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JPH01230422A - 高純度シリカ及びその製造方法 - Google Patents

高純度シリカ及びその製造方法

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Publication number
JPH01230422A
JPH01230422A JP5686888A JP5686888A JPH01230422A JP H01230422 A JPH01230422 A JP H01230422A JP 5686888 A JP5686888 A JP 5686888A JP 5686888 A JP5686888 A JP 5686888A JP H01230422 A JPH01230422 A JP H01230422A
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JP
Japan
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silica
acid
purity
purity silica
specific surface
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JP5686888A
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Hiroyuki Kashiwase
弘之 柏瀬
Yutaka Konose
豊 木ノ瀬
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Nippon Chemical Industrial Co Ltd
Original Assignee
Nippon Chemical Industrial Co Ltd
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B33/00Silicon; Compounds thereof
    • C01B33/113Silicon oxides; Hydrates thereof
    • C01B33/12Silica; Hydrates thereof, e.g. lepidoic silicic acid
    • C01B33/18Preparation of finely divided silica neither in sol nor in gel form; After-treatment thereof
    • C01B33/187Preparation of finely divided silica neither in sol nor in gel form; After-treatment thereof by acidic treatment of silicates
    • C01B33/193Preparation of finely divided silica neither in sol nor in gel form; After-treatment thereof by acidic treatment of silicates of aqueous solutions of silicates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2004/00Particle morphology
    • C01P2004/30Particle morphology extending in three dimensions
    • C01P2004/32Spheres
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/12Surface area
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/80Compositional purity

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、珪酸アルカリから造られる高純度シリカ及び
その製造方法に関する。
更に詳しくは、IC封止剤用樹脂の充填剤、基板、電子
材料や半導体製造装置用高純度シリカガラス及び石英ガ
ラス、光学ガラスの原料等の用途に適する低放射性で極
めて高純度のシリカとその製造方法に関する。
〔従来の技術〕
近年、電子産業の急速な発展につれて電子材料用や半導
体製造用などに高純度のシリカが使用されるようになっ
たが、製品の高度化につれてシリカに対する高純度化へ
の要望は一層強まっている。
例えば、LSIあるいは超LSIの封止剤として用いる
エポキシ樹脂の充填剤として純度のよいシリカ粉末が使
用されているが、ICの高性能化すなわち集積度の増大
に伴って封止剤中のU(ウラン)やTh (トリウム)
から放射されるα−線に起因するICの誤動作すなわち
ソフトエラーの問題が重要視されるようになった。この
トラブルを回避するためには、エポキシ樹脂組成物中に
50〜90%もの比率で配合される充填剤シリカ中のα
−放射線元素、特にU及びThの低減が不可欠の要件と
なる。
従来、この種のエポキシ樹脂用充填剤のシリカとしては
U、Th等の放射性元素の含有率が低い良質の天然珪砂
を化学的に処理したものや良質の天然水晶を溶融粉砕し
たものか主として使用されていたが、天然の珪砂や水晶
中には酸処理や精製処理を施した後でもU’PThがそ
れぞれ1〜100ppb程度含まれており、このような
シリカはソフトエラーのために256キロビツト以上の
高集積度を対象とするIC封止剤用の充填剤には全く不
適となる。
天然の水晶の中にはU、Thの含有量の特に少ないもの
も稀には産出するが、その入手は年々困難になりつつあ
る。
一方、UやThか1 pl)b以下の極めて高純度のシ
リカの製法としては、特に精製した四塩化珪素やテトラ
エチルシリケート等のシリカ源を加水分解して焼成する
方法や気相分解する方法があるが、いずれも原料自体が
高価であるとともに腐食性や可燃性を有するため取り扱
いには特別な配慮を要し、極めて高価となる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、このような高純度シリカは珪酸アルカリ
と酸との反応による従来法では得られていない。
従来、珪酸アルカリをシリカ源として高純度のシリカを
製造する方法としては、■珪酸アルカリ水溶液をイオン
交換して酸性シリカゾルとし、これに塩類や界面活性剤
を加えてシリカを沈澱状に析出させて回収する方法(特
公昭3G −18315号公報、特公昭37−4304
号公報)、■珪酸アルカリ水溶液をイオン交換してシリ
カゾルとし、これにアンモニアを加えてpHを調整した
後、冷却凍結し、さらに加温融解してシリカを析出させ
て回収する方法(特公昭3B −9415号公報)等が
知られているが、何れも析出するシリカ沈澱の含水率か
80%以上にも達するため、ン濾過、洗浄等が困難とな
る。
そのうえ、S IO2純度か99.3〜999%程度で
不純物含有量はNa 150〜300ppmとされてい
るが、本発明者等の検討結果てはFe50〜150pp
m。
T h100〜250ppb程度であり、酸による精製
処理を加えてもFe3ppm以下、Th 1Oppb以
下のシリカを得ることは困難であった。また、近時、水
素イオン濃度1.5以下の条件でアルカリ金属ないしア
ルカリ土類金属の珪酸塩と鉱酸からU 1 ppb以下
の石英ガラスを製造する方法か提案されている(特開昭
59−54832号公報)。しかしながら、この発明で
は最も除去か困難となっているThの除去手段について
は全く配慮がなされていない。
ところで、本発明者等は、すでに珪酸アルカリと鉱酸と
の湿式反応により、不純物金属元素が全て1 ppm以
下の高純度シリカの開発に成功した(特開昭62−12
808号公報)。しかしながら、この湿式法では、U、
Thなどのα−放射性元素をそれぞれ0.02ppb以
下に低減できる程の高純度には至っていない。
本発明は、前記特開昭62−12608号による先行技
術をより改良して高純度シリカを提供することを目的と
するものである。
〔課題を解決するための手段、作用〕
すなわち、本発明により提供される高純度シリカは、珪
酸アルカリの酸分解(湿式法)により得られる合成シリ
カであって、α−放射性を示すU及びThの含有量がそ
れぞれ0.02ppb以下であることを特徴とする。
珪酸アルカリの酸分解(湿式法)とは、珪酸アルカリと
鉱酸との湿式反応を指すが、本発明の高純度シリカは鉱
酸として硫酸を用い後記の条件下で選択的に得られるも
のである。この高純度シリカは、湿式反応において従来
最も困難とされていたThの除去が著しく達成されたも
のであって、特にα−放射性元素であるU及びThがそ
れぞれ0.02ppbという驚く程の高純度であり他の
金属元素も実質的に1 ppm以下にある純度水準を有
している。
この合成シリカは、BET比表面積が300r&/g以
上の多孔質のものであることも特徴の1つと□ なっている。この理由は、BET比表面積が約300r
rr/g未満の合成シリカにあっては、前記の如き高純
度を具備することができす、この純度をもつためには、
その製造履歴上300ni/ g以上のものでなければ
ならない相関性があるからである。
したがって、本発明の高純度シリカは、BET比表面積
が300r&/g以上の未焼成含水シリカ及びBET比
表面積が50rrr/ g以下の焼成シリカを含むもの
である。
かかる高純度シリカは、従来電子材料用や高純度シリカ
ガラス用の原料として使用されていた良質の天然珪砂や
水晶の純度を上回るものであるため、それらに代わって
使用可能であるばかりでなく、より高純度を必要とする
高集積度ICの樹脂封止用充填剤などの高性能電子材料
用に、あるいは石英ガラス、光学ガラス用としても安定
供給が可能となる点で良質のシリカ資源に恵まれぬ我国
にとって画期的な意義を有するものである。
本発明に係る合成シリカを溶融球状化するとIC樹脂封
止用充填剤として好適なものとなる。
特に好適な組織としてはBET比表面積が0.2〜3r
r1″/g、且つタップ密度が1.36g/c%以上の
溶融球状シリカがあげられる。
上記の本発明に係る高純度シリカは、キレート剤及び過
酸化水素が存在する酸濃度1規定以上の鉱酸中で珪酸ナ
トリウムと鉱酸とを反応させてシリカ沈澱を生成させ、
次いで分離回収したシリカをキレート剤及び過酸化水素
を含有する鉱酸にて洗浄することからなる高純度シリカ
の製法において、シリカ沈澱生成反応を硫酸を使用して
40’C以下の温度でおこなったのち反応生成物を70
’C以上の温度で熟成するプロセスによって製造される
この製造方法は特開昭62−12608号にょる先願技
術の改良に係るもので、その選択的条件において、予想
外の顕著な高純度化と好適な特性を見いだしたものであ
る。
本発明の方法で使用する珪酸ナトリウムとしては、モル
比SiO/Na  Oが1〜4の市販の珪酸ナトリウム
溶液(水ガラス)を使用することができるが、モル比の
値が比較的大きいものが反応に必要とする鉱酸の量が少
なくてすむので経済的である。珪酸ナトリウム溶液は水
または鉱酸のナトリウム塩水溶液で適宜希釈して使用し
てもよい。使用濃度は、SiO2として20重量%以上
、好ましくは25重量%以上が好適である。
一方、本発明の方法で使用する鉱酸としては硫酸の適用
が不可欠であり、必要に応じて塩酸、硝酸等を併用する
ことができる。
本発明の方法では、前記の原料を用いて高純度シリカを
製造するに当たり、キレート剤及び過酸化水素を含有す
る酸濃度1規定以上の硫酸酸性領域中で珪酸ナトリウム
水溶液と鉱酸を反応させてシリカの沈澱を生成させる。
キレート剤としてはシュウ酸、マロン酸、コハク酸、グ
ルタル酸、マレイン酸、フマル酸等のジカルボン酸ニト
リカルバリル酸、プロパン−1,1,2,3−テトラカ
ルボン酸、ブタン−1,2,3,4−テトラカルボン酸
等のポリカルボン酸;グリコール酸、−1〇 − β−ヒドロキシプロピオン酸、クエン酸、リンゴ酸、酒
石酸、ピルビン酸、ジグリコール酸等のオキシカルボン
酸;ニトリルトリ酢酸(NTA)、ニトリロリプロピオ
ン酸、エチレンジアミンテトラ酢酸等のアミノポリカル
ボン酸またはそれらの塩などがあげられる。これらのう
ちでは、特にシュウ酸、クエン酸、酒石酸またはそれら
の可溶性塩等が好適である。キレート剤及び過酸化水素
の添加量は、それぞれ反応系内のシリカ(S i02 
)に対して0.1〜5重量%、好ましくは0.1〜2重
量%とする。キレート剤の添加量が0.1重量%未満で
は添加効果が充分でなく、また逆に2重量%を超えると
添加効果が飽和する傾向になる。このキレート剤及び過
酸化水素の存在により、特に、Thと同じ4価の不純物
であるZrやTi といった除去の困難な不純成分を選
択的にシリカから除去することができる。
かかる反応では珪酸ナトリウム水溶液を鉱酸中に添加す
る方法、あるいは珪酸ナトリウム水溶液及び鉱酸を同時
に添加する方法か考えられるが、いずれの場合でも、反
応系内の酸濃度を常に1規定以上に維持することか重要
である。酸濃度1規定未満の領域では不純物を多量に月
っ強固に包含し、li!i′I液分離性の不良なシリカ
の沈澱か生成し、引続く酸による洗浄操作をおこなって
も不純物を充分に除去することが困難となる。
本発明の製造方法において、特に重要な要件は次の二点
である。
■反応用の鉱酸として硫酸を使用すること。
■シリカ沈澱生成時の反応温度を40℃以下に保ち、次
いで得られた沈澱を70℃以上の温度で熟成すること。
シリカ沈澱生成反応を約40℃以上でおこなうと、シリ
カ沈澱の脱水硬化が速やかにおこなわれて固液分離し易
い反応生成物のスラリーか得られる反面、沈澱内部の不
純物か液相中へ溶出し難くなるためか、U、Th等の不
純物の除去に限度が生じる。
一方、シリカ沈澱生成反応を40℃以下でおこなうと、
含水率の多い軟かい沈澱が生成し、粘性を帯びて固液分
離の困難な反応生成物のスラリーが生成する。常識的に
は、このような作業性を困難にする反応条件は回避され
るが、本発明の方法においては硫酸を使用して敢えてこ
のような温度条件下で反応をおこなったのち、70 ’
C以上に加熱して熟成をおこなうことにより不純物含有
量が極端に少なく含水率の低いシリカの沈澱が得られる
という全く予想外の事実に依拠したのである。すなわち
、40℃以下で好ましくは室温近くで反応を終了したの
ち、15〜60分保持し、次いで加熱昇温させて70℃
以上好ましくは75℃〜系の沸点近くで30〜180分
間熟成するが、保持時間や熟成時間等は特に限定される
ものではない。
このようにして得られる合成シリカは後述する処理にも
多少影響されるがBET比表面積が300rrr/g以
上の多孔質となっている。シリカの沈澱生成反応と熟成
処理とは、シリカ粒子相互の構造に係って、不純金属成
分の分離性に影響し、300d/g未満のものは、いず
れも実質的に本発明で目的とする純度までは達すること
ができない。
次に、反応により生成するシリカの沈澱を青4′法によ
り分離し、分離したシリカを過酸化水素及びキレート剤
を含有する鉱酸て酸洗浄する。
この場合の酸の種類及びキレート剤の種類については、
上記と同様であり、処理時の酸の濃度は0.5〜4規定
が望ましい。0.5規定未満てはシリカに付着する不純
物の除去が不充分であり、4規定を超える強酸を使用す
る場合では酸処理後の廃酸の中和または有効利用に問題
が生ずる。
なお、キレート剤及び過酸化水素の酸への添加量は上記
と同様SiO2に対してそれぞれ0.1〜5重量%の割
合となる範囲′て含有させておくのがよい。
このように、本発明ではシリカの沈澱を生成させる反応
工程及び次の洗浄工程もいずれも酸で処理するものであ
るが、必ずキレート剤(必要に応してその塩でもよい)
及び過酸化水素を含有させておこなう必要があり、いず
れかの工程でこれらを含有させない場合には、所期の目
的とする高純度シリカは得られない。
また、言うまでもないが、この酸洗浄による酸処理工程
は1回に限らず、必要に応じてその性質上、2回以上お
こなっても差し支えなく、処理温度も任意でおこなうこ
とかできる。
かくして、精製した高純度シリカは清適、遠心分離また
はその他の方法で充分に洗浄除去した後、乾燥して回収
する。さらに、必要に応じ焼成または溶融して高純度シ
リカの溶融球状化体として得ることができる。
溶融球状シリカを得る方法としては次の如き条件にてお
こなうのが好ましい。
すなわち、300rrl”/ g以下の比表面積を有す
る多孔質合成シリカを50rrr/ g以下、好ましく
は30rr1″/g以下の比表面積となるまで焼成し、
この焼成粉砕粒子を火炎溶融して球状化することである
焼成物の粒子は、平均粒子径で2〜50uyl好ましく
は3〜35tErlの範囲に粒度調整したものか適当で
ある。かくして、本発明に係る方法によれば、タップ密
度(T D)が1.38g/c%以上、好ましくは、1
.39−1.46g /c++1、且つBET比表面積
か0.2〜3m2/gにある高純度、高密度の溶融球状
シリカとして得られる。この溶融球状シリカは、IC樹
脂封止用充填剤として好適な特性が付与される。
〔実 施 例〕
以下、本発明を実施例及び比較例に基づいて説明する。
実施例−1 撹拌機(=Iき反応槽に、硫酸水溶液(H2S O4−
23,7重量%) 1.200gをとり、これにシュウ
酸(二水塩 市販品)2g、35%過酸化水素水(市販
品)5gを添加溶解した。この硫酸水溶液に、JI83
号珪酸ソーダ(Na O−9,2重量%、S 102−
28.5重量%)  600gを約20分間を要して1
mmφのノズル先端より連続的に添加しシリカの沈澱を
生成させた。この間、反応槽を充分撹拌し、また液温を
25〜30℃に保持した。反応終了後スラリーを30℃
て30分間撹拌したのち80℃まで昇温し、80℃で2
時間撹拌して熟成をおこなった。
この熟成終了スラリーからのシリカ沈澱をン濾過、洗浄
をくり返した後、分離回収した。分離回収したシリカを
撹拌機付き酸処理槽にとり、これに水と硫酸を加えてス
ラリー全量1,7ρ、液中の硫酸濃度が16.6重量%
となるように調製し、更にンユウ酸2g、35%過酸化
水素水5gを添加して撹拌しながら85℃で2時間加熱
して酸処理した。このスラリーからシリカを濾過分離し
、以下常温で水によるリパルプ洗浄、固液分離をおこな
い、105℃、2時間乾燥した。更に、その一部につい
て1100℃で2時間焼成したのち、粉砕して、平均粒
子径23.3mlの焼成シリカ粉末を得た。
なお、焼成品の不純物含有量及び物性については表−1
に示す。
実施例−2 実施例−1の操作手順に従い、キレ−1・剤としてシュ
ウ酸2gの代わりにEDTA O,5gを使用し、他の
条件は全て実施例−1と同様の条件で高純度シリカを製
造した。得られたシリカ中の不純物含有量を表−1に併
せて示す。
一  16 − 比較例−1 実施例−1の操作手順に従い、反応を80℃で20分間
おこない、次いでそのまま80℃で2時間熟成した。他
の条件は全て実施例1と同様の条件で高純度シリカを製
造した。得られたシリカ中の不純物含有量を表−1に併
せて示す。表−1より明らかなように、反応を40℃以
上の高温でおこなった場合はU、Thの含有量が多く、
目的とする高純度シリカは得られない。
比較例−2 撹拌機付き反応槽に35重1%塩酸250g、水350
 g、EDTAo、25gをとり、溶解した。この塩酸
水溶液にJIS  3号珪酸ソーダ(N a 209.
2重量%、S IO228,5重量%)  350gを
約12分間を要して1 mmφのノズル先端より連続的
に滴下してシリカの沈澱を生成させた。この間反応槽を
充分撹拌し、また液温を45〜50℃に保持した。
反応終了後、スラリーを50℃で2時間熟成したのち、
35%過酸化水素水3mlを添加し10分間撹拌後、実
施例−1と同様に固液分離した。分離回収したシリカを
撹拌機付き酸処理槽にとり、これに35重量%塩酸10
0 mlと水を加えて全量を900m1とし、更にED
TAo、25gを加えて80℃で2時間加熱して酸処理
した。70℃まで冷却したのち35%過酸化水素水3m
lを添加し10分間撹拌後、以下実施例−1と同様に固
液分離、乾燥、焼成して高純度シリカを得た。得られた
シリカ中の不純物含有量を表−1に併せて示す。表−1
より明らかなように反応を40℃以上でおこなった場合
はU、Thの含有量が多く目的とする高純度シリカは得
られない。
表   −I ICP法による分析で求めた。
注2)比表面積はいずれもBET法による。
−19一 実施例−3 実施例−1で得られた高純度シリカ焼成品を樹脂製ボー
ルミルで平均粒径25虜まで粉砕した。次いでこの粉末
を酸素−プロパンガスによる火炎溶融炉に連続的に流下
させて溶融処理を施して溶融球状シリカを得た。このシ
リカは平均粒径31庫、比表面積0.8Bttf/g及
びTDl、45g/c−の高純度シリカ球状溶融体であ
フた。
〔発明の効果〕 以上の記載から明らかなように、本発明の高純度シリカ
の製造方法によれば、珪酸アルカリ及び酸との湿式反応
により不純物含有量がU(ウラン)及びTh(トリウム
)それぞれ0.02ppb以下の高純度シリカが比較的
安価な原料から比較的単純な工程によって確実に製造す
ることが可能となる。本発明の高純度シリカはIC封止
剤用樹脂の充填剤、基板、電子材料や半導体製造装置用
高純度シリカガラスの原料等の用途に好適であり、枯渇
しつ\ある良質の天然珪砂や水晶等の資源に代って安定
供給を可能とする点で特に有意義なものである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、珪酸アルカリの酸分解(湿式法)により得られる合
    成シリカであって、α−放射性を示すU(ウラン)及び
    Th(トリウム)の含有量がそれぞれ0.02ppb以
    下であることを特徴とする高純度シリカ。 2、BET比表面積が300m^2/g以上の未焼成含
    水シリカである請求項1の高純度シリカ。 3、BET比表面積が50m^2/g以下の焼成シリカ
    である請求項1の高純度シリカ。4、BET比表面積が
    0.2〜3m^2/g、且つタップ密度が1.36g/
    cm^3以上の溶融球状シリカである請求項1の高純度
    シリカ。 5、キレート剤及び過酸化水素が存在する酸濃度1規定
    以上の鉱酸中で珪酸ナトリウムと鉱酸とを反応させてシ
    リカ沈澱を生成させ、次いで分離回収したシリカをキレ
    ート剤及び過酸化水素を含有する鉱酸にて洗浄すること
    からなる高純度シリカの製法において、シリカ沈澱生成
    反応を硫酸を使用して40℃以下の温度でおこなったの
    ち、反応生成物を70℃以上の温度で熟成することを特
    徴とする高純度シリカの製造方法。 6、キレート剤がジカルボン酸、ポリカルボン酸、オキ
    シカルボン酸、アミノポリカルボン酸またはそれらの塩
    である請求項5記載の高純度シリカの製造方法。 7、キレート剤及び過酸化水素を、それぞれ反応系内の
    SiO_2に対して0.1〜5重量%添加する請求項5
    記載の高純度シリカの製造方法。 8、請求項5記載の製造方法により得られた合成シリカ
    を、BET比表面積が50m^2/g以下となるような
    焼成工程を経て火炎溶融することを特徴とする高純度シ
    リカの製造方法。
JP5686888A 1988-03-10 1988-03-10 高純度シリカ及びその製造方法 Granted JPH01230422A (ja)

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