JPH02288326A - ウエハの周辺部露光装置 - Google Patents
ウエハの周辺部露光装置Info
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- JPH02288326A JPH02288326A JP1109291A JP10929189A JPH02288326A JP H02288326 A JPH02288326 A JP H02288326A JP 1109291 A JP1109291 A JP 1109291A JP 10929189 A JP10929189 A JP 10929189A JP H02288326 A JPH02288326 A JP H02288326A
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 67
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 45
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 170
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 101150117895 LAMP2 gene Proteins 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- VSQYNPJPULBZKU-UHFFFAOYSA-N mercury xenon Chemical compound [Xe].[Hg] VSQYNPJPULBZKU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、周辺部が円弧部と直線部(オリエンテーショ
ンフラット)とからなっている半導体ウェハ、セラミッ
クスウェハ等において、その表面に塗布されているレジ
ストのうち周辺部のレジストを露光によって除去するウ
ェハの周辺部露光装置に関する。
ンフラット)とからなっている半導体ウェハ、セラミッ
クスウェハ等において、その表面に塗布されているレジ
ストのうち周辺部のレジストを露光によって除去するウ
ェハの周辺部露光装置に関する。
〈従来の技術〉
近年、半導体ウェハ、セラミックスウェハ等において、
その表面に塗布するレジストとしてポジ用のものを使用
することが多い、この場合、所要のパターン露光を行う
前(または後)に、ウェハの周辺部を露光することによ
りウェハ周辺部のレジストを除去することが行われてい
る。
その表面に塗布するレジストとしてポジ用のものを使用
することが多い、この場合、所要のパターン露光を行う
前(または後)に、ウェハの周辺部を露光することによ
りウェハ周辺部のレジストを除去することが行われてい
る。
単一の光照射手段をウェハの中心から所要距離の位置に
固定的に設置し、ウェハを回転させながら露光するので
は、円弧部の周辺部(以下、円弧部と称する)は露光で
きても、ウェハ中心からの距離が円弧部よりも短い直線
部の周辺部(以下、直線部と称する)では照射光がウェ
ハの外側を通過するので、直線部を露光することができ
ない。
固定的に設置し、ウェハを回転させながら露光するので
は、円弧部の周辺部(以下、円弧部と称する)は露光で
きても、ウェハ中心からの距離が円弧部よりも短い直線
部の周辺部(以下、直線部と称する)では照射光がウェ
ハの外側を通過するので、直線部を露光することができ
ない。
そこで、従来では、ウェハと相似形でウェハと同期回転
する仮カムを設け、光照射手段に取り付けたカムフォロ
ワを仮カムに沿って倣い運動させることにより、直線部
を円弧部とほぼ同じ幅で露光させるように工夫したり(
45,カム方式)、あるいは、ウェハ端部(円弧部と直
線部との境界部)を機械的または光学的に検出する手段
を設けるとともに、ウェハ端部を検出して露光箇所が円
弧部から直線部に移った段階から、光照射手段をその照
射位置が直線部に沿うように、ウェハ中心から光照射手
段までの距離を調整しなからウェハを回転させることに
より、直線部を円弧部とほぼ同し幅で露光させるように
工夫していた(端部検出方式)。
する仮カムを設け、光照射手段に取り付けたカムフォロ
ワを仮カムに沿って倣い運動させることにより、直線部
を円弧部とほぼ同じ幅で露光させるように工夫したり(
45,カム方式)、あるいは、ウェハ端部(円弧部と直
線部との境界部)を機械的または光学的に検出する手段
を設けるとともに、ウェハ端部を検出して露光箇所が円
弧部から直線部に移った段階から、光照射手段をその照
射位置が直線部に沿うように、ウェハ中心から光照射手
段までの距離を調整しなからウェハを回転させることに
より、直線部を円弧部とほぼ同し幅で露光させるように
工夫していた(端部検出方式)。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、これらの従来方式の基本的な考え方は、一定速
度でのウェハの連続回転中4二円弧部も直線部も露光し
、かつ、円弧部の露光幅と直線部の露光幅とを同じにし
ようとするものであり、このために却って、次のような
不都合を招来していた。
度でのウェハの連続回転中4二円弧部も直線部も露光し
、かつ、円弧部の露光幅と直線部の露光幅とを同じにし
ようとするものであり、このために却って、次のような
不都合を招来していた。
■ 第7図に示すように、ウェハ端部Weを光照射手段
が(相対的に)回り込むときに、ウエハ端部Weの角張
った形状のために、ウェハ端部Weの近傍における露光
幅L1が他の部分の露光幅L0よりも小さくなる。これ
は、ウェハ直線部WSにおいてより強く現れ、直線部W
s自体における直線状の、すなわち同一幅の露光ができ
ない。
が(相対的に)回り込むときに、ウエハ端部Weの角張
った形状のために、ウェハ端部Weの近傍における露光
幅L1が他の部分の露光幅L0よりも小さくなる。これ
は、ウェハ直線部WSにおいてより強く現れ、直線部W
s自体における直線状の、すなわち同一幅の露光ができ
ない。
■ 前記■と同じ理由によるが、第8図に示すように、
光照射手段Mvがウェハ端部Weを回り込むときに、同
一時間内において、内側での露光長さ21と外側での露
光長さ2□とが大きく相違しくe、<e□)、また、幅
方向での各点の露光長さが互いにまちまちであるので、
同一時間内での単位面積当たりの露光量にバラツキが生
じ、均一な露光ができない。
光照射手段Mvがウェハ端部Weを回り込むときに、同
一時間内において、内側での露光長さ21と外側での露
光長さ2□とが大きく相違しくe、<e□)、また、幅
方向での各点の露光長さが互いにまちまちであるので、
同一時間内での単位面積当たりの露光量にバラツキが生
じ、均一な露光ができない。
■ ウェハWの表面に対するレジストの塗布がスピン法
によって行われているため、第9図に示すように、直線
部Wsの両端のうちウェハ回転方向の上手側の端部領域
にレジストが集積しやすく、この領域がレジストの厚膜
領域Wa(ハツチング参照)となっているが、ウェハW
を一定速度で回転しながら露光しているので、この厚膜
領域Waのレジスト除去が充分に行われない。
によって行われているため、第9図に示すように、直線
部Wsの両端のうちウェハ回転方向の上手側の端部領域
にレジストが集積しやすく、この領域がレジストの厚膜
領域Wa(ハツチング参照)となっているが、ウェハW
を一定速度で回転しながら露光しているので、この厚膜
領域Waのレジスト除去が充分に行われない。
1’2112 jff域Waのレジスト除去を確実に行
うために、ウェハの回転速度を充分に遅くして露光光量
を確保すると、全体的な処理速度の低下のためにスルー
プットが悪化する。
うために、ウェハの回転速度を充分に遅くして露光光量
を確保すると、全体的な処理速度の低下のためにスルー
プットが悪化する。
■ 上記■で説明した厚膜領域Waの幅は、均一な露光
幅L0よりも大きくなるのが普通であるが、露光幅を一
定としているために、厚膜領域Waの全域を露光するこ
とが要望される場合に、厚膜領域Waの一部がほとんど
除去されないで残ってしまい、その要望に応えることが
困難である。
幅L0よりも大きくなるのが普通であるが、露光幅を一
定としているために、厚膜領域Waの全域を露光するこ
とが要望される場合に、厚膜領域Waの一部がほとんど
除去されないで残ってしまい、その要望に応えることが
困難である。
■ 大サイズのチップの場合には、第1θ図で示すよう
に、ステップ露光によるパターン領域Pが直線部Wsか
らかなり離れている。二点鎖線で示すようにレジストは
できるだけ広く除去したいが、円弧部Wcと同一幅だと
レジストが残存する面積が大きくなり過ぎる。
に、ステップ露光によるパターン領域Pが直線部Wsか
らかなり離れている。二点鎖線で示すようにレジストは
できるだけ広く除去したいが、円弧部Wcと同一幅だと
レジストが残存する面積が大きくなり過ぎる。
■ 後工程においてウェハを取り扱う際に、第11図に
示すようにウェハWの要所をクランプ爪にでつかむが、
そのクランプを安定したものとするため、クランプ領域
Wkを均一な露光幅L0よりも大きくする。このクラン
プ領域Wkのレジストが除去されないままであると、ク
ランプ爪にでつかんだときにレジストが剥離し、ウェハ
Wのパターン上に付着したり装置を汚染したりする。
示すようにウェハWの要所をクランプ爪にでつかむが、
そのクランプを安定したものとするため、クランプ領域
Wkを均一な露光幅L0よりも大きくする。このクラン
プ領域Wkのレジストが除去されないままであると、ク
ランプ爪にでつかんだときにレジストが剥離し、ウェハ
Wのパターン上に付着したり装置を汚染したりする。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、一定速度でのウニへの連続回転中に円弧部も直線部
も露光し、かつ、円弧部の露光幅と直線部の露光幅とを
同じにすることを基本的考え方としていたことが原因で
招いていた上述のような不都合を解消することを目的と
する。
て、一定速度でのウニへの連続回転中に円弧部も直線部
も露光し、かつ、円弧部の露光幅と直線部の露光幅とを
同じにすることを基本的考え方としていたことが原因で
招いていた上述のような不都合を解消することを目的と
する。
〈課題を解決するための手段〉
本発明は、このような目的を達成するために、次のよう
な構成をとる。
な構成をとる。
[1−A]本発明に係る第1のウェハの周辺部露光装置
は、 周辺部が円弧部と直線部とからなるウェハを回転する回
転手段と、 ウェハの周辺部を露光する光照射手段と、ウェハ直線部
を検出する直線部検出手段と、前記直線部検出手段によ
るウェハ直線部の検出に基づいて現在のウェハの回転角
度情報を求める回転角度演算手段と、 前記光照射手段を前記回転手段の回転中心に対して相対
的に接近離間させる半径方向変位手段と、前記光照射手
段を前記半径方向変位手段の変位方向に対して直角な方
向に沿って回転手段に対して相対的に変位させる接線方
向変位手段と、円弧部露光幅および直線部露光幅を設定
する露光幅設定手段と、 前記回転角度演算手段による回転角度情報がウェハ直線
部の露光開始を示しているときには、前記回転手段の停
止状態で、前記露光幅設定手段における直線部露光幅に
基づいて前記半径方向変位手段を駆動して光照射手段の
ウェハ直線部に対する位置決めを行った後、接線方向変
位手段を駆動して光照射手段をウェハ直線部に沿って相
対的に直線的に変位させ、また、前記回転角度情報がウ
ェハ円弧部の露光開始を示しているときには、接線方向
変位手段の所定位置での停止状態で、前記露光幅設定手
段における円弧部露光幅に基づいて前記半径方向変位手
段を駆動して光照射手段のウェハ円弧部に対する位置決
めを行った後、回転手段を駆動して光照射手段に対しウ
ェハを回転させるように、前記回転手段、半径方向変位
手段および接線方向変位手段を制御する制御手段とを備
えたことを特徴とするものである。
は、 周辺部が円弧部と直線部とからなるウェハを回転する回
転手段と、 ウェハの周辺部を露光する光照射手段と、ウェハ直線部
を検出する直線部検出手段と、前記直線部検出手段によ
るウェハ直線部の検出に基づいて現在のウェハの回転角
度情報を求める回転角度演算手段と、 前記光照射手段を前記回転手段の回転中心に対して相対
的に接近離間させる半径方向変位手段と、前記光照射手
段を前記半径方向変位手段の変位方向に対して直角な方
向に沿って回転手段に対して相対的に変位させる接線方
向変位手段と、円弧部露光幅および直線部露光幅を設定
する露光幅設定手段と、 前記回転角度演算手段による回転角度情報がウェハ直線
部の露光開始を示しているときには、前記回転手段の停
止状態で、前記露光幅設定手段における直線部露光幅に
基づいて前記半径方向変位手段を駆動して光照射手段の
ウェハ直線部に対する位置決めを行った後、接線方向変
位手段を駆動して光照射手段をウェハ直線部に沿って相
対的に直線的に変位させ、また、前記回転角度情報がウ
ェハ円弧部の露光開始を示しているときには、接線方向
変位手段の所定位置での停止状態で、前記露光幅設定手
段における円弧部露光幅に基づいて前記半径方向変位手
段を駆動して光照射手段のウェハ円弧部に対する位置決
めを行った後、回転手段を駆動して光照射手段に対しウ
ェハを回転させるように、前記回転手段、半径方向変位
手段および接線方向変位手段を制御する制御手段とを備
えたことを特徴とするものである。
この構成における注記として、次の(a)〜(C)が挙
げられる。
げられる。
(a) 半径方向変位手段は、光照射手段の方を回転
手段に対して変位させるものでもよいし、回転手段の方
を光照射手段に対して変位させるものでもよい。
手段に対して変位させるものでもよいし、回転手段の方
を光照射手段に対して変位させるものでもよい。
a:1)接線方向変位手段は、光照射手段の方を回転手
段に対して変位させるものでもよいし、回転手段の方を
光照射手段に対して変位させるのでもよい。
段に対して変位させるものでもよいし、回転手段の方を
光照射手段に対して変位させるのでもよい。
(C) 制御手段は、ウェハ直線部に対する露光制御
を行った後にウェハ円弧部に対する露光制御を行うもの
でもよいし、その逆の順で制御を行うものでもよい。
を行った後にウェハ円弧部に対する露光制御を行うもの
でもよいし、その逆の順で制御を行うものでもよい。
[II−A]本発明に係る第2のウェハの周辺部露光装
置は、 周辺部が円弧部と直線部とからなるウェハを回転する回
転手段と、 ウェハの周辺部を露光する光照射手段と、ウェハ直線部
を検出する直線部検出手段と、前記直線部検出手段によ
るウェハ直線部の検出に基づいて現在のウェハの回転角
度情報を求める回転角度演算手段と、 前記光照射手段を前記回転手段の回転中心に対して相対
的に接近離間させる半径方向変位手段と、回転角度に応
した露光幅を設定する露光幅設定手段と、 前記回転角度演算手段による回転角度情報に基づいて前
記露光幅設定手段からそのときの回転角度に応した露光
幅を読み出し、その読み出した設定露光幅に基づいて前
記半径方向変位手段を駆動して光照射手段のウェハ周辺
部に対する位置の調整を行う制御手段 とを備えたことを特徴とするものである。
置は、 周辺部が円弧部と直線部とからなるウェハを回転する回
転手段と、 ウェハの周辺部を露光する光照射手段と、ウェハ直線部
を検出する直線部検出手段と、前記直線部検出手段によ
るウェハ直線部の検出に基づいて現在のウェハの回転角
度情報を求める回転角度演算手段と、 前記光照射手段を前記回転手段の回転中心に対して相対
的に接近離間させる半径方向変位手段と、回転角度に応
した露光幅を設定する露光幅設定手段と、 前記回転角度演算手段による回転角度情報に基づいて前
記露光幅設定手段からそのときの回転角度に応した露光
幅を読み出し、その読み出した設定露光幅に基づいて前
記半径方向変位手段を駆動して光照射手段のウェハ周辺
部に対する位置の調整を行う制御手段 とを備えたことを特徴とするものである。
この構成における注記として、次の(d)、 (e)が
挙げられる。
挙げられる。
(d) 半径方向変位手段は、光照射手段の方を回転
手段に対して変位させるものでもよいし、回転手段の方
を光照射手段に対して変位させるものでもよい。
手段に対して変位させるものでもよいし、回転手段の方
を光照射手段に対して変位させるものでもよい。
(e) 制御手段は、回転角度に応じた設定露光幅に
基づ(光照射手段の位置調整を、ウェハ円弧部に対して
行うものでもよいし、ウェハ直線部に対して行うもので
もよいし、あるいはその両方に対して行うものであって
もよい。
基づ(光照射手段の位置調整を、ウェハ円弧部に対して
行うものでもよいし、ウェハ直線部に対して行うもので
もよいし、あるいはその両方に対して行うものであって
もよい。
[m−A1本発明に係る第3のウェハの周辺部露光装置
は、 周辺部が円弧部と直線部とからなるウェハを回転する回
転手段と、 ウェハの周辺部を露光する光照射手段と、ウェハ直線部
を検出する直線部検出手段と、前記直線部検出手段によ
るウェハ直線部の検出に基づいて現在のウェハの回転角
度情報を求める回転角度演算手段と、 前記光照射手段を前記回転手段の回転中心に対して相対
的に接近離間させる半径方向変位手段と、回転角度に応
じた露光型を設定する露光量設定手段と、 前記回転角度演算手段による回転角度情報に基づいて前
記半径方向変位手段を駆動して光照射手段のウェハ周辺
部に対する位置の調整を行うとともに、前記回転角度情
報に基づいてiり記露光■設定手段からそのときの回転
角度に応じた露光型を読み出し、その読み出した設定露
光量に基づいてウェハ周辺部に対する前記光照射手段か
らの露光量の調整を行う制御手段 とを備えたことを特徴とするものである。
は、 周辺部が円弧部と直線部とからなるウェハを回転する回
転手段と、 ウェハの周辺部を露光する光照射手段と、ウェハ直線部
を検出する直線部検出手段と、前記直線部検出手段によ
るウェハ直線部の検出に基づいて現在のウェハの回転角
度情報を求める回転角度演算手段と、 前記光照射手段を前記回転手段の回転中心に対して相対
的に接近離間させる半径方向変位手段と、回転角度に応
じた露光型を設定する露光量設定手段と、 前記回転角度演算手段による回転角度情報に基づいて前
記半径方向変位手段を駆動して光照射手段のウェハ周辺
部に対する位置の調整を行うとともに、前記回転角度情
報に基づいてiり記露光■設定手段からそのときの回転
角度に応じた露光型を読み出し、その読み出した設定露
光量に基づいてウェハ周辺部に対する前記光照射手段か
らの露光量の調整を行う制御手段 とを備えたことを特徴とするものである。
この構成における注記として、次の(「)〜(h)が挙
げられる。
げられる。
m 半径方向変位手段は、光照射手段の方を回転手段
に対して変位させるものでもよいし、回転手段の方を光
照射手段に対して変位させるものでもよい。
に対して変位させるものでもよいし、回転手段の方を光
照射手段に対して変位させるものでもよい。
(g) 制御手段は、回転角度に応じた設定露光量に
基づく光照射手段の露光調整を、ウェハ円弧部に対して
行うものでもよいし、ウェハ直線部に対して行うもので
もよいし、あるいはその両方に対して行うものであって
もよい。
基づく光照射手段の露光調整を、ウェハ円弧部に対して
行うものでもよいし、ウェハ直線部に対して行うもので
もよいし、あるいはその両方に対して行うものであって
もよい。
(5)制御手段は、露光量の調整を、回転手段の回転速
度の制御をもって行うものでもよいし、回転速度は一定
として設定露光量の多い角度位置に対する露光回数を多
くするのでもよい。
度の制御をもって行うものでもよいし、回転速度は一定
として設定露光量の多い角度位置に対する露光回数を多
くするのでもよい。
〈作用〉
[1−1]第1のウェハの周辺部露光装置の作用ウェハ
直線部を露光するときには、回転手段(ウェハ)の停止
状態において、接線方向変位手段の駆動により光照射手
段をウェハ直線部に沿って直線的に変位させるから、そ
の露光幅は直線部の全長にわたって同一となる。さらに
、ウェハ直線部は、円弧部露光幅とは独立して設定され
た直線部露光幅において露光されることになる。
直線部を露光するときには、回転手段(ウェハ)の停止
状態において、接線方向変位手段の駆動により光照射手
段をウェハ直線部に沿って直線的に変位させるから、そ
の露光幅は直線部の全長にわたって同一となる。さらに
、ウェハ直線部は、円弧部露光幅とは独立して設定され
た直線部露光幅において露光されることになる。
[n−m]第2のウェハの周辺部露光装置の作用回転角
度情報に基づきそのときの回転角度に応じた設定露光幅
に従って半径方向変位手段を駆動して光照射手段のウェ
ハ周辺部に対する位置調整を行うから、回転角度ごとに
露光幅を可変とすることが可能となる。
度情報に基づきそのときの回転角度に応じた設定露光幅
に従って半径方向変位手段を駆動して光照射手段のウェ
ハ周辺部に対する位置調整を行うから、回転角度ごとに
露光幅を可変とすることが可能となる。
[■4]第3のウェハの周辺部露光装置の作用回転角度
情報に基づきそのときの回転角度に応じた設定露光量に
従って光照射手段からのウェハ周辺部に対する露光量の
調整を行うから、回転角度ごとに露光量を可変とするこ
とが可能となる。
情報に基づきそのときの回転角度に応じた設定露光量に
従って光照射手段からのウェハ周辺部に対する露光量の
調整を行うから、回転角度ごとに露光量を可変とするこ
とが可能となる。
〈実施例〉
まず、ウェハの周辺部露光装置の機械的・光学的な構造
について、第1図の斜視図を参照して説明する。
について、第1図の斜視図を参照して説明する。
ウェハWを吸着保持して水平回転させるためのスピンチ
ャックlの回転軸が第1のモータM1に連結されている
。スピンチャック1と第1のモータMlとが発明の構成
にいう回転手段Mθに相当する。
ャックlの回転軸が第1のモータM1に連結されている
。スピンチャック1と第1のモータMlとが発明の構成
にいう回転手段Mθに相当する。
光源部は、水銀キセノンランプ2.楕円鏡3゜紫外線透
過フィルタ4.シャンク5等から構成され、フィルタ4
を通過した紫外線を光ファイバ6によってその照射端6
aまで導くように構成しである。このランプ2から照射
端6aに至る部分が発明の構成にいう光照射手段Mvに
相当するが、よりi密には照射端6aが光照射手段Mv
に対応する。
過フィルタ4.シャンク5等から構成され、フィルタ4
を通過した紫外線を光ファイバ6によってその照射端6
aまで導くように構成しである。このランプ2から照射
端6aに至る部分が発明の構成にいう光照射手段Mvに
相当するが、よりi密には照射端6aが光照射手段Mv
に対応する。
光ファイバ6の照射端6aからウェハWの周辺部に対し
て照射する紫外線スポットの形状については、それを円
形とした場合には、スポット中心に対して、ウェハの半
径方向に対するスポットの両端位置(円形スポットにお
けるウェハの中心に近い位置と、遠い位置)では、積算
光量が少なくなるから、露光ひいてはレジスト除去が不
均一になる可能性があるので、スポット形状を方形にす
ることにより光量の均一化を図るようにすることが好ま
しい。
て照射する紫外線スポットの形状については、それを円
形とした場合には、スポット中心に対して、ウェハの半
径方向に対するスポットの両端位置(円形スポットにお
けるウェハの中心に近い位置と、遠い位置)では、積算
光量が少なくなるから、露光ひいてはレジスト除去が不
均一になる可能性があるので、スポット形状を方形にす
ることにより光量の均一化を図るようにすることが好ま
しい。
光ファイバ6の先端の照射端6aを保持するファイバ支
持アーム7がX−Yテーブル8に取り付けられている。
持アーム7がX−Yテーブル8に取り付けられている。
X−Yテーブル8は、Xテーブル8xおよびこのXテー
ブル8XをX方向に沿って往復移動させるための第2の
モータM2と<Xテーブル8x上に載置されたXテーブ
ル8xおよびこのXテーブル8xをY方向に沿って往復
移動させるための第3のモータM3とを備えている。X
テーブル8xにファイバ支持アーム7が取り付けられて
いる。
ブル8XをX方向に沿って往復移動させるための第2の
モータM2と<Xテーブル8x上に載置されたXテーブ
ル8xおよびこのXテーブル8xをY方向に沿って往復
移動させるための第3のモータM3とを備えている。X
テーブル8xにファイバ支持アーム7が取り付けられて
いる。
X方向は、照射端6aがらスピンチャックlの回転中心
に向かう方向であり、Y方向はX方向に対して直角な方
向である。
に向かう方向であり、Y方向はX方向に対して直角な方
向である。
Xテーブル8xと第2のモータM2とが発明の構成にい
う半径方向変位手段Mxを構成し、Xテーブル8xと第
3のモータM3とが発明の構成にいう接線方向変位手段
Myを構成している。
う半径方向変位手段Mxを構成し、Xテーブル8xと第
3のモータM3とが発明の構成にいう接線方向変位手段
Myを構成している。
なお、第1ないし第3のモータM1〜M3はステンピン
グモータである。
グモータである。
スピンチャック1に吸着保持されて回転するウェハWの
直線部Wsを検出する直線部検出手段Aとしてのライン
センサ9が、ウェハWの周辺部の回転軌跡に対応して配
置されている。
直線部Wsを検出する直線部検出手段Aとしてのライン
センサ9が、ウェハWの周辺部の回転軌跡に対応して配
置されている。
第2図は、ウェハの周辺部露光装置の機械的構造の別形
態を示すもので、2つの一軸テーブル10x、10yが
設けられている。−軸テーブル10xは光フアイバ照射
端6aをファイバ支持アーム7を介して保持するととも
に、第2のモータM2によってX方向に往復移動される
。また、−軸テーブル10yは回転手段Mθとしての第
1のモータM1およびスピンチャック1を取り付けて、
第3のモータM3によってY方向に往復移動される。
態を示すもので、2つの一軸テーブル10x、10yが
設けられている。−軸テーブル10xは光フアイバ照射
端6aをファイバ支持アーム7を介して保持するととも
に、第2のモータM2によってX方向に往復移動される
。また、−軸テーブル10yは回転手段Mθとしての第
1のモータM1およびスピンチャック1を取り付けて、
第3のモータM3によってY方向に往復移動される。
−軸テーブルlOxおよび第2のモータM2が半径方向
変位手段Mxに相当し、−軸テーブルtoyおよび第3
のモータM3が接線方向変位手段Myに相当する。
変位手段Mxに相当し、−軸テーブルtoyおよび第3
のモータM3が接線方向変位手段Myに相当する。
なお、第1図、第2図の構造に代えて、半径方向変位手
段Mxが、回転手段Mθ (第1のモータMlおよびス
ピンチャックl)の方を変位させるものとして構成され
ていてもよいし、あるいは、光照射手段Mvのファイバ
支持アーム7が固定で、回転手段MθをX−Yテーブル
8に取り付けてもよい。
段Mxが、回転手段Mθ (第1のモータMlおよびス
ピンチャックl)の方を変位させるものとして構成され
ていてもよいし、あるいは、光照射手段Mvのファイバ
支持アーム7が固定で、回転手段MθをX−Yテーブル
8に取り付けてもよい。
次に、スピンチャックlに吸着保持されたウェハWの直
線部Wsの検出、および、この直線部検出に基づいて現
在のウェハWの回転角度情報を得る手法を説明する。
線部Wsの検出、および、この直線部検出に基づいて現
在のウェハWの回転角度情報を得る手法を説明する。
図示しないアライメント機構によってウェハ〜Vの中心
がスピンチャックlの回転中心に位置合わせされる。中
心位置合わせが完了すると、スピンチャンク1において
真空吸引が行われ、ウェハWがスピンチャックlに吸着
される。
がスピンチャックlの回転中心に位置合わせされる。中
心位置合わせが完了すると、スピンチャンク1において
真空吸引が行われ、ウェハWがスピンチャックlに吸着
される。
第1のモータMlの駆動によってウェハWを回転すると
、ラインセンサ9上を円弧部Wcが通過している状態で
はラインセンサ9のセルのうちONとなるセル数は一定
である。その状態から、直線部Wsと円弧部Wcとの境
界である一方のウェハ端部Weが通過した瞬間に、ライ
ンセンサ9のONとなるセル数が増加する。このONセ
ル数増加によって一方のウェハ端部Weを検出できる。
、ラインセンサ9上を円弧部Wcが通過している状態で
はラインセンサ9のセルのうちONとなるセル数は一定
である。その状態から、直線部Wsと円弧部Wcとの境
界である一方のウェハ端部Weが通過した瞬間に、ライ
ンセンサ9のONとなるセル数が増加する。このONセ
ル数増加によって一方のウェハ端部Weを検出できる。
さらにウェハWが回転すると、ラインセンサ9に対して
直線部Wsのセンタが到達するまでは、ONセル数は増
加し続け、そのセンタを過ぎるとONセル数は最大値か
ら減少する。そして、もう一方のウェハ端部Weがライ
ンセンサ9を通過すると、ONセル数は減少状態から一
定状態に変化する。この変化によって他方のウェハ端部
Weを検出できる。
直線部Wsのセンタが到達するまでは、ONセル数は増
加し続け、そのセンタを過ぎるとONセル数は最大値か
ら減少する。そして、もう一方のウェハ端部Weがライ
ンセンサ9を通過すると、ONセル数は減少状態から一
定状態に変化する。この変化によって他方のウェハ端部
Weを検出できる。
モータMlはステッピングモータであってパルスエンコ
ーダ(図示せず)を内蔵している。パルスエンコーダの
原点位置から一方のウェハ端部Weを検出するまでのパ
ルス数に対応した回転角度をθl、他方のウェハ端部W
eを検出するまでのパルス数に対応した回転角度を02
とすると、原点位置から角度α=((θ2−θ1 )
/2 )+θlに対応したパルス数のところが、原点位
置から直線部Wsのセンタまでの回転角度となる。これ
が、このウェハWの基準角度である。
ーダ(図示せず)を内蔵している。パルスエンコーダの
原点位置から一方のウェハ端部Weを検出するまでのパ
ルス数に対応した回転角度をθl、他方のウェハ端部W
eを検出するまでのパルス数に対応した回転角度を02
とすると、原点位置から角度α=((θ2−θ1 )
/2 )+θlに対応したパルス数のところが、原点位
置から直線部Wsのセンタまでの回転角度となる。これ
が、このウェハWの基準角度である。
このようにして直線部Wsのセンタにおける基準角度α
を算出した後、ウェハWをもう1回転させて基準角度α
に対応したパルス数を検出した時点でモータM1を停止
すると、ウェハWは、その直線部Wsが接線方向変位手
段!11LYの変位方向すなわちY方向に平行な状態で
停止することになる。
を算出した後、ウェハWをもう1回転させて基準角度α
に対応したパルス数を検出した時点でモータM1を停止
すると、ウェハWは、その直線部Wsが接線方向変位手
段!11LYの変位方向すなわちY方向に平行な状態で
停止することになる。
そして、この状態で接線方向変位手段Myを駆動してウ
ェハ直線部Wsに対する直線的な露光を行うことになる
。
ェハ直線部Wsに対する直線的な露光を行うことになる
。
ウェハWを回転している状態でのウェハ〜Vの回転角度
の情報は、原点位置からの現在までのパルス数と基準角
度αまでのパルス数との差に対応した角度を基準角度α
に加算したものとして得ることができる。
の情報は、原点位置からの現在までのパルス数と基準角
度αまでのパルス数との差に対応した角度を基準角度α
に加算したものとして得ることができる。
なお、上記では基準角度αの算出を直線部Wsにおける
両端のウェハ端部We、Weの検出に基づいていたが、
端部に限る必要はなく、直線部WSの左右対称な特定の
2箇所の検出に基づいて算出してもよい。すなわち、ウ
ェハWの半径をR2直線部WsのセンタからウェハWの
中心までの距離をSとして、ウェハWの中心から半径「
(ただし、R<r<S)の箇所に直線部検出手段として
例えばフォトセンサを置くと、ウェハWの1回転により
直線部Wsにおける特定の2箇所を検出することになる
。そのときの回転角度を03.θ4とすると、((θ4
−03)/2)+θ3に対応するところが基準角度であ
る。
両端のウェハ端部We、Weの検出に基づいていたが、
端部に限る必要はなく、直線部WSの左右対称な特定の
2箇所の検出に基づいて算出してもよい。すなわち、ウ
ェハWの半径をR2直線部WsのセンタからウェハWの
中心までの距離をSとして、ウェハWの中心から半径「
(ただし、R<r<S)の箇所に直線部検出手段として
例えばフォトセンサを置くと、ウェハWの1回転により
直線部Wsにおける特定の2箇所を検出することになる
。そのときの回転角度を03.θ4とすると、((θ4
−03)/2)+θ3に対応するところが基準角度であ
る。
次に、第1ないし第3のウェハの周辺部露光装置それぞ
れの制御系統の構成ならびに動作を説明する。
れの制御系統の構成ならびに動作を説明する。
[I−C]第1のウェハの周辺部露光装置第3図のブロ
ック図において、Aは、上述のラインセンサ9またはフ
ォトセンサに相当する直線部検出手段、Bは、直線部検
出手段Aによるウェハ直線部Wsの検出、ならびに回転
手段Mθにおいてパルスエンコーダの出力に基づいてウ
ェハWの基準角度αおよび時々刻々変化する現在の回転
角度情報θLを求める回転角度演算手段、Cは、円弧部
露光幅Lcおよび直線部露光幅Lsを互いに独立して設
定する露光幅設定手段である。
ック図において、Aは、上述のラインセンサ9またはフ
ォトセンサに相当する直線部検出手段、Bは、直線部検
出手段Aによるウェハ直線部Wsの検出、ならびに回転
手段Mθにおいてパルスエンコーダの出力に基づいてウ
ェハWの基準角度αおよび時々刻々変化する現在の回転
角度情報θLを求める回転角度演算手段、Cは、円弧部
露光幅Lcおよび直線部露光幅Lsを互いに独立して設
定する露光幅設定手段である。
Mvは、前記の第1のモータM1とスピンチャックlと
に相当するウェハWの回転手段、Mvは、前記のランプ
2.シャッタ5.光フアイバ6等に相当する光照射手段
、Mxは前述の半径方向変位手段、M3Fは接線方向変
位手段、Eは、回転角度情報θtと設定露光幅(Lcま
たはLs)に基づいて、前記回転手段Mθ、光照射手段
Mv、半径方向変位手段Mx、接線方向変位手段Myを
制御する制御手段である。
に相当するウェハWの回転手段、Mvは、前記のランプ
2.シャッタ5.光フアイバ6等に相当する光照射手段
、Mxは前述の半径方向変位手段、M3Fは接線方向変
位手段、Eは、回転角度情報θtと設定露光幅(Lcま
たはLs)に基づいて、前記回転手段Mθ、光照射手段
Mv、半径方向変位手段Mx、接線方向変位手段Myを
制御する制御手段である。
スピンチャック1に移載されたウェハWは、図示しない
アライメント機構によって中心合わせが行われた後、ス
ピンチャック1に吸着保持される。
アライメント機構によって中心合わせが行われた後、ス
ピンチャック1に吸着保持される。
制御手段Eは、回転手段Mθ (第1のモータMl)を
駆動してスピンチャックlを一方向に回転させる。一方
、回転角度演算手段Bは、直線部検出手段Aから入力し
た原点位置からの角度θ1(またはθ3)と角度θ2(
またはθ4)とに基づいて基準角度αを算出する〔α=
((θ2−θ1)/2)+θ1または((θ4−θ3)
/2]+θ3)(第4図(a)参照)。
駆動してスピンチャックlを一方向に回転させる。一方
、回転角度演算手段Bは、直線部検出手段Aから入力し
た原点位置からの角度θ1(またはθ3)と角度θ2(
またはθ4)とに基づいて基準角度αを算出する〔α=
((θ2−θ1)/2)+θ1または((θ4−θ3)
/2]+θ3)(第4図(a)参照)。
制御手段Eは、この基準角度αを入力するとともに、回
転手段Mθの駆動を続ける。回転角度演算手段Bは、2
回転目においても直線部検出手段Aから入力した原点位
置からの時々刻々変化する回転角度情報θtと基準角度
αとを比較し、θL−αとなったときに、制御手段已に
停止指令信号を出力する。制御手段Eはその信号を受け
て回転手段Mθを停止する。このとき、ウェハWは、そ
の直線部Wsが接線方向変位手段M31の変位方向すな
わちY方向に平行な状態で停止する(第4図(b)参照
)。
転手段Mθの駆動を続ける。回転角度演算手段Bは、2
回転目においても直線部検出手段Aから入力した原点位
置からの時々刻々変化する回転角度情報θtと基準角度
αとを比較し、θL−αとなったときに、制御手段已に
停止指令信号を出力する。制御手段Eはその信号を受け
て回転手段Mθを停止する。このとき、ウェハWは、そ
の直線部Wsが接線方向変位手段M31の変位方向すな
わちY方向に平行な状態で停止する(第4図(b)参照
)。
次いで、直線部露光のための準備動作に移る。
すなわち、制御手段Eは、露光幅設定手段Cから直線部
露光幅Lsを読み取り、これに基づいて半径方向変位手
段Mxを駆動して光照射手段Mvのウェハ直線部Wsに
対する位置決めを行う。なお、同時にあるいは相前後し
て接線方向変位手段Myを駆動して光照射手段Mvをウ
ェハ直線部Wsの端部よりも外側に位置させる(第4図
(C)参照)。
露光幅Lsを読み取り、これに基づいて半径方向変位手
段Mxを駆動して光照射手段Mvのウェハ直線部Wsに
対する位置決めを行う。なお、同時にあるいは相前後し
て接線方向変位手段Myを駆動して光照射手段Mvをウ
ェハ直線部Wsの端部よりも外側に位置させる(第4図
(C)参照)。
制御手段Eは、光照射手段Mvのシャッタ5を開いて光
フアイバ照射端6aから紫外線の照射を開始するととも
に、接線方向変位手段Myを駆動することにより光照射
手段MvをY方向に沿って直線的に変位させ、ウェハ直
線部Wsを光フアイバ照射端6aからの紫外線によって
直線的にかつ設定された直線部露光幅Lsにおいて均一
に露光していく(第4図(d)参照)。光フアイバ照射
端6aがウェハ直線部Wsの他端を通過するとシャンク
5を閉じる。
フアイバ照射端6aから紫外線の照射を開始するととも
に、接線方向変位手段Myを駆動することにより光照射
手段MvをY方向に沿って直線的に変位させ、ウェハ直
線部Wsを光フアイバ照射端6aからの紫外線によって
直線的にかつ設定された直線部露光幅Lsにおいて均一
に露光していく(第4図(d)参照)。光フアイバ照射
端6aがウェハ直線部Wsの他端を通過するとシャンク
5を閉じる。
次いで、円弧部露光のための準備動作に移る。
すなわち、制御手段Eは、回転手段Mθを駆動してウェ
ハWを基準角度αだけ回転させるとともに、接線方向変
位手段Myを逆方向に駆動して光照射手段Mvをその原
点位置に戻す。次いで、制御手段Eは、露光幅設定手段
Cから円弧部露光幅Lcを読み取り、これに基づいて半
径方向変位手段MXを駆動して光照射手段Mvのウェハ
円弧部Wcに対する位置決めを行う(第4回(e)参照
)。
ハWを基準角度αだけ回転させるとともに、接線方向変
位手段Myを逆方向に駆動して光照射手段Mvをその原
点位置に戻す。次いで、制御手段Eは、露光幅設定手段
Cから円弧部露光幅Lcを読み取り、これに基づいて半
径方向変位手段MXを駆動して光照射手段Mvのウェハ
円弧部Wcに対する位置決めを行う(第4回(e)参照
)。
制御手段Eは、光照射手段Mvのシャッタ5を開いて光
フアイバ照射端6aから紫外線の照射を再開するととも
に、回転手段Mθを駆動することによってウェハWを光
照射手段Mvに対して回転させ、光フアイバ照射端6a
からの紫外線によってウェハ円弧部Wcを円弧部露光幅
Lcにおいて均一に露光していく(第4図(f)参照)
。光ファイバ照射端6aがウェハ円弧部Wcの終端を通
過するとシャック5を閉じる。そして、半径方向変位手
段Mxを駆動して光照射手段Mvを原点位置に戻す。
フアイバ照射端6aから紫外線の照射を再開するととも
に、回転手段Mθを駆動することによってウェハWを光
照射手段Mvに対して回転させ、光フアイバ照射端6a
からの紫外線によってウェハ円弧部Wcを円弧部露光幅
Lcにおいて均一に露光していく(第4図(f)参照)
。光ファイバ照射端6aがウェハ円弧部Wcの終端を通
過するとシャック5を閉じる。そして、半径方向変位手
段Mxを駆動して光照射手段Mvを原点位置に戻す。
以上によって、ウェハ直線部Wsは、直線部WSの全長
にわたって均一な露光幅で露光される。
にわたって均一な露光幅で露光される。
なお、ウェハ円弧部Weの露光幅Lcから独立した露光
幅Lsで露光される。
幅Lsで露光される。
なお、この動作例では、制御手段Eは、直線部Wsの露
光を先に、円弧部Wcの露光を後に行ったが、これとは
逆に、円弧部WCの露光を先に、直線部Wsの露光を後
に行うようにしてもよい。
光を先に、円弧部Wcの露光を後に行ったが、これとは
逆に、円弧部WCの露光を先に、直線部Wsの露光を後
に行うようにしてもよい。
また、円弧部露光幅Lc、直線部露光幅Lsの設定値を
どのように選択するかは任意であり、条件や目的に応じ
て適正なそして種々の組み合わせのちとに雨露光幅Lc
、Lsを自由に変更することができる。
どのように選択するかは任意であり、条件や目的に応じ
て適正なそして種々の組み合わせのちとに雨露光幅Lc
、Lsを自由に変更することができる。
[n−c]第2のウェハの周辺部露光装置この場合、基
本的には第3図に示したブロック図と同様の構成をもつ
。
本的には第3図に示したブロック図と同様の構成をもつ
。
ただし、露光幅設定手段Cは、円弧部Wc、直線部Ws
といった大きな分は方での露光幅の設定ではなく、もっ
と細かく設定できるものであり、特に、円弧部Wcにお
いては、回転角度θLに応じた露光幅L(θ、)を設定
するものとして構成されている。また、制御手段Eは、
回転角度θLに基づいて露光幅設定手段Cからそのとき
の回転角度θtに応じた露光幅L(θt)を読み出し、
その露光幅L(θ、)に基づいて半径方向変位手段Mx
を駆動して光照射手段MvのウェハWに対して位置の調
整を行うものとして構成されている。
といった大きな分は方での露光幅の設定ではなく、もっ
と細かく設定できるものであり、特に、円弧部Wcにお
いては、回転角度θLに応じた露光幅L(θ、)を設定
するものとして構成されている。また、制御手段Eは、
回転角度θLに基づいて露光幅設定手段Cからそのとき
の回転角度θtに応じた露光幅L(θt)を読み出し、
その露光幅L(θ、)に基づいて半径方向変位手段Mx
を駆動して光照射手段MvのウェハWに対して位置の調
整を行うものとして構成されている。
制御手段Eは、回転手段Mθを駆動してウェハWを回転
させる一方、回転角度演算手段Bは、直線部検出手段A
の検出信号に基づいて基準角度αを算出する(第5図(
a)参照)。
させる一方、回転角度演算手段Bは、直線部検出手段A
の検出信号に基づいて基準角度αを算出する(第5図(
a)参照)。
制御手段Eは、基準角度αを算出した後、−旦、回転手
段Mθの駆動を停止して、露光のための準備動作に移る
。すなわち、制御手段Eは、露光幅設定手段Cから停止
角度θt0に応じた露光幅L(θto)を読み取り、こ
れに基づいて半径方向変位手段Mxを駆動して光照射手
段Mvのウェハ円弧部Wcに対する位置決めを行う(第
5図(b)参照)。
段Mθの駆動を停止して、露光のための準備動作に移る
。すなわち、制御手段Eは、露光幅設定手段Cから停止
角度θt0に応じた露光幅L(θto)を読み取り、こ
れに基づいて半径方向変位手段Mxを駆動して光照射手
段Mvのウェハ円弧部Wcに対する位置決めを行う(第
5図(b)参照)。
制御手段Eは、光照射手段Mvのシャッタ5を開いて、
光フアイバ照射端6aから紫外線の照射を開始するとと
もに、回転手段Mθを駆動してウェハWを回転しながら
ウェハ円弧部Wcを露光していく(第5図(c)参照)
、この間、回転手段Mθのパルスエンコーダからの信号
によって回転角度演算手段Bで演算された現在の回転角
度θLが常に監視されている。
光フアイバ照射端6aから紫外線の照射を開始するとと
もに、回転手段Mθを駆動してウェハWを回転しながら
ウェハ円弧部Wcを露光していく(第5図(c)参照)
、この間、回転手段Mθのパルスエンコーダからの信号
によって回転角度演算手段Bで演算された現在の回転角
度θLが常に監視されている。
回転角度θtが露光幅の変化点θt、に達したとき、制
御手段Eは回転手段Mθを停止する。そして、露光幅設
定手段Cから読み出した露光幅L(θ1+)に基づいて
半径方向変位手段Mxを駆動し、光照射手段Mvのウェ
ハ円弧部Wcに対して位置調整を改めて行う(第5図(
d)参照)。
御手段Eは回転手段Mθを停止する。そして、露光幅設
定手段Cから読み出した露光幅L(θ1+)に基づいて
半径方向変位手段Mxを駆動し、光照射手段Mvのウェ
ハ円弧部Wcに対して位置調整を改めて行う(第5図(
d)参照)。
再び、回転手段Mθを駆動してウェハWを回転しながら
、新たな露光幅L(θ、1)において円弧部Wcを露光
していく。そして、再度、回転角度θLが露光幅の変化
点θt2に達したとき、制御手段Eは回転手段Mθを停
止し、露光幅設定手段Cから読み出した露光幅L(θ、
2)に基づいて半径方向変位手段Mxを駆動し、光照射
手段M vのウェハ円弧部Wcに対して位置調整を改め
て行う(第5図(e)参照)。
、新たな露光幅L(θ、1)において円弧部Wcを露光
していく。そして、再度、回転角度θLが露光幅の変化
点θt2に達したとき、制御手段Eは回転手段Mθを停
止し、露光幅設定手段Cから読み出した露光幅L(θ、
2)に基づいて半径方向変位手段Mxを駆動し、光照射
手段M vのウェハ円弧部Wcに対して位置調整を改め
て行う(第5図(e)参照)。
なお、L(0w)=L(θ、。)〈l(θ1.)とする
のが普通である。クランプ爪kによるクランプ領域Wk
のレジスト除去のためである。
のが普通である。クランプ爪kによるクランプ領域Wk
のレジスト除去のためである。
このようにして、ウェハ円弧部Wcにおいて、広幅のク
ランプ領域Wkが複数箇所露光される(第5図(f)参
照)。
ランプ領域Wkが複数箇所露光される(第5図(f)参
照)。
なお、ウェハ直線部Wsに対する露光の際は、回転角度
θL、ごとの露光幅L(θ1.)によって細かく段階的
に露光幅を調整するものとする。すなわち、直線部Ws
に対しても、回転角度に応じた設定露光幅に基づく露光
を行うのである。この場合、接線方向変位手段Myは不
要となる。
θL、ごとの露光幅L(θ1.)によって細かく段階的
に露光幅を調整するものとする。すなわち、直線部Ws
に対しても、回転角度に応じた設定露光幅に基づく露光
を行うのである。この場合、接線方向変位手段Myは不
要となる。
あるいは、ウェハ端部Weの検出をもって、第4図(b
)のようにウェハ直線部WsをY方向と平行とし、接線
方向変位手段Myの駆動による光照射手段Mvの直線移
動でもって直線部Wsを露光してもよい。
)のようにウェハ直線部WsをY方向と平行とし、接線
方向変位手段Myの駆動による光照射手段Mvの直線移
動でもって直線部Wsを露光してもよい。
別の方式として、ウェハWを2回転させるとし、1回転
目では細い露光幅L(θ、。)を一定の露光幅として固
定化し、その一定置光幅にて1周して連続露光し、2回
転目では広い露光幅L(θtl)を一定の露光幅として
固定化するとともに、その広い幅のところの回転角度と
一致したときのみシャッタ5を開いて露光し、他の角度
範囲ではシャッタ5を閉じておくというふうに構成して
もよい。
目では細い露光幅L(θ、。)を一定の露光幅として固
定化し、その一定置光幅にて1周して連続露光し、2回
転目では広い露光幅L(θtl)を一定の露光幅として
固定化するとともに、その広い幅のところの回転角度と
一致したときのみシャッタ5を開いて露光し、他の角度
範囲ではシャッタ5を閉じておくというふうに構成して
もよい。
[m−c]第3のウェハの周辺部露光装置この場合も、
基本的には第3図に示したブロック図と同様の構成をも
つ。ただし、二点鎖線で示すように、回転角度θtに応
じた露光IQ(θ、)を設定しておくための露光量設定
手段りを有している。また、制御手段Eは、回転角度θ
tに基づいて露光量設定手段りからそのときの回転角度
θtに応じた露光量Q(θ、)を読み出し、その露光量
Q(θ、)に基づいて光照射手段MvからのウェハWに
対する露光量を調整するものとして構成されている。
基本的には第3図に示したブロック図と同様の構成をも
つ。ただし、二点鎖線で示すように、回転角度θtに応
じた露光IQ(θ、)を設定しておくための露光量設定
手段りを有している。また、制御手段Eは、回転角度θ
tに基づいて露光量設定手段りからそのときの回転角度
θtに応じた露光量Q(θ、)を読み出し、その露光量
Q(θ、)に基づいて光照射手段MvからのウェハWに
対する露光量を調整するものとして構成されている。
ランプ2から照射され紫外線透過フィルタ4を通った紫
外線の強度を1.(一定)、ウェハWの半径をr、回転
角速度をω、周速度をVとすると、v=rωであり、周
速度Vが速いほど露光fftQは少なくなるから、Qc
cl。/Vとなる。逆に、露光ff1Qを多く必要とす
る角度範囲はど周速度Vを遅くする必要がある。すなわ
ち、voc■。/Qだからである。そのような領域とし
て、例えば厚膜領域Waがある。
外線の強度を1.(一定)、ウェハWの半径をr、回転
角速度をω、周速度をVとすると、v=rωであり、周
速度Vが速いほど露光fftQは少なくなるから、Qc
cl。/Vとなる。逆に、露光ff1Qを多く必要とす
る角度範囲はど周速度Vを遅くする必要がある。すなわ
ち、voc■。/Qだからである。そのような領域とし
て、例えば厚膜領域Waがある。
制御手段Eは、回転手段Mθを駆動してウェハWを回転
させる一方、回転角度演算手段Bは、直線部検出手段A
の検出信号に基づいて基準角度αを算出する(第6図(
a)参照)。
させる一方、回転角度演算手段Bは、直線部検出手段A
の検出信号に基づいて基準角度αを算出する(第6図(
a)参照)。
制御手段Eは、基準角度αを算出した後、−旦、回転手
段Mθの駆動を停止して、露光のための準備動作に移る
。すなわち、制御手段Eは、露光幅設定手段Cから停止
角度θむ。に応じた露光幅L(θ、。)を読み取り、こ
れに基づいて半径方向変位手段Mxを駆動して光照射手
段Mvのウェハ円弧部Wcに対する位置決めを行う、同
時に、制御手段Eは、露光量設定手段りから停止角度θ
t0に応じた露光IQ(θ、。)を読み取り、これに対
応した回転角速度ω、。を設定しておく(第6図(b)
参照)。
段Mθの駆動を停止して、露光のための準備動作に移る
。すなわち、制御手段Eは、露光幅設定手段Cから停止
角度θむ。に応じた露光幅L(θ、。)を読み取り、こ
れに基づいて半径方向変位手段Mxを駆動して光照射手
段Mvのウェハ円弧部Wcに対する位置決めを行う、同
時に、制御手段Eは、露光量設定手段りから停止角度θ
t0に応じた露光IQ(θ、。)を読み取り、これに対
応した回転角速度ω、。を設定しておく(第6図(b)
参照)。
制御手段Eは、光照射手段Mvのシャッタ5を開いて、
光フアイバ照射端6aから紫外線の照射を開始するとと
もに、回転手段Mθを回転角速度ω、。で駆動してウェ
ハWを回転しなからウェハ円弧部Wcを露光していく(
第6図(c)参照)。
光フアイバ照射端6aから紫外線の照射を開始するとと
もに、回転手段Mθを回転角速度ω、。で駆動してウェ
ハWを回転しなからウェハ円弧部Wcを露光していく(
第6図(c)参照)。
この間、回転手段Mθのパルスエンコーダからの信号に
よって回転角度演算手段Bで演算された現在の回転角度
θtが常に監視されている。
よって回転角度演算手段Bで演算された現在の回転角度
θtが常に監視されている。
回転角度θtが露光量の変化点θt3に達したとき、露
光量設定手段りから読み出した露光ff1Q(θ、コ)
に基づいた回転角速度ω5.で回転手段Mθを駆動する
(第6図(d)参照)、ω1.〈ωLOとなっている。
光量設定手段りから読み出した露光ff1Q(θ、コ)
に基づいた回転角速度ω5.で回転手段Mθを駆動する
(第6図(d)参照)、ω1.〈ωLOとなっている。
そして、再度、回転角度θtが露光量の変化点θt4に
達したときに、n光量設定手段りから読み出した露光f
iQ(θ、4)に基づいて回転角速度ωt4を算出し、
これに基づいた回転角速度ωL4でウェハWを回転しな
がら露光していく(第6図(e)参照)。ωt4=ω、
。〉ω、3となっている。
達したときに、n光量設定手段りから読み出した露光f
iQ(θ、4)に基づいて回転角速度ωt4を算出し、
これに基づいた回転角速度ωL4でウェハWを回転しな
がら露光していく(第6図(e)参照)。ωt4=ω、
。〉ω、3となっている。
以上のように、部分部分によって回転角速度が異なり、
レジスト膜厚の厚いところでは露光量を多くするために
比較的ゆっくりウェハWを回転させ、レジスト膜厚の薄
いところでは処理のスルーブツトの向上のために速くウ
ェハWを回転させる。
レジスト膜厚の厚いところでは露光量を多くするために
比較的ゆっくりウェハWを回転させ、レジスト膜厚の薄
いところでは処理のスルーブツトの向上のために速くウ
ェハWを回転させる。
なお、ウェハ直線部Wsに対する露光の際は、回転角度
Otiごとの露光量Q(θ5.)によって細かく段階的
に露光量を調整するものとする。この場合、接線方向変
位手段Myは不要となり、直線部露光時には、回転角度
θt1ごとに半径方向変位手段Mxを移動させる。
Otiごとの露光量Q(θ5.)によって細かく段階的
に露光量を調整するものとする。この場合、接線方向変
位手段Myは不要となり、直線部露光時には、回転角度
θt1ごとに半径方向変位手段Mxを移動させる。
あるいは、ウェハ端部Weの検出をもって、第4図(b
)のようにウェハ直線部WsをY方向と平行とし、接線
方向変位手段Myの駆動による光照射手段Mvの直線移
動でもって直線部Wsを露光してもよい。そのようにし
た場合には、露光量設定手段りに、Y方向の位置に対応
した露光量も設定させておき、その設定された露光量に
基づいて接線方向変位手段Myの速度を制御するように
してもよい。そうすることにより、かかる場合でも、直
線部に対して露光量を制御できる。
)のようにウェハ直線部WsをY方向と平行とし、接線
方向変位手段Myの駆動による光照射手段Mvの直線移
動でもって直線部Wsを露光してもよい。そのようにし
た場合には、露光量設定手段りに、Y方向の位置に対応
した露光量も設定させておき、その設定された露光量に
基づいて接線方向変位手段Myの速度を制御するように
してもよい。そうすることにより、かかる場合でも、直
線部に対して露光量を制御できる。
別の方式として、ウェハWを2回転させるものとし、1
回転目では全周にわたって一定の速度で回転させ、2回
転目では多くの光量を必要とする箇所においてシャッタ
5を開いて露光し、他の角度範囲ではシャンク5を閉じ
ておくというふうに構成してもよい。
回転目では全周にわたって一定の速度で回転させ、2回
転目では多くの光量を必要とする箇所においてシャッタ
5を開いて露光し、他の角度範囲ではシャンク5を閉じ
ておくというふうに構成してもよい。
〈発明の効果〉
[1−n]]第のウェハの周辺部露光装置の効果ウェハ
直線部を露光するときには、ウェハの回転を停めた状態
で光照射手段をウェハ直線部に沿って直線的に変位させ
