JP6331969B2 - 電子デバイス組立体の製造方法 - Google Patents
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Description
(A)金属箔、金属箔上に形成されたポリイミドを含む平坦化層、及び、平坦化層上に形成された無機化合物を含む密着層を有するフレキシブルデバイス用基板と、
(B)フレキシブルデバイス用基板の密着層上に形成された背面電極層及び薄膜トランジスタと、
(C)背面電極層上に形成され、少なくとも有機発光層を含むエレクトロルミネッセンス層と、
(D)エレクトロルミネッセンス層上に形成された透明電極層、
とを有する。
可撓性を有する電子デバイス、及び、
電子デバイスに貼り付けられた保護部材、
から成り、
保護部材は、可撓性を有する支持部材によって支持された金属箔、及び、金属箔上に形成された接着剤層から成り、
保護部材を構成する金属箔は、接着剤層を介して電子デバイスに貼り付けられている。
可撓性を有する支持部材によって支持された金属箔、及び、
金属箔上に形成された接着剤層、
から成る。
1.本開示の電子デバイス組立体及び保護部材、全般に関する説明
2.実施例1(本開示の電子デバイス組立体及び保護部材)
3.その他
本開示の電子デバイス組立体あるいは保護部材において、金属箔は、第2の接着剤層によって支持部材に貼り合わされている形態とすることができる。そして、この場合、第2の接着剤層は、例えば、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂及びゴム系樹脂から成る群から選択された少なくとも1種類の樹脂から成る形態とすることができる。第2の接着剤層の厚さとして、1×10-5m乃至1×10-3mを例示することができる。但し、このような形態に限定するものではなく、金属箔が支持部材上に、直接、形成されている形態(例えば、金属箔が支持部材上にメッキ法やPVD法、CVD法に基づき、直接、形成されている形態)とすることもできる。
電子デバイスはTFT層(薄膜トランジスタ(TFT)が形成された層)を備えており、
保護部材は、電子デバイスのTFT層側に貼り付けられている構成とすることができる。
電子デバイスは、光を出射する第1面、及び、第1面に対向した第2面を有しており、
保護部材は、電子デバイスの第2面に貼り付けられている構成とすることができる。
(A)第1電極、発光層を備えた有機層から構成された発光部、及び、第2電極が積層されて成る発光素子部が、複数、形成された第1基板、並びに、
(B)第1基板と対向して配された第2基板、
を具備し、
第1基板上には、第1バリア層が形成され、第1バリア層上にTFT層が形成され、TFT層上に発光素子部が形成されており、
第1基板と対向する第2基板の面には第2バリア層が形成されており、
発光素子部と第2バリア層とは封止樹脂層を介して接着されている構成とすることができる。ここで、各発光素子部からの光は第2基板を介して外部に出射される。
可撓性を有する電子デバイス20、及び、
電子デバイス20に貼り付けられた保護部材50、
から成り、
保護部材50は、可撓性を有する支持部材51によって支持された金属箔53、及び、金属箔53上に形成された接着剤層54から成り、
保護部材50を構成する金属箔53は、接着剤層54を介して電子デバイス20に貼り付けられている。
可撓性を有する支持部材51によって支持された金属箔53、及び、
金属箔53上に形成された接着剤層54、
から成る。
(a)第1電極41、
(b)開口部45を有し、開口部45の底部に第1電極41が露出した絶縁層44、
(c)開口部45の底部に露出した第1電極41の部分の上に少なくとも設けられ、例えば有機発光材料から成る発光層43Aを備えた有機層43、及び、
(d)有機層43上に形成された第2電極42、
を具備している。有機層43は、例えば、正孔注入層及び正孔輸送層43B、発光層43A並びに電子輸送層43Cの積層構造から構成されているが、図面では1層で表す場合がある。そして、各発光素子部40からの光は、上部電極に相当する第2電極42、第2基板27を介して、電子デバイスの第1面20Aから外部に出射される。尚、図1B、図2においては、図面の簡素化のために、1層の有機層43を示しているが、実際には、複数の有機層が積層されており、複数段のタンデム構造を有する。
[正孔注入層](厚さ10nm) :LGケミカル社製 LGHIL
[正孔輸送層](厚さ26nm) :出光興産株式会社製 HT320
[発光層] (厚さ50nm) :出光興産株式会社製 RH001 及び
東レ株式会社製 D125(0.5%ドープ)
[電子輸送層](厚さ220nm):出光興産株式会社製 ET085
から構成されている。
[正孔注入層](厚さ10nm) :LGケミカル社製 LGHIL
[正孔輸送層](厚さ35nm) :出光興産株式会社製 HT320
[発光層] (厚さ30nm) :出光興産株式会社製 BH232 及び
GD206(10%ドープ)
[電子輸送層](厚さ175nm):出光興産株式会社製 ETS085
から構成されている。
[正孔注入層](厚さ10nm) :LGケミカル社製 LGHIL
[正孔輸送層](厚さ24nm) :出光興産株式会社製 HT320
[発光層] (厚さ30nm) :出光興産株式会社製 BH232 及び
BD218(10%ドープ)
[電子輸送層](厚さ141nm):出光興産株式会社製 ET085
から構成されている。
先ず、第1基板21の一方の面上に第1バリア層22が形成され、第1基板21の他方の面が製造用基板に貼り合わされた第1基板21を準備する。そして、第1バリア層22上に、副画素毎にTFTを周知の方法で作製する。TFTは、第1バリア層22上に形成されたゲート電極31、第1バリア層22及びゲート電極31上に形成されたゲート絶縁膜32、ソース/ドレイン領域33、並びに、チャネル形成領域34から構成されている。次に、全面に、SiO2から成る下層層間絶縁層35AをCVD法にて成膜した後、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術に基づき、下層層間絶縁層35Aに開口35’を形成する(図3A参照)。
次いで、下層層間絶縁層35A上に、真空蒸着法とエッチング法との組合せに基づき、アルミニウムから成る配線36、接続部37を形成する。尚、配線36は、開口35’内に設けられたコンタクトプラグ36Aを介して、TFTの一方のソース/ドレイン領域33に電気的に接続されている。配線36は、信号供給回路(図示せず)に接続されている。接続部37は、開口35’内に設けられたコンタクトプラグ37Aを介して、TFTの他方のソース/ドレイン領域33に電気的に接続されている。そして、全面にSiO2から成る上層層間絶縁層35BをCVD法にて成膜する。次いで、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術に基づき、上層層間絶縁層35B上に開口38’を形成する(図3B参照)。
その後、上層層間絶縁層35B上に、真空蒸着法とエッチング法との組合せに基づき、Al−Nd合金から成る第1電極41を形成する(図3C参照)。尚、第1電極41は、開口38’内に設けられたコンタクトプラグ38を介して、接続部37に接続されている。
次いで、絶縁層44を形成する。具体的には、全面に、絶縁層44を形成し、絶縁層44上にレジスト材料層44Aを形成する。次いで、レジスト材料層44Aを露光、現像することで、レジスト材料層44Aに開口44Bを形成する(図4A参照)。その後、RIE法に基づき、レジスト材料層44A及び絶縁層44をエッチングすることで、テーパー形状を絶縁層44に付与し(図4B参照)、最終的に、開口部45の斜面が傾斜した絶縁層44を得ることができる(図5参照)。開口部45は、切頭円錐形の形状を有する。尚、エッチング条件の制御によってテーパー形状を絶縁層44に付与することができる。但し、絶縁層44の形成方法は、このような形成方法に限定されず、例えば、全面に、アクリル系樹脂あるいはポリイミド系樹脂から成る絶縁層を成膜した後、フォトリソグラフィ技術及びウェットエッチング技術に基づき図5に示す絶縁層44を形成してもよい。
次に、開口部45の底部に露出した第1電極41の部分の上を含む絶縁層44上に(即ち、全面に)、有機層43を形成する。尚、有機層43は、例えば、有機材料から成る正孔注入層及び正孔輸送層43B、発光層43A並びに電子輸送層43Cが順次積層されている。有機層43は、抵抗加熱に基づき、有機材料を真空蒸着することで得ることができる。
その後、表示領域の全面に第2電極42を形成する。第2電極42は、N×M個の発光素子部40を構成する有機層43の全面を覆っている。第2電極42は、絶縁層44及び有機層43によって第1電極41とは絶縁されている。第2電極42は、有機層43に対して影響を及ぼすことのない程度に成膜粒子のエネルギーが小さい成膜方法である真空蒸着法に基づき形成されている。また、有機層43を大気に暴露することなく、有機層43の形成と同一の真空蒸着装置内において連続して第2電極42の形成を行うことで、大気中の水分や酸素による有機層43の劣化を防止することができる。具体的には、Mg−Ag(体積比10:1)の共蒸着膜を厚さ10nm成膜することで、第2電極42を得ることができる。
次いで、全面に(具体的には第2電極42上に)、窒化シリコン(α−SiNX)から成る絶縁性の保護膜23を真空蒸着法に基づき形成する。
その後、第2バリア層26及びカラーフィルター25が形成された第2基板27と、保護膜23が形成された第1基板21とを、封止樹脂層(封止材料層)24を用いて接着する。そして、製造用基板を剥がし、電子デバイス20の第2面20Bを露出させ、ロール・ツー・ロール方式に基づき、ローラーを用いて接着剤層54を介して保護部材50を電子デバイス20の第2面20Bに貼り付け(圧着し)、接着剤層54を熱硬化させる。次に、電子デバイス組立体10を所望の大きさに切断する。そして、外部回路との接続を行うことで、有機EL表示装置を完成させることができる。
[A01]《電子デバイス組立体》
可撓性を有する電子デバイス、及び、
電子デバイスに貼り付けられた保護部材、
から成る電子デバイス組立体であって、
保護部材は、可撓性を有する支持部材によって支持された金属箔、及び、金属箔上に形成された接着剤層から成り、
保護部材を構成する金属箔は、接着剤層を介して電子デバイスに貼り付けられている電子デバイス組立体。
[A02]金属箔は、第2の接着剤層によって支持部材に貼り合わされている[A01]に記載の電子デバイス組立体。
[A03]第2の接着剤層は、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂及びゴム系樹脂から成る群から選択された少なくとも1種類の樹脂から成る[A02]に記載の電子デバイス組立体。
[A04]金属箔は、アルミニウム箔、銅箔、ニッケル箔、チタン箔、モリブデン箔、ステンレス鋼箔、又は、鉄−ニッケル合金箔から成る[A01]乃至[A03]のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体。
[A05]金属箔にはピンホールが存在しない[A01]乃至[A04]のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体。
[A06]金属箔は15μm以上の厚さを有する[A01]乃至[A05]のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体。
[A07]支持部材は、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリメタクリル酸メチル樹脂フィルム、ポリカーボネートフィルム、トリアセチルセルロースフィルム、ポリイミドフィルム及びフッ素樹脂フィルムから成る群から選択された1種類の樹脂フィルムから成る[A01]乃至[A06]のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体。
[A08]接着剤層は、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂及びゴム系樹脂から成る群から選択された少なくとも1種類の樹脂から成る[A01]乃至[A07]のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体。
[A09]電子デバイスはTFT層を備えており、
保護部材は、電子デバイスのTFT層側に貼り付けられている[A01]乃至[A08]のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体。
[A10]電子デバイスは、光を出射する第1面、及び、第1面に対向した第2面を有しており、
保護部材は、電子デバイスの第2面に貼り付けられている[A01]乃至[A08]のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体。
[A11]電子デバイスは、有機エレクトロルミネッセンス表示装置から成る[A01]乃至[A10]のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体。
[B01]《保護部材》
可撓性を有する支持部材によって支持された金属箔、及び、
金属箔上に形成された接着剤層、
から成る保護部材。
[B02]金属箔は、第2の接着剤層によって支持部材に貼り合わされている[B01]に記載の保護部材。
[B03]第2の接着剤層は、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂及びゴム系樹脂から成る群から選択された少なくとも1種類の樹脂から成る[B02]に記載の保護部材。
[B04]金属箔は、アルミニウム箔、銅箔、ニッケル箔、チタン箔、モリブデン箔、ステンレス鋼箔、又は、鉄−ニッケル合金箔から成る[B01]乃至[B03]のいずれか1項に記載の保護部材。
[B05]金属箔にはピンホールが存在しない[B01]乃至[B04]のいずれか1項に記載の保護部材。
[B06]金属箔は15μm以上の厚さを有する[B01]乃至[B05]のいずれか1項に記載の保護部材。
[B07]支持部材は、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリメタクリル酸メチル樹脂フィルム、ポリカーボネートフィルム、トリアセチルセルロースフィルム、ポリイミドフィルム及びフッ素樹脂フィルムから成る群から選択された1種類の樹脂フィルムから成る[B01]乃至[B06]のいずれか1項に記載の保護部材。
[B08]接着剤層は、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂及びゴム系樹脂から成る群から選択された少なくとも1種類の樹脂から成る[B01]乃至[B07]のいずれか1項に記載の保護部材。
Claims (10)
- 光を出射する第1面、及び、第1面に対向した第2面を有し、可撓性を有する電子デバイス組立体の製造方法であって、
電子デバイスの第2面を構成する部材を製造用基板に貼り合わせ、電子デバイスの第2面を構成する部材上に、第2面を構成する部材を含む電子デバイスを設けた後、製造用基板を剥がし、露出した電子デバイスの第2面に、可撓性を有する支持部材によって支持された金属箔、及び、金属箔上に形成された接着剤層から成る保護部材を、接着剤層を介して貼り付ける電子デバイス組立体の製造方法。 - 金属箔は、第2の接着剤層によって支持部材に貼り合わされている請求項1に記載の電子デバイス組立体の製造方法。
- 第2の接着剤層は、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂及びゴム系樹脂から成る群から選択された少なくとも1種類の樹脂から成る請求項2に記載の電子デバイス組立体の製造方法。
- 金属箔は、アルミニウム箔、銅箔、ニッケル箔、チタン箔、モリブデン箔、ステンレス鋼箔、又は、鉄−ニッケル合金箔から成る請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体の製造方法。
- 金属箔にはピンホールが存在しない請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体の製造方法。
- 金属箔は15μm以上の厚さを有する請求項5に記載の電子デバイス組立体の製造方法。
- 支持部材は、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリメタクリル酸メチル樹脂フィルム、ポリカーボネートフィルム、トリアセチルセルロースフィルム、ポリイミドフィルム及びフッ素樹脂フィルムから成る群から選択された1種類の樹脂フィルムから成る請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体の製造方法。
- 接着剤層は、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂及びゴム系樹脂から成る群から選択された少なくとも1種類の樹脂から成る請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体の製造方法。
- 電子デバイスはTFT層を備えており、
保護部材は、電子デバイスのTFT層側に貼り付けられている請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体の製造方法。 - 電子デバイスは、有機エレクトロルミネッセンス表示装置から成る請求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載の電子デバイス組立体の製造方法。
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