal 2112 of the timer circuit 2104 according to the timing determination signal 2115. The reference timing signal 1510, the data part determination signal 2116 and the timing determination signal 2115 are respectively
(Figure 12). The control circuit 1502 controls various signals output from the timing generation circuit 1501.
Based on 1510, 2115, and 2116 and the reproduction data 1212, the various control signals 1213 described above are sent to the recording circuit 1206 and the reproduction circuit 1212.
07 (FIG. 9) to control the recording, reproduction and erasure of information.

第17図に示すように、上記セクタマーク検出回路2101
はカウンタ回路2201を備え、信号処理回路1401(第11
図)から出力されたセクタマーク信号1411は、カウンタ
回路2201を構成する、例えば、9個のカウンタNo.1〜N
o.9へ伝送される。カウンタNo.1〜No.9の各出力信号221
1〜2219は、判定回路2202へそれぞれ伝送され、判定回
路2202での判定結果に基づいてセクタマーク検出信号21
10が出力される。以上のように、セクタマーク検出回路
2101は、セクタマーク部1701(例えば、第14図(a))
を検出し、セクタ単位の記録・再生・消去の各動作を行
うのに必要な同期タイミングを得る回路である。
As shown in FIG. 17, the sector mark detection circuit 2101
Includes a counter circuit 2201 and a signal processing circuit 1401 (eleventh
The sector mark signal 1411 output from FIG. 9 constitutes a counter circuit 2201, for example, nine counter Nos. 1 to N
Sent to o.9. Each output signal 221 of counter No.1 to No.9
1 to 2219 are transmitted to the determination circuit 2202, and the sector mark detection signal 21 based on the determination result in the determination circuit 2202.
10 is output. As described above, the sector mark detection circuit
Reference numeral 2101 denotes a sector mark portion 1701 (for example, FIG. 14A)
Is a circuit for detecting the synchronization timing necessary for performing the recording, reproducing and erasing operations in sector units.

第18図に基づいて上記のカウンタ回路2201におけるカ
ウンタNo.1〜No.9の動作を説明する。ここで、セクタマ
ーク部1701のパターンが、例えば、同図(b)に示すよ
うなマーク2811及び非マーク2812から構成されているも
のとする。この例では、同図(a)に示すように、マー
ク長、および非マーク長の比が5:3:3:7:3:3:3:3:5の順
序になるように複数のマーク2811が刻み込まれている。
このマーク2811及び非マーク2812のパターンを再生して
得られるセクタマーク信号1411は、同図(c)に示すよ
うに、例えばマークの部分でローレベル(“0")、非マ
ークの部分でハイレベル(“1")となる2値信号に変換
される。
The operation of the counters No. 1 to No. 9 in the counter circuit 2201 will be described with reference to FIG. Here, it is assumed that the pattern of the sector mark portion 1701 is composed of, for example, a mark 2811 and a non-mark 2812 as shown in FIG. In this example, as shown in FIG. 7A, a plurality of marks are arranged such that the ratio of the mark length to the non-mark length is in the order of 5: 3: 3: 7: 3: 3: 3: 3: 5. 2811 is engraved.
The sector mark signal 1411 obtained by reproducing the pattern of the mark 2811 and the non-mark 2812 has a low level (“0”) at the mark portion and a high level at the non-mark portion, as shown in FIG. The signal is converted into a binary signal having a level (“1”).

このセクタマーク信号1411が上記カウンタNo.1〜No.9
にそれぞれ入力されると、まず、カウンタNo.1(同図
(e))は、マーク長“5"の長さに対応するカウンタク
ロック2310のクロック数をカウントする。カウンタクロ
ック2310は、同図(d)で示すように、セクタマーク信
号1411よりも高い周波数を有している。そして、このカ
ウント数が所定範囲内であれば最初のマーク2811(マー
ク長“5")が正確に検出されたことになる。続いて、カ
ウンタNo.2において同様に非マーク長“3"の長さの非マ
ーク2812が検出される。このように、順次、セクタマー
ク部1701のマーク2811及び非マーク2812が検出され、最
後にマーク長“5"の長さをカウンタNo.9が検出する。上
記の如くして得られた9個のマーク2811又は非マーク28
12の検出信号2211〜2219が判定回路2202(第17図)へ送
られる。
The sector mark signal 1411 corresponds to the above counter No. 1 to No. 9
, First, the counter No. 1 ((e) in the figure) counts the number of counter clocks 2310 corresponding to the mark length “5”. The counter clock 2310 has a higher frequency than the sector mark signal 1411 as shown in FIG. If the counted number is within the predetermined range, the first mark 2811 (mark length "5") has been correctly detected. Subsequently, a non-mark 2812 having a non-mark length “3” is similarly detected in the counter No. 2. As described above, the mark 2811 and the non-mark 2812 of the sector mark portion 1701 are sequentially detected, and finally, the counter No. 9 detects the length of the mark length “5”. 9 marks 2811 or non-marks 28 obtained as described above
Twelve detection signals 2211 to 2219 are sent to the judgment circuit 2202 (FIG. 17).

そして、この9個のマーク2811又は非マーク2812につ
いての検出結果のうち、全て又はその一部がセクタマー
ク部1701のパターンと一致しているか否かが判定される
とともに、マーク2811、非マーク2812の順序が判定され
る。この結果、セクタマーク部1701であると判定された
場合のみ、セクタマーク検出信号2110がローレベル
(“0")になる。上記のようにして得られたセクタマー
ク検出信号2110はセクタ3004単位の同期タイミングとし
て使用することができる。
Then, it is determined whether or not all or a part of the detection results of the nine marks 2811 or non-marks 2812 match the pattern of the sector mark portion 1701, and the marks 2811 and non-marks 2812 are determined. Are determined. As a result, the sector mark detection signal 2110 becomes low level (“0”) only when it is determined that the sector mark portion 1701 is present. The sector mark detection signal 2110 obtained as described above can be used as synchronization timing in units of the sector 3004.

次に、第19図に基づいてタイミング発生回路1501の各
部の波形を以下に説明する。
Next, waveforms of respective parts of the timing generation circuit 1501 will be described below with reference to FIG.

同図(b)に示すように、セクタマーク検出信号2110
は、前述の如く、プリフォーマット部3003内のセクタマ
ーク部1701(同図中(a))を検出するとローレベルに
なり、このセクタマーク検出信号2110の立ち下がりエッ
ジがセクタ3004の同期タイミングになる。カウンタ2102
は、セクタマーク検出信号2110の立ち下がりエッジから
所定カウント数のカウント後に、同図(c)に示すよう
に、カウンタ出力信号2111をローレベルにする。
As shown in FIG.
As described above, when the sector mark section 1701 ((a) in the figure) in the preformat section 3003 is detected, the level becomes low, and the falling edge of the sector mark detection signal 2110 becomes the synchronization timing of the sector 3004. . Counter 2102
Sets the counter output signal 2111 to low level after a predetermined count has been counted from the falling edge of the sector mark detection signal 2110, as shown in FIG.

一方、タイマー回路2104のカウント数は、上記カウン
タ2102のカウント数を加えて1つのセクタ3004のセクタ
長分だけ大きくなるように設定されている。従って、第
19図(d)に示すように、タイマー回路2104の出力信号
2112の立ち下がりエッジは、次のセクタ3004のカウンタ
出力信号2111の立ち下がりエッジとタイミングがほぼ一
致する。
On the other hand, the count number of the timer circuit 2104 is set to be larger by the sector length of one sector 3004 by adding the count number of the counter 2102. Therefore,
As shown in FIG. 19 (d), the output signal of the timer circuit 2104
The timing of the falling edge of 2112 substantially coincides with the falling edge of the counter output signal 2111 of the next sector 3004.

又、同図(e)に示すように、ウインドウ発生回路21
05の出力信号2114は、セクタマーク検出信号2110の立ち
下がりエッジを基準に、次のセクタ3004におけるセクタ
マーク検出信号2110の立ち下がりエッジ付近で所定のウ
インドウ幅をもってローレベルになるようになってい
る。判定回路2106の出力信号であるタイミング判定信号
2115は、ウインドウ発生回路2105の出力信号2114がロー
レベルの時に、セクタマーク検出信号2110の立ち下がり
エッジが存在すれば、同図(f)中の実線で示すよう
に、ハイレベルになるようになっている。一方、セクタ
マーク検出信号2110の立ち下がりエッジが存在しなけれ
ばローレベルになる(同図(f)中の点線で示す)。従
って、タイミング判定信号2115は、セクタマーク部1701
の検出が所定の範囲で検出できたか、あるいは検出ミス
であったかを判定する信号になる。
Also, as shown in FIG.
The output signal 2114 of 05 is set to a low level with a predetermined window width near the falling edge of the sector mark detection signal 2110 in the next sector 3004 based on the falling edge of the sector mark detection signal 2110. . Timing determination signal which is the output signal of the determination circuit 2106
2115, when the output signal 2114 of the window generation circuit 2105 is at a low level and a falling edge of the sector mark detection signal 2110 exists, as shown by a solid line in FIG. Has become. On the other hand, if the falling edge of the sector mark detection signal 2110 does not exist, it becomes a low level (indicated by a dotted line in FIG. 7F). Therefore, the timing determination signal 2115 is
Is a signal for determining whether or not detection has been detected in a predetermined range or a detection error.

スイッチ回路2103においては、セクタマーク部1701の
検出ができた場合にはカウンタ出力信号2111が選択さ
れ、そうでなく検出ミスである場合にはタイマー回路出
力信号2112が選択されるようになっている。この結果、
同図(g)に示すように、基準タイミング信号1510はセ
クタマーク部1701の検出ミスが発生しても、1つ前のセ
クタ3004のタイミングに基づいて補正を行うことにより
確実に出力できる。このようにして得られた基準タイミ
ング信号1510は、データ部判定回路2107へ伝送される。
In the switch circuit 2103, the counter output signal 2111 is selected when the sector mark portion 1701 can be detected, and the timer circuit output signal 2112 is selected when the detection is incorrect. . As a result,
As shown in (g) of the figure, the reference timing signal 1510 can be reliably output by performing correction based on the timing of the immediately preceding sector 3004 even if a detection error occurs in the sector mark portion 1701. The reference timing signal 1510 thus obtained is transmitted to the data part determination circuit 2107.

データ部判定回路2107はカウンタの一種であり、その
出力信号であるデータ部判定信号2116はMO部3002におけ
る通常使用範囲1703でローレベルになる(同図
(h))。つまり、データ部判定信号2116は、プリフォ
ーマット部3003とMO部3002とを判別する信号として利用
できる。このようにして得られた基準タイミング信号15
10、タイミング判定信号2115及びデータ部発生信号2116
は、第12図のコントロール回路1502へ伝送される。コン
トロール回路1502では、上記の信号1510・2115及び2116
に基づいて前述の各種制御信号1213が生成される。
The data part determination circuit 2107 is a kind of counter, and the output signal of the data part determination signal 2116 becomes low level in the normal use range 1703 in the MO part 3002 ((h) in the figure). That is, the data part determination signal 2116 can be used as a signal for determining the preformat part 3003 and the MO part 3002. The reference timing signal 15 thus obtained
10, timing determination signal 2115 and data part generation signal 2116
Is transmitted to the control circuit 1502 in FIG. In the control circuit 1502, the above signals 1510, 2115 and 2116
The various control signals 1213 described above are generated based on the above.

次に、第20図乃至第22図に基づいて、第11図の信号処
理回路1401の動作について説明すると、光磁気ディスク
1201から再生された再生信号1211(再生信号S1・S2)
は、信号処理回路1401(第20図)内のバッファアンプ25
01に入力される。バッファアンプ2501の出力信号2510
は、MO波形処理部2502とプリフォーマット波形処理部25
03とへ伝送される。MO波形処理部2502からはMO部3002に
MO信号として記録されたマーク2809及び非マーク2810に
対応したMO2値化信号2511が出力される一方、プリフォ
ーマット波形処理部2503からはプリフォーマット部3003
のマーク2811及び非マーク2812に対応したID2値化信号2
512が出力される。これらの2値化信号2511・2512はデ
ータ同期部2504に入力されて、データ同期部2504内のPL
L(PHASE LOCKED LOOP)において、クロックと同期した
同期データ2513が生成され、復調回路1402(第11図)へ
伝送される。
Next, the operation of the signal processing circuit 1401 shown in FIG. 11 will be described with reference to FIGS. 20 to 22.
Reproduction signal 1211 reproduced from 1201 (reproduction signals S1 and S2)
Is the buffer amplifier 25 in the signal processing circuit 1401 (FIG. 20).
Entered in 01. Output signal 2510 of buffer amplifier 2501
Are the MO waveform processing unit 2502 and the pre-format waveform processing unit 25
Transmitted to 03. MO waveform processing unit 2502 to MO unit 3002
While the MO binarized signal 2511 corresponding to the mark 2809 and the non-mark 2810 recorded as the MO signal is output, the preformat waveform processing unit 2503 outputs the preformat
ID binarized signal 2 corresponding to mark 2811 and non-mark 2812
512 is output. These binary signals 2511 and 2512 are input to the data synchronization unit 2504,
In L (PHASE LOCKED LOOP), synchronization data 2513 synchronized with the clock is generated and transmitted to the demodulation circuit 1402 (FIG. 11).

