JPH0271393A - コイン検査装置 - Google Patents
コイン検査装置Info
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- JPH0271393A JPH0271393A JP63294821A JP29482188A JPH0271393A JP H0271393 A JPH0271393 A JP H0271393A JP 63294821 A JP63294821 A JP 63294821A JP 29482188 A JP29482188 A JP 29482188A JP H0271393 A JPH0271393 A JP H0271393A
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- coin
- inductor
- diameter
- coil
- coins
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 25
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 9
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 abstract description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 2
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
- Control Of Vending Devices And Auxiliary Devices For Vending Devices (AREA)
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
- Inert Electrodes (AREA)
- Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
個の種類の内の純+Fなコインであるかどうかを決定す
るべくコインに対して1内径にI′AI する検をを行
うコイン検査装置に関する。
るべくコインに対して1内径にI′AI する検をを行
うコイン検査装置に関する。
コインによって動作する機械で使用されている検査装置
には多くの種類のものがあるが、その中にコインに対し
て行ったテストにより検査の対象とするコインの直径に
依存する結果を生じさせるものがある。英国特許第13
97083号において、検量の対象とするフィンが2枚
の互いに密接して配置されたプレートの間に形成されて
いる通路Kff3つた傾いているトラック上を転ろがり
、前記2枚の互いに密接して配eされたプレート自身は
垂直釦対してわずかに傾いており、それKよってコイン
は前記通路の1方の壁に沿って動くよう釦なっている装
置が述べられている。
には多くの種類のものがあるが、その中にコインに対し
て行ったテストにより検査の対象とするコインの直径に
依存する結果を生じさせるものがある。英国特許第13
97083号において、検量の対象とするフィンが2枚
の互いに密接して配置されたプレートの間に形成されて
いる通路Kff3つた傾いているトラック上を転ろがり
、前記2枚の互いに密接して配eされたプレート自身は
垂直釦対してわずかに傾いており、それKよってコイン
は前記通路の1方の壁に沿って動くよう釦なっている装
置が述べられている。
該装置が受は入れるべきコインの各々の種類に対し、フ
ィンが沿って勤ぐ前記通路の壁の中にインダクタが設け
られている。インダクタは円形状をしておシ、その直径
は夫々の種類のコインに対応している。各インダクタは
コインが該インダクタに沿うトラック上にあるとき、夫
々の種類のコインと同4gIになるようなトラック上か
らの高ざで壁の中に設けられている。インダクタは発振
回路(接f+、妊れ℃おり、該発振回路はコインが存在
しないとき例え#−f300〜40 Q kflzの周
波数で発振し−でいる。コインがインダクタの内の1つ
のそげKあるとき、発振回路の周波数はコインの直径に
依存しfc値に偏移する。夫々の種類の受は入れ得るコ
インに対する標準の値と最大の周波数偏移な比較するこ
とにより、その種類のコインとして受は入れ潜るもので
あるか又は受は入れられないものであるかが識別される
。
ィンが沿って勤ぐ前記通路の壁の中にインダクタが設け
られている。インダクタは円形状をしておシ、その直径
は夫々の種類のコインに対応している。各インダクタは
コインが該インダクタに沿うトラック上にあるとき、夫
々の種類のコインと同4gIになるようなトラック上か
らの高ざで壁の中に設けられている。インダクタは発振
回路(接f+、妊れ℃おり、該発振回路はコインが存在
しないとき例え#−f300〜40 Q kflzの周
波数で発振し−でいる。コインがインダクタの内の1つ
のそげKあるとき、発振回路の周波数はコインの直径に
依存しfc値に偏移する。夫々の種類の受は入れ得るコ
インに対する標準の値と最大の周波数偏移な比較するこ
とにより、その種類のコインとして受は入れ潜るもので
あるか又は受は入れられないものであるかが識別される
。
上述の種類の誘導性検査装置は受は入れ得るコインの直
径からほんのわずかに直径が変化しても敏感に感応する
。しかし、受は入れ得るコインの直径からの偏倚が増大
するに従って感度は減少し、そのため2つのコインの直
径がインダクタの直径よりかなり大きいが、又はかなり
小である場合、わずかに直径の異なる2つのコインを識
別することは困難となる。上述の装置において高感度の
信頼性の高い検査を行うため受は入れ得るコインの各々
の大きさに対して異なったインダクタを使用するのは以
上の理由による。
径からほんのわずかに直径が変化しても敏感に感応する
。しかし、受は入れ得るコインの直径からの偏倚が増大
するに従って感度は減少し、そのため2つのコインの直
径がインダクタの直径よりかなり大きいが、又はかなり
小である場合、わずかに直径の異なる2つのコインを識
別することは困難となる。上述の装置において高感度の
信頼性の高い検査を行うため受は入れ得るコインの各々
の大きさに対して異なったインダクタを使用するのは以
上の理由による。
コイン検査装置の製造業者は世界中のユーザの要求に応
えるため多数の異なるコインの組を受は入れる装置を供
給する必要がある。
えるため多数の異なるコインの組を受は入れる装置を供
給する必要がある。
このような場合に各コインの組に含まれるコイνの大き
さにインダクタの大きさを合わせねばならないというこ
とは不便である。
さにインダクタの大きさを合わせねばならないというこ
とは不便である。
本発明の目的は比較的広い範囲にわたるコインの直径の
変化に対して高い感度を有する誘導的に直径に感応する
コイン検査装置を提供することにある。
変化に対して高い感度を有する誘導的に直径に感応する
コイン検査装置を提供することにある。
本発明に従゛い、コインの通路、該コインの通路を通っ
ているコインの端がそこに沿って通過するコイン・トラ
ック、前記コインの通路中に交流磁界な発生させている
前記コインの通路に@接したインダクタを含む発振回路
該インダクタと隣接した通路中のコインと前記交流磁界
の間の相互作用を調べる手段及び該相互作用が受は入れ
得るコインに対する相互作用に相当するものであるかど
うかな決定する手段とより成り、前記インダクタは長方
形すをしており、その主軸は前記トラックと垂直な関係
にあるコイン検査装置が提供される。
ているコインの端がそこに沿って通過するコイン・トラ
ック、前記コインの通路中に交流磁界な発生させている
前記コインの通路に@接したインダクタを含む発振回路
該インダクタと隣接した通路中のコインと前記交流磁界
の間の相互作用を調べる手段及び該相互作用が受は入れ
得るコインに対する相互作用に相当するものであるかど
うかな決定する手段とより成り、前記インダクタは長方
形すをしており、その主軸は前記トラックと垂直な関係
にあるコイン検査装置が提供される。
この装[ICあっては直径の変化に対する感度は直径の
広い範囲にわたって比較的−様であり、長方形状インダ
クタの主軸に等しい直径を有する円形状インダクタと比
べてよ仄高い感度を有していることが明らかとなった。
広い範囲にわたって比較的−様であり、長方形状インダ
クタの主軸に等しい直径を有する円形状インダクタと比
べてよ仄高い感度を有していることが明らかとなった。
ある実際的なアスペクト比な有する長方形状インダクタ
を用いること釦よシ周波数偏移の値は、円形状インダク
タの場合りをコインの直径とするとDK K比例するの
九対し、DKはぼ線形に比例することKなる。
を用いること釦よシ周波数偏移の値は、円形状インダク
タの場合りをコインの直径とするとDK K比例するの
九対し、DKはぼ線形に比例することKなる。
インダクタはフェライト・ポット・コア中のコイルより
成っている。該コイルは長方形状円形をしており、その
直線部分は主軸と平行しており、半円形状部分はその端
廻おいて直線部分と接合している。該コイルは同じ形状
のフェライト側壁とセンタ・コアの間のポット・コア中
の同じような形状のくほみの中に設けられている。
成っている。該コイルは長方形状円形をしており、その
直線部分は主軸と平行しており、半円形状部分はその端
廻おいて直線部分と接合している。該コイルは同じ形状
のフェライト側壁とセンタ・コアの間のポット・コア中
の同じような形状のくほみの中に設けられている。
インダクタは望ましくは該装置が受は入れることを要求
されている最小のコインがインダクタに隣接するトラッ
ク上にあるときインダクタのセンタ・ボールの下端とオ
ーバラップし、該装置が受は入れることを要求されてい
る最大のコインがインダクタに隣接したトラック上にあ
るときインダクタ・センタ・ポールよシ上に来ないよう
に配置されている。
されている最小のコインがインダクタに隣接するトラッ
ク上にあるときインダクタのセンタ・ボールの下端とオ
ーバラップし、該装置が受は入れることを要求されてい
る最大のコインがインダクタに隣接したトラック上にあ
るときインダクタ・センタ・ポールよシ上に来ないよう
に配置されている。
このようにして、長方形状インダクタの主軸がトラック
と成す角度は、該主軸がトラックに沿うコインの径路を
概して横切っているならば、厳密な垂直面から離れ得る
ことは明らかである。実際現時点において最小のコイン
は直径15mのオランダの10セント・コインであり、
最大のコインは直径33mのデンマークの5クローネの
コインであるが、このことはこれらのコインを受は入れ
るべく要求されている装置においてトラックから測って
インダクタの底部は15m以下、インダクタの上部は3
3wnx以上であるべきと七を意味している。フェライ
ト・ポット・コアを用いるとトラックから測って底部4
.6−1上部38.6■の側壁を用いることによシ満足
すべき結果が得られことが知られている。
と成す角度は、該主軸がトラックに沿うコインの径路を
概して横切っているならば、厳密な垂直面から離れ得る
ことは明らかである。実際現時点において最小のコイン
は直径15mのオランダの10セント・コインであり、
最大のコインは直径33mのデンマークの5クローネの
コインであるが、このことはこれらのコインを受は入れ
るべく要求されている装置においてトラックから測って
インダクタの底部は15m以下、インダクタの上部は3
3wnx以上であるべきと七を意味している。フェライ
ト・ポット・コアを用いるとトラックから測って底部4
.6−1上部38.6■の側壁を用いることによシ満足
すべき結果が得られことが知られている。
長方形状インダクタの更なる利点は、同じ大きさのコイ
ンを識別し得る円形状インダクタと比べてトラックと平
行な方向の大きさが小さいことである。例えば、本発明
に従いトラックに垂直な方向には34mの大きさを有す
るがトラックと平行な方向にはわずか24噛の太きはし
か有さないインダクタが構成されている。大きな直径に
対し類似の感度を有する円形状インダクタの直径は33
簡である。
ンを識別し得る円形状インダクタと比べてトラックと平
行な方向の大きさが小さいことである。例えば、本発明
に従いトラックに垂直な方向には34mの大きさを有す
るがトラックと平行な方向にはわずか24噛の太きはし
か有さないインダクタが構成されている。大きな直径に
対し類似の感度を有する円形状インダクタの直径は33
簡である。
このトラックに沿う方向の大きさが節約出来ることは、
本発明に従う装置によって実行される検査以外の検査を
行うコイン検査装置を設計する場合に重要なポイントと
なる。
本発明に従う装置によって実行される検査以外の検査を
行うコイン検査装置を設計する場合に重要なポイントと
なる。
交流磁界が検査対象のコインの表面のみしか入り込まな
いよう発振回路は高い周波数、例えば75 kB、以上
で発振する必要がある。
いよう発振回路は高い周波数、例えば75 kB、以上
で発振する必要がある。
コインが存在しない場合600〜70 o &Hzの正
規発振周波数が良い結果を与えることが分っている。コ
インと磁界との相互作用を調べろ手段は、コインが通過
するときめ回路の最大発振周波数を調べる手段より成っ
ている。
規発振周波数が良い結果を与えることが分っている。コ
インと磁界との相互作用を調べろ手段は、コインが通過
するときめ回路の最大発振周波数を調べる手段より成っ
ている。
相互作用が受は入れ得るコイン九対する相互作用に相幽
するものであるのかどうかを決定する手段は最−大周波
数又は最大周波数シフトを表わす値な受は入れ得るコイ
ンに対する相応する値と比較する比較器よ構成る。
するものであるのかどうかを決定する手段は最−大周波
数又は最大周波数シフトを表わす値な受は入れ得るコイ
ンに対する相応する値と比較する比較器よ構成る。
以下本発明の実施例を付図をお照して説明する。
@1および2図に示すようにコイン検査装置、即ちコイ
ン・セレクタ10はコイン投入口11をMしており、該
投入口11を通してコインは該装置に挿入され、コイン
はエネルギー消散装置12上に落下する。ここでエネル
ギー消散装fi12はコインのはずみを抑圧するもので
あり、英国特許第1482417号中で述べられている
如き焼結された酸化アルミニウムのブロックであって良
い。
ン・セレクタ10はコイン投入口11をMしており、該
投入口11を通してコインは該装置に挿入され、コイン
はエネルギー消散装置12上に落下する。ここでエネル
ギー消散装fi12はコインのはずみを抑圧するもので
あり、英国特許第1482417号中で述べられている
如き焼結された酸化アルミニウムのブロックであって良
い。
エネルギー消散装置は傾斜したコイン支持トラック13
の上流端を形成し、コインは重方の影響により該トラッ
クをその下端方向に向って下降する。
の上流端を形成し、コインは重方の影響により該トラッ
クをその下端方向に向って下降する。
コインが通過する通路は2枚の近接配置されたプレート
14および15により規定されている。トラック13に
沿う通路の壁を形成するプレートの1部分は垂直に対し
約10゜の角度傾けられておシ、それによってトラック
を下降するコインはプレート14によって形成される壁
釦沿って移動する。
14および15により規定されている。トラック13に
沿う通路の壁を形成するプレートの1部分は垂直に対し
約10゜の角度傾けられておシ、それによってトラック
を下降するコインはプレート14によって形成される壁
釦沿って移動する。
コインが沿って下降する通路の壁の近傍釦インダクタ1
6が設けられており、該インダクタはコイン検査回路の
1部を形成する。トラック13の下流端の下にコイン受
は入れゲート17が存在する。ゲート17は通常トラッ
ク13の下端から下ドナして来るコインを傍受し、コイ
ンをコイン棄却トラック18に向かわせ、それによって
コインは投入者に返却されるが、コインが検査回路(で
よって受は入れ得るものであることが判明すると、ゲー
ト17はソレノイド19によって通路の壁の中に引込め
られ、それによってコインはゲートITを通過し、コイ
ン受は入れ通路20中に下降し得るようになる。
6が設けられており、該インダクタはコイン検査回路の
1部を形成する。トラック13の下流端の下にコイン受
は入れゲート17が存在する。ゲート17は通常トラッ
ク13の下端から下ドナして来るコインを傍受し、コイ
ンをコイン棄却トラック18に向かわせ、それによって
コインは投入者に返却されるが、コインが検査回路(で
よって受は入れ得るものであることが判明すると、ゲー
ト17はソレノイド19によって通路の壁の中に引込め
られ、それによってコインはゲートITを通過し、コイ
ン受は入れ通路20中に下降し得るようになる。
インダクタ16は第3および4図に詳細に示されている
。該インダクタ16はフェライト・ポット・コア24の
センタ・ポール23の周りに配置されたコイル21より
成る。ポット・コア24はコイル21の外側の周す[拡
ろがっている側壁25り有し、該コイル21は側壁25
とセンタ・ポール230間に形成されたチャネルの中江
埋め込まれている。
。該インダクタ16はフェライト・ポット・コア24の
センタ・ポール23の周りに配置されたコイル21より
成る。ポット・コア24はコイル21の外側の周す[拡
ろがっている側壁25り有し、該コイル21は側壁25
とセンタ・ポール230間に形成されたチャネルの中江
埋め込まれている。
コイル21は長方形的円を形成1−でおり、2つの平行
した直線部26と2つの半円形部27より成り、これら
は両端で接合している。
した直線部26と2つの半円形部27より成り、これら
は両端で接合している。
センタ・ポール23は側壁と同様に丸みを持った端を有
する相応した長方形状を成している。ポット・コアのそ
の主軸に沿う長σは34馴であり、その副軸に沿う長ざ
は24寵である。センタ・ポールは20 m X 10
−である。トラックからフェライト・コア24の下端ま
での高ざは6.5Mである。この場合、直径15mのコ
イン31の上部は、該コインがインダクタの近傍のトラ
ックとにあるとき、センタ・ポールの下端よりわずか上
にあり、直径33−のコイン32はセンタ・ポールの上
部より上に来ることはない。コインがインダクタの近傍
にあるとき、コイルとインダクタはガラスで補強された
1、2日のプラスチックの壁によってのみ分離すれてい
る。
する相応した長方形状を成している。ポット・コアのそ
の主軸に沿う長σは34馴であり、その副軸に沿う長ざ
は24寵である。センタ・ポールは20 m X 10
−である。トラックからフェライト・コア24の下端ま
での高ざは6.5Mである。この場合、直径15mのコ
イン31の上部は、該コインがインダクタの近傍のトラ
ックとにあるとき、センタ・ポールの下端よりわずか上
にあり、直径33−のコイン32はセンタ・ポールの上
部より上に来ることはない。コインがインダクタの近傍
にあるとき、コイルとインダクタはガラスで補強された
1、2日のプラスチックの壁によってのみ分離すれてい
る。
第5図を1照すると、インダクタ16は発振回路40に
接続されており、該回路はコインhゝ存6゛シない場合
、 約635 kHzの周波数で4’xfflt4・こ
の周波数においては、コイントK ′’l フタによっ
て発生された磁界の間の相互作)11 iJ Dインの
厚さとをま実質的に無関係fア、り、 1°とじてコ
インの直径に依存し、2次的″c:)インの電導率九依
存する。
接続されており、該回路はコインhゝ存6゛シない場合
、 約635 kHzの周波数で4’xfflt4・こ
の周波数においては、コイントK ′’l フタによっ
て発生された磁界の間の相互作)11 iJ Dインの
厚さとをま実質的に無関係fア、り、 1°とじてコ
インの直径に依存し、2次的″c:)インの電導率九依
存する。
発振!l′回路40の出力は、正規のアイドル周波数”
6・の最大周波数偏移を測定し、このAt大MI波e2
偏移が受は入れ得るコインに相応−i 、B ア4 =
1%域幅内に入るかどうかを決定する回路に加えられる
。
6・の最大周波数偏移を測定し、このAt大MI波e2
偏移が受は入れ得るコインに相応−i 、B ア4 =
1%域幅内に入るかどうかを決定する回路に加えられる
。
Q 振[01Qの周波数はカウンタ41を用いて測定す
tl、 4・発振回路の出力は、時間パルス発生543
01部である安定な基準タイミング発振線にLつ”C発
生される約1ミリ秒の幅を有t411確なタイミング・
ゲート周期を用いてAN″ゲート42を介してカウンタ
41中(ゲートして加えられる。
tl、 4・発振回路の出力は、時間パルス発生543
01部である安定な基準タイミング発振線にLつ”C発
生される約1ミリ秒の幅を有t411確なタイミング・
ゲート周期を用いてAN″ゲート42を介してカウンタ
41中(ゲートして加えられる。
04″′が存在しない場合のアイドル周波数c相応tイ
・数値はレジスタ44中に記憶されている。この数値は
コイン検査装置に最初に電源が投入された直後か、又は
コイン検査装置がコインを棄却したとき監理回路45が
信号を発生する時点で記憶される。基準値は適当な監理
パルスが受信されたときカウンタ41からレジスタ44
中に加えられる。このようにアイドル肩波数の基準値を
周期的に更新することにより、アイドル周波数が多少変
化しても装置全体の特性には大きな影響は与えない。
・数値はレジスタ44中に記憶されている。この数値は
コイン検査装置に最初に電源が投入された直後か、又は
コイン検査装置がコインを棄却したとき監理回路45が
信号を発生する時点で記憶される。基準値は適当な監理
パルスが受信されたときカウンタ41からレジスタ44
中に加えられる。このようにアイドル肩波数の基準値を
周期的に更新することにより、アイドル周波数が多少変
化しても装置全体の特性には大きな影響は与えない。
カウンタ41およびレジスタ44の内容はマルチプレク
サ4γによって加算器46に周期的に伝送される。加算
器46はカウンタ41中の数値とレジスタ44中の数値
の差を決定する。1ミリ秒の検証期間の各終了時点にお
いて、加算器46の出力はメモリ48中に前取って記憶
された数値と比較される。メモリから比較器50に読み
出される数値のアドレス・カウンタ49によって決定さ
れる。
サ4γによって加算器46に周期的に伝送される。加算
器46はカウンタ41中の数値とレジスタ44中の数値
の差を決定する。1ミリ秒の検証期間の各終了時点にお
いて、加算器46の出力はメモリ48中に前取って記憶
された数値と比較される。メモリから比較器50に読み
出される数値のアドレス・カウンタ49によって決定さ
れる。
加算器46中の数値がこのメモリ・ロケーシコン中の数
値よりも大であるときは常圧アドレス・カウンタは1計
数値だけ歩進され、これが次のアドレスを与える。カウ
ンタ49中のアドレスは次にメモリに伝送される。
値よりも大であるときは常圧アドレス・カウンタは1計
数値だけ歩進され、これが次のアドレスを与える。カウ
ンタ49中のアドレスは次にメモリに伝送される。
メモリ48中(記憶されている数値は各々の受は入れ得
るコインと関連した周波数差の上限と下限に相当する数
値である。このようにして、コインがインダクタ16の
フィールドを通過するとき、発振器の周波数はコインが
存在しない場合に発生される周波数より高くなり、加算
器46からの周波数差カウンタはメモリ48中にセット
され九レベルを経過して増大し、アドレス・カウンタ4
9の計数値は発生された最大周波数差よシ1つ上の周波
数差レベルに相応するアドレスに歩進する。
るコインと関連した周波数差の上限と下限に相当する数
値である。このようにして、コインがインダクタ16の
フィールドを通過するとき、発振器の周波数はコインが
存在しない場合に発生される周波数より高くなり、加算
器46からの周波数差カウンタはメモリ48中にセット
され九レベルを経過して増大し、アドレス・カウンタ4
9の計数値は発生された最大周波数差よシ1つ上の周波
数差レベルに相応するアドレスに歩進する。
もしこのアドレスが正当なるコインと関連する周波数差
帯域の上側レベルを表わすならば、これは最大周波数差
が受は入れ得る帯域幅内にあったことを意味する。しか
し、もしこのアドレスが受は入れ得る帯域幅の下側レベ
ルに相応する場合には、これはこのコインが正当な受は
入れ得る帯域幅外の値Kまで周波数差を増大させたこと
を意味し、従って棄却すべきものと決定される。このよ
うにして、アドレス・カウ:ノタ中の数値はテストの結
果コインを受は入れて良いかどうかを示すと共にコイン
の種類も識別することになる。
帯域の上側レベルを表わすならば、これは最大周波数差
が受は入れ得る帯域幅内にあったことを意味する。しか
し、もしこのアドレスが受は入れ得る帯域幅の下側レベ
ルに相応する場合には、これはこのコインが正当な受は
入れ得る帯域幅外の値Kまで周波数差を増大させたこと
を意味し、従って棄却すべきものと決定される。このよ
うにして、アドレス・カウ:ノタ中の数値はテストの結
果コインを受は入れて良いかどうかを示すと共にコイン
の種類も識別することになる。
実際にはコイン検査装置はまた英国特許第139708
3号および第1452740号に述べられているような
コインに対する他の検査を実行する。検査装置にトラッ
クに沿って充分なスペースを提供するため、2本以上の
傾斜付きコイン・トラックが使用されることがあるが、
この場合各トラックの上部には緩衝器を設け、最も下側
のトラックの下端の下に受は入れゲートを設ける必要が
ある。種々の検査の結果は総合され、すべての検査の結
果が同じ種類の受は入れて良いコインであることを示す
場合のみ忙そのコインは受は入れられる。
3号および第1452740号に述べられているような
コインに対する他の検査を実行する。検査装置にトラッ
クに沿って充分なスペースを提供するため、2本以上の
傾斜付きコイン・トラックが使用されることがあるが、
この場合各トラックの上部には緩衝器を設け、最も下側
のトラックの下端の下に受は入れゲートを設ける必要が
ある。種々の検査の結果は総合され、すべての検査の結
果が同じ種類の受は入れて良いコインであることを示す
場合のみ忙そのコインは受は入れられる。
以上の記述より、本検査装置は異なるコインの組に対し
ても容易に適応δせ得ることが理解できよう。変更すべ
き点はある特定のコインの受は入れ得る帯域幅に相応す
る上限と下限を表わす数値をメモリ中に記憶させること
である。もしメモリが英国特許第 1527450号に述べられているような予めプログラ
ムされたメモリであるとすると。
ても容易に適応δせ得ることが理解できよう。変更すべ
き点はある特定のコインの受は入れ得る帯域幅に相応す
る上限と下限を表わす数値をメモリ中に記憶させること
である。もしメモリが英国特許第 1527450号に述べられているような予めプログラ
ムされたメモリであるとすると。
装置が受は入れるコインの組を変更するために行うべき
ことは予めプログラムされたメモリを交換するだけでよ
い。
ことは予めプログラムされたメモリを交換するだけでよ
い。
第一6図は上述の検査装置で得られた実験結果のグラフ
であり、異なる直径のコインによシ発生された周波数偏
移を表わす。グラフからコインの直径が大きく変化して
も周波数偏移は可成り一様に変化することが分る。
であり、異なる直径のコインによシ発生された周波数偏
移を表わす。グラフからコインの直径が大きく変化して
も周波数偏移は可成り一様に変化することが分る。
第1図は前面パネルを取り去った本発明に従うコイン検
査装置の正面図、第2図は第1図のラインI−IK沿う
垂直断面図、第3図は第1図および第2図のインダクタ
の正面図、第4図はラインIT−ffに沿う第3図のイ
ンダクタの断面図、第5図は第1図の装置の簡単化され
た論理図、第6図は異なる直径を有するコインに対して
測定された周波数偏移テストの結果のグラフを示す図で
ある。 〔主要部分の符号の説明〕 インダクタ・・・・・・16 主軸 ・・・・・・28 トラック ・・・・・・13 通路 ・・・・・・14 コイル ・・・・・・21 フェライト・ポット・コア・・・・・・24直線部分
・・・・・・26 手内部分 ・・・・・・21 フェライト側壁・・−・・・25 センタ・コア ・・・・・・23 発振回路 ・・・・・・40.16 比較器 ・・・・・・50 手続ネ由正書(方式) 平成1年8月11[」
査装置の正面図、第2図は第1図のラインI−IK沿う
垂直断面図、第3図は第1図および第2図のインダクタ
の正面図、第4図はラインIT−ffに沿う第3図のイ
ンダクタの断面図、第5図は第1図の装置の簡単化され
た論理図、第6図は異なる直径を有するコインに対して
測定された周波数偏移テストの結果のグラフを示す図で
ある。 〔主要部分の符号の説明〕 インダクタ・・・・・・16 主軸 ・・・・・・28 トラック ・・・・・・13 通路 ・・・・・・14 コイル ・・・・・・21 フェライト・ポット・コア・・・・・・24直線部分
・・・・・・26 手内部分 ・・・・・・21 フェライト側壁・・−・・・25 センタ・コア ・・・・・・23 発振回路 ・・・・・・40.16 比較器 ・・・・・・50 手続ネ由正書(方式) 平成1年8月11[」
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、少なくとも2つの異なる直径のコインに対するコイ
ン検査装置であって、 コイン通路、 該コイン通路中を所定の平面内でコインが通過する際該
コインがその縁が沿うコイントラック(13)、および 該コイン通路に交番磁界を発生し、該コイン通路を走行
しているコインと該交番磁界との間での相互作用に反応
するよう構成されたインダクタンスコイン試験手段とか
らなり、該インタグタンスコイン試験手段はコイン検査
回路に接続され該コイン通路に隣接したインダクタ(1
6)を含み、 該インダクタは略楕円形のコイルからなり、該所定の平
面に略平行で該コインの通過方向に直角である主軸(2
8)を有し、該コイン通路の側に配置されそして該交番
磁界の軸が該所定の平面を貫くようになっており、該楕
円形の副軸は小さい方のコインの直径 より長く大きい方のコインの直径より小さいものであり
、 該コイン検査回路は該コイン通路を走行しているコイン
と該楕円形インダクタによる交番磁界との相互作用に応
答して異なる直径のコインの各々に対し直径に関するコ
インの許容性を検出している手段を含むものであるとこ
ろのコイン検査装置。 2、特許請求の範囲第1項に記載のコイン検査装置にお
いて、 該楕円形の主軸は大きい方のコインの直径より長いもの
であるコイン検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB7911312A GB2045498B (en) | 1979-03-30 | 1979-03-30 | Coin testing apparatus |
GB7911312 | 1979-03-30 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4054580A Division JPS55131888A (en) | 1979-03-30 | 1980-03-31 | Coin checking machine |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0271393A true JPH0271393A (ja) | 1990-03-09 |
Family
ID=10504249
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4054580A Granted JPS55131888A (en) | 1979-03-30 | 1980-03-31 | Coin checking machine |
JP63294821A Pending JPH0271393A (ja) | 1979-03-30 | 1988-11-24 | コイン検査装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4054580A Granted JPS55131888A (en) | 1979-03-30 | 1980-03-31 | Coin checking machine |
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---|---|
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EP (1) | EP0017370B1 (ja) |
JP (2) | JPS55131888A (ja) |
AT (1) | ATE6177T1 (ja) |
AU (1) | AU536639B2 (ja) |
CA (1) | CA1142245A (ja) |
DE (2) | DE3066453D1 (ja) |
GB (1) | GB2045498B (ja) |
HK (1) | HK74185A (ja) |
MY (1) | MY8700017A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6668999B2 (en) * | 2000-08-30 | 2003-12-30 | Asahi Seiko Co., Ltd. | Coin sensor |
JP2010218155A (ja) * | 2009-03-16 | 2010-09-30 | Fuji Electric Retail Systems Co Ltd | 硬貨識別装置 |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0060392B1 (de) * | 1981-03-06 | 1985-12-18 | Sodeco-Saia Ag | Vorrichtung zum Prüfen von Münzen |
JPS60262292A (ja) * | 1984-06-08 | 1985-12-25 | 株式会社田村電機製作所 | 硬貨検査装置 |
GB8500220D0 (en) * | 1985-01-04 | 1985-02-13 | Coin Controls | Discriminating between metallic articles |
GB8510181D0 (en) * | 1985-04-22 | 1985-05-30 | Aeronautical General Instr | Moving coin validation |
JPS61289486A (ja) * | 1985-06-18 | 1986-12-19 | 旭精工株式会社 | 硬貨選別用センサ−コイル |
US4846332A (en) * | 1988-02-29 | 1989-07-11 | Automatic Toll Systems, Inc. | Counterfeit coin detector circuit |
US4998610A (en) * | 1988-09-19 | 1991-03-12 | Said Adil S | Coin detector and counter |
US4984670A (en) * | 1989-02-01 | 1991-01-15 | Maytag Corporation | Coin drop assembly |
US5097934A (en) * | 1990-03-09 | 1992-03-24 | Automatic Toll Systems, Inc. | Coin sensing apparatus |
GB2243238B (en) * | 1990-04-20 | 1994-06-01 | Tetrel Ltd | Coin validators |
US5244070A (en) * | 1992-03-04 | 1993-09-14 | Duncan Industries Parking Control Systems Corp. | Dual coil coin sensing apparatus |
US5379875A (en) * | 1992-07-17 | 1995-01-10 | Eb Metal Industries, Inc. | Coin discriminator and acceptor arrangement |
DE69311812T2 (de) * | 1992-10-14 | 1997-10-02 | Tetrel Ltd | Münzprüfer |
US5472796A (en) * | 1995-01-13 | 1995-12-05 | Olin Corporation | Copper alloy clad for coinage |
US5566807A (en) * | 1995-03-03 | 1996-10-22 | Mars Incorporated | Coin acceptance method and apparatus |
US5579887A (en) * | 1995-06-15 | 1996-12-03 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection apparatus |
GB2310070B (en) * | 1996-02-08 | 1999-10-27 | Mars Inc | Coin diameter measurement |
US5799768A (en) * | 1996-07-17 | 1998-09-01 | Compunetics, Inc. | Coin identification apparatus |
WO1998005008A1 (en) | 1996-07-29 | 1998-02-05 | Quadrum Telecommunications, Inc. | Coin validation apparatus |
GB2323199B (en) * | 1997-02-24 | 2000-12-20 | Mars Inc | Method and apparatus for validating coins |
GB2323200B (en) | 1997-02-24 | 2001-02-28 | Mars Inc | Coin validator |
GB2331614A (en) | 1997-11-19 | 1999-05-26 | Tetrel Ltd | Inductive coin validation system |
GB2340681B (en) | 1998-08-14 | 2003-07-30 | Mars Inc | Oscillators |
SE521207C2 (sv) * | 2001-03-22 | 2003-10-14 | Scan Coin Ind Ab | Anordning och metod för särskiljning av mynt där en variation i kapacitans sker mellan en sensorelektrod och en yta hos myntet då myntet är under transport |
SE522752C2 (sv) * | 2001-11-05 | 2004-03-02 | Scan Coin Ind Ab | Metod att driva en myntdiskriminator och en myntdiskriminator där påverkan på spolorgan mäts när mynt utsätts för magnetfält alstrade av spolorgan utanför myntet |
WO2005031660A1 (en) * | 2003-09-24 | 2005-04-07 | Scan Coin Industries Ab | Coin discriminators |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3059749A (en) * | 1959-12-16 | 1962-10-23 | Paradynamics Inc | Coin testing apparatus |
NL131067C (ja) * | 1963-06-04 | |||
US3576244A (en) * | 1969-01-08 | 1971-04-27 | Vendo Co | Coin acceptor having resistivity and permeability detector |
GB1397083A (en) * | 1971-05-24 | 1975-06-11 | Mars Inc | Coin selector utilizing inductive sensors |
DE2154782C3 (de) * | 1971-11-04 | 1974-10-31 | National Rejectors Inc. Gmbh, 2150 Buxtehude | Anordnung zum Führen von Münzen in einer Münzprüfvorrichtung |
US3870137A (en) * | 1972-02-23 | 1975-03-11 | Little Inc A | Method and apparatus for coin selection utilizing inductive sensors |
US3918565B1 (en) * | 1972-10-12 | 1993-10-19 | Mars, Incorporated | Method and apparatus for coin selection utilizing a programmable memory |
GB1461404A (en) * | 1973-05-18 | 1977-01-13 | Mars Inc | Coin selection method and apparatus |
US4108296A (en) * | 1976-04-08 | 1978-08-22 | Nippon Coinco Co., Ltd. | Coin receiving apparatus for a vending machine |
JPS5619573Y2 (ja) * | 1976-10-04 | 1981-05-09 | ||
JPS5386094U (ja) * | 1976-12-16 | 1978-07-15 | ||
US4226323A (en) * | 1978-09-08 | 1980-10-07 | Dautremont Joseph L | Precision coin analyzer for numismatic application |
-
1979
- 1979-03-30 GB GB7911312A patent/GB2045498B/en not_active Expired
-
1980
- 1980-03-14 AT AT80300801T patent/ATE6177T1/de active
- 1980-03-14 EP EP80300801A patent/EP0017370B1/en not_active Expired
- 1980-03-14 DE DE8080300801T patent/DE3066453D1/de not_active Expired
- 1980-03-26 US US06/134,086 patent/US4361218A/en not_active Expired - Lifetime
- 1980-03-27 AU AU56910/80A patent/AU536639B2/en not_active Expired
- 1980-03-28 CA CA000348673A patent/CA1142245A/en not_active Expired
- 1980-03-29 DE DE19803012414 patent/DE3012414A1/de active Granted
- 1980-03-31 JP JP4054580A patent/JPS55131888A/ja active Granted
-
1985
- 1985-10-03 HK HK741/85A patent/HK74185A/xx not_active IP Right Cessation
-
1987
- 1987-12-30 MY MY17/87A patent/MY8700017A/xx unknown
-
1988
- 1988-11-24 JP JP63294821A patent/JPH0271393A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6668999B2 (en) * | 2000-08-30 | 2003-12-30 | Asahi Seiko Co., Ltd. | Coin sensor |
JP2010218155A (ja) * | 2009-03-16 | 2010-09-30 | Fuji Electric Retail Systems Co Ltd | 硬貨識別装置 |
Also Published As
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EP0017370A1 (en) | 1980-10-15 |
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AU5691080A (en) | 1980-10-02 |
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AU536639B2 (en) | 1984-05-17 |
CA1142245A (en) | 1983-03-01 |
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