JPH02154108A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH02154108A JPH02154108A JP30923188A JP30923188A JPH02154108A JP H02154108 A JPH02154108 A JP H02154108A JP 30923188 A JP30923188 A JP 30923188A JP 30923188 A JP30923188 A JP 30923188A JP H02154108 A JPH02154108 A JP H02154108A
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はカメラ等に用いられる測距装置に関し、特に
受光素子の構成と距離判定方式に関するものである。
受光素子の構成と距離判定方式に関するものである。
第1図は従来の測距装置を構成する3角測量の原理図を
示し、図において、1は投光素子、2は受光素子、3a
、3bはそれぞれ投光レンズと受光レンズ、4は被測距
物体、5は距離I1.6は基線長1.7は焦点能lfを
示す。第9図は受光素子としてPSDを用いた従来例を
示すもので、図において、8aは遠距離側の信号光のス
ポット8bは近距離の信号光のスポットを示す、第10
図はSPDを用いた従来の構成回路図を示し、図におい
て、23a、23bはそれぞれ遠距離と近距離側の帰還
11E抗、24a、24bはそれぞれ遠距離と近距離側
電流電圧変換を構成する演算増幅器、25a、25bは
それぞれ遠距離側と近距離側出力端子、26は基準電圧
、50はPSDのカソード端子の逆バイアス電圧を示す
。
示し、図において、1は投光素子、2は受光素子、3a
、3bはそれぞれ投光レンズと受光レンズ、4は被測距
物体、5は距離I1.6は基線長1.7は焦点能lfを
示す。第9図は受光素子としてPSDを用いた従来例を
示すもので、図において、8aは遠距離側の信号光のス
ポット8bは近距離の信号光のスポットを示す、第10
図はSPDを用いた従来の構成回路図を示し、図におい
て、23a、23bはそれぞれ遠距離と近距離側の帰還
11E抗、24a、24bはそれぞれ遠距離と近距離側
電流電圧変換を構成する演算増幅器、25a、25bは
それぞれ遠距離側と近距離側出力端子、26は基準電圧
、50はPSDのカソード端子の逆バイアス電圧を示す
。
次に動作について説明する。今、スポット8aの位置に
信号光が入射しているとすると、ここで発生した光起電
流は遠距離側電圧変換回路(24a)と近距離側電2I
t電圧変換回路(24b)へ流れ込む電流11と12へ
分流する。この時、電流11とI2の比は、スポット8
a、8bから各PSD端までの距離の比、つまり抵抗比
に逆比例している。
信号光が入射しているとすると、ここで発生した光起電
流は遠距離側電圧変換回路(24a)と近距離側電2I
t電圧変換回路(24b)へ流れ込む電流11と12へ
分流する。この時、電流11とI2の比は、スポット8
a、8bから各PSD端までの距離の比、つまり抵抗比
に逆比例している。
従って、スポットが8a、8bに移動すると電流I2が
大きくなり電流11が小さくなる方向で光起電流が変化
する。
大きくなり電流11が小さくなる方向で光起電流が変化
する。
例えば、第1図において受光素子PSD2の長さをyと
して、また■方向がPSDの中央の場合を考えると、光
起電流11.12と距HLの関係は、 +2+11 y Lと
なる。
して、また■方向がPSDの中央の場合を考えると、光
起電流11.12と距HLの関係は、 +2+11 y Lと
なる。
この演算を行えば、光電流の絶対値の変化は分母と分子
でキャンセルされるため被測距物体の反射率に依存せず
距離が求められる。
でキャンセルされるため被測距物体の反射率に依存せず
距離が求められる。
第10図ではPSDの光起電流を電流電圧変換した部分
のみを記載しているが、実際には信号光は一定の周波数
の交流で送られる場合が多く、電流電圧変換出力端子2
5aと25bの後には図示してない交流増幅回路やAG
C回路、検波回路、演算回路等が付加され、上(1)式
に対応した演算を行い距離を求めていた。
のみを記載しているが、実際には信号光は一定の周波数
の交流で送られる場合が多く、電流電圧変換出力端子2
5aと25bの後には図示してない交流増幅回路やAG
C回路、検波回路、演算回路等が付加され、上(1)式
に対応した演算を行い距離を求めていた。
〔発明が解決しようとする課題]
従来の測距装置は以上のように構成されていたので、遠
