JP7056449B2 - 蓄電デバイスの検査装置 - Google Patents
蓄電デバイスの検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7056449B2 JP7056449B2 JP2018145271A JP2018145271A JP7056449B2 JP 7056449 B2 JP7056449 B2 JP 7056449B2 JP 2018145271 A JP2018145271 A JP 2018145271A JP 2018145271 A JP2018145271 A JP 2018145271A JP 7056449 B2 JP7056449 B2 JP 7056449B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- circuit
- output voltage
- power supply
- storage device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/392—Determining battery ageing or deterioration, e.g. state of health
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/385—Arrangements for measuring battery or accumulator variables
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/389—Measuring internal impedance, internal conductance or related variables
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Secondary Cells (AREA)
- Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
- Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
Description
検査装置2による二次電池1の検査の基本原理を説明する。図1中では,二次電池1を模式的に示している。図1中の二次電池1は,起電要素Eと,内部抵抗Rsと,短絡抵抗Rpとにより構成されるモデルとして表されている。内部抵抗Rsは,起電要素Eに直列に配置された形となっている。短絡抵抗Rpは,電極積層体20中に侵入していることがある微小金属異物による導電経路をモデル化したものであり,起電要素Eに並列に配置された形となっている。
ここまでの説明では,検査装置2の出力電圧VSを一定とした。しかしながら出力電圧VSは一定でなければならないという訳ではない。むしろ,電圧制御部11の制御により出力電圧VSを適宜変化させることで,判定の要処理時間をさらに短縮することができる。以下,これについて説明する。
・電池容量:4Ah
・正極活物質:三元系リチウム化合物
・負極活物質:黒鉛
・環境温度:25℃
IB = (VS-VB)/Rx ……(1)
IB = (VS-VB)/(Rx+Rim) ……(2)
VS = VB+(Rx+Rim)*IB ……(3)
ΔVS = Rx*IB ……(4)
ΔVS = K*Rx*IB ……(5)
VS = VB+M*IB ……(6)
上記のように出力電圧VSを上昇させるための種々の演算は当然,電圧制御部11で行われる。電圧制御部11はその演算の結果に従い,電圧印加部4を制御して出力電圧VSを上昇させる。電圧印加部4は前述のように第1直流電源装置41と第2直流電源装置42との直列接続構成となっている。以下,電圧印加部4の詳細について説明する。
第1直流電源装置41:
・最大出力電圧----10[V]
・ステップ幅-----180[μV]
・初期出力電圧----4.0[V](固定)
第2直流電源装置42:
・最大出力電圧----10[mV]
・ステップ幅-----10[μV]
・初期出力電圧----270[μV]
これに対して比較例では,電圧印加部4を直列構成とせず,前述の第1直流電源装置41と同じもの1台のみで構成した。このため図7に示すように,第1直流電源装置41の大きいステップ幅での測定となった。図7は,第1直流電源装置41の出力電圧を1ステップ下降させる前後にわたる期間での,電圧計6の読み値(1回/秒)をプロットしたものである。この測定では,第1直流電源装置41の出力電圧を1ステップ上昇させると回路電流IBが発散するおそれがあると判断されたため,上昇させる変わりに下降させる実験にてステップ幅を示した。なお,図6と図7とで,縦軸(電圧)のスケールが異なっていることに注意されたい。
2 検査装置
3 回路
4 電圧印加部
5 電流計
11 電圧制御部
12 判定部
41 第1直流電源装置
42 第2直流電源装置(特定電源装置)
Claims (3)
- 検査対象である蓄電デバイスに電源を接続して回路を構成し,前記回路に流れる電流により前記蓄電デバイスの良否を判定する,蓄電デバイスの検査装置であって,
前記回路に前記蓄電デバイスの電圧と逆向きの直流電圧を印加する電圧印加部と,
前記回路の電流値を取得する電流計と,
前記電圧印加部の出力電圧を制御する電圧制御部と,
前記電流計の取得値に基づいて前記蓄電デバイスの良否を判定する判定部とを有し,
前記電圧印加部は,複数個の電源装置を直列接続したものであり,
前記複数個の電源装置の1つが,出力電圧が可変であるとともに,他の電源装置と比較して出力電圧の最大値およびステップ幅がいずれも小さい特定電源装置であり,
前記電圧制御部は,前記判定部による判定のために前記電圧印加部から前記回路に電圧を印加する際に,前記特定電源装置の出力電圧を操作することで,前記電圧印加部の出力電圧を調節するように構成されているものであることを特徴とする蓄電デバイスの検査装置。 - 請求項1に記載の蓄電デバイスの検査装置であって,前記電圧制御部は,
前記判定部による判定のために前記電圧印加部から前記回路に電圧を印加する際に,前記回路の寄生抵抗値と前記回路の電流値とに基づいて前記電圧印加部の出力電圧を上昇させるフィードバック制御を行うように構成されているものであることを特徴とする蓄電デバイスの検査装置。 - 請求項1または請求項2に記載の蓄電デバイスの検査装置であって,前記電圧制御部は, 前記判定部による判定のために前記電圧印加部から前記回路に電圧を印加する際に,前記回路の寄生抵抗値に応じて,前記電圧印加部の出力電圧を上昇させたときの前記回路の電流の増加分を前記回路の寄生抵抗の減少分に換算した負値である仮想抵抗値の絶対値が前記回路の寄生抵抗値未満に留まる範囲内で,前記電圧印加部の出力電圧を上昇させるように構成されているものであることを特徴とする蓄電デバイスの検査装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018145271A JP7056449B2 (ja) | 2018-08-01 | 2018-08-01 | 蓄電デバイスの検査装置 |
US16/414,864 US10845422B2 (en) | 2018-08-01 | 2019-05-17 | Electricity storage device tester |
CN201910500009.1A CN110794311B (zh) | 2018-08-01 | 2019-06-11 | 蓄电设备的检查装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018145271A JP7056449B2 (ja) | 2018-08-01 | 2018-08-01 | 蓄電デバイスの検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020020691A JP2020020691A (ja) | 2020-02-06 |
JP7056449B2 true JP7056449B2 (ja) | 2022-04-19 |
Family
ID=69228509
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018145271A Active JP7056449B2 (ja) | 2018-08-01 | 2018-08-01 | 蓄電デバイスの検査装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10845422B2 (ja) |
