JP7000169B2 - Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method and computer program - Google Patents
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Description
本発明の実施形態は、劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータープログラムに関する。 Embodiments of the present invention relate to a deterioration estimation device, a deterioration estimation system, a deterioration estimation method, and a computer program.
受変電機器等の機器に使用される絶縁材料である不飽和ポリエステルは、劣化すると絶縁抵抗値が低下する。その結果、絶縁トラブルが生じてしまう場合がある。絶縁抵抗値そのものは測定することが困難である。そのため、従来は、絶縁抵抗値を他の測定値から推定することが実施されてきた。例えば、光沢度、色差等の材料表面の特性値、汚損度、イオン付着量等の汚損因子、温度、湿度等の測定結果を多変量解析に用いて絶縁抵抗値を推定する方法が知られている。 When unsaturated polyester, which is an insulating material used in equipment such as power receiving and transforming equipment, deteriorates, its insulation resistance value decreases. As a result, insulation trouble may occur. The insulation resistance value itself is difficult to measure. Therefore, conventionally, it has been practiced to estimate the insulation resistance value from other measured values. For example, a method of estimating the insulation resistance value by using measurement results such as glossiness, color difference and other characteristic values of the material surface, stain degree, stain factor such as ion adhesion amount, temperature and humidity for multivariate analysis is known. There is.
しかしながら、光沢度や色差といった材料表面の特性値を用いた推定では、不飽和ポリエステルの劣化メカニズムに沿った評価が難しかった。そのため、絶縁抵抗値の推定精度が低下する場合があった。 However, in the estimation using the characteristic values of the material surface such as glossiness and color difference, it is difficult to evaluate along the deterioration mechanism of unsaturated polyester. Therefore, the estimation accuracy of the insulation resistance value may decrease.
本発明が解決しようとする課題は、無機物が添加剤として含まれている絶縁材料の劣化をより高い精度で推定することができる劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータープログラムを提供することである。 The problem to be solved by the present invention is to provide a deterioration estimation device, a deterioration estimation system, a deterioration estimation method, and a computer program capable of estimating the deterioration of an insulating material containing an inorganic substance as an additive with higher accuracy. That is.
実施形態の劣化推定装置は、画像取得部と、劣化推定部と、を持つ。画像取得部は、被写体からの光を複数の波長帯域毎に光電変換する撮像部から、無機物が添加剤として含まれている絶縁材料を前記被写体とする画像データを取得する。劣化推定部は、前記画像取得部によって取得された前記画像データにおける前記複数の波長帯域の分光反射強度に基づいて、前記絶縁材料の劣化を推定する。 The deterioration estimation device of the embodiment includes an image acquisition unit and a deterioration estimation unit. The image acquisition unit acquires image data for the subject of an insulating material containing an inorganic substance as an additive from an image pickup unit that photoelectrically converts light from the subject into each of a plurality of wavelength bands. The deterioration estimation unit estimates the deterioration of the insulating material based on the spectral reflection intensities of the plurality of wavelength bands in the image data acquired by the image acquisition unit.
以下、実施形態の劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータープログラムを、図面を参照して説明する。 Hereinafter, the deterioration estimation device, the deterioration estimation system, the deterioration estimation method, and the computer program of the embodiment will be described with reference to the drawings.
