JPH02138824A - 流速センサ - Google Patents
流速センサInfo
- Publication number
- JPH02138824A JPH02138824A JP29269588A JP29269588A JPH02138824A JP H02138824 A JPH02138824 A JP H02138824A JP 29269588 A JP29269588 A JP 29269588A JP 29269588 A JP29269588 A JP 29269588A JP H02138824 A JPH02138824 A JP H02138824A
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- JP
- Japan
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- thin film
- flow velocity
- temperature
- film resistance
- sensor
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、気体の速さや、さらにはそれから気体の流量
を求めるために使用される流速センサに関するものであ
る。
を求めるために使用される流速センサに関するものであ
る。
従来の技術
近年、計測用または工業計測用に流速センサが利用され
るようになってきた。
るようになってきた。
流速を計測する方法については、これまでにも幾種類か
発表されているが、その中でも発熱体の抵抗値が気体の
流速で変化することを利用して、流速を計測する方法が
計測器などで具体化されている。
発表されているが、その中でも発熱体の抵抗値が気体の
流速で変化することを利用して、流速を計測する方法が
計測器などで具体化されている。
この流速測定装置には定電流型と定温度型があるが、い
ずれもその出力電圧Vまたは出力電流Iは、風速をVと
したとき、 ■またはI cx (A+B5) なる関係にある。なお、A、Bは定数である。
ずれもその出力電圧Vまたは出力電流Iは、風速をVと
したとき、 ■またはI cx (A+B5) なる関係にある。なお、A、Bは定数である。
この原理にもとづいた定温度型流速センサの一例を第4
図に示す。
図に示す。
そのセンサ素子41は、第4図(A)に示すトオりであ
り、短冊状のガラス薄板42の同一面上の一方の端部側
にヒータ43が、また他方の端部側に温度センサ44が
それぞれ配置され、さらにヒータ43の近傍にはその温
度を検出するためのヒータ温度モニター45が配置され
ているものである。
り、短冊状のガラス薄板42の同一面上の一方の端部側
にヒータ43が、また他方の端部側に温度センサ44が
それぞれ配置され、さらにヒータ43の近傍にはその温
度を検出するためのヒータ温度モニター45が配置され
ているものである。
これらヒータ43、温度センサ44およびヒータ温度モ
ニター45は、いずれも白金薄膜で構成されている。セ
ンサ素子41は、同図(B)に示すように、そのガラス
基板41の温度センサ44側端部で、片持ち梁状にベー
ス46に保持されている。
ニター45は、いずれも白金薄膜で構成されている。セ
ンサ素子41は、同図(B)に示すように、そのガラス
基板41の温度センサ44側端部で、片持ち梁状にベー
ス46に保持されている。
このセンサは、ヒータ温度モニター45と温度センサ4
4とで検出される温度の差を一定に保つ回路に接続され
、同図(B)の矢印Z方向へ気体を流すとともに、ヒー
タ42に通電し、ヒータ温度モニター44と温度センサ
43とによる検出温度差を一定に保持させたときの、ヒ
ータ42の消費電力から流速を求めている。
4とで検出される温度の差を一定に保つ回路に接続され
、同図(B)の矢印Z方向へ気体を流すとともに、ヒー
タ42に通電し、ヒータ温度モニター44と温度センサ
43とによる検出温度差を一定に保持させたときの、ヒ
ータ42の消費電力から流速を求めている。
発明が解決しようとする課題
流速センサの特性、主に流速に対する感度と応答速度と
で評価されるが、上述のようなセンサでは、感度と応答
速度とを高めるためにガラス板を実質的に中空に浮かし
た状態としている。
で評価されるが、上述のようなセンサでは、感度と応答
速度とを高めるためにガラス板を実質的に中空に浮かし
た状態としている。
このため、構造上堅牢さが十分とは言えず、その製造が
非常にむずかしい。
非常にむずかしい。
本発明はこのような問題を解決し、特性的にも優れた流
速センサを提供することを目的とする。
速センサを提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
本発明の流速センサは、半導体基板の一部分に異方性エ
ツチングによって形成された薄い支持体上に第1の薄膜
測温抵抗体が配置されるとともに、半導体基板の、支持
体形成部分を除く他の部分上に、第2の薄膜測温抵抗体
が配置されているものである。
ツチングによって形成された薄い支持体上に第1の薄膜
測温抵抗体が配置されるとともに、半導体基板の、支持
体形成部分を除く他の部分上に、第2の薄膜測温抵抗体
が配置されているものである。
作 用
この構成によって、第1の薄膜測温抵抗体は、半導体基
板と一体の薄い支持体上に配置されているので、流速感
応部分の強度が高められる。そして、この支持体を薄膜
状とすることで、第1の薄膜測温抵抗体が微小な消費電
力で高温度となり、感度、応答速度ともに高められる。
板と一体の薄い支持体上に配置されているので、流速感
応部分の強度が高められる。そして、この支持体を薄膜
状とすることで、第1の薄膜測温抵抗体が微小な消費電
力で高温度となり、感度、応答速度ともに高められる。
実 施 例
以下本発明の流速センサについて、その実施例に基づい
て説明する。
て説明する。
〔実施例1〕
第1図(A)は本発明の一実施例である定電流型流速セ
ンサの斜視図、同図(B)はそのX−Y線に沿った断面
図である。
ンサの斜視図、同図(B)はそのX−Y線に沿った断面
図である。
図において、1は短冊状のシリコン基板で、その第1の
主面側でその一方の端部側には凹部2が異方性エツチン
グによって穿たれて設けられている。3は支持薄膜で、
凹部2の異方性エツチング形成の際に、その凹部2上を
橋絡するよう残留して形成されたシリコン膜からなる。
主面側でその一方の端部側には凹部2が異方性エツチン
グによって穿たれて設けられている。3は支持薄膜で、
凹部2の異方性エツチング形成の際に、その凹部2上を
橋絡するよう残留して形成されたシリコン膜からなる。
4.5は絶縁膜で、Si2N3またはSiO2からなり
、それぞれシリコン基板1の第1.第2の主面上に形成
されている。6は白金からなる第1の薄膜測温抵抗体で
、支持薄膜3上にジグザグ状に形成されており、その両
端部分はリード条7,8によって第1の主面上を他方の
端部側に設けられている電極端子9゜10に接続されて
いる。11は白金からなる第2の薄膜測温抵抗体で、第
1の主面上の中央部分から他方の端部寄りにジグザグ状
に形成されており、その両端部分はリード条12.13
によって第1の主面上の他方の端部側に形成されている
電極端子14.15と接続されている。なお、同図(B
)において、16は保護膜で、Si2N3またはSin
、。
、それぞれシリコン基板1の第1.第2の主面上に形成
されている。6は白金からなる第1の薄膜測温抵抗体で
、支持薄膜3上にジグザグ状に形成されており、その両
端部分はリード条7,8によって第1の主面上を他方の
端部側に設けられている電極端子9゜10に接続されて
いる。11は白金からなる第2の薄膜測温抵抗体で、第
1の主面上の中央部分から他方の端部寄りにジグザグ状
に形成されており、その両端部分はリード条12.13
によって第1の主面上の他方の端部側に形成されている
電極端子14.15と接続されている。なお、同図(B
)において、16は保護膜で、Si2N3またはSin
、。
からなり、少なくとも薄膜測温抵抗体6を覆っている。
そし、て、上記凹部2の開口部分に位置する、支持薄膜
3、絶縁膜4、第1の薄膜測温抵抗体6および保護膜1
6の積層部分は、流速感応部17を構成し、その厚さが
数μmから数十μmというきわめて薄い膜状をなしてい
る。
3、絶縁膜4、第1の薄膜測温抵抗体6および保護膜1
6の積層部分は、流速感応部17を構成し、その厚さが
数μmから数十μmというきわめて薄い膜状をなしてい
る。
本実施例において、電極端子9.10間に電圧を印加し
て第1の薄膜測温抵抗体6に通電すると、それが発熱す
る。流速感応部13は薄膜状であるので、わずかな電力
でその温度が上昇し、シリコン基板1の温度より高くな
る。この流速感応部13の温度変化に応じて、第1の薄
膜測温抵抗体6が抵抗値変化を生じる。それに伴って、
電極端子9゜10間の電圧が変化する。
て第1の薄膜測温抵抗体6に通電すると、それが発熱す
る。流速感応部13は薄膜状であるので、わずかな電力
でその温度が上昇し、シリコン基板1の温度より高くな
る。この流速感応部13の温度変化に応じて、第1の薄
膜測温抵抗体6が抵抗値変化を生じる。それに伴って、
電極端子9゜10間の電圧が変化する。
本実施例を流速を測定すべき流体中に置くと、その流速
に応して流速感応部13からの単位時間当たりの熱散逸
量が変化する。すなわち、流速が増減すると、流速感応
部13からの熱散逸量が増減し、その温度が上昇しまた
は低下する。薄膜白金抵抗体6の抵抗値は温度の変化に
応して増減し、電極端子9.10間の電圧値が増減する
。
に応して流速感応部13からの単位時間当たりの熱散逸
量が変化する。すなわち、流速が増減すると、流速感応
部13からの熱散逸量が増減し、その温度が上昇しまた
は低下する。薄膜白金抵抗体6の抵抗値は温度の変化に
応して増減し、電極端子9.10間の電圧値が増減する
。
一方、シリコン基板1の温度または周囲温度は第2の薄
膜測温抵抗体11で検出され、無風状態ではそれで検出
される温度と薄膜測温抵抗体6による温度との差がつね
に一定に保たれるように、第2の薄膜測温抵抗体11に
一定電流を流しておく。このときの薄膜測温抵抗体6の
電圧を基準とすると、上式から明らかなように流速Vの
値の4乗根に比例した出力電圧が得られる。
膜測温抵抗体11で検出され、無風状態ではそれで検出
される温度と薄膜測温抵抗体6による温度との差がつね
に一定に保たれるように、第2の薄膜測温抵抗体11に
一定電流を流しておく。このときの薄膜測温抵抗体6の
電圧を基準とすると、上式から明らかなように流速Vの
値の4乗根に比例した出力電圧が得られる。
以上のように本実施例によれば、シリコン基板1上に、
異方性エツチングによって、熱的に敏感な支持薄膜3を
形成し、その部分上とシリコン基板1の他の部分上にそ
れぞれ薄膜測温抵抗体6゜11を形成することで、感度
が高く、応答速度の速い流速センサが得られる。
異方性エツチングによって、熱的に敏感な支持薄膜3を
形成し、その部分上とシリコン基板1の他の部分上にそ
れぞれ薄膜測温抵抗体6゜11を形成することで、感度
が高く、応答速度の速い流速センサが得られる。
〔実施例2〕
第2図は本発明の第2の実施例である定温度型の流速セ
ンサの平面図である。
ンサの平面図である。
この実施例が第1の実施例ともっとも異なっているとこ
ろは、第1の薄膜測温抵抗体6の近傍に、それに並行さ
せて、第3の薄膜測温抵抗体18を設けていることであ
る。この薄膜測温抵抗体18によって第1の薄膜測温抵
抗体6の温度を第3の薄膜測温抵抗体18で検出して、
それと基板温度を検出する第2の薄膜測温抵抗体11と
の温度差がつねに一定に保たれるよう、第1の薄膜測温
抵抗体6の電流源(図示せず)を制御する。
ろは、第1の薄膜測温抵抗体6の近傍に、それに並行さ
せて、第3の薄膜測温抵抗体18を設けていることであ
る。この薄膜測温抵抗体18によって第1の薄膜測温抵
抗体6の温度を第3の薄膜測温抵抗体18で検出して、
それと基板温度を検出する第2の薄膜測温抵抗体11と
の温度差がつねに一定に保たれるよう、第1の薄膜測温
抵抗体6の電流源(図示せず)を制御する。
これはリード条19.20によって電極端子21゜22
にそれぞれ接続されている。他の構成要素については、
第1の実施例と実質的に同じである。
にそれぞれ接続されている。他の構成要素については、
第1の実施例と実質的に同じである。
流速感応部13から散逸する熱は流速の平方根に比例し
、その分だけ第1の薄膜測温抵抗体6に流す電流が増え
て、温度差が一定に保たれる。この温度差から流速が求
められる。
、その分だけ第1の薄膜測温抵抗体6に流す電流が増え
て、温度差が一定に保たれる。この温度差から流速が求
められる。
〔実施例3〕
第3図は本発明の第3の実施例における流速センサの断
面図である。
面図である。
本実施例が第1の実施例ともっとも異なるところは、流
速感応部13のブリッジ状支持薄膜3が、シリコン基板
1の裏面からの異方性エツチングによって形成されてい
ることである。
速感応部13のブリッジ状支持薄膜3が、シリコン基板
1の裏面からの異方性エツチングによって形成されてい
ることである。
その動作は第1の実施例と同じである。無論、第2の実
施例と同じく、第1の薄膜測温抵抗体6の近傍に、その
温度を検出するための第3の薄膜測温抵抗体を設けるこ
とで、定温度型流体センサとして使用することができる
。
施例と同じく、第1の薄膜測温抵抗体6の近傍に、その
温度を検出するための第3の薄膜測温抵抗体を設けるこ
とで、定温度型流体センサとして使用することができる
。
発明の効果
本発明の流速センサによれば、第1の薄膜測温抵抗体が
、半導体基板の一部分に異方性エツチングによって形成
されたそれと一体の薄い支持体上に配置されているので
、流速感応部分の強度が高められ、その取扱いが従来品
に比べて非常に容易になる。さらに、この支持体を薄膜
状とすることで、第1の薄膜測温抵抗体がわずかな電力
で容易に温度上昇するので、感度、応答性がともに高め
られる。そして、電力消費量が少なくてすみ、効率よく
流体の流速を検出することができる。
、半導体基板の一部分に異方性エツチングによって形成
されたそれと一体の薄い支持体上に配置されているので
、流速感応部分の強度が高められ、その取扱いが従来品
に比べて非常に容易になる。さらに、この支持体を薄膜
状とすることで、第1の薄膜測温抵抗体がわずかな電力
で容易に温度上昇するので、感度、応答性がともに高め
られる。そして、電力消費量が少なくてすみ、効率よく
流体の流速を検出することができる。
図
第1図(A)は本発明における一実施例の流速センサの
平面図、同図(B)はそのX−Y線に沿った断面図、第
2図は本発明における第2の実施例の流速センサの平面
図、第3図は本発明における第3の実施例の流速センサ
の断面図である。第4図(A)は従来の流速センサにお
ける素子の平面図、同図(B)はその斜視図である。 1・・・・・・シリコン基板、2・・・・・・凹部、3
・・・・・・支持薄膜、4,5・・・・・・絶縁膜、6
・・・・・・第1の薄膜測温抵抗体、11・・・・・・
第2の薄膜測温抵抗体、17・・・・・・流速感応部、
18・・・・・・第3の薄膜測温抵抗体。
平面図、同図(B)はそのX−Y線に沿った断面図、第
2図は本発明における第2の実施例の流速センサの平面
図、第3図は本発明における第3の実施例の流速センサ
の断面図である。第4図(A)は従来の流速センサにお
ける素子の平面図、同図(B)はその斜視図である。 1・・・・・・シリコン基板、2・・・・・・凹部、3
・・・・・・支持薄膜、4,5・・・・・・絶縁膜、6
・・・・・・第1の薄膜測温抵抗体、11・・・・・・
第2の薄膜測温抵抗体、17・・・・・・流速感応部、
18・・・・・・第3の薄膜測温抵抗体。
Claims (4)
- (1) 半導体基板と、前記半導体基板の一部分に異方
性エッチングにより形成された、前記半導体基板の厚さ
より薄い支持体と、前記支持体上に形成されている第1
の薄膜測温抵抗体と、前記半導体基板の、前記支持体形
成部分を除く他の部分上に形成されている第2の薄膜測
温抵抗体とを備えていることを特徴とする流速センサ。 - (2) 半導体基板の表面が絶縁体で被覆されているこ
とを特徴とする請求項1に記載の流速センサ。 - (3) 支持体上であって第1の薄膜測温抵抗体の近傍
に第3の薄膜測温抵抗体が形成されていることを特徴と
する請求項1に記載の流速センサ。 - (4) 支持体が薄膜状であることを特徴とする請求項
1に記載の流速センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29269588A JPH02138824A (ja) | 1988-11-18 | 1988-11-18 | 流速センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29269588A JPH02138824A (ja) | 1988-11-18 | 1988-11-18 | 流速センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02138824A true JPH02138824A (ja) | 1990-05-28 |
Family
ID=17785104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29269588A Pending JPH02138824A (ja) | 1988-11-18 | 1988-11-18 | 流速センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02138824A (ja) |
-
1988
- 1988-11-18 JP JP29269588A patent/JPH02138824A/ja active Pending
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