JP6296499B2 - 透明基板の外観検査装置および外観検査方法 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 72
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title description 19
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 57
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 41
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 32
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 claims description 24
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 15
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 64
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 48
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 21
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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Description
また、撮像手段20はCCDカメラからなり、このCCDカメラは、第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する1個の撮像板、または第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する2個以上の撮像板を備える。また撮像手段20により得られた画像は、表示部30Aを有する画像処理装置30へ送られる。
−k1×P1+k2×P2+k3×P4(k1、k2、k3は正数)の計算式(2)を用いて合成画像を生成してもよい。
2 ガラス板
10 透明基板の外観検査装置
11 第1照明手段
12 第2照明手段
13 第3照明手段
20 撮像手段
30 画像処理装置
30a 拡散透過画像
30b 正透過画像
30c 拡散反射画像
30d 合成画像
Claims (10)
- 透明基板の外観検査装置において、
透明基板を載置する透明支持体と、
透明支持体上方に配置され、透明基板および透明支持体を撮像して画像を生成する撮像手段と、
透明支持体下方に配置され、撮像手段に対して正透過光から外れる第1色光を透明支持体と透明基板に対して入光させる第1照明手段と、
透明支持体下方に配置され、撮像手段に対して正透過光としての第2色光を透明支持体と透明基板に対して入光させる第2照明手段と、
透明支持体上方に配置され、反射光となる第3色光を透明基板に対して入光させる第3照明手段と、
撮像手段により得られた第1色光による拡散透過画像、第2色光による正透過画像、第3色光による拡散反射画像に基づいて、合成画像を生成して透明基板の傷を検出する画像処理装置とを備えたことを特徴とする透明基板の外観検査装置。 - 第1照明手段は第1色光として赤色光を照射し、第2照明手段は第2色光として緑色光を照射し、第3照明手段は第3色光として青色光を照射することを特徴とする請求項1記載の透明基板の外観検査装置。
- 画像処理装置は、拡散透過画像の出力をP1、正透過画像の出力をP2、拡散反射画像の出力をP3とした場合、
−k1×P1+k2×P2+k3×P3(k1、k2、k3は正数)
の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする請求項1または2記載の透明基板の外観検査装置。 - 画像処理装置は、
−P1+P2+P3の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする請求項3記載の透明基板の外観検査装置。 - 撮像手段は第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する1個の撮像板、または第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する2個以上の撮像板を備えるCCDカメラまたはCMOSカメラを有することを特徴とする請求項1記載の透明基板の外観検査装置。
- 透明基板の外観検査方法において、
透明基板を透明支持体上に載置する工程と、
透明支持体下方に配置された第1照明手段から透明支持体上方に配置された撮像手段に対して正透過光から外れる第1色光を透明支持体と透明基板に対して入光させて撮像手段により画像を生成する工程と、
透明支持体下方に配置された第2照明手段から撮像手段に対して正透過光としての第2色光を透明支持体と透明基板に対して入光させて撮像手段により画像を生成する工程と、
透明支持体上方に配置された第3照明手段から反射光となる第3色光を透明基板に対して入光させて撮像手段により画像を生成する工程と、
撮像手段により得られた第1色光による拡散透過画像、第2色光による正透過画像、第3色光による拡散反射画像に基づいて、画像処理装置により合成画像を生成して透明基板の傷を検出する工程と、を備えたことを特徴とする透明基板の外観検査方法。 - 第1照明手段は第1色光として赤色光を照射し、第2照明手段は第2色光として緑色光を照射し、第3照明手段は第3色光として青色光を照射することを特徴とする請求項6記載の透明基板の外観検査方法。
- 画像処理装置は、拡散透過画像の出力をP1、正透過画像の出力をP2、拡散反射画像の出力をP3とした場合、
−k1×P1+k2×P2+k3×P3(k1、k2、k3は正数)
の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする請求項6または7記載の透明基板の外観検査方法。 - 画像処理装置は、
−P1+P2+P3の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする請求項8記載の透明基板の外観検査方法。 - 撮像手段は第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する1個の撮像板、または第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する2個以上の撮像板を備えるCCDカメラまたはCMOSカメラを有することを特徴とする請求項6記載の透明基板の外観検査方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014163857A JP6296499B2 (ja) | 2014-08-11 | 2014-08-11 | 透明基板の外観検査装置および外観検査方法 |
TW104122934A TWI553307B (zh) | 2014-08-11 | 2015-07-15 | Transparent substrate for visual inspection device and appearance inspection method |
KR1020150106617A KR101721965B1 (ko) | 2014-08-11 | 2015-07-28 | 투명 기판의 외관 검사 장치 및 외관 검사 방법 |
CN201510477777.1A CN105372267B (zh) | 2014-08-11 | 2015-08-06 | 透明基板的外观检查装置以及外观检查方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014163857A JP6296499B2 (ja) | 2014-08-11 | 2014-08-11 | 透明基板の外観検査装置および外観検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016038362A JP2016038362A (ja) | 2016-03-22 |
JP6296499B2 true JP6296499B2 (ja) | 2018-03-20 |
Family
ID=55374651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014163857A Active JP6296499B2 (ja) | 2014-08-11 | 2014-08-11 | 透明基板の外観検査装置および外観検査方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6296499B2 (ja) |
KR (1) | KR101721965B1 (ja) |
CN (1) | CN105372267B (ja) |
TW (1) | TWI553307B (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6625475B2 (ja) * | 2016-04-22 | 2019-12-25 | 株式会社 東京ウエルズ | 欠陥検査方法および欠陥検査システム |
DE102016107900B4 (de) * | 2016-04-28 | 2020-10-08 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Kantenermittlung eines Messobjekts in der optischen Messtechnik |
KR20170133113A (ko) * | 2016-05-25 | 2017-12-05 | 코닝정밀소재 주식회사 | 유리 상면 상의 이물질 검출 방법과 장치, 및 입사광 조사 방법 |
CN106053484A (zh) * | 2016-08-03 | 2016-10-26 | 常州驰网智能检测技术有限公司 | 一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法 |
KR101867589B1 (ko) * | 2017-12-27 | 2018-06-15 | 주식회사 세코닉스 | 투명체 검사장치 |
EP3761772A4 (en) * | 2018-02-26 | 2021-04-28 | Koh Young Technology Inc | Method for inspecting mounting state of component, printed circuit board inspection apparatus, and computer readable recording medium |
CN108508053B (zh) * | 2018-04-26 | 2021-01-12 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 一种系统性极微物理缺陷的检测方法 |
CN108982362A (zh) * | 2018-06-27 | 2018-12-11 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 一种基板检测支撑装置及其检测方法 |
JP2020085587A (ja) * | 2018-11-21 | 2020-06-04 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス板の製造方法、及びガラス板の製造装置 |
CN109900705B (zh) * | 2019-03-18 | 2022-06-10 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种基板检测装置和检测方法 |
KR102602029B1 (ko) * | 2021-11-11 | 2023-11-14 | 주식회사 에타맥스 | 광루미네선스 검사와 자동광학검사를 동시에 수행하는 마이크로 led 검사장비 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3314440B2 (ja) * | 1993-02-26 | 2002-08-12 | 株式会社日立製作所 | 欠陥検査装置およびその方法 |
JP2821460B2 (ja) | 1996-04-24 | 1998-11-05 | 株式会社日本マクシス | 透明基板の傷検査装置 |
JP3102850B2 (ja) * | 1996-11-28 | 2000-10-23 | 株式会社日本マクシス | 水晶ブランクの傷検査装置 |
JP3037671B2 (ja) | 1998-07-07 | 2000-04-24 | 株式会社日本マクシス | 透明基板の検査方法および透明基板の検査装置 |
US6618136B1 (en) * | 1998-09-07 | 2003-09-09 | Minolta Co., Ltd. | Method and apparatus for visually inspecting transparent body and translucent body |
JP4227272B2 (ja) | 1999-08-11 | 2009-02-18 | 株式会社エヌテック | 異なる波長の光を用いた物品の検査装置 |
JP2002122555A (ja) * | 2000-10-16 | 2002-04-26 | Nippi:Kk | 透明体検査用光源、透明体検査装置およびその検査方法 |
JP2002214158A (ja) * | 2001-01-19 | 2002-07-31 | Central Glass Co Ltd | 透明板状体の欠点検出方法および検出装置 |
CN100370243C (zh) * | 2001-09-21 | 2008-02-20 | 奥林巴斯株式会社 | 缺陷检查装置 |
JP2005127989A (ja) * | 2003-10-03 | 2005-05-19 | Olympus Corp | 傷検出装置および傷検出プログラム |
JP2006030067A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Asahi Glass Co Ltd | ガラス板の欠点検査方法及びその装置 |
US7567344B2 (en) * | 2006-05-12 | 2009-07-28 | Corning Incorporated | Apparatus and method for characterizing defects in a transparent substrate |
US7369240B1 (en) * | 2006-07-20 | 2008-05-06 | Litesentry Corporation | Apparatus and methods for real-time adaptive inspection for glass production |
JP2010048745A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Asahi Glass Co Ltd | 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 |
JP5585301B2 (ja) * | 2010-08-24 | 2014-09-10 | オムロン株式会社 | シート用の外観検査システム |
DE102011109793B4 (de) * | 2011-08-08 | 2014-12-04 | Grenzbach Maschinenbau Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur sicheren Detektion von Materialfehlern in transparenten Werkstoffen |
JP6500518B2 (ja) | 2015-03-10 | 2019-04-17 | オムロン株式会社 | シート検査装置 |
-
2014
- 2014-08-11 JP JP2014163857A patent/JP6296499B2/ja active Active
-
2015
- 2015-07-15 TW TW104122934A patent/TWI553307B/zh active
- 2015-07-28 KR KR1020150106617A patent/KR101721965B1/ko active Active
- 2015-08-06 CN CN201510477777.1A patent/CN105372267B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016038362A (ja) | 2016-03-22 |
KR101721965B1 (ko) | 2017-03-31 |
TWI553307B (zh) | 2016-10-11 |
KR20160019365A (ko) | 2016-02-19 |
TW201606290A (zh) | 2016-02-16 |
CN105372267A (zh) | 2016-03-02 |
CN105372267B (zh) | 2018-03-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170418 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A977 | Report on retrieval |
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