JP6658324B2 - X線発生装置 - Google Patents
X線発生装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6658324B2 JP6658324B2 JP2016119083A JP2016119083A JP6658324B2 JP 6658324 B2 JP6658324 B2 JP 6658324B2 JP 2016119083 A JP2016119083 A JP 2016119083A JP 2016119083 A JP2016119083 A JP 2016119083A JP 6658324 B2 JP6658324 B2 JP 6658324B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- raw material
- chamber
- storage tank
- rotating body
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 282
- 239000013077 target material Substances 0.000 claims description 45
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 24
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 23
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 claims description 20
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 11
- 229910000807 Ga alloy Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims description 4
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 17
- 229910001338 liquidmetal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000009972 noncorrosive effect Effects 0.000 description 2
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 229910000846 In alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 238000000441 X-ray spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000006023 eutectic alloy Substances 0.000 description 1
- 229910001084 galinstan Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
- H01J35/10—Rotary anodes; Arrangements for rotating anodes; Cooling rotary anodes
- H01J35/101—Arrangements for rotating anodes, e.g. supporting means, means for greasing, means for sealing the axle or means for shielding or protecting the driving
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
- H01J35/10—Rotary anodes; Arrangements for rotating anodes; Cooling rotary anodes
- H01J35/105—Cooling of rotating anodes, e.g. heat emitting layers or structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
- H01J35/10—Rotary anodes; Arrangements for rotating anodes; Cooling rotary anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G2/00—Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2235/00—X-ray tubes
- H01J2235/08—Targets (anodes) and X-ray converters
- H01J2235/081—Target material
- H01J2235/082—Fluids, e.g. liquids, gases
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Description
X線は、X線管を用いて発生させることができる。X線管は、その内部に一対の電極(陽極、陰極)を有する。陰極フィラメントに電流を流して加熱しておき、陽極と陰極間に高電圧を印加すると、フィラメントから発生するマイナスの熱電子が陽極表面にあるターゲットに高速で衝突し、当該ターゲットからX線が発生する。
特許文献1には、X線管において、陽極側のターゲットを液体金属ジェットとし、このターゲットに電子ビームを照射することにより、高輝度のX線を取り出す点が開示されている。
そこで、本発明は、比較的簡易な構成で、高輝度のX線を得ることができるX線発生装置を提供することを課題としている。
また、上記のX線発生装置において、前記ターゲット原料は、常温で液体状であってよい。このように、常温で液体状であるターゲット原料を用いることで、ターゲット原料を液体状に保つための加熱機構が必要ない。さらに、ターゲット原料が高温ではないため、当該ターゲット原料を貯留する第一の原料貯留槽や、ターゲット原料の飛散防止のための各種部材等に耐熱性をもたせる必要がない。したがって、より簡易な構成とすることができる。
さらに、上記のX線発生装置において、前記第一の捕捉部材は、板状の回転部材であってもよい。この場合、第一の捕捉部材に表面に付着した液体状のターゲット原料を、回転により生じる遠心力によって第一の捕捉部材の表面から容易に除去することができる。
さらに、上記のX線発生装置において、前記第二の捕捉部材は、板状の回転部材であってもよい。この場合、第二の捕捉部材に表面に付着した液体状のターゲット原料を、回転により生じる遠心力によって第二の捕捉部材の表面から容易に除去することができる。
さらに、前記膜厚調整部材は、前記回転体の前記エネルギービームが照射される領域における前記ターゲット原料の膜厚を調整可能な位置に配置されていてもよい。この場合、回転体の表面に塗布される液体状のターゲット原料の膜厚を、エネルギービームの照射によるX線放射に適した膜厚とすることができる。
さらに、上記のX線発生装置において、前記第一の原料貯留槽は、上方に開口を有するコンテナであってもよい。このように、第一の原料貯留槽を簡易な構成とすることもできる。この場合、回転体の回転によって液体状のターゲット原料がチャンバ内に飛散し得るが、ターゲット原料が腐食性のない原料である場合、チャンバの内壁に耐食性を持たせるといった施しは必要ない。
さらにまた、上記のX線発生装置において、前記第一の原料貯留槽は、その側壁における前記チャンバの底部よりも上方に、前記チャンバの底部に溜まった前記ターゲット原料を当該第一の原料貯留槽に回収可能な原料回収孔を備えてもよい。この場合、回転体の回転によってチャンバ内に飛散した液体状のターゲット原料を、第一の原料貯留槽へ戻すことができる。
この場合、第二空間において、回転体の回転によって回転体の表面からターゲット原料が飛散した場合であっても、飛散したターゲット原料が第一空間に侵入することを抑制することができる。したがって、回転体から飛散したターゲット原料がエネルギービーム入射窓部やX線出射窓部に付着することを抑制することができる。
さらに、上記のX線発生装置において、前記第一の原料貯留槽内の前記ターゲット原料を冷却する冷却機構をさらに備えていてもよい。この場合、エネルギービームの照射による加熱により第一の原料貯留槽内のターゲット原料の温度が変化することを抑制することができる。その結果、ターゲット原料を回転体の表面に安定して付着させることができ、安定したX線発生動作が可能となる。
この場合、循環機構におけるターゲット原料の熱容量を大きくすることができ、第一の原料貯留槽内のターゲット原料の温度変化を抑制することができる。その結果、ターゲット原料を回転体の表面に安定して付着させることができ、安定したX線発生動作が可能となる。また、X線発生動作により消費された第一の原料貯留槽内のターゲット原料を、第二の原料貯留槽から補充することもできる。この場合、長期間の安定したX線発生動作を実現することができる。
さらにまた、上記のX線発生装置において、前記ターゲット原料は、ガリウム、または、ガリウム合金であってよい。これにより、適切にX線を発生させることができる。
(第1の実施形態)
図1は、第一の実施形態におけるX線発生装置100の概略構成図である。この図1は、X線発生装置100を上方から見た図である。
X線発生装置100は、例えば波長10nm以下の硬X線〜軟X線を放出する装置である。
図1に示すように、X線発生装置100は、チャンバ11を有する。チャンバ11は、隔壁11aによって大きく2つの空間に分割されている。一方の空間は、隔壁11bによってさらに2つの空間(エネルギービーム入射空間11dとX線出射空間11e)に分割される第一空間である。他方の空間は、第一空間と隔壁11aに形成された開口部11fおよび11gにより空間的に接続された第二空間11cである。
さらに、X線発生装置100は、原料供給部20と、エネルギービーム入射部30と、X線出射部40と、を備える。原料供給部20は、第二空間11cに設けられている。また、エネルギービーム入射部30は、エネルギービーム入射空間11dに設けられ、X線出射部40は、X線出射空間11eに設けられている。以下、各部について具体的に説明する。