又、プリフォーマット波形処理部2503ではセクタマー
ク信号1411が生成され、タイミング発生回路1501(第12
図)へ伝送される。信号処理コントロール部2505では、
信号処理回路1401内の各部間の各種制御信号2514〜2517
が入出力される。又、第12図のコントローラ1208との間
で各種制御信号1213が入出力される。
The preformat waveform processing section 2503 generates a sector mark signal 1411 and outputs the signal to the timing generation circuit 1501 (12th
Figure). In the signal processing control unit 2505,
Various control signals 2514 to 2517 between each unit in the signal processing circuit 1401
Is input and output. Also, various control signals 1213 are input / output to / from the controller 1208 in FIG.

第21図に信号処理回路1401の各部の波形を示す。第21
図(b)(c)の如く、再生信号S1・S2はMO波形処理部
2502において差動されてMO部3002のMO信号のみが分離さ
れ、更に2値化されて、MO2値化信号2511が生成される
(同図(d))。又、再生信号S1・S2はプリフォーマッ
ト波形処理部2503において加算されてプリフォーマット
部3003の情報のみが分離され、更に2値化されて、ID2
値化信号2512とセクタマーク信号1411が得られる(同図
(e)及び(g))。
FIG. 21 shows the waveform of each part of the signal processing circuit 1401. 21st
As shown in FIGS. (B) and (c), the reproduced signals S1 and S2 are MO waveform processing units.
At 2502, only the MO signal of the MO section 3002 is separated and further binarized to generate a MO binarized signal 2511 (FIG. 11D). Also, the reproduction signals S1 and S2 are added in a preformat waveform processing unit 2503 to separate only the information of the preformat unit 3003, and are further binarized.
A value signal 2512 and a sector mark signal 1411 are obtained (FIGS. 9E and 9G).

再生信号S1・S2の差動及び加算によってMO部3002とプ
リフォーマット部3003が分離できる理由は、第38図に示
したように、再生信号S1・S2の極性がMO部3002では逆で
あり、一方、第39図に示したように、プリフォーマット
部3003においては同じだからである。MO2値化信号2511
とID2値化信号2512とは、第21図(f)に示すように、
それぞれデータ同期部2504においてクロックと同期した
同期データ2513に変換される。
The reason that the MO unit 3002 and the preformat unit 3003 can be separated by differential and addition of the reproduction signals S1 and S2 is that, as shown in FIG. 38, the polarities of the reproduction signals S1 and S2 are opposite in the MO unit 3002, On the other hand, as shown in FIG. 39, the same is true in the preformat unit 3003. MO binary signal 2511
And the ID binarized signal 2512, as shown in FIG.
The data is converted into synchronization data 2513 synchronized with the clock in the data synchronization unit 2504.

第22図は、第21図の波形を詳細に説明するものであ
り、例えば、前述の第1表の変調規則に基づいて生成さ
れた変調データ1310(第22図(a))に基づいて凹凸28
08(又はMO信号)で同図(b)の如く、マーク2811(又
は2809)及び非マーク2812(又は2810)が記録されてい
るものとする。これらのマーク2811(又は2809)及び非
マーク2812(又は2810)はレーザスポット2701の照射に
よって再生されるが、同図(c)の如く、再生信号S1・
S2はマーク2811(又は2809)の中心でピーク値を取る信
号である。
FIG. 22 is a diagram for explaining the waveform of FIG. 21 in detail. For example, irregularities are generated based on the modulation data 1310 (FIG. 22 (a)) generated based on the modulation rule of Table 1 described above. 28
It is assumed that a mark 2811 (or 2809) and a non-mark 2812 (or 2810) are recorded at 08 (or MO signal) as shown in FIG. These marks 2811 (or 2809) and non-marks 2812 (or 2810) are reproduced by irradiation of the laser spot 2701. As shown in FIG.
S2 is a signal having a peak value at the center of the mark 2811 (or 2809).

MO2値化信号2511又はID2値化信号2512は、このピーク
位置を検出した信号であり、その立ち上がりエッジがピ
ーク位置と一致している(同図(d)参照)。データ同
期部2504内のPLLにおいて、MO2値化信号2511又はID2値
化信号2512から同期クロックを生成し、このクロックと
同期させて同期データ2513を得ている。同図(e)に示
すように、同期データ2513は変調データ1310を忠実に再
生したデータとなる。
The MO binarized signal 2511 or the ID binarized signal 2512 is a signal that detects this peak position, and its rising edge coincides with the peak position (see FIG. 3D). In the PLL in the data synchronization unit 2504, a synchronization clock is generated from the MO binarization signal 2511 or the ID binarization signal 2512, and synchronization data 2513 is obtained by synchronizing with the clock. As shown in FIG. 11E, the synchronization data 2513 is data obtained by faithfully reproducing the modulation data 1310.

第7図(a)はプリフォーマット波形処理部2503の要
部を示している。上記した再生信号S1・S2はプリフォー
マット波形処理部2503内の加算増幅器64に入力され、こ
こで前述の如く、S1 S2が加算されることにより、再生
信号中のプリフォーマット部3003の情報のみが分離され
るようになっている。このプリフォーマット部3003の情
報はプリフォーマット用AGCアンプ65に入力され、ここ
で、振幅に応じて増幅された後、2値化回路66において
2値化されて前述のID2値化信号2512として出力され
る。
FIG. 7A shows a main part of the preformat waveform processing section 2503. The above-described reproduced signals S1 and S2 are input to the addition amplifier 64 in the preformat waveform processing unit 2503, and as described above, by adding S1 and S2, only the information of the preformat unit 3003 in the reproduced signal is obtained. It is to be separated. The information of the preformat unit 3003 is input to the preformat AGC amplifier 65, where it is amplified according to the amplitude, then binarized in the binarization circuit 66, and output as the above-described ID binarization signal 2512. Is done.

又、第7図(b)は、MO波形処理部2502の要部を示し
ており、再生信号S1・S2は、MO波形処理部2502内の差動
増幅器74に入力され、ここで前述の如く、S1・S2が差動
されることにより、再生信号中のMO信号のみが分離され
るようになっている。MO信号は、MO信号用AGCアンプ75
に入力され、ここで、振幅に応じて増幅された後、2値
化回路76において2値化されてMO2値化信号2511が出力
される。なお、MO信号用AGCアンプ75からはAGC電圧がコ
ントローラ1208(第31図参照)内のA/Dコンバータ49へ
出力される。
FIG. 7 (b) shows a main part of the MO waveform processing section 2502, and the reproduction signals S1 and S2 are input to the differential amplifier 74 in the MO waveform processing section 2502, where the reproduced signals are transmitted as described above. , S1 and S2 are differentiated so that only the MO signal in the reproduced signal is separated. MO signal is AGC amplifier for MO signal 75
Here, after being amplified in accordance with the amplitude, it is binarized by the binarization circuit 76 and the MO binarized signal 2511 is output. The AGC voltage is output from the MO signal AGC amplifier 75 to the A / D converter 49 in the controller 1208 (see FIG. 31).

次に、第1のオートゲインコントロール部としての役
割を有するプリフォーマット用AGCアンプ65の構成をよ
り詳細に説明する。第4図に示すように、プリフォーマ
ット用AGCアンプ65は主として、クランプ回路78、コン
パレータ79、AGC電圧発生回路80及び電圧制御アンプ
(以下、VCAと呼ぶ)77から構成されており、前述の加
算増幅器64の出力信号である加算信号がVCA77に入力さ
れるようになっている。
Next, the configuration of the preformat AGC amplifier 65 serving as a first auto gain control unit will be described in more detail. As shown in FIG. 4, the preformat AGC amplifier 65 mainly includes a clamp circuit 78, a comparator 79, an AGC voltage generation circuit 80, and a voltage control amplifier (hereinafter referred to as VCA) 77, An addition signal which is an output signal of the amplifier 64 is input to the VCA 77.

VCA77の増幅度はAGC電圧発生回路80の出力であるAGC
電圧に応じて変化し、第43図に示したように、AGC電圧
が大きくなるにつれて増幅度が小さくなるように構成さ
れている。
The amplification degree of VCA77 is AGC which is the output of AGC voltage generation circuit 80.
It changes according to the voltage, and as shown in FIG. 43, the amplification degree decreases as the AGC voltage increases.

VCA77の出力は、2値化回路66(第7図)へ伝送され
るとともに、クランプ回路78に入力される。クランプ回
路78では、VCA77の出力信号中の直流分がカットされる
とともに、交流分(ピーク−ピーク値に相当する)のう
ちプラス出力は、同回路78内のダイオードDによりダイ
オードDの順方向降下電圧値にクランプされ、マイナス
出力はクランプされずにそのまま後続のコンパレータ79
の反転入力端子へ伝送される。コンパレータ79では、非
反転入力端子に印加されている基準電圧V0と、クランプ
回路78の出力電圧とが大小比較される。
The output of the VCA 77 is transmitted to the binarization circuit 66 (FIG. 7) and input to the clamp circuit 78. In the clamp circuit 78, the DC component in the output signal of the VCA 77 is cut, and the positive output of the AC component (corresponding to the peak-to-peak value) is reduced by the diode D in the circuit 78 in the forward direction. The voltage is clamped to the voltage value, and the negative output is not clamped.
To the inverting input terminal. In the comparator 79, the reference voltage V 0, which is applied to the non-inverting input terminal, an output voltage of the clamp circuit 78 is compared magnitude.

コンパレータ79の出力信号はAND回路90の一方の入力
端子に入力され、AND回路90の他方の入力端子には、第
1制御手段としての役割を有するインバータ91を介して
プリフォーマット用ホールドタイミング信号113(後
述)が入力されるようになっている。そして、AND回路9
0の出力信号が抵抗92を介してAGC電圧発生回路80に入力
される。
The output signal of the comparator 79 is input to one input terminal of the AND circuit 90, and the other input terminal of the AND circuit 90 is connected to the preformat hold timing signal 113 via an inverter 91 serving as a first control means. (To be described later) is input. And AND circuit 9
An output signal of 0 is input to the AGC voltage generation circuit 80 via the resistor 92.

上記の構成において、プリフォーマット用ホールドタ
イミング信号113がローレベルで、プリフォーマット用A
GCアンプ65でAGC電圧のホールドを行わない場合の動作
を、まず説明する。この時、インバータ91からAND回路9
0への入力信号はハイレベルとなるので、AND回路90の出
力信号はコンパレータ79からAND回路90への入力信号に
より決定される。
In the above configuration, the preformat hold timing signal 113 is at a low level and the preformat A
The operation when the GC amplifier 65 does not hold the AGC voltage will be described first. At this time, the inverter 91 and the AND circuit 9
Since the input signal to 0 becomes high level, the output signal of the AND circuit 90 is determined by the input signal from the comparator 79 to the AND circuit 90.

今、クランプ回路78の出力振幅が基準電圧V0よりも大
きい場合には、コンパレータ79の出力信号がハイレベル
となり、従って、AND回路90の出力もハイレベルとなる
ので、トランジスタ81はオンとなる。そのため、コンデ
ンサ83が充電抵抗82を介して電源VCCにより充電され、
コンデンサ83の両端の電圧であるAGC電圧が大きくな
る。この時、充電時定数は、充電抵抗82及びコンデンサ
83によって決まる。充電抵抗82とコンデンサ83との接続
点Aに生じるAGC電圧が増幅度調整用の制御電圧としてV
CA77に帰還されるが、上記のようにAGC電圧が大きくな
れば、VCA77の増幅度は低下する。
Now, when the output amplitude of the clamping circuit 78 is greater than the reference voltage V 0, the output signal of the comparator 79 becomes high level, therefore, the output of the AND circuit 90 also becomes high level, the transistor 81 is turned on . Therefore, the capacitor 83 is charged by the power supply V CC via the charging resistor 82,
The AGC voltage, which is the voltage across capacitor 83, increases. At this time, the charging time constant is determined by the charging resistor 82 and the capacitor.
Determined by 83. The AGC voltage generated at the connection point A between the charging resistor 82 and the capacitor 83 is used as a control voltage for adjusting the amplification degree.
The signal is fed back to the CA77, but if the AGC voltage increases as described above, the amplification of the VCA77 decreases.

