JPH02260548A - Opening device for resin-sealed ic - Google Patents
Opening device for resin-sealed icInfo
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- JPH02260548A JPH02260548A JP8190889A JP8190889A JPH02260548A JP H02260548 A JPH02260548 A JP H02260548A JP 8190889 A JP8190889 A JP 8190889A JP 8190889 A JP8190889 A JP 8190889A JP H02260548 A JPH02260548 A JP H02260548A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔1既 要〕
ICのチップを封入している樹脂をチップまで開封する
樹脂封止IC開封装置に関し、供試用樹脂封止ICの構
造やモールド材の硫酸に対する溶解性等に対応してモー
ドを設定し供試用樹脂封止ICの開封を確実に行う樹脂
封止IC開封装置を提供することを目的とし、
供試用樹脂封止ICの開封を行う場合、第1/第2の検
流手段が第1/第2の電流を検流すると予め設定された
時間の計数を起動し、計数終了までに樹脂封止ICをチ
ップまで開封する第1のモードと、第1の検流手段が第
1の電流を検流したあと第2の検流手段が第2の電流を
検流すると硫酸を噴出ノズルを介して噴射するための硫
酸ポンプの停止を制御する第2のモードとが少なくとも
設定・選択出来る制御手段とを備え構成する。[Detailed Description of the Invention] [1 Already Required] Regarding the resin-sealed IC unsealing device that unseals the resin encapsulating the IC chip down to the chip, the structure of the resin-sealed IC under test and the solubility of the molding material in sulfuric acid are described. The purpose of the present invention is to provide a resin-sealed IC unsealing device that sets the mode corresponding to the above conditions and reliably unseals the resin-sealed IC under test. A first mode in which when the second galvanometric means galvanizes the first/second current, it starts counting for a preset time and unseals the resin-sealed IC down to the chip by the end of counting; a second galvanometer for controlling the stop of the sulfuric acid pump for injecting sulfuric acid through the jet nozzle when the second galvanometer galvanizes the second current after the galvanometer means galvanizes the first current; The mode is configured to include a control means that can set and select at least a mode.
本発明は、ICのチップを封入している樹脂をチップま
で開封する樹脂封止IC開封装置に関する。The present invention relates to a resin-sealed IC unsealing device for unsealing a resin enclosing an IC chip down to the chip.
通常、樹脂封止ICが障害になるとその原因を調査する
ために、ICのチップを封入している樹脂であるプラス
チックモールドを開封するために開封装置が用いられる
。Normally, when a resin-sealed IC becomes damaged, an unsealing device is used to unseal the plastic mold, which is the resin that encloses the IC chip, in order to investigate the cause.
第5図は樹脂封止ICの構成概要を説明する図、第6図
は樹脂封止IC開封装置の従来例を説明する図、第7図
は開封状況を説明する図、第8図は制御装置の従来例に
おけるフローチャートを説明する図をそれぞれ示す。Fig. 5 is a diagram explaining the configuration outline of a resin-sealed IC, Fig. 6 is a diagram explaining a conventional example of a resin-sealed IC unsealing device, Fig. 7 is a diagram explaining the unsealing situation, and Fig. 8 is a control Figures illustrating flowcharts in a conventional example of the device are shown.
第5図は供試される樹脂封止ICIの構成概要を示し、
その内部は台座板1aとリードフレームleとチップ1
cとワイヤ1dとを有し、台座板1aは、上述のように
チップ1cを搭載するものであり、
リードフレーム1eは、各リード端子1bに対応して接
続されており、チップ1cとの間をワイヤldで結び、
チップ1cを各リード端子1bを介して外部と接続する
ためのものである。Figure 5 shows an outline of the configuration of the resin-sealed ICI to be tested.
The inside includes a pedestal plate 1a, a lead frame le, and a chip 1.
The base plate 1a has the chip 1c mounted thereon as described above, and the lead frame 1e is connected to each lead terminal 1b in correspondence with the chip 1c. Connect with wire ld,
This is for connecting the chip 1c to the outside via each lead terminal 1b.
第6図は樹脂封止IC開封装置の従来例の1つを示し、
供試用樹脂封止ICIと、硫酸曹2と、検流計3と、制
御装置4とを具備している。FIG. 6 shows one of the conventional examples of a resin-sealed IC unsealing device,
It is equipped with a resin-sealed ICI for testing, sodium sulfate 2, a galvanometer 3, and a control device 4.
上述の供試用樹脂封止ICIは、チップlcを搭載する
ための台座板1aと、チップ1cとリードフレームle
とを結ぶワイヤldと、リードフレーム1eに接続され
ており供試用樹脂封止IC1を外部と接続するためのリ
ード端子1bとを有し、
硫酸曹2は、硫酸(萄を供試用樹脂封止ICIに吹きつ
けるための噴出ノズル21と、噴出ノズル21で硫酸(
a)が噴射するように圧力をかける硫酸ポンプ22と、
噴射した硫酸(a)を溜める廃液タンク(C)と、噴射
する硫酸(a)の温度を約2百数十°Cに保つために硫
酸曹2の両サイドに設置されている加熱ヒータ(ロ)と
を有し、
制御装置4は、検流計3で電流を検流した時に予め設定
された時間を計数するタイマ回路41を具備している。The above-mentioned test resin-sealed ICI includes a pedestal plate 1a for mounting a chip lc, a chip 1c and a lead frame le.
and a lead terminal 1b connected to the lead frame 1e for connecting the sample resin-sealed IC 1 to the outside. Sulfuric acid (
a) a sulfuric acid pump 22 applying pressure to inject;
There is a waste liquid tank (C) that collects the injected sulfuric acid (a), and a heating heater (rotor) installed on both sides of the sodium sulfuric acid 2 to maintain the temperature of the injected sulfuric acid (a) at about 200-odd degrees Celsius. ), and the control device 4 includes a timer circuit 41 that counts a preset time when the galvanometer 3 galvanizes the current.
上述のように構成される樹脂封止IC開封装置は、チッ
プICを封入している樹脂であるプラスチックモールド
を約2百敗十°Cの硫酸(a)を吹きつけることにより
とかし、チップlcまで開封するものである。The resin-sealed IC unsealing device configured as described above melts the plastic mold, which is the resin that encloses the chip IC, by spraying sulfuric acid (a) at about 200 °C to the chip LC. It must be opened.
第7図は樹脂封止ICIを開封する順序を示し、噴出ノ
ズル21は図中の上向きの矢印方向に硫酸(a)を噴射
させ、その噴射はチップICが封止されている位置に達
して゛いる状況を示し、点線■は検流計3が電流!、を
検流するまでの位置、点線■はタイマをスタートしてス
トップするまでの位置を示す。FIG. 7 shows the order of unsealing a resin-sealed ICI, in which the jet nozzle 21 sprays sulfuric acid (a) in the direction of the upward arrow in the figure, and the spray reaches the position where the chip IC is sealed. The dotted line ■ indicates that galvanometer 3 is showing current! The dotted line ■ indicates the position from when the timer is started to when it is stopped.
又、第8図は開封手順を制御する制御装R4の従来例に
おけるフローチャートを示し、硫酸ポンプ22がスター
トとしてタイマが終了し硫酸ポンプ22の動作をストッ
プするまでの制御手順を示している。Further, FIG. 8 shows a flowchart in a conventional example of the control device R4 that controls the opening procedure, and shows the control procedure from the start of the sulfuric acid pump 22 until the timer ends and the operation of the sulfuric acid pump 22 is stopped.
以下第5図〜第8図に基づき従来例の開封動作を説明す
る。The opening operation of the conventional example will be explained below based on FIGS. 5 to 8.
即ち、硫酸(a)を樹脂封止ICIに吹きつけるために
は硫酸ポンプ22にて一定の圧力をかけ噴出ノズル21
にて噴射してとかして行く、尚、硫酸(a)を約2百数
十℃にするのは、プラスチックモールドをとかし易くす
るためである。That is, in order to spray sulfuric acid (a) onto the resin-sealed ICI, a certain pressure is applied by the sulfuric acid pump 22 to the jet nozzle 21.
The temperature of the sulfuric acid (a) is about 200-odd degrees Celsius to make it easier to melt the plastic mold.
又、第6図及び第7図に示す硫酸曹2内の矢印の方向は
噴出ノズル21にて噴射する方向及び位置と、噴射した
硫酸(a)を廃液タンク(C)に戻すための方向を示す
。Moreover, the direction of the arrow in the sodium sulfuric acid 2 shown in FIGS. 6 and 7 indicates the direction and position of the jet from the jet nozzle 21, and the direction of returning the jetted sulfuric acid (a) to the waste liquid tank (C). show.
硫酸(a)を噴射してプラスチックモールドをとかして
行き、リードフレーム1eとチップICを結ぶワイヤl
dに硫酸(a)が達すると硫酸(a)とリード端子tb
間に印加している電源V、の電圧(5V〜l0V)によ
り電流11が流れる。The plastic mold is melted by spraying sulfuric acid (a), and the wire l connecting the lead frame 1e and the chip IC is
When sulfuric acid (a) reaches d, sulfuric acid (a) and lead terminal tb
A current 11 flows due to the voltage (5V to 10V) of the power supply V applied between the two.
検流計3はこの電流ISが流れたことを検流し制御装置
4内タイマ回路41へ検流信号を送る。The galvanometer 3 galvanizes the flow of this current IS and sends a galvanometric signal to the timer circuit 41 in the control device 4.
タイマ回路41はこの検流信号により予め設定されてい
る時間の計数を開始する。The timer circuit 41 starts counting a preset time based on this galvanometric signal.
タイマ回路41で予め校定されている時間の計数を終了
(例えば、予め設定されている値を減算して行きゼロに
なった時)すると、硫酸ポンプ22を停止する制御信号
を出力し、硫酸ポンプ22の動作を停止させ、硫酸(a
)の噴射が止まる。When the timer circuit 41 finishes counting the pre-calibrated time (for example, when the pre-set value is subtracted and reaches zero), it outputs a control signal to stop the sulfuric acid pump 22, and the sulfuric acid pump 22 is stopped. The operation of the pump 22 is stopped, and sulfuric acid (a
) stops spraying.
即ち、第7図に示す点線■の位置までプラスチックモー
ルドをとかて行(とワイヤldに硫酸(a)がかかり、
リード端子1bと硫酸(a)間でループが形成されこの
間に電流1.が流れる。That is, the plastic mold is melted to the position indicated by the dotted line ■ in Fig. 7 (and the wire ld is exposed to sulfuric acid (a),
A loop is formed between the lead terminal 1b and the sulfuric acid (a), and a current of 1. flows.
点線■の位置までプラスチックモールドがとけた時点で
は、まだチップ1cまで完全に開封したことにはならず
点線■と点線■の間が残るため、点線■から点線■に至
るまで硫酸(a)を噴射させる必要がある。When the plastic mold melts to the dotted line ■, the chip 1c has not been completely opened yet, and there remains between the dotted lines ■ and dotted lines ■, so add sulfuric acid (a) from the dotted line ■ to the dotted line ■. It needs to be sprayed.
タイマ回路41に設定されている時間は点線■から点線
■に至るまでの硫酸(萄の噴射時間が設定されており、
この時間は略一定でこの時間までにチップ1cまでの開
封が終了するものとして設定されている。The time set in the timer circuit 41 is the injection time of sulfuric acid (grape) from the dotted line ■ to the dotted line ■.
This time is set to be approximately constant, and it is assumed that the opening of chips up to the chip 1c will be completed by this time.
尚、タイマ回路41に設定されている時間は、これまで
の実績を基にして設定されている。Note that the time set in the timer circuit 41 is set based on past results.
しかし、上述の従来例でチップlcまで完全に開封する
場合、硫酸(a)の噴射でとける時間は封止形状やプラ
スチックモールドの材質により左右されるため、場合に
よってはタイマ回路41に設定されている時間では完全
にチップICまで開封されない場合がある。However, in the conventional example described above, when the chip LC is completely unsealed, the time taken to melt by spraying sulfuric acid (a) depends on the sealing shape and the material of the plastic mold. In some cases, the chip IC may not be completely opened during this time.
又、場合によってはチップICを越えて台座板laも越
えて開封されるような場合が発生する。Further, in some cases, the package may be opened beyond the chip IC and beyond the pedestal plate la.
従って、供試用樹脂封止IC1が複数個必要になり、そ
の分時間がかかると共に複数個の供試用樹脂封止ICI
の障害内容がそれぞれ異なる場合は、障害調査を全て確
実に行うことが困難な場合がある。Therefore, a plurality of test resin-sealed ICs 1 are required, which takes time, and a plurality of test resin-sealed ICs 1 are required.
If the details of each failure are different, it may be difficult to conduct all failure investigations reliably.
本発明は、供試用樹脂封止IGの構造やモールド材の硫
酸に対する溶解性等に対応してモードを設定し供試用樹
脂封止ICの開封を確実に行う樹脂封止IC開封装置を
提供することを目的とする。The present invention provides a resin-sealed IC unsealing device that sets a mode corresponding to the structure of the resin-sealed IG under test, the solubility of the molding material in sulfuric acid, etc., and reliably unseals the resin-sealed IC under test. The purpose is to
(課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の樹脂封止IC開封装置の原理を説明す
る図を示す。(Means for Solving the Problems) FIG. 1 shows a diagram illustrating the principle of the resin-sealed IC opening device of the present invention.
第1図に示す本発明の樹脂封止IC開封装置は、供試用
樹脂封止ICI、硫酸曹硫酸第2.第流手段3a、第2
の検流手段3b、制御手段4aとを具備し、
供試用樹脂封止ICI及び硫酸曹2は、第4図及び第5
図で説明したのと同一内容を有するものであり、
第1の検流手段3aは、樹脂封止IC1のリードフレー
ムとチップ間を接続するワイヤへ噴射した硫酸(尋が達
した時に、リードフレームと接続されており樹脂封止I
CIを外部と接続するリード端子1bを負極、硫酸曹2
内硫酸(a)を正極として電源V、を接続し形成される
第1の回路に流れる第1の電流1.を検流するものであ
り、第2の検流手段3bは、硫酸(萄の噴射により硫。The resin-sealed IC unsealing device of the present invention shown in FIG. Flow means 3a, second
The test resin-sealed ICI and the sodium sulfuric acid 2 are as shown in FIGS. 4 and 5.
The first galvanometric means 3a has the same content as explained in the figure, and the first galvanometric means 3a is a sulfuric acid (sulfuric acid) sprayed onto the wire connecting the lead frame of the resin-sealed IC 1 and the chip. is connected to the resin-sealed I
The lead terminal 1b that connects the CI to the outside is the negative electrode, and the sodium sulfate 2
A first current flowing through a first circuit formed by connecting a power source V with the internal sulfuric acid (a) as a positive electrode.1. The second galvanometric means 3b uses sulfuric acid (sulfuric acid by injection of grapes).
酸(a)が樹脂封止ICI内台座台座板又はリードフレ
ームに達した時に、台座板1a又はリードフレームを負
極、硫酸口2内硫酸(a)を正極として電源V、を接続
し形成される第2の回路に流れる第2の電流I8を検流
するものであり、
制御手段4aは、第1/第2の検流手段3a。When the acid (a) reaches the pedestal base plate or lead frame inside the resin-sealed ICI, a power source V is connected with the pedestal plate 1a or the lead frame as the negative electrode and the sulfuric acid (a) inside the sulfuric acid port 2 as the positive electrode. The second current I8 flowing through the second circuit is galvanized, and the control means 4a is the first/second galvanization means 3a.
3bが第1/第2の電流t、、Itを検流すると予め設
定されている時間の計数を起動し、計数終了までに樹脂
封止ICIを開封する第1のモードと、第1の検流手段
3aが第1の電流■1を検流したあと第2の検流手段3
bが第2の電流Igを検流すると硫酸(a)を噴出ノズ
ル21を介して噴射するための硫酸ポンプ22の停止を
制御する第2のモードが少なくとも設定・選択出来るも
のであり、
かかる手段を具備することにより本課題を解決するため
の手段とする。When 3b galvanizes the first/second currents t,, It, it starts counting for a preset time, and a first mode in which the resin-sealed ICI is opened by the end of counting, and a first mode in which the resin-sealed ICI is opened; After the current means 3a galvanizes the first current ■1, the second current means 3
At least a second mode for controlling the stop of the sulfuric acid pump 22 for injecting the sulfuric acid (a) through the ejection nozzle 21 when the second current Ig is detected by the second current Ig can be set and selected; This is a means to solve this problem by providing the following.
樹脂封止ICIをチップまで開封するための第1のモー
ドは、台座板1aとチップが絶縁されてない場合は制御
手段4a内に予め設定されている時間を計数して、チッ
プまで開封するように樹脂封止ICIの構造によりモー
ド設定を制御手段4a内で可能なように構成する。In the first mode for unsealing the resin-sealed ICI to the chip, if the pedestal plate 1a and the chip are not insulated, the control means 4a counts a preset time and unseals the chip. The structure of the resin-sealed ICI allows mode setting within the control means 4a.
一方、第2のモードは、樹脂封止ICIのチップを搭載
する台座板1aがチップ及びリードフレームと電気的に
絶縁されている供試用樹脂封止ICIの場合は、台座板
1aを独立した電極として利用し硫酸(a)と台座板1
8間に電圧■、を印加し、硫酸(a)が台座板1aに達
した時に流れる第2の電流I!を検流手段3aで検流し
、この検流信号を制御手段4aは硫酸ポンプ22を停止
する信号として硫酸ポンプ22へ送り、硫酸ポンプ22
の動作を停止させる。On the other hand, in the second mode, in the case of a resin-sealed ICI under test in which the pedestal plate 1a on which the resin-sealed ICI chip is mounted is electrically insulated from the chip and the lead frame, the pedestal plate 1a is connected to an independent electrode. Used as sulfuric acid (a) and pedestal plate 1
8, a second current I! is applied when the sulfuric acid (a) reaches the base plate 1a. is galvanized by the galvanometric means 3a, and the control means 4a sends this galvanometric signal to the sulfuric acid pump 22 as a signal to stop the sulfuric acid pump 22.
stop the operation.
この場合の台座板1aはチップと同一レベルに位置する
ため、硫酸(a)が台座板1aに達したことはチップま
で開封が終了したことを意味し、硫酸ポンプ22の動作
を停止させるように構成することにより、1つの供試用
樹脂封止ICIを確実に開封することが可能となる樹脂
封止IC開封装置を提供することが出来る。In this case, the pedestal plate 1a is located at the same level as the chip, so when the sulfuric acid (a) reaches the pedestal plate 1a, it means that the chip has been opened, and the operation of the sulfuric acid pump 22 is stopped. By configuring the present invention, it is possible to provide a resin-sealed IC unsealing device that can reliably open one resin-sealed ICI under test.
以下本発明の要旨を第2図〜第4図に示す実施例により
具体的に説明する。The gist of the present invention will be specifically explained below with reference to embodiments shown in FIGS. 2 to 4.
第2図は本発明の樹脂封止IC開封装置の実施例を説明
する図、第3図は本発明の制御装置におけるフローチャ
ートを説明する図、第4図は本発明の樹脂封止IC開封
装置の他の実施例を説明する図をそれぞれ示す。尚、全
図を通じて同一符号は同一対象物を示す。2 is a diagram illustrating an embodiment of the resin-sealed IC unsealing device of the present invention, FIG. 3 is a diagram illustrating a flowchart of the control device of the present invention, and FIG. 4 is a diagram illustrating an embodiment of the resin-sealed IC unsealing device of the present invention. Figures illustrating other embodiments are shown, respectively. Note that the same reference numerals indicate the same objects throughout the figures.
第2図に示す本発明の樹脂封止IC開封装置は、台座板
1aを独立した端子として使用した例であり、第1図で
説明した第1/第2の検流手段3a。The resin-sealed IC unsealing device of the present invention shown in FIG. 2 is an example in which the pedestal plate 1a is used as an independent terminal, and the first/second galvanometric means 3a explained in FIG.
3bとして検流計31.32、制御手段4aとして制御
装置4bとした実施例である。In this embodiment, galvanometers 31 and 32 are used as 3b, and a control device 4b is used as the control means 4a.
上述の検流計31は、硫酸(a)がワイヤ1dに達した
時にリード端子1bを介して硫酸口2内硫酸(a)間で
形成される回路lに流れる電流I、を検流し、
検流計32は、硫酸(a)が台座板1aに達した時に台
座板1aと硫酸口2内硫酸(a)間で形成される回路2
に流れる電流■2を検流する。The above-mentioned galvanometer 31 galvanizes and detects the current I flowing in the circuit l formed between the sulfuric acid (a) in the sulfuric acid port 2 via the lead terminal 1b when the sulfuric acid (a) reaches the wire 1d. The flow meter 32 is a circuit 2 formed between the sulfuric acid (a) in the sulfuric acid port 2 and the pedestal plate 1a when the sulfuric acid (a) reaches the pedestal plate 1a.
The current flowing through ■2 is galvanized.
制御装置4は、電流Itを検流した時の検流信号により
予め設定された時間を計数するタイマ回路41と、電流
■2を検流した時の検流信号により硫酸ポンプ22の動
作を停止させる制御信号を出力するポンプ制御回路42
と、外部より開封のためのモードを設定するモード設定
回路43とを具備する。The control device 4 includes a timer circuit 41 that counts a preset time based on the galvanometric signal when the current It is galvanized, and a timer circuit 41 that stops the operation of the sulfuric acid pump 22 based on the galvanic signal when the current 2 is galvanized. A pump control circuit 42 that outputs a control signal to
and a mode setting circuit 43 for setting an opening mode from the outside.
第3図は上述の制御装置4bにおける本発明の樹脂封止
IC開封装置の開封動作を制御するフローチャートを示
すものであり、まず供試用樹脂封止ICIのモールド材
や組立て形状に基づきモードを設定し、開封が進むにつ
れて回路1及び回路2の電流を検流計31及び32で検
流し、硫酸ポンプ22の動作をストップさせるまでの手
順を示している。FIG. 3 shows a flowchart for controlling the unsealing operation of the resin-sealed IC unsealing device of the present invention in the above-mentioned control device 4b. First, a mode is set based on the molding material and assembly shape of the resin-sealed ICI under test. However, as the unsealing progresses, the currents in circuits 1 and 2 are galvanized using galvanometers 31 and 32, and the procedure is shown until the operation of the sulfuric acid pump 22 is stopped.
尚、開封のためのモードとしては、次の3種類が設定出
来るものとする。即ち、
モード1:台座板1aが各リード端子1bに対応するリ
ードフレーム1eの1つがグランドと接地されている端
子(即ち、グランド端子)と絶縁されていない場合に設
定するモードであり、硫酸(a)がワイヤ1dに触れた
時に流れる電流■、を検流計31が検流し、この検流信
号により制御装置4内タイマ回路41を起動し、設定時
間まで開封を行う。Note that the following three types of opening modes can be set. That is, Mode 1: This is a mode set when the pedestal plate 1a is not insulated from the ground and one of the lead frames 1e corresponding to each lead terminal 1b (i.e., the ground terminal). The galvanometer 31 galvanizes the current (2) that flows when the wire a) touches the wire 1d, and the galvanometer signal activates the timer circuit 41 in the control device 4, and the unsealing is continued until the set time.
この時モード設定回路43は、ポンプ制御回路42がタ
イマ回路41の計数を終了した時の終了信号に基づき硫
酸ポンプ22の動作を停止させるように制御信号を出力
する。又、この時の噴出ノズル21の向きはチップlc
の略中心位置に向けられているものとする。At this time, the mode setting circuit 43 outputs a control signal to stop the operation of the sulfuric acid pump 22 based on the completion signal when the pump control circuit 42 finishes counting by the timer circuit 41. Also, the direction of the jet nozzle 21 at this time is the tip lc.
It is assumed that it is directed to approximately the center position of .
モード2:台座板1aがリードフレーム1eのグランド
端子と絶縁されている場合でしかも台座板1aとチップ
lc間が必ずしも同一レベルにない場合に設定するモー
ドであり、硫酸(a)が台座板1aに触れた時に流れる
電流I8を検流計32がふ
検流し、この検流信号により制御装置4内タイマ回路4
1を起動し、設定時間までに開封を続ける。Mode 2: This mode is set when the pedestal plate 1a is insulated from the ground terminal of the lead frame 1e, and when the pedestal plate 1a and the chip lc are not necessarily on the same level, and the sulfuric acid (a) is The galvanometer 32 galvanizes the current I8 that flows when the
1 and continue opening by the set time.
この時モード設定回路43は、ポンプ制御回路42がタ
イマ回路41の計数を終了した時の終了信号に基づき硫
酸ポンプ22の動作を停止させる制御信号を出力するよ
うに設定する。At this time, the mode setting circuit 43 is set to output a control signal to stop the operation of the sulfuric acid pump 22 based on a completion signal when the pump control circuit 42 finishes counting by the timer circuit 41.
モード3:台座板1aがリードフレームleのグランド
端子と絶縁されている場合でしかも台座板1aとチップ
lc間が同一レベルにある場合に設定するモードであり
、硫酸(a)が台座板1aに触42から硫酸ポンプ22
の動作を停止させる制御イマ回路41を使用しないよう
に設定する。Mode 3: This mode is set when the pedestal plate 1a is insulated from the ground terminal of the lead frame le, and when the pedestal plate 1a and the chip lc are at the same level, and sulfuric acid (a) is applied to the pedestal plate 1a. contact 42 to sulfuric acid pump 22
The control timer circuit 41, which stops the operation of the controller, is set not to be used.
以上の3種類のモード1〜3を樹脂封止ICIの構造、
モールド材の硫酸(a)に対する溶解性等のバラツキに
対応するするように遣い分けることにより、1つの供試
用樹脂封止ICIを確実に開封することが可能となる。The above three types of modes 1 to 3 are based on the structure of the resin-sealed ICI,
By using different molding materials to accommodate variations in solubility in sulfuric acid (a), etc., it becomes possible to reliably open one resin-sealed ICI under test.
第4図は本発明の他の樹脂封止IC開封装置を示し、本
実施例の樹脂封止IC開封装置は、第1図で説明した第
1/第2の検流手段3a、3bとして検流計33..3
4、制御手段4aとして制御装置4cとした実施例であ
り、樹脂封止ICとして供試用樹脂封止ICIとダミー
樹脂封止ICビが設置出来、更に供試用樹脂封止ICI
とダミー樹脂封止ICI’に対応した噴出ノズル21a
、21b、硫酸ポンプ22a、22bがそれぞれに対応
して設置されており、同様に2つの電源VErr V
F6が設けである。FIG. 4 shows another resin-sealed IC unsealing device of the present invention, and the resin-sealed IC unsealing device of this embodiment is used as the first/second galvanometric means 3a and 3b explained in FIG. Flow meter 33. .. 3
4. This is an embodiment in which a control device 4c is used as the control means 4a, and a test resin-sealed ICI and a dummy resin-sealed IC can be installed as resin-sealed ICs.
and a jet nozzle 21a corresponding to the dummy resin-sealed ICI'.
, 21b, and sulfuric acid pumps 22a and 22b are installed correspondingly, and similarly two power supplies VERr V
F6 is provided.
尚、供試用樹脂封止iciはリード端子ibと硫酸曹2
′内硫酸(a)との間で回路1を形成し、ダミー樹脂封
止ICI’は、リード端子1b’と硫酸曹2′内硫酸(
a)との間で回路2を形成している。In addition, the resin-sealed ici for the test is the lead terminal ib and the sodium sulfate 2
A circuit 1 is formed between the sulfuric acid (a) inside the lead terminal 1b' and the sulfuric acid (a) inside the sulfuric acid 2'.
A circuit 2 is formed with a).
又、電源Vttはリード端子1bと硫酸曹2′内硫酸(
a)との間に印加され、第1図で説明した第1の回路に
相当する回路lを形成し、電源■。はリード端子tb’
と硫酸曹2′内硫酸(a)との間に印加され、第1図で
説明した第2の回路に相当する回路2を形成するもので
ある。In addition, the power supply Vtt is connected to the lead terminal 1b and the sulfuric acid in the sulfuric acid 2' (
a), forming a circuit l corresponding to the first circuit explained in FIG. 1, and a power supply ■. is lead terminal tb'
and the sulfuric acid (a) in the sodium sulfate 2', forming a circuit 2 corresponding to the second circuit explained in FIG.
更に、検流計33は上述の回路lに流れる電流!、を検
流するものであり、検流計34は回路2に流れる電流1
gを検流するものである。Furthermore, the galvanometer 33 detects the current flowing through the above-mentioned circuit l! The galvanometer 34 galvanizes the current 1 flowing through the circuit 2.
It is used to galvanometrically measure g.
本実施例の制御装置4cは、検流計33からの検流信号
を起動される第1のタイマ回路44と、検流計34から
の検流信号を起動される第2のタイマ回路45と、第1
/第2のタイマ回路44゜45からの信号により当該硫
酸ポンプ22a、22bの動作を停止する制御信号を出
力するポンプ制御回路46と、第1/第2のタイマ回路
44゜45及びポンプ制御回路46を設定されたモード
に対応するように指示するモード設定回路47とを具備
している。The control device 4c of the present embodiment includes a first timer circuit 44 activated by the galvanometric signal from the galvanometer 33, and a second timer circuit 45 activated by the galvanic signal from the galvanometer 34. , 1st
/ A pump control circuit 46 that outputs a control signal to stop the operation of the sulfuric acid pumps 22a and 22b in response to a signal from the second timer circuit 44-45, and the first/second timer circuit 44-45 and the pump control circuit. 46 to correspond to a set mode.
尚、本実施例の制御装置4cによるフローチャートは、
略第4図に示すものと同一手順となる。Note that the flowchart by the control device 4c of this embodiment is as follows:
The procedure is approximately the same as that shown in FIG.
但し、モードは以下に説明するこの実施例用のモードと
なる。However, the mode is a mode for this embodiment, which will be explained below.
即ち、本実施例のダミー樹脂封止ICI’に対する噴出
ノズル21bの向きは、リードフレーム1eの位置とし
、供試用樹脂封止ICIに対する噴出ノズル21aの向
きは、チップlcの中心近傍の位置とする。That is, the direction of the ejection nozzle 21b with respect to the dummy resin-sealed ICI' of this example is set to the position of the lead frame 1e, and the direction of the ejection nozzle 21a with respect to the resin-sealed ICI under test is set to a position near the center of the chip lc. .
又、電源V□及び電源VKt共に負極を硫酸曹2′内硫
酸(a)側、正極をリード端子1b、lb’とし、供試
用樹脂封止ICI内ワビワイヤへ硫酸(a)が達すると
回路1に電流!、が流れ、この電流■1を検流計33が
検流し、その検流により第1のタイマ回路44が起動さ
れる。In addition, the negative electrode of both the power supply V Current! flows, the galvanometer 33 galvanizes this current (1), and the first timer circuit 44 is activated by the galvanometer.
一方をダミー樹脂封止ICI’として使用する場合のモ
ードは、リードフレームleに硫酸(a)が達すると回
路2に電流I3が流れ、この電流りを検流計34が検流
し、その検流により第2のタイマ回路45が起動される
。The mode when one is used as a dummy resin-sealed ICI' is that when sulfuric acid (a) reaches the lead frame le, a current I3 flows through the circuit 2, and the galvanometer 34 galvanizes this current. The second timer circuit 45 is activated.
そして、第2のタイマ回路45が終了するまでにチップ
ICまで開封が終了すると、電流I、が流れこれを検流
計33が検流し、この検流信号によりポンプ制御回路4
6は硫酸ポンプ22aの動作を停止させる。When the chip IC is completely unsealed by the time the second timer circuit 45 ends, a current I flows, which is galvanized by the galvanometer 33, and this galvanic signal causes the pump control circuit 4
6 stops the operation of the sulfuric acid pump 22a.
この時、モード設定回路47は第1のタイマ回路44を
起動しないように設定すると共に、第2のタイマ回路4
5が終了した時は同時にポンプ制御回路46は硫酸ポン
プ22bの動作を停止させるための信号を送る。At this time, the mode setting circuit 47 sets the first timer circuit 44 not to start, and also sets the second timer circuit 44 so that the first timer circuit 44 does not start.
5, the pump control circuit 46 simultaneously sends a signal to stop the operation of the sulfuric acid pump 22b.
又、ダミー樹脂封止ICI’を第2の供試用樹脂封止I
Cとし、噴出ノズル21bの向きをそのチップの中心近
傍に向けて使用する場合のモードは、2つの供試用樹脂
封止ICを同時にそれぞれ開封することが可能である。In addition, the dummy resin-sealed ICI' was replaced with the second test resin-sealed ICI'.
In the mode C, in which the ejection nozzle 21b is oriented near the center of the chip, two test resin-sealed ICs can be opened at the same time.
この時のモード設定回路47は第1/第2のタイマ回路
44.45は独立に動作させ、ポンプ制御回路46も各
第1/第2のタイマ回路44.45の計数終了信号によ
り、それぞれに対応する硫酸ポンプ22a、22bの動
作を停止させるように設定したものである。At this time, the mode setting circuit 47 operates the first and second timer circuits 44 and 45 independently, and the pump control circuit 46 also operates each of the first and second timer circuits 44 and 45 independently. The setting is such that the operation of the corresponding sulfuric acid pumps 22a and 22b is stopped.
以上のように、供試用樹脂封止ICの構造、モールド材
の硫酸に対する溶解性等を考慮して開封方法をモードに
より設定し、確実にチップまでの開封を行うことが可能
となる。As described above, it is possible to reliably unseal the chip by setting the unsealing method according to the mode in consideration of the structure of the test resin-sealed IC, the solubility of the molding material in sulfuric acid, etc.
以上のような本発明によれば、供試用樹脂封止ICに最
適な開封方法を選択し、確実に1つ1つの供試用樹脂封
止tCが開封可能な樹脂封止IC開封装置を提供するこ
とが出来る。According to the present invention as described above, it is possible to provide a resin-sealed IC unsealing device that selects an optimal unsealing method for the resin-sealed IC under test and can reliably unseal each resin-sealed TC under test. I can do it.
第1図は本発明の樹脂封止IC開封装置の原理を説明す
る図、
第2図は本発明の樹脂封止ICC開封電電実施例、を説
明する図、
第3図は本発明の制御装置におけるフローチャートを説
明する図、
第4図は本発明の樹脂封止IC開封装置の他の実施例を
説明する図、
第5図は樹脂封止ICの構成概要を説明する図、第6図
は樹脂封止IC開封装置の従来例を説明する図、
第7図は開封状況を説明する図、
第8図は制御装置の従来例におけるフローチャートを説
明する図、
をそれぞれ示す。
図において、
1は供試用樹脂封止IC1
1′はダミー樹脂封止IC1
1aは台座板、
lb、lb’はリード端子、
1cはチップ、 1dはワイヤ、1eはリー
ドフレーム、 2は硫酸曹、3.31〜34は検流計
、3aは第1の検流手段、3bは第2の検流手段、
4.4b、4cは制御装置、
4aは制御手段、
21、 21 a、 2 l bは噴出ノズル、22
.22a、22bは硫酸ポンプ、
41はタイマ回路、
42.46はポンプ制御回路、
43.47はモード設定回路、
44は第1のタイマ回路、
45は第2のタイマ回路、
をそれぞれ示す。
津Z図
率4図
N1壱1覗く況と説B8する図
悼7閉
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二三−
]】口
】]
−+マートを説明する日
日Fig. 1 is a diagram explaining the principle of the resin-sealed IC unsealing device of the present invention, Fig. 2 is a diagram illustrating an embodiment of the resin-sealed ICC unsealing electrical device of the present invention, and Fig. 3 is a diagram explaining the control device of the present invention. 4 is a diagram illustrating another embodiment of the resin-sealed IC unsealing device of the present invention. FIG. 5 is a diagram illustrating an outline of the configuration of the resin-sealed IC. FIG. 7 is a diagram illustrating a conventional example of a resin-sealed IC opening device, FIG. 7 is a diagram illustrating an unsealing situation, and FIG. 8 is a diagram illustrating a flowchart of a conventional example of a control device. In the figure, 1 is a test resin-sealed IC 1, 1' is a dummy resin-sealed IC 1, 1a is a pedestal plate, lb, lb' are lead terminals, 1c is a chip, 1d is a wire, 1e is a lead frame, 2 is sodium sulfate, 3.31 to 34 are galvanometers, 3a is a first galvanometer, 3b is a second galvanometer, 4.4b and 4c are control devices, 4a is a control means, 21, 21 a, 2 l b is a jet nozzle, 22
.. 22a and 22b are sulfuric acid pumps, 41 is a timer circuit, 42.46 is a pump control circuit, 43.47 is a mode setting circuit, 44 is a first timer circuit, and 45 is a second timer circuit. Tsu Z diagram rate 4 diagram N1 1 1 peeking situation and explanation B8 diagram mourning 7 closing]] 23-]]]] - + day and day to explain mart
Claims (1)
(2)内に滞留している硫酸((a))を噴出ノズル(
21)を介して噴射することにより前記チップまで開封
する樹脂封止IC開封装置であって、 前記樹脂封止IC(1)内で前記チップとワイヤを介し
て接続され、各リード端子(1b)に対応して接続され
るリードフレームと前記チップ間を接続する前記ワイヤ
へ噴射した該硫酸((a))が達した時に、前記樹脂封
止IC(1)を外部と接続する前記リード端子(1b)
の全部を共通に接続した側を負極、前記硫酸曹(2)内
硫酸((a))を正極として電源(V_E)を接続し形
成される第1の回路に流れる第1の電流(I_1)を検
流する前記硫酸((a))の噴射により前記硫酸((a
))が前記樹脂封止IC(1)内チップを搭載する台座
板(1a)又は前記リードフレームに達した時に、前記
台座板(1a)又は前記リードフレームを負極、前記硫
酸曹(2)内硫酸((a))を正極として電源(V_E
)を接続し形成される第2の回路に流れる第2の電流(
I_2)を検流する第2の検流手段(3b)と、 前記第1/第2の検流手段(3a、3b)が前記第1/
第2の電流(I_1、I_2)を検流すると予め設定さ
れた時間の計数を起動し、計数終了までに前記樹脂封止
IC(1)を前記チップまで開封する第1のモードと、 前記第1の検流手段(3a)が前記第1の電流(I_1
)を検流したあと前記第2の検流手段(3b)が前記第
2の電流(I_2)を検流すると前記硫酸((a))を
前記噴出ノズル(21)を介して噴射するための硫酸ポ
ンプ(22)の停止を制御する第2のモードとを少なく
とも設定・選択する制御手段(4a)とを備えたことを
特徴とする樹脂封止IC開封装置。[Claims] The sulfuric acid ((a)) retained in the sodium sulfate (2) is used to remove the resin that encapsulates the chip of an IC (integrated circuit).
21) is an unsealing device for a resin-sealed IC that unseals the chip by spraying water through the resin-sealed IC (1), the resin-sealed IC (1) being connected to the chip via a wire, and each lead terminal (1b) When the injected sulfuric acid ((a)) reaches the wire connecting the lead frame and the chip, which are connected in accordance with 1b)
The first current (I_1) flows through the first circuit formed by connecting the power supply (V_E) with the side where all of the sulfuric acid is connected as the negative electrode and the sulfuric acid ((a)) in the sodium sulfate (2) as the positive electrode. By spraying the sulfuric acid ((a)) galvanizing the sulfuric acid ((a)
)) reaches the pedestal plate (1a) or the lead frame on which the chip in the resin-sealed IC (1) is mounted, the pedestal plate (1a) or the lead frame is connected to the negative electrode and the sodium sulfate (2) Power supply (V_E) using sulfuric acid ((a)) as the positive electrode
) is connected to form a second circuit formed by a second current (
a second galvanometric means (3b) for galvanizing the current I_2), and the first/second galvanizing means (3a, 3b) galvanizing the first/second galvanizing means
A first mode in which counting is started for a preset time when the second current (I_1, I_2) is galvanized, and the resin-sealed IC (1) is unsealed down to the chip by the end of counting; The first current (I_1)
), and when the second galvanometric means (3b) galvanizes the second current (I_2), the sulfuric acid ((a)) is injected through the jet nozzle (21). 1. A resin-sealed IC unsealing device comprising: a second mode for controlling stoppage of a sulfuric acid pump (22); and a control means (4a) for setting and selecting at least a second mode.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8190889A JPH02260548A (en) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | Opening device for resin-sealed ic |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8190889A JPH02260548A (en) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | Opening device for resin-sealed ic |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02260548A true JPH02260548A (en) | 1990-10-23 |
Family
ID=13759545
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8190889A Pending JPH02260548A (en) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | Opening device for resin-sealed ic |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02260548A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5700697A (en) * | 1993-02-01 | 1997-12-23 | Silicon Packaging Technology | Method for packaging an integrated circuit using a reconstructed package |
US6813828B2 (en) | 2002-01-07 | 2004-11-09 | Gel Pak L.L.C. | Method for deconstructing an integrated circuit package using lapping |
US6884663B2 (en) | 2002-01-07 | 2005-04-26 | Delphon Industries, Llc | Method for reconstructing an integrated circuit package using lapping |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP8190889A patent/JPH02260548A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5700697A (en) * | 1993-02-01 | 1997-12-23 | Silicon Packaging Technology | Method for packaging an integrated circuit using a reconstructed package |
US6813828B2 (en) | 2002-01-07 | 2004-11-09 | Gel Pak L.L.C. | Method for deconstructing an integrated circuit package using lapping |
US6884663B2 (en) | 2002-01-07 | 2005-04-26 | Delphon Industries, Llc | Method for reconstructing an integrated circuit package using lapping |
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