距離になるほど反射して帰ってくる信号光が小さくなり
、ノイズによるばらつきが大きくなるのに対し、信号ス
ポットの移動量は小さくなり、演算後の変化量は小さく
なり、結果として遠距離の精度は極端に悪くなるという
問題点があった。
距離になるほど反射して帰ってくる信号光が小さくなり
、ノイズによるばらつきが大きくなるのに対し、信号ス
ポットの移動量は小さくなり、演算後の変化量は小さく
なり、結果として遠距離の精度は極端に悪くなるという
問題点があった。
また、遠方向と辺方向光電流の2chの演算を行うため
、信号処理系は2chが必要となり、コンデンサなどの
外付は部品を含めた回路規模が大きくなるというという
問題点もあった。
、信号処理系は2chが必要となり、コンデンサなどの
外付は部品を含めた回路規模が大きくなるというという
問題点もあった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、遠距離での精度を向上すると共に、外付は部
品を含めた回路規模を小さくできる測距装置の構成を得
ることを目的とする。
たもので、遠距離での精度を向上すると共に、外付は部
品を含めた回路規模を小さくできる測距装置の構成を得
ることを目的とする。
この発明に係る測距装置は多分割の受光素子とこれに対
応したアナログスイッチを設け、信号光スポットの位置
をディジタル的に検出するようにしたものである。
応したアナログスイッチを設け、信号光スポットの位置
をディジタル的に検出するようにしたものである。
この発明における多分割の受光素子は3角測量の原理に
基づいてアナログスイッチで切り替えて信月光スポット
の位置を検出する。
基づいてアナログスイッチで切り替えて信月光スポット
の位置を検出する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図は測距装置を構成する三角測置の原理図で、従来例と
同一である。
図は測距装置を構成する三角測置の原理図で、従来例と
同一である。
第2図、第3図はこの発明の一実施例である多分割受光
素子の1素子の断面図及び等価回路図を示す。図におい
て、11はP−基板、12はP゛分離層、13はN−エ
ピタキシャル層、工4はN゛拡散層、15はP゛ 拡散
層、16はアノード端子、17はP−基板とN−エピタ
キシャル層からなるSPD、18は拡散層とN−エピタ
キシャル層からなるSPD。
素子の1素子の断面図及び等価回路図を示す。図におい
て、11はP−基板、12はP゛分離層、13はN−エ
ピタキシャル層、工4はN゛拡散層、15はP゛ 拡散
層、16はアノード端子、17はP−基板とN−エピタ
キシャル層からなるSPD、18は拡散層とN−エピタ
キシャル層からなるSPD。
19はカソード端子を示す。
ここで、一般に測距装置に用いられる投光素子は発光効
率の良い赤外LEDが多く用いられ、光の波長は長波長
である。従って、受光素子とじて長波長の感度が高く信
号光以外の外乱光の影響を少なくするためには、短波長
側の感度が低いことが望ましい。また、受光素子で入射
光が光起電流に変換される部分は、長波長の光は深い位
置で短波長の光は浅い位置で行われるため、長波長の信
号光の光起電流を大きく取るためには受光素子のPN接
合は深い位置が望ましい。
率の良い赤外LEDが多く用いられ、光の波長は長波長
である。従って、受光素子とじて長波長の感度が高く信
号光以外の外乱光の影響を少なくするためには、短波長
側の感度が低いことが望ましい。また、受光素子で入射
光が光起電流に変換される部分は、長波長の光は深い位
置で短波長の光は浅い位置で行われるため、長波長の信
号光の光起電流を大きく取るためには受光素子のPN接
合は深い位置が望ましい。
この発明の受光素子は第2図に示すように、バイポーラ
プロセスにおけるP−基板11とN−エピタキシャル層
13のPN接合を信号検出用受光素子(SPD17)と
しており、一方、表面のP°拡散15とN−エピタキシ
ャル層13のPN接合は短波長の感度が高い受光素子(
SPDlB>で、このアノードとカソードを短絡するこ
とにより短波長での感度を低下させている。
プロセスにおけるP−基板11とN−エピタキシャル層
13のPN接合を信号検出用受光素子(SPD17)と
しており、一方、表面のP°拡散15とN−エピタキシ
ャル層13のPN接合は短波長の感度が高い受光素子(
SPDlB>で、このアノードとカソードを短絡するこ
とにより短波長での感度を低下させている。
第4図はこの発明の測距装置の第1の実施例の回路図で
、第5図は第2の実施例の回路図を示す。
、第5図は第2の実施例の回路図を示す。