図1は、本実施形態における劣化推定システム1の構成例を示す図である。図1に示すように、劣化推定システム1は、劣化推定装置2と、表示装置3と、入力装置4と、撮像装置5と、ケーブル6とを備える。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of the
撮像装置5は、撮像用トレー51と、遮光壁52と、撮像部53と、光源54とを備える。撮像用トレー51は、撮像部53による撮像の対象となる試料8が載置されるトレーである。試料8は、劣化の推定対象となる絶縁材料である。試料8として用いられる絶縁材料は、無機物が添加剤として含まれているものである。例えば、不飽和ポリエステルが試料8として用いられてもよい。
The
遮光壁52は、例えば、撮像部53及び光源54が設置される上面と、上面を支持する側面と、撮像用トレー51が設置される下面と、を有する箱状のものである。遮光壁52は、撮像部53が撮像する撮像用トレー51上の試料8に対し、光源54から発せられた光以外の光(外光等)が当たらないよう遮光する機能を有する。遮光壁52は、例えば、内壁面には、撮像時にフレアや迷光等の影響を抑制するため反射防止膜がコーティングされている。
The light-
撮像部53は、複数の特定の波長帯域の信号強度のピークを判別可能な感度を有する画素が配列された撮像素子を備える。撮像部53が備える撮像素子は、被写体からの光を光電変換する画素が配列された構成であり、単板でも多板でもよい。特定の波長は、絶縁材料の劣化を推定するために有効な複数の波長帯域である。特定の波長は、例えば、650nm~750nm(第1の波長帯域)と、800nm~900nm(第2の波長帯域)とである。撮像部53は、これらの複数の波長帯域に感度を有する画素からの信号を処理して試料画像データとして出力する。試料画像データは、例えば各画素において複数の波長帯域における受光強度の値を有したデータであってもよい。例えば、画素毎に、第1の波長帯域の光の受光強度の値と、第2の波長帯域の光の受光強度の値と、これらの波長帯域に近い波長帯域の光の受光強度の値と、が与えられてもよい。これにより、劣化推定装置2は、撮像部53からの試料画像データに基づいて650nm~750nm(第1の波長帯域)と、800nm~900nm(第2の波長帯域)とのスペクトルに関して分析することが可能となる。
The
撮像部53は、ケーブル6を介して、撮像用トレー51上にある試料8を撮像して得た各画素に特定の波長のスペクトルデータを含む画像データである試料画像データを劣化推定装置2へ出力する。
The
劣化推定装置2は、ケーブル6を介して撮像装置5の撮像部53と接続されており、撮像部53から試料画像データを取得する機能を有するコンピューターである。劣化推定装置2は、取得した試料画像データに基づいて、絶縁材料の劣化の度合いを推定した情報である劣化情報を出力する機能を有する。また、劣化推定装置2は、試料画像データに対して、類似のスペクトルデータを有する画素ごとに分類する機能を有する。劣化推定装置2は、分類された画素に対して色分けする処理を行う機能を有してもよい。
The
表示装置3は、劣化推定装置2に接続されたディスプレイ装置であり、劣化情報を表示する。表示装置3は、必要に応じて試料画像データや試料画像データの解析結果を表示してもよい。
The
入力装置4は、劣化推定装置2に接続されたキーボード及びマウス等の入力機器である。入力装置4は、劣化推定装置2に装着された記録媒体からデータを読み出し可能な装置であってもよい。これにより、入力装置4は、記録媒体に記録されたデータを入力することができる。なお、タッチパネル端末を用いて、劣化推定装置2、表示装置3及び入力装置4を一体化した構成としてもよい。
The
図2は、絶縁材料として用いられる不飽和ポリエステルを試料8として用いてハイパースペクトルカメラ(撮像部53)で撮像することによって得られる観察面の平均スペクトルの具体例を示す図である。図2では、新品、10年相当の劣化品、30年相当の劣化品、40年相当の劣化品、60年相当の劣化品及び強制熱劣化品の各試料の観察面で得られた平均スペクトルが示されている。図2に示すように、強制的に熱劣化されたサンプルのスペクトルは、800nm以降で分光反射強度が増加している。一方で、650nm~750nmでは、新品と劣化品との間でスペクトルに有意な差が見られない。図2には、650nm~750nmの波長帯域を示す枠31と、800nm~900nmの波長帯域を示す枠32とが示されている。第1の波長帯域は、枠31の波長帯域を含むものであり、第2の波長帯域は、枠32の波長帯域を含むものである。
FIG. 2 is a diagram showing a specific example of an average spectrum of an observation surface obtained by taking an image with a hyperspectral camera (imaging unit 53) using unsaturated polyester used as an insulating material as a
図3は、絶縁材料として用いられる不飽和ポリエステルを試料8として用いてFT-IR分析を行った結果の例を示す図である。図3から、不飽和ポリエステルが劣化すると、表面の不飽和ポリエステルが減少し、充填剤として添加されている無機物(炭酸カルシウム、水酸化アルミニウム等)が相対的に増加することがわかる。この無機物の相対的な増加が800nm以降の分光反射強度の増加の原因であると推察した。このような推察に基づき、実施形態の劣化推定装置2は、650nm~750nmの波長帯域(第1の波長帯域)と、800nm~900nmの波長帯域(第2の波長帯域)との値に基づき劣化を推定する。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the result of FT-IR analysis using unsaturated polyester used as an insulating material as
次に、劣化推定システム1における推定処理の流れについて説明する。
たとえば、ユーザーは推定対象となる不飽和ポリエステルを試料8として撮像用トレー51に載置する。撮像部53は、撮像用トレー51に載置された試料8を撮像して、試料画像データを生成する。撮像部53は、生成された試料画像データを、ケーブル6経由で劣化推定装置2へ出力する。劣化推定装置2は、受信した試料画像データに基づいて、劣化情報を取得して、劣化情報を表示装置3に表示させる。
Next, the flow of the estimation process in the
For example, the user places the unsaturated polyester to be estimated as the
次に、劣化推定装置2の構成例について説明する。
図4は、劣化推定装置2の構成例を示す図である。図4に示すとおり、劣化推定装置2は、画像取得部21と、波長帯域処理部22と、基準情報記憶部23と、入力処理部24と、劣化推定部25と、表示制御部26とを備える。
Next, a configuration example of the
FIG. 4 is a diagram showing a configuration example of the
画像取得部21は、ケーブル6が接続される。画像取得部21は、撮像装置5内の撮像部53によって撮像された試料画像データを取得する。
A
波長帯域処理部22は、画像取得部21によって取得された試料画像データにおいて、第1の波長帯域及び第2の波長帯域の分光反射強度の値を取得する。波長帯域処理部22は、取得された値に基づいて指標情報を生成する。
波長帯域処理部22は、例えば、試料8の画像の各画素における第1の波長帯域の分光反射強度の値の平均値Mと、第2の波長帯域の分光反射強度の値の平均値Nとを用いて以下の式を計算することによって指標情報を算出してもよい。
指標情報=(M-N)/(M+N) ・・・(式1)
The wavelength
The wavelength
Index information = (MN) / (M + N) ... (Equation 1)
波長帯域処理部22は、例えば、上述した値M及びNに加えてさらに係数m及びnを用いて以下の式を計算することによって指標情報を算出してもよい。
指標情報=(mM-nN)/(mM+nN) ・・・(式2)
なお、m、nは任意の係数であり、指標情報による劣化推定の精度を高める目的で、例えば、-1から1までの値をとる係数である(-1≦m≦1、-1≦n≦1)。係数m、nは、複数種類の試料8について、実際に測定したM、Nの値を入力して、係数m、nの値を変化させた結果に基づいて、劣化していない不飽和ポリエステルと劣化している不飽和ポリエステルとを最も精度良く判別できる値を求める。
The wavelength
Index information = (mM-nN) / (mM + nN) ... (Equation 2)
Note that m and n are arbitrary coefficients, and for the purpose of improving the accuracy of deterioration estimation based on the index information, for example, they are coefficients that take a value from -1 to 1 (-1 ≦ m ≦ 1, -1 ≦ n). ≦ 1). The coefficients m and n are unsaturated polyesters that have not deteriorated based on the results of changing the values of the coefficients m and n by inputting the actually measured values of M and N for a plurality of types of
なお、上述した二つの式は指標情報を得る方法の一例であり、波長帯域処理部22は、他の方法によって指標情報を生成してもよい。例えば、第1の波長帯域と第2の波長帯域のどちらの方に分光反射強度の値のピークが位置しているかを示す情報として指標情報が生成されてもよい。
The above two equations are examples of a method for obtaining index information, and the wavelength
基準情報記憶部23は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置などの記憶装置である。基準情報記憶部23は、劣化推定部25において劣化の推定に用いられる基準情報を記憶する。例えば、基準情報記憶部23は、劣化している不飽和ポリエステルでは第1の波長帯域と第2の波長帯域とのいずれにおいてピークが生じるかを示す情報を基準情報として記憶してもよい。例えば、基準情報記憶部23は、指標情報の閾値と、閾値よりも大きい場合と小さい場合とどちらの場合に劣化していると判定するかを示す情報と、を基準情報として記憶してもよい。基準情報記憶部23は、複数の閾値と、各閾値に応じた劣化の程度を示す情報と、を基準情報として記憶してもよい。
The reference
入力処理部24は、入力装置4からのデータ等の入力を受け付ける。入力処理部24は、入力装置4から入力される基準情報を示すデータを取得する。入力処理部24は、取得された基準情報を基準情報記憶部23に記録する。
The
劣化推定部25は、基準情報記憶部23に記憶される基準情報と、波長帯域処理部22によって取得される指標情報とに基づいて、不飽和ポリエステルの試料8に生じる劣化について推定する。劣化推定部25は、試料8に所定程度の劣化が生じているか否かを推定してもよい。劣化推定部25は、試料8に生じている劣化の程度を推定してもよい。
The
例えば、基準情報が『劣化している不飽和ポリエステルでは第1の波長帯域と第2の波長帯域とのいずれにおいてピークが生じるかを示す情報』である場合、劣化推定部25は、指標情報に基づいて、試料8の試料画像において第1の波長帯域と第2の波長帯域とのいずれにおいてピークが生じているか判定する。そして、判定結果と基準情報とが一致するか否か判定する。一致する場合、劣化推定部25は、試料8に劣化が生じていると判定する。一方、一致しない場合、劣化推定部25は、試料8に劣化が生じていないと判定する。
For example, when the reference information is "information indicating in which of the first wavelength band and the second wavelength band the peak occurs in the deteriorated unsaturated polyester", the
例えば、基準情報が指標情報の閾値に関する情報である場合、劣化推定部25は、基準情報に基づいて閾値と指標情報とを比較し、比較結果に応じて試料8に劣化が生じているか否か判定する。
For example, when the reference information is information related to the threshold value of the index information, the
例えば、基準情報が指標情報の複数の閾値に関する情報である場合、劣化推定部25は、基準情報に基づいて各閾値と指標情報とを比較し、比較結果の閾値に応じて試料8の劣化の程度を判定する。
For example, when the reference information is information relating to a plurality of threshold values of the index information, the
次に、劣化推定装置2の動作について説明する。図5は、劣化推定装置2の動作を説明するフロー図である。画像取得部21は、撮像部53から試料画像データを取得する(ステップS101)。波長帯域処理部22は、画像取得部21によって取得された試料画像データに基づいて、第1の波長帯域及び第2の波長帯域に関する指標情報を取得する(ステップS102)。劣化推定部25は、試料8に生じている劣化を推定する(ステップS103)。表示制御部26は、劣化推定部25が推定した結果を表示装置3に表示させる(ステップS104)。
Next, the operation of the
以上に説明した劣化推定システム1では、撮像部53が撮像した試料画像データの波長帯域に関する情報に基づいて、試料8に生じている劣化が推定される。図3を用いて説明したように、波長帯域に関する情報に基づく劣化の推定は、無機物が添加剤として含まれている絶縁材料(例えば不飽和ポリエステル)の劣化メカニズムに沿った評価となる。そのため、無機物が添加剤として含まれている絶縁材料の劣化をより高い精度で推定することが可能となる。
また、推定結果が表示装置3に表示されるので、ユーザーは即座に劣化に関する推定結果を視認することができる。
In the
Further, since the estimation result is displayed on the
(変形例)
試料8は、劣化の推定対象となる絶縁材料そのものから取得された試料であってもよいし、劣化の推定対象となる絶縁材料そのものではないが同種の材料であって同種の環境に設置された材料であってもよい。例えば、実際に劣化の推定対象としたい絶縁材料(以下「実材料」という。)からは試料を取得することが難しい場合には、実材料と同種の材料を、実材料が設置されている環境と同じ環境又は同種の環境に設置しておくことによって、実材料と同様に劣化させることができる。そのように設置された試料を、劣化推定システム1の試料8として用いることによって、間接的にではあるが実材料の劣化に関する推定結果を得ることが可能となる。例えば、実際に運用されている真空遮断器に用いられている絶縁材料と同じ材料が、真空遮断器の周辺に同時期から設置されてもよい。この場合、真空遮断器の周辺に設置された絶縁材料を試料8として用いることによって、真空遮断器の絶縁材料の劣化を推定することができる。このような運用では、運用されている真空遮断器の周辺(例えば同一の建屋内)に、撮像装置5a及び送信機9が設置されてもよい。
(Modification example)
The
図6は、このように運用された場合の劣化推定システム1の具体例を示す図である。試料8と真空遮断器とはほぼ同じ環境に設置される。撮像部53は、所定のタイミング(例えば24時間毎、1週間毎など)で試料8を撮像し、試料画像データを送信機9に出力する。送信機9は、資料画像データを、ネットワークを介して劣化推定装置2に送信する。劣化推定装置2は、受信された資料画像データに基づいて推定処理を実行する。このように構成されることによって、ユーザーはわざわざ試料8を撮像装置5にセットする手間をかけることなく、真空遮断機等の機器の絶縁材料の劣化に関する情報を取得することが可能となる。なお、図6における真空遮断器は、絶縁材料が適用される機器の具体例にすぎない。推定対象となる絶縁材料は、真空遮断器に限定される必要は無い。
FIG. 6 is a diagram showing a specific example of the
図7は、劣化推定システム1の変形例を示す図である。図7の例では、撮像装置5bは、撮像部53と、複数の光源54と、接続インターフェース6aとを備えた機器として構成されている。撮像装置5bは、接続インターフェース6aを介して劣化推定装置2に接続される。接続インターフェース6aは、データを送受信できるコネクタである。接続インターフェース6aは、例えばUSB端子であってもよい。撮像装置5bは、携帯可能な一つの機器として構成される。劣化推定装置2は、携帯可能な情報機器を用いて構成されてもよい。劣化推定装置2は、例えばスマートフォンやタブレット端末であってもよい。劣化推定装置2の入力装置に対する操作に応じて、撮像装置5bは撮像を行う。例えば、劣化推定装置2に対してユーザーが撮像指示を行うと、撮像指示が撮像装置5bに出力される。撮像装置5bは、撮像指示に応じて光源54を点灯させ、撮像部53によって撮像処理を行う。このような携帯可能な装置を用いて劣化推定システム1が構成されることによって、ユーザーは、移動が困難な大型の装置に用いられている絶縁材料そのものを撮像することによって直接的に劣化に関する情報を得ることが可能となる。
FIG. 7 is a diagram showing a modification of the
図7において、撮像装置5bが接続された情報機器がサーバーやクラウドに対して試料画像データを送信するように構成されてもよい。この場合、サーバーやクラウドが劣化推定装置2にとして機能してもよい。
In FIG. 7, an information device to which the
上述した説明では、指標情報は、試料8の画像の各画素における値の平均値に基づいてしゅとくされた。これに対し、指標情報は、画素毎に取得されてもよい。このように構成されることによって、試料8において部分的(局所的)に生じている劣化を精度よく推定することが可能となる。
In the above description, the index information is calculated based on the average value of the values in each pixel of the image of the
以上説明した少なくともひとつの実施形態によれば、撮像部53が撮像した試料画像データの波長帯域に関する情報に基づいて、試料8に生じている劣化が推定される。そのため、より高い精度で絶縁材料の劣化を推定することが可能となる。
According to at least one embodiment described above, the deterioration occurring in the
また、以上に説明した劣化推定装置2内の機能をソフトウェアによって実現する場合は、それらの機能を実現するためのプログラムを、コンピューター読み取り可能な記録媒体に記録し、そのプログラムをコンピューターシステムに読み込ませて実行するようにしてもよい。なお、ここでいう「コンピューターシステム」とは、OS(Operating System)や周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピューター読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD(Compact Disk)-ROM等の可搬媒体、コンピューターシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピューター読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバーやクライアントとなるコンピューターシステム内部の揮発性メモリー(RAM)のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。
Further, when the functions in the
また、上記のプログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピューターシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピューターシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク(通信網)や電話回線等の通信回線(通信線)のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。 Further, the above program may be transmitted from a computer system in which this program is stored in a storage device or the like to another computer system via a transmission medium or by a transmission wave in the transmission medium. Here, the "transmission medium" for transmitting a program refers to a medium having a function of transmitting information, such as a network (communication network) such as the Internet or a communication line (communication line) such as a telephone line.
また、上記のプログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。さらに、上記のプログラムは、前述した機能をコンピューターシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル(差分プログラム)であってもよい。 Further, the above program may be for realizing a part of the above-mentioned functions. Further, the above program may be a so-called difference file (difference program) that can realize the above-mentioned functions in combination with a program already recorded in the computer system.
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other embodiments, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and variations thereof are included in the scope of the invention described in the claims and the equivalent scope thereof, as are included in the scope and gist of the invention.
1…劣化推定システム、2…劣化推定装置、3…表示装置、4…入力装置、5…撮像装置、6…ケーブル、51…撮像用トレー、52…遮光壁、53…撮像部、54…光源、8…試料、21…画像取得部、22…波長帯域処理部、23…基準情報記憶部、24…入力処理部、25…劣化推定部、26…表示制御部 1 ... Deterioration estimation system, 2 ... Deterioration estimation device, 3 ... Display device, 4 ... Input device, 5 ... Imaging device, 6 ... Cable, 51 ... Imaging tray, 52 ... Shading wall, 53 ... Imaging unit, 54 ... Light source , 8 ... sample, 21 ... image acquisition unit, 22 ... wavelength band processing unit, 23 ... reference information storage unit, 24 ... input processing unit, 25 ... deterioration estimation unit, 26 ... display control unit
Claims (4)
前記画像取得部によって取得された前記画像データにおける前記複数の波長帯域の分光反射強度に基づいて、前記絶縁材料の劣化を推定する劣化推定部と、
を備え、
前記撮像部は、第1の波長帯域及び第2の波長帯域の光を光電変換し、
前記第1の波長帯域は、650nm~750nmの波長帯域であり、
前記第2の波長帯域は、800nm~900nmの波長帯域であり、
前記劣化推定部は、前記第1の波長帯域の分光反射強度及び前記第2の波長帯域の分光反射強度に基づいて、前記絶縁材料の劣化を推定する、劣化推定装置。 An image acquisition unit that acquires image data of an insulating material containing an inorganic substance as an additive from an image pickup unit that photoelectrically converts light from a subject into multiple wavelength bands.
A deterioration estimation unit that estimates deterioration of the insulating material based on the spectral reflection intensities of the plurality of wavelength bands in the image data acquired by the image acquisition unit.
Equipped with
The imaging unit photoelectrically converts light in the first wavelength band and the second wavelength band.
The first wavelength band is a wavelength band of 650 nm to 750 nm.
The second wavelength band is a wavelength band of 800 nm to 900 nm.
The deterioration estimation unit is a deterioration estimation device that estimates deterioration of the insulating material based on the spectral reflection intensity of the first wavelength band and the spectral reflection intensity of the second wavelength band .
請求項1に記載の劣化推定装置と、
を備え、
前記被写体である試料は、劣化の推定対象となる絶縁材料である実材料と同種の絶縁材料であって、且つ、前記実材料と同種の環境に設置された絶縁材料である劣化推定システム。 An imaging unit that photoelectrically converts light from a sample as a subject into each of a plurality of wavelength bands and photoelectrically converts light in the first wavelength band and the second wavelength band .
The deterioration estimation device according to claim 1 and
Equipped with
The deterioration estimation system in which the sample as the subject is an insulating material of the same type as the actual material which is the insulating material for which deterioration is estimated, and is an insulating material installed in the same environment as the actual material .
前記画像取得ステップにおいて取得された前記画像データにおける前記複数の波長帯域の分光反射強度に基づいて、前記絶縁材料の劣化を推定する劣化推定ステップと、
を有し、
前記撮像部は、第1の波長帯域及び第2の波長帯域の光を光電変換し、
前記第1の波長帯域は、650nm~750nmの波長帯域であり、
前記第2の波長帯域は、800nm~900nmの波長帯域であり、
前記劣化推定ステップにおいて、前記第1の波長帯域の分光反射強度及び前記第2の波長帯域の分光反射強度に基づいて、前記絶縁材料の劣化を推定する、劣化推定方法。 An image acquisition step of acquiring image data of an insulating material containing an inorganic substance as an additive from an image pickup unit that photoelectrically converts light from a subject into a plurality of wavelength bands.
A deterioration estimation step for estimating deterioration of the insulating material based on the spectral reflection intensities of the plurality of wavelength bands in the image data acquired in the image acquisition step, and a deterioration estimation step.
Have,
The imaging unit photoelectrically converts light in the first wavelength band and the second wavelength band.
The first wavelength band is a wavelength band of 650 nm to 750 nm.
The second wavelength band is a wavelength band of 800 nm to 900 nm.
A deterioration estimation method for estimating deterioration of the insulating material based on the spectral reflection intensity of the first wavelength band and the spectral reflection intensity of the second wavelength band in the deterioration estimation step .
前記画像取得部によって取得された前記画像データにおける前記複数の波長帯域の分光反射強度に基づいて、前記絶縁材料の劣化を推定する劣化推定部と、
を備え、
前記撮像部は、第1の波長帯域及び第2の波長帯域の光を光電変換し、
前記第1の波長帯域は、650nm~750nmの波長帯域であり、
前記第2の波長帯域は、800nm~900nmの波長帯域であり、
前記劣化推定部は、前記第1の波長帯域の分光反射強度及び前記第2の波長帯域の分光反射強度に基づいて、前記絶縁材料の劣化を推定する劣化推定装置、としてコンピューターを機能させるためのコンピュータープログラム。 An image acquisition unit that acquires image data of an insulating material containing an inorganic substance as an additive from an image pickup unit that photoelectrically converts light from a subject into multiple wavelength bands.
A deterioration estimation unit that estimates deterioration of the insulating material based on the spectral reflection intensities of the plurality of wavelength bands in the image data acquired by the image acquisition unit.
Equipped with
The imaging unit photoelectrically converts light in the first wavelength band and the second wavelength band.
The first wavelength band is a wavelength band of 650 nm to 750 nm.
The second wavelength band is a wavelength band of 800 nm to 900 nm.
The deterioration estimation unit functions as a deterioration estimation device for estimating deterioration of the insulating material based on the spectral reflection intensity of the first wavelength band and the spectral reflection intensity of the second wavelength band. Computer program.
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