JP6336042B2 - 有機el素子および有機el素子の製造方法 - Google Patents
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Description
本発明の一態様に係る有機EL素子は、陽極と、前記陽極の上方に配された発光層と、前記発光層上に配され、アルカリ金属またはアルカリ土類金属である第1金属のフッ化物を含む第1中間層と、前記第1中間層上に配され、前記第1金属のフッ化物における前記第1金属とフッ素との結合を切る性質を有する第2金属を含む第2中間層と、前記第2中間層上に配された陰極と、前記陰極の上方に配され、水分および酸素を吸着する性質を有する第3金属を含む吸着層と、を有する有機EL素子である。そして、前記第1中間層の膜厚をD1、前記第2中間層の膜厚をD2とするとき、D1およびD2は、5〔%〕≦D2/D1≦25〔%〕の関係を満たすことを特徴とする。
[1.有機EL素子の構成]
本発明の一態様である実施形態に係る有機EL素子の構成について、図1を用い説明する。
基板11は、絶縁材料である基材111と、TFT(Thin Film Transistor)層112とを含む。TFT層112には、画素毎に駆動回路が形成されている。基材111が形成される材料としては、例えば、ガラスが用いられる。ガラス材料としては、具体的には例えば、無アルカリガラス、ソーダガラス、無蛍光ガラス、燐酸系ガラス、硼酸系ガラス、石英等のガラスなどが挙げられる。
層間絶縁層12は、基板11上に形成されている。層間絶縁層12は、樹脂材料からなり、TFT層112の上面の段差を平坦化するためのものである。樹脂材料としては、例えば、ポジ型の感光性材料が挙げられる。また、このような感光性材料として、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、シロキサン系樹脂、フェノール系樹脂が挙げられる。また、図1の断面図には示されていないが、層間絶縁層12には、画素毎にコンタクトホールが形成されている。
陽極13は、導電材料からなり、層間絶縁層12上に形成されている。陽極13は、画素毎に個々に設けられた画素電極であり、コンタクトホールを通じてTFT層112と電気的に接続されている。本実施形態においては、トップエミッション型であるので、光反射性を具備した導電材料により形成されるとよい。光反射性を具備する導電材料としては、金属が挙げられる。具体的には、Ag(銀)、Al(アルミニウム)、アルミニウム合金、Mo(モリブデン)、APC(銀、パラジウム、銅の合金)、ARA(銀、ルビジウム、金の合金)、MoCr(モリブデンとクロムの合金)、MoW(モリブデンとタングステンの合金)、NiCr(ニッケルとクロムの合金)などがある。
隔壁層14は、陽極13の上面の一部の領域を露出させ、その周辺の領域を被覆した状態で陽極13上に形成されている。陽極13上面において隔壁層14で被覆されていない領域(以下、「開口部」という。)は、サブピクセルに対応している。即ち、隔壁層14は、サブピクセル毎に設けられた開口部14aを有する。
正孔注入層15は、陽極13から発光層17への正孔の注入を促進させる目的で、陽極13上の開口部14a内に設けられている。正孔注入層15は、例えば、銀(Ag)、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)、バナジウム(V)、タングステン(W)、ニッケル(Ni)、イリジウム(Ir)などの酸化物、あるいは、PEDOT(ポリチオフェンとポリスチレンスルホン酸との混合物)などの導電性ポリマー材料からなる層である。上記の内、酸化金属からなる正孔注入層15は、正孔(ホール)を安定的に、または正孔(ホール)の生成を補助して、発光層17に対し正孔(ホール)を注入する機能を有し、大きな仕事関数を有する。本実施の形態においては、正孔注入層15は、PEDOT(ポリチオフェンとポリスチレンスルホン酸との混合物)などの導電性ポリマー材料からなる。
正孔輸送層16は、開口部14a内に形成されている。例えば、ポリフルオレンやその誘導体、あるいはポリアリールアミンやその誘導体などの化合物を用いることができる。
発光層17は、開口部14a内に形成されている。発光層17は、正孔と電子の再結合によりR、G、Bの各色の光を出射する機能を有する。発光層17の材料としては公知の材料を利用することができる。例えば、オキシノイド化合物、ペリレン化合物、クマリン化合物、アザクマリン化合物、オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、ペリノン化合物、ピロロピロール化合物、ナフタレン化合物、アントラセン化合物、フルオレン化合物、フルオランテン化合物、テトラセン化合物、ピレン化合物、コロネン化合物、キノロン化合物及びアザキノロン化合物、ピラゾリン誘導体及びピラゾロン誘導体、ローダミン化合物、クリセン化合物、フェナントレン化合物、シクロペンタジエン化合物、スチルベン化合物、ジフェニルキノン化合物、スチリル化合物、ブタジエン化合物、ジシアノメチレンピラン化合物、ジシアノメチレンチオピラン化合物、フルオレセイン化合物、ピリリウム化合物、チアピリリウム化合物、セレナピリリウム化合物、テルロピリリウム化合物、芳香族アルダジエン化合物、オリゴフェニレン化合物、チオキサンテン化合物、シアニン化合物、アクリジン化合物、8−ヒドロキシキノリン化合物の金属鎖体、2−ビピリジン化合物の金属鎖体、シッフ塩とIII族金属との鎖体、オキシン金属鎖体、希土類鎖体等の蛍光物質や、トリス(2-フェニルピリジン)イリジウムなどの燐光を発光する金属錯体等の公知の燐光物質を用いることができる。
第1中間層18は、発光層17上に形成されており、発光層17、正孔輸送層16、正孔注入層15、隔壁層14の内部や表面に存在する不純物が、第1中間層18や第2中間層や陰極薄膜層21へと侵入するのを防止するための層である。従って、第1中間層18は、不純物ブロック性を有する材料を含む。第1中間層18が形成される不純物ブロック性を有する材料は、例えば、アルカリ金属のフッ化物またはアルカリ土類金属のフッ化物であり、より具体的には、本実施形態においてはNaF(フッ化ナトリウム)である。第1中間層18に含まれるアルカリ金属のフッ化物中のアルカリ金属またはアルカリ土類金属のフッ化物中のアルカリ土類金属を、第1金属とする。
第2中間層19は、第1中間層18上に形成されており、第1中間層に含まれる第1金属のフッ化物における第1金属とフッ素との結合を分解する金属(以下、「第2金属」という。)を含む。第1金属とフッ素との結合を分解する第2金属として、例えば、アルカリ金属またはアルカリ土類金属が用いられる。本実施形態においては、第2金属は、具体的には、Ba(バリウム)である。
第1中間層18と第2中間層19とで、中間層20が構成される。
陰極薄膜層21は、各サブピクセル共通に設けられており、例えば、ITO(酸化インジウムスズ)、IZO(酸化インジウム亜鉛)等の導電性を有する金属酸化物からなる材料の薄膜、または、アルミニウム、マグネシウム、銀などの金属の薄膜もしくはそれらの合金の薄膜で形成されている。本実施形態においては、陰極薄膜層21は、アルミニウム薄膜である。
陰極補助層22は、電子輸送性を有する有機材料を用いて陰極薄膜層21上に各サブピクセル共通に形成されており、陰極薄膜層21の陰極としての機能を補助する役割を果たす。陰極補助層22の陰極薄膜層21の陰極としての機能を補助する役割は、次の通りである。陰極薄膜層21の膜厚は非常に薄く、電気抵抗率が高い。そのため、陰極薄膜層21の周辺部分に接続された配線から供給される電圧は、陰極薄膜層21の中央部分では電圧降下により低くなり、輝度むらの発生に繋がる。ここで、陰極薄膜層21の膜厚を厚くすると、金属は光を通しにくいため光透過性が低下し、光取出し効率が低下する。そこで、陰極薄膜層21上に陰極補助層22を形成し、陰極薄膜層21の周辺部から中央部への電力の供給を陰極補助層22により補助することにより、陰極薄膜層21の中央部での電圧降下を抑制して輝度ムラ抑制するとともに、光取出し効率の低下も抑制することができる。
本実施形態においては、陰極薄膜層21と陰極補助層22とで、陰極23が構成される。
吸着層24は、陰極補助層22上に形成され、外部からの不純物(水分、酸素)を吸着する機能を有しており、外部から侵入した不純物が陰極薄膜層21に到達して陰極薄膜層21を劣化させるのを抑制する。吸着層24には、水分や酸素を吸着するための第3金属が含まれている。第3金属に用いられる金属としては、アルカリ金属またはアルカリ土類金属が用いられる。より具体的には、例えば、リチウム、バリウム、カルシウム、カリウム、セシウム、ナトリウム、ルビジウム等の低仕事関数金属が用いられる。本実施形態においては、第3金属は、Ba(バリウム)であって、吸着層24は、Baの単層として形成される。特に、本実施形態のように金属薄膜が陰極薄膜層として用いられる場合、金属は水分や酸素により酸化されて劣化しやすいため、吸着層24の効果は大きくなる。
吸着層24の上には、外部からの水分や酸素の侵入を抑制するために封止層25を設けても良い。封止層25の材料としては、例えばSiN(窒化シリコン)、SiON(酸窒化シリコン)等の光透過性材料が選択される。
なお、図1には図示しないが、封止層25の上にカラーフィルターや上部基板を載置し、接合してもよい。上部基板の載置、接合により、水分および酸素などからの保護がさらに図られる。
正孔注入層15、正孔輸送層16、発光層17をウェットプロセスで形成する場合、これらの層の内部および表面に存在する不純物が中間層20もしくは陰極薄膜層21に到達すると、陰極薄膜層21を形成している金属や中間層20と反応して、発光層17への電子注入機能を低下させる。隔壁層14をウェットプロセスで形成する場合にも、隔壁層14の内部および表面に存在する不純物が、上記と同様の問題を引き起こす原因となる。
図2は、第2中間層19の膜厚D2が互いに異なる4種類の有機EL表示パネル100を試験体に用い、それぞれの試験体に電圧を印加して電流密度を測定した結果を示すグラフである。第2中間層19の膜厚D2は、0,0.5,1,2〔nm〕の4種類である。それぞれの試験体に対して印加電圧を変化させ、それぞれ複数セル(異なる複数の有機EL素子1)について電流密度の測定を行った。なお、上記4つの試験体においては、第2中間層19の膜厚D2が異なる以外は、何れも他の層の構成および膜厚は同じであり、第1中間層18の膜厚D1は、何れも4〔nm〕である。
図3は、第2中間層19の膜厚D2が互いに異なる有機EL表示パネル100についての発光効率比を示すグラフである。第2中間層19の膜厚D2は、0.1,0.2,0.5,1〔nm〕の4種類である。これら4種類の膜厚で形成された第2中間層19をそれぞれ有する4種類の有機EL表示パネルを試験体として、電流密度が10〔mA/cm2〕となるような電圧を印加した際の輝度を測定し、測定された輝度の値から発光効率を算出した。そして、基準となる有機EL表示パネルの発光効率の値を発光効率基準値として、発光効率基準値に対する比(発光効率比)を算出し、グラフにプロットしたのが図3である。
図4は、第1中間層18の膜厚D1が互いに異なる5種類の有機EL表示パネル100についての発光効率比を示すグラフである。第1中間層18の膜厚D1は、0、1、2、4、10〔nm〕である。なお、上記5種類の有機ELパネル試験においては、第2中間層19の膜厚D2=0.5〔nm〕である。
以上説明したように、第1中間層18の膜厚D1については、不純物ブロック性を確保するための最低限の膜厚が必要である。一方で、D1が厚くなりすぎると、絶縁層としての性質が強くなって発光層17へと電子が注入されにくくなり、十分な輝度が得られなくなる。
図6(a)は、吸着層24(本実施形態ではBaの層)の膜厚D3が互いに異なる3種類の有機EL表示パネル100についての発光効率比を示すグラフである。膜厚D3は、2,5,10〔nm〕の3種類である。発光効率比は、図3に示す発光効率比の場合と同様にして算出した。即ち、先ず、電流密度が10〔mA/cm2〕となるような電圧を印加した際の輝度を測定し、測定された輝度の値から発光効率を算出した。次に、基準となる有機EL表示パネルの発光効率の値を発光効率基準値として、発光効率基準値に対する比(発光効率比)を算出した。そして、算出した値をグラフにプロットしたのが図6(a)である。なお、ここでの試験体における第1中間層18の膜厚D1=4〔nm〕であり、第2中間層19の膜厚D2=0.5〔nm〕である。
本実施の形態に係る有機EL素子1は、吸着層24を有している。吸着層24は、第3金属を含んでおり、第3金属は、アルカリ金属またはアルカリ土類金属である。ここで、吸着層24に含まれる第3金属が、陰極薄膜層21を超えて拡散し、中間層20に達する場合がある。すると、中間層20の第2中間層19に含まれる第2金属は、第3金属と同じくアルカリ金属またはアルカリ土類金属であるため、吸着層24から拡散してきた第3金属もまた、第1中間層18のフッ化ナトリウム(NaF)におけるNaとF(フッ素)との結合を分解する機能を有すると考えられる。すると、第1中間層18による不純物ブロック性と第2中間層19によるNaFの分解能力とのバランスが崩れ、NaFの分解能力がより大きくなる結果、不純物ブロック性が低下して、発光効率が低下して短寿命化を引き起こす虞がある。特に、本実施形態の場合は、第2金属も第3金属も同じBaが用いられているため、このようなバランスの崩れは顕著に発生すると考えられる。
本実施形態に係る有機EL素子1の製造方法について図7〜図11を用いて以下に説明する。なお、図7〜図10は、有機EL素子1の製造過程を模式的に示す断面図であり、図11は、有機EL素子1の製造過程を示す模式工程図である。
図12は、有機EL素子1を複数有する有機EL表示パネル100を備えた有機EL表示装置1000の構成を示す模式ブロック図である。図12に示すように、有機EL表示装置1000は、有機EL表示パネル100と、これに接続された駆動制御部200とを有し構成されている。有機EL表示パネル100は、有機材料の電界発光現象を利用した表示パネルであり、複数の有機EL素子1が、例えば、マトリクス状に配列されて構成されている。駆動制御部200は、4つの駆動回路210〜240と制御回路250とから構成されている。
以上説明したように、本発明の実施形態に係る有機EL素子1の構成によれば、発光層17側からの第2中間層19や陰極薄膜層21への不純物の侵入を第1中間層18によりブロックし、且つ、第2中間層19により陰極23側から発光層17への電子注入を促進して、良好な発光特性を実現することができる。さらに、吸着層24により封止層25側からの第2中間層19や陰極薄膜層21への不純物の侵入を阻害し、良好な発光特性を実現することができる。
以上、本発明を実施形態に基づいて説明してきたが、本発明が上述の実施形態に限定されないのは勿論であり、以下のような変形例を実施することが出来る。
上記実施形態においては、有機EL素子1が、陰極補助層22を備えた構成について説明したが、これに限られない。陰極補助層22を備えない構成としてもよい。その場合であっても、封止層25側から侵入した不純物が吸着層24により吸着されるため、吸着層24を備えない場合と比較して不純物による陰極薄膜層21の劣化を抑制することができる。
上記実施形態においては、有機EL素子1が、正孔注入層15、正孔輸送層16を備えた構成について説明したが、これに限られない。例えば、これらのうちいずれか1つ以上の層、または全部を備えない構成としてもよい。
さらには、電子注入層や電子輸送層、透明導電層などの他の層をさらに含む構成とすることもできる。
上記実施形態においては、有機EL素子1の基材111を構成する絶縁材料としてガラスを用いた例について説明したが、これに限られない。基材111を構成する絶縁材料として、例えば、樹脂やセラミック等を用いてもよい。基材111に用いられる樹脂としては、例えば、ポリイミド系樹脂、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリエーテルサルフォン、ポリエチレン、ポリエステル、シリコーン系樹脂等の絶縁性材料が挙げられる。基材111に用いられるセラミックとしては、例えば、アルミナ等が挙げられる。
13 陽極
17 発光層
18 第1中間層
19 第2中間層
21 陰極薄膜層
22 陰極補助層
23 陰極
24 吸着層
Claims (18)
- 陽極と、
前記陽極の上方に配された発光層と、
前記発光層上に配され、アルカリ金属またはアルカリ土類金属である第1金属のフッ化物を含む第1中間層と、