図において、21はアナログスイッチを示し、21a。
21b 21c、21dのようにそれぞれ近距離側よ
り1番目、(n−2)番目、(n−1)番目、n番目に
配置されS PD17a、17b、17c、17dに対
応する。抵抗22a 、 22b 、 22c、22d
、22eも同様に1番目から(n+1)番目まで配置さ
れ、23は帰還抵抗、23a、23bはそれぞれ遠距離
と近距離側を示し、24は電流電圧変換回路を構成する
演算増幅器、24a、24bはそれぞれ遠距離と近距離
側を示し、25は出力端子で、25a 、 25b 、
25cはそれぞれ遠距離側と近距離側、差増幅出力側
を示し、26は基準電圧、27a 、 27b 、 2
7c 、 27dは差動回路を構成する抵抗、28a、
28bはSPDのプルアップ用抵抗、29a、29bは
直流電流力/ト用コンデンサ、30はVccを示す。な
お、従来例と同様に図示しない交流増幅回路、AGC回
路、検波回路、演算回路等の後段信号処理回路について
は説明を省略する。
り1番目、(n−2)番目、(n−1)番目、n番目に
配置されS PD17a、17b、17c、17dに対
応する。抵抗22a 、 22b 、 22c、22d
、22eも同様に1番目から(n+1)番目まで配置さ
れ、23は帰還抵抗、23a、23bはそれぞれ遠距離
と近距離側を示し、24は電流電圧変換回路を構成する
演算増幅器、24a、24bはそれぞれ遠距離と近距離
側を示し、25は出力端子で、25a 、 25b 、
25cはそれぞれ遠距離側と近距離側、差増幅出力側
を示し、26は基準電圧、27a 、 27b 、 2
7c 、 27dは差動回路を構成する抵抗、28a、
28bはSPDのプルアップ用抵抗、29a、29bは
直流電流力/ト用コンデンサ、30はVccを示す。な
お、従来例と同様に図示しない交流増幅回路、AGC回
路、検波回路、演算回路等の後段信号処理回路について
は説明を省略する。
次に、第4図に示す第1の実施例の動作について説明す
る。ここでは、1〜n番目のセンサー(17a〜17d
)は同一の抵抗値を持つ1m抗22a〜22eによって
接続されており、抵抗群の両端は近距離側が基準電圧2
6、遠距離側が演算増幅器24に接続されている。アナ
ログスイッチ21a〜21dはセンサーに対応して配置
されており、各センサーのカーノドを基準電圧26に接
続することができる。
る。ここでは、1〜n番目のセンサー(17a〜17d
)は同一の抵抗値を持つ1m抗22a〜22eによって
接続されており、抵抗群の両端は近距離側が基準電圧2
6、遠距離側が演算増幅器24に接続されている。アナ
ログスイッチ21a〜21dはセンサーに対応して配置
されており、各センサーのカーノドを基準電圧26に接
続することができる。
初期状態においては各スイッチはオフしており、センサ
ーに信号光が入射されると光起電流が発生し、この電流
は抵抗群22a〜22eにより分流した後演算増幅器2
4を経て、出力端子25に信号電圧を発生する。この時
、出力端子25に発生した信号電圧が一定値以下であれ
ば閃として判定する。出力t;子25に発生した信号電
圧が一定値以上であると、アナログスイッチ21a〜2
1dを順にオンしていく。
ーに信号光が入射されると光起電流が発生し、この電流
は抵抗群22a〜22eにより分流した後演算増幅器2
4を経て、出力端子25に信号電圧を発生する。この時
、出力端子25に発生した信号電圧が一定値以下であれ
ば閃として判定する。出力t;子25に発生した信号電
圧が一定値以上であると、アナログスイッチ21a〜2
1dを順にオンしていく。
こうして、信号光が入射しているセンサーを基準電圧2
6に接続すると、その時点で出力端子25の信号電圧は
ゼロとなり信号スポットの位置が検出できる。
6に接続すると、その時点で出力端子25の信号電圧は
ゼロとなり信号スポットの位置が検出できる。
なお、この実施例では近距暉側のセンサーが基準電圧2
6、遠距離側が演算増幅器24に近く配置されているが
、これは遠側では信号光電流が微小となるため、SN比
を改善するため信号電流のほとんどを演算増幅器に取り
込むような抵抗分流配置とし、一方近側では信号を流が
非常に大きいが、分流によりグイナミンクレンジを小さ
くできる効果がある。このため、演算増幅器の後の信号
処理回路が容易に構成できる。
6、遠距離側が演算増幅器24に近く配置されているが
、これは遠側では信号光電流が微小となるため、SN比
を改善するため信号電流のほとんどを演算増幅器に取り
込むような抵抗分流配置とし、一方近側では信号を流が
非常に大きいが、分流によりグイナミンクレンジを小さ
くできる効果がある。このため、演算増幅器の後の信号
処理回路が容易に構成できる。
次に、第5図に示す第2の実施例の動作について説明す
る。ここでは、第1の実施例とは異なり、各アナログス
イッチは切替スイッチとなっており、それぞれ各受光セ
ルを遠距離側演算増幅器24aの入力ラインと近距離側
演算増幅器24b人カラインに接続変更が可能になって
いる。
る。ここでは、第1の実施例とは異なり、各アナログス
イッチは切替スイッチとなっており、それぞれ各受光セ
ルを遠距離側演算増幅器24aの入力ラインと近距離側
演算増幅器24b人カラインに接続変更が可能になって
いる。
初期状態において、例えば各受光セルの出力端子はすべ
て遠距離側演算増幅器24aの入力ラインへ接続されて
おり、遠距離側演算増幅器の出力端子25aで信号の有
無、つまり閃の判定を行う。信号レベルがある一定以上
ある場合は、この例では信号電流はSPDのカソードか
らアノードへ流れるため、遠距離側演算増幅器の出力端
子25a電圧は基Y$電圧26に対し正の電圧が発生ず
る。一方、近距諦側演算増幅器24bの入力端子にはS
PDは接続されていないため、その出力端子25b電圧
は基中電圧26に等しい。従って、初期状態においては
差動増幅器24cの出力端子25c電圧は基準電圧に対
して負の電圧を示す。
て遠距離側演算増幅器24aの入力ラインへ接続されて
おり、遠距離側演算増幅器の出力端子25aで信号の有
無、つまり閃の判定を行う。信号レベルがある一定以上
ある場合は、この例では信号電流はSPDのカソードか
らアノードへ流れるため、遠距離側演算増幅器の出力端
子25a電圧は基Y$電圧26に対し正の電圧が発生ず
る。一方、近距諦側演算増幅器24bの入力端子にはS
PDは接続されていないため、その出力端子25b電圧
は基中電圧26に等しい。従って、初期状態においては
差動増幅器24cの出力端子25c電圧は基準電圧に対
して負の電圧を示す。
なお、−1Qに信号光は交流で送られており、この例で
も交流結合(DCカット)コンデンサー29a、29b
を用いているため、上述した各出力端子の電圧について
は、信号光に同期した瞬間で作動している。
も交流結合(DCカット)コンデンサー29a、29b
を用いているため、上述した各出力端子の電圧について
は、信号光に同期した瞬間で作動している。
次に、近距離側に配置した5PD17aがら順に近距シ
■側演算増幅器の人力に接続するようにアナログスイッ
チを切り替えていくと、信号光スポットの当たっている
SPDの位置で、差動増幅器の出力25cは基!l!電
圧に対し負から正に変化する。
■側演算増幅器の人力に接続するようにアナログスイッ
チを切り替えていくと、信号光スポットの当たっている
SPDの位置で、差動増幅器の出力25cは基!l!電
圧に対し負から正に変化する。
なお、信号光スポットがセルの境界でちょうど2分別さ
れる場合は、近側と遠側の信号は等しくなり、差動増幅
器(24c)の出力は基準電圧と等しくなる。この状態
では、距離に対し予め配置した受光素子セル数のゾーン
分割で、ディジタル的に距離を検出できる。
れる場合は、近側と遠側の信号は等しくなり、差動増幅
器(24c)の出力は基準電圧と等しくなる。この状態
では、距離に対し予め配置した受光素子セル数のゾーン
分割で、ディジタル的に距離を検出できる。
さらにゾーン分割数を増加させる必要がある場合は、差
動増幅器の出力25cが負から正に変化する前後で、そ
のアナログ値を記憶し、信号光スポットの移動量とアナ
ログ値の相関より2つのセル間を細分することができる
。
動増幅器の出力25cが負から正に変化する前後で、そ
のアナログ値を記憶し、信号光スポットの移動量とアナ
ログ値の相関より2つのセル間を細分することができる
。
第6図と第7図については、第2の実施例で用いた切り
替え用アナログスイッチの具体例の回路図で、第6図が
トランスミッションゲートを用いた図で、第7図がバイ
ポーラトランジスタを用いた図である。なお、いずれも
コントロールスイッチ端子33にH及び(5レヘルの電
圧を入力し切り替えを行う。
替え用アナログスイッチの具体例の回路図で、第6図が
トランスミッションゲートを用いた図で、第7図がバイ
ポーラトランジスタを用いた図である。なお、いずれも
コントロールスイッチ端子33にH及び(5レヘルの電
圧を入力し切り替えを行う。
第8図は多分割の受光素子上の信号光スボ7)が1多動
した場合の図を示し、従来例の第9図に示ずPSDの場
合に比較し、同一の移動量に対し検出感度が向上してい
ることを示している。つまり、PSDでスポットが83
から8bに移動しても抵抗分割で連′ift量の変化で
あるのに対し、第8図では遠距離側スボッ)8aの位置
では受光セルは17Cと17dであるのにたいし、スポ
ット8bの位置では受光セルは17bと170となる。
した場合の図を示し、従来例の第9図に示ずPSDの場
合に比較し、同一の移動量に対し検出感度が向上してい
ることを示している。つまり、PSDでスポットが83
から8bに移動しても抵抗分割で連′ift量の変化で
あるのに対し、第8図では遠距離側スボッ)8aの位置
では受光セルは17Cと17dであるのにたいし、スポ
ット8bの位置では受光セルは17bと170となる。
この様に、スポットの移動量に対し距〜1判別比を大き
く取ることができるため、遠距離でSNが劣化した場合
でもノイズによるばらつきの影響を小さくすることがで
き測距精度を向上することができる。
く取ることができるため、遠距離でSNが劣化した場合
でもノイズによるばらつきの影響を小さくすることがで
き測距精度を向上することができる。
なお、上記実施例では受光素子の構成としてP基板とN
−エピタキシャル層を用いた場合について述べたが、拡
散を用いて構成してもよく同様の効果が得られる。また
、第2の実施例で2つの演算増幅器(24a) (24
b)を用いて差を取る場合について述べたが、第1の実
施例のように1つの演算項114器(24)を用い、信
号光のピーク値を検出する場合も同様の効果がある。
−エピタキシャル層を用いた場合について述べたが、拡
散を用いて構成してもよく同様の効果が得られる。また
、第2の実施例で2つの演算増幅器(24a) (24
b)を用いて差を取る場合について述べたが、第1の実
施例のように1つの演算項114器(24)を用い、信
号光のピーク値を検出する場合も同様の効果がある。
(発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、測距装置における受光
素子の構成を多分割として、この受光素子セルに対応し
たアナログスイッチを設け、これを切り替えることによ
ってディジタルの測距情報を得るようにしたため、ノイ
ズによる誤測距やばらつきが小さくなり精度が向上する
という効果があり、また、第1の実施例、第2の実施例
の測距装置において、43号処理系はl系統で交流増幅
、AGC1検波、判定回路を構成することが可能であり
、外付は部品も含めた回路規模を小さくできるという効
果がある。
素子の構成を多分割として、この受光素子セルに対応し
たアナログスイッチを設け、これを切り替えることによ
ってディジタルの測距情報を得るようにしたため、ノイ
ズによる誤測距やばらつきが小さくなり精度が向上する
という効果があり、また、第1の実施例、第2の実施例
の測距装置において、43号処理系はl系統で交流増幅
、AGC1検波、判定回路を構成することが可能であり
、外付は部品も含めた回路規模を小さくできるという効
果がある。
第1圓は測距装置を構成するこの発明および従来共通の
3角測量の原理図、第2図、第3図はこの発明の一実施
例における受光素子の1素子の断面図及び等価回路図、
第4図はこの発明における測距装置の第1の実施例を示
す回路図、第5Mは同しく第2の実施例を示す回路図、
第6図、第7図は第5図に示す切り替え用アナログスイ
ッチの回路図、第8図、第9図は、それぞれこの発明及
び従来の信号光スポットと受光素子の位置関係を示す説
明図、第10図は従来の測距装置の回路図を示す。 図において、1は投光素子、2は受光素子、3a、3b
はそれぞれ投光レンズと受光レンズ、4は被測距物体、
5は距離し、6は基線長1.7は焦点距離f、8a、8
bはそれぞれ遠距離側の信号光のスポットと近距離側の
信号光のスポット、11はP−基板、12はP゛ 分離
層、13はN−エピタキシャル層、14はN゛拡散層、
【5はP゛拡散層、16はアノード端子、17はP−基
板とN−エピタキシャル層からなるSPD、18はP′
拡散とN−エピタキシャル層からなるSPD、19はカ
ソード端子、2Iはアナログスイッチで、アナログスイ
ッチ2+ a 、 21 b 、 21 c 、 21
dはそれぞれ近距離側より1番目、(n−2)番目、
(n−1)番目、n番目に配置されS P Dl、7a
、 17b 、 17c 、 L7dに対応し、また
抵抗22a 、 22b 、 22c 、 22d 、
22eも同様に一番目から(n+1)番目まで配置さ
れている。23は帰還抵抗、23a、23bはそれぞれ
遠距離側と近距離側の帰還抵抗、24は電流電圧変換回
路を構成する演算増幅器で、24a、24bはそれぞれ
遠距離側と近距離側演算増幅器25は出力端子で、25
a 、 25b 、 25cはそれぞれ遠距離側と近距
離側出力端子、および差増幅出力端子、26は基準電圧
、21 a 、 27 b 、 27 c 、 27
dは差動回路を構成する抵抗、28a、28bはSPD
のプルアンプ用抵抗、29a、29bは直流電流カット
用コンデンサ、30はVcc、31はアナログスイッチ
の入力端子、32a、32bはそれぞれ遠距離側と近距
#側の出力端子、33はアナログスイッチを切り替える
コントロールスイッチ、34はPchとNch)ランジ
スタからなるトランスミッションゲート、35はインバ
ータ、41a。 42bはNPN)ランジスタからなる差動スイッチ、4
2a、42bは基準電圧を設定する定電流源、43a4
3bはそれぞれ基準電圧を設定するダイオード、44は
スイッチ切り替え用のトランジスタ、45は電流制限用
の抵抗、50はSPDの逆バイアス用電圧諒を示す。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 第1図 第2図 ノ4.N”jL版層 第4図 第5図 1番1!5PD n−24@SPD ガーI目SP[) ガ#r−巨SPD +1!アナログ又イ、、+ yi−z令gアナログスイッチ 7I−1番目アナログ又イフ千 7LIl!アtロク゛スイツ千 j裔l包杭 π+1番18九 5”ル還抵バ ;賀〕[戸を幅書シ エ V端子 、I導電瓜 56一
3角測量の原理図、第2図、第3図はこの発明の一実施
例における受光素子の1素子の断面図及び等価回路図、
第4図はこの発明における測距装置の第1の実施例を示
す回路図、第5Mは同しく第2の実施例を示す回路図、
第6図、第7図は第5図に示す切り替え用アナログスイ
ッチの回路図、第8図、第9図は、それぞれこの発明及
び従来の信号光スポットと受光素子の位置関係を示す説
明図、第10図は従来の測距装置の回路図を示す。 図において、1は投光素子、2は受光素子、3a、3b
はそれぞれ投光レンズと受光レンズ、4は被測距物体、
5は距離し、6は基線長1.7は焦点距離f、8a、8
bはそれぞれ遠距離側の信号光のスポットと近距離側の
信号光のスポット、11はP−基板、12はP゛ 分離
層、13はN−エピタキシャル層、14はN゛拡散層、
【5はP゛拡散層、16はアノード端子、17はP−基
板とN−エピタキシャル層からなるSPD、18はP′
拡散とN−エピタキシャル層からなるSPD、19はカ
ソード端子、2Iはアナログスイッチで、アナログスイ
ッチ2+ a 、 21 b 、 21 c 、 21
dはそれぞれ近距離側より1番目、(n−2)番目、
(n−1)番目、n番目に配置されS P Dl、7a
、 17b 、 17c 、 L7dに対応し、また
抵抗22a 、 22b 、 22c 、 22d 、
22eも同様に一番目から(n+1)番目まで配置さ
れている。23は帰還抵抗、23a、23bはそれぞれ
遠距離側と近距離側の帰還抵抗、24は電流電圧変換回
路を構成する演算増幅器で、24a、24bはそれぞれ
遠距離側と近距離側演算増幅器25は出力端子で、25
a 、 25b 、 25cはそれぞれ遠距離側と近距
離側出力端子、および差増幅出力端子、26は基準電圧
、21 a 、 27 b 、 27 c 、 27
dは差動回路を構成する抵抗、28a、28bはSPD
のプルアンプ用抵抗、29a、29bは直流電流カット
用コンデンサ、30はVcc、31はアナログスイッチ
の入力端子、32a、32bはそれぞれ遠距離側と近距
#側の出力端子、33はアナログスイッチを切り替える
コントロールスイッチ、34はPchとNch)ランジ
スタからなるトランスミッションゲート、35はインバ
ータ、41a。 42bはNPN)ランジスタからなる差動スイッチ、4
2a、42bは基準電圧を設定する定電流源、43a4
3bはそれぞれ基準電圧を設定するダイオード、44は
スイッチ切り替え用のトランジスタ、45は電流制限用
の抵抗、50はSPDの逆バイアス用電圧諒を示す。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 第1図 第2図 ノ4.N”jL版層 第4図 第5図 1番1!5PD n−24@SPD ガーI目SP[) ガ#r−巨SPD +1!アナログ又イ、、+ yi−z令gアナログスイッチ 7I−1番目アナログ又イフ千 7LIl!アtロク゛スイツ千 j裔l包杭 π+1番18九 5”ル還抵バ ;賀〕[戸を幅書シ エ V端子 、I導電瓜 56一
Claims (1)
- (1)測光束を発生する信号源と、被測距物体からの上
記測光束の反射光を受信する上記信号源の周波数と同調
した受信手段を持つ距離検出装置において、受信用の受
光素子の構造が反射信号光の移動方向に多数のセルに分
割されて、その各々のセルにアナログスイッチが接続さ
れ、このスイッチのオン・オフを切り替えることにより
反射信号光の位置を検出することを特徴とする測距装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63309231A JP2534113B2 (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63309231A JP2534113B2 (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 測距装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02154108A true JPH02154108A (ja) | 1990-06-13 |
JP2534113B2 JP2534113B2 (ja) | 1996-09-11 |
Family
ID=17990509
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63309231A Expired - Fee Related JP2534113B2 (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 測距装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2534113B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0637757A3 (en) * | 1993-08-03 | 1995-04-26 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Method and device for photoelectric detection. |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6082915A (ja) * | 1983-10-14 | 1985-05-11 | Canon Inc | 距離測定装置 |
JPS6344117A (ja) * | 1986-08-11 | 1988-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | 変位スイツチ |
JPS63289413A (ja) * | 1987-05-21 | 1988-11-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 形状測定装置 |
-
1988
- 1988-12-06 JP JP63309231A patent/JP2534113B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6082915A (ja) * | 1983-10-14 | 1985-05-11 | Canon Inc | 距離測定装置 |
JPS6344117A (ja) * | 1986-08-11 | 1988-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | 変位スイツチ |
JPS63289413A (ja) * | 1987-05-21 | 1988-11-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 形状測定装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0637757A3 (en) * | 1993-08-03 | 1995-04-26 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Method and device for photoelectric detection. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2534113B2 (ja) | 1996-09-11 |
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Date | Code | Title | Description |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |