JP7035856B2 - 検査方法、検査システム及びプログラム - Google Patents
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Description
前記検査における前記部品の検査項目及び/又は検査基準を含む検査情報が部品毎に設定される設定ステップと、
前記検査プログラムにより、前記物品の品質が判定される判定ステップと、を有し、
前記設定ステップにおいては、前記検査情報が、前記部品の品番毎に設けられ前記検査情報の変更毎に更新される品番データ群に基づいて設定され、
前記判定ステップにおいては、前記検査プログラムが前記品番データ群を参照することで取得される前記検査情報に基づいて前記部品毎に品質が判定され、
前記検査プログラムが参照する前記品番データ群を所定の前記品番データ群に更新する参照データ更新ステップをさらに有し、
前記参照データ更新ステップにおいては、前記品番データ群のうち、所定の前記検査情報が所定条件を満たす中で最新の前記品番データ群に更新されることを特徴とする、検査方法である。
前記参照有無情報は、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照を有りとするON情報と、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照を無しとするOFF情報とを有し、
前記所定条件は、前記参照有無情報が前記ON情報に設定されていることとしてもよい。
前記検査品質レベル情報は、高い品質レベルを示す第1レベルと、低い品質レベルを示
す第2レベルを有し、
前記所定条件は、さらに、前記検査品質レベル情報が前記第1レベルに設定されていることとしてもよい。
前記検査品質レベル情報は、高い品質レベルを示す第1レベルと、低い品質レベルを示す第2レベルを有し、
前記検査品質レベル情報が前記第2レベルに設定されている場合には、前記判定ステップにおいて、前記部品の検査を、前記検査プログラムによらないで行うようにしてもよい。
前記検査における、前記部品の検査項目及び/又は検査基準を含む検査情報が組み入れられた品番データ群を記憶する記憶部と、
前記検査プログラムに前記物品の品質を判定させる処理部と、を備え、
前記品番データ群は、前記部品の品番毎に設けられるとともに前記検査情報の変更毎に更新され、
前記検査プログラムは、前記品番データ群を参照して取得される前記検査情報に基づいて前記部品毎に品質を判定し、
前記検査プログラムが参照する前記品番データ群を所定の前記品番データ群に更新する参照データ更新手段をさらに備え、
前記参照データ更新手段は、前記品番データ群のうち、所定の前記検査情報が所定条件を満たす中で最新の前記品番データ群に更新することを特徴とする、検査システムであってもよい。
前記参照有無情報は、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照を有りとするON情報と、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照を無しとするOFF情報とを含み、
前記所定条件は、前記参照有無情報が前記ON情報に設定されていることであることとしてもよい。
前記検査品質レベル情報は、高い品質レベルを示す第1レベルと、低い品質レベルを示
す第2レベルを有し、
前記所定条件は、さらに、前記検査品質レベル情報が前記第1レベルに設定されていることであることとしてもよい。
前記検査品質レベル情報は、高い品質レベルを示す第1レベルと、低い品質レベルを示す第2レベルを有し、
前記検査品質レベル情報が前記第2レベルに設定されている場合には、前記部品の検査を、前記部品の品質の判定を、前記検査プログラムによらないで行うこととしてもよい。
以下に図面を参照して、この発明の適用例について説明する。なお、以下では本発明が、電子部品が搭載される基板の検査システムに適用された場合について説明するが、本発明の対象は基板の検査に限られず、他の物品を検査の対象とするものであっても構わない。また、この適用例に記載されている具体的な構成は、特に記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
査システム9は、制御端末1、データ管理用サーバ2、基板検査装置3、が通信回線を介して相互に接続されることで構成されている。制御端末1は、ディスプレイモニタ、プリンタなどの出力部101、キーボードやマウスなどの入力部102、HDD、RAMなどのメモリ103、CPUなどの処理部104を備えた据え置き型の端末であるが、モバイル型、タブレット型の端末であっても構わないし、基板検査装置3と一体に構成されていてもよい。
う際に、検査項目や検査基準を部品毎に最適化することができ、検査品質を部品毎に管理することができる。よって、複数の部品が搭載された基板検査において、全ての部品について最適な検査情報に基づいて検査を行うことができる。また、部品毎に設定された検査情報を、品質レベル情報に基づいて容易に管理することが可能となる。
次に、本発明の実施例1について詳細に説明する。図3には、本実施例における品番データテーブル30の例を示す。この品番データテーブル30は、先述のように、データ管理用サーバ2の部品情報記憶部22及び、検査情報記憶部24に記憶された情報を基に、品番データ処理部13において作成し、出力部101により表示される。品番データテーブル30は、検査すべき基板に搭載される部品の各々に対応する品番IDと、各品番IDに対応する品番データ群が記録されたテーブルである。図3においては、品番ID001が付されたチップ抵抗である部品1608RSと、品番ID002が付されたQFP(QuadFlat Package)である部品QFP4848についての品番データ群が
表示されている。このように、複数の品番IDに係る部品の品番データ群を合わせたものが本実施例における品番データテーブルである。
プS106に進む。
より具体的には、特定のユーザ以外のユーザによって品質レベルがOKに変更されることを一切禁止してもよいし、特定の他のユーザ、例えば上記特定のユーザの上司等によってのみ、変更されることが許可されるようにしてもよい。
次に、本発明の実施例2について説明する。実施例2においては、既に全ての検査プログラムに信頼性の確認済の品番データ群が適用されている状態で、製造工程において「見逃し」が発生した場合の処理について説明する。図7は、品番データ群における品番レベルがOKに設定され、展開可否はONに設定された状態において、検査時に「見逃し」が発生した場合に実行される検査情報管理ルーチン2の処理を示すフローチャートである。本フローは制御端末1のメモリ103に記憶されるようにしてもよく、検査装置3から「見逃し」検出のデータが送信された際に、自動的に実行されるようにしてもよい。なお、手動検査が行われるステップについては、検査プログラムは、作業者からの結果入力待ち状態となってもよい。
生したか否かが手動検査にて判定される点である。なお、S114において、再度「条件付き一括更新」が行われるが、この場合の条件は、展開可否がONであり、品質レベルがOKであることに設定されている。
、緊急な対応が必要なために、条件を、展開可否ON且つ、品質レベルNGとした上で、品番ID003の品番データ群について「条件付き一括更新」が行われる。この場合は、図9(b)に示すように、強制的に品番ID003の部品について最新リビジョン12の品番データが参照される。そして、その品質レベルはNGに設定されている。そうすると、図8のステップS307及びステップS308に示したとおり、品番ID001の部品については、自動検査ではなく手動検査が行われることになる。そして、品番展開のステータスとしては、見逃し対応中と表示される。
<発明1>
部品が搭載された物品の品質を判定する検査プログラムにより、前記物品の検査を行う検査方法であって、
前記検査における前記部品の検査項目及び/又は検査基準を含む検査情報が部品毎に設定される設定ステップ(S101、S107、S113)と、
前記検査プログラムにより、前記物品の品質が判定される判定ステップ(S106、S110、S112)と、を有し、
前記設定ステップにおいては、前記検査情報が、前記部品の品番毎に設けられ前記検査情報の変更毎に更新される品番データ群に基づいて設定され、
前記判定ステップにおいては、前記検査プログラムが前記品番データ群を参照することで取得される前記検査情報に基づいて前記部品毎に品質が判定され、
前記検査プログラムが参照する前記品番データ群を所定の前記品番データ群に更新する参照データ更新ステップ(S114)をさらに有し、
前記参照データ更新ステップにおいては、前記品番データ群のうち、所定の前記検査情報が所定条件を満たす中で最新の前記品番データ群に更新されることを特徴とする、検査方法。
<発明5>
部品が搭載された物品の品質を判定する検査プログラムにより、前記物品の検査を行う検査システム(9)であって、
前記検査における、前記部品の検査項目及び/又は検査基準を含む検査情報が組み入れられた品番データ群を記憶する記憶部(22、24、104)と、
前記検査プログラムに前記物品の品質を判定させる処理部(1、104)と、を備え、
前記品番データ群は、前記部品の品番毎に設けられるとともに前記検査情報の変更毎に更新され、
前記検査プログラムは、前記品番データ群を参照して取得される前記検査情報に基づい
て前記部品毎に品質を判定し、
前記検査プログラムが参照する前記品番データ群を所定の前記品番データ群に更新する参照データ更新手段(1、104)をさらに備え、
前記参照データ更新手段は、前記品番データ群のうち、所定の前記検査情報が所定条件を満たす中で最新の前記品番データ群に更新することを特徴とする、検査システム。
2・・・データ管理用サーバ
3・・・基板検査装置
11・・・ユーザーインターフェース制御部
12・・・読出処理部
13・・・品番データ処理部
14・・・登録処理部
15・・・検査プログラム処理部
16・・・シミュレーション処理部
21・・・基板情報記憶部
22・・・部品情報記憶部
23・・・検査プログラム記憶部
24・・・検査情報記憶部
25・・・検査履歴記憶部
Claims (7)
- 部品が搭載された物品の品質を判定する検査プログラムにより、前記物品の検査を行う検査方法であって、
前記検査における前記部品の検査項目及び/又は検査基準を含む検査情報が部品毎に設定される設定ステップと、
前記検査プログラムにより、前記物品の品質が判定される判定ステップと、を有し、
前記設定ステップにおいては、前記検査情報が、前記部品の品番毎に設けられ前記検査情報の変更毎に更新される品番データ群に基づいて設定され、
前記判定ステップにおいては、前記検査プログラムが前記品番データ群を参照することで取得される前記検査情報に基づいて前記部品毎に品質が判定され、
前記検査プログラムが参照する前記品番データ群を所定の前記品番データ群に更新する参照データ更新ステップをさらに有し、
前記参照データ更新ステップにおいては、前記品番データ群のうち、所定の前記検査情報が所定条件を満たす中で最新の前記品番データ群に更新され、
前記所定の検査情報は、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照の有無を示す参照有無情報であり、
前記参照有無情報は、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照を有りとするON情報と、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照を無しとするOFF情報とを有し、
前記所定条件は、前記参照有無情報が前記ON情報に設定されていることであることを特徴とする、検査方法。 - 前記所定の検査情報は、さらに該検査情報の信頼性の指標である検査品質レベル情報を含み、
前記検査品質レベル情報は、高い品質レベルを示す第1レベルと、低い品質レベルを示す第2レベルを有し、
前記所定条件は、さらに、前記検査品質レベル情報が前記第1レベルに設定されていることである、請求項1に記載の検査方法。 - 前記所定の検査情報は、さらに該検査情報の信頼性の指標である検査品質レベル情報を含み、
前記検査品質レベル情報は、高い品質レベルを示す第1レベルと、低い品質レベルを示す第2レベルを有し、
前記検査品質レベル情報が前記第2レベルに設定されている場合には、前記判定ステップにおいて、前記部品の検査を、前記検査プログラムによらないで行うことを特徴とする、請求項1に記載の検査方法。 - 部品が搭載された物品の品質を判定する検査プログラムにより、前記物品の検査を行う検査システムであって、
前記検査における、前記部品の検査項目及び/又は検査基準を含む検査情報が組み入れられた品番データ群を記憶する記憶部と、
前記検査プログラムに前記物品の品質を判定させる処理部と、を備え、
前記品番データ群は、前記部品の品番毎に設けられるとともに前記検査情報の変更毎に更新され、
前記検査プログラムは、前記品番データ群を参照して取得される前記検査情報に基づいて前記部品毎に品質を判定し、
前記検査プログラムが参照する前記品番データ群を所定の前記品番データ群に更新する参照データ更新手段をさらに備え、
前記参照データ更新手段は、前記品番データ群のうち、所定の前記検査情報が所定条件を満たす中で最新の前記品番データ群に更新し、
前記所定の検査情報は、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照の有無を示す参照有無情報であり、
前記参照有無情報は、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照を有りとするON情報と、前記検査プログラムによる前記品番データ群への参照を無しとするOFF情報とを含み、
前記所定条件は、前記参照有無情報が前記ON情報に設定されていることであることを特徴とする、検査システム。 - 前記所定の検査情報は、さらに該検査情報の信頼性の指標である検査品質レベル情報を含み、
前記検査品質レベル情報は、高い品質レベルを示す第1レベルと、低い品質レベルを示す第2レベルを有し、
前記所定条件は、さらに、前記検査品質レベル情報が前記第1レベルに設定されていることであることを特徴とする、請求項4に記載の検査システム。 - 前記所定の検査情報は、さらに該検査情報の信頼性の指標である検査品質レベル情報を含み、
前記検査品質レベル情報は、高い品質レベルを示す第1レベルと、低い品質レベルを示す第2レベルを有し、
前記検査品質レベル情報が前記第2レベルに設定されている場合には、前記部品の検査を、前記部品の品質の判定を、前記検査プログラムによらないで行うことを特徴とする、請求項4に記載の検査システム。 - 請求項1から3のいずれか一項に記載のステップをコンピューターに実行させるプログラム。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018127016A JP7035856B2 (ja) | 2018-07-03 | 2018-07-03 | 検査方法、検査システム及びプログラム |
PCT/JP2019/026292 WO2020009109A1 (ja) | 2018-07-03 | 2019-07-02 | 検査方法、検査システム及びプログラム |
CN201980039723.3A CN112292924B (zh) | 2018-07-03 | 2019-07-02 | 检查方法、检查系统及记录介质 |
DE112019003385.9T DE112019003385T5 (de) | 2018-07-03 | 2019-07-02 | Prüfverfahren, prüfsystem und programm |
TW108123392A TWI697666B (zh) | 2018-07-03 | 2019-07-03 | 檢查方法、檢查系統及非暫時性電腦可讀取的記錄媒體 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018127016A JP7035856B2 (ja) | 2018-07-03 | 2018-07-03 | 検査方法、検査システム及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020009814A JP2020009814A (ja) | 2020-01-16 |
JP7035856B2 true JP7035856B2 (ja) | 2022-03-15 |
Family
ID=69060374
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018127016A Active JP7035856B2 (ja) | 2018-07-03 | 2018-07-03 | 検査方法、検査システム及びプログラム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7035856B2 (ja) |
CN (1) | CN112292924B (ja) |
DE (1) | DE112019003385T5 (ja) |
TW (1) | TWI697666B (ja) |
WO (1) | WO2020009109A1 (ja) |
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-
2018
- 2018-07-03 JP JP2018127016A patent/JP7035856B2/ja active Active
-
2019
- 2019-07-02 CN CN201980039723.3A patent/CN112292924B/zh active Active
- 2019-07-02 WO PCT/JP2019/026292 patent/WO2020009109A1/ja active Application Filing
- 2019-07-02 DE DE112019003385.9T patent/DE112019003385T5/de active Pending
- 2019-07-03 TW TW108123392A patent/TWI697666B/zh active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020009109A1 (ja) | 2020-01-09 |
DE112019003385T5 (de) | 2021-03-18 |
TW202006350A (zh) | 2020-02-01 |
JP2020009814A (ja) | 2020-01-16 |
TWI697666B (zh) | 2020-07-01 |
CN112292924A (zh) | 2021-01-29 |
CN112292924B (zh) | 2021-10-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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