JPH01213523A - Micro-valve mass flow controller - Google Patents
Micro-valve mass flow controllerInfo
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- JPH01213523A JPH01213523A JP63037802A JP3780288A JPH01213523A JP H01213523 A JPH01213523 A JP H01213523A JP 63037802 A JP63037802 A JP 63037802A JP 3780288 A JP3780288 A JP 3780288A JP H01213523 A JPH01213523 A JP H01213523A
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- Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
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- Measuring Volume Flow (AREA)
- Micromachines (AREA)
- Electrically Driven Valve-Operating Means (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[技術分野]
この発明は、半導体プロセス等で使用される微量ガス検
知・制御に有用なマイクロバルブ・マスフローコントロ
ーラに関するものである。特にこの発明は、MOCVD
やMOMBE (有機金属分子線エピタキシャル成長)
などのプロセスにおいて5.tiii微量ガスを導入し
結晶成長を精密に制御する場合に有用な極微量ガスコン
トローラに関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to a microvalve mass flow controller useful for detecting and controlling trace gases used in semiconductor processes and the like. In particular, this invention
and MOMBE (organometallic molecular beam epitaxial growth)
In the process of 5. The present invention relates to a trace gas controller useful for precisely controlling crystal growth by introducing a trace gas.
[背景技術]
近年、LSIや半導体レーザの高性能化に伴って、MO
CVDやMOMBEなどの極薄膜成長技術が重要となっ
てきている。たとえば、超格子デバイスやHEMT (
高移動境トランジスタ)、HET(ホットエレクトロン
トランジスタ)、位相整合半導体レーザなどにおいては
、多層のGaAs層とAjGaAs層を数Aの精度で膜
厚を制御する必要がある。このような膜厚制御において
は、反応ガスの流量にその精度が大きく依存することか
ら微量ガスの精密コントロールが必要となっている。[Background technology] In recent years, with the improvement in performance of LSI and semiconductor lasers, MO
Ultra-thin film growth techniques such as CVD and MOMBE are becoming important. For example, superlattice devices and HEMT (
In high-mobility boundary transistors), HETs (hot electron transistors), phase-matched semiconductor lasers, and the like, it is necessary to control the thickness of multilayer GaAs layers and AjGaAs layers with an accuracy of several amps. In such film thickness control, precision control of trace gases is required because the accuracy largely depends on the flow rate of the reactant gas.
従来より、いくつかの方式のコントローラが知られてい
るが、たとえば従来のニードルバルブと圧力センサを用
いたマスフローコントローラは機構部分と配管系が大き
いことや、機械的な接触による流量制御であることから
、せいぜい数十cc重量のガス制御にとどまり、このレ
ベルがコントロールの限界であった。さらに、反応装置
とマスフローコントローラを位置的に離れて取付けなけ
ればならないことから、配管系が長くなり、残留するガ
スのために微量制御が困難になるという問題がある。Several types of controllers have been known in the past, but for example, conventional mass flow controllers using needle valves and pressure sensors have large mechanical parts and piping systems, and flow control is performed through mechanical contact. Therefore, the gas could only be controlled to a few tens of cc at most, and this level was the limit of control. Furthermore, since the reactor and the mass flow controller must be installed apart from each other, there are problems in that the piping system becomes long and residual gas makes it difficult to control the amount of gas.
[発明の目的]
この発明は、以上の通りの問題点に鑑みてなされたもの
であり、高感度で高速応答であるフローセンサを内蔵し
、微少な変位を与えるアクチュエータを配設することに
より、超小型でかつ極微量なガスの制御を可能とするマ
スフローコントローラを提供することを目的としている
。[Object of the Invention] This invention has been made in view of the above-mentioned problems, and by incorporating a flow sensor with high sensitivity and high speed response and arranging an actuator that gives minute displacement, The purpose of this invention is to provide a mass flow controller that is ultra-compact and capable of controlling extremely small amounts of gas.
[発明の開示]
この発明は、上記の目的を実現するために、ガスの導入
口と導出口とを有するガラスまたはシリコン基板と、ガ
ス流路、メサおよびダイアフラムとを有するシリコン基
板を接合して完全気密構造を形成し、ガスの導入口ある
いは導出口の下部にメサとダイアフラムとからなる弁を
配し、かつ;ダイアフラムの下部にダイアフラムを変形
させるアクチュエータを配設して、マイクロバルブとな
し、ガス流路中にマイクロヒータを配して流量によるヒ
ータ電流の変化をもとに流量を検知するサーマル型フロ
ーセンサとしてなることを特徴とするマイクロバルブ・
マスフローコントローラを提供する。[Disclosure of the Invention] In order to achieve the above object, the present invention is directed to bonding a glass or silicon substrate having a gas inlet and an outlet, and a silicon substrate having a gas flow path, a mesa, and a diaphragm. Forming a completely airtight structure, disposing a valve consisting of a mesa and a diaphragm at the lower part of the gas inlet or outlet, and; disposing an actuator for deforming the diaphragm at the lower part of the diaphragm to form a microvalve; A microvalve characterized in that it functions as a thermal type flow sensor that detects the flow rate based on changes in heater current due to flow rate by arranging a micro heater in the gas flow path.
Provide mass flow controllers.
以下添付した図面に沿ってこの発明について詳細に説明
する。The present invention will be described in detail below with reference to the attached drawings.
第1図は、この発明のマイクロバルブ・マスフローコン
トローラの構造を例示したものである。FIG. 1 illustrates the structure of the microvalve mass flow controller of the present invention.
第1図(a)は平面図を、第1図(b)はA−A’面の
断面図を示している。FIG. 1(a) shows a plan view, and FIG. 1(b) shows a sectional view taken along the line AA'.
この例においては、パイレックスガラス基板(1)にガ
ス導入日(2)とガス導出口(3)を設け、シリコン基
板(4)にはマイクロマシニング技術によってガス流路
(5)、メサ(6)とダイアフラム(7)を設け、この
ガラス基板(1)とシリコン基板(4)とを完全気密構
造となるように接合している。ガス導出口(3)の下部
のメサ(6)とダイアフラム(7)とは弁を構成する。In this example, a gas introduction port (2) and a gas outlet (3) are provided on the Pyrex glass substrate (1), and a gas flow path (5) and a mesa (6) are provided on the silicon substrate (4) using micromachining technology. A diaphragm (7) is provided, and the glass substrate (1) and silicon substrate (4) are bonded to form a completely airtight structure. The mesa (6) and the diaphragm (7) at the bottom of the gas outlet (3) constitute a valve.
ダイアフラム(7)の下部に配設したピエゾアクチュエ
ータ(8)によってダイアフラム(7)を押し上げ、メ
サ(6)とガラス基板(1)とを接触させてガス流量を
制御し、かつガス流路(5)中に配設したサーマル型の
フローセンサ(9)により流量を検知する。第1図は、
ピエゾアクチュエータ(8)に電圧を加えない状態では
ガスが流れるノーマリオープン型を例示しているが、ノ
ーマリクローズ型の構造とすることもできる。A piezo actuator (8) disposed at the bottom of the diaphragm (7) pushes up the diaphragm (7), brings the mesa (6) into contact with the glass substrate (1), controls the gas flow rate, and controls the gas flow path (5). ) The flow rate is detected by a thermal type flow sensor (9) disposed inside. Figure 1 shows
Although a normally open type structure is illustrated in which gas flows when no voltage is applied to the piezo actuator (8), a normally closed type structure is also possible.
この発明に用いることのできる上記のマイクロマシニン
グ技術は、結晶軸やドーピング量の違いによってエツチ
ング速度が異なることを利用するものであり、EPW(
エチレンジアミン−ピロカテコール−水)やK OH液
をエッチャントとすることによって(111)面に比戟
して(100)面を効率よくエツチングするものである
。また、ボロンなどをドーピングして形成したP″−層
はエツチングされないことから、P+層を形成させるこ
とにより所望の厚さのダイアフラムを形成することがで
きる。The above micromachining technology that can be used in this invention utilizes the fact that the etching rate differs depending on the crystal axis and doping amount, and EPW (
By using ethylenediamine-pyrocatechol-water (ethylenediamine-pyrocatechol-water) or a KOH solution as an etchant, the (100) plane can be etched more efficiently than the (111) plane. Further, since the P''- layer formed by doping with boron or the like is not etched, a diaphragm of a desired thickness can be formed by forming the P+ layer.
この例において用いるサーマル型のフローセンサ(9)
は、ガス流路(5)に設けたマイクロヒータ(10)と
外部に取付けられたオペアンプからなる信号処理回路と
から構成している。ガス流路(5)中に設けたマイクロ
ヒータ(10)のガスの流量に従って変化する温度を、
これを一定に保つために供給するヒータ電流を検知し、
これによりガスの流量を測定する。Thermal type flow sensor (9) used in this example
consists of a microheater (10) provided in the gas flow path (5) and a signal processing circuit consisting of an operational amplifier mounted externally. The temperature that changes according to the gas flow rate of the micro heater (10) provided in the gas flow path (5) is
Detects the heater current supplied to keep this constant,
This measures the gas flow rate.
第2図は、この例に用いているマイクロヒータ(10)
部の詳細な構造を例示したものである。Figure 2 shows the micro heater (10) used in this example.
This is an example of the detailed structure of the section.
この平面図(a)と、断面図(b)とから明らかなよう
に、マイクロヒータ(10)としてNi線を用い、ヒー
タの温度を高くするためにこれを折れ曲っな構造として
いる。マイクロヒータ(10)のNi線は、たとえば、
長さ250μm、幅20μmn、厚さ0.4μmとva
細に形成していることから熱容量および熱時定数が極め
て小さく、高感度、高速応答のフローセンサが実現でき
る。#JちるんNiに限られずに他の金属線としてもよ
い、また、マイクロヒータ(10)はS i O2膜で
被覆して、熱絶縁が良好であり、かつ直接ガスにさらさ
れることのない状態とすることができ、各種のガスに適
用することができるという特徴を持っている。As is clear from this plan view (a) and cross-sectional view (b), Ni wire is used as the micro-heater (10), and the micro-heater (10) has a bent structure in order to increase the temperature of the heater. The Ni wire of the micro heater (10) is, for example,
Length 250μm, width 20μmn, thickness 0.4μm and va
Since it is formed thin, the heat capacity and thermal time constant are extremely small, and a flow sensor with high sensitivity and high speed response can be realized. #JChirunNi is not limited to Ni, and other metal wires may be used. Also, the micro heater (10) is coated with a SiO2 film to provide good thermal insulation and prevent direct exposure to gas. It has the characteristics that it can be applied to various gases.
リード1(11)は、パイレックスのガラス基板(1)
にあけた穴を通して、たとえば導電性エポキシ樹脂等の
導電性接着剤(12)により固定し、外部と接続する構
造としていることから、気密性を充分に保つことができ
る。Lead 1 (11) is a Pyrex glass substrate (1)
Since the structure is such that it is fixed with a conductive adhesive (12) such as a conductive epoxy resin and connected to the outside through a hole drilled in the hole, airtightness can be maintained sufficiently.
なお以上の例においては信号処理回路を外付けとした構
造としているが、信号処理回路をシリコン基板(4)上
に集積化することもできる。Although the above example has a structure in which the signal processing circuit is externally attached, the signal processing circuit may also be integrated on the silicon substrate (4).
第3図は、マイクロマシニング技術を用いたシリコン基
板の加工プロセスとマイクロヒータの製造プロセスを示
した図である。FIG. 3 is a diagram showing a silicon substrate processing process and a microheater manufacturing process using micromachining technology.
プロセスの工程に沿って説明する。The process will be explained step by step.
(a) 厚さ400μmのn type (100)
S l基板を20820++m2にスクライブし洗浄
したのちWet酸化する。その後フォトリングラフィに
よりSiエッチ用のマスクパターンを形成する。(a) n type (100) with a thickness of 400 μm
The S1 substrate is scribed to 20820++ m2, cleaned, and wet oxidized. Thereafter, a mask pattern for Si etching is formed by photolithography.
(b) 5102膜をマスクとし35wt%K OH液
(80℃)でSiをエツチングする。(b) Etching Si with 35 wt% KOH solution (80°C) using the 5102 film as a mask.
(c) Niによるし−タ線や配線の下地となる5i
02WAをCVDにより2μm堆積する。(c) 5i, which is the base of the nitride wire and wiring made of Ni.
02WA is deposited to a thickness of 2 μm by CVD.
基板裏面には250OAのCVD5iOz膜を堆積する
。A CVD5iOz film of 250 OA is deposited on the back surface of the substrate.
(d) 電子ビーム蒸着によりNiを400OA堆積
する。その後フォトリソグラフィによりヒータ線と配線
のパターンを形成する。エツチングにはFeCj :
HO=1:15液を使用した。(d) Deposit 400 OA of Ni by electron beam evaporation. Thereafter, heater wire and wiring patterns are formed by photolithography. FeCj for etching:
A HO=1:15 solution was used.
(e) Niによるし−タ線や配線のパターンを保護
するためにプラズマCVDにより5i02膜を2μIn
堆積し、その後フォトリソグラフィにより5ly2II
Iをエツチングする。(e) A 5i02 film was deposited at 2μIn by plasma CVD to protect the Ni-based interconnection pattern.
5ly2II by depositing and then photolithography
Etching I.
(f) Siをエツチングしてバルブおよびガス流通
溝を形成するため、そのマスクとなる3000Aの5X
02WAをプラズマCvDで堆積しフォトエツチングす
る。その後ヒドラジンによってSlを約310μmエツ
チングし、バルブおよびガス流通溝を形成する。(f) A 3000A 5X mask is used to form valves and gas flow grooves by etching Si.
02WA is deposited by plasma CVD and photoetched. Thereafter, the Sl layer is etched by approximately 310 μm using hydrazine to form valves and gas flow grooves.
ここではしドラジンが異方性エツチング液であるという
性質によってヒータ線下部のSiがエツチングされるよ
うにヒータブリッジの構造を設計しである。Here, the structure of the heater bridge is designed so that the Si under the heater wire is etched due to the property of hydrorazine as an anisotropic etching liquid.
以上の工程により製造されたメサ(6)とダイアフラム
(7)、マイクロヒータ(10)を有するシリコン基板
(4)は、ガス導入口(2)とガス導出口(3)を有す
るバイレックスのガラス基板(1)と気密構造となるよ
うに接合させる。The silicon substrate (4) having the mesa (6), diaphragm (7), and micro-heater (10) manufactured by the above process is made of Vilex glass having a gas inlet (2) and a gas outlet (3). It is bonded to the substrate (1) so as to form an airtight structure.
この気密接合方法としては、従来公知の手法を利用する
ことができるが、好適には陽極接合法を用いることがで
きる。As this airtight bonding method, conventionally known techniques can be used, but preferably an anodic bonding method can be used.
ガラス基板(1)とシリコン基板(4)とを位置合わせ
した後、加熱しながらガラス基板(1)1■がマイナス
となるように一定の電圧を加えて陽極接合を行う、加熱
温度、印加電圧は、たとえば200〜600℃、300
〜100OV程度の範囲とすることかできるが、350
〜400℃、500V程度とすることが好ましい。After aligning the glass substrate (1) and the silicon substrate (4), perform anodic bonding by applying a constant voltage while heating so that the glass substrate (1) becomes negative.Heating temperature and applied voltage For example, 200-600℃, 300℃
It can be in the range of ~100OV, but 350
It is preferable to set the temperature to about 400°C and 500V.
またこの発明には、種々なアクチュエータか使用可能で
あるが、第1図に示したように、ピエゾアクチュエータ
(8)とするのが好ましい。このピエゾアクチュエータ
(8)は、たとえば、断面が、1.4 x3 me2、
長さが9間のものであり、最大直流電圧印加150Vに
よって約8μm変位するものとすることができる。それ
ゆえ、この例では、メサ(6)による弁とパイレックス
のガラス基板(1)との間隔を6μmとなるように設計
している。Although various actuators can be used in this invention, a piezo actuator (8) as shown in FIG. 1 is preferable. This piezo actuator (8) has a cross section of, for example, 1.4 x 3 me2,
The length is 9 mm, and the displacement can be approximately 8 μm when a maximum DC voltage of 150 V is applied. Therefore, in this example, the distance between the valve formed by the mesa (6) and the Pyrex glass substrate (1) is designed to be 6 μm.
第4図は、この発明によって得られた流量コントロール
の結果を例示している。数CG11以下の極tinのガ
スを制御できるマイクロバルブ・マスフローコントロー
ラを実現している。また、この発明のマイクロバルブ・
マスフローコントローラは10〜20isという高速応
答性を有することも確認している。FIG. 4 illustrates the flow control results obtained with the present invention. We have realized a microvalve mass flow controller that can control gases with an extremely small tint of several CG11 or less. In addition, the micro valve of this invention
It has also been confirmed that the mass flow controller has a high-speed response of 10 to 20 is.
第5図は、他の実施例を示した図であり、ノーマリクロ
ーズ型とした例である。第5図(a>は平面図であり、
第5図(b)はそのA−A′断面図であり、第5図(c
)は基本動作を説明した図でる。FIG. 5 is a diagram showing another embodiment, and is an example of a normally closed type. FIG. 5 (a> is a plan view,
FIG. 5(b) is a sectional view taken along line A-A', and FIG. 5(c)
) is a diagram explaining the basic operation.
接合した2枚の基板(13)(14)にメサ(15)を
形成して、ガスの流れを遮断することから、この2枚の
基板(13)(14)としてシリコン基板を用いている
。基本的な構造は第1図に示した例と同様であるが、前
述したように2つのメサ(15)の接触によって形成さ
れるガスケットを利用して弁としており、かつガス導出
口(16)の下部にV清(17)を形成し、第5図(C
)に示したアクチュエータ(18)でダイアフラム(1
9)を押し上げることによりBのガスケット部が開き、
ガスが流入するようになっている。Silicon substrates are used as the two bonded substrates (13) and (14) because a mesa (15) is formed on the two bonded substrates (13) and (14) to block the flow of gas. The basic structure is the same as the example shown in Fig. 1, but as mentioned above, the valve is formed by using a gasket formed by the contact of two mesas (15), and the gas outlet (16) A V clear (17) is formed at the bottom of the Figure 5 (C
) is used to connect the diaphragm (1) with the actuator (18) shown in
By pushing up 9), the gasket part B opens.
Gas is allowed to flow in.
この例では、シリコン−シリコン基板間の気密接合には
、ガスの導入口(20)および導出口(16)を有する
シリコン基板の接合表面にあらかじめ低融点ガラス(2
1)をRFスパヅタで成膜した後、陽極接合法を施す方
法をとっている。In this example, for air-tight bonding between silicon and silicon substrates, a low-melting glass (200 g)
1) is formed using an RF sputtering method, and then anodic bonding is performed.
[発明の効果]
以上のように、この発明は、マイクロマシニング技術に
より作製されたマイクロバルブを用い、かつマイクロヒ
ータを用いたサーマル型のフローセンサを用いることに
より、高感度、高速応答で、かつ、微量ガスを制御する
ことのできる超小型マイクロバルブ・マスフローコント
ローラを実現す[Effects of the Invention] As described above, the present invention achieves high sensitivity, high-speed response, and high sensitivity by using a microvalve manufactured by micromachining technology and a thermal flow sensor using a microheater. , realized an ultra-compact microvalve mass flow controller that can control trace gases.
第1図(a)(b)は、この発明の一例を示した平面図
と断面図である。第2図(a)(b)は、この例のマイ
クロヒータ部について示した拡大平面図と断面図である
。
第3図(a)(b)(c)(d)(e)(f)は、この
例の製造プロセスの一部を順次示した断面図である。
第4図は、印加電圧との相関を示した流量図である。
第5図(a)(b)(c)は、さらに他の例を示した平
面図と断面図である。
1・・・ガラス基板
2・・・ガス導入口
3・・・ガス導出口
4・・・シリコン基板
5・・・ガス流路
6・・・メサ
7・・・ダイアフラム
8・・・ピエゾアクチュエータ
9・・・フローセンサ
10・・・マイクロヒータ
11・・・リード線
12・・・導電性接着剤
13.14・・・基板
15・・・メサ
16・・・ガス導入口
17・・・V涌
18・・・アクチュエータ
19・・・ダイアフラム
20・・・ガス導入口
21・・・低融点ガラス
代理人 弁理士 西 渾 利 夫第1図
(a)
第 2 図
(a)
第 3 区FIGS. 1(a) and 1(b) are a plan view and a sectional view showing an example of the present invention. FIGS. 2(a) and 2(b) are an enlarged plan view and a sectional view of the microheater section of this example. FIGS. 3(a), (b), (c), (d), (e), and (f) are cross-sectional views sequentially showing a part of the manufacturing process of this example. FIG. 4 is a flow chart showing the correlation with applied voltage. FIGS. 5(a), 5(b), and 5(c) are a plan view and a sectional view showing still another example. 1... Glass substrate 2... Gas inlet 3... Gas outlet 4... Silicon substrate 5... Gas flow path 6... Mesa 7... Diaphragm 8... Piezo actuator 9 ...Flow sensor 10...Micro heater 11...Lead wire 12...Conductive adhesive 13.14...Substrate 15...Mesa 16...Gas inlet 17...V tank 18...Actuator 19...Diaphragm 20...Gas inlet 21...Low melting point glass Representative Patent attorney Toshio Nishi Figure 1 (a) Figure 2 (a) Section 3
Claims (6)
リコン基板と、ガス流路と、メサおよびダイアフラムと
を有するシリコン基板を接合して完全気密構造を形成し
、ガスの導入口あるいは導出口の下部にメサとダイアフ
ラムとからなる弁を配し、かつ、ダイアフラムの下部に
ダイアフラムを変形させるアクチュエータを配設してマ
イクロバルブとなし、ガス流路中にマイクロヒータを配
設して流量によるヒータ電流の変化をもとに流量を検知
するサーマル型フローセンサとしてなることを特徴とす
るマイクロバルブ・マスフローコントローラ。(1) A completely airtight structure is formed by bonding a glass or silicon substrate having a gas inlet and an outlet, a silicon substrate having a gas flow path, a mesa, and a diaphragm, and a gas inlet or outlet A valve consisting of a mesa and a diaphragm is placed at the bottom of the diaphragm, and an actuator for deforming the diaphragm is placed at the bottom of the diaphragm to form a microvalve.A microheater is placed in the gas flow path to generate a heater based on the flow rate. A microvalve mass flow controller that functions as a thermal flow sensor that detects flow rate based on changes in current.
記載のマイクロバルブ・マスフローコントローラ。(2) The microvalve mass flow controller according to claim (1), which uses a piezo actuator.
コン基板部に形成した溝部とガス流路部に上下の基板の
局所的接触により形成したガスケットと、ダイアフラム
とにより、ガス開閉弁を形成し、アクチュエータに電圧
を加えない状態ではガスが完全に遮断され、電圧を加え
ることによつて初めてガスが流れるノーマリクローズ型
としたことを特徴とする請求項第(1)項記載のマイク
ロバルブ・マスフローコントローラ。(3) A gas on-off valve is formed by a groove formed in the silicon substrate that contacts the lower part of the gas inlet or outlet, a gasket formed by local contact between the upper and lower substrates in the gas flow path, and a diaphragm. The microvalve according to claim 1, wherein the microvalve is of a normally closed type, in which gas is completely cut off when no voltage is applied to the actuator, and gas flows only when voltage is applied.・Mass flow controller.
により行う請求項第(1)項記載のマイクロバルブ・マ
スフローコントローラの製造法。(4) The method for manufacturing a microvalve mass flow controller according to item (1), wherein the glass substrate and the silicon substrate are bonded by an anodic bonding method.
入出口を有するシリコン基板の接合表面に低融点ガラス
を成膜せしめ、次いで陽極接合することにより行う請求
項第(1)項記載のマイクロバルブ・マスフローコント
ローラの製造法。(5) The microvalve according to item (1), wherein the silicon substrate and the silicon substrate are bonded by forming a film of low melting point glass on the bonding surface of the silicon substrate having a gas introduction outlet, and then performing anodic bonding.・Manufacturing method for mass flow controllers.
熱絶縁した請求項第(1)項記載のマイクロバルブ・マ
スフローコントローラの製造法。(6) The method for manufacturing a microvalve mass flow controller according to item (1), wherein a SiO_2 layer is provided below the microheater for thermal insulation.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63037802A JPH0721736B2 (en) | 1988-02-21 | 1988-02-21 | Micro Valve / Mass Flow Controller |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63037802A JPH0721736B2 (en) | 1988-02-21 | 1988-02-21 | Micro Valve / Mass Flow Controller |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01213523A true JPH01213523A (en) | 1989-08-28 |
JPH0721736B2 JPH0721736B2 (en) | 1995-03-08 |
Family
ID=12507640
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63037802A Expired - Lifetime JPH0721736B2 (en) | 1988-02-21 | 1988-02-21 | Micro Valve / Mass Flow Controller |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0721736B2 (en) |
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