JPH01313737A - 検体検査装置 - Google Patents
検体検査装置Info
- Publication number
- JPH01313737A JPH01313737A JP14609588A JP14609588A JPH01313737A JP H01313737 A JPH01313737 A JP H01313737A JP 14609588 A JP14609588 A JP 14609588A JP 14609588 A JP14609588 A JP 14609588A JP H01313737 A JPH01313737 A JP H01313737A
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- Pending
Links
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は免疫学的診断法として微量の抗原または抗体の
検出に用いられる検体検査装置、例えばラテックス凝集
反応を光学的に測定して抗原または抗体の検出を行なう
装置に関する。
検出に用いられる検体検査装置、例えばラテックス凝集
反応を光学的に測定して抗原または抗体の検出を行なう
装置に関する。
[従来の技術]
特定の抗体または抗原で感作した不溶性担体粒子(例え
ばラテックス粒子)が所定濃度で浮遊する懸濁液に抗原
または抗体を含む被検試料(例えば血清)を加えた懸濁
液を用意して照射光を照射する。その時、懸濁液中のラ
テックス粒子が分散状態にある場合は粒子径よりはるか
に長い波長の光は、第7図(a)のようにラテックス粒
子の存在にあまり影響されずに透過する。すなわち大き
な強度の透過光が得られる。ところが抗原抗体反応によ
って前記感作されたラテックスが互いに結合し大きな粒
子径の粒子塊を形成し、凝集した粒子塊の粒子径が光の
波長に近づくと、第7図(b)のように粒子によって光
は散乱して透過光強度が減少する。この透過光強度の時
間的な変化を捕えた反応速度から懸濁液の濃度を測定し
て分析する反応速度分析法や、反応が終了した後に懸濁
液の透過光強度や散乱光強度を測定して分析する反応終
端分析法等が従来から一般に知られている。これによっ
て被検試料中の特定の抗原量または抗体量を測定するこ
とが可能となり、免疫学的診断が行なわれていた。
ばラテックス粒子)が所定濃度で浮遊する懸濁液に抗原
または抗体を含む被検試料(例えば血清)を加えた懸濁
液を用意して照射光を照射する。その時、懸濁液中のラ
テックス粒子が分散状態にある場合は粒子径よりはるか
に長い波長の光は、第7図(a)のようにラテックス粒
子の存在にあまり影響されずに透過する。すなわち大き
な強度の透過光が得られる。ところが抗原抗体反応によ
って前記感作されたラテックスが互いに結合し大きな粒
子径の粒子塊を形成し、凝集した粒子塊の粒子径が光の
波長に近づくと、第7図(b)のように粒子によって光
は散乱して透過光強度が減少する。この透過光強度の時
間的な変化を捕えた反応速度から懸濁液の濃度を測定し
て分析する反応速度分析法や、反応が終了した後に懸濁
液の透過光強度や散乱光強度を測定して分析する反応終
端分析法等が従来から一般に知られている。これによっ
て被検試料中の特定の抗原量または抗体量を測定するこ
とが可能となり、免疫学的診断が行なわれていた。
一例として、第5図のように透明な容器である光学セル
14の中に試料液である所定濃度のラテックス粒子懸濁
液を蓄え、それに対してレーザ光源11からレーザ光を
照射し、その透過光強度を光検出器16で検出して吸光
度を求め、試料液中の反応混合物の大きさや量を検出し
、それによってラテックス粒子の凝集状態の判断ができ
、目的とする抗原または抗体の量を定量することができ
る。
14の中に試料液である所定濃度のラテックス粒子懸濁
液を蓄え、それに対してレーザ光源11からレーザ光を
照射し、その透過光強度を光検出器16で検出して吸光
度を求め、試料液中の反応混合物の大きさや量を検出し
、それによってラテックス粒子の凝集状態の判断ができ
、目的とする抗原または抗体の量を定量することができ
る。
[発明が解決しようとしている問題点]しかしながら、
上記従来例のようにラテックス粒子懸濁液の吸光度によ
ってラテックス粒子の凝集塊の大きさを検出する場合、
第6図に示すようにラテックス粒子塊の粒径が大きくな
るに従い吸光度は直線的に増加するが、照射光の波長が
400nmや600nmといった短い波長の場合は、ラ
テックス粒径がある一定の大きさを越えると、逆に吸光
度のグラフは低下してしまい、透過光強度から求まフた
吸光度に対して2つの粒径が対応してしまい、どちらの
粒径が正しい値か判断することができなかりた。そこで
吸光度のグラフが低下しないような長い波長の光、例え
ば波長800nmの光を用いた場合には、ある粒径(約
1.0μm)以上になると粒径の変化に対して吸光度の
変化が小さく、測定感度が悪いという問題点があった。
上記従来例のようにラテックス粒子懸濁液の吸光度によ
ってラテックス粒子の凝集塊の大きさを検出する場合、
第6図に示すようにラテックス粒子塊の粒径が大きくな
るに従い吸光度は直線的に増加するが、照射光の波長が
400nmや600nmといった短い波長の場合は、ラ
テックス粒径がある一定の大きさを越えると、逆に吸光
度のグラフは低下してしまい、透過光強度から求まフた
吸光度に対して2つの粒径が対応してしまい、どちらの
粒径が正しい値か判断することができなかりた。そこで
吸光度のグラフが低下しないような長い波長の光、例え
ば波長800nmの光を用いた場合には、ある粒径(約
1.0μm)以上になると粒径の変化に対して吸光度の
変化が小さく、測定感度が悪いという問題点があった。
本発明は上述した問題点の解決、すなわち測定感度の高
い検体検査装置の提供を目的とする。同時に少ない試料
液でも高感度の測定が可能な検体検査装置の提供を目的
とする。
い検体検査装置の提供を目的とする。同時に少ない試料
液でも高感度の測定が可能な検体検査装置の提供を目的
とする。
[問題点を解決するための手段]
上述した問題点を解決するため、試料液に照射光を照射
し透過光強度を測定することにより試料液中の粒子の凝
集状態を測定する検体検査装置において、前記照射光を
複数回試料液中を通過させる手段を備える。
し透過光強度を測定することにより試料液中の粒子の凝
集状態を測定する検体検査装置において、前記照射光を
複数回試料液中を通過させる手段を備える。
[第1実施例コ
以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明の第1実施例の構成図であり、レーザ光
源1(波長800nmの半導体レーザ)から発射された
レーザ光は、光学セル2の中に蓄えられた所定濃度のラ
テックス懸濁液の試料液に照射される。試料液を透過し
た光はミラー3により反射され光路が折り返され、再び
試料液に照射される。再び試料液を透過した光は集光レ
ンズ4を介して光検出器5で光強度が検出され、演算回
路10に入力される。演算回路10において、検出され
た透過光強度から吸光度が算出され、周知の方法にて免
疫反応検査が行なわれる。
源1(波長800nmの半導体レーザ)から発射された
レーザ光は、光学セル2の中に蓄えられた所定濃度のラ
テックス懸濁液の試料液に照射される。試料液を透過し
た光はミラー3により反射され光路が折り返され、再び
試料液に照射される。再び試料液を透過した光は集光レ
ンズ4を介して光検出器5で光強度が検出され、演算回
路10に入力される。演算回路10において、検出され
た透過光強度から吸光度が算出され、周知の方法にて免
疫反応検査が行なわれる。
実施例においては、照射光が試料液中を2回透過するこ
とによって透過距離が2倍となる。この時の吸光度と粒
径の関係はグラフは第2図に示すように、1回透過に比
べてグラフの傾きも全体的に約2倍となっており、従来
のような1回透過の時にはラテックス粒径1.0μm以
上でグラフの傾きが小さく正確な粒径が求めにくかった
ものが、グラフの傾きが約2倍に大きくなることでラテ
ックス粒径が求めやすくなっている。すなわち測定感度
も約2倍に高くなっている。
とによって透過距離が2倍となる。この時の吸光度と粒
径の関係はグラフは第2図に示すように、1回透過に比
べてグラフの傾きも全体的に約2倍となっており、従来
のような1回透過の時にはラテックス粒径1.0μm以
上でグラフの傾きが小さく正確な粒径が求めにくかった
ものが、グラフの傾きが約2倍に大きくなることでラテ
ックス粒径が求めやすくなっている。すなわち測定感度
も約2倍に高くなっている。
なお本実施例ではミラーを1つ設けて反射させることに
より、照射光を試料液中に2回透過させているが、ミラ
ーをさらに複数個設け、照射光を複数回試料液中を透過
させることによりさらに感度を上げることができる。こ
れにより光学セル2が小さく、試料液が少量であっても
感度の高い測定が可能となる。
より、照射光を試料液中に2回透過させているが、ミラ
ーをさらに複数個設け、照射光を複数回試料液中を透過
させることによりさらに感度を上げることができる。こ
れにより光学セル2が小さく、試料液が少量であっても
感度の高い測定が可能となる。
[実施例2]
第3図は本発明の第2実施例の構成図である。
光学セル2の片面にはミラー反射部9がコーティングさ
れており、試料液を透過した照射光はミラー反射部9で
反射される。これにより第1実施例と同様の効果が得ら
れる。
れており、試料液を透過した照射光はミラー反射部9で
反射される。これにより第1実施例と同様の効果が得ら
れる。
[実施例3]
第4図は本発明の第3実施例の構成図である。
光路中、光学セル2とミラー3の間にはハーフミラ−6
が設けられ、ハーフミラ−6で反射された光は集光レン
ズ7を介して光検出器8で受光される。光検出器8の出
力は光検出器5と同様演算回路10に入力される。この
構成において試料液を1回だけ透過した光は光検出器8
で検出され、試料液を2回透過した光は光検出器5で検
出される。なおミラー3、ハーフミラ−6を3組以上設
けて各々の出力を取り出して選択的に検出することも当
然可能である。
が設けられ、ハーフミラ−6で反射された光は集光レン
ズ7を介して光検出器8で受光される。光検出器8の出
力は光検出器5と同様演算回路10に入力される。この
構成において試料液を1回だけ透過した光は光検出器8
で検出され、試料液を2回透過した光は光検出器5で検
出される。なおミラー3、ハーフミラ−6を3組以上設
けて各々の出力を取り出して選択的に検出することも当
然可能である。
これにより、試料液を複数回透過して透過光光路長が長
くなると光量が小さくなり、雑音の影響が大きくなって
S/N比が悪くなる場合に、最適な光量が得られる出力
を選択して測定することができる。
くなると光量が小さくなり、雑音の影響が大きくなって
S/N比が悪くなる場合に、最適な光量が得られる出力
を選択して測定することができる。
[発明の効果]
以上本発明によれば、照射光を複数回光学セル中の試料
液を透過させることにより、少ない試料液でも精度良く
ラテックス粒子塊を検出することができ、それにより抗
原または抗体の量を精度良く検出することができる。
液を透過させることにより、少ない試料液でも精度良く
ラテックス粒子塊を検出することができ、それにより抗
原または抗体の量を精度良く検出することができる。
第1図は本発明の第1実施例の構成図、第2図は実施例
におけるラテックス粒径と吸光度との関係を表わすグラ
フ、 第3図は第2実施例の構成図、 第4図は第3実施例の構成図、 第5図は従来例の構成図、 第6図は客羊#名各種波長におけるラテックス粒径と吸
光度の関係を表わすグラフ、 第7図は測定原理の説明図 であり、図中、 1・・・半導体レーザ、2・・・光学セル、3・・・ミ
ラー、4・・・集光レンズ、5・・・光検出器、6・・
・ハーフミラ−110・・・演算回路 /ρ ラーfックス樟仁才邑 いmノ ラテ・ンクス#イそしゆノ
におけるラテックス粒径と吸光度との関係を表わすグラ
フ、 第3図は第2実施例の構成図、 第4図は第3実施例の構成図、 第5図は従来例の構成図、 第6図は客羊#名各種波長におけるラテックス粒径と吸
光度の関係を表わすグラフ、 第7図は測定原理の説明図 であり、図中、 1・・・半導体レーザ、2・・・光学セル、3・・・ミ
ラー、4・・・集光レンズ、5・・・光検出器、6・・
・ハーフミラ−110・・・演算回路 /ρ ラーfックス樟仁才邑 いmノ ラテ・ンクス#イそしゆノ
Claims (1)
- 1、試料液に照射光を照射し透過光強度を測定すること
により試料液中の粒子の凝集状態を測定する検体検査装
置において、前記照射光を複数回試料液中を透過させる
手段を備えることを特徴とする検体検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14609588A JPH01313737A (ja) | 1988-06-14 | 1988-06-14 | 検体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14609588A JPH01313737A (ja) | 1988-06-14 | 1988-06-14 | 検体検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01313737A true JPH01313737A (ja) | 1989-12-19 |
Family
ID=15400024
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14609588A Pending JPH01313737A (ja) | 1988-06-14 | 1988-06-14 | 検体検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01313737A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005300547A (ja) * | 2004-04-14 | 2005-10-27 | Spectromedical Inc | 被験物測定のための分光学的測定方法および装置 |
WO2012127650A1 (ja) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | エイブル株式会社 | 濁度測定装置 |
WO2022239641A1 (ja) * | 2021-05-13 | 2022-11-17 | 日本特殊陶業株式会社 | 水質センサ及び水中の物質濃度測定方法 |
US11583109B2 (en) | 2005-09-12 | 2023-02-21 | Rtc Industries, Inc. | Product management display system with trackless pusher mechanism |
-
1988
- 1988-06-14 JP JP14609588A patent/JPH01313737A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005300547A (ja) * | 2004-04-14 | 2005-10-27 | Spectromedical Inc | 被験物測定のための分光学的測定方法および装置 |
US11583109B2 (en) | 2005-09-12 | 2023-02-21 | Rtc Industries, Inc. | Product management display system with trackless pusher mechanism |
WO2012127650A1 (ja) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | エイブル株式会社 | 濁度測定装置 |
WO2022239641A1 (ja) * | 2021-05-13 | 2022-11-17 | 日本特殊陶業株式会社 | 水質センサ及び水中の物質濃度測定方法 |
JPWO2022239641A1 (ja) * | 2021-05-13 | 2022-11-17 |
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