JPH01296440A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体レーザからの出射光を光情報記録媒体
に照射して情報の記録、再生等を行う光ピンクアップ装
置に関する。

従来の技術 従来の光ピックアップ装置の一例を第７図に基づいて説
明する。半導体レーザ１から出射された光は、コリメー
タレンズ２により平行光とされた後、偏光ビームスプリ
ッタ３を透過し、対物レンズ４を介して、光情報記録媒
体としての光磁気ディスク５に照射され、これにより情
報の記録が行われる。また、その光磁気ディスク５によ
って反射された戻り光は、対物レンズ４を介して、偏光
ビームスプリッタ３により反射された後、１／２波長板
６．２個のレンズ７．８を介して、偏光ビームスプリッ
タ９により２分割されサーボ光学系１ｏに導かれる。

このサーボ光学系］Ｏでは、偏光ビームスプリッタ９を
透過した光はトラック受光素子１１によリ１〜ラックエ
ラー信号として検出され、これによりトラッキングサー
ボが行われており、一方、偏光ビームスプリッタ９によ
り反射された光はシリンドリカルレンズ１２を介して、
フォーカス受光素子１３に導かれ非点収差法等によりフ
ォーカスエラー信号として検出され、これによりフォー
カスサーボが行われている。この他に、これら両者のエ
ラー信号の差分を取ることにより光磁気ディスク５用の
再生信号を得ており、また、それら両者のエラー信号の
和を取ることにより図示しない光デイスク用の再生信号
を得ている。

発明が解決しようとする問題点 このように光情報記録媒体としての光磁気ディスク５の
記録、再生を行う場合、その光磁気ディスク５の面振れ
によるフォーカス位置のズレや偏芯によるトラック位置
のズレによるエラー信号を検出し、これによりフォーカ
スサーボやトラッキングサーボを行っているわけである
が、実際にこれらの制御を行う場合には、対物レンズ４
を図示しないアクチュエータに取付けて２次元的に駆動
させることにより制御を行っている。すなわち、フォー
カスサーボを行うために対物レンズ４を光軸方向へ独立
して変位させ、トラッキングサーボを行うために対物レ
ンズ４を光軸と直交する方向へ独立して変位させる。

しかし、このように対物レンズ４を変位させる際、光磁
気ディスク５のトラックの接線方向（光軸と直交し、ト
ラッキング方向とも直交する方向）へはほとんど変位さ
せないようにすることが重要であり、さらに、このよう
な変位の際に対物レンズ４の倒れや傾きを発生させない
こと、すなわち、はぼ完全に平行移動させることが重要
である。その理由は、対物レンズ４は軸上性能のみを保
証する設計がなされているので、それら傾き等が発生す
るとコマ収差の発生につながるからである。従って、従
来の装置においては、対物レンズ４を正確に変位させる
ために、これを駆動する図示しないアクチュエータを非
常に精度良く作成する必要があり、しかも、図示しない
光学ヘッドの質量をかなり増加させる必要があることか
ら、装置自体が非常に高価となり大型化するという問題
がある。

問題点を解決するための手段 そこで、このような問題点を解決するために、本発明で
は、半導体レーザと偏光ビームスプリッタとの間の光路
上に分岐光路を有する光導波路を設け、分岐光路の一つ
を選択する光路選択手段を設け、偏光ビームスプリッタ
と光情報記録媒体との間の光路上に電極部を有する電気
光学結晶を設け、この電気光学結晶の電極部に電界を印
加し入射した光の偏向方向を変える偏向手段を設けた。

作用 従って、半導体レーザから出射された光は、光導波路の
分岐光路に入射した光は、光路選択手段により選択され
た一つの分岐光路からのみ出射することによってその光
路が変えられた状態となって電気光学結晶に導かれ、さ
らに、その電極部に偏向手段により印加された電界の大
きさに応じて偏向方向の変えられた光となり、光情報記
録媒体に照射されることになる。

このように、分岐光路の選択と電極部への印加電界の制
御とを同時に処理することによって、光の偏向を各光路
別に独立して行うことができるので、トラッキングサー
ボを行うための光情報記録媒体上での光のスポット移動
量を大幅に減らすことができ、これにより従来に比べ一
層低電圧で駆動させることが可能となり、また、トラッ
キングサーボを行うために従来のような対物レンズを駆
動させるためのアクチュエータが不要となるため、安価
でコンパクトな装置を得ることができる。

実施例 まず、本発明の一実施例を第１図ないし第４図に基づい
て説明する。なお、光ピックアップ装置の全体構成は従
来技術で説明したのでここでは省略し、同一部分につい
ては同一符号を用いる。

光導波路１４は、光を分岐する左右２つの分岐光路１５
を有しており、半導体レーザ１と偏光ビームスプリッタ
３との間の光路上に位置して設けられている。また、ト
ラックエラー信号をもとにして前記分岐光路１５の一つ
を選択する図示しない光路選択手段が設けられている。

電気光学結晶１６は、薄型の結晶構造をなしており、そ
の表側と裏側とにくし型形状をした電極部１７が配設さ
れている。前記電気光学結晶１６は、偏光ビームスプリ
ッタ３と光情報記録媒体としての光磁気ディスク５との
間の光路上に位置して設けられている。また、前記電極
部１７に電界を印加し入射した光の偏向方向を変える図
示しない偏向手段が設けられている。

このような構成において、１〜ラツキングサーボを行う
方法について説明する。今、サーボ光学系］Ｏの２分割
されたトラック受光素子１１（第７図参照）において検
出されるトランクエラー信号により、光磁気ディスク５
の図示しないトラックに照射されている光ビームのスポ
ットの位置か正常な箇所から左側にズしているものとす
る。

半導体レーザ１から出射された光はコリメータレンズ２
により平行光とされた後、光導波路１４に入射し分岐光
路１５に導かれる。この時、後述するトラックエラー信
号によりスポラＩ〜の位置が左側にズしていることが予
めわかっているので、光路選択手段により右側の分岐光
路１５が選択され、これにより光は右側の分岐光路１５
のみから出てくる。そして、この右側の分岐光路１５の
みから出てきた光は、偏光ビームスプリッタ３を介して
、電気光学結晶１６の右側部分に照射される。

なお、この電気光学結晶１６には、屈折率変化が印加電
界強度の１乗に比例するポッケルス効果と、屈折率変化
が印加電界強度の２乗に比例するカー効果との特性があ
り、印加電界強度と偏向角との関係は予め計算で求めら
れている。

そこで、トラックエラー信号により得られたスポット位
置のズレ量に応じて、偏向手段により電気光学結晶１６
の電極部１７に電界を印加することにより右側部分から
入射した光を偏向させ、スポット位置の調整を行う。そ
の後、偏向した光は対物レンズ４に斜め入射し、光磁気
ディスク５に照射されることにより、スポットはズレの
ないもとの正常な位置に照射されることになる。

このようにしてトラッキングサーボを行うわけであるが
、以下、そのトラックエラー信号の検出原理について説
明する。１−ランクエラー信号の検出は、第３図に示す
ような、トラック受光素子１８を用いた周知のブシュプ
ル法により検出するわけであるが、電気光学結晶１６の
電気光学効果により光が偏向されると、光磁気ディスク
５により反射された戻り光は、行きと同じ経路を通過し
ないことになり、その結果、前述したような光が偏向さ
れない場合を想定して光軸合わせをしたブシュプル法の
場合にはエラーが生じることになる。

そこで、初期設定として、電気光学結晶１６に電圧を印
加して光を偏向した後、トラックエラー信号もフォーカ
スエラー信号も生じない状態で、第３図における（Ｓ、
−３２）の値を各々の印加電圧について図示しないメモ
リに予め記憶させておく。そして、この初期設定値と実
際に検出される（Ｓｌ−Ｓ２）の値とを比較してトラッ
クエラー信号を検出し、これによりトラッキングサーボ
を行うようにする。

なお、フォーカスエラー信号の検出は、第４図に示すよ
うな、ナイフェツジプリズム１９を用い一８＝ フォーカス受光素子２０に受光させる周知のナイフェツ
ジ法により検出するが、この場合にも初期設定としてフ
ォーカスエラー信号もトラックエラー信号もない状態で
、第４図における（Ｓｌ−８２）の値を各々の印加電圧
についてメモリに予め記憶させておき、この初期設定値
と実際に検出される（Ｓニー８７．）の値とを比較して
、これによりフォーカスエラー信号を検出するようにす
る。また、前述したように対物レンズ４には偏向された
光が斜め入射するわけだが、これによってスポット径が
乱れるようなことはない。何故なら、対物レンズ４の光
軸と光磁気ディスク５の面とが垂直に保たれている場合
、対物レンズ４の斜め入射の許容角度は、トラッキング
サーボを行うために必要な光偏向角より大きいからであ
る。

上述したように、光導波路１４の分岐光路１５により入
射光を左側の光路と右側の光路とに分け、さらに、電気
光学結晶１６によりそれら左右のそれぞれの光について
偏向させることを各々光路別に独立して行うことができ
るため、スポットの移１！ｌｌ量が従来に比べ半分ずつ
で済み、これにより、印加電圧を一層軽減させることが
できる。

次に、上述した一実施例の変形例を第５図及び第６図に
基づいて説明する。本実施例は、前記実施例における電
気光学結晶１６の変形例であり、その他の同一部分につ
いては同一符号を用いる。

電気光学結晶２１は、薄型の扇形をした結晶構造をなし
ており、その表側と裏側とにくし型形状をした電極部２
２が配設されている。この電気光学結晶２１は、偏向ビ
ームスプリッタ３と光磁気ディスク５との間の光路上に
位置して設けられており、この場合対物レンズ４と電気
光学結晶２１とは常に等距離に維持された関係にある。

このように配置されることにより、トラッキングサーボ
は前述した実施例の場合と同一の効果を得ることができ
る。なお、その地回−の構成についてのここでの説明は
省略する。

発明の効果 本発明は、半導体レーザと偏光ビームスプリッタとの間
の光路上に分岐光路を有する光導波路を設け、分岐光路
の一つを選択する光路選択手段を設け、偏光ビームスプ
リッタと光情報記録媒体との間の光路上に電極部を有す
る電気光学結晶を設け、この電気光学結晶の電極部に電
界を印加し入射した光の偏向方向を変える偏向手段を設
けたので、半導体レーザから出射された光は、光導波路
の分岐光路に入射した光は、光路選択手段により選択さ
れた一つの分岐光路からのみ出射することによってその
光路が変えられた状態となり電気光学結晶に導かれ、さ
らに、その電極部に光偏向手段により印加された電界の
大きさに応じて偏向方向の変えられた光となり、光情報
記録媒体に照射されることになる。

従って、分岐光路の選択と電極部への印加電界の制御と
を同時に処理することによって、光の偏向を各光路別に
独立して行うことができるので、トラッキングサーボを
行うための光情報記録媒体上での光のスポット移動量を
大幅に減らすことができ、これにより従来に比べ一層低
電圧で駆動させることが可能となり、また、トラッキン
グサーボを行うために従来のような対物レンズを駆動さ
せるためのアクチュエータが不要となるため、その分、
安価でコンパクトな装置を得ることができるものである
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を簡略化して示す平面図、第
２図はその電気光学結晶の平面図、第３図はトラックエ
ラー信号の検出原理を示す説明図、第４図はフォーカス
エラー信号の検出原理を示す説明図、第５図は第１図の
変形例を簡略化して示す平面図、第６図はその電気光学
結晶の平面図、第７図は従来例を示す平面図である。 ■・・・半導体レーザ、２・・コリメータレンズ、３・
・・偏光ビームスプリッタ、４・・・対物レンズ、５・
・パ　　光情報記録媒体、１４・・・光導波路、１５・
・・分岐光路、１６・・・電気光学結晶、１７・・電極
部、２１・・電気光学結晶、２２・・・電極部

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 半導体レーザから出射された光をコリメータレンズによ
   り平行光とし、この平行光を偏光ビームスプリッタに入
   射しこれを透過した光を対物レンズにより集光して光情
   報記録媒体に照射して情報の記録を行うと共に、この光
   情報記録媒体からの反射光を前記偏光ビームスプリッタ
   により反射してサーボ光学系に導きトラッキングサーボ
   やフォーカスサーボを行う光ピックアップ装置において
   、前記半導体レーザと前記偏光ビームスプリッタとの間
   の光路上に分岐光路を有する光導波路を設け、前記分岐
   光路の一つを選択する光路選択手段を設け、前記偏光ビ
   ームスプリッタと前記光情報記録媒体との間の光路上に
   電極部を有する電気光学結晶を設け、この電気光学結晶
   の前記電極部に電界を印加し入射した光の偏向方向を変
   える偏向手段を設けたことを特徴とする光ピックアップ
   装置。