前記第1中間層上に配され、前記第1金属のフッ化物における前記第1金属とフッ素との結合を切る性質を有する第2金属を含む第2中間層と、
前記第2中間層上に配された陰極と、
前記陰極の上方に配され、水分および酸素のうち少なくとも一方を吸着する性質を有する第3金属を含む吸着層と、を有し、
前記第1中間層と第2中間層は一対のみであって、
前記第1中間層の膜厚をD1、前記第2中間層の膜厚をD2とするとき、D1およびD2は、5〔%〕≦D2/D1<20〔%〕の関係を満たし、かつ、
膜厚D1は、1〔nm〕以上、10〔nm〕以下であると共に、膜厚D2は、0.2〔nm〕以上、1〔nm〕以下であり、
前記吸着層の膜厚は、5〔nm〕以上、12〔nm〕以下である
有機EL素子。 - 前記第3金属は、アルカリ金属またはアルカリ土類金属である
請求項1に記載の有機EL素子。 - 前記陰極は、金属から成る陰極薄膜層と、前記陰極薄膜層上に配され、電子輸送性および電子注入性のうち少なくとも一方の性質を有する陰極補助層とから成る
請求項1または2に記載の有機EL素子。 - 前記第2金属は、アルカリ金属またはアルカリ土類金属である
請求項1から3の何れか1項に記載の有機EL素子。 - 前記第3金属は、前記第1中間層に含まれる前記第1金属のフッ化物における前記第1金属とフッ素との結合を切る性質を有する
請求項1から4の何れか1項に記載の有機EL素子。 - 前記第3金属は、前記第2金属と同じ種類の金属である
請求項1から5の何れか1項に記載の有機EL素子。 - 前記第2金属および前記第3金属は、バリウムである
請求項6に記載の有機EL素子。 - 前記第1金属は、ナトリウムである
請求項1から7の何れか1項に記載の有機EL素子。 - 前記陰極薄膜層は、1の金属材料もしくは複数の金属材料の合金からなる
請求項3に記載の有機EL素子。 - 陽極を形成し、
前記陽極の上方に発光層を形成し、
前記発光層上に、アルカリ金属またはアルカリ土類金属である第1金属のフッ化物を含む第1中間層を膜厚D1で形成し、
前記第1中間層上に、前記第1金属のフッ化物における前記第1金属とフッ素との結合を切る性質を有する第2金属を含む第2中間層を膜厚D2で形成し、
前記第2中間層上に、陰極を形成し、
前記陰極の上方に、水分および酸素を吸着する性質を有する第3金属を含む吸着層を形成し、
前記第1中間層と第2中間層は一対のみであって、
前記第1中間層の膜厚をD1、前記第2中間層の膜厚をD2とするとき、D1およびD2は、5〔%〕≦D2/D1<20〔%〕の関係を満たし、かつ、
膜厚D1は、1〔nm〕以上、10〔nm〕以下であると共に、膜厚D2は、0.2〔nm〕以上、1〔nm〕以下であり、
前記吸着層の膜厚は、5〔nm〕以上、12〔nm〕以下である
有機EL素子の製造方法。 - 前記第3金属は、アルカリ金属またはアルカリ土類金属である
請求項10に記載の有機EL素子の製造方法。 - 前記陰極の形成は、以下の手順を含む
(A)金属材料を用いて陰極薄膜層を形成する
(B)前記陰極薄膜層上に、電子輸送性および電子注入性のうち少なくとも一方の性質を有する陰極補助層を形成する
請求項10または11に記載の有機EL素子の製造方法。 - 前記第2金属は、アルカリ金属またはアルカリ土類金属である
請求項10から12の何れか1項に記載の有機EL素子の製造方法。 - 前記第3金属は、前記第1中間層に含まれる前記第1金属のフッ化物における前記第1金属とフッ素との結合を切る性質を有する
請求項10から13の何れか1項に記載の有機EL素子の製造方法。 - 前記第3金属は、前記第2金属と同じ種類の金属である
請求項10から14の何れか1項に記載の有機EL素子の製造方法。 - 前記第2金属および前記第3金属は、バリウムである
請求項10から15の何れか1項に記載の有機EL素子の製造方法。 - 前記第1金属は、ナトリウムである
請求項10から16の何れか1項に記載の有機EL素子の製造方法。 - 前記陰極薄膜層は、1の金属材料もしくは複数の金属材料の合金からなる
請求項12に記載の有機EL素子の製造方法。
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