原料供給部20は、円盤状の回転体21を備える。回転体21は、例えばタングステン、モリブデン、タンタル等の高融点金属で構成することができる。回転体21は、その一部が、第一の原料貯留槽である原料貯留槽23によって貯留されたX線発生用のターゲット原料(以下、単に「原料」という。)22に浸漬されている。ここで、原料22は常温で液体状である金属であり、例えば、ガリウムや、ガリウム、インジウムおよびスズの共晶合金であるガリンスタン(登録商標)などのガリウム合金を用いることができる。
回転体21の略中心部には、モータ24の回転軸25が取り付けられている。すなわち、モータ24が回転軸25を回転させることにより、回転体21は回転する。モータ24は、不図示の制御部によって駆動制御される。回転軸25は、メカニカルシール26を介してチャンバ11内に導入される。メカニカルシール26は、チャンバ11内の雰囲気(第二空間11c内の減圧雰囲気)を維持しつつ、回転軸25の回転を許容する。
カバー状構造体である原料貯留槽23は、その下部に液体状の原料22を貯留する原料貯留部分を有する。原料貯留槽23の内部には、後述する原料循環装置27によって原料22が補充可能である。
回転体21が回転すると、当該回転により生じる遠心力により、回転体21表面に付着した原料22は飛散する。しかしながら、上記のように回転体21は、カバー状構造体である原料貯留槽23により包囲されている。したがって、回転体21から飛散した原料22は、原料貯留槽23の開口部23aを除き、原料貯留槽23の内壁に付着する。そして、内壁に付着した原料23は、原料貯留槽23下部の原料貯留部分に移動する。すなわち、原料貯留槽23の外部であって、チャンバ11内部である空間には、原料22が飛散することは殆どない。
図3は、図2におけるB−B断面図である。この図3に示すように、スキマー28は、原料貯留槽23の内壁に取り付けられ、回転体21の円盤状の表面との間に所定の間隙Dを設けるブロック状の構造体である。このスキマー28は、回転体21の円盤状の表面に塗布された原料22の一部を削ぎとるスクレーパーとして機能する。
なお、スキマー28自体の厚みは、原料貯留槽23の厚みよりも厚くてもよい。この場合、図3の破線で示したとおり、スキマーは、カバー状構造体から突出した構造となる。
原料循環装置27は、X線発生動作により原料22が消費された場合に、適宜、原料貯留槽23に原料22を補充する。また、原料循環装置27は、原料22の温度調整機構(冷却機構)としても機能する。原料循環装置27の構成例を図4に示す。
原料循環装置27は、原料貯留槽23との間で原料22を循環するための原料流入管路27aと、原料流出管路27bとを備える。原料流入管路27aおよび原料流出管路27bは、原料貯留槽23の原料貯留部分に接続されている。さらに、原料循環装置27は、原料22を貯留する第二の原料貯留槽27cと、原料22を循環するための原料駆動部27dとを備える。ここで、原料駆動部27dは、例えば、磁力により液体金属を輸送する電磁ポンプを使用することができる。第二の原料貯留槽27cおよび原料駆動部27dは、チャンバ11の外部に設置されている。
そこで、大容量の原料22を貯留可能な第二の原料貯留槽27cをチャンバ11の外部に設置し、原料流入管路27aを介して原料貯留槽23の原料貯留部分に原料22を補充可能に構成する。これにより、原料貯留槽23の原料貯留部分の原料22の量は長期間一定に保たれ、結果としてX線発生動作を長期間安定して行うことが可能となる。
すなわち、原料循環装置27は、原料貯留槽23の原料貯留部分の原料22の量が一定となるように、原料貯留槽23の原料貯留部分と第二の原料貯留槽27cとの間で原料22を循環する。
さらに、第二の原料貯留槽27c内の原料22の温度は、第二の原料貯留槽27c内部に設けられた温度調整部27eによって調整されてもよい。第二の原料貯留槽27cは、チャンバ11の外部に設置されているため、チャンバ11のサイズに左右されない大容量の温度調整部27eを用いることができる。これにより、原料22の温度を短時間で確実に所定の温度に調整することが可能となる。
なお、冷却機構は図4の原料循環装置27を用いた構成に限定されない。例えば、原料貯留槽23に、原料22を冷却するための冷媒を循環させる配管とチラーとを含んで構成される冷却機構を設けてもよい。この場合、原料貯留槽23内の原料22を外部の貯留槽との間で循環させる必要がないため、より簡易な構成とすることができる。
また、原料貯留槽23内の原料22の温度変化が無視できる程度である場合、冷却機構は必要ない。
図1に戻り、エネルギービーム入射部30の構成について説明する。
エネルギービームEbは、例えば、電子ビームやレーザビームであり、チャンバ11外部に設置された不図示のエネルギービーム供給装置から放出される。エネルギービームEbは、図1に示すように、チャンバ11の開口部に設けられたエネルギービーム入射窓部31からチャンバ11内に入射する。そして、チャンバ11内に入射したエネルギービームEbは、原料貯留槽23の開口部23aを介して回転体21の円盤状の表面に塗布されている原料22に対して照射される。これにより、X線が発生する。
エネルギービーム入射窓部31は、エネルギービームEbが電子ビームの場合、例えば、チタンやアルミニウムといった金属の膜を用いることができる。また、エネルギービーム入射窓部31は、エネルギービームEbがレーザビームの場合、例えば、ガラス材料を用いることができる。なお、エネルギービーム入射窓部31は、エネルギービームEbを透過可能な材質であり、且つ、チャンバ11内外の圧力差に耐え得る厚さを有していればよい。
回転窓部32の略中心部には、モータ33の回転軸34が取り付けられている。すなわち、モータ33が回転軸34を回転させることにより、回転窓部32は回転する。モータ33は、不図示の制御部によって駆動制御される。回転軸34は、メカニカルシール35を介してチャンバ11内に導入される。メカニカルシール35は、チャンバ11内の雰囲気(エネルギービーム入射空間11dのガス雰囲気)を維持しつつ、回転窓部32の回転を許容する。
回転窓部32を配置しない場合、上記の飛散した原料22は、場合によってはエネルギービーム入射窓部31に付着してしまう。エネルギービームEbが例えばレーザビームである場合、エネルギービーム入射窓部31に付着した原料22により当該レーザビームの強度が減少し、X線の強度が減少してしまうおそれがある。
このように、回転窓部32は、原料貯留槽23の開口部23aから飛散する原料22がエネルギービーム入射窓部31に到達することを防止することができる。また、回転窓部32を回転可能に構成するので、捕捉した原料22を容易に回転窓部32から取り除くことができる。なお、回転窓部32に付着した原料22を取り除く方法は、回転窓部32の遠心力を用いた方法に限定されない。また、原料22に腐食性がない場合には、チャンバ11内壁に回転体21から飛散した原料22が付着しても問題ないため、チャンバ11内壁に耐蝕性を持たせるための施しは必要ない。
次に、X線出射部40の構成について説明する。
上述したように、回転体21表面に付着された原料22にエネルギービームEbが照射されると、ターゲットからX線が放出される。放出されたX線は、図1に示すように、チャンバ11の開口部に設けられたX線出射窓部41からチャンバ11外に出射する。
X線出射窓部41は、X線を透過可能な材料から構成される。例えば、X線出射窓部41は、X線に対する透過率が非常に高いベリリウムにより構成された薄膜とすることができる。なお、X線出射窓部41は、X線を透過可能な材質であり、且つ、チャンバ11内外の圧力差に耐え得る厚さを有していればよい。
回転窓部42を配置しない場合、回転体21から飛散した原料22は、エネルギービーム入射窓部31の場合と同様に、場合によってはX線出射窓部41に付着してしまう。回転窓部42は、原料貯留槽23の開口部23aから飛散する原料22がX線出射窓部41に到達することを防止することができる。
ここで、上記原料22は、常温液体金属とする。そのため、X線発生用のターゲット原料を液体状にするための加熱機構が不要である。また、ターゲット原料が高温ではないため、当該ターゲット原料を貯留する原料貯留槽23や、ターゲット原料と接触し得る各種部材に耐熱性をもたせる必要がない。したがって、より簡易な構成とすることができる。
また、本実施形態におけるX線発生装置100は、第二空間11cを第一空間(エネルギービーム入射空間11d、X線出射空間11e)と比較して減圧雰囲気としている。これにより、第二空間11cに位置する原料貯留槽23の開口部23aから飛散する原料22は、第一空間内に進入しにくくなり、結果として当該原料22のエネルギービーム入射窓部31やX線出射窓部41への到達を抑制することができる。
このように、比較的簡易な構成で、回転体21から飛散する原料22がエネルギービーム入射窓部32やX線出射窓部42に付着することを抑制することができる。さらに、上記捕捉部材を板状(例えば、円盤状)の回転部材により構成するので、簡易な構成で捕捉部材により捕捉された原料22を当該捕捉部材から離脱させることができる。
次に、本発明の第二の実施形態について説明する。
この第二の実施形態は、上述した第一の実施形態において第一の原料貯留槽である原料貯留槽23をカバー状構造体としているのに対し、第一の原料貯留槽をコンテナとしたものである。
図5は、第二の実施形態における第一の原料貯留槽である原料貯留槽23´の構成を示す図である。
本実施形態において、原料貯留槽23´は、上方に開口を有するコンテナである。回転体21は、その一部が原料貯留槽23´が貯留する原料22に浸漬するように配置される。なお、モータを使用した回転体21の駆動構造、およびメカニカルシールを使用したチャンバ11との接続構造は、図1に示すものと同等であるので、説明は省略する。
図5に示すように、回転体21のエネルギービーム照射部分Baを含む領域は、チャンバ11内にて開放されている。よって、回転体21の回転により生ずる遠心力により、回転体21に付着している原料22の一部は飛散し、チャンバ11内壁に付着しやすい。ここで、原料22が常温液体金属である場合、チャンバ11内壁に付着した原料22は、チャンバ11の底部に移動し、当該底部に溜まる。
また、本実施形態のように、第一の原料貯留槽としてコンテナを用いる場合、第一の原料貯留槽としてカバー状構造体を用いる場合と比較して、チャンバ11内への原料22の飛散量が多くなる。そのため、回転窓部32および42による原料22の捕捉機構はより有効になる。
この図6では、原料貯留槽23´の底部がチャンバ11の底部から突出した構造となっているが、必ずしもこれに限るものではない。回転体21の直径や、原料貯留槽23´に貯留する原料22の量によっては、図5に示すように、原料貯留槽23´の底部とチャンバ11の底部とが一致することも有り得る。
なお、上記各実施形態においては、第1空間内に原料22を捕捉するための捕捉機構(回転窓部32、42)を設ける場合について説明したが、捕捉機構は必ずしも必要ではない。
また、上記各実施形態においては、エネルギービーム入射窓部31およびX線出射窓部41は、それぞれ複数設けられていてもよい。この場合、複数のエネルギービーム入射窓部に対応して、図1の原料貯留槽23の開口部23aは複数設けられていてもよい。
また、上記各実施形態においては、X線発生用のターゲット原料として、常温で液体状である金属を用いる場合について説明したが、ターゲット原料は液体状であればよく、常温で液体状である必要はない。ただし、常温で液体状である金属を用いることで、上述したように装置構成を簡易化することができるため、好ましい。
Claims (16)
- チャンバと、
前記チャンバ内に配置された円盤状の回転体と、
前記チャンバ内に配置され、液体状のX線発生用のターゲット原料を貯留する第一の原料貯留槽と、
前記回転体の一部が前記第一の原料貯留槽に貯留されたターゲット原料に浸漬した状態で前記回転体を回転させることにより、前記回転体の表面の少なくとも一部に前記ターゲット原料を塗布する原料供給機構と、
前記チャンバの第一の開口部に設けられ、前記回転体の表面上の前記ターゲット原料に照射されるエネルギービームを透過させて前記チャンバの外部から前記チャンバの内部へ入射するエネルギービーム入射窓部と、
前記チャンバの第二の開口部に設けられ、前記ターゲット原料への前記エネルギービームの照射により発生したX線を透過させて前記チャンバの外部に出射するX線出射窓部と、を備えることを特徴とするX線発生装置。 - 前記ターゲット原料は、常温で液体状であることを特徴とする請求項1に記載のX線発生装置。
- 前記回転体と前記X線出射窓部との間に配置され、前記X線を透過し前記ターゲット原料を捕捉する第一の捕捉部材をさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載のX線発生装置。
- 前記第一の捕捉部材は、板状の回転部材であることを特徴とする請求項3に記載のX線発生装置。
- 前記回転体と前記エネルギービーム入射窓部との間に配置され、前記エネルギービームを透過し前記ターゲット原料を捕捉する第二の捕捉部材をさらに備えることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載のX線発生装置。
- 前記第二の捕捉部材は、板状の回転部材であることを特徴とする請求項5に記載のX線発生装置。
- 前記回転体の表面上の前記ターゲット原料の膜厚が所定の膜厚となるよう調整する膜厚調整部をさらに備え、
前記膜厚調整部は、前記回転体の表面に対して前記所定の膜厚に相当する所定の間隙を介して対向配置する膜厚調整部材を備えることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載のX線発生装置。 - 前記膜厚調整部材は、前記回転体の前記エネルギービームが照射される領域における前記ターゲット原料の膜厚を調整可能な位置に配置されていることを特徴とする請求項7に記載のX線発生装置。
- 前記第一の原料貯留槽は、前記回転体を包囲するカバー状の構造体であって、
前記回転体の前記エネルギービームが照射される領域に対応する位置に、前記エネルギービームが通過する開口部を有することを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載のX線発生装置。 - 前記第一の原料貯留槽は、上方に開口を有するコンテナであることを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載のX線発生装置。
- 前記チャンバの下部に設けられ、前記チャンバの底部に溜まった前記ターゲット原料を前記チャンバの外部へ排出可能な排出口をさらに備えることを特徴とする請求項10に記載のX線発生装置。
- 前記第一の原料貯留槽は、その側壁における前記チャンバの底部よりも上方に、前記チャンバの底部に溜まった前記ターゲット原料を当該第一の原料貯留槽に回収可能な原料回収孔を備えることを特徴とする請求項10に記載のX線発生装置。
- 前記チャンバは、前記エネルギービーム入射窓部と前記X線出射窓部との配置空間を含む第一空間と、前記回転体の配置空間を含む第二空間とを有し、
前記第二空間は、前記第一空間と空間的に接続され、前記第一空間よりも減圧雰囲気に設定されていることを特徴とする請求項1から12のいずれか1項に記載のX線発生装置。 - 前記第一の原料貯留槽内の前記ターゲット原料を冷却する冷却機構をさらに備えることを特徴とする請求項1から13のいずれか1項に記載のX線発生装置。
- 前記チャンバの外部に配置され、前記ターゲット原料を貯留する第二の原料貯留槽と、
前記第一の原料貯留槽と前記第二の原料貯留槽との間で前記ターゲット原料を循環させる循環機構と、をさらに備えることを特徴とする請求項1から14のいずれか1項に記載のX線発生装置。 - 前記ターゲット原料は、ガリウム、または、ガリウム合金であることを特徴とする請求項1から15のいずれか1項に記載のX線発生装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016119083A JP6658324B2 (ja) | 2016-06-15 | 2016-06-15 | X線発生装置 |
PCT/JP2017/020024 WO2017217228A1 (ja) | 2016-06-15 | 2017-05-30 | X線発生装置 |
US16/309,073 US10672584B2 (en) | 2016-06-15 | 2017-05-30 | X-ray generator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016119083A JP6658324B2 (ja) | 2016-06-15 | 2016-06-15 | X線発生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017224490A JP2017224490A (ja) | 2017-12-21 |
JP6658324B2 true JP6658324B2 (ja) | 2020-03-04 |
Family
ID=60664564
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016119083A Active JP6658324B2 (ja) | 2016-06-15 | 2016-06-15 | X線発生装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10672584B2 (ja) |
JP (1) | JP6658324B2 (ja) |
WO (1) | WO2017217228A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023228716A1 (ja) | 2022-05-27 | 2023-11-30 | ウシオ電機株式会社 | 光源装置 |
US12250762B2 (en) | 2022-03-30 | 2025-03-11 | Ushio Denki Kabushiki Kaisha | Light source apparatus |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3736444A1 (en) | 2019-05-09 | 2020-11-11 | Excillum AB | Electromagnetic pump |
JP2023148403A (ja) * | 2022-03-30 | 2023-10-13 | ウシオ電機株式会社 | 光源装置 |
JP2024179110A (ja) * | 2023-06-14 | 2024-12-26 | ウシオ電機株式会社 | 光源装置及び膜厚調整機構 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2195070B (en) * | 1986-09-11 | 1991-04-03 | Hoya Corp | Laser plasma x-ray generator capable of continuously generating x-rays |
US5995584A (en) * | 1998-01-26 | 1999-11-30 | General Electric Company | X-ray tube having high-speed bearings |
DE19931296A1 (de) * | 1999-07-07 | 2001-01-11 | Philips Corp Intellectual Pty | Drehanoden-Röntgenröhre mit axialer Lagerung |
DE10106740A1 (de) | 2001-02-14 | 2002-08-22 | Philips Corp Intellectual Pty | Röntgenstrahler mit einem Target aus einem flüssigen Metall |
DE10130070A1 (de) * | 2001-06-21 | 2003-01-02 | Philips Corp Intellectual Pty | Röntgenstrahler mit Flüssigmetall-Target |
JP3795482B2 (ja) * | 2003-08-29 | 2006-07-12 | 株式会社東芝 | 回転陽極型x線管 |
US7368094B2 (en) * | 2004-09-23 | 2008-05-06 | General Motors Corporation | Plasma-assisted NOx reduction |
JP2009081069A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Toshiba Corp | 回転陽極型x線管 |
DE102008062671B4 (de) * | 2008-12-17 | 2011-05-12 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgeneinrichtung |
CN105609396B (zh) | 2010-12-22 | 2019-03-15 | 伊克斯拉姆公司 | 校直和聚焦x射线源内的电子束 |
JP6241062B2 (ja) * | 2013-04-30 | 2017-12-06 | ウシオ電機株式会社 | 極端紫外光光源装置 |
DE102014221931B4 (de) * | 2014-10-28 | 2023-05-25 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Röntgenröhre sowie Vorrichtung und Verfahren zur Emission von Röntgenstrahlung |
-
2016
- 2016-06-15 JP JP2016119083A patent/JP6658324B2/ja active Active
-
2017
- 2017-05-30 US US16/309,073 patent/US10672584B2/en active Active
- 2017-05-30 WO PCT/JP2017/020024 patent/WO2017217228A1/ja active Application Filing
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US12250762B2 (en) | 2022-03-30 | 2025-03-11 | Ushio Denki Kabushiki Kaisha | Light source apparatus |
WO2023228716A1 (ja) | 2022-05-27 | 2023-11-30 | ウシオ電機株式会社 | 光源装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190259557A1 (en) | 2019-08-22 |
JP2017224490A (ja) | 2017-12-21 |
US10672584B2 (en) | 2020-06-02 |
WO2017217228A1 (ja) | 2017-12-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6658324B2 (ja) | X線発生装置 | |
JP2007287643A (ja) | X線発生方法及びx線発生装置 | |
US8565381B2 (en) | Radiation source and method for the generation of X-radiation | |
US20230418171A1 (en) | Foil trap cover device and debris reduction apparatus | |
US20180139830A1 (en) | Discharge electrodes and light source device | |
EP4057070B1 (en) | Foil trap and light source apparatus including the same | |
JP7571687B2 (ja) | 収容排出機構、光源装置、及び収容排出方法 | |
EP4517427A1 (en) | Light source device | |
WO2024090019A1 (ja) | 原料供給装置及び光源装置 | |
EP4255124B1 (en) | Light source apparatus | |
WO2024084796A1 (ja) | 光源装置及び原料供給ユニット | |
WO2024185231A1 (ja) | 原料供給装置、光源装置、及び原料供給方法 | |
EP4255123A1 (en) | Light source apparatus | |
JP7347402B2 (ja) | 回転式ホイルトラップおよび光源装置 | |
EP4447619A1 (en) | Rotation body and light source apparatus | |
TW202501553A (zh) | 電漿生成機構及光源裝置 | |
JP2007066850A (ja) | X線発生方法及びx線発生装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190312 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191119 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191216 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200107 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200120 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6658324 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |