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JPH02504330A - 画像均等化付スリット放射線写真用装置 - Google Patents

画像均等化付スリット放射線写真用装置

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JPH02504330A
JPH02504330A JP63504297A JP50429788A JPH02504330A JP H02504330 A JPH02504330 A JP H02504330A JP 63504297 A JP63504297 A JP 63504297A JP 50429788 A JP50429788 A JP 50429788A JP H02504330 A JPH02504330 A JP H02504330A
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ray
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slit
electrodes
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マールダー,ヘンドリク
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デルフト インスツルメンツ インテレクチュアル プロパティ ベー.ファウ.
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
画像均等化付スリット放射線写真用装置技術分野 本発明は、画像均等化付スリット放!′g線写真用装置でありて。 フラットな島形X@ビームを便ってスリットダイヤフラムのスリットを通して身 体tt検fするために、X線検出器上にX線シャドーグラフな形成するためにス リブi・の長手方向に対して直角な1同の足置径路1c泊りて身≠?走登可能な X線源と;検査されるべき身障上で各セクタ
【区画部分】に入射するX線放射線 乞制御可能にτるために、制≦信号の制[有]の下に扇形X線ビームの各セクタ ごとVC,5形X線ビームに影響?与えることが可能な吸収@置と;およびX線 ビームの走査運動の間に欝間的に各セクタごとに身障によって透過されたX線放 射線量を検出しかつそrty対応の信号に変換するように設計された検出手段と ;を含む約記画像均等化付スリット放射緑写真用装#に関する。 従来技術 このような装!1:、たとえば公開されたオランダ香許出!)、明細書8840 0845号から既知である。この既知の装置は、X籾ダ出器として、X緑ビーム IC同期された走査運動を実行する総長のX線映像増倍管を有してもよいしまた はたとえは慣食されるべき身障の(部分の〕光合なX線シャドー画像な形成する ためにフラットな層形Xgビームによってストリップ状に71E量される大型閲 定X繰スクリーンな胃してもよい、胸部写真な撮影するだめの装置の場合、この ような大WX線スクリーンはたとえば40 X 40m20寸法を有する。 以前のオランダ特許出願明細誉呉850B152号および以前のオランダ特許出 社明B書第8503153号によれば、検査されるべき身障によりて一関市に各 セクタごとIc透過された放射腸會の検出には電静放射婦用伸長型馨量計が使用 可能である。この目的のためVC既知の線量計はまた。足置運動中のいかなる論 量においても検量のために身オによって透過されたX@放射紐が線量計なもまた 通過するようKX@ビームの運動に同期した走査運動なも実行する。 この目的のために、線量計が所定の経路1c沿った走置運動?確実に実行可能な ようにするために、および線量計の走査運動が笑際にX@ビームに1竪に同期し て行われるようにするために、特殊な手段が必要である。 オランダ特許出願明細1第8503152号および第8503153号によれば 、この目的のために、X線源を運搬するアームと、スリットダイヤフラムとおよ びX@源のx線焦点のまわりに自在回転をすることが可能な吸収装置とな使用可 能である。X線源から遠い側のアーム端部はこのとき線量計に結合されている。 発明の要約 本発明の目的1:、線量計または他の検出手段に物理的に走査運動tt冥行させ るためVC特殊な手段な必要としないところのスリット放射e写真用装置な提供 することである。 本発明の他の目的は1画像均等化付スリット放射雪写真用装置の可動部分の数を 制限することである。 本発明によれば、この目的のために上述の種類の装置!iは、検出手段が、電離 放射線用二次元@量計であってそれが検査されるべき身体の向う側1c置かれ、 それがその点におけるフラットな扇形X線ビームの幅とおよび全走査距離に対応 する高さとを有し、およびそれが、足置方向に伸長する本質的に平行な電極から なりかつ吸収装置のための1惧信号を形成するだめの制御装置VC接続された少 なくとも1つの系乞有しかつ少なくとも1つの対問(カウンタ〕電極?百すると ころの前記電隠放射線用二次元g量計な含むことt′#徴とする。 本発明な多数の実施態様実施ガな示す添付図面?用いて以下に詳細1c胱明する 。 第1図は本発明による装置の略興施塾様図な示す。図示の画像均等化付スリット 放射線写真用装置+zX線焦点でな有するX線源1%:含む、X線源の前号にス リット3付ダイヤフラム2が置かれ、スリット34作動中本質的にフラットな扇 形X扉ビ−ム4を伝送する。扇形X線ビームの各セクタ(区画部分〕ごとIc扇 形X縁に影響を与えることが可能な吸収装置5もまた存在する。吸収装置は線6 な介して供給される?!IIJ伽信号により制御される。 作動中、X線ビーム4は検査すべき身体7?:照射する。X級シャドーグラフを 記録するために身体7の向う側にX線検出器が宜かれるSx耐検出器8は第1図 に示すように大型スクリーンカセットでもよいが、たとえば可動式の細長X線映 像増倍管であってもよい。 身内7の全身または胸部のような少なくとも検査すべきその一部9!:x@検出 器上vc映丁ために1作動中のフラットなX勝ビームは矢印9Aで簡単に示した ようIc走査運動を行う。この目的のためにkX線源はスリットダイヤフラム2 および吸収装置5と共に矢印9Bで示すようKX@焦点frc対して揺動するよ うに設げることが5T能である。しかしながら、フラットなX線ビームを用いて 他の方法で、たとえばX線源にスリットダイヤフラムと共にまた1;スリットダ イヤプラムとは別1c厘耐運動な行わせることによって検ifべき身体ft走査 することもまた可能である。 身tr−7とX線検出器8との間に恢出苧段10が配置され、検出手段10i? 、 K量的VcB形ビーム4の各セクタごとに身体によって透過された放射@量 をう出しかつそれを対応の電気信号Ic変換するよつIC設計され、−万電気信 号は!気結線11な介して!!+j御装置121C供給され、制御装置1211 人力信号から吸収装置S−のためのは」慎信号な形成する。本発明によれば、恢 出苧段10は二次元固定式NA量置針含み、線量計はX縁慣出器に本質的に平行 に丁なわちX@ff出器がその中で走査運動な行う平面に本質的に平行1c博長 する。線量計は作動中にフラットなX線ビームによりて走査される領域全本#! :覆うような寸法な有している。&At計は上述のように二次元@置針である。 この表現はi字型には正羅ではないが、X縁次射方向に見たときの線量計の庫さ は比較重ささい、二次元という表現はそれtt以的のオランダ特軒出紅明細書第 8503152号および第8503153号によるストリップ型@置針と区別す るために用いられたものであり、前記以前のオランダを許出社明細書は原理円に 静止状懇においては検査すべき領域の狭いストリップ状の部分な覆うに丁ぎずし たがって一次元線置針ということができる。 大型スクリーンカセットのような固定式X線検出器が使用されるスリット放!g 線写真用装置においては、迷走放射線の最終写真への影r#を低減するために一 般に、検査される身内とX線検出器との間でx馨ビームVC同期した走査運動を な丁追加のスリッl迷足放射線ダイヤフラムが便用される。このような迷走放射 縁ダイヤフラムは原理的vcは本発明によるスリット放射線写真用@宜において もまた使用可能であるが、この場合は非町動式経普計の利点はある程度失われる であろう。 したがって本発明による装!1ilCおいては、それ自身既知でかつバラキー( Bucky )ダイヤフラムとしても知られている拡散防止グリッドな用いるの が有利であり、このグリッドは、迷走放射線の写真への影響とおよび迷走放射線 の@l線量計らの出刃信号への影響したがって再び間接FFJIC写真への影響 との両方の影響を低減するために、検査すべき身体と二次元級置針との間1c置 かれるのが好ましい。第1図はこのような拡散防止グリッドを13で示している 。 第2医および第3図に本発明による装置のための適切な二次元1iiil量計r さらに詳細に示す。 図示の線量計は相互に小さい距離だけ離れて対向配置された2枚の平行な壁20 および21ft含み、壁20および21は本質的に矩形tな1枠22とS働して 適切な測定1121形収する。511J定室に1言、たとえばアルゴン、メタン またはキセノンなどの気津がほぼ常圧で充填されている。線量計の少なくとも大 型壁20および21はたとえばパースペックス(perspex)またはガラス のようなX線放射縁に対して高い透過性ン有する材料で作られる。 さらに片方の大型壁1図示の爽施例では壁20.にはその内側に、X@ビーム4 の足置方向に伸長する平行ストリップ型電極24の系が設けられている5反対側 の壁21の内gillVcもまた対向電極25が存在し、対向電極25は本質的 に壁21の内面全#−な覆う、実際状態においては、対向電極はたとえば40X 403の寸法を有することができる。 作動中のストリップ型電極は固定電圧Veな保持しまた対向電極は固定電圧vt 9r:保持するので、ストリップ電極と対同電極との間には固定電圧差Ve−V tが形成される。 もし測定室がX@放射級によって照射されると、測定室内の気木内に電離が発生 しよう。もしVeがVtK対して正であるならば、過程内で発生した正の粒子は 電極25に向りて移動し。 −1負の粒子1;ストリップ微電極の方間に移動するであろう。 もしVtがVeK対して正であるならば、逆のことが起るであろうo aJ定1 i! vCX eが充填された場合2′+[正答);りとえは600Vとなる。 電離によって発生した荷11籾子は常に、正しい電位?もつ最も近くの電極の方 向に移動するので、ストリップ型電極に対し直角の方向の放!g縁普分布はスト リップ型電極の各々内Ic流れる電流を測定することによって求めることが可能 である。 ストリップ型電極はフラットな扇形X線ビームの足置方向に伸長しているので1 作動中に種々のストリップ型電極内で発生された電流が一間IWiCB形x繕ビ ームの各セクタごとに’51査丁べき身体によりて透過されたX@放!g酵を乞 指示する。 第2図1;ストリップ星電極24内に発生された電流の測定のための電流計26 を略図で示す、実際VCは、電極の各々内の電R@さの検出および測定僅の適切 な信号への変換は装置12内で行われる。 電極は、導電性材料?絶縁性キャリヤ上に蒸着することにより、または絶縁性キ ャリヤ上の導を注材料層の一部なエツチングで除去することにより、Wj51j #VC形既可能である。 電極ハまた。たとえばパースペックスからなる絶縁板上の所定装置にたとえばニ ラクルの薄層をスパッタ技術によりて形成することによりても可能である。いず れの場合においてもX@放射籾%:笑質上減衰させないところのきわめて薄い電 極が形成可能である。 電極およびその上に電極が配置されている壁は、@置針の少なくとも−辺に浴り て枠22を超えて伸長している二 が有利である。ストリップ型電極2.1πす る壁20に一゛−て一層これは箒3図におい′″c27で示され、および単−電 −25馨有する壁に対しては28で示される。このように必畳二なろ電極接伏は 簡単な方法で行うことが可能である5通!r;プリント回路板コネクタは、たと えばこrLlc使用可能であろう。 平坦電極25は第4図に示すようにガード’It極によって包囲されるのが好ま しい。 I!4図において、たとえは接地が可能なガード電極30が平坦電極25な包囲 している。ガードII甑は壁21の辺に浴って伸長しかつストリップ型電極24 の直接反対側の壁21の面の外側1C存在する。ガード電極は狭い中間隙間3H Cよって平坦電極25から分難され、かつ平坦電極のための接続ストリップ32 のための隙間?設けるために、この例ではガード電極1;−個所が中断されても いる。このような中断部な数個所に設けることもまた可能である。 代V悪様として、ガード電極は完全に閉じるように形状することが可能である。 この場合平坦電極に対する電気接貌は、たとえば電極25を貫通するブマシング により別な方法で設けなければならない。 第5図および第6図ti不発明による装置用の二次元線量計の代V態様な示す。 図示の線量計も同様に、枠40と2枚のフラットな!i41および42とによっ て包囲されかつx縁故!g縁によって電離可能なガスが充填された測定1!41 含む、薄い平行なワイヤ44が測定室内で壁41および42の間の伸長領域内で かつこれらに平行に伸長されている。平坦電極45.46は少なくとも片方の壁 土に配置されるが、第5図お;び藁6図に示すように両刃の壁土に配置されるの が好ましい。このような形状に丁れは、比較的強度の高い電界が連取可能である 。電界強度が高ければ、気不増Iil!現象が便用可能である。 平坦電極はたとえば接地が可能であり、−万ワイヤ441;適切な電位v7もつ ことが可能である。 ワイヤは枠部分の1つ七頁通伸長しかつワイヤの面内に伸長する枠部分の平坦7 ランジ47上に配置さiた導II注ストリップic接続されるのが好ましい5r EJ櫟にプリントコネクタがフランジ47と合わさることが好ましい。 平坦電極には上記の工うにおよび/またl;第4図に示すように、ガード電極お よび電気接続用の一個所以上の接続点上膜けることが同様に有利である。 藁7図は本発明による装置用二次元籾置針の他の略変更態様図r示す。この変更 態様においては、第2図および算3図に示した実施B碌の平坦電極25がたとえ はストリップ電極24に1交して伸長する等間隔電極ストリップ50によってに 供えられる。 したがってストリップ50はスリットダイヤフラムのスリットに平行であるので 1作動中1足f231動の間のいかなる時点においても1つ以上のストリップ5 0がX@ビームにμ出されている。原理的1ci:[離は露出されているストリ ップ50の領域内でのみ発生するので、その綺間におけるストリップ型電極24 内の電流はその領域内の電離したかっ″CX線放射腸量0みな表わ丁。 しかしながら笑@には、1つの共通対問電極を投げた実見態様につい℃上1c説 明したように、身体と線量計との間に拡散阻止グリッドが置かれない限り迷走放 Insの効果により他の領域からの次#g線のを与が起りうる。 もしストリップ50が1つずつまたは隣接ストリップと群ななして、X線ビーム の走査運動に同期するマルチプレクサ51によりて作kii[圧Vt1c接続さ れていると、任意の迷走放射縁の線量計の出刃信号への寄与は自動的に排除され る。 このことは2菓7図に示す原理による線量計が使用されたときは、拡散阻止グリ ッドは二次元線量計とX@検出器との間に置くことが可能であることな意味する 。このような配置の場合。 腸置針自身内にたとえ迷走放射縁が発生してもそれもまた排除されるかまたはそ れは少なくとも低減される5先取図としては第8図がこのような配置な示す。 このような修正態様は第5図および第6図に示すet類の線量計と共に使用5T 能であることが指摘される。ストリップの代りIC緊張ワイヤもまた使用可能で ある。 @譬が比較的大きな面である結果として、および入射X馨放射線に対する影*’ rできるだけ少なくするためlC側壁の厚さを小さくした結果として、上記の種 部の二次元線量計は大気圧の変化に敏感である。このような変化に対して壁間の 距離が変化し、したがって測定g9r:通過するX婦警の径路長さもまた変化す る。 もしこのような変化が冥際に問題であるならば、側壁上に配置されないで測定室 内においてgJI壁から離れた支持す材上に配置された電極11便用することが 可能である。 −*施ガを第9図に示す、平坦な軸形ハウジング60は、枠61と、および測定 N64を包囲する2つの大きな側壁62゜63と、な頁する。 測定Nは、ス)IJツブ塁電極67とおよび反対側の単一対向を極またはTi[ !対向ストリップ68と%を設けた2つの平行な支持部材65.66ft含む、 N咥の間に占有される測定室の部分は、vI図で示した支持部材内の開口69に よっ℃支持部材65゜66と壁62.63との間の2間に接続されている。 ここでI!5図およびI!6図におけると陶様に、電極67.68の間にワイヤ を張ることが可能であり、ワイヤはこのとき単一平坦電極として設計される5% 平坦電極[はこの場合も同様に。 @4図に示すようにガード電極七設けることが可能である。 影響な受ける々形X線ビームの各セクタに対し、1本のストリップ型電極または ワイヤ、あるいは一群の隣接電極またはワイヤが任意に存在させることが可能で あることが指摘される。 後者の場合、1つの群に属する電極の信号は一緒に取出し可能であり2もし必要 ならば平均化することが可能である。 X@源、スリットダイヤフラムおよび吸収装置が揺動式組立体である場合、たと えば二次元の定量計(quantimeter )の入力平面のような平坦!上 のX線ビームのセクタに対応するスリットダイヤフラムのスリットの領域の1鎗 は理論的ICは1總ストリップではな(てわずかにカーブする白騨であり、その 頂部および底部端部は中心部分より一層外側に位置する。 もしストリップ型電極24が使用されると、とくに各セクタごとVClつまたは きわめて少ない数の電極(またはワイヤ)が存在する場合は結局正しくない制御 信号が発生されることになる。 この問題はもし必要ならば第10図に示すようVCC砂粉電極用いることによっ て解決可能である。 第10図はストリップ型電極24′がその上に設けられている電極支持部材80 な示す。最外側のt極の曲りが最もきつくなっている。支持部材の中心に行くほ ど曲りは緩くなり、中心電極は完全に厘葎である。このようにして上記の影響は 排除される。 スリット放!′j@写真用@lの幾何構造が原因しかつ正しくない制御信号?発 生することになる。スリットダイヤフラムのスリットの領域の画像内に発生する その他のひすみも同様な方法で補償することが可能である。 上記のことから、当東者icは種々の修正態様があることが明らかであることが 指摘される。このような修正Biaは本発明の範囲内に入るものと考えられる。 図面の簡単な説明 纂1図は本発明による装置の略正面図;第3図は本発明による@置用@普計の略 正面図;第3図は第2図による線量計の断面図;第4図は第3囚の修正態様図; 第5図および第6図11本発明番でよる装置用の他の嫁量計の断面図; 寥7図は本発明による装置用線量計のさらに他の笑見態様図;第8図は第1図の 修正態様図;および 第9図および第10図は本発BAKよる装置用@量計の2つの他の実施態様図な 示す。 補正書の翻訳文提出書 (特許法第184条の8) 特許庁長官  吉 1)文 毅 殿 1、特許出願の表示 PCT/EP88100409 2、発明の名称 画像均等化付スリット放射線写真用装置3、特許出願人 住 所  オランダ国エヌエル−2612イクスエー デルフト。 ファン・ミーレフェルトラーン 9 名 称  べ−・フ7つ・オプティシエ・インダストリー・“デ・オウデ・デル フド 4、代理人 住 所  東京都千代田区大手町二丁目2番1号新大手町ビル 206区 見υ復旦神工、38.よ工、5) t 画像均等化付スリット放tg級写真用装置であって、フラットな扇形X線ビ ーム(4〕を使ってスリットダイヤフラム(2)のスリット(4)を通して身# (7)を!l’E食するために、X線検出器(8)上にX線シャドーグラフな形 匡するためにスリットの長苧方向に対して直角な方間(9A、9B)の走査径路 に沿って身体(7)r足受可能なX線源と;検査されるべき身障上で各セクタ( 区画部分〕に入射するX線放射線な謝す慎可能にするために、制御信号の希り御 の下vcb形xiビームの各セクタごとVcB形X線ビームに影響な与えること が可能な吸収装置(5)と;おシびX@ビームの走査運動の間rc(14間的に 各セクタごとに身体によって透過されたX線数射線tな検出しかつ七tlを対応 の信号に変換するようVC検査されるべき身体の向う仰DC!kかれた電離放射 線用総置針と:%:含む的記画像均等化付スリット放射碌写真用装置において: 線量計が2検査されるべき身体の問う偶のフラットなり形X線ビームに対応する 偏とおよび全走査距離に対応する高さとを有する二次元繰普計(10〕でありて 、この二次元St計が。 元交方間に伸長しかつ吸収装置のための制御信号tt形形成るための制御装置t (12)K接続された本質的に子株な電極(24〕の少な(とも1つの系tt= し、およびこの二次元線量計が少なくとも1つの対向(カウンタ〕電極(25, 501有すること9!:特徴とする画像均等化付スリット放射縁写冥用装宜う2 、本質的に平行な電極(24〕が支持部材上VC配置されたストリップ型電極を 含むこと乞′#徴とする!!請求項1記載装置。 3、支持部材が線量計の働譬(20)であることな特徴とする請求項2記歌の装 [1゜ 4、支持部材が2つの対向壁(41,42)の間に置かれることな特徴とする請 求項2記載の装置。 5、本質的に平行な電極が線量計の枠内に張られたワイヤ(44)を含むことを 特徴とする請求項1記載の装置。 6、少なくとも1つの対向電極が平坦な二次元電極であることを特徴とする請求 2 対rF:J電極がガード電極(21)によって本質的に包囲されることを特 徴とする請求項6記載の装置。 8、対向電極が@を計の側壁上に配置されること馨待徴とする前記請求項のいず れかlC肥載の装置。 9 対向電極が別個の支持部材(66〕上に配置されることを特徴とする前記請 求項のいずれかに記載の装ffii。 10、作動中の線量計が拡散貼止グリッド(13)とx線検出器との間vc置か れることlF=徴とする前記請求項のいずれかに記載の装置。 11 少なくとも1つの対向電極が足置方向に対し直角に伸長しかつマルチプレ クサ装置(51)K接続された多数の平行な電極(50)Y含み.マルチプレク サ(51)が常に1つ以上の電極を走査運動に同期丁ろ作動電圧に接続すること な特徴と丁る請求項6を除く前記請求項のいずれかに記載の装置。 12、対同電極の平行な電極が緊張ワイヤで形成されることを特徴とする請求項 11記載の装置。 13、対向電極の平行な電極が支持部材上に配置されたストリップによって形成 されろことな′!#歓とする請求項11記載の装置。 14、作1甲の線量計がダミされるに内とX線シ出器との間IC置かれ,および 拡散阻止グリッドが一普計とX緑慎出器との間IC置かれることを特徴と丁るh 求項10を除く前記請求項のいずれかに記載の釦L 15、装置の妓何季造が原因で発生されるひすみな補償子ろためVC,足置方向 に伸長する少なくとも多数の電極(24’)VCわずかに曲りが付けられること を特徴とする前記請求項のいずれかに記載の装置。 16、足置方向に伸長する電極の最外側のものが端部を外側ic回けた曲線であ り.一万最中毛・電極に向かうにしたがりて電極ごとに次第vceがりが緩くな ること?!−特徴と丁る,走査運動を行うためvcX馨源とスリットダイヤフラ ムとが固定点に対して自在(スイベル〕運動を行うところの請求項15記載の装 置。 手続補正書(方力 平成 2年 9月7J日いi 特許庁長官   植 松   敏  殿1、事件の表示 PCT/EP88100409 2、発明の名称 画像均等化付スリット放射線写真用装置3、補正をする者 事件との関係   特許出願人 住所 名 称  ベー・ファウ・オブティシェ・インダストリー・“デψオウデ・デル フト。 4、代理人 住 所  東京都千代田区大手町二丁目2番1号新大手町ビル 206区 5、補正命令の日付  平成 2年 9月 4日 ■送日)6、補正の対象 タイプ印書により浄書した明細書及び請求の範囲の翻訳文手続補正書□ 1、事件の表示 PCT/EP88100409 2、発明の名称 画像均等化付スリット放射線写真用装置3、補正をする者 事件との関係   特許出願人 住所 名 称  ベー・フ7つ・オプティシエ・インダストリー・°デ・オウデ中デル フト” 4、代理人 住 所  東京都千代田区大手町二丁目2番1号新大手町ビル 206区 6、補正の対象 国際調査報告 国際調査報告 EP 8800409 SA  222B4

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.画像均等化付スリット放射線写真用装置であって、フラットな扇形X線ビー ムを使ってスリットダイヤフラムのスリットを通して身体を検査するために、X 線検出器上にX線シャドーグラフを形成するためにスリットの長手方向に対して 直角な方向の走査径路に沿って身体を走査可能なX線源と;検査されるべき身体 上で各セクタ(区画部分)に入射するX線放射線を制御可能にするために、制御 信号の制御の下に扇形X線ビームの各セクタごとに扇形X線ビームに影響を与え ることが可能な吸収装置と;およびX線ビームの走査運動の間に瞬間的に各ヤク タごとに身体によりて透過されたX線放射線量を検出しかつそれを対応の信号に 変換するように設計された検出手段と;を含む前記画像均等化付スリット放射線 写真用装置において:検出手段が、電離放射線用二次元線量計であってそれが検 査されるべき身体の向う側に置かれ、それがその点におけるフラットな扇形X線 ビームの幅とおよび全走査距離に対応する高さとを有し、およびそれが、走査方 向に伸長する本質的に平行な電極かちなりかつ吸収装置のための制御信号を形成 するための制御装置に接続された少なくとも1つの系を有しかつ少なくとも1つ の対向(カウンタ)電極を有することを特徴とする画像均等化付スリット放射線 写真用装置。
  2. 2.本質的に平行な電極が支持部材上に配置されたストリッブ型電極を含むこと を特徴とする請求項1記載の装置。
  3. 3.支持部材が線量計の側壁であることを特徴とする請求項2記載の装置。
  4. 4.支持部材が2つの対向壁の間に置かれることを特徴とする請求項2記載の装 置。
  5. 5.本質的に平行な電極が線量計の枠内に張られたワイヤを含むことを特徴と下 る請求項1記載の装置。
  6. 6.少たくとも1つの対向電極が平身な二次元電極であることを特徴とする前記 請求項のいずれかに記載の装置。
  7. 7.対向電極がガード電極によって本質的に包囲されることを特徴とする請求項 6記載の装置。
  8. 8.対向電極が線量計の側壁上に配置されることを特徴とする前記請求項のいず れかに記載の装置。
  9. 9.対向電極が別個の支持部材上に配置されることを特徴と下る前記請求項のい ずれかに記載の装置。
  10. 10.作動中の線量計が拡散阻止グリッドとX線検出器との間に置かれることを 特徴とする前記請求項のいずれかに記載の装置。
  11. 11.少なくとも1つの対向電極が走査方向に対し直角に伸長しかつマルチプレ クサ装置に接続された多数の平行な電極を含み、マルチプレクサが常に1つ以上 の電極を走査運動に同期する作動電圧に接続することを特徴とする請求項6を除 く前記請求項のいずれかに記載の装置。
  12. 12.対向電極の平行な電極が緊張ワイヤで形成されることを特徴とする請求項 11記載の装置。
  13. 13.対向電極の平行な電極が支持部材上に配置されたストリッブによって形成 されることを特徴とする請求項11記載の装置。
  14. 14.作動中の線量計が検査される身体とX線検出器との間に置かれ、および拡 散阻止グリッドが線量計とX線検出器との間に置かれることを特徴とする請求項 10を除く前記請求項のいずれかに記載の装置。
  15. 15.装置の幾何構造が原因で発生されるひずみを補償するために、走査方向に 伸長する少なくとも多数の電極にわずかに曲りが付けられることを特徴とする前 記請求項のいずれかに記載の装置。
  16. 16.走査方向に伸長する電極の最外側のものが端部を外側に向けた曲線であり 、一方最中心電極に向かうにしたがって電極ごとに次第に曲がりが緩くなること を特徴とする、走査運動を行うためにX線源とスリットダイヤフラムとが固定点 に対して自在(スイベル)運動を行うところの請求項15記載の装置。
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