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JP6961809B2 - Boards, electronic components and mounting equipment - Google Patents

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JP6961809B2
JP6961809B2 JP2020517232A JP2020517232A JP6961809B2 JP 6961809 B2 JP6961809 B2 JP 6961809B2 JP 2020517232 A JP2020517232 A JP 2020517232A JP 2020517232 A JP2020517232 A JP 2020517232A JP 6961809 B2 JP6961809 B2 JP 6961809B2
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metal layer
insulating layer
redox
metal
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Description

本発明は、絶縁層と金属層を有する基板と、当該基板を利用した電子部品及び実装装置に関する。 The present invention relates to a substrate having an insulating layer and a metal layer, and an electronic component and a mounting device using the substrate.

従来からCCL(Copper Clad Laminate)のような基板が知られている。CCLのような基板は、ポリイミドフィルム等の絶縁層と、を有している。そして、金属層と絶縁層との密着性を高めるために金属層と絶縁層との間にポリイミドと粒子状の金属を含有する密着層を設けることが提案されている(例えば、特許文献1参照。)。 Conventionally, a substrate such as CCL (Copper Clad Laminate) has been known. A substrate such as CCL has an insulating layer such as a polyimide film. Then, in order to improve the adhesion between the metal layer and the insulating layer, it has been proposed to provide an adhesion layer containing polyimide and particulate metal between the metal layer and the insulating layer (see, for example, Patent Document 1). .).

特開2009−158727号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-158727

特許文献1に示されるような粒子状の金属を含有する密着層を別途設けることは、密着層内の粒子状の金属に少なくとも一部の電流が流れることから、設計による電流の流れとは異なる電流の流れが発生してしまう。 Providing a separate adhesion layer containing a particulate metal as shown in Patent Document 1 is different from the design-designed current flow because at least a part of the current flows through the particulate metal in the adhesion layer. A current flow will occur.

本発明は、設計による電流の流れとは異なる電流の流れが発生することを防止しつつ、金属層と絶縁層との密着性を高めることができる基板、電子部品及び実装装置を提供する。 The present invention provides a substrate, an electronic component, and a mounting device capable of improving the adhesion between a metal layer and an insulating layer while preventing a current flow different from the designed current flow.

本発明による基板は、
絶縁層と、
前記絶縁層に設けられた金属層と、
前記絶縁層と前記金属層との間に設けられ、前記絶縁層側の面で凹凸形状を有する酸化還元層と、
を備えてもよい。
The substrate according to the present invention
Insulation layer and
A metal layer provided on the insulating layer and
A redox layer provided between the insulating layer and the metal layer and having a concavo-convex shape on the surface on the insulating layer side.
May be provided.

本発明による基板において、
前記酸化還元層は前記金属層を構成する材料の酸化物を含んでもよい。
In the substrate according to the present invention
The redox layer may contain oxides of materials constituting the metal layer.

本発明による基板において、
前記酸化還元層は、第一酸化還元層と、前記第一酸化還元層よりも絶縁層側に設けられた第二酸化還元層とを有してもよい。
In the substrate according to the present invention
The redox layer may have a first redox layer and a first redox layer provided on the insulating layer side of the first redox layer.

本発明による基板において、
前記金属層は銅であり、
前記酸化還元層は主成分として酸化銅を含んでもよい。
In the substrate according to the present invention
The metal layer is copper
The redox layer may contain copper oxide as a main component.

本発明による基板において、
前記酸化還元層は酸化銅からなってもよい。
In the substrate according to the present invention
The redox layer may be made of copper oxide.

本発明による基板において、
前記金属層はパターニングされ、横断面が略長方形状又は略正方形状となり、
前記金属層の前記絶縁層側に凹凸形状からなる前記酸化還元層が設けられてもよい。
In the substrate according to the present invention
The metal layer is patterned and has a substantially rectangular or substantially square cross section.
The redox layer having a concavo-convex shape may be provided on the insulating layer side of the metal layer.

本発明による基板において、
前記金属層はパターニングされ、横断面が略矩形状となり、
前記金属層の前記絶縁層側だけに凹凸形状からなってもよい。
In the substrate according to the present invention
The metal layer is patterned and has a substantially rectangular cross section.
The metal layer may have an uneven shape only on the insulating layer side.

本発明による基板において、
前記酸化還元層の全部が前記絶縁層に埋設されていてもよい。
In the substrate according to the present invention
The entire redox layer may be embedded in the insulating layer.

本発明による基板において、
パターニングされた金属層の他方面と、前記金属層の側面の少なくとも一部に酸化還元層が設けられ、
前記酸化還元層が前記絶縁層に埋設されていてもよい。
In the substrate according to the present invention
A redox layer is provided on the other surface of the patterned metal layer and at least a part of the side surface of the metal layer.
The redox layer may be embedded in the insulating layer.

本発明による基板において、
パターニングされた金属層の他方面、側面及び一方面に酸化還元層が設けられてもよい。
In the substrate according to the present invention
Redox layers may be provided on the other side, side surface and one side of the patterned metal layer.

本発明による基板において、
前記金属層の一部が前記絶縁層内に埋設され、
前記絶縁層内に埋設される前記金属層の側面に前記酸化還元層が設けられ、
前記絶縁層から露出する前記金属層の側面には前記酸化還元層が設けられなくてもよい。
In the substrate according to the present invention
A part of the metal layer is embedded in the insulating layer,
The redox layer is provided on the side surface of the metal layer embedded in the insulating layer.
The redox layer may not be provided on the side surface of the metal layer exposed from the insulating layer.

本発明による基板において、
前記絶縁層は、第一絶縁層と、前記第一絶縁層に設けられたレジスト層とを有してもよい。
In the substrate according to the present invention
The insulating layer may have a first insulating layer and a resist layer provided on the first insulating layer.

本発明による電子部品は、
前述した基板と、
前記基板に設けられた電子部品と、
を備え、
前記電子部品は前記金属層に設けられていてもよい。
The electronic component according to the present invention
With the above-mentioned board
Electronic components provided on the substrate and
With
The electronic component may be provided on the metal layer.

本発明による実装装置は、
前述した電子部品を備えてもよい。
The mounting device according to the present invention is
The electronic components described above may be provided.

本発明において、絶縁層と金属層との間に設けられ、絶縁層側の面(他方面)で凹凸形状を有する酸化還元層が設けられる態様を採用した場合には、凹凸形状を有する酸化還元層によって金属層と絶縁層との間のピール強度(密着力)を高めることができる。また、絶縁層との密着性を高めるための凹凸形状が酸化還元層に設けられ、金属層にこのような凹凸形状が設けられないことから、金属層で流れる電流に乱れが生じることを防止できる。 In the present invention, when the embodiment provided between the insulating layer and the metal layer and the redox layer having a concavo-convex shape is provided on the surface (the other surface) on the insulating layer side, the redox having a concavo-convex shape is adopted. The layer can increase the peel strength (adhesion) between the metal layer and the insulating layer. Further, since the redox layer is provided with an uneven shape for improving the adhesion to the insulating layer and the metal layer is not provided with such an uneven shape, it is possible to prevent the current flowing in the metal layer from being disturbed. ..

本発明の実施の形態による基板の第一態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a first aspect of the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板の第二態様を示した断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a second aspect of the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板の第三態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a third aspect of the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板において、金属層及び酸化還元層をパターニングした態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing an embodiment in which a metal layer and a redox layer are patterned in a substrate according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板において、酸化還元層の全部及び金属層の一部を絶縁層に埋設させた一態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing an embodiment in which the entire redox layer and a part of the metal layer are embedded in an insulating layer in the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板において、酸化還元層の全部及び金属層の一部を絶縁層に埋設させた別の態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing another aspect in which the entire redox layer and a part of the metal layer are embedded in the insulating layer in the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板の製造工程の一例を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing an example of a substrate manufacturing process according to an embodiment of the present invention. 図7に続く、本発明の実施の形態による基板の製造工程の一例を示した断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing an example of a substrate manufacturing process according to an embodiment of the present invention, following FIG. 7. 本発明の実施の形態による基板の第四態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a fourth aspect of the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板の第五態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a fifth aspect of the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板の第六態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a sixth aspect of the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板の第七態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a seventh aspect of the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板の第八態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing an eighth aspect of the substrate according to the embodiment of the present invention. 金属層の他方面において凹凸形状を有する態様を示した断面図。The cross-sectional view which showed the aspect which has the concavo-convex shape on the other surface of a metal layer. 本発明の実施の形態による基板において、物質層を設けた態様を示した断面図。The cross-sectional view which showed the aspect which provided the substance layer in the substrate by embodiment of this invention. 本発明の実施の形態による基板において、絶縁層が第一絶縁層とレジスト層とを有する第一態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a first aspect in which the insulating layer has a first insulating layer and a resist layer in the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板において、絶縁層が第一絶縁層とレジスト層とを有する第二態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a second aspect in which the insulating layer has a first insulating layer and a resist layer in the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板において、絶縁層が第一絶縁層とレジスト層とを有する第三態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a third aspect in which the insulating layer has a first insulating layer and a resist layer in the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板において、絶縁層が第一絶縁層とレジスト層とを有する第四態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a fourth aspect in which the insulating layer has a first insulating layer and a resist layer in the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板において、絶縁層が第一絶縁層とレジスト層とを有する第五態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a fifth aspect in which the insulating layer has a first insulating layer and a resist layer in the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板において、絶縁層が第一絶縁層とレジスト層とを有する第六態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a sixth aspect in which the insulating layer has a first insulating layer and a resist layer in the substrate according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態による基板において、絶縁層が第一絶縁層とレジスト層とを有する第七態様を示した断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a seventh aspect in which the insulating layer has a first insulating layer and a resist layer in the substrate according to the embodiment of the present invention.

実施の形態
《構成》
本実施の形態による基板は、例えばCCL(Copper Clad Laminate)である。基板は、図1に示すように、絶縁層10と、絶縁層10に設けられた金属層30と、を有してもよい。絶縁層10と金属層30との間に、絶縁層10側の面で凹凸形状を有する酸化還元層20が設けられてもよい。本実施の形態で提供される基板は、プリント基板、銅張積層板のような金属張積層板等であってもよい。
Embodiment << configuration >>
The substrate according to this embodiment is, for example, CCL (Copper Clad Laminate). As shown in FIG. 1, the substrate may have an insulating layer 10 and a metal layer 30 provided on the insulating layer 10. A redox layer 20 having an uneven shape on the surface on the insulating layer 10 side may be provided between the insulating layer 10 and the metal layer 30. The substrate provided in this embodiment may be a printed circuit board, a metal-clad laminate such as a copper-clad laminate, or the like.

絶縁層10は、例えば樹脂、ガラス、セラミック等から構成されてもよい。絶縁層10は、2種類以上の絶縁性の物質が混合されていてもよい。例えば、絶縁層10に、繊維状又は粒状の絶縁体が含まれていてもよい。絶縁層10は、紙やガラス繊維等の基材に樹脂を含浸させ、乾燥処理した半硬化状態のシート(プリプレグ)であってもよい。絶縁層10は、窒化ケイ素等の熱伝導物質を含有してもよい。 The insulating layer 10 may be made of, for example, resin, glass, ceramic or the like. The insulating layer 10 may be a mixture of two or more kinds of insulating substances. For example, the insulating layer 10 may contain a fibrous or granular insulator. The insulating layer 10 may be a semi-cured sheet (prepreg) obtained by impregnating a base material such as paper or glass fiber with a resin and drying it. The insulating layer 10 may contain a heat conductive substance such as silicon nitride.

絶縁層10の材料としては、熱効硬化型樹脂、紫外線硬化型樹脂等を用いてもよい。一定の耐熱性があれば、絶縁層10の材料として熱可塑性樹脂を用いてもよい。熱硬化性の樹脂としては、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、シアネート樹脂等を用いてもよい。熱可塑性樹脂は、熱変形温度が50度以上であってもよい。 As the material of the insulating layer 10, a heat-curable resin, an ultraviolet curable resin, or the like may be used. If there is a certain degree of heat resistance, a thermoplastic resin may be used as the material of the insulating layer 10. As the thermosetting resin, a polyimide resin, an epoxy resin, a phenol resin, a cyanate resin or the like may be used. The thermoplastic resin may have a thermal deformation temperature of 50 degrees or higher.

金属層30は、金属箔、金属めっき、圧延板等であってもよい。 The metal layer 30 may be a metal foil, metal plating, a rolled plate, or the like.

酸化還元層20は金属層30を構成する材料の酸化物を含んでもよい。また、酸化還元層20はその全部又は一部が凹凸形状からなってもよい。凹凸形状は、断面が略三角形状であってもよいし(図2参照)、略矩形状であってもよいし(図2参照)、略半円形状であってもよいし(図3参照)、略円形状であってもよく(図3参照)、繊維が絡み合ったような網目形状となってもよく、凹凸形状は様々な形状として構成されてもよい。本実施の形態において「略○○形状」とは、当業者が見たときに概ね〇〇形状であることを意味している。 The redox layer 20 may contain an oxide of a material constituting the metal layer 30. Further, the redox layer 20 may have an uneven shape in whole or in part. The uneven shape may have a substantially triangular cross section (see FIG. 2), a substantially rectangular shape (see FIG. 2), or a substantially semicircular shape (see FIG. 3). ), It may have a substantially circular shape (see FIG. 3), it may have a mesh shape in which fibers are entangled, and the uneven shape may be configured as various shapes. In the present embodiment, the "substantially XX shape" means that the shape is approximately XX when viewed by a person skilled in the art.

金属層30は銅であってもよい。酸化還元層20は主成分として酸化銅を含んでもよい。酸化銅は、酸化第1銅、酸化第2銅、又は酸化第1銅及び酸化第2銅の両方を含んでもよい。ここで「主成分」というのは、重量%で50%を超える量で含有されていることを意味している。金属層30は、銅以外でもよく、例えば、金、銀、アルミニウム、ニッケル又はこれらの金属を含む合金であってよい。金属層30の厚みは10μm〜60μmであってもよく、18μm〜45μmであってもよい。 The metal layer 30 may be copper. The redox layer 20 may contain copper oxide as a main component. Copper oxide may include cuprous oxide, cupric oxide, or both cuprous oxide and cupric oxide. Here, the "main component" means that the content is contained in an amount exceeding 50% by weight. The metal layer 30 may be other than copper, and may be, for example, gold, silver, aluminum, nickel, or an alloy containing these metals. The thickness of the metal layer 30 may be 10 μm to 60 μm or 18 μm to 45 μm.

図11に示すように、酸化還元層20は、第一酸化還元層21と、第一酸化還元層21よりも絶縁層側に設けられた第二酸化還元層22とを有してもよい。酸化還元層が酸化銅から構成される場合には、例えば、第一酸化還元層21が酸化第1銅(CuO)を含有し、第二酸化還元層22が酸化第2銅(CuO)を含有してもよい。また、第一酸化還元層21は酸化第1銅(CuO)からなり、第二酸化還元層22は酸化第2銅(CuO)からなってもよい。As shown in FIG. 11, the redox layer 20 may have a first redox layer 21 and a second redox layer 22 provided on the insulating layer side of the first redox layer 21. When the oxidation-reduction layer is composed of copper oxide, for example, the first oxidation-reduction layer 21 contains the first copper oxide (Cu 2 O) and the second reduced dioxide layer 22 contains the second copper oxide (Cu O). It may be contained. Further, the primary redox layer 21 may be made of cuprous oxide (Cu 2 O), and the reduced carbon dioxide layer 22 may be made of cupric oxide (Cu O).

酸化還元層20は酸化銅だけから構成されてもよい。つまり。酸化還元層20の全てが酸化銅から構成されてもよい。この酸化銅は、酸化第1銅(CuO)、酸化第2銅(CuO)、又は酸化第1銅及び酸化第2銅の両方であってもよい。酸化反応が進むことで酸化第1銅が酸化第2銅となることから、処理液120(図7(a)参照)による処理時間を調整して、酸化第1銅と酸化第2銅の混合比率を調整するようにしてもよい。The redox layer 20 may be composed of only copper oxide. in short. All of the redox layer 20 may be composed of copper oxide. The copper oxide may be cuprous oxide (Cu 2 O), cupric oxide (Cu O), or both cuprous oxide and cupric oxide. Since the cuprous oxide becomes the cuprous oxide as the oxidation reaction proceeds, the treatment time with the treatment liquid 120 (see FIG. 7A) is adjusted to mix the cuprous oxide and the cupric oxide. The ratio may be adjusted.

金属層30が銅であり酸化還元層20が酸化銅である場合であって、酸化還元層20を形成する前の金属層の厚みが18μmのときには、最小値が1.090N/mmであり、最大値が1.150N/mmであり、平均値が1.115N/mmであるピール強度を有することを確認できた。また、金属層30が銅であり酸化還元層20が酸化銅である場合であって、酸化還元層20を形成する前の金属層の厚みが35μmのときには、最小値が1.606N/mmであり、最大値が1.784N/mmであり、平均値が1.691N/mmであるピール強度を有することを確認できた。 When the metal layer 30 is copper and the redox layer 20 is copper oxide and the thickness of the metal layer before forming the redox layer 20 is 18 μm, the minimum value is 1.090 N / mm. It was confirmed that the maximum value was 1.150 N / mm and the average value was 1.115 N / mm. Further, when the metal layer 30 is copper and the redox layer 20 is copper oxide and the thickness of the metal layer before forming the redox layer 20 is 35 μm, the minimum value is 1.606 N / mm. It was confirmed that the maximum value was 1.784 N / mm and the average value was 1.691 N / mm.

図7に示すように、金属層30の絶縁層10側に位置づけられる表面(以下「他方面」と言い、「裏面」と言ってもよい。)に処理液120が施されることで酸化還元層20が形成されてもよい。金属層30の他方面が処理液120に所定時間浸されることで酸化還元層20が形成されてもよいし、金属層30の他方面に処理液120が塗布され、所定時間経過した後で当該処理液120が除去されることで酸化還元層20が形成されてもよい。処理液120としては、例えばNaClO2やNaOH等のアルカリ性の処理液120を用いてもよい。処理液120としてNaClO2を用い、金属層30として銅を用いた場合には、例えば以下のような反応が起こり、CuO及び/又はCu2Oからなり、凹凸形状となった酸化還元層20が形成されることになる。
2Cu+NaClO2→2CuO+NaCl
4Cu+NaClO2→2Cu2O+NaCl
2Cu2O +NaClO2→4CuO+NaCl
As shown in FIG. 7, redox is reduced by applying the treatment liquid 120 to the front surface of the metal layer 30 located on the insulating layer 10 side (hereinafter, referred to as “the other surface” and also referred to as “the back surface”). Layer 20 may be formed. The redox layer 20 may be formed by immersing the other surface of the metal layer 30 in the treatment liquid 120 for a predetermined time, or after the treatment liquid 120 is applied to the other surface of the metal layer 30 and a predetermined time has elapsed. The redox layer 20 may be formed by removing the treatment liquid 120. As the treatment liquid 120, for example, an alkaline treatment liquid 120 such as NaClO 2 or NaOH may be used. When NaCl O 2 is used as the treatment liquid 120 and copper is used as the metal layer 30, for example, the following reaction occurs, and the redox layer 20 composed of Cu O and / or Cu 2 O and having an uneven shape is formed. It will be formed.
2Cu + NaClO 2 → 2CuO + NaCl
4Cu + NaClO 2 → 2Cu 2 O + NaCl
2Cu 2 O + NaClO 2 → 4CuO + NaCl

金属層30の他方面が処理液120で処理されることで凹凸形状を有する酸化還元層20が形成されてもよい。より具体的には、金属層30の他方面が処理液120で処理されることで酸化還元反応等の化学反応が起こり、その結果として、凹凸形状を有する酸化還元層20が形成されてもよい。処理液120による処理は金属層30の他方面側だけで行われ、一方面側では行われなくてもよい。ピール強度を確保するための他方面側だけで凹凸形状からなる酸化還元層20を形成し、その他の箇所では凹凸形状を設けないようにすることで、電流が有効に流れる金属層30の横断面積を確保することができる点で有益である。但し、このような態様に限られることはなく、金属層30の側面及び/又は一方面側に酸化還元層20が形成されてもよい(図12及び図13参照)。多層基板からなる態様を採用する場合には、一方側の面に凹凸形状を有する酸化還元層20を設けることで、一方側の面に位置する基板に対するピール強度を高めることができる。後述するように金属層30の少なくとも一部を絶縁層10に埋設する態様を採用する場合には、金属層30の側面に凹凸形状を有する酸化還元層20を設けることでピール強度を高めることができる。なお、金属層30の少なくとも一部を絶縁層10に埋設する場合には、図13の上方側に示すように、絶縁層10に埋設されていない部分では酸化還元層20が設けられないようにしてもよいし、図12に示すように絶縁層10に埋設されていない部分の酸化還元層20は残されていてもよい。 The redox layer 20 having an uneven shape may be formed by treating the other surface of the metal layer 30 with the treatment liquid 120. More specifically, when the other surface of the metal layer 30 is treated with the treatment liquid 120, a chemical reaction such as an oxidation-reduction reaction occurs, and as a result, an oxidation-reduction layer 20 having an uneven shape may be formed. .. The treatment with the treatment liquid 120 is performed only on the other side of the metal layer 30, and may not be performed on the one side. By forming the redox layer 20 having a concavo-convex shape only on the other surface side for ensuring the peel strength and not providing the concavo-convex shape at other places, the cross-sectional area of the metal layer 30 through which the current effectively flows. It is beneficial in that it can be secured. However, the present invention is not limited to this aspect, and the redox layer 20 may be formed on the side surface and / or one side surface of the metal layer 30 (see FIGS. 12 and 13). When the embodiment composed of a multilayer substrate is adopted, the peel strength with respect to the substrate located on the one side surface can be increased by providing the redox layer 20 having a concavo-convex shape on one side surface. When adopting the embodiment in which at least a part of the metal layer 30 is embedded in the insulating layer 10 as described later, the peel strength can be enhanced by providing the redox layer 20 having an uneven shape on the side surface of the metal layer 30. can. When at least a part of the metal layer 30 is embedded in the insulating layer 10, as shown on the upper side of FIG. 13, the redox layer 20 is not provided in the portion not embedded in the insulating layer 10. Alternatively, as shown in FIG. 12, the redox layer 20 of the portion not embedded in the insulating layer 10 may be left.

ピール強度を確保するための十分な大きさの凹凸形状からなる酸化還元層20を作るために、15分〜20分というように比較的長時間にわたり金属層30の他方面を処理液120によって処理してもよい。また、このように十分な時間、処理液120で処理することで、他方面側で略平坦形状からなる金属層30を形成でき、ひいては電流の流れを安定なものにすることができることが確認できている。 The other surface of the metal layer 30 is treated with the treatment liquid 120 for a relatively long time, such as 15 to 20 minutes, in order to form the redox layer 20 having a concavo-convex shape sufficiently large to secure the peel strength. You may. Further, it can be confirmed that by treating with the treatment liquid 120 for a sufficient time in this way, the metal layer 30 having a substantially flat shape can be formed on the other side, and thus the current flow can be stabilized. ing.

金属層30は回路設計等の各種設計のためにパターニングされてもよい(図7(d)参照)。パターニングされた金属層30は横断面が略矩形状となってよい。「矩形状」とは、正方形、長方形、台形等の各種矩形を含んだ形状となっている。本実施の形態の「略矩形状」には、表面において不可避的に形成される凹凸を有する態様を含んでいる。金属層30は略長方形状又は略正方形状となってもよい。本実施の形態において、略長方形状とは、横断面において一方側の辺(上方側の辺)が他方側の辺(下方側の辺)の70%以上の長さとなっていることを意味する。略正方形状とは横断面において厚み方向の長さと一方側の辺の長さとの差が、これら厚み方向の長さと一方側の辺の長さのうち長い方の長さの±5%以内にあることを意味している。 The metal layer 30 may be patterned for various designs such as circuit design (see FIG. 7D). The patterned metal layer 30 may have a substantially rectangular cross section. The "rectangular shape" is a shape including various rectangular shapes such as a square, a rectangle, and a trapezoid. The "substantially rectangular shape" of the present embodiment includes an aspect having irregularities inevitably formed on the surface. The metal layer 30 may have a substantially rectangular shape or a substantially square shape. In the present embodiment, the substantially rectangular shape means that one side (upper side) has a length of 70% or more of the other side (lower side) in the cross section. .. What is a substantially square shape? In the cross section, the difference between the length in the thickness direction and the length of one side is within ± 5% of the length in the thickness direction and the length of one side, whichever is longer. It means that there is.

なお、パターニングされた金属層30の一方側の辺の長さは他方側の辺の長さの80%以上であることが好ましく、90%以上であることがより好ましく、95%以上であることがさらにより好ましい。発明者が確認したところ、金属層30として銅を用い、酸化還元層20が酸化第1銅及び酸化第2銅からなる態様でパターニングすることで、驚くべきことに、金属層30の一方側の辺の長さが他方側の辺の長さの90%以上となる態様及び95%以上となる態様を実現することができた。従来から行われているような態様で銅からなる金属層をパターニングすると横断面が台形形状から構成されることから、このように金属層30の一方側の辺の長さが他方側の辺の長さの90%以上となる態様を提供できることは非常に有益である。つまり、このような態様を採用することで、横断面が台形形状からなる態様と比較して、パターニングされた金属層30の間隔を面内方向でより近接した位置に配置することができ、パターニングを微細化することができる。また、このような態様を採用することで、横断面が台形形状からなる態様と比較して、設計値に近い電流を流すことができるようになる。 The length of one side of the patterned metal layer 30 is preferably 80% or more, more preferably 90% or more, and 95% or more of the length of the other side. Is even more preferable. As confirmed by the inventor, copper is used as the metal layer 30, and the redox layer 20 is patterned in a manner composed of cuprous oxide and cupric oxide, which is surprisingly one side of the metal layer 30. It was possible to realize a mode in which the length of the side is 90% or more and a mode in which the length of the side is 95% or more of the length of the other side. When the metal layer made of copper is patterned in the manner conventionally used, the cross section is formed of a trapezoidal shape. Therefore, the length of one side of the metal layer 30 is the same as that of the other side. It is very beneficial to be able to provide an aspect that is 90% or more of the length. That is, by adopting such an embodiment, the spacing between the patterned metal layers 30 can be arranged at a position closer to each other in the in-plane direction as compared with the embodiment in which the cross section has a trapezoidal shape, and the patterning can be performed. Can be miniaturized. Further, by adopting such an aspect, a current closer to the design value can be passed as compared with the aspect in which the cross section has a trapezoidal shape.

凹凸形状からなる酸化還元層20の少なくとも一部が絶縁層10内に埋設されてもよく(図9参照)、酸化還元層20の全部が絶縁層10内に埋設されてもよい(図2及び図3参照)。また、酸化還元層20が絶縁層10の一方面(図10の上面)に載置され、酸化還元層20が絶縁層10内に埋設されていなくてもよい(図10参照)。但し、ピール強度を高める観点からは、酸化還元層20の少なくとも一部が絶縁層10内に埋設されていることが好ましく(図9参照)、酸化還元層20の全部が絶縁層10内に埋設されていることがより好ましい(図2及び図3参照)。本実施の形態において「埋設」とは一方面(「おもて面」と言ってもよい。)よりも他方側(図2等の横断面の下方側)に位置していることを意味しており、「絶縁層10内に埋設」とは、絶縁層10の一方面よりも他方側(下方側)に位置していることを意味している。 At least a part of the redox layer 20 having an uneven shape may be embedded in the insulating layer 10 (see FIG. 9), or the entire redox layer 20 may be embedded in the insulating layer 10 (FIG. 2 and FIG. 9). (See FIG. 3). Further, the redox layer 20 may be placed on one surface of the insulating layer 10 (upper surface of FIG. 10), and the redox layer 20 may not be embedded in the insulating layer 10 (see FIG. 10). However, from the viewpoint of increasing the peel strength, it is preferable that at least a part of the redox layer 20 is embedded in the insulating layer 10 (see FIG. 9), and the entire redox layer 20 is embedded in the insulating layer 10. It is more preferable (see FIGS. 2 and 3). In the present embodiment, "buried" means that the surface is located on the other side (lower side of the cross section in FIG. 2 and the like) rather than one surface (may be referred to as "front surface"). "Embedded in the insulating layer 10" means that the insulating layer 10 is located on the other side (lower side) of the one surface.

絶縁層10は半硬化状態となっていてもよい。半硬化状態の絶縁層10にパターニングされた金属層30の一部又は全部を押し込む等して埋め込んでもよい(図5及び図6参照)。金属層30の一部を絶縁層10に埋め込む場合には、例えば酸化還元層20の全部と金属層30の側面の一部が絶縁層10内に埋め込まれてもよい。金属層30を絶縁層10に埋め込む場合には、金属層30に押圧力が付与されてもよいが、このような態様に限られることはなく、金属層30が自重で絶縁層10内に埋め込まれてもよい。金属層30が絶縁層10内に埋め込まれる場合には、パターニングされた後の金属層30及び酸化還元層20が絶縁層10内に埋め込まれてもよいし(図5参照)、パターニングされる前の金属層30及び酸化還元層20が絶縁層10内に埋め込まれてもよい(図6参照)。 The insulating layer 10 may be in a semi-cured state. A part or all of the patterned metal layer 30 may be embedded in the semi-cured insulating layer 10 by pushing it into the insulating layer 10 (see FIGS. 5 and 6). When a part of the metal layer 30 is embedded in the insulating layer 10, for example, the entire redox layer 20 and a part of the side surface of the metal layer 30 may be embedded in the insulating layer 10. When the metal layer 30 is embedded in the insulating layer 10, a pressing force may be applied to the metal layer 30, but the present invention is not limited to this mode, and the metal layer 30 is embedded in the insulating layer 10 by its own weight. It may be. When the metal layer 30 is embedded in the insulating layer 10, the metal layer 30 and the redox layer 20 after patterning may be embedded in the insulating layer 10 (see FIG. 5), or before patterning. The metal layer 30 and the redox layer 20 may be embedded in the insulating layer 10 (see FIG. 6).

半硬化状態の絶縁層10にパターニングされた金属層30の一部又は全部を押し込む等して埋め込んだ後で、絶縁層10に熱を加えたり紫外線を照射したりして硬化させてもよい。なお、絶縁層10として熱可塑性樹脂を用いる場合には放冷又は冷却することで絶縁層10を硬化させてもよい。 After embedding a part or all of the patterned metal layer 30 in the semi-cured insulating layer 10 by pushing it into the insulating layer 10, the insulating layer 10 may be cured by applying heat or irradiating it with ultraviolet rays. When a thermoplastic resin is used as the insulating layer 10, the insulating layer 10 may be cured by allowing it to cool or cool.

図15に示すように、金属層30の一方面に金属層30よりもエッチングの遅い物質層200が設けられてもよい。この物質層200はレジスト層とは異なる層である。物質層200は金属層30とは異なる金属から構成されてもよく、金属層30が第一金属からなる場合には、物質層200は第二金属からなってもよい。一例として金属層30として銅を用いる場合には、エッチングの遅い物質層200としてはニッケル層を採用してもよい。この物質層200は最終的には除去されてもよい。このような物質層200を採用する場合には、エッチング液がまずは物質層200を溶かすために用いられることから、より矩形状に近い金属層30を得ることができる。 As shown in FIG. 15, a substance layer 200 whose etching is slower than that of the metal layer 30 may be provided on one surface of the metal layer 30. This material layer 200 is a layer different from the resist layer. The material layer 200 may be made of a metal different from that of the metal layer 30, and when the metal layer 30 is made of a first metal, the material layer 200 may be made of a second metal. As an example, when copper is used as the metal layer 30, a nickel layer may be used as the material layer 200 whose etching is slow. The material layer 200 may eventually be removed. When such a substance layer 200 is adopted, since the etching solution is first used to dissolve the substance layer 200, a metal layer 30 closer to a rectangular shape can be obtained.

《効果》
次に、上述した構成からなる本実施の形態による効果の一例について説明する。なお、「効果」で説明するあらゆる態様を、上記構成で採用することができる。
"effect"
Next, an example of the effect of the present embodiment having the above-described configuration will be described. In addition, any aspect described in "effect" can be adopted in the above configuration.

絶縁層10と金属層30との間に設けられ、絶縁層10側の面で凹凸形状を有する酸化還元層20が設けられる態様を採用した場合には、凹凸形状を有する酸化還元層20によって金属層30と絶縁層10との間のピール強度(密着力)を高めることができる。また、絶縁層10との密着性を高めるための凹凸形状が酸化還元層20に設けられ、金属層30にこのような凹凸形状が設けられないことから、金属層30で流れる電流に乱れが生じることを防止できる。つまり、図14に示すように金属層30の表面に凹凸形状が形成される場合には、当該凹凸形状に流れる電流も考慮して回路設計等を行う必要がある。またこのような凹凸形状に流れる電流を考慮しない場合には、設計とは異なる態様で電流が流れてしまうことがある。他方、本態様を採用した場合には、図14に示すように金属層30に絶縁層10と密着させるための比較的大きな凹凸形状が形成されないことから、金属層30の表面の凹凸形状によって電流の流れが乱れてしまうことを防止でき、ミリ波において悪影響が生じることも防止できる。このため、より正確に設計にしたがって電流を流すことができる。なお、酸化還元層20では電流が流れないことから、酸化還元層20が凹凸形状となっても電流の乱れの観点からは問題とはならない。また、前述したように、パターニングされた金属層30が略長方形状又は略正方形状となることでもより設計値に近い電流を流すことを実現できる。 When an embodiment is adopted in which the redox layer 20 is provided between the insulating layer 10 and the metal layer 30 and has a concavo-convex shape on the surface on the insulating layer 10 side, the metal is formed by the redox layer 20 having the concavo-convex shape. The peel strength (adhesion) between the layer 30 and the insulating layer 10 can be increased. Further, since the redox layer 20 is provided with an uneven shape for improving the adhesion to the insulating layer 10 and the metal layer 30 is not provided with such an uneven shape, the current flowing through the metal layer 30 is disturbed. Can be prevented. That is, when a concavo-convex shape is formed on the surface of the metal layer 30 as shown in FIG. 14, it is necessary to design a circuit or the like in consideration of the current flowing through the concavo-convex shape. Further, if the current flowing in such an uneven shape is not taken into consideration, the current may flow in a mode different from the design. On the other hand, when this aspect is adopted, as shown in FIG. 14, a relatively large uneven shape for adhering to the insulating layer 10 is not formed on the metal layer 30, so that the current is caused by the uneven shape on the surface of the metal layer 30. It is possible to prevent the flow of the metal from being disturbed, and it is also possible to prevent an adverse effect on the millimeter wave. Therefore, the current can be passed more accurately according to the design. Since no current flows through the redox layer 20, even if the redox layer 20 has an uneven shape, it does not pose a problem from the viewpoint of current disturbance. Further, as described above, the patterned metal layer 30 has a substantially rectangular shape or a substantially square shape, so that a current closer to the design value can be passed.

酸化還元層20が金属層30を構成する材料の酸化物を含み、当該酸化還元層20が金属層30の一部を酸化させることで形成される場合には、別材料を用いることなく金属層30を酸化させるだけで酸化還元層20を形成できる点で有益である。 When the redox layer 20 contains an oxide of a material constituting the metal layer 30, and the redox layer 20 is formed by oxidizing a part of the metal layer 30, the metal layer is formed without using another material. It is advantageous in that the redox layer 20 can be formed only by oxidizing 30.

金属層30として銅を用い、酸化還元層20が主成分として酸化銅を含む態様を採用する場合には、銅からなる金属層30を酸化させることで酸化された箇所を酸化還元層20として用いることができる点で有益である。 When copper is used as the metal layer 30 and the redox layer 20 contains copper oxide as a main component, the portion oxidized by oxidizing the metal layer 30 made of copper is used as the redox layer 20. It is beneficial in that it can be done.

金属層30が処理液120によって処理された箇所の全てが酸化還元層20となる態様を採用した場合には、処理された金属層30の全体を酸化還元層20として利用できる点で有益である。 When the embodiment in which all the portions of the metal layer 30 treated by the treatment liquid 120 are the redox layer 20, it is advantageous in that the entire treated metal layer 30 can be used as the redox layer 20. ..

図11乃至図13に示すように、酸化還元層20が、第一酸化還元層21と第二酸化還元層22とを有する態様では、第一酸化還元層21を形成するために第一処理液を用い、第二酸化還元層22を形成するために第一処理液とは異なる第二処理液を用いてもよい。より具体的には、金属層30を第一処理液で処理することで第一酸化還元層21を形成してもよい。そして、この第一酸化還元層21の一部又は全部を第二処理液で処理することで第二酸化還元層22を形成してもよい。このような態様を採用した場合には第一酸化還元層21の厚みと第二酸化還元層22の厚みをコントロールしやすくなる点で有益である。また、このような態様に限られることなく、同じ処理液で第一酸化還元層21及び第二酸化還元層22を形成してもよい。より具体的には、金属層30を所定の処理液で処理することで、金属層側に第一酸化還元層21が形成され、金属層30から離れた側に第二酸化還元層22が形成されるようにしてもよい。このように第一処理液、第二処理液又は所定の処理液で処理する場合には、処理液の濃度、処理液の温度、処理する時間等を調整することで第一酸化還元層21の厚みと第二酸化還元層22の厚みをコントロールしてもよい。 As shown in FIGS. 11 to 13, in the embodiment in which the redox layer 20 has the first redox layer 21 and the first redox layer 22, the first treatment liquid is used to form the first redox layer 21. A second treatment liquid different from the first treatment liquid may be used to form the reduced dioxide layer 22. More specifically, the first redox layer 21 may be formed by treating the metal layer 30 with the first treatment liquid. Then, the second redox layer 22 may be formed by treating a part or all of the first redox layer 21 with the second treatment liquid. When such an embodiment is adopted, it is advantageous in that the thickness of the first redox layer 21 and the thickness of the second redox layer 22 can be easily controlled. Further, the first redox layer 21 and the second dioxide reduction layer 22 may be formed with the same treatment liquid without being limited to such an embodiment. More specifically, by treating the metal layer 30 with a predetermined treatment liquid, the first redox layer 21 is formed on the metal layer side, and the second redox layer 22 is formed on the side away from the metal layer 30. You may do so. In the case of treating with the first treatment liquid, the second treatment liquid or the predetermined treatment liquid in this way, the concentration of the treatment liquid, the temperature of the treatment liquid, the treatment time and the like are adjusted to adjust the first redox layer 21. The thickness and the thickness of the reduced carbon dioxide layer 22 may be controlled.

パターニングされた金属層30の横断面が略矩形状となっている態様を採用した場合には、金属層30に流れる電流が比較的大きな凹凸形状を原因として乱れてしまうことを防止でき、ひいては正確な回路設計が可能となる。 When the aspect in which the cross section of the patterned metal layer 30 is substantially rectangular is adopted, it is possible to prevent the current flowing through the metal layer 30 from being disturbed due to the relatively large uneven shape, and by extension, it is accurate. Circuit design is possible.

次に、電子部品の製造工程の一例について説明する。 Next, an example of the manufacturing process of the electronic component will be described.

まず、銅箔等からなる金属層30を準備する。この金属層30の他方面を容器110内に貯留されているアルカリ性等からなる処理液120に所定時間浸す(図7(a)参照)。この結果、金属層30の他方面に凹凸形状を含む酸化還元層20が形成されることになる(図7(b)参照)。なお、金属層30の他方面を処理液120に浸す前に、金属層30の他方面をクリーニングし、不純物や汚れ等を除去するようにしてもよい。なお、酸化還元層20が第一酸化還元層21と第二酸化還元層22とを有する態様では、前述したように、第一酸化還元層21を形成するために第一処理液を用い、その後で第二酸化還元層22を形成するために第一処理液とは異なる第二処理液を用いてもよい。また、このような態様に限られることはなく、金属層30を所定の処理液で処理することで、金属層側に第一酸化還元層21を形成し、金属層30から離れた側に第二酸化還元層22を形成するようにしてもよい。 First, a metal layer 30 made of copper foil or the like is prepared. The other surface of the metal layer 30 is immersed in a treatment liquid 120 made of alkali or the like stored in the container 110 for a predetermined time (see FIG. 7A). As a result, the redox layer 20 including the uneven shape is formed on the other surface of the metal layer 30 (see FIG. 7B). Before immersing the other surface of the metal layer 30 in the treatment liquid 120, the other surface of the metal layer 30 may be cleaned to remove impurities, dirt, and the like. In the embodiment in which the redox layer 20 has the first redox layer 21 and the first redox layer 22, as described above, the first treatment liquid is used to form the first redox layer 21, and then the first treatment liquid is used. A second treatment liquid different from the first treatment liquid may be used to form the reduction reduction layer 22. Further, the present invention is not limited to such an embodiment, and by treating the metal layer 30 with a predetermined treatment liquid, the first redox layer 21 is formed on the metal layer side, and the first redox layer 21 is formed on the side away from the metal layer 30. The carbon dioxide reduction layer 22 may be formed.

次に、金属層30の他方面を絶縁層10の一方面に載置する(図7(c)参照)。 Next, the other surface of the metal layer 30 is placed on one surface of the insulating layer 10 (see FIG. 7C).

次に、金属層30の一方面にレジストを設け、エッジングを行う。このことによって金属層30をパターニングすることができ、回路を形成できる。なお、このように金属層30の他方面を処理液120で処理し、絶縁層10に載置した後で、パターニングを行うことから、パターニングされた金属層30の一方面及び側面には酸化還元層20が形成されず、他方面側だけで酸化還元層20を形成できる。 Next, a resist is provided on one surface of the metal layer 30 and edging is performed. As a result, the metal layer 30 can be patterned and a circuit can be formed. Since the other surface of the metal layer 30 is treated with the treatment liquid 120 and placed on the insulating layer 10 and then patterned, the patterned metal layer 30 is redox-reduced on one surface and the side surfaces. The layer 20 is not formed, and the redox layer 20 can be formed only on the other surface side.

以上のように形成された基板の金属層30の一方面に、半導体素子、コンデンサ、抵抗等の電子部品60が載置される(図8(a)参照)。 Electronic components 60 such as semiconductor elements, capacitors, and resistors are placed on one surface of the metal layer 30 of the substrate formed as described above (see FIG. 8A).

その後で、金属層30の一方面側が封止樹脂等によって封止され、電子素子が封止部90によって封止された電子部品が製造される(図8(b)参照)。このような電子部品は、自動車、飛行機、船舶、ヘリコプター、パソコン、家電等のあらゆる実装装置に組み込まれてもよい。このように本実施の形態では、実装装置も提供される。なお、封止樹脂等によって封止される必要は必ずしもなく、封止樹脂等の封止部が設けられていない態様も採用することができる。 After that, one side of the metal layer 30 is sealed with a sealing resin or the like, and an electronic component in which the electronic element is sealed by the sealing portion 90 is manufactured (see FIG. 8B). Such electronic components may be incorporated into any mounting device such as automobiles, airplanes, ships, helicopters, personal computers, home appliances and the like. As described above, in the present embodiment, the mounting device is also provided. It is not always necessary to seal with a sealing resin or the like, and an embodiment in which a sealing portion such as a sealing resin is not provided can also be adopted.

絶縁層10内にパターニングされた金属層30の一部を埋設させる場合には、金属層30をパターニングした後で、当該金属層30を押圧部材等によって押圧して半硬化状態の絶縁層10内に酸化還元層20の一部、又は酸化還元層20の全部と金属層30の一部を埋設させてもよい(図5参照)。また、このような態様に限られることはなく、パターニングする前に金属層30を押圧部材等によって押圧して半硬化状態の絶縁層10内に酸化還元層20の一部、又は酸化還元層20の全部と金属層30の一部を埋設させてもよい(図6参照)。 When a part of the patterned metal layer 30 is embedded in the insulating layer 10, after the metal layer 30 is patterned, the metal layer 30 is pressed by a pressing member or the like to be inside the semi-cured insulating layer 10. A part of the redox layer 20, or the whole of the redox layer 20 and a part of the metal layer 30 may be embedded in the metal layer (see FIG. 5). Further, the present invention is not limited to such an embodiment, and the metal layer 30 is pressed by a pressing member or the like before patterning, and a part of the redox layer 20 or the redox layer 20 is contained in the semi-cured insulating layer 10. And a part of the metal layer 30 may be buried (see FIG. 6).

半硬化状態の絶縁層10内に酸化還元層20の一部、又は酸化還元層20の全部と金属層30の一部を埋設させた後で、熱を加えたり紫外線を照射したりすることで、又は放冷もしくは冷却することで半硬化状態の絶縁層10を硬化させてもよい。このような態様を採用することで、より強い密着性(ピール強度)を有する基板を提供できる。 By embedding a part of the redox layer 20 or the whole redox layer 20 and a part of the metal layer 30 in the semi-cured insulating layer 10, heat is applied or ultraviolet rays are applied. Alternatively, the semi-cured insulating layer 10 may be cured by allowing it to cool or cool. By adopting such an embodiment, it is possible to provide a substrate having stronger adhesion (peel strength).

図16に示すように絶縁層10はレジスト層15を有してもよい。この場合、レジスト層15の下方にレジスト層15とは異なる樹脂等からなる第一絶縁層16が設けられてもよい。レジスト層15は第一絶縁層16と同等の絶縁性を持ち、第一絶縁層16と強い接着力を有してもよい。 As shown in FIG. 16, the insulating layer 10 may have a resist layer 15. In this case, a first insulating layer 16 made of a resin or the like different from the resist layer 15 may be provided below the resist layer 15. The resist layer 15 has an insulating property equivalent to that of the first insulating layer 16, and may have a strong adhesive force with the first insulating layer 16.

このような態様を採用する場合には、図17に示すように、第一絶縁層16の一部にレジスト層15、酸化還元層20及び金属層30が設けられてもよいし、図18に示すように、酸化還元層20の一部に金属層30が設けられてもよい。このように一部だけにレジスト層15、酸化還元層20及び金属層30や酸化還元層20が設けられる態様を採用する場合には、図16に示すように全面的に層を形成した後で、選択的に層を適宜除去することで図17や図18に示すような態様となってもよい。 When such an embodiment is adopted, as shown in FIG. 17, a resist layer 15, a redox layer 20 and a metal layer 30 may be provided as a part of the first insulating layer 16, and FIG. 18 shows. As shown, the metal layer 30 may be provided as a part of the redox layer 20. In the case of adopting the embodiment in which the resist layer 15, the redox layer 20, the metal layer 30, and the redox layer 20 are provided only partially as described above, after the layers are completely formed as shown in FIG. By selectively removing the layer as appropriate, the mode as shown in FIGS. 17 and 18 may be obtained.

また図19に示すように、レジスト層15、酸化還元層20及び金属層30が第一絶縁層16に押し込まれて設けられてもよい。また、このような態様を採用する場合には、図20で示すように金属層30の側面に凹凸形状を有する酸化還元層20が設けられてもよいし、図21で示すように金属層30及びレジスト層15の側面に凹凸形状を有する酸化還元層20が設けられてもよい。この際、酸化還元層20の側面も凹凸形状を有してもよい。また図22で示すように第一絶縁層16の表面が粗化されてもよい。 Further, as shown in FIG. 19, the resist layer 15, the redox layer 20, and the metal layer 30 may be provided by being pushed into the first insulating layer 16. Further, when such an embodiment is adopted, a redox layer 20 having an uneven shape may be provided on the side surface of the metal layer 30 as shown in FIG. 20, or the metal layer 30 may be provided as shown in FIG. And the redox layer 20 having an uneven shape may be provided on the side surface of the resist layer 15. At this time, the side surface of the redox layer 20 may also have an uneven shape. Further, as shown in FIG. 22, the surface of the first insulating layer 16 may be roughened.

上述した各実施の形態の記載及び図面の開示は、請求の範囲に記載された発明を説明するための一例に過ぎず、上述した実施の形態の記載又は図面の開示によって請求の範囲に記載された発明が限定されることはない。また、出願当初の請求項の記載はあくまでも一例であり、明細書、図面等の記載に基づき、請求項の記載を適宜変更することもできる。 The description of each embodiment and the disclosure of the drawings described above are merely examples for explaining the invention described in the claims, and are described in the claims by the description of the above-described embodiments or disclosure of the drawings. The invention is not limited. Further, the description of the claims at the time of filing is only an example, and the description of the claims may be changed as appropriate based on the description of the description, drawings and the like.

10 絶縁層
20 酸化還元層
30 金属層
60 電子部品


10 Insulation layer 20 Redox layer 30 Metal layer 60 Electronic components


Claims (12)

絶縁層と、
前記絶縁層の一方側に設けられた金属層と、
前記絶縁層と前記金属層との間に設けられ、前記絶縁層側の面で凹凸形状を有する酸化層と、
を備え、
前記酸化層は、前記金属層のうち、前記絶縁層が存在する他方面に設けられ、前記他方面側と反対側の一方面には設けられず、
前記金属層の他方面は、前記酸化層における絶縁層側の面における凹凸形状と比較して平坦な形状となっている基板。
Insulation layer and
A metal layer provided on one side of the insulating layer and
An oxide layer provided between the insulating layer and the metal layer and having an uneven shape on the surface on the insulating layer side,
With
The oxide layer is provided on the other surface of the metal layer in which the insulating layer is present, and is not provided on one surface on the side opposite to the other surface side.
The other surface of the metal layer is a substrate having a flat shape as compared with the uneven shape on the surface of the oxide layer on the insulating layer side.
前記酸化層は前記金属層を構成する材料の酸化物を含み、
前記金属層の一方面には電子部品が設けられる請求項1に記載の基板。
The oxide layer contains an oxide of a material constituting the metal layer, and contains an oxide.
The substrate according to claim 1, wherein an electronic component is provided on one surface of the metal layer.
前記酸化層は、第一酸化層と、前記第一酸化層よりも絶縁層側に設けられた第二酸化層とを有する請求項1又は2のいずれかに記載の基板。 The substrate according to claim 1 or 2, wherein the oxide layer has a first oxide layer and a first dioxide layer provided on the insulating layer side of the first oxide layer. 前記金属層は銅であり、
前記酸化層は主成分として酸化銅を含む請求項1乃至3のいずれか1項に記載の基板。
The metal layer is copper
The substrate according to any one of claims 1 to 3, wherein the oxide layer contains copper oxide as a main component.
前記酸化層は酸化銅からなる請求項4に記載の基板。 The substrate according to claim 4, wherein the oxide layer is made of copper oxide. 前記金属層はパターニングされ、横断面が略長方形状又は略正方形状となり、
前記金属層の前記絶縁層側に凹凸形状からなる前記酸化層が設けられる請求項1乃至5のいずれか1項に記載の基板。
The metal layer is patterned and has a substantially rectangular or substantially square cross section.
The substrate according to any one of claims 1 to 5, wherein the oxide layer having a concavo-convex shape is provided on the insulating layer side of the metal layer.
前記金属層はパターニングされ、横断面が略矩形状となり、
前記金属層の前記絶縁層側だけに凹凸形状からなる前記酸化層が設けられる請求項1乃至6のいずれか1項に記載の基板。
The metal layer is patterned and has a substantially rectangular cross section.
The substrate according to any one of claims 1 to 6, wherein the oxide layer having a concavo-convex shape is provided only on the insulating layer side of the metal layer.
パターニングされた金属層の他方面と、前記金属層の側面の少なくとも一部に酸化層が設けられ、
前記酸化層が前記絶縁層に埋設されていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の基板。
An oxide layer is provided on the other surface of the patterned metal layer and at least a part of the side surface of the metal layer.
The substrate according to any one of claims 1 to 7, wherein the oxide layer is embedded in the insulating layer.
前記金属層の一部が前記絶縁層内に埋設され、
前記絶縁層内に埋設される前記金属層の側面に前記酸化層が設けられ、
前記絶縁層から露出する前記金属層の側面には前記酸化層が設けられないことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の基板。
A part of the metal layer is embedded in the insulating layer,
The oxide layer is provided on the side surface of the metal layer embedded in the insulating layer.
The substrate according to any one of claims 1 to 8, wherein the oxide layer is not provided on the side surface of the metal layer exposed from the insulating layer.
前記絶縁層は、第一絶縁層と、前記第一絶縁層に設けられたレジスト層とを有することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の基板。 The substrate according to any one of claims 1 to 9, wherein the insulating layer has a first insulating layer and a resist layer provided on the first insulating layer. 請求項1乃至10のいずれか1項に記載の基板と、
前記基板に設けられた電子部品と、
を備え、
前記電子部品は前記金属層に設けられていることを特徴とする電子装置。
The substrate according to any one of claims 1 to 10 and the substrate.
Electronic components provided on the substrate and
With
An electronic device characterized in that the electronic component is provided on the metal layer.
請求項11に記載の電子装置を備えた実装装置。

A mounting device including the electronic device according to claim 11.

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