JPH02134590A - バックグラウンド補正機構付ダストモニタ - Google Patents
バックグラウンド補正機構付ダストモニタInfo
- Publication number
- JPH02134590A JPH02134590A JP28664088A JP28664088A JPH02134590A JP H02134590 A JPH02134590 A JP H02134590A JP 28664088 A JP28664088 A JP 28664088A JP 28664088 A JP28664088 A JP 28664088A JP H02134590 A JPH02134590 A JP H02134590A
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- JP
- Japan
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- background
- concentration
- measurement
- exhaust gas
- filter
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、ウラン等の放射性物質を取扱う施設におい
て、その排気中の放射性物質濃度を連続監視するダスト
モニタに係り、特にその測定値からバックグラウンドの
影響を除去して、正確な放射性物質濃度測定を行ない得
るバックグラウンド補正機構付ダストモニタに関するも
のである。
て、その排気中の放射性物質濃度を連続監視するダスト
モニタに係り、特にその測定値からバックグラウンドの
影響を除去して、正確な放射性物質濃度測定を行ない得
るバックグラウンド補正機構付ダストモニタに関するも
のである。
［従来の技術］
放射性物質取扱施設の排気中の放射性物質濃度をダスト
モニタで連続監視するには、測定対象以外のものに起因
するバックグラウンド計数を差し引いて、正味計数値を
算出する必要がある。
モニタで連続監視するには、測定対象以外のものに起因
するバックグラウンド計数を差し引いて、正味計数値を
算出する必要がある。
このバックグラウンド計数として特に影響が大きいもの
は、大気中に天然に存在するラドン及びトロンの崩壊生
成物であるが、この崩壊生成物が影響するバックグラウ
ンド濃度は通常、ｔ ｘ １０−” μｃ ｉ／ａｍ’ 程度である。従来、これ以下の正味計数値を得るために
は、排気中の放射性物Ｘ濃度計測に先だって、対象とす
る排気中のダストを捕集した後、天然のラドン及びトロ
ンの崩壊生成物を減衰させるに必要な３日間程度の減衰
期間を経過させる必要があった。従って、ダストモニタ
による連続監視は行ない得ない。
は、大気中に天然に存在するラドン及びトロンの崩壊生
成物であるが、この崩壊生成物が影響するバックグラウ
ンド濃度は通常、ｔ ｘ １０−” μｃ ｉ／ａｍ’ 程度である。従来、これ以下の正味計数値を得るために
は、排気中の放射性物Ｘ濃度計測に先だって、対象とす
る排気中のダストを捕集した後、天然のラドン及びトロ
ンの崩壊生成物を減衰させるに必要な３日間程度の減衰
期間を経過させる必要があった。従って、ダストモニタ
による連続監視は行ない得ない。
一方、天然のラドン及びトロンに起因するバックグラウ
ンドの影響を除去する測定方法も実用化されているが、
その代表的なものとしては、α線スペクトル分析方法が
ある。これはラドン及びトロンと測定対象物とのα線エ
ネルギーに差があることに着目し、α線の波高分析によ
りバックグラウンドの影響を除去するものである。
ンドの影響を除去する測定方法も実用化されているが、
その代表的なものとしては、α線スペクトル分析方法が
ある。これはラドン及びトロンと測定対象物とのα線エ
ネルギーに差があることに着目し、α線の波高分析によ
りバックグラウンドの影響を除去するものである。
また、簡単な測定方法としては、ダストモニタを二台使
用する方法がある。この方法では、先ず施設からの排気
をフィルタ等でチ通し、この濾過された排気中の放射性
物Ｘ濃度を一台のダストモニタで測定する。一方、他の
一台は外気を直接捕集してバックグラウンド濃度を測定
する。そして、両ダストモニタの計数値の差により正味
計数値を求めるものである。
用する方法がある。この方法では、先ず施設からの排気
をフィルタ等でチ通し、この濾過された排気中の放射性
物Ｘ濃度を一台のダストモニタで測定する。一方、他の
一台は外気を直接捕集してバックグラウンド濃度を測定
する。そして、両ダストモニタの計数値の差により正味
計数値を求めるものである。
［発明が解決しようとする課題］
上述の通り、天然のラドン及びトロンの崩壊生成物の影
響を除いて測定するためには、減衰期間を経過させる方
法にあっては、連続監視を行ない得ないという不都合が
ある。
響を除いて測定するためには、減衰期間を経過させる方
法にあっては、連続監視を行ない得ないという不都合が
ある。
一方、α線スペクトル分析方法にあっては、分解能の良
いα線検出器と波高分析器とを組み合せて測定する必要
があり、装置のコストが高くなってしまう。
いα線検出器と波高分析器とを組み合せて測定する必要
があり、装置のコストが高くなってしまう。
また、ダストモニタを二台使用する方法にあっては、施
設内と外気との空気状態の相違により、天然のラドン及
びトロンの崩壊生成物の濃度の変動が起こり易い。特に
、施設からの排気がフィルタ等でか遇される一方、外気
は直接捕集されるため、この変動が顕著に現れることに
なる。従って、測定誤差を生じ易いという不都合がある
。更に、ダストモニタを二台使用する点からも装置構成
の規模が大きくなり、装置のコストも高くなってしまう
。
設内と外気との空気状態の相違により、天然のラドン及
びトロンの崩壊生成物の濃度の変動が起こり易い。特に
、施設からの排気がフィルタ等でか遇される一方、外気
は直接捕集されるため、この変動が顕著に現れることに
なる。従って、測定誤差を生じ易いという不都合がある
。更に、ダストモニタを二台使用する点からも装置構成
の規模が大きくなり、装置のコストも高くなってしまう
。
この発明は、上記従来技術の有する問題点を解決するた
めに成されたものであり、その目的とするところは、正
確なバックグラウンド計数値をオンタイムに測定し、こ
のバッググラウンド計数値を減じた正味計数値に基づく
真の放射性物質濃度測定を可能とする簡単な構造のバッ
クグラウンド補正機構付ダストモニタを提供することで
ある。
めに成されたものであり、その目的とするところは、正
確なバックグラウンド計数値をオンタイムに測定し、こ
のバッググラウンド計数値を減じた正味計数値に基づく
真の放射性物質濃度測定を可能とする簡単な構造のバッ
クグラウンド補正機構付ダストモニタを提供することで
ある。
［課題を解決するための手段］
この発明に係るバックグラウンド補正機構付ダストモニ
タは、放射性物質取扱室からの排気をか遇する第１のフ
ィルタ手段と、この第１のフィルタ手段で濾過された排
気中の放射性物質濃度を測定する第１の測定手段と、前
記第１のフィルタ手段と同等のろ過能力を有し、外気を
か遇する第２のフィルタ手段と、この第２のフィルタ手
段でろ過された外気中のバックグラウンド濃度を測定す
る第２の測定手段と、前記第１の測定手段の測定値と第
２の測定手段の測定値とに基いて、バックグラウンド濃
度を減じた排気中の放射性物質濃度を演算する演算手段
とを備えたことにより上記問題点を解決したものである
。
タは、放射性物質取扱室からの排気をか遇する第１のフ
ィルタ手段と、この第１のフィルタ手段で濾過された排
気中の放射性物質濃度を測定する第１の測定手段と、前
記第１のフィルタ手段と同等のろ過能力を有し、外気を
か遇する第２のフィルタ手段と、この第２のフィルタ手
段でろ過された外気中のバックグラウンド濃度を測定す
る第２の測定手段と、前記第１の測定手段の測定値と第
２の測定手段の測定値とに基いて、バックグラウンド濃
度を減じた排気中の放射性物質濃度を演算する演算手段
とを備えたことにより上記問題点を解決したものである
。
［作 用］
この発明に係るバックグラウンド補正機構付ダストモニ
タは、放射性物質濃度の測定系として、排気測定系とバ
ックグラウンド測定系とを備えている。
タは、放射性物質濃度の測定系として、排気測定系とバ
ックグラウンド測定系とを備えている。
先ず、排気測定系においては、第１のフィルタ手段が放
射性物質取扱室からの排気をか過し、このチ通された排
気中の放射性物質濃度は、第１の測定手段で測定される
。
射性物質取扱室からの排気をか過し、このチ通された排
気中の放射性物質濃度は、第１の測定手段で測定される
。
一方、バックグラウンド測定系は、排気測定系のバック
グラウンド計数値を模擬する役割を果たすものである。
グラウンド計数値を模擬する役割を果たすものである。
このバックグラウンド測定系においては、第２のフィル
タ手段が外気をろ過し、この濾過された排気中の放射性
物質濃度は、第２の測定手段で測定される。ここで、第
２のフィルタ手段は排気測定系の第１のフィルタ手段と
同等のろ過能力を有する。従って、排気測定系の放射性
物質濃度測定値に含まれるバックグラウンド計数値と、
バックグラウンド測定系の測定にかかるバックグラウン
ド計数値とは等価となる。
タ手段が外気をろ過し、この濾過された排気中の放射性
物質濃度は、第２の測定手段で測定される。ここで、第
２のフィルタ手段は排気測定系の第１のフィルタ手段と
同等のろ過能力を有する。従って、排気測定系の放射性
物質濃度測定値に含まれるバックグラウンド計数値と、
バックグラウンド測定系の測定にかかるバックグラウン
ド計数値とは等価となる。
そこで、排気測定系の放射性物質濃度測定値（第１の測
定手段の測定値）から、バックグラウンド測定系のバッ
クグラウンド計数値（第２の測定手段の測定値）を減じ
れば、排気測定系の真の放射性物質濃度測定値が求まる
ことになる。この真の放射性物質濃度測定値の算出は、
演算手段により行なわれる。
定手段の測定値）から、バックグラウンド測定系のバッ
クグラウンド計数値（第２の測定手段の測定値）を減じ
れば、排気測定系の真の放射性物質濃度測定値が求まる
ことになる。この真の放射性物質濃度測定値の算出は、
演算手段により行なわれる。
本発明の特徴と利点を一層明確にするために、好ましい
実施例について添付図面とともに説明すれば以下の通り
である。
実施例について添付図面とともに説明すれば以下の通り
である。
［実施例］
第１図には、本発明の一実施例に係るバックグラウンド
補正機構付ダストモニタの概略構成図が示されている。
補正機構付ダストモニタの概略構成図が示されている。
図において、放射性物質取扱施設置内には、放射性物質
取扱室２とダストモニタ本体３が設置されている。放射
性物質取扱室２へは、施設置の給気口４からポンプ５に
より給気が行なわれ、ポンプ６により排気ロアから施設
１外への排気が行なわれる。なお、ポンプ６の前段には
フィルタ（第１のフィルタ手段）１１が配されており、
放射性物質取扱室２の排気をか遇するようになっている
。
取扱室２とダストモニタ本体３が設置されている。放射
性物質取扱室２へは、施設置の給気口４からポンプ５に
より給気が行なわれ、ポンプ６により排気ロアから施設
１外への排気が行なわれる。なお、ポンプ６の前段には
フィルタ（第１のフィルタ手段）１１が配されており、
放射性物質取扱室２の排気をか遇するようになっている
。
一方、ダストモニタ本体３は、放射性物質取扱室２の排
気中の放射性物質濃度と、施設置のバックグラウンド濃
度とを独立に計測可能に構成されている。以下、このダ
ストモニタ本体３の測定動作について説明する。
気中の放射性物質濃度と、施設置のバックグラウンド濃
度とを独立に計測可能に構成されている。以下、このダ
ストモニタ本体３の測定動作について説明する。
先ず、排気中の放射性物質濃度測定について述べると、
前記フィルタ１１でか通された放射性物質取扱室２の排
気の一部の一定量（ｃｍ’）は、ダスト捕集用ポンプ３
０の吸引によりダストモニタ本体３へ導かれ、この導か
れた排気中のダストは、ダスト捕集用櫨紙１２に捕集さ
れる。この捕集されたダストの放射性物質強度（μｃｉ
）は、測定器（第１の測定手段）１３で測定され、排気
中の放射性物質濃度（μｃｉ／ｃｍ３）が求められる。
前記フィルタ１１でか通された放射性物質取扱室２の排
気の一部の一定量（ｃｍ’）は、ダスト捕集用ポンプ３
０の吸引によりダストモニタ本体３へ導かれ、この導か
れた排気中のダストは、ダスト捕集用櫨紙１２に捕集さ
れる。この捕集されたダストの放射性物質強度（μｃｉ
）は、測定器（第１の測定手段）１３で測定され、排気
中の放射性物質濃度（μｃｉ／ｃｍ３）が求められる。
この測定器１３で測定された計数値には同等補正を施し
ていないので、当然にバックグラウンド計数値を含んで
いる。
ていないので、当然にバックグラウンド計数値を含んで
いる。
次に、バックグラウンドの測定について述べる。前記ダ
スト捕集用ポンプ３０の吸引により施設置の外気吸引口
８から採取されるバックグラントドの測定のための一定
ｆｆｉ（ｃｍ’）の外気（以下、°°試料空気”という
）は、フィルタ（第２のフィルタ手段）２１によりか過
される。’／ＰＡされた試料空気中のダストは、ダスト
捕集用櫨紙２２に捕集される。この捕集されたダストの
放射性物質強度（μｃｉ）、すなわちバックグラウンド
放射能強度は、測定器（第２の測定手段）２３で測定さ
れ、バックグラウンド濃度（μｃｉ／ｃｍ’）が求めら
れる。
スト捕集用ポンプ３０の吸引により施設置の外気吸引口
８から採取されるバックグラントドの測定のための一定
ｆｆｉ（ｃｍ’）の外気（以下、°°試料空気”という
）は、フィルタ（第２のフィルタ手段）２１によりか過
される。’／ＰＡされた試料空気中のダストは、ダスト
捕集用櫨紙２２に捕集される。この捕集されたダストの
放射性物質強度（μｃｉ）、すなわちバックグラウンド
放射能強度は、測定器（第２の測定手段）２３で測定さ
れ、バックグラウンド濃度（μｃｉ／ｃｍ’）が求めら
れる。
ここで、フィルタ２１は、放射性物質取扱室２の排気を
ろ過するフィルタ１１と同等のチ過能力を有する。例え
ば、フィルタ１１としてＨＥＰＡフィルタを用いた場合
は、フィルタ２１にも同様なＨＥＰＡフィルタを用いる
。或は、フィルタ１１としてプレフィルタとＨＥＰＡフ
ィルタの両フィルタが装着されていれば、フィルタ２１
も同様な構成とする。従って、放射性物質取扱室２の排
気と試料空気とは同様にか通されることになり、測定器
１３で測定された計数値に含まれるバックグラウンド計
数値と測定器２３で測定されるバックグラウンド計数値
とは等価となる。
ろ過するフィルタ１１と同等のチ過能力を有する。例え
ば、フィルタ１１としてＨＥＰＡフィルタを用いた場合
は、フィルタ２１にも同様なＨＥＰＡフィルタを用いる
。或は、フィルタ１１としてプレフィルタとＨＥＰＡフ
ィルタの両フィルタが装着されていれば、フィルタ２１
も同様な構成とする。従って、放射性物質取扱室２の排
気と試料空気とは同様にか通されることになり、測定器
１３で測定された計数値に含まれるバックグラウンド計
数値と測定器２３で測定されるバックグラウンド計数値
とは等価となる。
上記のようにしてダストモニタ本体３で得られた排気組
数値（測定器１３の計数値）とバックグラウンド計数値
（測定器２３の計数値）とは、電気信号として増幅器４
０に与えられて増幅され、演算器（演算手段）５０に与
えられる。演算器５０は、排気計数値からバックグラウ
ンド計数値を差引いて正味計数値を求める。この正味計
数値は、例えばマイクロコンピュタ−（図示せず）等に
与えられ、その値を時々刻々と記憶・表示させることに
より連続監視が行なわれる。
数値（測定器１３の計数値）とバックグラウンド計数値
（測定器２３の計数値）とは、電気信号として増幅器４
０に与えられて増幅され、演算器（演算手段）５０に与
えられる。演算器５０は、排気計数値からバックグラウ
ンド計数値を差引いて正味計数値を求める。この正味計
数値は、例えばマイクロコンピュタ−（図示せず）等に
与えられ、その値を時々刻々と記憶・表示させることに
より連続監視が行なわれる。
なお、上記実施例において演算器５０の行なう演算は、
測定器１３の計数値から測定器２３の計数値を単純に差
引くものとしたが、減算された値に、更に何等かの経験
的或いは理論的に求められる補正項を与えるように構成
してもよい。
測定器１３の計数値から測定器２３の計数値を単純に差
引くものとしたが、減算された値に、更に何等かの経験
的或いは理論的に求められる補正項を与えるように構成
してもよい。
でも、高精度なα線検出器や波高分析器が不要となる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係るバックグラウンド補正
機構付ダストモニタによれば、放射性物質取扱室の排気
中の放射性物質濃度に含まれるバックグラウンド濃度を
演算により減じるように構成したので、１ ｘ １０−
” μｃ ｉ／ｃｍ’以下の正味計数値を測定する場合
にも、減衰期間を設けることなくオンタイムの測定が可
能となる。
機構付ダストモニタによれば、放射性物質取扱室の排気
中の放射性物質濃度に含まれるバックグラウンド濃度を
演算により減じるように構成したので、１ ｘ １０−
” μｃ ｉ／ｃｍ’以下の正味計数値を測定する場合
にも、減衰期間を設けることなくオンタイムの測定が可
能となる。
また、測定に先だって、施設からの排気と採取された試
料空気とが各々同等のろ過能力を持つフィルタ手段で’
／Ｐ Ａされるように構成したため、施設内外の天然の
ラドン及びトロンの崩壊生成物の濃度の変動の影雷を受
けにくい。従って、従来のダストモニタを二台用いる方
法に比べると、測定誤差が小さく、ダストモニタも一台
で済むので装置構成が小型で安価なものとなる。
料空気とが各々同等のろ過能力を持つフィルタ手段で’
／Ｐ Ａされるように構成したため、施設内外の天然の
ラドン及びトロンの崩壊生成物の濃度の変動の影雷を受
けにくい。従って、従来のダストモニタを二台用いる方
法に比べると、測定誤差が小さく、ダストモニタも一台
で済むので装置構成が小型で安価なものとなる。
一方、従来のα線スペクトル分析方法との比較
第１図は本発明の一実施例に係るバックグラウンド補正
機構付ダストモニタの概略構成図である［主要部の符号
の説明］ ・・・放射性物質取扱室 ・・・ダストモニタ本体 １．２１ ・・・フィルタ ３．２３・・・測定器
機構付ダストモニタの概略構成図である［主要部の符号
の説明］ ・・・放射性物質取扱室 ・・・ダストモニタ本体 １．２１ ・・・フィルタ ３．２３・・・測定器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 放射性物質取扱室からの排気をろ過する第１のフィルタ
手段と、 この第１のフィルタ手段でろ過された排気中の放射性物
質濃度を測定する第１の測定手段と、前記第１のフィル
タ手段と同等のろ過能力を有し、外気をろ過する第２の
フィルタ手段と、この第２のフィルタ手段でろ過された
外気中のバックグラウンド濃度を測定する第２の測定手
段と、 前記第１の測定手段の測定値と前記第２の測定手段の測
定値とに基いて、バックグラウンド濃度を減じた排気中
の放射性物質濃度を演算する演算手段とを備えたことを
特徴とするバックグラウンド補正機構付ダストモニタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28664088A JPH02134590A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | バックグラウンド補正機構付ダストモニタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28664088A JPH02134590A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | バックグラウンド補正機構付ダストモニタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02134590A true JPH02134590A (ja) | 1990-05-23 |
Family
ID=17707037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28664088A Pending JPH02134590A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | バックグラウンド補正機構付ダストモニタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02134590A (ja) |
-
1988
- 1988-11-15 JP JP28664088A patent/JPH02134590A/ja active Pending
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