一方、クランプ回路78の出力振幅が基準電圧V0よりも
小さい場合には、コンパレータ79の出力信号、従って、
AND回路90の出力信号がローレベルとなり、トランジス
タ81はオフとなるので、コンデンサ83に蓄えられた電荷
が放電抵抗84を介して放電される。この時、放電時定数
は、放電抵抗84及びコンデンサ83によって決まる。コン
デンサ83の放電に伴って、AGC電圧が小さくなり、VCA77
の増幅度は大きくなる。
On the other hand, when the output amplitude of the clamping circuit 78 is lower than the reference voltage V 0, the output signal of the comparator 79, therefore,
Since the output signal of the AND circuit 90 becomes low level and the transistor 81 turns off, the electric charge stored in the capacitor 83 is discharged via the discharge resistor 84. At this time, the discharge time constant is determined by the discharge resistor 84 and the capacitor 83. As the capacitor 83 discharges, the AGC voltage decreases and the VCA77
Has a large amplification degree.

上記の説明からも明らかなように、S1・S2の加算信号
のピーク−ピーク値(P−P値)とAGC電圧との間に
は、第44図に示したような関係があり、同図に示す通常
振幅範囲においてAGC電圧は差動信号のピーク−ピーク
値に対して単調増加することがわかる。即ち、AGC電圧
の最大値・最小値が、加算信号のピーク−ピーク値の最
大値・最小値に対応する。なお、上記のクランプ回路78
は、全波整流回路でもよい。
As is clear from the above description, there is a relationship as shown in FIG. 44 between the peak-to-peak value (PP value) of the added signal of S1 and S2 and the AGC voltage. It can be seen that the AGC voltage monotonically increases with respect to the peak-to-peak value of the differential signal in the normal amplitude range shown in FIG. That is, the maximum value / minimum value of the AGC voltage corresponds to the maximum value / minimum value of the peak-to-peak value of the addition signal. Note that the above clamp circuit 78
May be a full-wave rectifier circuit.

次に、プリフォーマット用AGCアンプ65においてAGC電
圧をホールドする場合の動作につき述べる。但し、プリ
フォーマット用AGCアンプ65においてAGC電圧がホールド
されるのは、以下で述べる記録・消去時等のホールドを
必要とするモードにおいて光ヘッド1203(第9図)が各
セクタ3004におけるMO部3002を通過する期間のみであ
り、光ヘッド1203が各セクタ3004のプリフォーマット部
3003を通過する際には、仮に記録・消去時等であって
も、プリフォーマット部3003のアドレス情報等を再生す
る必要があるため、AGC電圧のホールドは解除される。
Next, the operation when the preformat AGC amplifier 65 holds the AGC voltage will be described. However, the reason why the AGC voltage is held in the preformat AGC amplifier 65 is that the optical head 1203 (FIG. 9) is operated by the MO unit 3002 in each sector 3004 in a mode that requires holding at the time of recording / erasing described below. Only during the period when the optical head 1203 passes through the preformat section of each sector 3004.
When passing through the 3003, the AGC voltage hold is released because it is necessary to reproduce the address information and the like of the preformat unit 3003 even during recording or erasing.

従って、プリフォーマット用AGCアンプ65におけるAGC
電圧の1回のホールド期間は1セクタ3004のMO部3002を
通過する期間となり、記録・消去等が複数のセクタ3004
に対して連続的に実施される場合は、各セクタ3004のプ
リフォーマット部3003とMO部3003において、AGC電圧の
オン(ホールド解除)とホールドが交互に繰り返され
る。
Therefore, the AGC in the preformat AGC amplifier 65
One hold period of the voltage is a period during which the voltage passes through the MO unit 3002 of one sector 3004, and recording / erasing is performed in a plurality of sectors 3004.
, The pre-format unit 3003 and the MO unit 3003 of each sector 3004 alternately turn on (hold release) and hold the AGC voltage.

プリフォーマット用AGCアンプ65において、AGC電圧を
ホールドする際には、前記のプリフォーマット用ホール
ドタイミング信号113をハイレベルとすると、インバー
タ91の出力信号がハイレベルからローレベルに反転す
る。それに伴って、AND回路90の出力信号がそれまでロ
ーレベル(即ち、コンパレータ79の出力信号がローレベ
ル)であれば以後もローレベルを維持し、AND回路90の
出力信号がそれまでハイレベル(即ち、コンパレータ79
の出力信号がハイレベル)であればローレベルに反転す
るので、トランジスタ81がそれまでオフであれば、オフ
状態を維持し、トランジスタ81がそれまでオンであれば
オフに切り替わる。
In the preformat AGC amplifier 65, when holding the AGC voltage, if the preformat hold timing signal 113 is set to the high level, the output signal of the inverter 91 is inverted from the high level to the low level. Accordingly, if the output signal of the AND circuit 90 is at a low level (that is, the output signal of the comparator 79 is at a low level), the output signal of the AND circuit 90 is maintained at a low level thereafter. That is, the comparator 79
If the output signal of the transistor 81 is at the high level), the signal is inverted to the low level. Therefore, if the transistor 81 has been turned off until then, the off state is maintained, and if the transistor 81 has been turned on so far, the transistor 81 is turned off.

従って、プリフォーマット用ホールドタイミング信号
113をハイレベルとすると、それ以後コンデンサ83に蓄
積された電荷が放電されることになるが、プリフォーマ
ット用AGCアンプ65における1回のホールド期間は1セ
クタ3004のMO部3002を通過する短い期間であるので、コ
ンデンサ83と放電抵抗84による放電時定数を充分に大き
く設定して置けば、上記した1回のホールド期間におけ
るコンデンサ83の電荷の変化量、つまり、AGC電圧の変
化量は極く僅かなものであるので、1回のホールド期間
においてAGC電圧はほぼ一定の値にホールドされていた
ものとみなすことができる。
Therefore, the preformat hold timing signal
When 113 is set to the high level, the electric charge accumulated in the capacitor 83 is discharged thereafter, but one hold period in the preformat AGC amplifier 65 is a short period passing through the MO unit 3002 of one sector 3004. Therefore, if the discharge time constant by the capacitor 83 and the discharge resistor 84 is set to be sufficiently large, the amount of change in the charge of the capacitor 83 during one hold period, that is, the amount of change in the AGC voltage is extremely small. Since it is slight, it can be considered that the AGC voltage is held at a substantially constant value during one hold period.

第46図〜第48図に関連して述べたように、AGCアンプ
の増幅度の変動により正確な再生が困難となるのは、記
録・消去時及びアクセス時である。そこで、プリフォー
マット用AGCアンプ65では、記録・消去時及びアクセス
時において、AGC電圧をホールド(但し、上記の如く、
各セクタ3004のMO部3002を通過する期間のみ)するよう
に設定している。
As described with reference to FIGS. 46 to 48, it is during recording / erasing and access that accurate reproduction becomes difficult due to fluctuations in the amplification degree of the AGC amplifier. Therefore, the preformat AGC amplifier 65 holds the AGC voltage at the time of recording / erasing and at the time of access (however, as described above,
(Only during the period of passing through the MO unit 3002 of each sector 3004).

第2図にプリフォーマット用AGCアンプ65におけるAGC
電圧のホールドタイミングを制御するための論理回路を
示す。
Fig. 2 shows the AGC in the preformat AGC amplifier 65.
1 shows a logic circuit for controlling voltage hold timing.

この論理回路はOR回路100からなり、OR回路100には記
録・消去タイミング信号94とアクセスタイミング信号95
とが入力される。記録・消去タイミング信号94は記録又
は消去時にハイレベル、それ以外でローレベルとなる信
号であり、アクセスタイミング信号95はアクセス時にハ
イレベル、それ以外でローレベルとなる信号である。従
って、OR回路100の出力信号として得られる、前記のプ
リフォーマット用ホールドタイミング信号113は、以下
の第2表からも明らかなように、記録・消去時又はアク
セス時にハイレベル(“1")、それ以外でローレベル
(“0")となる。
This logic circuit is composed of an OR circuit 100. The OR circuit 100 has a recording / erasing timing signal 94 and an access timing signal 95.
Is input. The recording / erasing timing signal 94 is a high level signal during recording or erasing, and is a low level signal at other times. The access timing signal 95 is a high level signal at the time of accessing, and a low level signal at other times. Accordingly, the preformat hold timing signal 113 obtained as an output signal of the OR circuit 100 has a high level (“1”) at the time of recording / erasing or access, as is clear from Table 2 below. Otherwise, it goes low ("0").

又、AGC電圧検出タイミング信号96は後述するテスト
ライト等のAGC電圧の検出時にハイレベル、それ以外で
ローレベルとなる信号であり、ここでは、このAGC電圧
検出タイミング信号96がそのままプリフォーマット用AG
C速度制御信号97として使用されている。
Further, the AGC voltage detection timing signal 96 is a signal which is at a high level when an AGC voltage is detected by a test write or the like to be described later and is at a low level at other times.
Used as the C speed control signal 97.

プリフォーマット用AGC速度制御信号97は、プリフォ
ーマット用AGCアンプ65の応答速度を、例えば、高速と
低速の2段階に切り替えるための信号であり、第2表に
示すように、AGC電圧の検出時には、プリフォーマット
用AGC速度制御信号97がハイレベル(“1")となり、プ
リフォーマット用AGCアンプ65の応答速度が高速とされ
る一方、AGC電圧の検出を行わない時にはプリフォーマ
ット用AGC速度制御信号97がローレベル(“0")とされ
てプリフォーマット用AGCアンプ65の応答速度が低速と
される。なお、第2表中の記号×は“1"又は“0"のいず
れでも良いことを示す。
The preformat AGC speed control signal 97 is a signal for switching the response speed of the preformat AGC amplifier 65 to, for example, two stages of high speed and low speed. As shown in Table 2, when the AGC voltage is detected, The pre-format AGC speed control signal 97 becomes high level ("1"), and the response speed of the pre-format AGC amplifier 65 is increased. On the other hand, when the AGC voltage is not detected, the pre-format AGC speed control signal 97 is set to the low level (“0”), and the response speed of the preformatting AGC amplifier 65 is reduced. Note that the symbol x in Table 2 indicates that either "1" or "0" may be used.

次に、プリフォーマット用AGCアンプ65の応答速度
を、例えば、高速と低速の2段階に切り替えるための回
路につき説明する。
Next, a circuit for switching the response speed of the preformat AGC amplifier 65 between, for example, two stages of high speed and low speed will be described.

第6図に示すように、応答速度変更手段としての役割
を有するこの回路は、AGC電圧のリセット機能をも有す
る応答速度変更兼リセット回路101として構成されてい
る。即ち、応答速度変更兼リセット回路101は、1対の
オープンコレクタ87・88と放電抵抗89とから構成されて
おり、オープンコレクタ88の出力は、プリフォーマット
用AGCアンプ65における充電抵抗82とコンデンサ83との
接続点Aに接続されている。
As shown in FIG. 6, this circuit serving as a response speed changing means is configured as a response speed changing / resetting circuit 101 also having an AGC voltage reset function. That is, the response speed change / reset circuit 101 is composed of a pair of open collectors 87 and 88 and a discharge resistor 89. The output of the open collector 88 is a charge resistor 82 and a capacitor 83 in the preformat AGC amplifier 65. Is connected to a connection point A.

オープンコレクタ87にはプリフォーマット用AGC速度
制御信号97が入力される一方、オープンコレクタ88には
プリフォーマット用AGCリセット信号102が入力されるよ
うになっている。前記プリフォーマット用AGC速度制御
信号97は、AGC電圧の検出時にハイレベルになる。この
時、オープンコレクタ87の出力はローレベルになり、第
4図の放電抵抗84と並列に放電抵抗89が接続されること
になる。この結果、コンデンサ83の放電に要する時間が
短縮される。
The open collector 87 receives a preformat AGC speed control signal 97, while the open collector 88 receives a preformat AGC reset signal 102. The preformat AGC speed control signal 97 goes high when an AGC voltage is detected. At this time, the output of the open collector 87 becomes low level, and the discharge resistor 89 is connected in parallel with the discharge resistor 84 in FIG. As a result, the time required for discharging the capacitor 83 is reduced.

一方、プリフォーマット用AGCリセット信号102は、シ
ステム起動時やシステム異常時等にハイレベルになる。
この時、放電抵抗84が短絡されることになるので、瞬時
に放電が完了する。
On the other hand, the preformat AGC reset signal 102 becomes high level when the system is activated or when the system is abnormal.
At this time, since the discharge resistor 84 is short-circuited, the discharge is completed instantaneously.

次に、第2のオートゲインコントロール部としての役
割を有するMO信号用AGCアンプ75のより具体的な構成を
説明する。第5図に示すように、MO信号用AGCアンプ75
の主要部はプリフォーマット用AGCアンプ65と同様に構
成されている。ここでは、同一の機能を有する部材には
同一の符号を付して説明を省略する。
Next, a more specific configuration of the MO signal AGC amplifier 75 serving as a second auto gain control unit will be described. As shown in FIG. 5, the MO signal AGC amplifier 75
Are configured in the same manner as the preformat AGC amplifier 65. Here, members having the same functions are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

MO信号用AGCアンプ75では、AGC電圧発生回路80で発生
されたAGC電圧がホールド回路93とアナログスイッチ94
の一方の接点94aとに入力されるようになっている。ホ
ールド回路93は、特許請求の範囲の欄の請求項第1項に
おける第2制御手段と同第3項におけるホールド手段と
しての役割を有し、例えば、A/Dコンバータと、その後
段に位置するD/Aコンバータとにより構成されて、所定
のタイミングでサンプルしたAGC電圧をそれ以後ホール
ドするようになっている。
In the MO signal AGC amplifier 75, the AGC voltage generated by the AGC voltage generation circuit 80 is applied to the hold circuit 93 and the analog switch 94.
And one of the contacts 94a. The hold circuit 93 has a role as a second control means in claim 1 and a function as hold means in claim 3 in the column of claims. For example, the hold circuit 93 is located in an A / D converter and a subsequent stage. The D / A converter is configured to hold the AGC voltage sampled at a predetermined timing thereafter.

ホールド回路93の出力信号はアナログスイッチ94の他
方の接点94bに入力される。ホールド回路93及びアナロ
グスイッチ94には、後述のMO信号用ホールドタイミング
信号103が供給され、このMO信号用ホールドタイミング
信号103がローレベルで、従って、MO信号用AGCアンプ75
におけるAGC電圧のホールドを行わない時には、図示の
如く、アナログスイッチ94の接点94a・94b間が開かれ
て、AGC電圧がそのままVCA77に帰還される。
The output signal of the hold circuit 93 is input to the other contact 94b of the analog switch 94. The hold circuit 93 and the analog switch 94 are supplied with a hold timing signal 103 for an MO signal, which will be described later, and the hold timing signal 103 for the MO signal is at a low level.
When the holding of the AGC voltage is not performed, the contacts 94a and 94b of the analog switch 94 are opened as shown in the figure, and the AGC voltage is directly fed back to the VCA 77.

なお、AGC電圧のホールドを行わない場合のクランプ
回路78及びAGC電圧発生回路80の動作は、VCA77への入力
信号がS1・S2の差動信号とされている以外はプリフォー
マット用AGCアンプ65におけるクランプ回路78及びAGC電
圧発生回路80の動作と同様であるので、ここでは詳細な
説明は省略する。
The operations of the clamp circuit 78 and the AGC voltage generation circuit 80 when the AGC voltage is not held are the same as those of the preformat AGC amplifier 65 except that the input signal to the VCA 77 is a differential signal of S1 and S2. Since the operation is the same as that of the clamp circuit 78 and the AGC voltage generation circuit 80, the detailed description is omitted here.

一方、後述する如く、記録・消去時等にAGC電圧がホ
ールドされる時には、アナログスイッチ94の接点94a・9
4bが閉じられて、ホールドされた一定のAGC電圧がVCA77
に帰還され、VCA77の増幅度が一定値に保持されるよう
になっている。ここで、MO信号用AGCアンプ75において
は、AGC電圧のホールドは各セクタ3004のプリフォーマ
ット部3003とMO部3002の双方に対して行われる。
On the other hand, as described later, when the AGC voltage is held during recording / erasing, etc., the contacts 94a and 9a of the analog switch 94
4b is closed and the held constant AGC voltage is VCA77
And the amplification degree of the VCA 77 is maintained at a constant value. Here, in the MO signal AGC amplifier 75, the holding of the AGC voltage is performed for both the preformat unit 3003 and the MO unit 3002 of each sector 3004.

なお、MO信号用AGCアンプ75にもプリフォーマット用A
GCアンプ65と同様の応答速度変更兼リセット回路101が
備えられる。又、ホールド回路93としては、上記したA/
Dコンバータ及びD/Aコンバータを有するものに替えて、
アナログ的なサンプルホールド回路を使用しても良い。
The AGC amplifier 75 for the MO signal also has the A
A response speed change / reset circuit 101 similar to the GC amplifier 65 is provided. Also, as the hold circuit 93, the above-mentioned A /
Instead of having a D converter and a D / A converter,
An analog sample-and-hold circuit may be used.

なお、ホールド回路93に代えて、アナログスイッチを
用いて一定電圧に固定する方式でも良い。この場合、実
際のAGC電圧とは多少のずれが生じるので、できるだけ
上記のずれが小さくなるように設定するのが良い。
Note that, instead of the hold circuit 93, a method of fixing the voltage at a constant voltage using an analog switch may be used. In this case, there is a slight deviation from the actual AGC voltage. Therefore, it is preferable to set the deviation so as to be as small as possible.

MO信号用AGCアンプ75においては、プリフォーマット
用AGCアンプ65と同様、記録・消去時及びアクセス時にA
GC電圧ホールドするとともに、MO部3002の再生時におい
て、情報パルス群の検出されない未記録領域でもAGC電
圧のホールドを行うものである。
In the AGC amplifier 75 for the MO signal, as in the AGC amplifier 65 for the preformat, the A
In addition to holding the GC voltage, the AGC voltage is also held during the reproduction of the MO unit 3002 even in an unrecorded area where no information pulse group is detected.

これは、前述したように、未記録領域でもMO信号用AG
Cアンプ75を作動させると、未記録領域では再生信号の
振幅がぼぼゼロレベルであるので、増幅度が最大レベル
近傍ので上昇し、次に、記録済領域に差し係った際に、
増幅度が過大となって正確な再生が行えない恐れがある
ためである。
As described above, this is because the MO signal AG
When the C-amplifier 75 is operated, the amplitude of the reproduced signal is almost zero level in the unrecorded area, so that the amplification increases near the maximum level, and then, when it is related to the recorded area,
This is because the degree of amplification may be excessive and accurate reproduction may not be performed.

一方、プリフォーマット部3002には、必ずアドレス等
の情報が記録されているので、プリフォーマット用AGC
アンプ65において、パルス群(記録済領域)の検出に基
づくAGC電圧のホールド/オンの制御は行わないもので
ある。なお、パルス群の検出を行うための回路について
は、後に詳述する。
On the other hand, since information such as an address is always recorded in the preformat unit 3002, the preformat AGC
The amplifier 65 does not control the hold / on of the AGC voltage based on the detection of the pulse group (recorded area). A circuit for detecting a pulse group will be described later in detail.

MO信号用AGCアンプ75におけるAGC電圧のホールドとオ
ンを切り替える論理回路は、第3図のように、NOR回路1
04とOR回路105とを備えている。NOR回路104にはパルス
群検出信号106とAGC電圧検出タイミング信号96とが入力
される。パルス群検出信号106は後述するように、MO部3
002におけるMO信号の記録済領域と未記録領域との判別
結果に基づいて生成される信号で、現在の再生位置がMO
信号によるパルス群の検出される記録済領域であればハ
イレベル、パルス群の検出されない未記録領域であれ
ば、ローレベルとなる。
A logic circuit for switching between holding and turning on the AGC voltage in the MO signal AGC amplifier 75 includes a NOR circuit 1 as shown in FIG.
04 and an OR circuit 105 are provided. A pulse group detection signal 106 and an AGC voltage detection timing signal 96 are input to the NOR circuit 104. As described later, the pulse group detection signal 106
002 is a signal generated based on the discrimination result between the recorded area and the unrecorded area of the MO signal.
The signal is at a high level in a recorded area where a pulse group is detected by a signal, and is at a low level in an unrecorded area where a pulse group is not detected.

OR回路105には、NOR回路104の出力信号と、上記した
記録・消去タイミング信号94と、アクセスタイミング信
号95とが入力され、このOR回路105の出力信号がMO信号
用ホールドタイミング信号103とされる。又、ここで
も、AGC電圧検出タイミング信号96がそのままMO信号用A
GC速度制御信号107とされる。この場合、各入力信号の
組合せに対し、MOデータ用ホールドタイミング信号及び
AGC速度制御信号は第3表の如く変化する。
The output signal of the NOR circuit 104, the above-described recording / erasing timing signal 94, and the access timing signal 95 are input to the OR circuit 105, and the output signal of the OR circuit 105 is used as the MO signal hold timing signal 103. You. Also here, the AGC voltage detection timing signal 96 is used as it is for the MO signal A.
This is the GC speed control signal 107. In this case, the MO data hold timing signal and
The AGC speed control signal changes as shown in Table 3.

即ち、MO信号用ホールドタイミング信号103は記録・
消去時、アクセス時及び再生モードにおいてMO(デー
タ)部3002にて情報パルス群の検出されない未記録領域
の再生時にハイレベルとなり、MO信号用AGCアンプ75のA
GC電圧が記録・消去等の開始直前の値にホールドされ
る。
That is, the MO signal hold timing signal 103 is recorded and
At the time of erasing, at the time of access, and in the reproduction mode, the MO (data) section 3002 becomes high level during reproduction of the unrecorded area where the information pulse group is not detected.
The GC voltage is held at the value immediately before the start of recording / erasing.

又、MO信号用ホールドタイミング信号103はインバー
タ91(第5図)にも入力され、これにより、コンンデン
サ83へは充電が行われなくなり、ホールド回路93の出力
がAGC電圧となる。
Also, the MO signal hold timing signal 103 is also input to the inverter 91 (FIG. 5), whereby the capacitor 83 is not charged, and the output of the hold circuit 93 becomes the AGC voltage.

ここで、各AGCアンプ65・75におけるAGC電圧のホール
ド/オンの切替え制御及びAGC電圧に基づく増幅度の調
整を行う場合の応答速度の切替え制御について、第1図
のフローチャートに基づいて、今1度説明すると、ま
ず、記録・消去時であるか否かが判定され(S1)、そう
であれば、両AGCアンプ65・75のAGC電圧がホールドされ
る(S2)。
Here, the switching control of the hold / on of the AGC voltage in each of the AGC amplifiers 65 and 75 and the switching control of the response speed when the amplification degree is adjusted based on the AGC voltage will be described with reference to the flowchart of FIG. More specifically, first, it is determined whether or not recording / erasing is being performed (S1). If so, the AGC voltages of both AGC amplifiers 65 and 75 are held (S2).

一方、S1で記録・消去時でなければ、アクセス時であ
るか否かが判定され(S3)、アクセス時であれば、両AG
Cアンプ65・75のAGC電圧がホールドされる(S2)。
On the other hand, if it is not at the time of recording / erasing at S1, it is determined whether or not it is at the time of access (S3).
The AGC voltage of the C amplifiers 65 and 75 is held (S2).

アクセス時でなければ、続いて、後述するテストライ
ト等のAGC電圧の検出時であるか否かが判定され(S
4)、そうであれば、応答速度を高速に設定した後(S
5)、両AGCアンプ65・75のAGC電圧をオンとする(S
6)。
If it is not the time of access, it is subsequently determined whether or not it is the time of detection of an AGC voltage of a test write described later (S
4) If so, set the response speed to high (S
5) Turn on the AGC voltage of both AGC amplifiers 65 and 75 (S
6).

一方、S4でAGC電圧の検出時でなければ、残るモード
は再生モードのみであるので、現在、MO部3002に記録さ
れた情報の再生が行われていることになる。その場合、
MO信号によるパルス群が検出されるか否かが判定され
(S7)、検出されれば、記録済領域の再生が行われてい
ることになるので、応答速度を低速に設定した後(S
8)、両AGCアンプ65・75のAGC電圧をオンとし、再生信
号の振幅に基づく増幅度の調整を行う(S6)。
On the other hand, if the AGC voltage is not detected in S4, the remaining mode is the reproduction mode only, and thus the information recorded in the MO unit 3002 is currently being reproduced. In that case,
It is determined whether or not a pulse group based on the MO signal is detected (S7). If detected, the recorded area is being reproduced, so that the response speed is set to low (S7).
8) The AGC voltages of both AGC amplifiers 65 and 75 are turned on, and the amplification is adjusted based on the amplitude of the reproduced signal (S6).

一方、S7でMO信号によるパルス群が検出されない場合
は、MO部3002における未記録領域を再生していることに
なるので、MO信号用AGCアンプ75のAGC電圧のみをホール
ドする(S2)。
On the other hand, if no pulse group due to the MO signal is detected in S7, it means that an unrecorded area in the MO unit 3002 is being reproduced, and only the AGC voltage of the AGC amplifier 75 for the MO signal is held (S2).

第8図において、Aで示すセクタ3004(同図(a))
にはMO部3002にMO信号の記録を行い、Bで示すセクタ30
04にはMO部3002に記録されたMO信号の再生を行い、Cで
示すセクタ3004ではMO部3002に記録されているMO信号の
消去を行うものとする。
In FIG. 8, sector 3004 indicated by A (FIG. 8 (a))
The MO signal is recorded in the MO section 3002 in the sector 30 shown by B.
In 04, the MO signal recorded in the MO section 3002 is reproduced, and in the sector 3004 indicated by C, the MO signal recorded in the MO section 3002 is erased.

その場合、Aのセクタ3004のMO部3003では再生信号S1
・S2(同図(b))の振幅が過大となるが、本実施例で
は、Aのセクタ3004のMO部3002では両AGCアンプ65・75
のAGC電圧がホールドされるので、次のBのセクタ3004
のプリフォーマット部3003の再生に際してプリフォーマ
ット用AGCアンプ65のAGC電圧(同図(d))はAのセク
タ3004のプリフォーマット部3003の再生終了時の値でホ
ールドされていたので、同図(c)のB1部に示すよう
に、Bのセクタ3004のプリフォーマット部3003の再生時
のプリフォーマット用AGCアンプ65の増幅度は適正な値
となり、Bのセクタ3004のプリフォーマット部3003の再
生は円滑に行われる。
In that case, the MO signal 3003 of the sector 3004 of A
The amplitude of S2 ((b) in the figure) becomes excessive, but in the present embodiment, both AGC amplifiers 65 and 75 are used in the MO section 3002 of the sector 3004 of A.
AGC voltage of the next B sector 3004
Since the AGC voltage of the preformatting AGC amplifier 65 ((d) in the figure) was held at the value at the time of the end of the reproduction of the preformatting section 3003 of the sector 3004 of A at the time of the reproduction of the preformat section 3003 of FIG. as shown in B 1 part of c), the amplification degree of the pre-formatted for the AGC amplifier 65 at the time of reproduction of the preformat portion 3003 of the sector 3004 of B becomes a proper value, the reproduction of the preformat portion 3003 of the sector 3004 of B Is performed smoothly.

同様に、消去を行うCのセクタ3004でも、MO部3002の
通過時に両AGCアンプ65・75のAGC電圧がホールドされる
ので、次のDのセクタ3004のプリフォーマット部3003の
再生も適正に行われる。
Similarly, since the AGC voltage of both AGC amplifiers 65 and 75 is held in the sector C 3004 to be erased when the signal passes through the MO unit 3002, the reproduction of the preformat unit 3003 of the next sector 3004 D is properly performed. Will be

又、再生を行うBのセクタ3004において、MO部3002に
MO信号によるパルス群が存在しないものとすると、Bの
セクタ3004のMO部3002の通過時にプリフォーマット用AG
Cアンプ65のAGC電圧はホールドされるので、次のCのセ
クタ3004のプリフォーマット部3003の再生も適正に行わ
れる。
Also, in the sector 3004 of B to be reproduced, the MO unit 3002
Assuming that no pulse group due to the MO signal exists, the preformat AG
Since the AGC voltage of the C amplifier 65 is held, the reproduction of the preformat section 3003 of the next C sector 3004 is also properly performed.

ところで、光磁気記録におけるマーク2809の大きさ
は、記録光量、記録パルス長や外部印加磁場2806等の記
録条件によって変化する。即ち、第39図(a)(b)に
示すように、記録パルスの振幅、つまり、記録光量が大
きくなると、記録されるマーク2809の大きさが大きくな
る(但し、記録パルス長は一定)。又、第40図(a)
(b)に示すように、記録パルスの振幅を一定値に保持
した状態で、記録パルス長を大きくしても、記録パルス
長にほぼ比例して記録されるマーク2809の大きさが大き
くなる。
Incidentally, the size of the mark 2809 in magneto-optical recording varies depending on recording conditions such as the recording light amount, the recording pulse length, and the externally applied magnetic field 2806. That is, as shown in FIGS. 39A and 39B, as the amplitude of the recording pulse, that is, the recording light amount increases, the size of the mark 2809 to be recorded increases (however, the recording pulse length is constant). FIG. 40 (a)
As shown in (b), even if the recording pulse length is increased in a state where the amplitude of the recording pulse is kept at a constant value, the size of the mark 2809 to be recorded increases almost in proportion to the recording pulse length.

このように、マーク2809の大きさにばらつきが生じる
と、再生データのエラーが発生することがある。例え
ば、第41図において、同図(a)に実線で示す大きさで
マーク2809を記録した記録条件下で同図(b)に実線で
再生信号を示すようにS/N比が最良である。それに対
し、記録する際、実線に応対する記録光量(又は記録パ
ルス長)よりも大きくても、逆に小さくても、従って、
同図(a)に点線で示すようにマーク2809の大きさが大
き過ぎても、小さ過ぎても、同図(b)中の点線で示す
ように、再生信号の振幅(ピーク−ピーク値)が小さく
なることがわかる(例えば、特開昭58−80138号公報参
照)。従って、エラーのない再生データを得るために
は、上記記録条件を常に最適に制御する必要がある。
As described above, if the size of the mark 2809 varies, an error in the reproduction data may occur. For example, in FIG. 41, under the recording condition in which the mark 2809 is recorded with the size shown by the solid line in FIG. 41A, the S / N ratio is the best as shown by the solid line in FIG. . On the other hand, when recording, whether the recording light amount (or recording pulse length) corresponding to the solid line is larger or conversely smaller,
Regardless of whether the size of the mark 2809 is too large or too small as shown by the dotted line in FIG. 7A, the amplitude (peak-peak value) of the reproduced signal is shown by the dotted line in FIG. (See, for example, JP-A-58-80138). Therefore, in order to obtain error-free reproduction data, it is necessary to always optimally control the recording conditions.

記録条件の最適制御については、所定の基本周波数を
有する記録情報を記録光量等を変えて光磁気メモリに試
験的に記録(テストライト)して、再生時の再生信号の
振幅が最大になる条件を求め、その時の記録条件で以後
の記録を行うことが知られている。ところで、その場
合、実際に再生信号の振幅を求めるためには、最大振
幅、エンベロープ又は1次及び2次高調波等を検出する
回路が必要となるので、回路構成が複雑になる問題があ
る。
The optimum control of the recording condition is a condition in which the recording information having a predetermined fundamental frequency is experimentally recorded (test-written) in the magneto-optical memory while changing the recording light amount or the like, and the amplitude of the reproduction signal at the time of reproduction is maximized. It is known that the following recording is performed under the recording conditions at that time. In this case, a circuit for detecting the maximum amplitude, the envelope, the first and second harmonics, and the like is required in order to actually obtain the amplitude of the reproduced signal, and thus there is a problem that the circuit configuration is complicated.

そこで、光磁気メモリ装置が、MO信号用AGCアンプ75
を備えている場合、MO信号用AGCアンプ75の増幅度を制
御するためのAGC電圧をサンプリングすることにより、
再生信号の振幅を求めることが考えられる。即ち、再生
信号の振幅が最大になる記録条件において、MO信号用AG
Cアンプの増幅度はほぼ最小に近いレベルになるものと
みなすことができるので、複数の記録条件でテストライ
トを行ってMO信号用AGCアンプ75の増幅度(AGC電圧によ
り定まる)が最小となる記録条件を求めれば、それがほ
ぼ最適記録条件であると判定することができる。
Therefore, the magneto-optical memory device is an AGC amplifier 75 for the MO signal.
Is provided, by sampling the AGC voltage for controlling the amplification of the MO signal AGC amplifier 75,
It is conceivable to determine the amplitude of the reproduction signal. That is, under the recording condition where the amplitude of the reproduced signal is maximized, the MO signal AG
Since the amplification degree of the C amplifier can be considered to be almost the minimum level, the amplification degree (determined by the AGC voltage) of the MO signal AGC amplifier 75 is minimized by performing test writing under a plurality of recording conditions. If the recording condition is obtained, it can be determined that the recording condition is almost the optimum recording condition.

第42図により具体的に説明すると、例えば同図(a)
にA〜Hで示す8個のセクタ3004をテストライトのため
の記録領域に使用し、同図(b)に示すように順次増加
する記録光量(又は記録パルス長)で各MO部3002にテス
トライトするものとする。
More specifically, referring to FIG. 42, for example, FIG.
The eight sectors 3004 indicated by A to H are used as recording areas for test writing, and a test is performed on each MO unit 3002 with a sequentially increasing recording light amount (or recording pulse length) as shown in FIG. Shall be written.

上記のようにして記録されたセクタ3004におけるMO部
3002の情報を再生すると、第42図(c)に示すように、
例えば、上記の再生信号S1・S2の差動信号からなるMO信
号が各セクタ3004毎に得られる。又、AGC電圧とMO信号
用AGCアンプ75の増幅度の間には、第43図に示す如く、A
GC電圧が増加するに伴って増幅度が減少する関係がある
ので、各セクタ3004のMO信号の振幅に対応して、AGC電
圧は、第42図(d)に示すように変化する。
MO section in sector 3004 recorded as above
When the information of 3002 is reproduced, as shown in FIG. 42 (c),
For example, an MO signal composed of a differential signal of the reproduction signals S1 and S2 is obtained for each sector 3004. As shown in FIG. 43, between the AGC voltage and the amplification degree of the MO signal AGC amplifier 75, A
Since the amplification degree decreases as the GC voltage increases, the AGC voltage changes as shown in FIG. 42 (d) according to the amplitude of the MO signal of each sector 3004.

即ち、MO信号の振幅が大きくなるにつれてAGC電圧が
増大し、それに伴って、MO信号用AGCアンプ75の増幅度
は小さくなる。なお、S1・S2の差動信号のピーク−ピー
ク値(P−P値)とAGC電圧との間には第44図に示すよ
うな関係があり、同図中の通常振幅範囲では、AGC電圧
は差動信号のピーク−ピーク値の増加に伴ってほぼ単調
増加するものである。
That is, as the amplitude of the MO signal increases, the AGC voltage increases, and accordingly, the degree of amplification of the MO signal AGC amplifier 75 decreases. Note that there is a relationship as shown in FIG. 44 between the peak-to-peak value (PP value) of the differential signal of S1 and S2 and the AGC voltage, and in the normal amplitude range in FIG. Is almost monotonically increasing as the peak-to-peak value of the differential signal increases.

各セクタ3004のAGC電圧は、第42図(e)に示すサン
プルタイミング(例えば、各パルスの立ち上がりエッ
ジ)でサンプリングされる。そして、AGC電圧の最大値
(MO信号の振幅が最大になる位置に対応)に対応する記
録光量(又は記録パルス長)が求められ、以後はこの記
録光量(又は記録パルス長)で記録・消去の各動作が行
われるものである。
The AGC voltage of each sector 3004 is sampled at the sample timing (for example, the rising edge of each pulse) shown in FIG. Then, the recording light amount (or recording pulse length) corresponding to the maximum value of the AGC voltage (corresponding to the position where the amplitude of the MO signal becomes maximum) is obtained, and thereafter, recording / erasing is performed using this recording light amount (or recording pulse length). Are performed.

上記の例においては、セクタE、F及びGを再生して
得られるMO信号用AGCアンプ75のAGC電圧は同レベルであ
り、セクタGの記録光量(又は記録パルス長)をそれよ
り大きくしても、又小さくしても、AGC電圧が減少する
(即ち、MO信号の振幅が減少する)ことがわかる。従っ
て、最適記録条件はセクタE、F及びGの記録光量(又
は記録パルス長)から決定される。
In the above example, the AGC voltage of the MO signal AGC amplifier 75 obtained by reproducing the sectors E, F and G is at the same level, and the recording light amount (or recording pulse length) of the sector G is made larger than that. It can be seen that the AGC voltage decreases (that is, the amplitude of the MO signal decreases) even if the amplitude is reduced. Therefore, the optimum recording conditions are determined from the recording light amounts (or recording pulse lengths) of the sectors E, F and G.

一般に、記録光量や記録パルス長などの記録条件を変
えると、それに伴って記録マーク長も変化し、第45図に
示すように、記録マーク長が同図中の破線で示す最適記
録条件に相当する長さより長い場合にも、逆に短い場合
にも、AGC電圧は小さくなり、S/N比は低下する。又、こ
の時ビットジッタは大きくなる。なお、説明の便宜上、
記録条件を変える際に、記録光量を変化させる時は記録
パルス長は一定とし、記録パルス長を変化させる時は記
録光量は一定としている。
Generally, when the recording conditions such as the recording light amount and the recording pulse length are changed, the recording mark length also changes, and the recording mark length corresponds to the optimum recording condition indicated by the broken line in FIG. 45, as shown in FIG. The AGC voltage becomes smaller and the S / N ratio is reduced when the length is longer than the length to be performed, or conversely, when the length is shorter. At this time, the bit jitter increases. For convenience of explanation,
When changing the recording conditions, the recording pulse length is fixed when changing the recording light amount, and the recording light amount is fixed when changing the recording pulse length.

上記のテストライトにおいて、例えば、記録光量を順
次変更するのであれば、前述の光量モニター回路1804
(第13図)を介して光量モニター信号1813が第31図に示
すコントローラ1208内のプロセッサ70に入力され、例え
ば、プロセッサ70内に備えられているRAM又はE2PROM等
の記憶素子に記憶される。
In the above test light, for example, if the recording light amount is to be sequentially changed, the aforementioned light amount monitoring circuit 1804 is used.
The light quantity monitor signal 1813 is input to the processor 70 in the controller 1208 shown in FIG. 31 via (FIG. 13), and is stored in a storage element such as a RAM or an E 2 PROM provided in the processor 70, for example. You.

そして、第42図(c)の如く、A〜Hのセクタ3004に
記録されたMO信号を順次再生する際、各セクタ3004毎に
MO信号用AGCアンプ75のAGC電圧がサンプリングされ、上
記の記憶素子に記憶される。
Then, as shown in FIG. 42 (c), when the MO signals recorded in the sectors 3004 from A to H are sequentially reproduced,
The AGC voltage of the MO signal AGC amplifier 75 is sampled and stored in the storage element.

そして、AGC電圧が最大になる時の最適記録条件が求
められ、以後に、記録に際しては、上記の最適記録条件
に対応した記録・消去光量制御信号1811及び記録パルス
長制御信号がプロセッサ70から出力される。
Then, an optimum recording condition when the AGC voltage is maximized is obtained, and thereafter, at the time of recording, a recording / erasing light amount control signal 1811 and a recording pulse length control signal corresponding to the above-mentioned optimum recording condition are output from the processor 70. Is done.

記録・消去光量制御信号1811は前述の記録・消去光量
制御回路1803(第13図)に入力され、記録時・消去時に
対応する半導体レーザ2801の光量が制御されるようにな
っている。一方、パルス長制御信号は前述の変調回路13
02に送られ、これに基づいて、変調データが制御され
る。
The recording / erasing light amount control signal 1811 is input to the recording / erasing light amount control circuit 1803 (FIG. 13), so that the light amount of the semiconductor laser 2801 corresponding to recording / erasing is controlled. On the other hand, the pulse length control signal is
02, and the modulation data is controlled based on this.

即ち、第32図に示すように、コントローラ1208から送
られた記録データ1311は変調回路1302内の変調部71に入
力される。変調部71では、例えば、第1表に示したよう
な2,7変調方式に従って、タイミング信号に同期して変
調が行われる。変調された記録データ1311は、記録フォ
ーマット部72において、タイミング信号に同期して記録
フォーマットに適合するように処理され、更に記録パル
ス長制御部73において上述のパルス長制御信号に基づい
て変調データ1310が生成される。
That is, as shown in FIG. 32, the recording data 1311 sent from the controller 1208 is input to the modulation unit 71 in the modulation circuit 1302. The modulation unit 71 performs modulation in synchronization with the timing signal, for example, according to the 2,7 modulation scheme as shown in Table 1. The modulated recording data 1311 is processed in the recording format section 72 in synchronization with the timing signal so as to conform to the recording format, and further in the recording pulse length control section 73 based on the above-described pulse length control signal. Is generated.

この変調データ1310は第13図の半導体レーザ駆動回路
1301へ出力され、半導体レーザ駆動回路1301からは半導
体レーザ駆動電流1210が出力され、光ヘッド1203内の半
導体レーザ2801へ伝送される。このようにして記録パル
ス長を制御することができる。
This modulation data 1310 is used for the semiconductor laser drive circuit shown in FIG.
The semiconductor laser drive circuit 1301 outputs the semiconductor laser drive current 1210 to the semiconductor laser drive circuit 1301, and transmits the semiconductor laser drive current 1210 to the semiconductor laser 2801 in the optical head 1203. Thus, the recording pulse length can be controlled.

以下、MO部3003にMO信号によるパルス群が存在するか
否かを検出するためのパルス群検出回路につき述べる。
Hereinafter, a pulse group detection circuit for detecting whether or not a pulse group due to the MO signal exists in the MO unit 3003 will be described.

即ち、第23図に示すように、パルス群検出回路17は、
例えば、リトリガブルパルス発生回路16からなり、リト
リガブルパルス発生回路16にはMO信号用AGCアンプ75で
増幅されたMO信号を2値化する2値化回路76の出力信号
であるMO2値化信号2511が入力されるようになってい
る。
That is, as shown in FIG. 23, the pulse group detection circuit 17
For example, a retriggerable pulse generator 16 includes a retriggerable pulse generator 16 which outputs an MO2 value, which is an output signal of a binarization circuit 76 that binarizes the MO signal amplified by the MO signal AGC amplifier 75. The conversion signal 2511 is input.

パルス群検出回路17はMO2値化信号2511中にパルス群
が存在するとτ秒間だけ前記パルス群検出信号106(第3
0図(c)参照)をハイレベルとする。パルス群検出回
路17はリトリガブルパルス発生回路16からなっているの
で、MO2値化信号2511において、前のパルスが入力され
てからτ秒以内に次のパルスが入力されると、引き続い
てτ秒間パルス群検出信号106がハイレベルとされる。
When a pulse group exists in the MO binarized signal 2511, the pulse group detection circuit 17 outputs the pulse group detection signal 106 (third
0 (see FIG. 7C) is set to a high level. Since the pulse group detection circuit 17 includes the retriggerable pulse generation circuit 16, if the next pulse is input within τ seconds after the input of the previous pulse in the MO binarized signal 2511, The pulse group detection signal 106 for a second is set to a high level.

第24図にリトリガブルパルス発生回路16の1つの構成
例を示す。ここではリトリガブルパルス発生回路16がワ
ンショットマルチバイブレータ18にて構成されている。
パルス群検出信号106をハイレベルとする時間τは、抵
抗RとコンデンサCにより設定される。具体的には、τ
はRCに比例する。
FIG. 24 shows one configuration example of the retriggerable pulse generation circuit 16. Here, the retriggerable pulse generating circuit 16 is constituted by a one-shot multivibrator 18.
The time τ during which the pulse group detection signal 106 is set to the high level is set by the resistor R and the capacitor C. Specifically, τ
Is proportional to RC.

第25図はリトリガブルパルス発生回路16としてシフト
レジスタ19を使用した構成例である。シリアル入力端子
INはハイレベルとされ、クロック入力端子CKには周波数
fcのクロックを入力し、シフト出力端子QNバーのN番目
の出力を記録済領域検出信号Pとする。又、MO2値化信
号2511はクリア端子CLに入力される。なお、この場合τ
=N×(1/fc)となる。
FIG. 25 is a configuration example using a shift register 19 as the retriggerable pulse generation circuit 16. Serial input terminal
IN is at the high level, and the clock input terminal CK has the frequency
Enter the clock f c, the N-th output of the shift output terminal QN bar and a recorded area detection signal P. The MO binarization signal 2511 is input to the clear terminal CL. In this case, τ
= N × (1 / f c ).

第26図はリトリガブルパルス発生回路16としてN分周
カンウンタ20を使用した例である。クリア端子CLに2値
化MO信号2511を入力し、出力端子OUTバーの出力をパル
ス群検出信号106とし、このパルス群検出信号106はAND
回路21の一方の入力端子にも入力される。又、AND回路2
1の他方の入力端子には周波数fcのクロックが入力さ
れ、AND回路21の出力がN分周カウンタ20のクロック端
子CKに入力される。この場合もτ=N×(1/fc)とな
る。
FIG. 26 shows an example in which a divide-by-N counter 20 is used as the retriggerable pulse generating circuit 16. The binarized MO signal 2511 is input to the clear terminal CL, the output of the output terminal OUT bar is used as the pulse group detection signal 106, and the pulse group detection signal 106 is ANDed.
The signal is also input to one input terminal of the circuit 21. Also, AND circuit 2
Clock frequency f c is input to the 1 of the other input terminal, the output of the AND circuit 21 is inputted to the clock terminal CK of the divide-by-N counter 20. Also in this case, τ = N × (1 / f c ).

第30図(a)にMO信号用AGCアンプ75の出力信号の一
例を、同図(b)に2値化回路76にて2値化されたMO2
値化信号2511の一例を、同図(c)にMO2値化信号2511
に基づいて生成されるパルス群検出信号106の一例を示
す。
FIG. 30 (a) shows an example of the output signal of the MO signal AGC amplifier 75, and FIG. 30 (b) shows the MO2 binarized by the binarization circuit 76.
An example of the binarized signal 2511 is shown in FIG.
5 shows an example of the pulse group detection signal 106 generated based on.

ここで、MO2値化信号2511において1つのパルスが存
在している場合にパルス群検出信号106をハイレベルと
する時間τは、MO2値化信号106における隣接するパルス
の最大パルス間隔Tmaxより大きくなるように設定されて
いる。その結果、パルス群検出回路17の出力であるパル
ス群検出信号106としては同図(c)の如く、MO信号用A
GCアンプ75の出力信号におけるMO信号によるパルス群の
記録済領域にほぼ等しい信号が得られるものである。
Here, when one pulse is present in the MO binarized signal 2511, the time τ during which the pulse group detection signal 106 is set to the high level is longer than the maximum pulse interval T max between adjacent pulses in the MO binarized signal 106. It is set to be. As a result, as the pulse group detection signal 106 output from the pulse group detection circuit 17, as shown in FIG.
A signal substantially equal to the recorded area of the pulse group by the MO signal in the output signal of the GC amplifier 75 can be obtained.

次に、パルス群検出回路の変形例を示す。 Next, a modified example of the pulse group detection circuit will be described.

この変形例はMO信号によるパルス群の未記録領域中に
第30図(a)に点線S又はTで示すようなディフェクト
パルスが存在していた場合に、このディフェクトパルス
に基づいて同図(c)に点線U又はVで示すようにパル
ス群検出信号106が誤ってハイレベルとされ、MO信号の
再生に誤りが生じることがないように対策したものであ
る。
This modification is based on the case where a defect pulse as shown by a dotted line S or T in FIG. 30 (a) exists in the unrecorded area of the pulse group by the MO signal, based on this defect pulse (c). The countermeasure is taken so that the pulse group detection signal 106 is not erroneously set to the high level as shown by the dotted line U or V in FIG.

すなわち、変形例におけるパルス群検出回路17は、第
27図に示すように、適宜のリトリガブルパルス発生回路
22と先頭パルス除去回路23とにより構成されている。先
頭パルス除去回路23はMO2値化信号2511中の先頭のM個
のパルスについてリトリガブルパルス発生回路22の出力
を無効とするための回路である。
That is, the pulse group detection circuit 17 in the modified example
As shown in Figure 27, an appropriate retriggerable pulse generator
22 and a leading pulse removing circuit 23. The leading pulse removing circuit 23 is a circuit for invalidating the output of the retrigable pulse generating circuit 22 for the leading M pulses in the MO binarized signal 2511.

第28図に先頭パルス除去回路23の具体的な構成例を示
す。ここではリトリガブルパルス発生回路22の前段に先
頭パルス除去回路23としてM進カウンタ24を配置し、MO
2値化信号2511中の先頭のM個のパルスを除去するよう
にしている。このM進カウンタ24に代えてMシフトレジ
スタを使用しても良い。
FIG. 28 shows a specific configuration example of the leading pulse removing circuit 23. Here, an M-ary counter 24 is arranged as a leading pulse removing circuit 23 at a stage preceding the retriggerable pulse generating circuit 22,
The first M pulses in the binary signal 2511 are removed. Instead of the M-ary counter 24, an M shift register may be used.

