[go: up one dir, main page]

JPH01132004A - 透光性導基板およびその製造方法 - Google Patents

透光性導基板およびその製造方法

Info

Publication number
JPH01132004A
JPH01132004A JP28855987A JP28855987A JPH01132004A JP H01132004 A JPH01132004 A JP H01132004A JP 28855987 A JP28855987 A JP 28855987A JP 28855987 A JP28855987 A JP 28855987A JP H01132004 A JPH01132004 A JP H01132004A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
transparent conductive
substrate
thin film
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28855987A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryuichi Furuno
古野 隆一
Eiji Nishida
西田 英治
Umio Maeda
前田 海夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Soda Co Ltd
Original Assignee
Nippon Soda Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Soda Co Ltd filed Critical Nippon Soda Co Ltd
Priority to JP28855987A priority Critical patent/JPH01132004A/ja
Publication of JPH01132004A publication Critical patent/JPH01132004A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Non-Insulated Conductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、透光性導電基板に係り、さらに詳しくは、透
光性耐熱基板上に、5iO1薄膜および透明導電膜を形
成した表面に凹凸を存する透光性導電基板およびその製
造方法に関する。
本発明の透光性導電基板は、透光性および透過光の散乱
性に優れる導電性基板であり、非晶質シリコン太陽電池
用の電極基板として好適である。
〔従来の技術〕
非晶質シリコン太陽電池の光変換率を向上させることを
目的として、非結晶質シリコン層中の光の経路を延長す
る試みが種々検討されている。
たとえば、透光性導電基板の導電膜の結晶を配向させ、
導電膜表面に凹凸を有するテクスチャーを形成する方法
が、特開昭60−240166号公報に、また、透光性
基板に研磨法またはエツチング法により凹凸を設け、こ
の基板に導電膜を形成する方法が、特開昭60−049
679号公報および昭和60年度サンシャイン計画研究
開発の概況(財団法人日本産業技術振興会、昭和61年
4月)に開示されている。
一方、非晶質シリコン太陽電池用の透光性導電基板のア
ンダーコート用として、アルコキシシラン化合物、水お
よびアルコールを含有する溶液をガラス基板に被覆し、
特定の条件で処理した表面に凹凸を有する5iOt膜が
、特開昭62−3046号公報に開示されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
非晶質シリコン太陽電池の光変換率を向上するためには
、薄い非晶質シリコン半導体層中を通過する光の経路を
如何に長くとるかが一つのポイントとなる。allい非
晶質シリコン半導体層中の光の経路を延長する手段とし
て、前記引用したように透光性導電膜表面、透光性基板
または導電膜のアンダーコート層表面に凹凸を設け、受
光面からの入射光を散乱させる方法が提案された。
しかしながら、前記透光性導電膜表面にテクスチャーを
形成する方法においては、非晶質シリコン半導体層の形
成条件によって最適なテクスチャー構造が異なるため、
サブミクロン・オーダーでテクスチャーをコントロール
する必要があり、目的とする抵抗値、膜厚、光学特性等
を満足する導電膜の成膜条件の最適化は橿めて困難であ
る。
一方、透光性基板表面に研磨法で凹凸を設ける方決では
、均一な凹凸が形成できず、また、ケミカルエツチング
法で凹凸を形成する方法では、1μm以下の凹凸の形成
が可能であるが、テクスチャーとしては不向きな滑らか
な凹凸が形成されるため、何れも有効な方法とは言えな
い。
また、導電膜のアンダーコート層のSiJ膜に凹凸を形
成する方法においては、ガラス基板に5IOt膜形成用
溶液を被覆後の保持条件、たとえば、雰囲気の相対湿度
等によりアルコキシシラン化合物の加水分解速度をコン
トロールして凹凸を形成しているが、これらの条件には
フレキシビリティがほとんどないため、コントロールは
極めて難しく工業的な方法として採用しがたい。
本発明は、光散乱率(ヘイズ率)が大きく、非晶質シリ
コン太陽電池用として好適な透光性導電基板およびその
製造方法を堤供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者等は、前記目的を達成すべく鋭意研究した結果
、アルコキシシラン化合物を主成分とする5iOt薄膜
形薄膜形成物を用いディッピング法により形成したクレ
ータ−状の凹凸を有する5i02アンダーコート膜上に
、透明導電膜を形成した透光性導電基板のヘイズ率が5
0%にも達し、かつ、SiO□薄膜形成用組成物の組成
比を変えることにより、ヘイズ率を1〜50%の範囲で
任意にコントロールできることを見出し、本発明を完成
した。
本発明は、透光性耐熱基板(1)、透光性耐熱基板[1
)の両面または片面に密着した平均径0.05〜5μm
、平均深さ0.03〜0.5μmのクレータ−状の凹凸
を有するSiO□1膜(2)およびSiJ薄膜(2)に
密着した透明導電膜(3)からなることを特徴とする透
光性導電基板である。
本発明を本発明の一実施態様を示す第1図に猫づいて説
明する。
透光性耐熱基板(1)は、可視光範囲の光透過率が大き
く、550℃までの温度で状態変化を起こさない表面が
平滑な基板である。たとえば、ソーダライムガラス基板
、ホウケイ酸ガラス基板、ケイ酸ガラス基板などの電子
素子用に一般に使用されている透光性基板が使用でき、
大量に供給され、安価なソーダライムガラス基板が好ま
しく使用される。
5in2薄膜(2)は、表面に平均径0.05〜5 p
 m、平均深さ0.03〜0.5μmのクレータ−状の
凹凸を存する透明導電膜(3)のアンダーコート膜であ
り、第1図においては、透光性耐熱基板(1)の片面に
密着して設けられているが、両面に設けてもよい。
クレータ−状凹凸の平均径、平均深さおよび平均ピッチ
には特に制限はなく、任意に選択することができる。
5i02Fit膜(2)は、前記透光性耐熱基板(1)
を下記StO□薄膜形成用組成物に浸漬し、一定速度で
引き上げて乾燥した後、250〜500℃に加熱処理す
ることにより、透光性耐熱基板(1)の両面または片面
に密着して形成することができる。
前記5tO1薄膜形成用゛組成物は、成分(alアルコ
キシシランおよび/またはその加水分解縮合物を5iO
tに換算して1〜20重量%含有する有機溶剤溶液に、
成分(bl有機溶剤溶解性高分子物f1〜10重景%お
よび成分(C)前記成分(alと非相溶性で、かつ成分
(81の有機溶剤に溶解性の有機化合物O,OS〜5重
蟹%および所望により添加されるガラス質形成剤などの
添加物を添加、溶解した溶液である。
成分1a+は、一般式:Si(OR)nで表され、式中
のRが、1価の炭化水素基、好ましくは炭素数1〜8の
アルキル基、たとえば、メチル基、エチル基。
イソプロピル基、ノルマルブチル基、ノルマルヘキシル
基、2−エチルヘキシル基等の少な(とも1種であるア
ルコキシシラン、さらに好ましくは、テトラメトキシシ
ラン、テトラエトキシシラン。
テトライソプロポキシシラン、テトラブトキシシランな
どおよび/またはそれらの1種の単独または2種以上の
加水分解縮合物である。
有機溶剤は、前記成分(alを溶解し得るものであり、
たとえば、メタノール、エタノール、イソプロパツール
、ノルマルブタノール等の低級アルコール類、酢酸メチ
ル、酢酸エチル、酢酸プロピル等の酢酸エステル類、ア
セトン、メチルエチルケトン、アセチルアセトン等のケ
トン類およびβ−ジケトン類などの、比較的に低沸点の
有機溶剤の1種の単独または2種以上の混合溶剤が、乾
燥性の点から好ましく使用される。
成分(blは、SiJ薄膜形成用組成物の粘度調整剤で
あり、前記有機溶剤に溶解し溶液粘度を増大させること
のできるの高分子物質であればよく、たとえば、ヒドロ
キシプロピルセルロース(RPC)、ヒドロキンプロピ
ルメチルセルロース(HPMC)、メチルセルロース(
MC)、エチルセルロースなどのセルロース誘導体、ポ
リアクリル酸などの増粘剤として知られた高分子物質が
使用される。これらは1種または2種以上で使用でき、
特にRPCが好ましく使用される。
成分(C1は、前記成分(alと非相溶性で、かつ、前
記有機溶剤に可溶性の有機化合物である。たとえば、フ
タル酸メチル、フタル酸エチル、フタル酸ブチル、フタ
ル酸オクチル等のフタル酸エステル類、アジピン酸ブチ
ル、アジピン酸オクチル、セバシン酸オクチル等の二塩
基酸エステル類、オキシ酸エステル類、脂肪酸エステル
などが挙げられ、これらの1種の単独または2種以上が
使用される。
s + Oz ’il B形成用組成物は、基本的には
