JP7328313B2 - 磁気記録媒体基板用ガラス、磁気記録媒体基板、磁気記録媒体、磁気記録再生装置用ガラススペーサおよび磁気記録再生装置 - Google Patents
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- G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
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Description
SiO2含有量が56~80モル%、
Li2O含有量が1~10モル%、
B2O3含有量が0~4モル%、
MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%、
であり、
比重が2.75g/cm3以下、ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスである磁気記録媒体基板用ガラス(以下、「ガラスA」とも記載する。)、
に関する。
SiO2含有量が56~80モル%、
Li2O含有量が1~10モル%、
B2O3含有量が0~4モル%、
MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%、
Al2O3含有量に対するSiO2とZrO2の合計含有量のモル比((SiO2+ZrO2)/Al2O3)が2~13、
であり、
ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスである磁気記録媒体基板用ガラス(以下、「ガラスB」とも記載する。)、
に関する。
ガラスAおよびBは、上記ガラス組成を有し、ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスである磁気記録媒体基板用ガラスである。
以下、ガラスAおよびBについて、更に詳細に説明する。特記しない限り、説明されている事項は、ガラスAおよびガラスBの両ガラスについて適用される。
本発明および本明細書では、ガラス組成を、酸化物基準のガラス組成で表示する。ここで「酸化物基準のガラス組成」とは、ガラス原料が熔融時にすべて分解されてガラス中で酸化物として存在するものとして換算することにより得られるガラス組成をいうものとする。また、特記しない限り、ガラス組成はモル基準(モル%、モル比)で表示するものとする。
本発明および本明細書におけるガラス組成は、例えばICP-AES(Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry)等の方法により求めることができる。定量分析は、ICP-AESを用い、各元素別に行われる。その後、分析値は酸化物表記に換算される。ICP-AESによる分析値は、例えば、分析値の±5%程度の測定誤差を含んでいることがある。したがって、分析値から換算された酸化物表記の値についても、同様に±5%程度の誤差を含んでいることがある。
また、本発明および本明細書において、構成成分の含有量が0%または含まないもしくは導入しないとは、この構成成分を実質的に含まないことを意味し、この構成成分の含有量が不純物レベル程度以下であることを指す。不純物レベル程度以下とは、例えば、0.01%未満であることを意味する。
比抵抗に関して後述するように、ガラス熔融時に通電加熱を行う態様において、比抵抗が低いガラスは好ましい。比抵抗が低いガラスは通電加熱時に炉内の温度を下げて熔融させることができる。炉内の温度を下げると、SnO2と比べて低温で清澄効果をより良好に発揮することができるCeO2の含有量のSnO2の含有量に対する割合を高めること、即ちモル比(SnO2/CeO2)を小さくすることが好ましい。
ガラスAおよびBは、以上記載した組成調整を行うことにより、以下に記載する各種ガラス物性を有することができる。
先に記載したように、磁気記録媒体基板は、通常、基板上に磁気記録層を形成する工程で高温処理に付される。例えば、磁気記録媒体の高密度記録化のために近年開発されている磁気異方性エネルギーが高い磁性材料を含む磁気記録層を形成するためには、通用、高温で成膜が行われるか、または成膜後に高温で熱処理が行われる。磁気記録媒体基板がこのような高温処理に耐え得る耐熱性を有さないと、高温処理において高温に晒されて基板の平坦性が損なわれてしまう。これに対し、ガラスAおよびBは、耐熱性の指標であるガラス転移温度(以下、「Tg」とも記載する。)が650℃以上である。ガラス転移温度が650℃以上である高い耐熱性を有するガラスからなる基板であれば、高温処理後にも優れた平坦性を維持することができる。ただし、ガラスAおよびBは、高温処理を必要とする磁性材料を含む磁気記録層を有する磁気記録媒体の基板用ガラスに限定されるものではなく、各種磁性材料を備えた磁気記録媒体の作製に用いることができる。ガラス転移温度は、660℃以上であることが好ましく、670℃以上であることがより好ましく、675℃以上であることが更に好ましく、680℃以上であることが一層好ましく、685℃以上であることがより一層好ましく、687℃以上であることが更に一層好ましい。また、ガラス転移温度の上限は、例えば770℃程度または750℃程度であるが、ガラス転移温度が高いほど耐熱性の観点から好ましいため、特に限定されるものではない。
先に記載した磁気記録媒体の剛性向上に対する要求に対応するために、磁気記録媒体基板用ガラスは高い剛性を有することが望ましい。この点に関して、ガラスAおよびBは、剛性の指標であるヤング率が90GPa以上である。90GPa以上のヤング率を示す高い剛性を有する磁気記録媒体基板用ガラスによれば、スピンドルモータの回転中の基板変形を抑制することができるため、基板変形に伴う磁気記録媒体の反りやたわみも抑制することができる。ガラスAおよびBのヤング率は、91GPa以上であることが好ましく、92GPa以上であることがより好ましく、93GPa以上であることが更に好ましく、94GPa以上であることが一層好ましく、95GPa以上であることがより一層好ましい。ヤング率の上限は、例えば120GPa程度であるが、ヤング率が高いほど剛性が高く好ましいため特に限定されるものではない。
ガラスAの比重は、2.75以下である。また、ガラスBの比重は、2.75以下であることが好ましい。ガラスAおよびBについて、比重は、2.73以下であることがより好ましく、2.70以下であることが更に好ましく、2.68以下であることが一層好ましく、2.64以下であることがより一層好ましく、2.62以下であることが更に一層好ましく、2.60以下であることがなお一層好ましい。磁気記録媒体基板用ガラスの低比重化により、磁気記録媒体基板を軽量化することができ、更には磁気記録媒体の軽量化、これにより磁気記録再生装置(一般にHDD(ハードディスクドライブ)と呼ばれる。)の消費電力抑制が可能になる。比重の下限は、例えば2.40程度であるが、比重が低いほど好ましいため特に限定されるものではない。
比弾性率は、ガラスのヤング率を密度で除したものである。ここで密度とはガラスの比重に、g/cm3という単位を付けた値と考えればよい。より変形しにくい基板を提供する観点から、ガラスAおよびBの比弾性率は30MNm/kg以上であることが好ましく、32MNm/kg以上であることがより好ましく、33MNm/kg以上であることが更に好ましく、34MNm/kg以上であることが一層好ましく、35MNm/kg以上であることがより一層好ましい。比弾性率の上限は、例えば40MNm/kg程度であるが、比弾性率が高いほど好ましいため特に限定されるものではない。
磁気記録媒体を組み込んだHDDは、中央部分をスピンドルモータのスピンドルおよびクランプで押さえて磁気記録媒体そのものを回転させる構造となっている。そのため、磁気記録媒体基板とスピンドル部分を構成するスピンドル材料の各々の熱膨張係数に大きな差があると、使用時に周囲の温度変化に対してスピンドルの熱膨張・熱収縮と磁気記録媒体基板の熱膨張・熱収縮にずれが生じてしまい、結果として磁気記録媒体が変形してしまう現象が生じる。このような現象が生じると書き込んだ情報をヘッドが読み出せなくなってしまい、記録再生の信頼性が低下する原因となる。したがって磁気記録媒体基板用のガラスには、スピンドル材料(例えばステンレス等)と同程度の適度な熱膨張係数を有することが望ましい。一般にHDDのスピンドル材料は、100~300℃の温度範囲において70×10-7/℃以上の平均線膨張係数(熱膨張係数)を有するものであり、磁気記録媒体基板用ガラスの100~300℃における平均線膨張係数が40×10-7/℃以上であれば、スピンドル材料との熱膨張係数の差が少なく磁気記録媒体の信頼性向上に寄与することができる。ガラスAおよびBの100~300℃における平均線膨張係数(以下、「α」とも記載する。)は40×10-7/℃以上であることが好ましく、41×10-7/℃以上であることがより好ましく、42×10-7/℃以上であることが更に好ましく、43×10-7/℃以上であることが一層好ましく、44×10-7/℃以上であることがより一層好ましく、45×10-7/℃以上であることが更に一層好ましい。また、ガラスAおよびBの100~300℃における平均線膨張係数(α)は、70×10-7/℃以下であることが好ましく、68×10-7/℃以下であることがより好ましく、65×10-7/℃以下であることが更に好ましく、63×10-7/℃以下であることが一層好ましく、60×10-7/℃以下であることがより一層好ましく、57×10-7/℃以下であることが更に一層好ましく、55×10-7/℃以下であることがなお一層好ましく、53×10-7/℃以下であることが更になお一層好ましく、50×10-7/℃以下であることが更になおより一層好ましい。一態様では、ガラスAおよびBの100~300℃における平均線膨張係数(α)は、48×10-7/℃未満であることができ、47×10-7/℃以下であることもできる。
ガラスAおよびBは、高いガラス安定性を示すことができる。ガラス安定性の評価方法としては、詳細を後述する1300℃16時間保持テストおよび1250℃16時間保持テストを挙げることができる。1300℃16時間保持テストにおいて評価結果Aであることが好ましく、1300℃16時間保持テストにおいて評価結果Aであって、かつ1250℃16時間保持テストにおいて評価結果AまたはBであることがより好ましく、両保持テストにおいて評価結果Aであることが更に好ましい。
ガラスAおよびBは、先に記載した組成調整により、泡の低減も可能である。磁気記録媒体基板用のガラスでは、泡を低減できることは望ましい。これは、以下の理由による。近年の高密度記録化の進行に伴い、データの書き込みや読み取りのためのヘッド(磁気ヘッド)と磁気記録媒体の表面との距離(「フライングハイト」と呼ばれる。)を狭小化することが望まれている。しかし、磁気記録媒体用のガラス基板の表面に泡に起因する凹凸が存在すると、磁気記録媒体の表面にこの凹凸が反映され、磁気記録媒体の表面平滑性は低下してしまう。表面平滑性に劣る磁気記録媒体の表面に磁気ヘッドを近接させると、磁気ヘッドが磁気記録媒体の表面に接触して磁気ヘッドが破損するおそれがあるため、接触を防ぐためにフライングハイトをある程度確保せざるを得ない。以上の点から、磁気記録媒体基板用のガラスには、フライングハイトを狭小化するために、高い表面平滑性を有する磁気記録媒体を作製すべく泡を低減することが望まれる。ガラス中の泡に関しては、単位質量あたりの泡の密度が、光学顕微鏡(倍率40~100倍)により観察される直径0.03mm超の泡の密度として、好ましくは50個/kg未満であり、より好ましくは20個/kg未満であり、更に好ましくは10個/kg未満であり、一層好ましくは2個/kg以下であり、最も好ましくは0個/kgである。
ガラスAおよびBは、先に記載した組成調整により、比抵抗を低くすることも可能である。比抵抗が低いガラスは、ガラス熔融時に通電加熱を行う態様において、熔融炉(例えばレンガ製)を侵食し難いか侵食が少ない点で好ましい。通電加熱時に熔融炉へ電気が流れると熔解炉が浸食されてしまうが、熔解炉中のガラスの比抵抗が高いと、熔解炉に電気が流れ易くなる。熔融炉が浸食されると、熔融炉からガラスが漏れることや、熔融炉が浸食されて生じた成分がガラスに混入すること等が起こり得る。したがって、熔解炉の侵食を抑制できることは好ましい。比抵抗が低いことの指標としては、比抵抗ρの自然対数lnρを採用することができる。ガラスAおよびBは、一態様では、1450℃での比抵抗ρ(単位:Ω・cm)の自然対数lnρ(無単位)が、3.20以下であることが好ましく、3.00以下であることがより好ましく、2.90以下であることが更に好ましく、2.80以下であることが一層好ましく、2.70以下であることがより一層好ましく、2.68以下であることが更に一層好ましく、2.65以下であることがなお一層好ましい。また、1450℃での比抵抗ρの自然対数lnρは、例えば1以上であることができる。
本発明の一態様にかかる磁気記録媒体基板は、ガラスAまたはガラスBからなる。
本発明の一態様は、上記磁気記録媒体基板上に磁気記録層を有する磁気記録媒体に関する。
例えば、磁気記録媒体基板を、真空引きを行った成膜装置内に導入し、DC(Direct Current)マグネトロンスパッタリング法にてAr雰囲気中で、磁気記録媒体基板の主表面上に付着層から磁性層まで順次成膜する。付着層としては例えばCrTi、下地層としては例えばRuやMgOを含む材料を用いることができる。なお、適宜、軟磁性層やヒートシンク層を追加してもよい。上記成膜後、例えばCVD(Chemical Vapor Deposition)法によりC2H4を用いて保護層を成膜し、同一チャンバ内で、表面に窒素を導入する窒化処理を行うことにより、磁気記録媒体を形成することができる。その後、例えばPFPE(ポリフルオロポリエーテル)をディップコート法により保護層上に塗布することにより、潤滑層を形成することができる。
薄板化することによりHDDの磁気記録媒体の搭載枚数を増やすことができ、これによりHDDの記録容量を高めることができる。この観点から、板厚は、公称値で0.635mm以下とすると好ましく、0.550mm以下とするとより好ましく、0.500mm以下とすると更に好ましく、0.400mm以下とすると一層好ましい。
本発明の一態様は、
SiO2含有量が56~80モル%、
Li2O含有量が1~10モル%、
B2O3含有量が0~4モル%、
MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%、
であり、
比重が2.75g/cm3以下、ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスを含む磁気記録再生装置用ガラススペーサ、
に関する。
SiO2含有量が56~80モル%、
Li2O含有量が1~10モル%、
B2O3含有量が0~4モル%、
MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%、
Al2O3含有量に対するSiO2とZrO2の合計含有量のモル比((SiO2+ZrO2)/Al2O3)が2~13、
であり、
ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスを含む磁気記録再生装置用ガラススペーサ、
に関する。
なお、磁気記録再生装置用ガラススペーサは、上記ガラスからなることもでき、または上記ガラスの表面に導電性膜等の膜を一層以上設けた構成であることもできる。例えば、磁気記録媒体の回転時に生じる静電気を除去するために、ガラススペーサの表面に、メッキ法、浸漬法、蒸着法、スパッタリング法等によりNiP合金等の導電性膜を形成することができる。また、ガラススペーサは、研磨加工により表面平滑性を高くすることができ(例えば、平均表面粗さが1μm以下)、これにより磁気記録媒体とスペーサとの密着度を強めて位置ずれの発生を抑制することができる。
本発明の一態様は、
本発明の一態様にかかる磁気記録媒体;および
本発明の一態様にかかるガラススペーサ、
の少なくとも一方を含む磁気記録再生装置、
に関する。
上記の本発明の一態様にかかる磁気記録再生装置は、少なくとも1つの磁気記録媒体として本発明の一態様にかかる磁気記録媒体を含むことができ、本発明の一態様にかかる磁気記録媒体を複数含むこともできる。上記の本発明の一態様にかかる磁気記録再生装置は、少なくとも1つのスペーサとして本発明の一態様にかかるガラススペーサを含むことができ、本発明の一態様にかかるガラススペーサを複数含むこともできる。磁気記録媒体の熱膨張係数とスペーサの熱膨張係数との差が小さいことは、両者の熱膨張係数の差に起因して生じ得る現象、例えば、磁気記録媒体の歪み、磁気記録媒体の位置ずれによる回転時の安定性の低下等、の発生を抑制する観点から好ましい。この観点から、本発明の一態様にかかる磁気記録再生装置は、少なくとも1つの磁気記録媒体として、また複数の磁気記録媒体が含まれる場合にはより多くの磁気記録媒体として、本発明の一態様にかかる磁気記録媒体を含み、かつ、少なくとも1つのスペーサとして、また複数のスペーサが含まれる場合にはより多くのスペーサとして、本発明の一態様にかかるガラススペーサを含むことが好ましい。また、例えば、本発明の一態様にかかる磁気記録再生装置は、磁気記録媒体に含まれる磁気記録媒体基板を構成するガラスと、ガラススペーサを構成するガラスとが、同一のガラス組成を有するものであることができる。
下記表に示す組成のガラスが得られるように、酸化物、炭酸塩、硝酸塩、硫酸塩、水酸化物等の原料を秤量し、混合して調合原料とした。この調合原料を熔融槽に投入して1400~1600℃の範囲で加熱、熔解して得られた熔融ガラスを、清澄槽において1400~1550℃で6時間保持した後、温度を低下(降温)させて1200~1400℃の範囲に1時間保持してから熔融ガラスを成形して、下記評価のためのガラス(非晶質の酸化物ガラス)を得た。上記加熱は、通電加熱等の各種加熱方式により行うことができる。
(1)ガラス転移温度(Tg)、平均線膨張係数(α)
各ガラスのガラス転移温度Tgおよび100~300℃における平均線膨張係数αを、熱機械分析装置(TMA;Thermomechanical Analysis)を用いて測定した。
各ガラスのヤング率を超音波法にて測定した。
各ガラスの比重をアルキメデス法にて測定した。
上記(2)で得られたヤング率および(3)で得られた比重から、比弾性率を算出した。
各ガラス100gを白金製の坩堝に入れて、炉内温度を1250℃または1300℃に設定した加熱炉内に各坩堝を投入し、炉内温度を維持したまま16時間放置(保持テスト)した。16時間経過後、加熱炉内から坩堝を取り出し、坩堝内のガラスを耐火物上に移して室温まで冷却し、各ガラスの結晶の有無を光学顕微鏡で観察し、以下の基準で評価した。
A:光学顕微鏡で拡大観察(倍率40~100倍)して結晶が確認されない。
B:光学顕微鏡で拡大観察(倍率40~100倍)して結晶が確認されるが、目視観察で結晶が確認されない。
C:目視観察で結晶が確認される。
上記で得られた熔融ガラスから厚さ約1.2mmのガラス板(基板ブランク)を作製した。このガラス板の表面を平坦かつ平滑に研磨し、研磨面からガラス内部を光学顕微鏡で拡大観察(倍率40~100倍)し、直径が0.03mm超の泡(以下、単に「泡」と記載する。)の数をカウントした。拡大観察した領域に相当するガラスの質量で、カウントした泡の数を割ったものを泡の密度とした。
泡密度ランクを、上記方法で求めた泡の密度に応じてSランク~Fランクで評価した。具体的には、泡密度が0個/kgのものをSランク、泡が存在し、泡密度が2個/kg以下のものをAランク、泡密度が2個/kg超10個/kg未満のものをBランク、泡密度が10個/kg以上20個/kg未満のものをCランク、泡密度が20個/kg以上50個/kg未満のものをDランク、泡密度が50個/kg以上80個未満のものをEランク、泡密度が80個/kg以上のものをFランクとした。
比抵抗測定対象のガラスを熔融して温度t℃の熔融ガラスを調製し、この熔融ガラスの電気伝導度σ(単位:S/cm)を、Pt-Rh製の環状電極(電極間距離15mm)を使用し、電圧50mV、周波数20kHzの条件において測定した。セル定数は、基準溶液として濃度1mol/dm3のKCl溶液(温度25℃)を使用して決定した。1200℃程度~1600℃程度の温度範囲において、25~45℃程度の温度間隔で、各温度tについて電気伝導度σを求め、求められたσをアレニウスプロットして得られた直線から、1450℃におけるσを求めた。こうして求められた1450℃でのσから、比抵抗ρ=1/σの式により、1450℃における比抵抗ρを求め、求められたρの自然対数lnρを算出した。
ガラス安定性に関して、上記方法により行われる保持テストにおいて、より低い温度で評価結果が良好なほど、熔融状態で結晶が析出しにくいガラスであり、成形温度を下げて成形することができる。成形温度を下げるほど、発熱体、炉体、パイプ等の成形装置の構成部材の寿命を延ばすことができる。特に、プレス成形により基板ブランクを作製する場合には、成形温度は低いほど好ましい。また、成形温度を下げることができれば、ガラス粘度を上げて成形することができるため、揮発、脈理および成形泡の発生を抑制することができる。
また、上記表に示す実施例のガラスは、いずれも泡密度ランクがS、AまたはBであり、泡の発生が抑制されていることも確認された。
(1)基板ブランクの作製
次に、下記方法AまたはBにより、円盤状の基板ブランクを作製した。また、同様の方法により、磁気記録再生装置用ガラススペーサ作製のためのガラスブランクを得ることができる。
(方法A)
清澄、均質化した上述の実施例の熔融ガラスを流出パイプから一定流量で流出するとともにプレス成形用の下型で受け、下型上に所定量の熔融ガラス塊が得られるよう流出した熔融ガラスを切断刃で切断した。そして熔融ガラス塊を載せた下型をパイプ下方から直ちに搬出し、下型と対向する上型および胴型を用いて、直径66mm、厚さ1.2mmの薄肉円盤状にプレス成形した。プレス成形品を変形しない温度にまで冷却した後、型から取り出してアニールし、基板ブランクを得た。なお、上述の成形では複数の下型を用いて流出する熔融ガラスを次々に円盤状の基板ブランクに成形した。
(方法B)
清澄、均質化した上述の実施例の熔融ガラスを円筒状の貫通孔が設けられた耐熱性鋳型の貫通孔に上部から連続的に鋳込み、円柱状に成形して貫通孔の下側から取り出した。取り出したガラスをアニールした後、マルチワイヤーソーを用いて円柱軸に垂直な方向に一定間隔でガラスをスライス加工し、円盤状の基板ブランクを作製した。
なお、本実施例では上述の方法A、Bを採用したが、円盤状の基板ブランクの製造方法としては、下記方法C、Dも好適である。また、下記方法C、Dは、磁気記録再生装置用ガラススペーサ作製のためのガラスブランクの製造方法としても好適である。
(方法C)
上述の実施例の熔融ガラスをフロートバス上に流し出し、シート状のガラスに成形(フロート法による成形)し、次いでアニールした後にシートガラスから円盤状のガラスをくり貫いて基板ブランクを得ることもできる。
(方法D)
上述の実施例の熔融ガラスをオーバーフローダウンドロー法(フュージョン法)によりシート状のガラスに成形、アニールし、次いでシートガラスから円盤状のガラスをくり貫いて基板ブランクを得ることもできる。
上述の各方法で得られた基板ブランクの中心に貫通孔をあけて、外周、内周の研削加工を行い、円盤の主表面をラッピング、ポリッシング(鏡面研磨加工)して直径65mm、厚さ0.8mmの磁気ディスク用ガラス基板に仕上げた。また、同様の方法により、磁気記録再生装置用ガラススペーサ作製のためのガラスブランクを、磁気記録再生装置用ガラススペーサに仕上げることができる。
上記で得られたガラス基板は、1.7質量%の珪弗酸(H2SiF)水溶液、次いで、1質量%の水酸化カリウム水溶液を用いて洗浄し、次いで純水ですすいだ後に乾燥させた。実施例のガラスから作製した基板の表面を拡大観察したところ、表面荒れなどは認められず、平滑な表面であった。
以下の方法により、実施例のガラスから得られたガラス基板の主表面上に、付着層、下地層、磁気記録層、保護層、潤滑層をこの順に形成し、磁気ディスクを得た。
以上の製造工程により、磁気ディスクを得た。得られた磁気ディスクを、DFH機構を備えたハードディスクドライブに搭載し、磁気ディスクの主表面上の記録用領域に、1平方インチあたり1000ギガビットの記録密度で磁気信号を記録および再生したところ、磁気ヘッドと磁気ディスク表面が衝突する現象(クラッシュ障害)は確認されなかった。
SiO2含有量が56~80モル%、Li2O含有量が1~10モル%、B2O3含有量が0~7モル%、MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%
であり、比重が2.75g/cm3以下、ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスである磁気記録媒体基板用ガラス;および、
SiO2含有量が56~80モル%、Li2O含有量が1~10モル%、B2O3含有量が0~4モル%、MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%、Al2O3含有量に対するSiO2とZrO2の合計含有量のモル比((SiO2+ZrO2)/Al2O3)が2~13であり、ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスである磁気記録媒体基板用ガラス、
が提供される。
SiO2含有量が56~80モル%、Li2O含有量が1~10モル%、B2O3含有量が0~4モル%、MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%であり、比重が2.75g/cm3以下、ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスを含む磁気記録再生装置用ガラススペーサ;および、
SiO2含有量が56~80モル%、Li2O含有量が1~10モル%、B2O3含有量が0~7モル%、MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%、Al2O3含有量に対するSiO2とZrO2の合計含有量のモル比((SiO2+ZrO2)/Al2O3)が2~13であり、ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスを含む磁気記録再生装置用ガラススペーサ、
が提供される。
Al2O3含有量が5~20%、B2O3含有量が0~4%、MgO含有量が3~28%、Li2O含有量が1~10%、SiO2とAl2O3の合計含有量(SiO2+Al2O3)が65~80%、MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が11~30%、MgO、CaO、SrOおよびBaOの合計含有量(MgO+CaO+SrO+BaO)が12~30%、MgO含有量、0.7×CaO含有量、Li2O含有量、TiO2含有量およびZrO2含有量の和(MgO+0.7CaO+Li2O+TiO2+ZrO2)が16%以上、5×Li2O含有量、3×Na2O含有量、3×K2O含有量、2×B2O3含有量、MgO含有量、2×CaO含有量、3×SrO含有量およびBaO含有量の和(5Li2O+3Na2O+3K2O+2B2O3+MgO+2CaO+3SrO+BaO)が32~58%、SiO2含有量、Al2O3含有量、B2O3含有量、P2O5含有量、1.5×Na2O含有量、1.5×K2O含有量、2×SrO含有量、3×BaO含有量およびZnO含有量の和(SiO2+Al2O3+B2O3+P2O5+1.5Na2O+1.5K2O+2SrO+3BaO+ZnO)が86%以下、SiO2含有量、Al2O3含有量、B2O3含有量、P2O5含有量、Na2O含有量、K2O含有量、CaO含有量、2×SrO含有量および3×BaO含有量の和(SiO2+Al2O3+B2O3+P2O5+Na2O+K2O+CaO+2SrO+3BaO)が92%以下、MgO含有量に対するCaO含有量のモル比(CaO/MgO)が2.5以下、Li2O含有量に対するNa2O含有量のモル比(Na2O/Li2O)が5以下、MgOとCaOの合計含有量に対するLi2O含有量のモル比(Li2O/(MgO+CaO))が0.03~0.4、Li2O、Na2OおよびK2Oの合計含有量に対するSiO2含有量のモル比(SiO2/(Li2O+Na2O+K2O))が4~22、Al2O3含有量に対するSiO2とZrO2の合計含有量のモル比((SiO2+ZrO2)/Al2O3)が2~10、MgOとCaOの合計含有量に対するTiO2とAl2O3の合計含有量のモル比((TiO2+Al2O3)/(MgO+CaO))が0.35~2、MgO、CaO、SrOおよびBaOの合計含有量に対するMgOとCaOの合計含有量のモル比((MgO+CaO)/(MgO+CaO+SrO+BaO))が0.7~1、MgO、CaO、SrOおよびBaOの合計含有量に対するBaO含有量のモル比(BaO/(MgO+CaO+SrO+BaO))が0.1以下、B2O3、SiO2、Al2O3およびP2O5の合計含有量に対するP2O5含有量のモル比(P2O5/(B2O3+SiO2+Al2O3+P2O5))が0.005以下であることができる。
例えば、上記に例示されたガラス組成に対し、明細書に記載の組成調整を行うことにより、本発明の一態様にかかる磁気記録媒体基板用ガラスおよび磁気記録再生装置用ガラススペーサを作製することができる。
また、明細書に例示または好ましい範囲として記載した事項の2つ以上を任意に組み合わせることは、もちろん可能である。
Claims (10)
- 磁気記録媒体基板上に磁気記録層を有する磁気記録媒体であって、
前記磁気記録媒体基板は、
SiO2含有量が56~80モル%、
Li2O含有量が1~9.00モル%、
B2O3含有量が0~4モル%、
MgO含有量が14モル%以下(ただし14モル%を除く)、
MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%、
Li2O、Na2OおよびK2Oの合計含有量(Li2O+Na2O+K2O)が9.00モル%以下、
であり、
比重が2.75g/cm3以下、ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスからなる磁気記録媒体基板である磁気記録媒体。 - 磁気記録媒体基板上に磁気記録層を有する磁気記録媒体であって、
前記磁気記録媒体基板は、
SiO2含有量が56~80モル%、
Li2O含有量が1~9.00モル%、
B2O3含有量が0~4モル%、
MgO含有量が14モル%以下(ただし14モル%を除く)、
MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO)が9~40モル%、
Li2O、Na2OおよびK2Oの合計含有量(Li2O+Na2O+K2O)が9.00モル%以下、
Al2O3含有量に対するSiO2とZrO2の合計含有量のモル比((SiO2+ZrO2)/Al2O3)が2~13、
であり、
ガラス転移温度が650℃以上かつヤング率が90GPa以上の非晶質の酸化物ガラスからなる磁気記録媒体基板である磁気記録媒体。 - 前記非晶質の酸化物ガラスのMgO、CaO、SrOおよびBaOの合計含有量(MgO+CaO+SrO+BaO)は、13モル%以上である、請求項1または2に記載の磁気記録媒体。
- 前記非晶質の酸化物ガラスの100~300℃における平均線膨張係数は、40×10-7~70×10-7/℃の範囲である、請求項1~3のいずれか1項に記載の磁気記録媒体。
- 前記非晶質の酸化物ガラスのCaO含有量は、0~18モル%の範囲である、請求項1~4のいずれか1項に記載の磁気記録媒体。
- 前記非晶質の酸化物ガラスのBaOとSrOの合計含有量は、0~2モル%の範囲である、請求項1~5のいずれか1項に記載の磁気記録媒体。
- 前記非晶質の酸化物ガラスのLi2O、Na2OおよびK2Oの合計含有量(Li2O+Na2O+K2O)は、2.5~9.00モル%の範囲である、請求項1~6のいずれか1項に記載の磁気記録媒体。
- 前記非晶質の酸化物ガラスのSnO2とCeO2の合計含有量(SnO2+CeO2)は、0.05~2モル%の範囲である、請求項1~7のいずれか1項に記載の磁気記録媒体。
- 前記非晶質の酸化物ガラスのCeO2含有量に対するSnO2含有量のモル比(SnO2/CeO2)は、0.1以上である、請求項1~8のいずれか1項に記載の磁気記録媒体。
- 請求項1~9のいずれか1項に記載の磁気記録媒体と、磁気ヘッドと、を含む磁気記録再生装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115072991B (zh) * | 2016-11-14 | 2024-07-19 | Hoya株式会社 | 磁记录介质基板用玻璃、磁记录介质基板、磁记录介质和磁记录再生装置用玻璃间隔物 |
SG11202011211RA (en) * | 2018-05-16 | 2020-12-30 | Hoya Corp | Glass for magnetic recording medium substrate, magnetic recording medium substrate, magnetic recording medium, glass spacer for magnetic recording and reproducing apparatus, and magnetic recording and reproducing apparatus |
WO2021015240A1 (ja) * | 2019-07-22 | 2021-01-28 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体基板用ガラス、磁気記録媒体基板、磁気記録媒体、磁気記録再生装置用ガラススペーサおよび磁気記録再生装置 |
CN114787093A (zh) * | 2019-12-13 | 2022-07-22 | 豪雅株式会社 | 磁记录介质基板用或磁记录再生装置用玻璃间隔物用的玻璃、磁记录介质基板、磁记录介质、磁记录再生装置用玻璃间隔物和磁记录再生装置 |
WO2021177468A1 (ja) * | 2020-03-06 | 2021-09-10 | Hoya株式会社 | ガラススペーサの製造方法、ガラススペーサ、及びハードディスクドライブ装置 |
JP7488416B2 (ja) * | 2021-03-05 | 2024-05-21 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体基板用または磁気記録再生装置用ガラススペーサ用のガラス、磁気記録媒体基板、磁気記録媒体、磁気記録再生装置用ガラススペーサおよび磁気記録再生装置 |
WO2024053741A1 (ja) * | 2022-09-08 | 2024-03-14 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体基板用ガラス、磁気記録媒体基板および磁気記録再生装置 |
JP2025010842A (ja) * | 2023-07-10 | 2025-01-23 | 日本板硝子株式会社 | 情報記録媒体用ガラス組成物及び情報記録媒体用ガラス板 |
JP2025010844A (ja) * | 2023-07-10 | 2025-01-23 | 日本板硝子株式会社 | 情報記録媒体用ガラス板 |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001176056A (ja) | 1999-12-16 | 2001-06-29 | Hitachi Ltd | 磁気ディスクおよび磁気記録装置 |
JP2003063831A (ja) | 2001-08-29 | 2003-03-05 | Minolta Co Ltd | ハードディスク用ガラス基板およびその製造方法 |
JP2005267769A (ja) | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Konica Minolta Opto Inc | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法 |
