JP7485594B2 - フラックス入りワイヤ及びガスシールドアーク溶接方法 - Google Patents
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Description
ところで、上記のような溶接構造物を建造する場合に、溶接施工後に応力除去を目的とした溶接後熱処理(PWHT:Post Weld Heat Treatment)が施される場合がある。
したがって、NACE MR0175で規定される溶接金属中のNi含有量を満足するとともに、PWHT後の強度及び低温での靱性が優れた溶接金属を得ることができるフラックス入りワイヤへの要求が高くなっている。
[1] 鋼製外皮にフラックスが充填されたフラックス入りワイヤであって、
ワイヤ全質量に対して、
C:0.026質量%以上0.060質量%以下、
Si:0質量%超0.50質量%以下、
Mn:1.3質量%以上2.8質量%以下、
Cu:0.20質量%以上1.50質量%以下、
Ni:0.45質量%以上1.00質量%以下、
Mo:0.15質量%以上0.65質量%以下、
Mg:0.30質量%以上0.65質量%以下、及び
B:0.001質量%以上0.010質量%以下、を含有し、
Cr:0.10質量%以下、及び
Al:0.10質量%以下、であるとともに、
ワイヤ中のNb含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Nb]と表し、
ワイヤ中のV含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[V]と表す場合に、
[Nb]+[V]:0.015以下であることを特徴とするフラックス入りワイヤ。
[2] ワイヤ中のCu含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Cu]と表し、
ワイヤ中のNi含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Ni]と表し、
ワイヤ中のMo含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Mo]と表し、
ワイヤ中のMn含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Mn]と表し、
ワイヤ中のSi含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Si]と表し、
ワイヤ中のCr含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Cr]と表す場合に、
([Cu]+[Ni]+[Mo])/([Mn]+[Si]+[Cr]+10([Nb]+[V])):0.55以上0.90以下であることを特徴とする、[1]に記載のフラックス入りワイヤ。
ワイヤ中のMo含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Mo]と表す場合に、
[Cu]/[Mo]:0.5以上5.0以下であることを特徴とする、[1]又は[2]に記載のフラックス入りワイヤ。
ワイヤ中のC含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[C]Bと表す場合に、
[C]O/[C]B:0.37以下であることを特徴とする、[1]~[3]のいずれか1つに記載のフラックス入りワイヤ。
ワイヤ全質量に対して、
Ti:3.3質量%以上6.0質量%以下、
Zr:0.25質量%以下、
F:0.05質量%以上0.30質量%以下、及び
NaとKとの総量:0.10質量%以上0.30質量%以下、の範囲で含有することを特徴とする、[1]~[4]のいずれか1つに記載のフラックス入りワイヤ。
[6] [1]~[5]のいずれか1つに記載のフラックス入りワイヤを用いてガスシールドアーク溶接することを特徴とするガスシールドアーク溶接方法。
さらに、上記各元素は、特筆しない限り、金属の形態でフラックス入りワイヤ中に含有されていても、化合物の形態でフラックス入りワイヤ中に含有されていてもよく、また、金属及び化合物の両方の形態でフラックス入りワイヤ中に含有されていてもよい。したがって、上記各元素がどのような形態でフラックス入りワイヤ中に含有されていても、元素単体に換算した換算値で規定する。例えば、Siを例に挙げる場合に、Si含有量とは、金属SiとSi化合物のSi換算値の合計をいう。なお、金属Siとは、Si単体及びSi合金を含む。
本実施形態に係るフラックス入りワイヤ(以下、単に「ワイヤ」ともいう。)は、鋼製外皮(以下、単に「外皮」ともいう。)にフラックスが充填されたものである。
本実施形態において、ワイヤの外径は特に限定されないが、例えば、0.9mm以上1.6mm以下であることが好ましい。また、フラックス充填率は、ワイヤ中の各元素の含有量が本発明の範囲内であれば、任意の値に設定することができるが、よりワイヤの伸線性及びワイヤ送給性を向上させるためには、例えば、ワイヤ全質量に対して10質量%以上、20質量%以下とすることが好ましい。さらに、ワイヤは、外皮に継ぎ目を有する場合、継ぎ目を有しない場合など、その継ぎ目の形態や断面の形状に制限はない。