、前記成分(at、山)および(C1の有機溶剤溶液で
あるが、所望により各種の添加物を添加することができ
、通常、緻密なSiO□薄膜を形成するためにガラス質
形成剤、たとえば、無機または有機のリン化合物、ホウ
素化合物、スズ化合物、アンチモン化合物、ビスマH3
PO4を添加する。
透光性耐熱基板(1)の両面または片面に形成されるS
iO□薄膜(2)のクレータ−状凹凸の平均径、平均深
さおよび平均ピンチは、前記5iJFj[膜形成用組成
物の成分(e)の種類および添加量、溶剤の揮発速度等
を選択することにより任意にコントロールすることがで
きる。
透明導電膜(3)は、1μm以下の膜厚で透光性および
導電性を有する、好ましくはシート抵抗値が10Ω/ 
s q以下の膜である。たとえば、スズ含有酸化インジ
ウム膜(ITO膜)、フッ素含を酸化スズ膜(FTO膜
)、アンチモン含有酸化スズ膜(ATO膜)、アルミニ
ウム含有酸化亜鉛膜などが挙げられる。透光性に優れ、
比較的に薄い膜厚でも抵抗値の低いITO膜および成膜
条件の選択によりテクスチャを容易に形成できるFTO
@が好ましく採用でき、シート抵抗値が低く、かつ非晶
質シリコン半導体層形成時に起こりゃすい導電膜成分の
半導体層への拡散による特性の劣化を防止できるITO
膜上にFTO膜を積層した複合膜が、さらに好ましく採
用される。
透明導電膜(3)は、前記方法でクレータ−状凹凸を有
する5i02膜(2)を形成した透光性耐熱基板(1)
を400〜550℃に加熱保持し、透明導電膜形成用前
駆体溶液の霧化微粒子を含有するキャリアーガスと接触
させることにより、クレータ−状凹凸を有するSiJ膜
(2)に密着して形成することができる。透明導電膜形
成用前駆体溶液は、透明導電膜中の金属成分を金属種と
する溶剤溶解性の金属化合物または金属化合物間の溶剤
溶解性の反応生成物の?18?aである。溶剤として、
水、低級アルコール類、低級アルキルエステル類、ケト
ン類、ケト酸類、β−ジケトン類およびそれらの2種以
上の混合溶剤が使用でき、特にアセチルアセトンが好ま
しく使用される。透明導電膜形成用前駆体溶液の霧化方
法には、特に制限はないが、均一な粒径の霧化微粒子の
得られ易い超音波霧化法が好ましく採用される。透明導
電膜形成用前駆体溶液の霧化微粒子を、予め加熱保持し
た基板上に搬送するキャリアーガスは、通常、空気を使
用するが、条件により窒素ガス、窒素ガスまたは酸素ガ
スを混合して酸素濃度を制御した空気、酸素ガスなどを
使用する。透明導電膜形成用前駆体溶液の霧化微粒子を
含有するキャリアーガスと基板との接触方法には、特に
制限はないが、均一な膜質および膜厚の透明導電膜の形
成には、透明導電膜形成成分の拡散接触を利用するのが
好ましく、その手法として、基板面とキャリアーガスの
流線とが平行となるようにコントロールして接触させる
方法が好ましく採用される。これらの成膜方法は、パイ
ロゾル・プロセス(PP法)として知られており、透明
it膜(3)の形成方法として好適である。
また、真空蒸着法、スパッタリング法、スプレー法、C
VD法なども透明導電I! (3)の形成方法として採
用できる。
本発明の透光性導電基板の分光光度計を用いて測定した
光学特性は、400〜800nmの可視光領域において
、全可視光透過率(散乱透過重子直線透過率)が80%
以上で、ヘイズ率が50%に達する。またそのヘイズ率
は、530g薄膜の組成の選択により1〜50%の範囲
で制御することができる。さらに、シート抵抗は、透明
導電膜の膜厚および成膜条件の選択により任意にコント
ロールできる。
0作   用〕 本発明の透光性導電基板は、透光性耐熱基板(1)上に
、アンダーコート層としてのクレータ−状凹凸を有する
530g薄膜(2)および透明導電膜(3)を積層して
なることを特徴とする。
また、その製造方法において、5t(ha膜(2)を前
記SiO□fit Ha形成用組成物を用い、ディッピ
ング法により形成することを特徴とする。
本発明の透光性導電基板においては、そのアンダーコー
ト層のクレータ−状凹凸を有するSiO□薄膜(2)を
通過する際に、光が大きく、かつランダムに屈折および
反射し、優れた光散乱性が発現する。
また、透明導電膜(31の最上層がFTO膜である場合
には、テクスチャーの形成も可能であり、−透過光はさ
らに複雑に屈折および反射するため、高いヘイズ率が得
られる。
StOtm膜(2)の形成にあたり、成分ialアルコ
キシシランおよび/またはそ加水分解縮合物の溶液に、
成分(bl高分子物質および(C1前記成分(alに非
相溶性の有機化合物を添加したStO□薄膜形成用組成
吻を用いたことにより、浸漬、引き上げ後の乾燥時に、
溶剤の揮発と共に成分(C1の有機化合物が塗膜中から
塗膜表面に微粒子化して分離し、焼成によりこの有機化
合物の微粒子の抜は後が、クレータ−状凹凸として形成
される。成分(blの高分子物質は、有機化合物微粒子
の凝集を防止すると共に、Sin。
Fj[膜形成用組成物の粘度を調整し、1回のディフビ
ング操作で形成されるSiO□薄膜(2)の膜厚をコン
トロールする。各成分の種類および組成比、特に成分子
clの有機化合物の種類と組成比および溶剤の揮発速度
により、クレータ−状凹凸の大きさ(平均径および深さ
)および密度(平均ピンチ)が制御でき、その結果、ヘ
イズ率の制御された透光性導電基板が得られる。
〔実 施 例〕
本発明を、実施例および比較例により、さらに詳細に説
明する。
ただし、本発明の範囲は、以下の実施例により何等限定
されるものではない。
(1)  クレータ−状凹凸を有するSiOxm膜(2
)の形成fal  S i Oz薄膜形成用組成物の調
製テトラエトキシシラン219g、エタノール643 
g、酢酸206gおよび35%塩酸0.3 gを混合し
、還流条件下に10時間攪拌保持し、SiO2に換算し
た濃度が5.9重量%のテトラエトキシシランの加水分
解線金物と未反応テトラエトキシシランとを含有する溶
液を調製した。
前記調製した溶液863gに、ヒドロキシプロピルセル
ロース(商品名・RPC−H,日本曹達■製)の5重置
%エタノール溶液41.98 gを加えて混合後、H3
PO4の5.38重量%エタノール溶液66.8g(P
□OS換算7.5重量%)を添加して均一に混合した。
ついで、この溶液に、ジオクチルアジペート(DOA)
の含有量が、0.25重昨%、0、5重量%、1重量%
および3重量%の4水準となるように添加、混合して5
IO1薄膜形成用組成物;A−1〜A−4を調製した。
また、比較用のSiO□薄膜形成用組成物:C−1とし
て、テトラエトキシシランを主成分とする市販のSiJ
薄膜形成用組成物(商品名・N5i−500,日本曹達
■製)を準備した。
(bl  SiO□薄膜(2)の形成 前記調製したSing薄膜形成用組成物:A−1〜A−
4および比較用Sing薄膜形成用組成物:C−1のそ
れぞれに、透光性耐熱基板(1)として良く洗浄し、片
面に予めt!fI離テープを張りつけたソーダライムガ
ラス基板(50mmX 100mmx1゜1mm)を浸
漬し、20cm/分の一定速度で引き上げ、大気中に放
置して乾燥した。剥離テープを剥離した後、電気炉中で
170℃に10分間保持して予備加熱し、さらに昇温し
で500℃に30分間加熱して焼成し、透光性耐熱基板
(1)の片面に540g薄膜(2)を形成した。
+21  透明導電膜(3)の形成 (al  透明導電膜形成用前駆体溶液有機インジウム
化合物のアセチルアセトン溶液にジブチルチンジアセテ
ートを溶解し、Sn/In(原子比)が0.05で、[
nz02に換算した濃度が2.78重景%のITO膜形
成用前駆体溶液を調製した。
また、四塩化スズのメタノール溶液にフン化アンモニウ
ムを溶解し、F/Sn(原子比)が、0.05で、Sn
Oよに換算した濃度が6重量%のFTO膜形成用前駆体
溶液を調製した。
t) 透明導電膜(3)の形成 コンベアー炉の中央部に、キャリアーガス導入部を存す
るPP法薄膜形成装置を用い、超音波霧化器に前記調製
した透明R電膜形成前駆体溶液を仕込み、0.87JI
 Hzの超音波振動を発生させて霧化微粒子化し、キャ
リアーガス中に分散させ、PP法薄膜形成装置に導入し
た。一方、前記第(2)項で5iO1薄膜(2)を形成
した透光性耐熱基板(1)を、コンベアーに乗せて炉内
に送り込み、400〜550℃に加熱して、前記炉内に
導入した透明導電膜形成前駆体溶液の霧化微粒子を含有
するキャリアーガスと接触させ、S i Ot * W
i (2+上にITO膜またはFTO膜を、有する透光
性導電基板を作製した。
また、ITO膜を形成した基板上に、同様な操作でFT
O膜を形成し、s+ozFJ膜(2)上にITO膜/F
TO膜の2層膜を有する透光性導電基板を作製した。
(4)  ヘイズ率 自記分光光度計を用い、前項で作製した透光性導電基板
の光i3過率を測定し、下記式によりヘイズ率:H(%
)を算出した。
y T1 : 分光全透過率 T、: 分光直vAi3過率 算出したヘイズ率を、第1表に示す。
また、実施例番号10で作製した透光性導電基板の30
0〜s o o n’m域における分光透過曲線および
ヘイズ率を、第2図に示す。
〔発明の効果〕
前記実施例結果の第1表に示したように、市販の5iO
z薄膜形成用組成物を用いてSiJ薄膜(2)を形成し
、その上に透明導電膜(3)を形成した比較例の透光性
導電基板においては、透明導電■々(3)を成膜条件を
厳しくコントロールしてテクスチャーを形成したFTO
膜とした場合でも、?イズ率は2%と瓶めて低く、非晶
質シリコン太陽電池用の透光性導電基板として有効なヘ
イズ率が得られない。
これに対し、本発明の透光性導電基板は、クレータ−状
凹凸を有する5iOz薄膜(2)上に透明導電膜(3)
を有するため、極めて高いヘイズ率を有しており、非晶
質シリコン太陽電池の電極用として好適である。また、
SiO□薄膜形成用組成物の成分(C1の有機化合物の
添加量を変えるだけで、SiO2薄膜(2)のクレータ