るから、直線部の全長にわたって同一露光幅で露光する
ことができる。また、ウェハ円弧部とウェハ直線部とで
互いに独立して設定される露光幅で露光することが可能
であり、パターン領域の直近までの幅の広い露光を行う
ことができる。
直線部を露光するときには、ウェハの回転を停めた状態
で光照射手段をウェハ直線部に沿って直線的に変位させ
るから、直線部の全長にわたって同一露光幅で露光する
ことができる。また、ウェハ円弧部とウェハ直線部とで
互いに独立して設定される露光幅で露光することが可能
であり、パターン領域の直近までの幅の広い露光を行う
ことができる。
[11,]第2のウェハの周辺部露光装置の効実現在の
回転角度に応じた設定露光幅に従って光照射手段のウェ
ハ周辺部に対する位置調整を行うから、後工程において
クランプ爪でつかむ角度位置では他の角度位置よりも露
光幅を大きめに設定しておくことにより、クランプ領域
を他の領域よりも大きな幅で露光することが可能となる
。したがって、クランプ爪でクランプ領域をつかんだと
きにレジストが剥離してウェハのパターン上に付着した
り装置を汚染するといった不都合を防止することができ
る。
回転角度に応じた設定露光幅に従って光照射手段のウェ
ハ周辺部に対する位置調整を行うから、後工程において
クランプ爪でつかむ角度位置では他の角度位置よりも露
光幅を大きめに設定しておくことにより、クランプ領域
を他の領域よりも大きな幅で露光することが可能となる
。したがって、クランプ爪でクランプ領域をつかんだと
きにレジストが剥離してウェハのパターン上に付着した
り装置を汚染するといった不都合を防止することができ
る。
また、厚膜領域が広い場合に、そこだけを広い幅で露光
することが可能であるので、厚膜領域の全域に対して露
光することができる。
することが可能であるので、厚膜領域の全域に対して露
光することができる。
[111−、]第3のウェハの周辺部露光装置の効実現
在の回転角度に応じた設定露光量に従ってウェハ周辺部
に対する露光量の調整を行うから、厚膜領域に対応した
回転角度位置では他の回転角度位置よりも露光量を多め
に設定しておくことにより、厚膜領域を充分な光量で露
光することが可能となる。したがって、厚膜領域のレジ
スト除去を良好に行うことができる。
在の回転角度に応じた設定露光量に従ってウェハ周辺部
に対する露光量の調整を行うから、厚膜領域に対応した
回転角度位置では他の回転角度位置よりも露光量を多め
に設定しておくことにより、厚膜領域を充分な光量で露
光することが可能となる。したがって、厚膜領域のレジ
スト除去を良好に行うことができる。
なお、露光量の調整を回転手段の回転速度によって行う
場合、つまり、設定露光量が多い回転角度位置はど回転
速度を遅くする場合には、厚膜領域のレジスト除去のた
めに常時的に回転速度を遅くする場合に比べて、全体的
な処理速度の低下がそれほどでなくスループットの低下
もあまり生じない。
場合、つまり、設定露光量が多い回転角度位置はど回転
速度を遅くする場合には、厚膜領域のレジスト除去のた
めに常時的に回転速度を遅くする場合に比べて、全体的
な処理速度の低下がそれほどでなくスループットの低下
もあまり生じない。
第1図ないし第6図は本発明の実施例に係り、第1図は
ウェハの周辺部露光装置の機械的・光学的構造を示す斜
視図、第2図は別形態の構造を示す斜視図、第3図はウ
ェハの周辺部露光装置のブロック構成図、第4図は第1
のウェハの周辺部露光装置の動作説明図、第5図は第2
のウェハの周辺部露光装置の動作説明図、第6図は第3
のウェハの周辺部露光装置の動作説明図である。第7図
ないし第11図は従来の問題点を指摘するための図であ
る。 1・・・スピンチャック 2・・・水銀キセノンランプ 5・・・シャッタ 6・・・光ファイバ 6a・・・照射端 7・・・ファイバ支持アーム 8・・・X−Yテーブル 9・・・ラインセンサ 10x、10y・・・−軸テーブル W・・・ウェハ Wc・・・ウェハ円弧部 Ws・・・ウェハ直線部 Mθ・・・回転手段 Mv・・・光照射手段 Mx・・・半径方向変位手段 My・・・接線方向変位手段 A・・・直線部棲出手段 B・・・回転角度演算手段 Q C・・・露光幅設定手段 D・・・露光量設定手段 E・・・制御手段 θL・・・回転角度 Lc・・・円弧部露光幅 Ls・・・直線部露光幅 (θt)・・・回転角度に応じた露光幅(θ、)・・・
回転角度に応じた露光量出願人 大日本スクリーン製造
株式会社代理人 弁理士 杉 谷 勉 第 図 (b) 第 (d) (b) (e) 箭 図 胃 図 第 図 110図
ウェハの周辺部露光装置の機械的・光学的構造を示す斜
視図、第2図は別形態の構造を示す斜視図、第3図はウ
ェハの周辺部露光装置のブロック構成図、第4図は第1
のウェハの周辺部露光装置の動作説明図、第5図は第2
のウェハの周辺部露光装置の動作説明図、第6図は第3
のウェハの周辺部露光装置の動作説明図である。第7図
ないし第11図は従来の問題点を指摘するための図であ
る。 1・・・スピンチャック 2・・・水銀キセノンランプ 5・・・シャッタ 6・・・光ファイバ 6a・・・照射端 7・・・ファイバ支持アーム 8・・・X−Yテーブル 9・・・ラインセンサ 10x、10y・・・−軸テーブル W・・・ウェハ Wc・・・ウェハ円弧部 Ws・・・ウェハ直線部 Mθ・・・回転手段 Mv・・・光照射手段 Mx・・・半径方向変位手段 My・・・接線方向変位手段 A・・・直線部棲出手段 B・・・回転角度演算手段 Q C・・・露光幅設定手段 D・・・露光量設定手段 E・・・制御手段 θL・・・回転角度 Lc・・・円弧部露光幅 Ls・・・直線部露光幅 (θt)・・・回転角度に応じた露光幅(θ、)・・・
回転角度に応じた露光量出願人 大日本スクリーン製造
株式会社代理人 弁理士 杉 谷 勉 第 図 (b) 第 (d) (b) (e) 箭 図 胃 図 第 図 110図
Claims (3)
- (1)周辺部が円弧部と直線部とからなるウェハを回転
する回転手段と、 ウェハの周辺部を露光する光照射手段と、 ウェハ直線部を検出する直線部検出手段と、前記直線部
検出手段によるウェハ直線部の検出に基づいて現在のウ
ェハの回転角度情報を求める回転角度演算手段と、 前記光照射手段を前記回転手段の回転中心に対して相対
的に接近離間させる半径方向変位手段と、前記光照射手
段を前記半径方向変位手段の変位方向に対して直角な方
向に沿って回転手段に対して相対的に変位させる接線方
向変位手段と、円弧部露光幅および直線部露光幅を設定
する露光幅設定手段と、 前記回転角度演算手段による回転角度情報がウェハ直線
部の露光開始を示しているときには、前記回転手段の停
止状態で、前記露光幅設定手段における直線部露光幅に
基づいて前記半径方向変位手段を駆動して光照射手段の
ウェハ直線部に対する位置決めを行った後、接線方向変
位手段を駆動して光照射手段をウェハ直線部に沿って相
対的に直線的に変位させ、また、前記回転角度情報がウ
ェハ円弧部の露光開始を示しているときには、接線方向
変位手段の所定位置での停止状態で、前記露光幅設定手
段における円弧部露光幅に基づいて前記半径方向変位手
段を駆動して光照射手段のウェハ円弧部に対する位置決
めを行った後、回転手段を駆動して光照射手段に対しウ
ェハを回転させるように、前記回転手段、半径方向変位
手段および接線方向変位手段を制御する制御手段 とを備えたことを特徴とするウェハの周辺部露光装置。 - (2)周辺部が円弧部と直線部とからなるウェハを回転
する回転手段と、 ウェハの周辺部を露光する光照射手段と、 ウェハ直線部を検出する直線部検出手段と、前記直線部
検出手段によるウェハ直線部の検出に基づいて現在のウ
ェハの回転角度情報を求める回転角度演算手段と、 前記光照射手段を前記回転手段の回転中心に対して相対
的に接近離間させる半径方向変位手段と、回転角度に応
じた露光幅を設定する露光幅設定手段と、 前記回転角度演算手段による回転角度情報に基づいて前
記露光幅設定手段からそのときの回転角度に応じた露光
幅を読み出し、その読み出した設定露光幅に基づいて前
記半径方向変位手段を駆動して光照射手段のウェハ周辺
部に対する位置の調整を行う制御手段 とを備えたことを特徴とするウェハの周辺部露光装置。 - (3)周辺部が円弧部と直線部とからなるウェハを回転
する回転手段と、 ウェハの周辺部を露光する光照射手段と、 ウェハ直線部を検出する直線部検出手段と、前記直線部
検出手段によるウェハ直線部の検出に基づいて現在のウ
ェハの回転角度情報を求める回転角度演算手段と、 前記光照射手段を前記回転手段の回転中心に対して相対
的に接近離間させる半径方向変位手段と、回転角度に応
じた露光量を設定する露光量設定手段と、 前記回転角度演算手段による回転角度情報に基づいて前
記半径方向変位手段を駆動して光照射手段のウェハ周辺
部に対する位置の調整を行うとともに、前記回転角度情
報に基づいて前記露光量設定手段からそのときの回転角
度に応じた露光量を読み出し、その読み出した設定露光
量に基づいてウェハ周辺部に対する前記光照射手段から
の露光量の調整を行う制御手段 とを備えたことを特徴とするウェハの周辺部露光装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1109291A JPH0612756B2 (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | ウエハの周辺部露光装置 |
KR1019900006042A KR930007097B1 (ko) | 1989-04-28 | 1990-04-28 | 대상물의 주변부 노광장치 |
US08/004,788 US5289263A (en) | 1989-04-28 | 1993-01-14 | Apparatus for exposing periphery of an object |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1109291A JPH0612756B2 (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | ウエハの周辺部露光装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7296255A Division JP2665487B2 (ja) | 1995-10-18 | 1995-10-18 | ウエハの周辺部露光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02288326A true JPH02288326A (ja) | 1990-11-28 |
JPH0612756B2 JPH0612756B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=14506453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1109291A Expired - Fee Related JPH0612756B2 (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | ウエハの周辺部露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0612756B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05217886A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-08-27 | Canon Inc | 周辺露光装置 |
JPH1092711A (ja) * | 1996-09-10 | 1998-04-10 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 周辺露光装置 |
US5982474A (en) * | 1996-06-06 | 1999-11-09 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Periphery exposing apparatus and method |
US7012702B2 (en) | 2002-01-09 | 2006-03-14 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Measuring apparatus |
JP2021103246A (ja) * | 2019-12-25 | 2021-07-15 | 株式会社Screenホールディングス | エッジ露光装置およびエッジ露光方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6509577B1 (en) * | 2000-11-10 | 2003-01-21 | Asml Us, Inc. | Systems and methods for exposing substrate periphery |
Citations (13)
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JPS6173330A (ja) * | 1984-09-18 | 1986-04-15 | Nec Corp | 半導体デバイス製造装置 |
JPS63234530A (ja) * | 1987-03-24 | 1988-09-29 | Nec Corp | レジスト周辺除去装置 |
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JPH01132124A (ja) * | 1987-08-28 | 1989-05-24 | Teru Kyushu Kk | 露光方法及びその装置 |
JPH01112041U (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-27 | ||
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JPH02114629A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-26 | Ushio Inc | ウエハ周辺露光方法 |
JPH02114630A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-26 | Ushio Inc | ウエハ周辺露光ユニット |
JPH02148830A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-07 | Ushio Inc | ウエハ周辺露光装置 |
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JPH02284415A (ja) * | 1989-04-25 | 1990-11-21 | Nec Kansai Ltd | 半導体ウェハー周縁部レジスト除去装置 |
JPH03218619A (ja) * | 1989-02-16 | 1991-09-26 | Tokyo Electron Ltd | 露光装置および露光方法 |
-
1989
- 1989-04-28 JP JP1109291A patent/JPH0612756B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS6173330A (ja) * | 1984-09-18 | 1986-04-15 | Nec Corp | 半導体デバイス製造装置 |
JPS63234530A (ja) * | 1987-03-24 | 1988-09-29 | Nec Corp | レジスト周辺除去装置 |
JPS63253627A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-20 | Hitachi Ltd | 半導体製造装置 |
JPH01132124A (ja) * | 1987-08-28 | 1989-05-24 | Teru Kyushu Kk | 露光方法及びその装置 |
JPH01112041U (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-27 | ||
JPH02101734A (ja) * | 1988-10-11 | 1990-04-13 | Fujitsu Ltd | ウェハー周辺の露光方法 |
JPH02114629A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-26 | Ushio Inc | ウエハ周辺露光方法 |
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JPH1092711A (ja) * | 1996-09-10 | 1998-04-10 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 周辺露光装置 |
US7012702B2 (en) | 2002-01-09 | 2006-03-14 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Measuring apparatus |
JP2021103246A (ja) * | 2019-12-25 | 2021-07-15 | 株式会社Screenホールディングス | エッジ露光装置およびエッジ露光方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0612756B2 (ja) | 1994-02-16 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
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R371 | Transfer withdrawn |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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