JP3046394B2 - 光ヘッドおよび光情報記録装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光ヘッドを用いた光
情報記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク装置では、光ディスク表面に
螺旋状または同心円状のトラックに沿って情報を光学的
に記録し、光ビーム（一般にはレーザ光）を照射してそ
の反射光を検出することにより、記録された情報を再生
する。ユーザがレーザにより光ディスクに情報を記録で
きる追記型の光ディスク装置としては、初期には文書フ
ァイルシステムが商品化され、その後より高度の信頼性
を必要とする計算機の周辺記憶装置としての用途に向け
た製品が実用化されてきた。また、記録した情報を消去
し、再書き込みもできる書換え可能形の光ディスク装置
も実用化に至っている。さらに、同様の技術をカード状
あるいはテープ状の記録媒体に適用した光カードメモリ
装置あるいは光テープメモリ装置の開発も進められるよ
うになってきた。

【０００３】光ディスクを例にとると、例えば光スポッ
ト径が１．２ミクロン程度に絞り込まれたレーザビーム
により、大きさが１ミクロン程度の記録マークがトラッ
クピッチ１．６ミクロン程度の記録列上に形成される。
記録マークの形成方式としては、記録膜に局所的な破
壊、変形、あるいは光学的性質の変化などを生じさせる
様々な方式が提案され、実用化されている。

【０００４】この種の光情報記録装置では、レーザビー
ムで正確に記録列を追跡することが重要であり、そのた
め光ディスクに予めトラック案内溝を設けておき、これ
による回折光から得られるトラッキング誤差信号に基づ
いてレーザビーム位置を制御するトラッキング制御方式
が広く行われている。しかしながら、このトラッキング
制御方式は対物レンズが偏心等に追随して光軸から外れ
た場合、あるいはディスクに反りや傾斜などがある場合
においては、ディスクからの反射光が光検出器に導かれ
る際に光軸がずれてしまうため、トラッキング誤差信号
に光軸のずれに対応したオフセットが生じてしまい、正
常なトラッキングができなくなる。すなわち、正規のト
ラックから少しずれた位置に光スポットを追従させてし
まうことになる。このような状態では当然、良好な記録
再生はできず、装置の信頼性が著しく低くなる。

【０００５】この対策として、トラックの一部に鏡面領
域を設置し、そこで検出される信号によってトラッキン
グ誤差信号の補正をする技術が開発された。具体的に
は、鏡面領域とすべき領域の近傍には案内溝も、ピット
やマークなども形成しないでおくことにより、トラック
案内溝は鏡面領域で不連続になるようにする。例えば直
径１３０ｍｍの追記型光ディスクの標準仕様において
は、プリフォーマット時に各セクタ内に一か所ずつこの
ような領域を設けることになっている。

【０００６】図９は、このような光ディスクにおける鏡
面領域の周りのピット配置を模式的に示した図であり、
トラック案内溝８０１、トラック案内溝８０１の不連続
部分８０２、プリピット８０３および鏡面領域８０４を
有する。この例では隣接するトラック上のセクタの位置
が同じ半径方向になるように設定されており、鏡面領域
８０４も各トラックで同じ半径方向になっている。トラ
ック案内溝８０１とプリピット８０３は、基板製造時に
ディスク表面の凹凸として形成される。プリピット８０
３により、セクタの先頭を表すセクタマークやクロック
同期信号、アドレス情報等が記録されている。トラック
案内溝８０１の不連続部分に対応するトラック上には、
プリピットを形成しないで鏡面領域８０４を残してい
る。

【０００７】図１０は、従来の光ディスク装置における
トラッキング誤差信号の検出特性を示した図であり、横
軸はトラッキング誤差量すなわちトラック中心と集束レ
ーザ光スポット中心とのずれ量、縦軸はトラッキング誤
差信号である。トラックピッチは、この例では１．６μ
ｍとする。対物レンズの光軸ずれや、ディスクの反りや
傾斜などが無い場合のトラッキング誤差信号は９０１の
ようになり、トラッキング誤差量が０のときに０になっ
ている。従って、トラッキング誤差信号が０になるよう
にフィードバック制御を施した場合、動作点は図中９０
２の点になり、良好なトラッキング特性が得られる。

【０００８】これに対し、対物レンズの光軸偏心ずれ、
あるいはディスクの反りや傾斜などがある場合のトラッ
キング誤差信号は９０３のようになる。このようなトラ
ッキング誤差９０３をそのまま用いてフィードバック制
御を施すと、動作点は９０４になってしまい、良好なト
ラッキング特性は得られない。そこで、トラッキング誤
差信号９０３のオフセット量９０５を求め、その分だけ
補正してフィードバック制御を施すことが必要である。
対物レンズの光軸ずれ、あるいはディスクの反りや傾斜
などが有る場合、鏡面領域において検出されるトラッキ
ング誤差信号にも、やはり光軸ずれによってオフセット
が発生する。このオフセットはトラック案内溝がある領
域のオフセット量９０５にほぼ比例あるいは近似的には
簡単な関数関係にある。従って、鏡面領域において得ら
れるトラッキング誤差信号に基づいてトラック案内溝が
ある領域のオフセットをある程度、補正することが可能
である。

【０００９】しかしながら、装置の信頼性をより一層向
上させるため、あるいは記録密度をさらに高めてゆくた
めには、従来以上に正確なトラッキング性能が必要であ
る。上記従来の技術で用いられている鏡面領域を用いた
トラッキング誤差信号の補正では、トラッキング誤差信
号のオフセットの検出領域がディスク上に分散してお
り、より迅速で精密なトラッキングを実現することは困
難である。また、アクセスのために光学ヘッドを半径方
向に移動する際のトラックカウントにおいて、鏡面領域
はしばしばミスカウントの原因となっている。これはア
クセス速度を向上させようとする場合に大きな障害とな
る。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】上述のように、光記録
媒体上に設けた鏡面領域を利用してトラッキング誤差信
号のオフセットを求めてオフセット補償を行う従来の技
術では、オフセットの検出領域がディスク上に分散して
いるため、迅速で精密なトラッキングを実現することが
難しく、またアクセスのために光学ヘッドを半径方向に
移動する際のトラックカウントにおいて、鏡面領域の存
在によりミスカウントが生じ、アクセス速度の高速化に
際して大きな障害になるという問題があった。

【００１１】本発明はこのような事情に鑑みなされたも
ので、その目的は記録媒体上にオフセット補償のための
領域を特別に設けることなく、トラッキング誤差信号の
オフセットを検出してオフセット補償を行い、従来より
精密にトラッキング制御やアクセス制御をすることを可
能とした光情報記録装置を提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明の光情報記録装置は、ビーム径および光学的
特性の異なる２つの同軸的な光ビームを発生する光ビー
ム発生手段と、この光ビーム発生手段からの光ビームを
光学的記録媒体に集束して照射するための対物レンズ
と、光学的記録媒体で反射され対物レンズを通過した２
つの光ビームを光学的特性の違いを利用して分離する光
ビーム分離手段と、この光ビーム分離手段により分離さ
れた２つの光ビームをそれぞれ検出する第１および第２
の分割型光検出手段と、これら第１および第２の分割型
光検出手段の出力からそれぞれ差動信号を生成する第１
および第２の差動信号生成手段と、これら第１および第
２の差動信号生成手段からの差動信号のうちビーム径の
大きい方の光ビームに対応した差動信号をビーム径の小
さい方の光ビームに対応した差動信号により補正する補
正手段と、この補正手段により補正された差動信号を用
いて前記光ビームを光学的記録媒体上のトラックに追従
させるトラッキング手段とを有する。

【００１３】

【００１４】光ビーム発生手段が発生する２つの光ビー
ムは、その光学的性質として例えば偏光状態を異ならせ
る。このようなビーム径と偏光状態の異なる２つの光ビ
ームを発生する光ビーム発生手段は、(1) ２種類の偏光
状態の光ビームを分離する偏光分離光学素子と、ビーム
径を制限する開口および分離された２つの光ビームを合
成するプリズムにより構成されるか、または(2) 光ビー
ムを分離するビームスプリッタと、分離された光ビーム
の偏光状態を選択する偏光子と、分離された光ビームの
少なくとも一方のビーム径を制限する開口および分離さ
れた２つの光ビームをビームスプリッタへ戻す反射鏡に
より構成されるか、あるいは(3) 光ビームを偏光に従っ
て分離する偏光ビームスプリッタと、分離された各光ビ
ームの偏光状態を変換する波長板と、分離された光路の
少なくとも一方のビーム径を制限する開口および分離さ
れた２つの光ビームを再びビームスプリッタへ戻す反射
鏡により構成される。

【００１５】光ビーム発生手段が発生する２つの光ビー
ムの光学的性質として、波長を異ならせてもよく、その
ような光ビーム発生手段は、異なる波長で発振する２つ
のレーザ光源と、これらのレーザ光源からのそれぞれの
光路を１つに合成する手段により構成される。

【００１６】

【作用】ビーム径が大きい光ビームは、対物レンズで光
情報記録媒体上に集束照射された場合、記録媒体上での
スポットサイズが小さくなるので、その反射光からトラ
ッキング誤差を感度よく検出することができる。一方、
ビーム径が小さい光ビームは、逆に記録媒体上でのスポ
ットサイズが大きく、分解能が低いため、その反射光に
よるトラッキング誤差信号の検出感度は著しく低下する
が、対物レンズのシフト、記録媒体の反りや傾斜などに
起因する光ビームの光軸ずれは、ビーム径が大きい方の
光ビームと同様に発生する。

【００１７】従って、ビーム径の小さい方の光ビームの
反射光に対する分割型光検出手段の出力について差動信
号を生成することにより、光ビームの光軸ずれによるオ
フセットが検出され、ビーム径の大きい方の光ビームの
反射光に対する分割型光検出手段の出力について差動信
号を生成して得られたトラッキング誤差信号を補正する
ことにより、トラッキング誤差信号のオフセットが常に
補償される。

【００１８】また、このようなオフセット補償を行うよ
うにすれば、オフセット補償のためにトラック案内溝の
不連続領域が不要となるため、アクセス動作の際のトラ
ックカウント誤差も大幅に減少する。

【００１９】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。 （第１の実施例）図１および図２は、本発明の第１の実
施例に係る光ヘッドの構成を模式的に示す斜視図および
平面図である。この光ヘッドは、半導体レーザ１０１、
コリメータレンズ１０２、偏光ビームスプリッタ１０
３、反射プリズム１０４，１０５、ハーフミラー１０
６、開口１０７、ハーフミラー１０８、立ち上げミラー
１０９及び対物レンズ１１０と、円柱レンズ１１１、集
光レンズ１１２、偏光ビームスプリッタ１１３および４
分割型光検出器１１４，１１５によって構成される。

【００２０】半導体レーザ１０１からは直線偏光の光ビ
ームが出射され、コリメータレンズ１０２により平行光
とされた後、入射する光ビームの偏光方向に対して４５
°の方向となるように配置された偏光ビームスプリッタ
１０３により２種の偏光成分に分離される。各偏光成分
の光ビームは、反射プリズム１０４，１０５によりハー
フミラー１０６に導かれて同軸的に合成される。この
際、反射プリズム１０５で反射された一方の光ビーム
は、開口１０７によってビーム径が制限される。

【００２１】このように、半導体レーザ１０１およびコ
リメータレンズ１０２と、偏光ビームスプリッタ１０
３、反射プリズム１０４，１０５、ハーフミラー１０６
及び開口１０７からなるビーム径制御部１１７によっ
て、偏光方向およびビーム径の異なる２つの同軸的な直
線偏光の光ビームが発生される。こうして得られた２つ
の同軸的な光ビームは、ハーフミラー１０８を通過した
後、立ち上げミラー１０９で図２の紙面に垂直方向に立
ち上げられ、対物レンズ１１０によって光ディスク１１
８上に集束照射される。

【００２２】光ディスク１１８からの反射光は、対物レ
ンズ１１０を通過した後、ハーフミラー１０８により一
部が信号検出系１１６に導かれる。信号検出系１１６に
おいては、円柱レンズ１１１、集光レンズ１１２および
偏光ビームスプリッタ１１３を経てそれぞれの偏光成分
に対応した反射光が分離された後、光検出器１１４，１
１５によって検出される。すなわち、光検出器１１４で
はビーム径の大きい方の光ビームに対応した反射光が検
出され、光検出器１１５ではビーム径の小さい方の光ビ
ームに対応した反射光が検出される。円柱レンズ１１１
は、フォーカス誤差検出のための非点収差を発生させる
ために設けられている。

【００２３】次に、この光ヘッドの動作を説明する。図
３は、立ち上げミラー１０９で立ち上げられた光ビーム
の偏光状態を示すビームの断面図であり、２０１は偏光
ビームスプリッタ１０３、反射プリズム１０４、ハーフ
ミラー１０６を順次通過した一方の偏光成分の光ビー
ム、また２０２はこれに直交する、偏光ビームスプリッ
タ１０３、反射プリズム１０５、開口板１０７、ハーフ
ミラー１０６を順次通過した偏光成分の光ビームであ
る。

【００２４】図４は、対物レンズ１１０により集光され
る各偏光成分の光ビームの集光状態を模式的に示した図
である。同図４に示すように、光ビーム２０１は、対物
レンズ１１０の開口全体に広がった強度分布を有するた
め、通常の光ヘッドにより照射される光ビームと同じ
く、対物レンズ１１０の開口数（ＮＡ）と光の波長で定
まる回折限界に近い、小さな光スポットを光ディスク１
１８の記録面１１９上に形成する。

【００２５】一方、他の光ビーム２０２は、光路中に挿
入された開口１０７によりビーム径が制限され、等価的
に開口数が小さくなっているので、この光ビーム２０２
は記録面１１９上に光ビーム２０１よりも大きな径の光
スポットを形成する。このため、光ビーム２０２は光デ
ィスク１１８の記録面１１９に対する分解能が著しく低
いので、後述のようにその反射光にトラッキング誤差信
号に相当する成分をほとんど含まないようにすることが
できる。しかし、対物レンズ１１０のシフトや光ディス
ク１１８の傾斜などに起因する光ビーム２０２の光軸ず
れは、光ビーム２０１と同様に発生するため、光ビーム
２０２の反射光からトラッキング誤差信号の検出系と同
じ回路構成でオフセット成分を検出することが可能であ
る。

【００２６】光ビーム２０２の波長（この場合、光ビー
ム２０１も同じ）をλ、対物レンズ１１０の開口半径を
ａ、対物レンズ１１０の焦点距離をｆ、光ディスク１１
８上のトラックピッチをｐとすると、次式(1) で表され
る条件が成立したとき、光ビーム２０２の反射光に含ま
れるトラッキング誤差信号がほとんど零になる。従っ
て、この条件でａを設定することが望ましいが、光量の
低下による信号の低下も生ずるので、右辺よりも若干量
大きい値に設定する場合もある。 ａ≦ｆ・λ／（２ｐ） …(1)

【００２７】図５は、本発明に係る光情報記録装置のフ
ォーカシング制御およびトラッキング制御系の構成を示
すためのブロック図である。図５において、光検出器１
１４，１１５はそれぞれ４分割型光検出器であり、その
各出力はフォーカス誤差検出回路４０１、トラッキング
誤差検出回路４０４およびオフセット検出回路４０５に
供給される。

【００２８】フォーカス誤差の検出は、非点収差法によ
って行われる。すなわち、フォーカス誤差検出回路４０
１は２つの光検出器１１４，１１５の各出力について、
４分割された光検出素子のうち対角線上の素子の出力ど
うしを加算して両加算値の差をとることでフォーカス誤
差を検出し、さらに光検出器１１４，１１５のそれぞれ
から検出されるフォーカス誤差信号を加算することによ
り、最終的なフォーカス誤差信号を生成する。このフォ
ーカス誤差信号はフォーカシングサーボ回路４０２によ
り位相補償および電力増幅された後、フォーカシングア
クチュエータ４０３に供給される。フォーカシングアク
チュエータ４０３は、図１の対物レンズ１１０を光軸方
向に移動させ、常に光スポットが光ディスク１１８の記
録面に正しく集光されるように制御される。

【００２９】一方、トラッキング誤差の検出は、プッシ
ュプル法によって行われる。すなわち、トラッキング誤
差検出回路４０４は光検出器１１４の４分割された光検
出素子のうち、光ディスク１１８上のトラック案内溝に
相当する方向の左右それぞれの側の素子同士の出力を加
算して両加算値の差をとることで、トラッキング誤差を
検出する。こうして差動信号として検出されるトラッキ
ング誤差信号は、前述のように対物レンズ１１０のシフ
トや光ディスク１１８の傾斜などに起因するオフセット
が含まれているため、正確にトラッキング誤差に比例し
た量にはなっていない。

【００３０】オフセット検出回路４０５は、光検出器１
１５の４分割された光検出素子の出力に対してトラッキ
ング誤差検出回路４０４と同等の加減算処理を施すこと
により、上記のオフセット成分を検出する。光検出器１
１５で検出される反射光に対応する光ビームのビーム径
は小さく、光ディスク１１８上の光スポット径が大き
い。従って、オフセット検出回路４０５から差動信号と
して出力されるオフセット信号には、トラッキング誤差
信号成分はごく僅かだけしか含まれず、対物レンズ１１
０のシフトや光ディスク１１８の傾斜などに起因するオ
フセットの成分が大きく含まれる。

【００３１】オフセット補償回路４０６はトラッキング
誤差検出回路４０４の出力に含まれるオフセットを打ち
消すため、オフセット検出回路４０５の出力に一定係数
を乗じるように増幅を施し、積分特性のあるフィルタを
通した後、トラッキング誤差検出回路４０４の出力から
差し引くことによって、オフセットを含まない正確なト
ラッキング誤差信号を生成する。このトラッキング誤差
信号はトラッキングサーボ回路４０７に供給され、位相
補償および電力増幅された後、トラッキングアクチュエ
ータ４０８に供給される。トラッキングアクチュエータ
４０８は、トラッキングサーボ回路４０７の出力によ
り、対物レンズ１１０を光ディスク１１８の半径方向に
移動させ、常に光スポットが記録列を正しく追跡するよ
うに制御される。

【００３２】（第２の実施例）図６は、本発明の第２の
実施例に係る光ヘッドの要部の構成を示す斜視図であ
り、特に光ディスクに照射される２種類の偏光状態の光
ビームのビーム径を異ならしめるためのビーム径制御部
５０７の構成を模式的に示している。図６において、半
導体レーザ１０１から出射され、コリメータレンズ１０
２で平行光となった光ビームは、ハーフミラー５０１に
より２つの光ビームに分離される。分離された一方の光
ビームは、偏光子５０２により一方向の直線偏光成分の
みが選択され、反射鏡５０３で反射される。分離された
他方の光ビームは、偏光子５０４により偏光子５０２が
選択する直線偏光成分と直交する方向の直線偏光成分の
みが選択され、開口５０５でビーム径を制限された後、
反射鏡５０６で反射される。反射鏡５０３，５０６で反
射されたそれぞれの光ビームは、ハーフミラー５０１に
より再び合成され、図の上方へ向かう。この後の光学系
は図１および図２と同様である。

【００３３】本実施例の構成では、それぞれの光ビーム
は偏光子を往復２回通過するため、消光比の小さい比較
的安価な偏光膜を用いても十分な性能が得られる。ま
た、偏光子をハーフミラー、あるいは反射鏡、あるいは
その両者と一体にすることも容易であり、そのように構
成した場合は部品点数の削減、小型化、低価格化などの
効果が得られる。 （第３の実施例）

【００３４】図７は、本発明の第３の実施例に係る光ヘ
ッドの要部の構成を示す斜視図であり、特に光ディスク
に照射される２種類の偏光状態の光ビームのビーム径を
異ならしめるためのビーム径制御部６０７の構成を模式
的に示している。図７において、半導体レーザ１０１か
ら出射され、コリメータレンズ１０２で平行光となった
光ビームは、偏光ビームスプリッタ６０１で偏光方向の
異なる２つの直線偏光の光ビームに分離される。分離さ
れた一方の光ビームは１／４波長板６０２により円偏光
に変換された後、反射鏡６０３で反射され、再び１／４
波長板６０２により直線偏光に変換される。この２度の
通過により、一方の光ビームの偏光方向は９０°回転す
る。分離された他方の光ビームは、１／４波長板６０４
と反射鏡６０５により、同様に偏光方向が９０°回転す
るが、光路の途中に設置された開口６０６によってビー
ム径が制限される。２つの光ビームはハーフミラー６０
１により再び合成されるが、偏光方向がそれぞれ９０°
変換されているので、図の上方へ向かう。この後の光学
系は図１と同様のものである。本例の構成も第２の実施
例と同様に１／４波長板を偏光ビームスプリッタ、ある
いは反射鏡、あるいはその両者と一体にすることも容易
であり、そのように構成した場合は部品点数の削減、小
型化、低価格化などの効果が得られる。 （第４の実施例）

【００３５】図８は、本発明の第４の実施例に係る光ヘ
ッドの要部の構成を示す平面図であり、２つの光ビーム
の波長を異ならせた例である。図８において、第１の半
導体レーザ７０１から出射された短波長の光ビームはコ
リメータレンズ７０２によって平行光とされる。一方、
第２の半導体レーザ ７０３から出射された長波長のレ
ーザ光は、コリメータレンズ７０４により平行光とされ
る。これらの光ビームは、反射プリズム７０５とダイク
ロイックミラー７０６により合成される。より大きな効
果を得るために一方の光ビームは開口７０７によりビー
ム径が制限されるが、廉価な装置を提供しようとする場
合には開口７０７は省略することもできる。合成された
２つの同軸的な光ビームはハーフミラー７０８を通過し
た後、立ち上げミラー７０９で紙面に垂直方向に立ち上
げられ、対物レンズにより光ディスクの記録面上に集光
される。

【００３６】光ディスクからの反射光は同じ対物レンズ
を通過した後、ハーフミラー７０８により一部が信号検
出系７１０に導かれる。この信号検出系７１０は、円柱
レンズ７１１、集光レンズ７１２、ダイクロイックミラ
ー７１３および４分割型光検出器７１４，７１５からな
り、光検出器７１４，７１５が短波長および長波長それ
ぞれの波長成分に対応した信号を検出する。円柱レンズ
７１１は、フォーカス誤差検出のための非点収差を発生
させるものである。

【００３７】本実施例の動作はこれまでに説明したもの
と同様であるが、偏光成分の違いではなく、波長の違い
により２系統の検出系を構成している。これら２系統の
検出径のそれぞれの分解能は開口数と波長により定まる
ので、用いる波長や開口半径は、第１の実施例の場合と
同様に式(1) に従って設定できる。

【００３８】なお、本発明は上述した実施例に限定され
るものではなく、次のように種々変形して実施すること
ができる。実施例では無限光学系、すなわち光ビームを
一旦平行光にしてから対物レンズにより光ディスク上に
集光する光学系を用いたが、有限光学系、すなわちレー
ザから出射されて発散する光ビームを直接光ディスク上
に集光するような光学系を用いた場合にも本発明を適用
することができる。

【００３９】実施例ではフォーカス誤差検出に非点収差
法を用いたが、例えばフーコー法、臨界角法、ナイフエ
ッジ法、ビームサイズ法などの方法を用いてもよいこと
はいうまでもない。

【００４０】実施例では異なる２種類の偏光状態の光ビ
ームのビーム径を異ならしめるためのビーム径制御部へ
入射する光ビームの偏光を直線偏光としたが、円偏光で
あってもよい。これは直線偏光を１／４波長板を用いて
変換するなどの方法で実現できる。光学的記録媒体の形
状については、ディスク状に限られず、カード状であっ
てもよい。

【００４１】

【発明の効果】本発明によれば、簡便な光学系によって
対物レンズの光軸ずれ、あるいはディスクの反りや傾斜
などに起因するトラッキング誤差信号のオフセットを検
出してオフセット補償を行うことができ、従来より精密
にトラッキング制御やアクセス制御をすることが可能と
なる。

【００４２】しかも、光ディスクなどの記録媒体にオフ
セット補償のための鏡面領域を設ける必要がないため、
トラックカウントの誤差が著しく減少することから、実
質的なアクセス時間が大幅に短縮され、装置の応用分野
も拡大する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１の実施例に係る光ヘッドの構成
を示す斜視図

【図２】 同実施例の光ヘッドの平面図

【図３】 同実施例における立ち上げミラーで立ち上げ
られた光ビームの偏光状態を示すビーム断面図

【図４】 同実施例における対物レンズにより集光され
る各偏光成分の光ビームの集光状態を模式的に示す図

【図５】 本発明の一実施例に係る光情報記録装置にお
けるフォーカシング制御回路およびトラッキング制御回
路の構成を示すブロック図

【図６】 本発明の第２の実施例に係る光ヘッドの要部
構成を示す平面図

【図７】 本発明の第３の実施例に係る光ヘッドの要部
構成を示す平面図

【図８】 本発明の第４の実施例に係る光ヘッドの要部
構成を示す平面図

【図９】従来の鏡面領域のあるディスクにおける鏡面領
域の周りのピット配置を模式的に示す平面図

【図１０】従来の光ディスク装置におけるトラッキング
誤差信号の検出特性を示す図。

【符号の説明】

１０１…半導体レーザ １０２…コリメー
タレンズ １０３…偏光ビームスプリッタ １０４…反射プリ
ズム １０５…反射プリズム １０６…ハーフミ
ラー １０７…開口 １０８…ハーフミ
ラー １０９…立ち上げミラー １１０…対物レン
ズ １１１…円柱レンズ １１２…集光レン
ズ １１３…偏光ビームスプリッタ １１４…４分割型
光検出器 １１５…４分割型光検出器 １１６…信号検出
系 １１７…ビーム径制御部 １１８…光ディス
ク ２０１，２０２…光ビーム ４０４…トラッキ
ング誤差検出回路 ４０５…オフセット検出回路 ４０６…オフセッ
ト補償回路 ４０７…トラッキングサーボ回路 ４０８…トラッキ
ングアクチュエータ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/09 G11B 7/095 G11B 7/135 G11B 7/14

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ビーム径および光学的特性の異なる２つの
   同軸的な光ビームを発生する光ビーム発生手段と、 この光ビーム発生手段からの光ビームを光学的記録媒体
   に集束して照射するための対物レンズと、 前記光学的記録媒体で反射され前記対物レンズを通過し
   た２つの光ビームを前記光学的特性の違いを利用して分
   離する光ビーム分離手段と、 この光ビーム分離手段により分離された２つの光ビーム
   をそれぞれ検出する第１および第２の分割型光検出手段
   と、 これら第１および第２の分割型光検出手段の出力からそ
   れぞれ差動信号を生成する第１および第２の差動信号生
   成手段と、 これら第１および第２の差動信号生成手段からの差動信
   号のうちビーム径の大きい方の光ビームに対応した差動
   信号をビーム径の小さい方の光ビームに対応した差動信
   号により補正する補正手段と、 この補正手段により補正された差動信号を用いて前記光
   ビームを前記光学的記録媒体上のトラックに追従させる
   トラッキング手段とを具備したことを特徴とする光情報
   記録装置。