JP7499327B2 - スパッタ堆積装置及び方法 - Google Patents
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Description
Claims (23)
- スパッタ堆積装置であって、
スパッタ堆積領域内でターゲット材料をスパッタ堆積するためのプラズマを供給するように配置される遠隔プラズマ生成配列と、
スパッタ堆積領域にプラズマを実質的に閉じ込める閉じ込め磁場を供給するように配置される閉じ込め配列と、
スパッタ堆積領域内で供給される基板と、
基板上にターゲット材料のスパッタ堆積をもたらすために、一以上のターゲットと基板の間で、介在要素なしで、スパッタ堆積領域で一以上のターゲットを支持するように配置される一以上のターゲット支持アセンブリと、を備え、
使用中に、
基板上に第一の領域としてターゲット材料を堆積させ、
基板上に第二の領域としてターゲット材料を堆積させ、
第一の領域と第二の領域の間に、ターゲット材料の混合物を含む中間領域を堆積させるように、閉じ込め配列が遠隔プラズマをターゲット支持アセンブリに閉じ込め、
さらにコンベアシステムが、スパッタ堆積領域の第一サイドからスパッタ堆積領域の第二サイドまで基板を運搬するように配置され、
一以上のターゲット支持アセンブリが、少なくとも第一のターゲットを支持するように配置される第一のターゲット支持アセンブリ、及び少なくとも第二のターゲットを支持するように配置される第二のターゲット支持アセンブリを備え、
第一のターゲット支持アセンブリと第二のターゲットアセンブリの間に、スパッタ堆積領域の第一サイドからスパッタ堆積領域の第二サイドまで延びる隙間があり、
コンベアシステムが、湾曲部材を備え、
一以上のターゲット支持アセンブリが、湾曲部材の少なくとも一部の曲率に実質的に従う一以上のターゲットを支持するように配置される、スパッタ堆積装置。 - 隙間が運搬方向に沿って細長いこと、
第一のターゲット支持アセンブリが運搬方向に沿って細長いこと、又は
第二のターゲット支持アセンブリが運搬方向に沿って細長いこと、のうち少なくとも一つを満たす、請求項1に記載のスパッタ堆積装置。 - コンベアシステムが、堆積領域を通って堆積領域の第一の位置から堆積領域の第二の位置まで基板を運搬するように配置され、
第一の位置において、第二の部分への堆積が第一のターゲットによるものであって、第二のターゲットによるものでなく、第二の位置において、第二の部分への堆積が第二のターゲットによるものであって、第一のターゲットによるものでないように、一以上のターゲット支持アセンブリが第一のターゲット及び第二のターゲットを支持するよう配置される、請求項1に記載のスパッタ堆積装置。 - スパッタ堆積領域内で実質的に運搬方向の平面内であるが、運搬方向に垂直な軸に沿って第二のターゲットが第一のターゲットからずれるように、一以上のターゲット支持アセンブリが第一のターゲット及び第二のターゲットを支持するよう配置される、請求項1に記載のスパッタ堆積装置。
- 軸が第一の軸であり、
スパッタ堆積領域内で運搬方向に沿って第二のターゲットが第一のターゲットからずれるように、一以上のターゲット支持アセンブリが第一のターゲット及び第二のターゲットを支持するよう配置される、請求項4に記載のスパッタ堆積装置。 - 第一のターゲット及び第二のターゲットのうち少なくとも一つが運搬方向に対して斜角となるように、一以上のターゲット支持アセンブリが第一のターゲット及び第二のターゲットを支持するよう配置される、請求項1から5のいずれか一項に記載のスパッタ堆積装置。
- 第一のターゲットに関係する第一のターゲット磁性素子及び第二のターゲットに関係する第二のターゲット磁性素子を備える、請求項1から6のいずれか一項に記載のスパッタ堆積装置。
- 第一のターゲットの材料のスパッタ堆積を制御する第一のターゲット磁性素子により供給される第一の磁場、又は
第二のターゲットの材料のスパッタ堆積を制御する第二のターゲット磁性素子により供給される第二の磁場、のうち少なくとも一つを制御するように配置されるコントローラーを備える、請求項7に記載のスパッタ堆積装置。 - 一以上のターゲット支持アセンブリが、
第一のターゲット磁性素子とコンベアシステムの間の第一のターゲット、又は
第二のターゲット磁性素子とコンベアシステムの間の第二のターゲット、のうち少なくとも一つを支持するように配置される、請求項7又は請求項8に記載のスパッタ堆積装置。 - 第一のターゲットの材料が第二のターゲットの材料と異なる、請求項1から9のいずれか一項に記載のスパッタ堆積装置。
- プラズマ生成装置が、運搬方向に沿って細長い一以上の細長いアンテナを備える、請求項1から10のいずれか一項に記載のスパッタ堆積装置。
- コンベアシステムが、湾曲経路に沿って基板を運搬するように配置され、
一以上の細長いアンテナが、湾曲経路の湾曲と同一の方向に曲げられている、請求項11に記載のスパッタ堆積装置。 - ターゲット材料のスパッタ堆積をもたらすために、スパッタ堆積領域にプラズマを実質的に閉じ込める閉じ込め磁場を供給するように配置される閉じ込め配列を備え、
閉じ込め配列が、運搬方向に沿って細長い少なくとも一つの閉じ込め磁性素子を備える、請求項1から12のいずれか一項に記載のスパッタ堆積装置。 - 閉じ込め配列が、運搬方向に実質的に垂直な方向に細長いさらなる少なくとも一つの閉じ込め磁性素子を備える、請求項13に記載のスパッタ堆積装置。
- コンベアシステムが、運搬方向に基板を運搬するように配置されるローラーを備え、
運搬方向が、ローラーの回転軸に実質的に垂直である、請求項1から14のいずれか一項に記載のスパッタ堆積装置。 - コンベアシステムに面する一以上のターゲットのうち少なくとも一つの表面が湾曲している、請求項1から15のいずれか一項に記載のスパッタ堆積装置。
- 基板上にターゲット材料をスパッタ堆積する方法であって、該方法が、
スパッタ堆積領域内でプラズマをもたらすことと、
スパッタ堆積領域を通って基板が運搬されるとき、
基板の第一の部分上に第一の領域を堆積させ、
基板の第二の部分上に第二の領域を堆積させ、
第一の領域と第二の領域の間に、ターゲット材料の混合物を含む中間領域を堆積させるように、スパッタ堆積領域に対する一以上のターゲットの位置で、基板上にターゲット材料のスパッタ堆積をもたらすように、スパッタ堆積領域を通って運搬方向に基板を運搬することと、を含み、