JP2005263574A (ja) | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Konica Minolta Opto Inc | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法 |
JP2006082983A (ja) | 2004-09-14 | 2006-03-30 | Senyo Kogaku Kk | 情報記録媒体のガラス基板の製造方法および該方法を用いた製造装置 |
JP2007188601A (ja) | 2006-01-13 | 2007-07-26 | Konica Minolta Opto Inc | 磁気記録媒体用ガラス基板 |
JP2008169061A (ja) | 2007-01-10 | 2008-07-24 | Hoya Corp | 情報記録媒体基板用素材、情報記録媒体基板、情報記録媒体それぞれの製造方法 |
JP2013023420A (ja) | 2011-07-22 | 2013-02-04 | Ohara Inc | 結晶化ガラスおよび情報記録媒体用結晶化ガラス基板 |
WO2014034251A1 (ja) | 2012-08-29 | 2014-03-06 | Hoya株式会社 | 磁気ディスク用ガラス基板、磁気ディスク |
WO2015033800A1 (ja) | 2013-09-09 | 2015-03-12 | Hoya株式会社 | ガラス基板 |
WO2015162845A1 (ja) | 2014-04-24 | 2015-10-29 | 日本板硝子株式会社 | ガラス組成物、化学強化用ガラス板、強化ガラス板およびディスプレイ用強化ガラス基板 |
JP2016029010A (ja) | 2008-03-19 | 2016-03-03 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体基板用ガラス、磁気記録媒体基板、磁気記録媒体およびそれらの製造方法 |
JP2017120677A (ja) | 2015-12-28 | 2017-07-06 | 旭硝子株式会社 | 磁気記録媒体用ガラス基板、磁気記録媒体 |
WO2018088563A1 (ja) | 2016-11-14 | 2018-05-17 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体基板用ガラス、磁気記録媒体基板、磁気記録媒体および磁気記録再生装置用ガラススペーサ |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6245411B1 (en) * | 1959-09-25 | 2001-06-12 | Kabushiki Kaisha Ohara | High rigidity glass-ceramic substrate for a magnetic information storage medium |
JPS5939350B2 (ja) | 1978-09-26 | 1984-09-22 | 株式会社ダイフク | 搬送台車駆動装置 |
AU7316500A (en) * | 1999-09-21 | 2001-04-24 | Kabushiki Kaisha Ohara | Holding member for information storage disk and information storage disk drive device |
US6426311B1 (en) * | 2000-02-01 | 2002-07-30 | Kabushiki Kaisha Ohara | Glass-ceramics |
CN100379696C (zh) * | 2002-10-29 | 2008-04-09 | Hoya株式会社 | 化学强化玻璃、信息记录介质用基板及信息记录介质 |
MY152135A (en) * | 2006-06-08 | 2014-08-15 | Hoya Corp | Glass for use in substrate for information recording medium, substrate for information recording medium and information recording medium, and their manufacturing method |
JP4467597B2 (ja) * | 2007-04-06 | 2010-05-26 | 株式会社オハラ | 無機組成物物品 |
JP4755135B2 (ja) * | 2007-04-27 | 2011-08-24 | 株式会社オハラ | 結晶化ガラス |
JP2009087501A (ja) * | 2007-10-03 | 2009-04-23 | Showa Denko Kk | 垂直磁気記録媒体および磁気記録再生装置 |
JP5292028B2 (ja) | 2008-09-10 | 2013-09-18 | 株式会社オハラ | ガラス |
PH12012501893A1 (en) * | 2010-03-31 | 2017-02-08 | Hoya Corp | Method for manufacturing glass blank for magnetic recording medium glass substrate, method of manufacturing magnetic recording medium glass substrate, and method of manufacturing magnetic recording medium |
US20120052275A1 (en) * | 2010-08-30 | 2012-03-01 | Avanstrate Inc. | Glass substrate, chemically strengthened glass substrate and cover glass, and method for manufactruing the same |
US8394516B2 (en) * | 2010-10-29 | 2013-03-12 | Hoya Corporation | Glass substrate for magnetic recording medium and magnetic recording medium |
US8652660B2 (en) * | 2010-12-21 | 2014-02-18 | Hoya Corporation | Glass substrate for magnetic recording medium and its use |
CN102531384B (zh) * | 2010-12-29 | 2019-02-22 | 安瀚视特股份有限公司 | 玻璃盖片及其制造方法 |
JPWO2013027651A1 (ja) * | 2011-08-23 | 2015-03-19 | Hoya株式会社 | 強化ガラス基板の製造方法および強化ガラス基板 |
US9139469B2 (en) * | 2012-07-17 | 2015-09-22 | Corning Incorporated | Ion exchangeable Li-containing glass compositions for 3-D forming |
JP6131154B2 (ja) * | 2013-09-11 | 2017-05-17 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体基板用ガラスおよび磁気記録媒体基板 |
US10717670B2 (en) * | 2015-02-10 | 2020-07-21 | Nippon Sheet Glass Company, Limited | Glass for laser processing and method for producing perforated glass using same |
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CN114751643A (zh) * | 2016-04-27 | 2022-07-15 | Agc株式会社 | 无碱玻璃 |
SG11202011211RA (en) * | 2018-05-16 | 2020-12-30 | Hoya Corp | Glass for magnetic recording medium substrate, magnetic recording medium substrate, magnetic recording medium, glass spacer for magnetic recording and reproducing apparatus, and magnetic recording and reproducing apparatus |
WO2021015240A1 (ja) * | 2019-07-22 | 2021-01-28 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体基板用ガラス、磁気記録媒体基板、磁気記録媒体、磁気記録再生装置用ガラススペーサおよび磁気記録再生装置 |
CN114787093A (zh) * | 2019-12-13 | 2022-07-22 | 豪雅株式会社 | 磁记录介质基板用或磁记录再生装置用玻璃间隔物用的玻璃、磁记录介质基板、磁记录介质、磁记录再生装置用玻璃间隔物和磁记录再生装置 |
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2022
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Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001176056A (ja) | 1999-12-16 | 2001-06-29 | Hitachi Ltd | 磁気ディスクおよび磁気記録装置 |
JP2003063831A (ja) | 2001-08-29 | 2003-03-05 | Minolta Co Ltd | ハードディスク用ガラス基板およびその製造方法 |
JP2005267769A (ja) | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Konica Minolta Opto Inc | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法 |
JP2005263574A (ja) | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Konica Minolta Opto Inc | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法 |
JP2006082983A (ja) | 2004-09-14 | 2006-03-30 | Senyo Kogaku Kk | 情報記録媒体のガラス基板の製造方法および該方法を用いた製造装置 |
JP2007188601A (ja) | 2006-01-13 | 2007-07-26 | Konica Minolta Opto Inc | 磁気記録媒体用ガラス基板 |
JP2008169061A (ja) | 2007-01-10 | 2008-07-24 | Hoya Corp | 情報記録媒体基板用素材、情報記録媒体基板、情報記録媒体それぞれの製造方法 |
JP2016029010A (ja) | 2008-03-19 | 2016-03-03 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体基板用ガラス、磁気記録媒体基板、磁気記録媒体およびそれらの製造方法 |
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