JP7718429B2 - 指標選択装置、情報処理装置、情報処理システム、検査装置、検査システム、指標選択方法、および指標選択プログラム - Google Patents
指標選択装置、情報処理装置、情報処理システム、検査装置、検査システム、指標選択方法、および指標選択プログラムInfo
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Description
情報処理装置100は、複数の入力画像と、これらの入力画像に対応する複数の参照画像とに基づいて、複数の指標パラメーター(指標)による異常スコアを算出し、異常スコアに応じて複数の指標パラメーターのうちのいずれか1つを選択する指標選択装置として機能する。入力画像は、良品(正常な検査対象)または不良品(欠陥等の異常を含む検査対象)のラベルが付けられており、指標パラメーターを学習(深層学習または機械学習)することにより、良品と不良品とを分離するのに有効な指標パラメーターが選択される。指標パラメーターは、例えば、入力画像および再構成画像の色の属性である色相(Hue)、彩度(Saturation)、濃度、オブジェクトの形状、大きさ等を各々単独、あるいはそれらを組み合わせとして設定されうる。異常スコアの算出方法の詳細については後述する。
上述のように、本実施形態では、色相、彩度を指標パラメーターとして使用しうる。これにより、例えば、検出対象が、輝度値のみでは検出することが困難な微細な色の変化を含む欠陥を有する場合であっても、欠陥領域を検出できる。
図6は情報処理装置100が情報処理装置として機能する場合における制御部110の主要な機能を例示する機能ブロック図である。また、図7は図6に示す制御部110の機能を例示する概略ブロック図であり、図8は図7に示すスコア算出部330の機能を例示する機能ブロック図である。
図9は、情報処理装置が検査装置として機能する場合における制御部の主要な機能を例示する機能ブロック図である。制御部110は、画像取得部310、画像再構成部320、およびスコア算出部330に加えて、判定部340を有する。
図10は、本実施形態の指標選択方法の処理手順を例示するフローチャートである。図10のフローチャートの処理は、CPU111が指標選択プログラムを実行することにより実現される。
図11は、本実施形態の検査方法の処理手順を例示するフローチャートである。図11のフローチャートの処理は、CPU111が検査プログラムを実行することにより実現される。また、図12は、過検出の防止について説明するための模式図である。
110 制御部、
111 CPU、
112 RAM、
113 ROM、
114 補助記憶部、
120 通信部、
130 操作表示部、
210 画像取得部、
220 画像再構成部、
221 エンコーダー、
222 デコーダー、
230 スコア算出部、
240 指標選択部、
310 画像取得部、
320 画像再構成部、
321 エンコーダー、
322 デコーダー、
330 スコア算出部、
331 演算処理部、
340 判定部。
Claims (15)
- 複数の良品の入力データを用いて学習した生成モデルにより、前記入力データに基づいて、前記入力データに対応する再構成データを生成するデータ再構成部と、
良品および不良品の複数の入力データと、複数の前記再構成データと、に基づいて、複数の指標による良品および不良品の異常スコアを算出するスコア算出部と、
前記良品および不良品の異常スコアに応じて、前記複数の指標のうちのいずれか1つを選択する指標選択部と、を有する、指標選択装置。 - 前記異常スコアは、良品および不良品の各々について、前記入力データを用いて前記指標を算出した結果と、前記再構成データを用いて前記指標を算出した結果との差分である、請求項1に記載の指標選択装置。
- 前記指標選択部は、前記複数の入力データおよび前記複数の再構成データに対する、前記良品の異常スコアの分布と前記不良品の異常スコアの分布との差異が最も大きくなる指標を選択する、請求項1または2に記載の指標選択装置。
- 前記指標選択部は、
良品および不良品の複数の入力データの特徴量を説明変数とし、前記良品の異常スコアの分布と前記不良品の異常スコアの分布との差異を目的変数として、前記差異が最も大きくなるように学習された学習済みモデルを使用して、前記複数の指標のうちのいずれか1つを選択する、請求項1~3のいずれか1項に記載の指標選択装置。 - 前記入力データは、カラーの画像データであり、
前記スコア算出部は、前記指標として色相、および/または彩度による異常スコアを算出する、請求項1~4のいずれか1項に記載の指標選択装置。 - 入力データを取得する入力データ取得部と、
前記入力データ取得部によって取得された入力データと、前記入力データに対応する再構成データと、請求項1~5のいずれか1項に記載の指標選択装置によって選択された指標と、に基づいて異常スコアを算出するスコア算出部を有する、情報処理装置。 - 請求項6に記載の情報処理装置の出力した異常スコアに基づいて、良品または不良品の判定を行う判定部を有する検査装置。
- 請求項6に記載の情報処理装置と、
前記スコア算出部による異常スコアを表示する表示装置と、を有する情報処理システム。 - 請求項7に記載の検査装置と、
前記判定部による判定結果を表示する表示装置と、を有する検査システム。 - 複数の良品の入力データを用いて学習した生成モデルにより、前記入力データに基づいて、前記入力データに対応する再構成データを生成するステップ(a)と、
良品および不良品の複数の入力データと、複数の前記再構成データと、に基づいて複数の指標による良品および不良品の異常スコアを算出するステップ(b)と、
前記良品および不良品の異常スコアに応じて、前記複数の指標のうちのいずれか1つを選択するステップ(c)と、を有する、指標選択方法。 - 前記異常スコアは、良品および不良品の各々について、前記入力データを用いて前記指標を算出した結果と、前記再構成データを用いて前記指標を算出した結果との差分である、請求項10に記載の指標選択方法。
- 前記ステップ(c)において、前記複数の入力データおよび前記複数の再構成データに対する、前記良品の異常スコアの分布と前記不良品の異常スコアの分布との差異が最も大きくなる指標を選択する、請求項10または11に記載の指標選択方法。
- 前記ステップ(c)において、良品および不良品の複数の入力データの特徴量を説明変数とし、前記良品の異常スコアの分布と前記不良品の異常スコアの分布との差異を目的変数として、前記差異が最も大きくなるように学習された学習済みモデルを使用して、前記複数の指標のうちのいずれか1つを選択する、請求項10~12のいずれか1項に記載の指標選択方法。
- 前記入力データは、カラーの画像データであり、
前記ステップ(b)において、前記指標として色相、および/または彩度による異常スコアを算出する、請求項10~13のいずれか1項に記載の指標選択方法。 - 請求項10~14のいずれか1項に記載の指標選択方法が含む処理をコンピューターに実行させるための指標選択プログラム。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020208476 | 2020-12-16 | ||
| JP2020208476 | 2020-12-16 | ||
| PCT/JP2021/040525 WO2022130814A1 (ja) | 2020-12-16 | 2021-11-04 | 指標選択装置、情報処理装置、情報処理システム、検査装置、検査システム、指標選択方法、および指標選択プログラム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2022130814A1 JPWO2022130814A1 (ja) | 2022-06-23 |
| JP7718429B2 true JP7718429B2 (ja) | 2025-08-05 |
Family
ID=82057553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022569759A Active JP7718429B2 (ja) | 2020-12-16 | 2021-11-04 | 指標選択装置、情報処理装置、情報処理システム、検査装置、検査システム、指標選択方法、および指標選択プログラム |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20240005477A1 (ja) |
| JP (1) | JP7718429B2 (ja) |
| WO (1) | WO2022130814A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7699978B2 (ja) * | 2021-07-01 | 2025-06-30 | 株式会社日立製作所 | 計算機及び外観検査方法 |
| CN117099125A (zh) * | 2021-12-03 | 2023-11-21 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 一种基于对比表征蒸馏的快速异常检测方法和系统 |
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| JP2020187655A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置 |
| JP2020197797A (ja) | 2019-05-31 | 2020-12-10 | 株式会社東芝 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2021
- 2021-11-04 WO PCT/JP2021/040525 patent/WO2022130814A1/ja not_active Ceased
- 2021-11-04 JP JP2022569759A patent/JP7718429B2/ja active Active
- 2021-11-04 US US18/037,820 patent/US20240005477A1/en active Pending
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20240005477A1 (en) | 2024-01-04 |
| JPWO2022130814A1 (ja) | 2022-06-23 |
| WO2022130814A1 (ja) | 2022-06-23 |
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