JP (1) | JP7056449B2 (ja) |
CN (1) | CN110794311B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7000847B2 (ja) * | 2017-12-25 | 2022-01-19 | トヨタ自動車株式会社 | 蓄電デバイスの検査方法および製造方法 |
JP7209450B2 (ja) | 2021-02-15 | 2023-01-20 | プライムプラネットエナジー&ソリューションズ株式会社 | 蓄電デバイスの自己放電検査方法及び蓄電デバイスの製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100127670A1 (en) | 2008-11-21 | 2010-05-27 | Faraday Technology Corp. | Battery charging system having high charge rate |
JP2014155260A (ja) | 2013-02-05 | 2014-08-25 | Tdk Corp | 電圧補償回路 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2846800B2 (ja) * | 1993-09-21 | 1999-01-13 | 三洋電機株式会社 | 充電装置 |
JP3286456B2 (ja) * | 1994-02-28 | 2002-05-27 | 三洋電機株式会社 | 二次電池の充電方法 |
US6759858B2 (en) * | 1999-10-20 | 2004-07-06 | Intel Corporation | Integrated circuit test probe having ridge contact |
US20050104609A1 (en) * | 2003-02-04 | 2005-05-19 | Microfabrica Inc. | Microprobe tips and methods for making |
US7132840B2 (en) * | 2004-07-29 | 2006-11-07 | Agere Systems Inc | Method of electrical testing |
KR100818519B1 (ko) * | 2006-05-04 | 2008-03-31 | 주식회사 엘지화학 | 배터리 관리 방법 및 장치 |
JP2010153275A (ja) | 2008-12-26 | 2010-07-08 | Toyota Motor Corp | 2次電池の良否判定方法および製造方法 |
JP6044114B2 (ja) * | 2011-06-03 | 2016-12-14 | 株式会社Gsユアサ | 状態判定装置、蓄電装置、状態判定方法 |
DE102013220716A1 (de) * | 2013-10-14 | 2015-04-16 | Robert Bosch Gmbh | Lithium-Ionen-Energiespeicher mit Messzelle und Verfahren zur Bestimmung von Eigenschaften des Lithium-Ionen-Energiespeichers |
US9684025B2 (en) * | 2013-11-26 | 2017-06-20 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | DUT continuity test with only digital IO structures apparatus and methods associated thereof |
US9995781B2 (en) * | 2014-08-25 | 2018-06-12 | Texas Instruments Incorporated | Ground fault detection for PCB and isolation grounds |
JP2016057264A (ja) * | 2014-09-12 | 2016-04-21 | Ntn株式会社 | バッテリーチェッカー |
JP6252439B2 (ja) * | 2014-11-07 | 2017-12-27 | トヨタ自動車株式会社 | 二次電池の異常検出方法及び異常検出装置 |
JP6162679B2 (ja) * | 2014-12-19 | 2017-07-12 | ファナック株式会社 | コモン信号の故障箇所を検出するマトリクス回路 |
JP6738138B2 (ja) * | 2015-11-17 | 2020-08-12 | セイコーインスツル株式会社 | 充電池検査装置、及び充電池検査方法 |
-
2018
- 2018-08-01 JP JP2018145271A patent/JP7056449B2/ja active Active
-
2019
- 2019-05-17 US US16/414,864 patent/US10845422B2/en active Active
- 2019-06-11 CN CN201910500009.1A patent/CN110794311B/zh active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100127670A1 (en) | 2008-11-21 | 2010-05-27 | Faraday Technology Corp. | Battery charging system having high charge rate |
JP2014155260A (ja) | 2013-02-05 | 2014-08-25 | Tdk Corp | 電圧補償回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10845422B2 (en) | 2020-11-24 |
CN110794311B (zh) | 2021-10-26 |
CN110794311A (zh) | 2020-02-14 |
US20200041575A1 (en) | 2020-02-06 |
JP2020020691A (ja) | 2020-02-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7000847B2 (ja) | 蓄電デバイスの検査方法および製造方法 | |
JP6939527B2 (ja) | 蓄電デバイスの検査方法および製造方法 | |
JP6907790B2 (ja) | 蓄電デバイスの検査方法および製造方法 | |
JP7056198B2 (ja) | 蓄電デバイスの検査装置 | |
JP6977687B2 (ja) | 蓄電デバイスの検査方法および製造方法 | |
JP7056449B2 (ja) | 蓄電デバイスの検査装置 | |
CN110736932B (zh) | 检查电力存储设备的方法及制造该电力存储设备的方法 | |
JP2022048704A (ja) | 二次電池の検査方法 | |
US11340302B2 (en) | Test method and manufacturing method for electrical storage device | |
JP2019035734A (ja) | 蓄電デバイスの検査方法および製造方法 | |
JP7040369B2 (ja) | 蓄電デバイスの検査方法 | |
CN118275915A (zh) | 一种基于恒压自放电测试的电池筛选方法及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201022 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210916 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211005 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220308 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220321 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7056449 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |