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JPH02188946A - 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置及びその製造方法

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Publication number
JPH02188946A
JPH02188946A JP1009382A JP938289A JPH02188946A JP H02188946 A JPH02188946 A JP H02188946A JP 1009382 A JP1009382 A JP 1009382A JP 938289 A JP938289 A JP 938289A JP H02188946 A JPH02188946 A JP H02188946A
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JP
Japan
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resin
sealed
molded part
heat sink
lead
Prior art date
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Pending
Application number
JP1009382A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidekazu Awaji
淡路 英一
Tatsuya Kato
達也 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP1009382A priority Critical patent/JPH02188946A/ja
Publication of JPH02188946A publication Critical patent/JPH02188946A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/0601Structure
    • H01L2224/0603Bonding areas having different sizes, e.g. different heights or widths
    • HELECTRICITY
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    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
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    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
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    • H01L2224/491Disposition
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    • H01L2224/49111Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain the connectors connecting two common bonding areas, e.g. Litz or braid wires
    • HELECTRICITY
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は放熱板が絶縁封止された樹脂封止型半導体装置
に関するものである。
〈発明の概要〉 本発明は、半導体チップを搭載した放熱板を第1の樹脂
で封止後、抵抗やコンデンサ等の回路部品をリード上に
搭載・接続し、全体を第2の樹脂で封止することによっ
て従来の外付は部品を一体化した電力用の樹脂封止型半
導体装置を提供する。
〈従来の技術〉 近年、機器制御用リレーの高信頼性・長寿命の要望に対
応し、無接点リレーすなわち樹脂封止型半導体装置であ
るソリッドステートリレーが進展している。一般的なソ
リッドステートリレーは第8図に例示のような回路で構
成されている。
この例において、ソリッドステートリレーは発光ダイオ
ード1と7オトサイリスタが逆並列されたフォトトライ
アック2からなる光結合部3と、光結合部3の出力によ
って駆動されるトライアック4から構成されており、入
力信号がリミット抵抗RLを介して発光ダイオード1に
印加されると、フォトトライアック2がターンオンし、
トライアック4のゲートに電流を供給してトライアック
4をターンオンさせることだよって、右方部上回路のス
イッチングを行なう。
このような動作を行なうソリッドステートリレーは、従
来光結合素子やトライアック等の個別部品やリード端子
をプリント基板に組込み、樹脂封止して形成されていた
。これに対し、本出願人は半導体チップのみによって構
成した樹脂封止型のソリッドステートリレーを提案した
(例えば特願昭57−153617号)。この構造を第
9図に示す。
第9図において、ソリッドステートリレーは、放熱板5
上に、フォトトライアック2と透明絶縁層を介し光結合
する発光ダイオード1から成る光結合部3とトライアッ
ク4を搭載して構成しており、前述のプリント基板組込
みタイプに比して大巾な小型が実現されている。
このソリッドステートリレーの機器への組込み例を第1
0図に示す。ソリッドステートリレーは機器放熱体7に
ねじ8によって固定されるが、放熱板5は負荷の電源ラ
インに接続されており、機器放熱体7と電気的絶縁する
ためには絶縁板9が必要となる。
この対応を図るべく、第11図のような成形樹脂lOで
放熱板を絶縁封止した半導体装置の構造が種々提案され
ている(例えば特開昭57178357号公報、特開昭
60−7750号公報)。
第11図において、細条突起11は放熱板5を成型金型
内で適正に位置決めするために上下の金型で挾持した細
条の冷片である。
〈発明が解決しようとする課題〉 前述のソリッドステートリレーの実際の使用に際しては
、スイッチングノイズの吸収、誤動作の防止を図るため
、第8図に示すように抵抗、コンデンサから成るスナバ
回路6を外部に付加して用いることが多い。このスナバ
回路は一般的にリード抵抗とフィルムコンデンサを用い
るため、ソリッドステートリレー本体の小型化を図って
も外部回路のサイズが大きく、システム全体としては小
型化、高密度実装の実現の支障となり、外部回路を含め
た小型一体化が望まれていた。
また放熱板5の絶縁を要することが多く、第11図の構
造を採用することも考えられるが、細条突起11が機器
放熱体7に1〜2厘程度と近接しており、電源ラインと
機器本体との電位差が数百ポルト以上に及ぶため、何ら
かの絶縁処理が必要となる。
この対策として、細条突起11に樹脂塗布を施す(特開
昭60−16451号公報)ことや、細条突起を再度、
成形封止する(特開昭59−215752号公報)こと
が提案されている。しかしながら、これらの手段は本来
の製品構成に不要な工程を付加するため、製品コストの
上昇を招きやすく、上記の外部回路の一体化と併わせた
絶縁タイプの樹脂封止型半導体装置の開発が望まれてい
た。
く課題を解決するための手段〉 本発明においては、上記の課題を解決すべく第1図から
第4図に示すような樹脂封止型半導体装置の構成とする
即ち、第1〜第4図において、半導体テップ2工を搭載
した放熱板22を、放熱板22から延長した細条23と
リード24aを第1の金型で挾持し、放熱板22を金型
内の空所に浮かした状態で第1の樹脂で封止する。
しかるのち、細条23とリード24aの一部を切断し、
残存するリード24b上に回路部品25を搭載、半田付
は等の電気的接続を行なう。この後、第2の成形金型2
6にて第1の樹脂成形部27と外部リード24cを挾持
して位置決めし、vj2の樹脂により第4の樹脂成形部
27、回路部品を搭載したリード24b及び第1の樹脂
成形部27から露呈している細条突起28を成形封止し
て第2の樹脂成形部29を形成したのち、外部リード2
4cに連接した共通接続細条30の切断処理を施す。
〈作 用〉 このような手段を採用することにより、第1の樹脂成形
後、リード24aが第4の樹脂成形部27に固着されて
いるためリード切断が可能となり、また半導体チップ2
1が樹脂封止されていることにより、リード24b上へ
の回路部品25の半田付は処理等が極めて容易に行える
。さらに第2の樹脂成形を行なうことによって回路部品
25を封止するとともに残存している細条突起28を絶
縁封止することが同一工程にて対処できる。この際、第
2の成型金型26における金型内の位置決めは第1の樹
脂成形部27を挾持して行なうため、高精度の成形が可
能である。
〈実施例〉 次に図面に基づき、さらに詳しい実施例について説明す
る。
尚、説明はソリッドステートリレーを引用して行なうが
、本発明はこれだ限定されるものではなく、同様の構成
を持つインバータモジュールやスイッチング電源用レギ
ュレータやDCリレー等の電力用の樹脂封止型半導体装
置、すなわち半導体チップと回路部品が同一パッケージ
内に封止された半導体装置に適用できることは勿論のこ
とである。
第1図のソリッドステートリレーを形成するために、ま
ず第2図に示すようなリードフレームが用いられる。リ
ードフレームは放熱板22と放熱板22から延長した細
条23.リード24 (a、CL共通接続細条30等か
ら構成されている。そして放熱板22にトライアック等
の半導体チップ21を半田、付けし、次にアルミ等の金
属細線31によってワイヤポンドした後、第2図中に点
線で記載している形状に第1の樹脂封止を行なう。成形
に際し、第1の金型により細条23とリード24a。
外部リード24c等を挾持して位置決めする。尚この細
条23がなくても成形は可能であるが、放熱板22の位
置精度が悪くなる。
第1の樹脂成形後、第3図に示すリードフレーム形状に
すべく、細条23を切断し、細条突起28を形成する。
またこの工程と同時若しくは別にリード24aを部分的
だ切断、打抜いて残存するリード24bを形成する。こ
の工程は完成品において外部リード24c以外に不要な
活軍部分を露呈させないことと、パッケージ内配線の中
継端子を形成するために行なう。細条23及びリード2
4aの切断後、回路部品25 (a+b+c)を搭載す
る。
本例において回路部品25は光結合素子25a。
スナバ回路用のチップ抵抗25b及びチップコンデンサ
25cによって構成している。
回路部品25は通常の半田付は工程を用いて行なわれ、
半田付は後、残存する半田フラックスを除去するため、
全体を溶剤洗滌する9この際、半導体チップ21は第1
の樹脂成形部27によって封止されているため、特別な
配慮は不要である。
溶剤洗滌後、第3図中に点線で記載している形状に第2
の樹脂封止をする。これは第4図に示すような第2の成
形金型26 (a、b)を用いて行なわれる。すなわち
、上金型26aと下金型26bとが第1の樹脂成形部2
7及び外部リード24c及び共通接続細条30a、80
bを挾持した状態で、残存するり−ド24b、回路部品
25.第1の樹脂成形部27及び細条突起28を第2の
樹脂によって第2の樹脂成形部29を形成する。その後
、外部リード24cを連接している共通接続細条30a
及び30bを切断し、外部リード24cを分離し、さら
に外部リード24cVC半田メツキを施す。
以上の工程により、半導体テップ21と回路部品25が
一体的に絶縁封止されたソリッドステートリレーが完成
される。
尚、本実施例は第2図だ示す形状のリードフレームを用
いたが、リード24aの補強と第1の樹脂成形時におけ
る樹脂のリード24aへの流入を防止するために、第5
図のように第3の共通接続細条80cを付加し、第1の
樹脂成形後、切断除去することも採用できる。また、第
1の樹脂成形後、リード24aを切断せずに回路部品2
5を搭載し、そののちにリード24aを部分的に切断す
ることも可能である。また、入力側のリミット抵抗を併
せて搭載することもできる。
次にその他の実施例について説明する。これまでの説明
においては、回路部品25を構成するひとつの部品とし
て個別部品の光結合素子25aを搭載したが、これとは
別に光結合素子を半導体チップ21と同一の樹脂成形部
に封止して形成することができる。第6図及び第7図に
その実施例を示す。
ここでフォトトライアックチップ31はポリイミドシー
ト等の絶縁板32を介して放熱板22に搭載され、第6
図においては発光ダイオードチップ33がリード24d
上に搭載され、金線35によるワイヤボンド後、透明シ
リコン樹脂36によって光経路を形成する。第7図の場
合は、発光ダイオード33が、フォトトライアック31
上に積層され発光ダイオード33からの電極取出し部を
備えた透明絶縁層34上に搭載して光結合を行なう。こ
れらの光結合部を封止する第1の樹脂成形部27は、光
電変換効率を向上させるため、光反射性の高い酸化チタ
ンTiO2や炭酸カルシウムCaCO3等の白色顔料を
混入した樹脂を用いることが望ましい。
〈発明の効果〉 以上に述べたよう忙本発明の樹脂封止型半導体装置は、
半導体チップと回路部品を同一のパッケージ内に封止す
ることが容易に行なわれ、また外部に露呈させたくない
中継端子や細条突起や放熱板を完全に絶縁封止すること
ができる。これらのことによって多種多様な回路構成を
複合化した外部絶縁処理の不要な小型で取扱い簡便なデ
バイスの供給が実現される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の樹脂封止型半導体装置の一実施例の断
面図、第2図(a)及び(b)は同じく半導体チップ搭
載後の状態を表わす平面図及び側面図、第3図(a)及
び(b)は同じく回路部品を搭載した状態を表わす平面
図及び側面図、第4図は第2の樹脂成形の断面図、第5
図は同実施例の異なる形状のリードフレームの平面図、
第6図(a)及び(b)、第7図(a)及び(b)は各
々、本発明のその他の実施例の平面図及び部分断面図、
第8図はソリッドステートリレーの回路図、第9図は従
来のソリッドステートリレーを示す平面図、第1O図は
従来のソリッドステートリレーの機器への取り付は状態
を示す断面図、第11図は従来の放熱板を絶縁封止した
樹脂封止型半導体装置の機器への取り付は状態を示す断
面図である。 21・・・半導体チップ、22・・・放熱板、23・・
・細条、24a・・リード、24b・・・残存するリー
ド、25c・・・外部リード、26・第2の成形金型、
27・・・第1の樹脂成形部、28・・・細条突起、2
9・・・第2の樹脂成形部、30・・・共通接続細条。 代理人 弁理士 杉 山 毅 至(他1名)(σ) (b) 第2図 (G) 萬3図 (b) 第5図 第8図 第1O図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体チップを搭載した放熱板が第1の樹脂成形部
    に封止され、前記第1の樹脂成形部に連接するリードに
    回路部品を搭載し、前記第1の樹脂成形部及び前記回路
    部品を第2の樹脂成形部により封止してなることを特徴
    とする樹脂封止型半導体装置。 2、放熱板上に半導体チップを搭載し、前記放熱板から
    延長した細条とリードを第1の成形金型で挾持して放熱
    板を該金型内の空所に浮かせた状態で第1の樹脂成形部
    を形成したのち、前記細条及び前記リードの一部を切断
    し、残存するリード上に回路部品を搭載及び電気的接続
    し、さらに第2の成形金型にて前記第1の樹脂成形部と
    外部リードを挾持して位置決めして第1の樹脂成形部と
    前記の回路部品の搭載部と前記第1の樹脂成形部からの
    細条突起を封止して第2の樹脂成形部を形成したのち、
    外部リードに連接する共通接続細条の切断処理を施すこ
    とを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方法。
JP1009382A 1989-01-17 1989-01-17 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 Pending JPH02188946A (ja)

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