−状凹凸の平均径、平均深さおよび平均密度がコントロ
ールされ、その結果、透明導電膜の成膜条件をシビアに
制御しなくても任意のヘイズ率を有する透光性導電基板
を製造することができる。
この透光性導電基板の電気特性は、実施例には示さなか
ったが、透明導電膜(3)の選択もしくは膜特性をコン
トロールすることにより、任意に調整することができる
本発明は、非晶質シリコン太陽電池の電極用として好適
なヘイズ率を有する透光性導電基板およびその製造方法
を提供するものであり、その産業的意義は極めて大きい
【図面の簡単な説明】
第1図 本発明の透光性導電基板の断面模式図〔使用符
号〕 (1)  透光性耐熱基板 (2)  クレータ−状凹凸を有するStO□膜[3)
  透明轟電膜 (3a)   T To膜層 (3b>  FTO膜層 第2図 実施例番号10で作製した透光性導電基板の分
光透過率曲線およびヘイズ曲線〔使用符号〕 (al  分光全通過率  (′b)  分光直線透過
率(C1ヘイズ率 特許出願人 (430)日本曹達株式会社代  理  
人   (7125)  横  山  吉  美z面の
浄ご 第1図 第2図 光波長 (λ)nm 手続補正書 昭和63年/月72日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 透光性耐熱基板(1)、透光性耐熱基板(1)の両
    面または片面に密着した平均径0.05〜5μm、平均
    深さ0.03〜0.5μmのクレーター状の凹凸を有す
    るSiO_2薄膜(2)およびSiO_2薄膜(2)に
    密着した透明導電膜(3)からなることを特徴とする透
    光性導電基板 2 透明導電膜(3)が、スズ含有酸化インジウム膜(
    ITO膜)からなる特許請求の範囲第1項記載の透光性
    導電基板 3 透明導電膜(3)が、フッ素含有酸化スズ膜(FT
    O膜)からなる特許請求の範囲第1項記載の透光性導電
    基板 4 透明導電膜(3)が、SiO_2薄膜(2)に密着
    したITO膜(3a)およびITO膜(3a)に密着し
    たFTO膜(3b)からなる特許請求の範囲第1項記載
    の透光性導電基板 5 成分(a)SiO_2に換算した濃度が1〜20重
    量%のアルコキシシランおよび/またはその加水分解縮
    合物の有機溶剤溶液に、成分(b)1〜10重量%の有
    機溶剤溶解性の高分子物質および成分(c)0.05〜
    5重量%の前記成分(a)と非相溶性で、かつ成分(a
    )の溶剤に溶解性の有機化合物を添加溶解した溶液に、
    透光性耐熱基板(1)を浸漬して一定速度で引き上げ、
    乾燥後250〜500℃の温度で加熱焼成して透光性耐
    熱基板(1)の両面または片面にクレーター状凹凸を有
    するSiO_2薄膜(2)を形成し、ついで、このSi
    O_2薄膜(2)を有する透光性耐熱基板(1)を40
    0〜550℃に加熱保持し、透明導電膜(3)形成用前
    駆体溶液の霧化微粒子を含有するキャリアーガスと接触
    させることを特徴とする透光性導電基板の製造方法 6 成分(b)の高分子物質が、ヒドロキシプロピルセ
    ルロース(HPC)である特許請求の範囲第5項記載の
    透光性導電基板の製造方法 7 透明導電膜(3)形成用前駆体溶液の霧化を、超音
    波霧化法により行う特許請求の範囲第5項記載の透光性
    導電基板の製造方法
JP28855987A 1987-11-17 1987-11-17 透光性導基板およびその製造方法 Pending JPH01132004A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28855987A JPH01132004A (ja) 1987-11-17 1987-11-17 透光性導基板およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28855987A JPH01132004A (ja) 1987-11-17 1987-11-17 透光性導基板およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01132004A true JPH01132004A (ja) 1989-05-24

Family

ID=17731819

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28855987A Pending JPH01132004A (ja) 1987-11-17 1987-11-17 透光性導基板およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01132004A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001016963A1 (fr) * 1999-08-31 2001-03-08 Teijin Limited Corps conducteur transparent multicouches et ecran tactile comprenant ce dernier
WO2003036657A1 (en) * 2001-10-19 2003-05-01 Asahi Glass Company, Limited Substrate with transparent conductive oxide film and production method therefor, and photoelectric conversion element
JP2005310745A (ja) * 2004-03-23 2005-11-04 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 電極
JP2008218191A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Kaneka Corp 透明導電膜付き基板および透明導電膜付き基板の製造方法
WO2009157175A1 (ja) * 2008-06-24 2009-12-30 パナソニック電工株式会社 色素増感太陽電池
WO2009157177A1 (ja) * 2008-06-24 2009-12-30 日本曹達株式会社 Fto/ito積層体を有する透明導電膜
WO2010090142A1 (ja) * 2009-02-03 2010-08-12 株式会社カネカ 透明導電膜付き基板および薄膜光電変換装置
US8133807B2 (en) 2002-02-26 2012-03-13 Fujikura Ltd. Substrate for transparent electrodes
JPWO2013022032A1 (ja) * 2011-08-10 2015-03-05 日本曹達株式会社 積層体およびそれの製造方法

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001016963A1 (fr) * 1999-08-31 2001-03-08 Teijin Limited Corps conducteur transparent multicouches et ecran tactile comprenant ce dernier
US6689458B1 (en) 1999-08-31 2004-02-10 Teijin Limited Transparent conductive laminate and touch panel using the same
KR100727796B1 (ko) * 1999-08-31 2007-06-14 데이진 가부시키가이샤 투명 전기 전도성 적층체 및 이를 사용하는 터치 패널
WO2003036657A1 (en) * 2001-10-19 2003-05-01 Asahi Glass Company, Limited Substrate with transparent conductive oxide film and production method therefor, and photoelectric conversion element
US7179527B2 (en) 2001-10-19 2007-02-20 Asahi Glass Company, Limited Substrate with transparent conductive oxide film, process for its production and photoelectric conversion element
US7364808B2 (en) 2001-10-19 2008-04-29 Asahi Glass Company, Limited Substrate with transparent conductive oxide film, process for its production and photoelectric conversion element
US7883789B2 (en) 2001-10-19 2011-02-08 Asahi Glass Company, Limited Substrate with transparent conductive oxide film, process for its production and photoelectric conversion element
US8133807B2 (en) 2002-02-26 2012-03-13 Fujikura Ltd. Substrate for transparent electrodes
JP2005310745A (ja) * 2004-03-23 2005-11-04 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 電極
JP2008218191A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Kaneka Corp 透明導電膜付き基板および透明導電膜付き基板の製造方法
WO2009157177A1 (ja) * 2008-06-24 2009-12-30 日本曹達株式会社 Fto/ito積層体を有する透明導電膜
WO2009157175A1 (ja) * 2008-06-24 2009-12-30 パナソニック電工株式会社 色素増感太陽電池
KR101246983B1 (ko) * 2008-06-24 2013-03-25 닛뽕소다 가부시키가이샤 색소 증감 태양 전지
US8962982B2 (en) 2008-06-24 2015-02-24 Nippon Soda Co., Ltd. Dye-sensitized solar cell
WO2010090142A1 (ja) * 2009-02-03 2010-08-12 株式会社カネカ 透明導電膜付き基板および薄膜光電変換装置
JP5559704B2 (ja) * 2009-02-03 2014-07-23 株式会社カネカ 透明導電膜付き基板の製造方法ならびに多接合型薄膜光電変換装置および発光素子の製造方法
JPWO2010090142A1 (ja) * 2009-02-03 2012-08-09 株式会社カネカ 透明導電膜付き基板および薄膜光電変換装置
JPWO2013022032A1 (ja) * 2011-08-10 2015-03-05 日本曹達株式会社 積層体およびそれの製造方法
US9338884B2 (en) 2011-08-10 2016-05-10 Nippon Soda Co., Ltd. Laminated body and manufacturing process therefor
JP2017022118A (ja) * 2011-08-10 2017-01-26 日本曹達株式会社 積層体およびそれの製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9221976B2 (en) Antireflective coatings with self-cleaning, moisture resistance and antimicrobial properties
CN101523511B (zh) 电极形成用组合物以及使用该组合物的电极的形成方法
WO2019001026A1 (zh) 一种金属氧化物纳米颗粒薄膜的制备方法及电学器件
JPH01132004A (ja) 透光性導基板およびその製造方法
JPH064497B2 (ja) 酸化錫膜の形成方法
JPH09169545A (ja) 酸化アンチモンドープした酸化スズからなる透過率を低下する層をガラスおよびガラスセラミックに熱分解的に製造する方法、およびそのための配合物
JP2858821B2 (ja) 反射防止膜とその製法並びに画像表示面板
JPH0769679A (ja) ガラス−、ガラスセラミック−又はエナメル表面上に導電性の赤外線反射層を製造する方法
JP2000248366A (ja) 導電性金属酸化物に基づく層
JPH06136162A (ja) 金属酸化物薄膜の形成方法
JP2005330172A (ja) ガラス板およびその製造方法、低反射性透明ガラス板、低反射性透明導電基板およびその製造方法、ならびに、低反射性透明導電基板を用いた光電変換素子
JPH0260397B2 (ja)
WO2001047033A1 (en) Photoelectric transducer and substrate for photoelectric transducer
US20040251448A1 (en) Colloidal solution comprising silver metal particles and a silane derivative
KR100378019B1 (ko) 투명 도전막의 보호막 형성용 조성물 및 이로부터 투명도전막을 제조하는 방법
JPH09198926A (ja) 導電性を備えたポリマー組成物及びその製造方法
JPH0233075B2 (ja)
JPH05323102A (ja) 反射−帯電防止膜およびその製造方法
JP3135679B2 (ja) 紫外線遮蔽膜形成用溶液およびこれを用いた紫外線遮蔽膜の製造方法
JPH0121107B2 (ja)
JPH09156963A (ja) 熱線遮蔽膜用塗布液及びこれを用いた熱線遮蔽膜
KR20020080542A (ko) 투명 도전막의 보호막 형성용 조성물 및 이로부터제조되는 투명 도전막
JPH1087344A (ja) 分相化透明導電膜及びその製造方法
JP2004039269A (ja) 透明導電膜付基体の製造方法
JPS61294703A (ja) 光透過性導電膜およびその製造方法