PWHTにより、溶接金属中の旧オーステナイト粒界への不純物元素の偏析、及び炭化物の析出が生じ、粒界結合力が低下する。その結果、粒界に沿った破壊が助長されて、焼戻脆化が起こるため、溶接金属の靱性が低下する。また、PWHTによる粒界に析出する炭化物のサイズが粗大であるほど、靱性は低下する。
Cは、溶接金属の強度を向上させる効果を有する成分である。C含有量が0.026質量%未満であると、所望の強度を得ることができない。したがって、ワイヤ全質量に対するC含有量は、0.026質量以上とし、0.028質量%以上であることが好ましく、0.029質量%以上であることがより好ましい。
一方、C含有量が0.060質量%を超えると、粒界炭化物の粗大化を助長し、PWHT後の低温での靱性が低下する。したがって、ワイヤ全質量に対するC含有量は0.060質量%以下とし、0.058質量%以下であることが好ましく、0.056質量%以下であることがより好ましい。
Siは、硬質な島状マルテンサイトの生成を助長することで、PWHTによって焼戻脆化を助長し、低温での靱性を低下させる成分である。Si含有量が0.50質量%を超えると、PWHT後の低温での靱性が低下する。したがって、ワイヤ全質量に対するSi含有量は、0.50質量%以下とし、0.45質量%以下であることがより好ましく、0.40質量%以下であることがより好ましい。
一方、Siは、完全に0質量%とすることができない成分であるとともに、脱酸元素として気孔欠陥を抑制する効果を有する成分でもある。そして、ワイヤ中にたとえ微量であってもSiが含有されることにより、気孔欠陥を抑制する効果を得ることができる。したがって、ワイヤ全質量に対するSi含有量は、0質量%超とし、0.10質量%以上であることが好ましく、0.15質量%以上であることがより好ましい。
Mnは、溶接金属の強度を向上させる効果を有する成分である。Mn含有量が1.3質量%未満であると、所望の強度を得ることができない。したがって、ワイヤ全質量に対するMn含有量は、1.3質量%以上とし、1.5質量%以上であることがより好ましく、1.7質量%以上であることがより好ましい。
一方、Mn含有量が2.8質量%を超えると、P等の粒界偏析が進み、PWHTによって焼戻脆化を助長し、低温での靱性が低下する。したがって、ワイヤ全質量に対するMn含有量は、2.8質量%以下とする。なお、溶接金属において、原質領域が主体となる組織の粒界破壊の発生を抑制し、低温での靱性をより一層向上させるためには、ワイヤ全質量に対するMn含有量は、2.7質量%以下であることが好ましく、2.5質量%以下であることがより好ましい。
Cuは、強度を維持しつつ、溶接金属の組織を微細化し、低温での靱性を向上させる効果を有する成分である。Cu含有量が0.20質量%未満であると、所望の強度及び低温での靱性を得ることができない。したがって、ワイヤ全質量に対するCu含有量は、0.20質量%以上とし、0.30質量%以上であることが好ましく、0.40質量%以上であることがより好ましい。
一方、Cu含有量が1.50質量%を超えると、PWHTによって、析出物の生成を助長し、靱性を低下させる。したがって、ワイヤ全質量に対するCu含有量は、1.50質量%以下とし、1.35質量%以下であることが好ましく、1.20質量%以下であることがより好ましい。なお、ワイヤ表面にCuメッキを施す場合には、メッキ中に含まれるCuも、本実施形態において規定されるCu含有量、すなわち0.20質量%以上1.50質量%以下の範囲に含まれる。
Niは、母相強化により溶接金属の低温での靱性を向上させる効果を有する成分である。Ni含有量が0.45質量%未満であると、所望の低温での靱性を得ることができない。したがって、ワイヤ全質量に対するNi含有量は、0.45質量%以上とし、0.50質量%以上であることが好ましく、0.60質量%以上であることがより好ましい。
一方、Ni含有量が1.00質量%を超えると、溶接金属中のNi含有量がNACE MR0175で規定される範囲から外れ、硫化水素環境中において、硫化物応力腐食割れの感受性が高まる。したがって、ワイヤ全質量に対するNi含有量は、1.00質量%以下とする。
Moは、強度を向上させるとともに、焼き戻し脆化の抑制に効果を有する成分である。Mo2Cが溶接金属の粒内へ微細析出することによって、粒界に析出する炭化物の成長を抑制し、PWHT後の低温での靱性の低下を抑制することができる。Mo含有量が0.15質量%未満であると、所望の強度を確保しつつ、所望のPWHT後の低温での靱性を得ることができない。したがって、ワイヤ全質量に対するMo含有量は、0.15質量%以上とし、0.18質量%以上であることが好ましく、0.20質量%以上であることがより好ましい。
一方、Mo含有量が0.65質量%を超えると、強度が過度に上昇し、PWHTによって低温での靱性が低下する。したがって、ワイヤ全質量に対するMo含有量は、0.65質量%以下とし、0.60質量%以下であることが好ましく、0.55質量%以下であることがより好ましい。
Mgは脱酸作用を有し、強度を向上させる成分である。Mg含有量が0.30質量%未満であると、所望の強度を得ることができない。したがって、ワイヤ全質量に対するMg含有量は、0.30質量%以上とし、0.33質量%以上であることが好ましく、0.36質量%以上であることがより好ましい。
一方、Mg含有量が0.65質量%を超えると、強度が過度に上昇し、低温での靱性が低下する。したがって、ワイヤ全質量に対するMg含有量は、0.65質量%以下とし、0.62質量%以下であることが好ましく、0.60質量%以下であることがより好ましい。
Bは、旧オーステナイト粒界に偏析し、初析フェライトを抑制することにより、溶接金属の靱性を向上させる効果を有する成分である。ワイヤ全質量に対するB含有量が0.001質量%未満であると、溶接金属の靱性を向上させる効果を十分に得ることができない。したがって、ワイヤ全質量に対するB含有量は、0.001質量%以上とし、0.002質量%以上であることが好ましい。
一方、B含有量が0.010質量%を超えると、PWHTによって析出物が過剰に生成して、靱性が低下する。したがって、ワイヤ全質量に対するB含有量は、0.010質量%以下とし、0.009質量%以下であることが好ましい。
Crは、PWHTによって粗大な粒界炭化物の析出及び成長を助長し、低温での靱性を低下させる成分である。ワイヤ全質量に対するCr含有量が0.10質量%を超えると、PWHT後の低温での靱性が低下する。したがって、ワイヤ全質量に対するCr含有量は、0.10質量%以下とし、0.07質量%以下であることが好ましく、0.05質量%以下であることがより好ましい。
Alは、ワイヤ中に過剰に含有されることにより、アシキュラーフェライトの核生成を妨げ、PWHTの有無に関わらず靱性を低下させる成分である。Al含有量が0.10質量%を超えると、溶接金属の靱性が低下する。したがって、ワイヤ全質量に対するAl含有量は、0.10質量%以下とし、0.09質量%以下であることが好ましい。
Nb及びVは、ともにPWHTによって炭化物を析出させることにより、低温での靱性を低下させる成分である。ワイヤ中のNb含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Nb]と表し、ワイヤ中のV含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[V]と表す場合に、[Nb]+[V]が0.015を超えると、PWHT後の低温での靱性が低下する。したがって、[Nb]+[V]は0.015以下とし、0.010以下であることが好ましい。
本実施形態のフラックス入りワイヤにおいては、上記各成分の含有量に加えて、Mn含有量、Si含有量、Cr含有量、Nb含有量及びV含有量と、Cu含有量、Ni含有量及びMo含有量との関係も重要となる。本発明者らは、これら各成分の含有量を規定しつつ、下記式Aにより得られる値を適切に制御することにより、PWHT後の低温での靱性をより一層向上させることができることを見出した。
([Cu]+[Ni]+[Mo])/([Mn]+[Si]+[Cr]+10([Nb]+[V]))・・・(式A)
したがって、上記式Aにより得られる値は、0.55以上0.90以下であることが好ましく、0.58以上0.85以下であることがより好ましい。
[Ni]は、ワイヤ中のNi含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表す値とする。
[Mo]は、ワイヤ中のMo含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表す値とする。
[Mn]は、ワイヤ中のMn含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表す値とする。
[Si]は、ワイヤ中のSi含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表す値とする。
[Cr]は、ワイヤ中のCr含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表す値とする。
[Nb]は、ワイヤ中のNb含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表す値とする。
[V]は、ワイヤ中のV含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表す値とする。
Cuは、PWHT後の溶接金属の強度を維持しつつ、低温での靱性を向上させる効果を有する成分であり、Moは、PWHT後の低温での靱性を維持しつつ、強度を向上させる効果を有する成分である。本発明者らは、これらの効果を有するCuとMoの比、すなわち下記式Bにより得られる値を0.5以上5.0以下とすることにより、PWHT後の溶接金属の強度と、低温での靱性とのバランスを、より一層向上させることができることを見出した。
[Cu]/[Mo]・・・(式B)
なお、上記式Bにおいて、[Cu]は、ワイヤ全質量に対するCu含有量を質量%で表す値とし、[Mo]は、ワイヤ中のMo含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表す値とする。
本発明者らは、外皮中とフラックス中に含有されるCの、溶接金属への歩留まりに着目した結果、フラックス中のCよりも外皮中のCの方が、溶接金属へのCの歩留まりが低下し、PWHT後の低温での靱性をより一層向上させることができることを見出した。すなわち、鋼製外皮中のC含有量を鋼製外皮全質量に対する質量%で[C]Oと表し、ワイヤ中のC含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[C]Bと表す場合に、[C]O/[C]Bが0.37以下であると、旧オーステナイト粒界における粗大な炭化物の析出を抑制し、PWHT後の低温での靱性をより一層向上させる効果を得ることができる。
したがって、[C]O/[C]Bは0.37以下であることが好ましく、0.35以下であることがより好ましい。
本実施形態において、上記C、Si、Mn、Cu、Ni、Mo、Mg、B、Cr、Al、Nb及びVの含有量の合計は、溶接作業性向上の観点より、3.0質量%以上とすることが好ましく、3.5質量%以上とすることがより好ましい。また、ワイヤの伸線性向上の観点より、上記成分の含有量の合計は、7.0質量%以下とすることが好ましく、6.0質量%以下とすることがより好ましい。
Tiは、スラグ生成剤として機能し、下向姿勢以外の溶接姿勢、例えば、立向上進や上向姿勢などでの溶接を容易とし、全姿勢において、良好な溶接作業性を得る効果を有する成分である。ワイヤ中にTiを含有させる場合に、スラグ生成量を適正に保ち、良好な溶接作業性を得るには、ワイヤ全質量に対するTi含有量は、3.3質量%以上6.0質量%以下とすることが好ましく、3.6質量%以上5.5質量%以下とすることがより好ましい。
Zrは、ビードのなじみを向上させ、フラットなビード形状を得る効果を有する成分である。ワイヤ中にZrを含有させる場合に、良好なスラグ剥離性を維持しつつ、ビードのなじみを向上させ、フラットなビード形状を得るには、ワイヤ全質量に対するZr含有量は、0.25質量%以下とすることが好ましく、0.20質量%以下とすることがより好ましい。
Fは、アークを安定化させる効果を有する成分である。ワイヤ中にFを含有させる場合に、スパッタ発生量を抑制でき、アーク安定性を十分に得ることができることから、ワイヤ全質量に対するF含有量は、0.05質量%以上0.30質量%以下とすることが好ましく、0.10質量%以上0.25質量%以下とすることがより好ましい。
Na及びKは、アークを安定化させる効果を有する成分である。ワイヤ中に、Na及びKの少なくとも一方を含有させる場合に、スパッタ発生量を抑制でき、アーク安定性を十分に得ることができることから、ワイヤ全質量に対するNaとKとの総量は、0.10質量%以上0.30質量%以下とすることが好ましく、0.12質量%以上0.28質量%以下とすることがより好ましい。
Feは、本実施形態に係るワイヤの主成分である。ワイヤ全質量に対するFe含有量は、82質量%以上であることが好ましく、85質量%以上であることがより好ましい。
また、本実施形態において、上記成分の他に、О(酸素)、Ca、Ba、Li等を含んでいても良く、ワイヤ全質量に対するО(酸素)の含有量は、1質量%以上であることが好ましく、5質量%以下であることが好ましい。また、ワイヤ全質量に対するCa、Ba、Li等の含有量の合計値は、1質量%以下であることが好ましい。その他の残部は不可避的不純物とし、不可避的不純物の総量は、ワイヤ全質量に対して、0.15質量%以下に規制されることが好ましい。不可避的不純物としては、P、S等が挙げられ、高温割れ防止の観点から、ワイヤ全質量に対するP及びSの含有量は、各々0.015質量%以下であることが好ましい。
本実施形態に係るフラックス入りワイヤは、例えば、以下に示す方法で製造することができる。まず、外皮を構成する鋼帯を、長手方向に送りながら成形ロールにより成形し、U字状のオープン管にする。次に、所定の化学組成となるように、金属又は合金、化合物等とを所定量配合したフラックスを外皮に充填した後、断面が円形になるように加工する。このとき、外皮の合わせ目に溶接等を施すことにより継ぎ目無しとすることもできる。その後、冷間加工により伸線し、例えば0.9mm以上、2.0mm以下のワイヤ径とすることにより、フラックス入りワイヤを製造することができる。なお、冷間加工の途中に焼鈍を施してもよい。
本実施形態に係るガスシールドアーク溶接方法は、上記[1.フラックス入りワイヤ]で説明した本実施形態に係るフラックス入りワイヤを用いて溶接する方法である。
なお、本実施形態に係るガスシールドアーク溶接方法において、本実施形態に係るフラックス入りワイヤを用いること以外の各種溶接条件については特に限定されず、母材の種類、溶接電圧、溶接電流、溶接姿勢等について、フラックス入りワイヤを用いた溶接方法における一般的な条件を用いることができる。シールドガスについても限定されないが、より溶接作業性を向上させる観点からMAGであることが好ましく、80体積%Ar-20体積%CO2であることがより好ましい。
(ワイヤの作製)
まず、帯状の鋼製外皮に、フラックスを充填し、下記表1に示す種々の成分を有する直径が1.2mmのフラックス入りワイヤを作製した。また、フラックスの充填率は、13.5質量%以上15.5質量%以下の範囲となるようにした。
次に、得られたフラックス入りワイヤを使用して、下記表2に示す板厚及び化学成分を有する母材に対して、ガスシールドアーク溶接を実施した。
本実施例においては、母材の開先面及び裏当て鋼板表面に厚さ3mm以上のバタリングを施した後、V開先を形成し、下記表3に示す溶接条件CIにてガスシールドアーク溶接を実施し、溶着金属を形成した。
溶着金属の機械的性質は、JIS Z 3111:2005に規定される「溶着金属の引張及び衝撃試験方法」に準拠し、溶着金属の板厚方向中央部から引張試験片(A0号)及び衝撃試験片(Vノッチ試験片)を採取して、引張性能及び衝撃性能を評価した。
なお、本発明例では、所望の強度をAs-welded及びPWHT後の各々において、降伏応力(YS)が500MPa以上、かつ引張強さ(TS)が620MPa以上である場合に、強度が良好であると判断した。
なお、本発明例では、所望の靱性をAs-welded及びPWHT後の-40℃における吸収エネルギーが50J以上である場合に、靱性が良好であると判断した。
そして、As-welded及びPWHT後の強度及び靱性がいずれも良好であったものを合格とし、それ以外のものを不合格とした。
[Nb]とは、ワイヤ中のNb含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表した値であり、[V]とは、ワイヤ中のV含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表した値である。
式Aにおいて、[Cu]は、ワイヤ全質量に対するCu含有量を質量%で表した値である。
[Ni]は、ワイヤ中のNi含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表した値である。
[Mo]は、ワイヤ中のMo含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表した値である。
[Mn]は、ワイヤ中のMn含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表した値である。
[Si]は、ワイヤ中のSi含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表した値である。
[Cr]は、ワイヤ中のCr含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表した値である。
[Nb]は、ワイヤ中のNb含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表した値である。
[V]は、ワイヤ中のV含有量をワイヤ全質量に対する質量%で表した値である。
なお、表5に示す機械的性質の評価においては、発明例の全ての試験片に対して、As-welded及びPWHT後の引張試験及び衝撃試験を実施したが、PWHT後に所望の強度及び靱性を満たさない一部の試験片に対しては、As-weldedの評価は実施しておらず、評価結果欄に「-」と表した。
特に、発明例No.1~6は、[C]O/[C]Bが本発明の好ましい数値範囲内であったため、PWHT後の-40℃における吸収エネルギーが55J以上であり、発明例No.7と比較して、PWHT後の低温での靱性をより一層向上させることができた。また、発明例No.2~6は、式Aにより得られる値が本発明の好ましい数値範囲内であったため、PWHT後の-40℃における吸収エネルギーが65J以上であり、PWHT後の靱性をさらにより一層向上させることができた。
図1中の破線で囲まれた領域にある発明例No.2、3、5及び6は、式Bにより得られる値が本発明の好ましい数値範囲内であった。したがって、PWHT後の引張強さ及び靱性のバランスが、より一層優れたものとなった。
比較例No.9は、ワイヤ中のC含有量及びMn含有量が本発明の数値範囲における下限値未満であったため、PWHT後の引張強さが低下した。また、PWHT後の靱性は良好であると判断される値ではあったが、ワイヤ中のCu含有量が本発明の数値範囲における上限値を超えていたため、各発明例と比較して低下した。
比較例No.11は、ワイヤ中のCr含有量が本発明の数値範囲における上限値を超えていたため、PWHT後の靱性が低下した。
比較例No.12は、ワイヤ中のCu含有量、Mo含有量及びMg含有量が本発明の数値範囲における下限値未満であったため、As-welded及びPWHT後の降伏応力及び引張強さが低下した。
比較例No.14は、ワイヤ中のCr含有量が本発明の数値範囲における上限値を超えるとともに、ワイヤ中のCu含有量が本発明の数値範囲における下限値未満であったため、As-weldedの引張強さ及びPWHT後の靱性が低下した。また、ワイヤ中のCu含有量が本発明の数値範囲における下限値未満であったため、PWHT後の引張強さが低下した。
比較例No.15は、ワイヤ中のCr含有量及びMg含有量が本発明の数値範囲における上限値を超えるとともに、ワイヤ中のCu含有量が本発明の数値範囲における下限値未満であったため、PWHT後の靱性が低下した。
比較例No.17は、ワイヤ中のMo含有量が本発明の数値範囲における上限値を超えるとともに、ワイヤ中のCu含有量が本発明の数値範囲における下限値未満であったため、PWHT後の靱性が低下した。
比較例No.18は、ワイヤ中のMo含有量が本発明の数値範囲における下限値未満であったため、PWHT後の引張強さが低下した。
比較例No.20は、ワイヤ中のSi含有量及びAl含有量が本発明の数値範囲における上限値を超えるとともに、ワイヤ中のCu含有量、Ni含有量及びMo含有量が本発明の数値範囲における下限値未満であったため、PWHT後の靱性が低下した。また、ワイヤ中のCu含有量及びMo含有量が特に過少であったため、PWHT後の降伏応力及び引張強さが低下した。
上記溶接金属の機械的性質の評価で用いたワイヤと同一のワイヤを使用して、JIS G 3106 SМ490A準拠の母材に対して、上記表3に示す溶接条件CIIを適用してガスシールドアーク溶接を実施し、溶接作業性を評価した。
Claims (6)
- 鋼製外皮にフラックスが充填されたフラックス入りワイヤであって、
ワイヤ全質量に対して、
C:0.026質量%以上0.060質量%以下、
Si:0質量%超0.50質量%以下、
Mn:1.3質量%以上2.8質量%以下、
Cu:0.20質量%以上1.50質量%以下、
Ni:0.45質量%以上1.00質量%以下、
Mo:0.15質量%以上0.65質量%以下、
Mg:0.30質量%以上0.65質量%以下、及び
B:0.001質量%以上0.010質量%以下、
Ti:3.3質量%以上6.0質量%以下、
F:0.05質量%以上0.30質量%以下、及び
NaとKとの総量:0.10質量%以上0.30質量%以下、
を含有し、
Cr:0.10質量%以下、及び
Al:0.10質量%以下、であるとともに、
ワイヤ中のNb含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Nb]と表し、
ワイヤ中のV含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[V]と表す場合に、
[Nb]+[V]:0.015以下であることを特徴とするフラックス入りワイヤ。 - ワイヤ中のCu含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Cu]と表し、
ワイヤ中のNi含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Ni]と表し、
ワイヤ中のMo含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Mo]と表し、
ワイヤ中のMn含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Mn]と表し、
ワイヤ中のSi含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Si]と表し、
ワイヤ中のCr含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Cr]と表す場合に、
([Cu]+[Ni]+[Mo])/([Mn]+[Si]+[Cr]+10([Nb]+[V])):0.55以上0.90以下であることを特徴とする、請求項1に記載のフラックス入りワイヤ。 - ワイヤ中のCu含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Cu]と表し、
ワイヤ中のMo含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[Mo]と表す場合に、
[Cu]/[Mo]:0.5以上5.0以下であることを特徴とする、請求項1又は2に記載のフラックス入りワイヤ。 - 前記鋼製外皮中のC含有量を鋼製外皮全質量に対する質量%で[C]Oと表し、
ワイヤ中のC含有量をワイヤ全質量に対する質量%で[C]Bと表す場合に、
[C]O/[C]B:0.37以下であることを特徴とする、請求項1~3のいずれか1項に記載のフラックス入りワイヤ。 - さらに、
ワイヤ全質量に対して、
Zr:0.25質量%以下、の範囲で含有することを特徴とする、請求項1~4のいずれか1項に記載のフラックス入りワイヤ。 - 請求項1~5のいずれか1項に記載のフラックス入りワイヤを用いてガスシールドアーク溶接することを特徴とするガスシールドアーク溶接方法。
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