第29図は先頭パルス除去回路23の他の構成例であり、
ここでは、リトリガブルパルス発生回路22の後段に先頭
パルス除去回路23としてのシフトレジスタ25を配置し、
リトリガブルパルス発生回路22の出力をシフトレジスタ
25のクリア端子CLバーに入力し、シフトレジスタ25のク
ロック端子CKにMO2値化信号2511を入力し、M番目のシ
フト出力QMをパルス群検出信号106′としている。
FIG. 29 shows another configuration example of the leading pulse removing circuit 23.
Here, a shift register 25 as a leading pulse removal circuit 23 is disposed after the retriggerable pulse generation circuit 22,
Shift register output of retriggerable pulse generation circuit 22
25, and the MO binarized signal 2511 is input to the clock terminal CK of the shift register 25, and the M-th shift output QM is used as the pulse group detection signal 106 '.

ここで、M=1、つまり、MO2値化信号2511中の先頭
の1個のパルスのみについてリトリガブルパルス発生回
路22の出力を無効とする場合を例に挙げて、タイミング
制御の説明を行う。
Here, the timing control will be described with an example of M = 1, that is, the case where the output of the retriggerable pulse generation circuit 22 is invalidated for only the first pulse in the MO binarized signal 2511. .

第30図(a)に示すように、MO信号の未記録領域にお
けるディフェクトパルスが1パルスのみであれば、この
ディフェクトパルスは先頭パルス除去回路23により無効
とされるので、第30図(d)に示すように、ディフェク
トパルスに基づいてパルス群検出信号106′がハイレベ
ルとされることはない。
As shown in FIG. 30 (a), if there is only one defect pulse in the unrecorded area of the MO signal, this defect pulse is invalidated by the leading pulse removing circuit 23, so that FIG. 30 (d) As shown in (1), the pulse group detection signal 106 'is not set to the high level based on the defect pulse.

又、MO信号によるパルス群の記録済領域においては、
パルス群検出信号がハイレベルとされるタイミングが1
パルス分だけ遅れることになるが、例えば、AGC電圧の
ホールドタイミングとしては数パルス分程度の遅れは何
ら悪影響を与えない。従って、AGCの動作の信頼性が低
下することはない。
In the recorded area of the pulse group by the MO signal,
The timing when the pulse group detection signal is set to the high level is 1
Although it is delayed by a pulse, for example, as a hold timing of the AGC voltage, a delay of about several pulses has no adverse effect. Therefore, the reliability of the operation of the AGC does not decrease.

なお、以上の実施例では、アクセス時に両AGCアンプ6
5・75のAGC電圧をホールドするようにしたが、前述した
ように、アクセス速度が比較的低速である場合は、必ず
しもAGC電圧のホールドを行う必要はない。
In the above embodiment, both AGC amplifiers 6
Although the AGC voltage of 5.75 is held, as described above, it is not always necessary to hold the AGC voltage when the access speed is relatively low.

又、上記の実施例では、2種類の再生信号S1・S2を加
算及び差動することにより、プリフォーマット部3003及
びMO部3002の信号を得るようにしたが、再生信号は元々
1種類のみとしても良い。
Further, in the above embodiment, the signals of the preformat unit 3003 and the MO unit 3002 are obtained by adding and differentiating the two types of reproduction signals S1 and S2. Is also good.

更に、上記の実施例では、光メモリの一例として、光
磁気ディスク1201を取り挙げて説明したが、それ以外に
情報の書替えが可能な相変化型の光ディスク又は1回の
み所望の情報の記録が行える追記型の光ディスク等に記
録又は再生等を行う光メモリ装置用のオートゲインコン
トロール装置にも本発明の適用が可能である。
Further, in the above-described embodiment, the magneto-optical disk 1201 has been described as an example of the optical memory. However, other than that, a phase-change type optical disk on which information can be rewritten or desired information can be recorded only once. The present invention is also applicable to an auto gain control device for an optical memory device that performs recording or reproduction on a write-once optical disk or the like.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明の第1の態様に係る光メモリ装置のオートゲイ
ンコントロール装置は、以上のように、光メモリに記
録、消去又は再生を行う光メモリ装置に設けられ、再生
信号の振幅に応じて発生される制御電圧に基づき、増幅
度を調整するようにした光メモリ装置のオートゲインコ
ントロール装置において、記録又は消去時に上記制御電
圧をホールドする第1制御手段と、再生時に情報の記録
済領域を判定する記録済領域判定手段と、この記録済領
域判定手段の判定に基づき、情報の未記録領域で上記制
御電圧をホールドする第2制御手段とを備え、上記第1
制御手段は、上記第2手段に対し優先して上記制御電圧
をホールドするようになっている構成である。
As described above, the automatic gain control device of the optical memory device according to the first aspect of the present invention is provided in the optical memory device that performs recording, erasing, or reproduction on the optical memory, and the control voltage generated according to the amplitude of the reproduction signal. A first control means for holding the control voltage during recording or erasing, and a recorded area determination for determining a recorded area of information at the time of reproduction. Means, and second control means for holding the control voltage in an unrecorded area of the information based on the determination by the recorded area determination means.
The control means is configured to hold the control voltage in preference to the second means.

これにより、記録又は消去時に上記制御電圧をホール
ドするようにしたので、記録又は消去時にはオートゲイ
ンコントロール装置の増幅度は記録又は消去開始前の値
のままで保持されることになる。従って、記録又は消去
の終了直後の再生開始時の増幅度は前回の再生終了時と
同一の増幅度となるので、記録又は消去の終了直後の再
生時にもほぼ適正な増幅度で再生信号の増幅を行えるよ
うになる。そのため、記録又は消去の終了直後の再生エ
ラーを減少させることができるようになる。
Thus, the control voltage is held at the time of recording or erasing, so that at the time of recording or erasing, the amplification degree of the automatic gain control device is maintained at the value before the start of recording or erasing. Therefore, the amplification at the start of reproduction immediately after the end of recording or erasing is the same as that at the end of the previous reproduction. Can be performed. Therefore, it is possible to reduce a reproduction error immediately after the end of recording or erasing.

ところで、光メモリにおける情報の未記録領域では、
再生信号の振幅が低レベルとなるので、未記録領域が連
続して存在すると、オートゲインコントロール装置の増
幅度は次第に最大値近傍まで上昇する。その場合、未記
録領域を通過して記録済領域に差し掛かった時に、増幅
度が過大なレベルとなったままであるので、正常な再生
が行いにくくなるものである。
By the way, in an unrecorded area of information in the optical memory,
Since the amplitude of the reproduction signal is low, if the unrecorded area exists continuously, the amplification of the automatic gain control device gradually increases to near the maximum value. In this case, when passing through an unrecorded area and approaching a recorded area, the amplification degree remains at an excessive level, so that normal reproduction becomes difficult.

そこで、再生時の情報の記録領域を判定する記録済領
域判定手段と、この記録済領域判定手段の判定に基づ
き、情報の未記録領域で上記制御電圧をホールドする第
2制御手段とを付加し、上記第1制御手段は、上記第2
制御手段に対し優先して上記制御電圧をホールドするよ
うにすれば、未記録領域を通過している際には増幅度が
前回の記録済領域の再生時の増幅度のままで保持される
ので、次に、記録済領域に差し掛かった直後にもほぼ適
正な増幅度で再生信号の増幅を行えるようになる。
Therefore, a recorded area determining means for determining a recording area of information at the time of reproduction and a second control means for holding the control voltage in an unrecorded area of information based on the determination of the recorded area determining means are added. , The first control means includes:
If the control voltage is held in preference to the control means, the amplitude is maintained as it was when the previous recorded area was reproduced when passing through the unrecorded area. Next, the reproduced signal can be amplified with a substantially appropriate amplification degree immediately after the recording area is approached.

更に、上記本発明の第1の態様において、応答速度を
多段階に変更する応答速度変更手段を設ければ、例え
ば、上記のテストライト時のようなオートゲインコント
ロール装置の制御電圧(前述のAGC電圧に相当)の検出
時等にはオートゲインコントロール装置の応答速度を上
昇させることにより、例えば、セクタ単位等の微小間隔
での再生信号の振幅の変化にも対応できるようになる。
一方、通常の情報の再生時等には、応答速度を低めに設
定することにより、ディフェクトパルス等の影響を少な
くして再生エラーを減少させることができるようにな
る。
Further, in the first aspect of the present invention, if a response speed changing means for changing the response speed in multiple stages is provided, for example, the control voltage (eg, the above-described AGC When the response speed of the automatic gain control device is increased at the time of detection of a voltage, etc., it is possible to cope with a change in the amplitude of the reproduction signal at a minute interval such as a sector unit.
On the other hand, when normal information is reproduced, by setting a low response speed, the influence of a defect pulse or the like can be reduced to reduce a reproduction error.

又、本発明の第2の態様に係る光メモリ装置のオート
ゲインコントロール装置は、予めアドレス等が記録され
たプリフォーマット部と任意のデータが記録可能なデー
タ部とを有する光メモリに記録、消去又は再生を行う光
メモリ装置に設けられ、再生信号の振幅に応じて発生さ
れる制御電圧に基づき、ゲインを調整するようした光メ
モリ装置のオートゲインコントロール装置において、上
記プリフォーマット部から再生される再生信号のゲイン
を調整する第1のオートゲインコントロール部と、上記
データ部から再生される再生信号のゲインを調整する第
2のオートゲインコントロール部とを備え、かつ、上記
第2のオートゲインコントロール部のみに再生時に情報
の記録済領域を判定する記録済領域判定手段と、この記
録済領域判定手段の判定に基づき、情報の未記録領域で
上記制御電圧をホールドするホールド手段とが設けられ
ている構成である。
Further, the automatic gain control device of the optical memory device according to the second aspect of the present invention provides a method of recording, erasing or reproducing data in an optical memory having a preformat portion in which addresses and the like are recorded in advance and a data portion in which arbitrary data can be recorded In the automatic gain control device of the optical memory device, which is provided in the optical memory device for performing the control and adjusts the gain based on the control voltage generated according to the amplitude of the reproduced signal, the gain of the reproduced signal reproduced from the preformat unit is adjusted. And a second auto gain control section for adjusting the gain of a reproduction signal reproduced from the data section, and reproducing only the second auto gain control section. A recorded area determining means for determining a recorded area of information at Based on constant, an unrecorded area of the information is a configuration in which the holding means for holding the control voltage is provided.

このように、第2の態様では、光メモリをプリフォー
マット部とデータ部とに分割する場合、データ部には、
通常、記録済領域と未記録領域とが存在するが、プリフ
ォーマット部には必ずアドレス等の情報が記録されてい
るので、プリフォーマット部では、通常、記録済領域と
未記録領域との判定及びオートゲインコントロール装置
のホールドが不要であることに鑑み、プリフォーマット
部から再生される再生信号の増幅度を調整する第1のオ
ートゲインコントロール部と、データ部から再生される
再生信号の増幅度を調整する第2のオートゲインコント
ロール部とを設け、第2のオートゲインコントロール部
のみに再生時に情報の記録済領域を判定する記録済領域
判定手段と、この記録済領域判定手段の判定に基づき、
情報の未記録領域で上記制御電圧をホールドするホール
ド手段を設けたものである。
As described above, in the second embodiment, when the optical memory is divided into the preformat section and the data section, the data section includes:
Normally, there are a recorded area and an unrecorded area. However, since information such as an address is always recorded in the preformat section, the preformat section usually determines the recorded area and the unrecorded area. In view of the fact that it is not necessary to hold the auto gain control device, a first auto gain control unit that adjusts the amplification degree of the reproduction signal reproduced from the preformat unit, and the amplification degree of the reproduction signal reproduced from the data unit A second automatic gain control unit for adjusting, a recorded area determination unit for determining a recorded area of information only at the time of reproduction only in the second auto gain control unit, and based on the determination of the recorded area determination unit,
A holding means for holding the control voltage in an unrecorded area of information is provided.

その結果、プリフォーマット部用の第1のオートゲイ
ンコントロール部には記録済領域判定手段及びホールド
手段は不要となるので、プリフォーマット部用の第1の
オートゲインコントロール部の構成を簡略化することが
できる。
As a result, the recorded area determining means and the holding means are not required in the first auto gain control section for the preformat section, so that the configuration of the first auto gain control section for the preformat section is simplified. Can be.

更に、上記本発明の第2の態様において、第1のオー
トゲインコントロール部の応答速度を多段階に変更する
応答速度変更手段を設ければ、例えば、上記のテストラ
イト時のようなオートゲインコントロール装置の制御電
圧の検出時等には第1のオートゲインコントロール部の
応答速度を上昇させることにより、例えば、セクタ単位
等の微小間隔での再生信号の振幅の変化にも対応できる
ようになる。一方、通常の情報の再生時等には、応答速
度を低めに設定することにより、ディフェクトパルス等
の影響を少なくして再生エラーを減少させることができ
るようになる。
Further, in the second aspect of the present invention, if a response speed changing means for changing the response speed of the first auto gain control unit in multiple stages is provided, for example, the automatic gain control as in the above-described test write is performed. By increasing the response speed of the first auto gain control unit when detecting the control voltage of the apparatus, for example, it is possible to cope with a change in the amplitude of the reproduced signal at minute intervals such as in units of sectors. On the other hand, when normal information is reproduced, by setting a low response speed, the influence of a defect pulse or the like can be reduced to reduce a reproduction error.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図乃至第32図及び第39図乃至第45図は本発明の一実
施例を示すものである。 第1図はAGCアンプにおけるAGC電圧のホールド制御の手
順を示すフローチャートである。 第2図はプリフォーマット用AGCアンプにおけるAGC電圧
のホールド制御を行う論理回路を示す説明図である。 第3図はMO信号用AGCアンプにおけるAGC電圧のホールド
制御を行う論理回路を示す説明図である。 第4図はプリフォーマット用AGCアンプを示す回路図で
ある。 第5図はMO信号用AGCアンプを示す回路図である。 第6図は応答速度変更兼リセット回路を示す回路図であ
る。 第7図(a)はプリフォーマット波形処理部を示すブロ
ック図である。 同図(b)はMO波形処理部を示すブロック図である。 第8図は再生信号、VCA出力信号及びAGC電圧等の関係を
示す説明図である。 第9図は光磁気ディスク装置の概略構成を示す説明図で
ある。 第10図は記録回路を示すブロック図である。 第11図は再生回路を示すブロック図である。 第12図はコントローラの要部を示すブロック図である。 第13図は半導体レーザ駆動回路を示すブロック図であ
る。 第14図は高周波重畳スイッチ信号等の記録時における切
替えタイミングを示す説明図である。 第15図は高周波重畳スイッチ信号等の再生時における切
替えタイミングを示す説明図である。 第16図はタイミング発生回路を示すブロック図である。 第17図はセクタマーク検出回路の構成を示すブロック図
である。 第18図はセクタマークの検出手順を示す説明図である。 第19図はタイミング発生回路における各部の波形を示す
説明図である。 第20図は信号処理回路の構成を示すブロック図である。 第21図は信号処理回路における各部の波形を示す説明図
である。 第22図はマーク及び非マークと再生信号の関係等を示す
説明図である。 第23図はパルス群検出回路の一般的な構成を示す説明図
である。 第24図乃至第26図はそれぞれパルス群検出回路の具体例
を示す説明図である。 第27図はパルス群検出回路の他の一番的構成を示す説明
図である。 第28図及び第29図はそれぞれ第27図に対応するパルス群
検出回路の具体例を示す説明図である。 第30図は各種信号と記録済領域及び未記録領域との関係
を示す説明図である。 第31図はコントローラの要部を示すブロック図である。 第32図は変調回路を示すブロック図である。 第39図はマークの大きさと記録光量との関係を示す説明
図である。 第40図はマークの大きさと記録パルス長との関係を示す
説明図である。 第41図はマークの大きさと再生信号の振幅との関係を示
す説明図である。 第42図はテストライトの手順を示す説明図である。 第43図はAGC電圧の増幅度との関係を示すグラフであ
る。 第44図は信号振幅のP−P値とAGC電圧との関係を示す
グラフである。 第45図はマーク長と各種特性との関係を示すグラフであ
る。 第33図乃至第38図及び第46図乃至第48図は従来例を示す
ものである。 第33図は光磁気ディスク装置における記録動作を示す説
明図である。 第34図は光磁気ディスク装置における再生動作を示す説
明図である。 第35図は光磁気ディスクの概略平面図である。 第36図は第35図の要部拡大図である。 第37図は再生処理系を示す説明図である。 第38図(a)はMO部における2つの再生信号の極性の関
係を示す説明図である。 第38図(b)はプリフォーマット部における2つの再生
信号の極性の関係を示す説明図である。 第46図は再生信号とVCA出力信号等の関係を示す説明図
である。 第47図はアクセス動作を示す斜視説明図である。 第48図はアクセス時及び再生時における再生信号波形を
示す説明図である。 17はパルス群検出回路(記録済領域検出手段)、65はプ
リフォーマット用AGCアンプ(第1のオートゲインコン
トロール部)、75はMO信号用AGCアンプ(第2のオート
ゲインコントロール部)、91はインバータ(第1の制御
手段)、93はホールド回路(第2制御手段又はホールド
手段)101は応答速度変更兼リセット回路(応答速度変
更手段)、1201は光磁気ディスク(光メモリ)、3002は
MO部(データ部)、3003はプリフォーマット部である。
FIGS. 1 to 32 and FIGS. 39 to 45 show an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a flowchart showing a procedure of AGC voltage hold control in the AGC amplifier. FIG. 2 is an explanatory diagram showing a logic circuit for performing AGC voltage hold control in the preformat AGC amplifier. FIG. 3 is an explanatory diagram showing a logic circuit for performing AGC voltage hold control in the MO signal AGC amplifier. FIG. 4 is a circuit diagram showing a preformat AGC amplifier. FIG. 5 is a circuit diagram showing an AGC amplifier for MO signals. FIG. 6 is a circuit diagram showing a response speed changing and resetting circuit. FIG. 7A is a block diagram showing a preformat waveform processing unit. FIG. 1B is a block diagram showing the MO waveform processing unit. FIG. 8 is an explanatory diagram showing a relationship among a reproduction signal, a VCA output signal, an AGC voltage, and the like. FIG. 9 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a magneto-optical disk device. FIG. 10 is a block diagram showing a recording circuit. FIG. 11 is a block diagram showing a reproducing circuit. FIG. 12 is a block diagram showing a main part of the controller. FIG. 13 is a block diagram showing a semiconductor laser drive circuit. FIG. 14 is an explanatory diagram showing switching timing at the time of recording of a high-frequency superposition switch signal and the like. FIG. 15 is an explanatory diagram showing switching timing at the time of reproducing a high-frequency superimposed switch signal and the like. FIG. 16 is a block diagram showing a timing generation circuit. FIG. 17 is a block diagram showing a configuration of a sector mark detection circuit. FIG. 18 is an explanatory diagram showing a procedure for detecting a sector mark. FIG. 19 is an explanatory diagram showing waveforms at various parts in the timing generation circuit. FIG. 20 is a block diagram showing a configuration of a signal processing circuit. FIG. 21 is an explanatory diagram showing waveforms at various parts in the signal processing circuit. FIG. 22 is an explanatory diagram showing a relationship between a mark and a non-mark and a reproduction signal and the like. FIG. 23 is an explanatory diagram showing a general configuration of a pulse group detection circuit. 24 to 26 are explanatory diagrams each showing a specific example of the pulse group detection circuit. FIG. 27 is an explanatory diagram showing another most preferred configuration of the pulse group detection circuit. 28 and 29 are explanatory diagrams each showing a specific example of the pulse group detection circuit corresponding to FIG. 27. FIG. 30 is an explanatory diagram showing the relationship between various signals and a recorded area and an unrecorded area. FIG. 31 is a block diagram showing a main part of the controller. FIG. 32 is a block diagram showing a modulation circuit. FIG. 39 is an explanatory diagram showing a relationship between a mark size and a recording light amount. FIG. 40 is an explanatory diagram showing the relationship between the mark size and the recording pulse length. FIG. 41 is an explanatory diagram showing the relationship between the size of a mark and the amplitude of a reproduced signal. FIG. 42 is an explanatory view showing the procedure of the test light. FIG. 43 is a graph showing the relationship between the AGC voltage and the degree of amplification. FIG. 44 is a graph showing the relationship between the PP value of the signal amplitude and the AGC voltage. FIG. 45 is a graph showing the relationship between the mark length and various characteristics. FIGS. 33 to 38 and 46 to 48 show a conventional example. FIG. 33 is an explanatory diagram showing a recording operation in the magneto-optical disk device. FIG. 34 is an explanatory diagram showing a reproducing operation in the magneto-optical disk device. FIG. 35 is a schematic plan view of a magneto-optical disk. FIG. 36 is an enlarged view of a main part of FIG. FIG. 37 is an explanatory diagram showing a reproduction processing system. FIG. 38 (a) is an explanatory diagram showing the relationship between the polarities of two reproduced signals in the MO section. FIG. 38 (b) is an explanatory diagram showing the relationship between the polarities of two reproduced signals in the preformat section. FIG. 46 is an explanatory diagram showing a relationship between a reproduced signal and a VCA output signal and the like. FIG. 47 is a perspective view showing an access operation. FIG. 48 is an explanatory diagram showing a reproduction signal waveform at the time of access and at the time of reproduction. 17 is a pulse group detection circuit (recorded area detection means), 65 is an AGC amplifier for preformat (first auto gain control unit), 75 is an AGC amplifier for MO signal (second auto gain control unit), 91 is Inverter (first control means), 93 is a hold circuit (second control means or hold means), 101 is a response speed change / reset circuit (response speed change means), 1201 is a magneto-optical disk (optical memory), and 3002 is
The MO section (data section) and 3003 are a preformat section.

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】光メモリに記録、消去又は再生を行う光メ
モリ装置に設けられ、再生信号の振幅に応じて発生され
る制御電圧に基づき、増幅度を調整するようにした光メ
モリ装置のオートゲインコントロール装置において、 記録又は消去時に上記制御電圧をホールドする第1制御
手段と、 再生時に情報の記録済領域を判定する記録済領域判定手
段と、この記録済領域判定手段の判定に基づき、情報の
未記録領域で上記制御電圧をホールドする第2制御手段
とを備え、 上記第1制御手段は、上記第2制御手段に対し優先して
上記制御電圧をホールドするようになっていることを特
徴とする光メモリ装置のオートゲインコントロール装
置。
1. An automatic gain control device for an optical memory device, provided in an optical memory device for recording, erasing or reproducing data in an optical memory, wherein the amplification degree is adjusted based on a control voltage generated according to the amplitude of a reproduced signal. A first control means for holding the control voltage at the time of recording or erasing; a recorded area determining means for determining a recorded area of information at the time of reproduction; and a non-recording of information based on the determination of the recorded area determining means. And a second control means for holding the control voltage in a region, wherein the first control means holds the control voltage in preference to the second control means. Automatic gain control device for the device.
【請求項2】上記オートゲインコントロール装置の応答
速度を多段階に変更する応答速度変更手段を備えている
ことを特徴とする請求項第1項に記載の光メモリ装置の
オートゲインコントロール装置。
2. An automatic gain control device for an optical memory device according to claim 1, further comprising a response speed changing means for changing a response speed of said automatic gain control device in multiple stages.
【請求項3】予めアドレス等が記録されたプリフォーマ
ット部と任意のデータが記録可能なデータ部とを有する
光メモリに記録、消去又は再生を行う光メモリ装置に設
けられ、再生信号の振幅に応じて発生される制御電圧に
基づき、増幅度を調整するようにした光メモリ装置のオ
ートゲインコントロール装置において、 上記プリフォーマット部から再生される再生信号のゲイ
ンを調整する第1のオートゲインコントロール部と、上
記データ部から再生される再生信号のゲインを調整する
第2のオートゲインコントロール部とを備え、かつ、上
記第2のオートゲインコントロール部のみに再生時に情
報の記録済領域を判定する記録済領域判定手段と、この
記録済領域判定手段の判定に基づき、情報の未記録領域
で上記制御電圧をホールドするホールド手段とが設けら
れていることを特徴とする光メモリ装置のオートゲイン
コントロール装置。
3. An optical memory device for recording, erasing or reproducing data in an optical memory having a pre-format part in which an address or the like is recorded in advance and a data part in which arbitrary data can be recorded, according to the amplitude of a reproduced signal. An auto gain control device for an optical memory device that adjusts an amplification degree based on a generated control voltage, wherein a first auto gain control unit for adjusting a gain of a reproduction signal reproduced from the preformat unit; A second auto gain control section for adjusting a gain of a reproduction signal reproduced from the data section, and a recorded area determination for determining a recorded area of information at the time of reproduction only in the second auto gain control section Means for holding the control voltage in an unrecorded area of information based on the determination by the recorded area determination means. And an automatic gain control device for the optical memory device.
【請求項4】第1のオートゲインコントロール部の応答
速度を多段階に変更する応答速度変更手段を備えている
ことを特徴とする請求項第3項に記載の光メモリ装置の
オートゲインコントロール装置。
4. The automatic gain control device for an optical memory device according to claim 3, further comprising a response speed changing means for changing the response speed of the first auto gain control unit in multiple stages.
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