JP7131518B2 - 電子機器、発音学習方法、サーバ装置、発音学習処理システムおよびプログラム - Google Patents
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Description
図1は、本発明の電子機器、発音学習方法、およびプログラムの第1実施形態に係る学習支援装置10の電子回路の構成を示すブロック図である。
発音テストのモードが第1モードである場合、CPU11は、テスト用単語グループ化データ記憶エリア12gの発音属性組み合わせテーブルに記憶された第1発音要素の属性と第2発音要素の属性との組み合わせ毎のグループのうち、平均スコアが最も低いグループの第1発音要素を特定する(ステップS13(第1モード)→S14)。
ステップS13において、発音テストのモードが第2モードであると判定された場合(ステップS13(第2モード))、CPU11は、図6の(B)に示すように、テスト用単語グループ化データ記憶エリア12gの発音属性組み合わせテーブルに記憶された第1発音要素の属性(ここでは「摩擦音」)と第2発音要素の属性(ここでは「日本語にない母音」「側面音/反舌音」「その他」…)との組み合わせ毎のグループのうち、平均スコアが最も低いグループ(ここでは<55点>のグループ)の第2発音要素(ここでは「日本語にない母音」)を特定する(ステップS13(第2モード)→S17)。
ステップS13において、発音テストのモードが第3モードであると判定された場合(ステップS13(第3モード))、CPU11は、ユーザ自らが評価対象として指定した第1発音要素と第2発音要素の組み合わせを含む各テスト用単語のグループ(1グループ)の平均スコアが所定以下(例えば<80点>未満)であるか否かを判定する(ステップS19)。
第1実施形態の学習支援装置10によれば、単語の発音テストにおいて、評価対象の第1発音要素が指定されない場合、第1モードとなり、例えば英和辞書のデータから得られた各単語がテスト用単語としてテスト用単語管理データ記憶エリア12fに記憶され、評価対象の第1発音要素のみ指定された場合、第2モードとなり、指定された第1発音要素を含む各単語がテスト用単語としてテスト用単語管理データ記憶エリア12fに記憶され、評価対象の第1発音要素と第2発音要素が指定された場合、第3モードとなり、指定された第1発音要素と当該第1発音要素の後または(および)前に連続する第2発音要素との組み合わせを含む各単語がテスト用単語としてテスト用単語管理データ記憶エリア12fに記憶される。
図7は、本発明の第2実施形態に係る学習支援システムの構成を示す図である。
プロセッサを備え、
前記プロセッサは、
複数の単語を対象とした発音テストによる各単語の発音の評価スコアを取得し、
前記取得した各単語の発音の評価スコアを、各単語内で連続する複数の発音要素の組み合わせ毎に集計し、
前記集計の結果に基づいて学習情報を出力する、発音学習処理を実行する、
ように構成されている電子機器。
前記プロセッサは、
前記複数の発音要素の組み合わせのうち、前記集計された評価スコアの低い発音要素の組み合わせを特定し、
前記特定された発音要素の組み合わせに係る前記学習情報を出力する、
ように構成されている付記1に記載の電子機器。
前記プロセッサは、
前記特定された発音要素の組み合わせを含む単語の発音に係るアドバイス情報を出力する、
ように構成されている付記2に記載の電子機器。
前記プロセッサは、
前記特定された発音要素の組み合わせを含む単語を、発音学習の対象となる単語として出力する、
ように構成されている付記2に記載の電子機器。
前記プロセッサは、
ユーザに第1発音要素を指定させ、
前記ユーザが指定した前記第1発音要素を含む複数の単語で発音テストを実施し、
前記発音テストによる各単語の発音の評価スコアを、単語内の前記第1発音要素と、前記単語内で前記第1発音要素の後または前に連続して発音される第2発音要素との組み合わせ毎に集計する、
ように構成されている付記1に記載の電子機器。
前記プロセッサは、
前記ユーザが前記第1発音要素と前記第2発音要素のそれぞれを指定したか否かを判定し、
前記判定の結果に応じて、前記発音テストの対象となる複数の単語の選択、前記評価スコアの集計、前記学習情報の出力、のうち少なくとも1つを制御する、
ように構成されている付記5に記載の電子機器。
前記プロセッサは、
前記発音テストによる各単語の発音の評価スコアを、単語内の前記第1発音要素と、前記単語内で前記第1発音要素の後または前または前後に連続して発音される第2発音要素との組み合わせ毎に集計する、
ように構成されている付記5または付記6に記載の電子機器。
電子機器のプロセッサにより、
複数の単語を対象とした発音テストによる各単語の発音の評価スコアを取得し、
前記取得した各単語の発音の評価スコアを、各単語内で連続する複数の発音要素の組み合わせ毎に集計し、
前記集計の結果に基づいて学習情報を出力する、発音学習処理を実行する、
ようにした発音学習方法。
電子機器のプロセッサを、
複数の単語を対象とした発音テストによる各単語の発音の評価スコアを取得し、
前記取得した各単語の発音の評価スコアを、各単語内で連続する複数の発音要素の組み合わせ毎に集計し、
前記集計の結果に基づいて学習情報を出力する、発音学習処理を実行する、
ように機能させるためのプログラム。
プロセッサを備え、
前記プロセッサは、
外部の電子機器において実施された発音テストの対象となる複数の単語と各単語の発音の評価スコアとを受信し、
前記受信した各単語の発音の評価スコアを、各単語内で連続する複数の発音要素の組み合わせ毎に集計し、
前記集計の結果に基づいて学習情報を出力する、発音学習処理を実行する、
ように構成されているサーバ。
11 …CPU(プロセッサ)
12 …記憶部(ストレージ)
12a…学習支援処理プログラム
12b…発音学習処理プログラム
12c…学習コンテンツ記憶エリア
12d…辞書データ記憶エリア
12e…発音属性管理テーブル記憶エリア
12f…テスト用単語管理データ記憶エリア
12g…テスト用単語グループ化データ記憶エリア
12h…発音テストモード記憶エリア
12i…発音学習アドバイステーブル記憶エリア
12j…発音学習用単語リスト記憶エリア
13 …外部記録媒体
14 …記録媒体読取部
15 …通信部
16 …キー入力部(キーボード)
17 …タッチパネル式表示部(ディスプレイ)
18 …音声入力部
18M…本体マイク
19 …音声出力部
19S…本体スピーカ
30 …Webサーバ(プログラムサーバ/発音学習サーバ)
N …通信ネットワーク(インターネット/クラウド)
Claims (17)
- プロセッサを備え、
前記プロセッサは、
ユーザに第1発音要素を指定させ、
前記ユーザが指定した前記第1発音要素を含む複数の単語で発音テストを実施し、
前記発音テストによる各単語の発音の評価スコアを、単語内の前記第1発音要素と、前記単語内で前記第1発音要素の後または前に連続して発音される第2発音要素との組み合わせ毎に集計し、
前記集計の結果に基づいて学習情報を出力する、発音学習処理を実行する、
ように構成されている電子機器。 - 前記プロセッサは、
前記複数の発音要素の組み合わせのうち、前記集計された評価スコアが他の発音要素の組み合わせよりも低い発音要素の組み合わせを特定し、
前記特定された発音要素の組み合わせに係る前記学習情報を出力する、
ように構成されている請求項1に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
前記特定された発音要素の組み合わせを含む単語の発音に係るアドバイス情報を出力する、
ように構成されている請求項2に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
前記特定された発音要素の組み合わせを含む単語を、発音学習の対象となる単語として出力する、
ように構成されている請求項2または請求項3に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
前記ユーザが前記第1発音要素と前記第2発音要素のそれぞれを指定したか否かを判定し、
前記判定の結果に応じて、前記発音テストの対象となる複数の単語の選択、前記評価スコアの集計、前記学習情報の出力、のうち少なくとも1つを制御する、
ように構成されている請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
前記発音テストによる各単語の発音の評価スコアを、単語内の前記第1発音要素と、前記単語内で前記第1発音要素の前後に連続して発音される第2発音要素との組み合わせ毎に集計する、
ように構成されている請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
テスト用単語の候補を取得し、
前記ユーザが、前記第1発音要素と前記第2発音要素のうち、いずれの発音要素も指定しない第1モードと、前記第1発音要素のみを指定する第2モードと、前記第1発音要素と前記第2発音要素の両方を指定する第3モード、のいずれのモードであるかを判定し、
前記第1モードにおいては、取得された全てのテスト用単語を対象として発音テストを実施し、
前記第2モードにおいては、取得された全てのテスト用単語のうちの前記第1発音要素に基づいて絞り込まれたテスト用単語を対象として発音テストを実施し、
前記第1モードにおいては、取得された全てのテスト用単語のうちの前記第1発音要素および前記第2発音要素に基づいて絞り込まれたテスト用単語を対象として発音テストを実施する、
ように構成されている請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
前記第1モードにおいては、前記第1発音要素と前記第2発音要素との組み合わせのうち、集計される前記評価スコアが最も低い組み合わせに対応する前記第1発音要素に係る第1アドバイス情報と、集計される前記評価スコアが最も低い組み合わせに対応する前記第1発音要素と前記第2発音要素との組み合わせに係る第2アドバイス情報を提示する、
ように構成されている請求項7に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
前記第2モードにおいては、前記第1アドバイス情報を提示せずに、前記第2アドバイス情報を提示する、
ように構成されている請求項8に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
前記第3モードにおいては、前記第1発音要素と前記第2発音要素との組み合わせに対応する前記評価スコアが所定以下であるか否かを判定し、所定以下であると判定された場合に、前記第1発音要素と前記第2発音要素とを含む単語を学習対象として選択する、
ように構成されている請求項8に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
学習対象として選択された単語の発音学習を実施する、ように構成されている請求項8に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
取得または絞り込まれたテスト用単語の数が決められた上限を超える場合には、所定数のテスト用単語をランダムに選択して発音テストを実施する、
ように構成されている請求項8に記載の電子機器。 - 前記プロセッサは、
テスト用単語の候補を取得し、
取得したテスト用単語の数が決められた上限を超える場合には、所定数のテスト用単語をランダムに選択して発音テストを実施する、
ように構成されている請求項5乃至請求項12のいずれか一項に記載の電子機器。 - 電子機器のプロセッサが、
ユーザに第1発音要素を指定させ、
前記ユーザが指定した前記第1発音要素を含む複数の単語で発音テストを実施し、
前記発音テストによる各単語の発音の評価スコアを、単語内の前記第1発音要素と、前記単語内で前記第1発音要素の後または前に連続して発音される第2発音要素との組み合わせ毎に集計し、
前記集計の結果に基づいて学習情報を出力する、発音学習処理を実行する、
発音学習方法。 - 電子機器のプロセッサを、
ユーザに第1発音要素を指定させ、
前記ユーザが指定した前記第1発音要素を含む複数の単語で発音テストを実施し、
前記発音テストによる各単語の発音の評価スコアを、単語内の前記第1発音要素と、前記単語内で前記第1発音要素の後または前に連続して発音される第2発音要素との組み合わせ毎に集計し、
前記集計の結果に基づいて学習情報を出力する、発音学習処理を実行する、
ように機能させるためのプログラム。 - プロセッサを備え、
前記プロセッサは、
外部の電子機器において実施された発音テストであって、ユーザが指定した第1発音要素を含む複数の単語を対象とした発音テストによる各単語の発音の評価スコアを受信し、
前記受信した各単語の発音の評価スコアを、単語内の前記第1発音要素と、前記単語内で前記第1発音要素の後または前に連続して発音される第2発音要素との組み合わせ毎に集計し、
前記集計の結果に基づいて決められた学習情報を前記外部の電子機器に送信する、発音学習処理を実行する、
ように構成されているサーバ装置。 - サーバ装置と端末装置とを含む発音学習処理システムであって、
ユーザに第1発音要素を指定させ、
前記ユーザが指定した前記第1発音要素を含む複数の単語で発音テストを実施し、
前記発音テストによる各単語の発音の評価スコアを、単語内の前記第1発音要素と、前記単語内で前記第1発音要素の後または前に連続して発音される第2発音要素との組み合わせ毎に集計し、
前記集計の結果に基づいて学習情報を出力する、発音学習処理を実行する、
ように構成されている発音学習処理システム。
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