基板を運搬することが、
運搬方向に沿って第一の長さを有するターゲットの第一の部分に実質的に重なるスパッタ堆積領域の第一の領域内で、基板の第一の部分を運搬することと、
運搬方向に沿って第二の長さを有するターゲットの第二の部分に実質的に重なるスパッタ堆積領域の第二の領域内で、基板の第二の部分を運搬することと、を含み、
第一の長さが第二の長さと異なり、
一以上のターゲットと基板の間で、介在要素なしで基板上にターゲット材料をスパッタ堆積する方法。 - 基板を運搬することが、
第一のターゲットに実質的に重なるスパッタ堆積領域の第一の領域内で、基板の第一の部分を運搬することと、
第一のターゲットと第二のターゲットの間の隙間に実質的に重なるスパッタ堆積領域の第二の領域内で、基板の第二の部分を運搬することと、
第二のターゲットに実質的に重なるスパッタ堆積領域の第三の領域内で、基板の第三の部分を運搬することと、を含む、請求項17に記載の方法。 - 基板の第一の部分上に第一の領域として第一のターゲットの材料をスパッタ堆積すること、及び基板の第二の部分上に第二の領域として第二のターゲットの材料をスパッタ堆積することを含み、
第二の縞が、第一の領域内より低い密度の第一のターゲットの材料及び第二の領域内より低い密度の第二のターゲットの材料を含むか、
第二の縞に、第一のターゲットの材料及び第二のターゲットの材料が実質的にないか、の少なくともいずれかである、請求項18に記載の方法。 - 基板を運搬することが、
第一のターゲットに実質的に重なるスパッタ堆積領域の第一の領域内で、基板の第二の部分を運搬することと、
続いて、第二のターゲットに実質的に重なるスパッタ堆積領域の第二の領域内で、基板の第二の部分を運搬することと、を含む、請求項17に記載の方法。 - 第一のターゲットの材料と第二のターゲットの材料の組み合わせを、基板の第二の部分上に第二の領域としてスパッタ堆積することを含む、請求項20に記載の方法。
- 第一のターゲットが運搬方向に沿って細長く、
方法が、プラズマの一部が運搬方向に沿って細長くなるようにプラズマの一部を実質的に閉じ込めることを含む、請求項17から21のいずれか一項に記載の方法。 - 基板を運搬する間、第一のターゲットに関係する第一の磁場及び第二のターゲットに関係する第二の磁場を生成させることを含み、
第一の磁場が、第二の磁場と異なる、請求項17から22のいずれか一項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB1916625.5A GB2588938B (en) | 2019-11-15 | 2019-11-15 | Sputter deposition |
GB1916625.5 | 2019-11-15 | ||
PCT/GB2020/052845 WO2021094728A1 (en) | 2019-11-15 | 2020-11-10 | Sputter deposition apparatus and method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023502642A JP2023502642A (ja) | 2023-01-25 |
JP7499327B2 true JP7499327B2 (ja) | 2024-06-13 |
Family
ID=69063242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022528193A Active JP7499327B2 (ja) | 2019-11-15 | 2020-11-10 | スパッタ堆積装置及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20220389564A1 (ja) |
JP (1) | JP7499327B2 (ja) |
KR (1) | KR20220097950A (ja) |
CN (1) | CN114946010A (ja) |
GB (1) | GB2588938B (ja) |
WO (1) | WO2021094728A1 (ja) |
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2019
- 2019-11-15 GB GB1916625.5A patent/GB2588938B/en active Active
-
2020
- 2020-11-10 KR KR1020227018923A patent/KR20220097950A/ko active Pending
- 2020-11-10 JP JP2022528193A patent/JP7499327B2/ja active Active
- 2020-11-10 CN CN202080092671.9A patent/CN114946010A/zh active Pending
- 2020-11-10 US US17/774,443 patent/US20220389564A1/en active Pending
- 2020-11-10 WO PCT/GB2020/052845 patent/WO2021094728A1/en active Application Filing
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2021094728A1 (en) | 2021-05-20 |
GB2588938A (en) | 2021-05-19 |
JP2023502642A (ja) | 2023-01-25 |
US20220389564A1 (en) | 2022-12-08 |
KR20220097950A (ko) | 2022-07-08 |
GB2588938B (en) | 2024-07-24 |
GB201916625D0 (en) | 2020-01-01 |
CN114946010A (zh) | 2022-08-26 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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