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JP2006030067A - ガラス板の欠点検査方法及びその装置 - Google Patents

ガラス板の欠点検査方法及びその装置 Download PDF

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JP2006030067A JP2004211605A JP2004211605A JP2006030067A JP 2006030067 A JP2006030067 A JP 2006030067A JP 2004211605 A JP2004211605 A JP 2004211605A JP 2004211605 A JP2004211605 A JP 2004211605A JP 2006030067 A JP2006030067 A JP 2006030067A
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Abstract

【課題】本発明は、反射散乱光による撮像で検出でき、透過散乱光による撮像では検出できない欠点であっても確実に検出することができるガラス板の欠点検査方法及びその装置を提供することを目的とする。
【解決手段】実施の形態の欠点検査装置10は、ガラス基板12の上面12Bで反射した赤色の反射散乱光、ガラス基板12の下面12Cで反射した青色の反射散乱光、及びガラス基板12の端面12Aで反射した緑色の反射散乱光に基づいて欠点を検査する。すなわち、本発明は、Bバンドカットフィルタ28、Rバンドカットフィルタ30によって透過散乱光をカットして欠点の検査を実施するため、反射散乱光による撮像では検出できるが、透過散乱光による撮像では検出できない欠点であっても確実に検出することができる。
【選択図】図2

Description

本発明は、ガラス板の端面及びその近傍、すなわちガラス板周辺部(エッジ付近)のチッピング、ハマ欠け等の傷及び未面取り等の欠点を検出するガラス板の欠点検査方法及びその装置に関する。
例えばディスプレイ用のガラス基板は、所定の厚み(例えば、約0.5〜2.8mm)に製造された板ガラスを、製品に対応した大きさに切断し、これを面取り加工したり、その表面に生じている微小な凹凸やうねりを除去するために研磨加工したりすることにより製品化される。
製品化されたガラス基板は、出荷前において、その端面及びその近傍に発生しているチッピングやハマ欠け等の傷及び未面取り等の欠点の有無が欠点検査装置によって検査される(例えば、特許文献1)。
ここで、前記欠点について説明すると、図5の如くチッピング1は、ガラス基板2の上面2Bと端部2Aとの境界部2Dに発生する極小の欠けであり、ハマ欠け3は、上面2Bから端部2Aにかけて発生する比較的大きい欠けである。また、端部2Aには、面取り砥石の磨耗等が原因で未面取り部4が生じる場合があり、これもまた欠点として判断されている。これらの欠点は、その大きさで所定の閾値が設定され、閾値を超えた場合に、そのガラス板が不良品として処理される。
なお、ガラス板に関する前記欠点の検査は、ディスプレイ用のガラス基板に限定されるものではなく、建築用ガラス板、自動車用ガラス板等の他の用途に使用されるガラス板においても実施される。
ところで、特許文献1に開示された欠点検査装置は、例えばスポット照明によってガラス基板の端部及びその近傍を照射し、ガラス基板の上面側をプリズムを介してカメラにより撮像するとともに、ガラス基板の下面側を別のプリズムを介して同一のカメラにより撮像するものである(特許文献1の段落〔0017〕)。そして、得られた画像を処理し、欠点の有無を検出し、その大きさ等を、予め定められた閾値と比較して、良、不良を判別するものである。
特開2002−62267号公報
ところで、特許文献1のように光を用いたガラス板の欠点検査装置では、例えばガラス板の上面をカメラで撮像する際に、上面側から照射された照明の反射散乱光と下面側から照射された照明の透過散乱光とが含まれることになる。このときの反射散乱光の明るさは、通常で透過散乱光の明るさの10〜20%であり、透過散乱光の方が圧倒的に明るい。
ここで、ガラス板の上面に発生している欠点が、反射散乱光による撮像では検出できるが、透過散乱光による撮像では検出できない欠点の場合(例えば、透明で浅いハマ欠け等が発生していた場合)、引用文献1の欠点検査装置では、上面側に発生している欠点による反射散乱光が、その光よりも明るい透過散乱光に重ねられて撮像されることからSN比が悪化し、その欠点を検出することができないという問題があった。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、ガラス板の端面及びその近傍、すなわちガラス板周辺部(エッジ付近)に発生している欠点を確実に検出することができるガラス板の欠点検査方法及びその装置を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、前記目的を達成するために、ガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射するとともに、ガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射してガラス板の欠点検査を行う欠点検査方法であって、前記ガラス板の一方面を、第1のプリズムと少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して撮像手段により撮像するとともに、ガラス板の他方面を、第2のプリズムと少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して前記撮像手段により撮像し、前記撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出手段によって検出するすることを特徴とする欠点検査方法を提供する。
請求項5に記載の発明は、前記目的を達成するために、ガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射する第1の照明手段と、ガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射する第2の照明手段とを用いてガラス板の欠点を検査する欠点検査装置であって、前記ガラス板の一方面を、第1のプリズムと少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して撮像するとともに、前記ガラス板の他方面を、第2のプリズムと少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出する検出手段と、を備えたことを特徴とする欠点検査装置を提供する。
請求項1、及び5に記載の発明によれば、第1の照明手段からガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射するとともに、第2の照明手段からガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射する。そして、ガラス板の一方面を、第1のプリズムと少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して撮像手段により撮像するとともに、ガラス板の他方面を、第2のプリズムと少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して前記撮像手段により撮像する。そして、この撮像手段によって撮像された画像に基づき、ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出手段によって検出する。
すなわち、本願発明は、その原色光を照射する側の撮像系に、他の原色光をカットするフィルタを設け、他の原色光をカットした光像によって欠点を検査することを基本的な考えとしている。したがって、フィルタによって透過散乱光がカットされ、撮像手段には反射散乱光が入射するので、ガラス板に発生している欠点を確実に検出することができる。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の欠点検査方法の発明において、前記ガラス板の端部に向けて光を照射してガラス板の端部を前記撮像手段によって撮像し、前記撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出することを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の欠点検査装置の発明において、前記ガラス板の端部に向けて光を照射する第3の照明手段を有し、ガラス板の端部を前記撮像手段によって撮像し、撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出することを特徴とする。
請求項2、及び6に記載の発明によれば、第3の照明手段からガラス板の端部に向けて光を照射してガラス板の端部を前記撮像手段によって撮像し、撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出する。ガラス板の端部も同一の撮像手段によって撮像することができる。また、第3の照明手段から照射される光は、撮像手段に対する透過散乱光の影響が小さいので、特に限定されるものではなく、すなわち、R、G、Bの光のうちの一つでもよく白色光でもよい。
請求項3に記載の発明は、前記目的を達成するために、ガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射するとともに、ガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射してガラス板の欠点検査を行う欠点検査方法であって、前記ガラス板の一方面を、少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して第1の撮像手段により撮像するとともに、ガラス板の他方面を、少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して第2の撮像手段により撮像し、前記第1の撮像手段及び第2の撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出手段によって検出することを特徴とするガラス板の欠点検査方法を提供する。
請求項7に記載の発明は、前記目的を達成するために、ガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射する第1の照明手段と、ガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射する第2の照明手段とを用いてガラス板の欠点を検査する欠点検査装置であって、前記ガラス板の一方面を、少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して撮像する第1の撮像手段と、前記ガラス板の他方面を、少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して撮像する第2の撮像手段と、前記第1の撮像手段及び第2の撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出する検出手段と、を備えたことを特徴とするガラス板の欠点検査装置を提供する。
請求項3、及び7に記載の発明によれば、第1の照明手段からガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射するとともに、第2の照明手段からガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射する。そして、ガラス板の一方面を、少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して第1の撮像手段により撮像するとともに、ガラス板の他方面を、少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して第2の撮像手段により撮像する。そして、第1及び第2の撮像手段によって撮像された画像に基づき、ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出手段によって検出する。基本的には、請求項1、5に記載の発明と同様であるが、請求項3、7の如く撮像手段をその撮像系毎に設けてもよい。撮像手段としてCCDカメラを適用した場合、小型軽量なCCDカメラが安価で市販されているため、装置の大型化及びコストアップにはつながらず、コンパクト化を図ることができ廉価で提供できる。
請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の欠点検査方法の発明において、前記ガラス板の端部に向けて光を照射してガラス板の端部を第3の撮像手段によって撮像し、第3の撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出することを特徴とする。
請求項8に記載の発明は、請求項7に記載の欠点検査装置の発明において、前記ガラス板の端部に向けて光を照射する第3の照明手段と、ガラス板の端部を撮像する第3の撮像手段とを有し、第3の撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出することを特徴とする。
請求項4、及び8に記載の発明によれば、第3の照明手段からガラス板の端部に向けて光を照射し、第3の撮像手段によってガラス板の端部を撮像し、撮像された画像に基づき、ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出する。基本的には、請求項2、6に記載の発明と同様であるが、請求項4、8の如く端部を撮像する第3の撮像手段を個別に設けてもよい。
以上説明したように本発明に係るガラス板の欠点検査方法及びその装置によれば、第1の照明手段からガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射するとともに、第2の照明手段からガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射し、ガラス板の一方面を、第1のプリズムと少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して撮像手段により撮像するとともに、ガラス板の他方面を、第2のプリズムと少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して前記撮像手段により撮像し、撮像手段によって撮像された画像に基づき、ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出手段によって検出するので、ガラス板に発生している欠点を確実に検出することができる。
以下、添付図面に従って本発明に係るガラス板の欠点検査方法及びその装置の好ましい実施の形態を詳説する。
図1に示す欠点検査装置10は、液晶ディスプレイ用のガラス基板12の端面及びその近傍、すなわちガラス基板12の周辺部(エッジ付近)に発生する欠点(図5参照)を検査する装置であり、その要部斜視図が示されている。また、図2は、図1に示した欠点検査装置10の側面図であり、図中の矢印は光の照射方向及び反射方向を示している。この欠点検査装置10は、ガラス基板12を搬送する不図示の搬送装置に隣接配置され、ガラス基板12は搬送中にその欠点が欠点検査装置10によって検出される。
欠点検査装置10は、図1の如く第1プリズム14、第2プリズム16、CCDカメラ(撮像手段に相当)18、及び画像処理装置(検出手段に相当)20を主な構成としており、第1プリズム14は、ガラス基板12の上面(一方面に相当)12Bに対向配置され、第2プリズム16は、ガラス基板12の下面(他方面に相当)12Cに対向配置されている。なお、ここで説明するガラス基板12の前記上面及び下面とは、ガラス基板12の端部12A近傍の面である。
第1、第2プリズム14、16は、入射面14A、16A、反射面14B、16B、及び出射面14C、16Cが形成された同一形状のプリズムである。第1、第2プリズム14、16によれば、図2に示すように入射面14A、16Aから入射した光線束は、反射面14B、16Bで全反射されて90°方向変換され、出射面14C、16Cから外部に出射される。また、第1、第2プリズム14、16は、各々の入射面14A、16Aがガラス基板12を挟んで対向するように配置されるとともに、出射面14C、16Cが同一平面上に位置するように配置されている。
CCDカメラ18は、第1プリズム14と第2プリズム16とで挟まれたガラス基板12の端部12Aを直接撮像するように、端部12Aに対向して配置されている。また、CCDカメラ18は、第1プリズム14の出射面14Cから出射された光線束を撮像する位置に配置されるとともに、第2プリズム16の出射面16Cから出射された光線束を撮像する位置に配置されている。これにより、カメラ18は、ガラス基板12の検査部位13である端部12A、上面12B、及び下面12Cを図3の如く同時に撮像することができる。
一方、欠点検査装置10には、検査部位13を照明すべく多数の照明手段が設けられている。
これらの照明手段は、ガラス基板12の上面12Bに向けて赤色の原色光Rを照射するLED22、22と、ガラス基板12の下面12Cに向けて青色の原色光Bを照射するLED24、24と、ガラス基板12の端部12Aに向けて緑色Gの原色光を照射するLED26とから構成される。
LED22、22は、第1プリズム14を介してガラス基板12の上面12Bを照射する位置に配置され、また、LED24、24も同様に、第2プリズム16を介してガラス基板12の上面12Bを照射する位置に配置されている。このように、上面12Bあるいは下面12Cに対し、それぞれ2個又は3個以上のLEDを用いて照射することにより、上面12B及び下面12Cで反射した反射散乱光の受光量分布を検査部位13の全域において均一に近づけることができ、検査精度を向上させることができる。
また、第1プリズム14の出射面14Cに対向してBバンドカットフィルタ28が配置されている。Bバンドカットフィルタ28は、青色光をカットするフィルタであり、これによって、第1プリズム14の出射面14Cから出射した光のうち青色光が、Bバンドカットフィルタ28によってカットされ、それ以外の光がCCDカメラ18に撮像される。すなわち、青色のLED24、24から照射されガラス基板12を透過した透過散乱光は、Bバンドカットフィルタ28によってカットされるのでCCDカメラ18には撮像されない。
同様に、第2プリズム16の出射面16Cに対向してRバンドカットフィルタ30が配置されている。Rバンドカットフィルタ30は、赤色光をカットするフィルタであり、これによって、第2プリズム16の出射面16Cから出射した光のうち赤色光が、Rバンドカットフィルタ30によってカットされ、それ以外の光がCCDカメラ18に撮像される。すなわち、赤色のLED22、22から照射されガラス基板12を透過した透過散乱光は、Rバンドカットフィルタ30によってカットされるのでCCDカメラ18には撮像されない。
LED26から照射された緑色の光は、ガラス基板12の端部12Aで反射し、その反射散乱光がCCDカメラ18によって直接撮像される。これにより、CCDカメラ18は、ガラス基板12の上面12Bで反射した赤色の反射散乱光、ガラス基板12の下面12Cで反射した青色の反射散乱光、及びガラス基板12の端部12Aで反射した緑色の反射散乱光を同時に撮像する。
カメラ18は、撮影レンズ32及びカメラ本体34から構成される。カメラ本体34内には、図2中破線で示すCCDエリアセンサ36が配置され、このCCDエリアセンサ36の受光面は、撮影レンズ32の結像位置に設置されている。CCDエリアセンサ36から出力される映像信号は、図1の画像処理装置20に出力される。
画像処理装置20は、CCDセンサ36から出力される映像信号から、明部面積、暗部面積または総面積等の特徴量を取得する。そして、画像処理装置20は、その特徴量と、メモリ38に記憶されているそれぞれの閾値とを比較して、特徴量が閾値を超えた場合に自動判別装置40を制御して、そのガラス基板12を不良品として区別させる。なお、前記映像信号のレベルが所定の閾値を超えた時に、欠点が存在したと判断してもよい。
次に、前記の如く構成された欠点検査装置10の作用について説明する。
図1の状態で欠点検査装置10を作動させるとともに、各LED22、24、26を点灯させてガラス基板12の検査部位13を照明する。そして、ガラス基板12を不図示の搬送装置によって所定の速度で図1上矢印方向に搬送し、ガラス基板12の欠点検査を開始する。
欠点検査時において、CCDカメラ18は、ガラス基板12の上面12Bで反射した赤色の反射散乱光、ガラス基板12の下面12Cで反射した青色の反射散乱光、及びガラス基板12の端部12Aで反射した緑色の反射散乱光を同時に撮像している。図3は、CCDカメラ18によって撮像されているガラス基板12の像が示されている。
そして、カメラ18のCCDセンサ36から出力される映像信号が画像処理装置20に出力されると、画像処理装置20は、その映像信号から明部面積等の特徴量を取得する。そして、画像処理装置20は、特徴量と、メモリ38に記憶されているそれぞれの閾値とを比較する。そして、特徴量が閾値を超えた場合に、自動判別装置40を制御して、そのガラス基板12を不良品として区別させる。
このように実施の形態の欠点検査装置10は、ガラス基板12の上面12Bで反射した赤色の反射散乱光、ガラス基板12の下面12Cで反射した青色の反射散乱光、及びガラス基板12の端部12Aで反射した緑色の反射散乱光に基づいて、すなわち、Bバンドカットフィルタ28及びRバンドカットフィルタ30により透過散乱光をカットして欠点の検査を実施するため、反射散乱光による撮像では検出できるが、透過散乱光による撮像では検出できない欠点(例えば、透明で浅いハマ欠け等)であっても確実に検出することができる。
なお、実施の形態では、上面12Bを赤色光で照射し、下面12Cを青色光で照射したが、これに限定されない。要するに本願発明は、その原色光を照射する側の撮像系に、他の原色光をカットするフィルタを設け、他の原色光をカットした光像によって欠点を検査することを基本的な考えとしている。よって、上面12Bを例えば青色光で照射し、下面12Cを赤色光で照射してもよく、この場合には、上面12B側にRバンドカットフィルタ30を配置し、下面12C側にBバンドカットフィルタ28を配置すればよい。また、第3の照明手段であるLED26として緑色光を照射するLEDを適用したが、この光はCCDカメラ18に対する透過散乱光の影響が小さいので、特に限定されるものではない。すなわち、R、G、Bの光のうちの一つでもよく蛍光灯のような白色光でもよい。
更にまた、実施の形態では、LED22、24からの照明光を第1プリズム14、第2プリズム16を介して検査部位13に照射したが、これに限定されるものではなく、第1プリズム14、第2プリズムを介することなく検査部位13を直接照射してもよい。また、照明手段はLEDに限定されるものではなく、欠点検査装置10とは別個に設けられた原色光の光源から、ライトガイドケーブルを延設し、このライトガイドケーブルの光出射端から検査部位13に原色光を照射するようにしてもよい。
図4は、他の実施の形態の欠点検査装置50の構成を示す側面図であり、図2に示した欠点検査装置10と同一若しくは類似の部材については同一の符号を付してその説明は省略する。
図4の欠点検査装置50は、プリズムを使用することなくCCDカメラ52、54、56をその撮像系毎に設けたものであり、これらのCCDカメラ52、54、56としては、図1に示したCCDカメラ18よりも画素数の少ないエリアセンサ又はラインセンサを搭載したCCDカメラが適用されている。
この欠点検査装置50によれば、ガラス基板12の上面12Bを撮像するCCDカメラ52は、LED24からの青色光(青色の透過散乱光)がBバンドカットフィルタ28によってカットされるので、ガラス基板12の上面12Bで反射した赤色の反射散乱光を撮像する。また、ガラス基板12の下面12Cを撮像するCCDカメラ54は、LED22からの赤色光(赤色の透過散乱光)がRバンドカットフィルタ30によってカットされるので、ガラス基板12の下面12Cで反射した青色の反射散乱光を撮像する。そしてCCDカメラ56は、ガラス基板12の端部12Aで反射した緑色の反射散乱光を撮像する。画像処理装置20(図1参照)は、CCDカメラ52、54、56から出力される映像信号に基づいてガラス基板12に発生している欠点(図5参照)を検出する。この検出方法については先に説明したので省略する。
このように、プリズムを用いることなく撮像系毎にCCDカメラ52、54、56を設けても図1の欠点検査装置10と同様にガラス基板12に発生している欠点を確実に検出することができる。
なお、特開平4−37711号公報には、カラー液晶表示パネルの検査方法が開示されている。この検査方法は、カラー表示用のカラーフィルタが作り込まれた状態のガラス基板に対し、白色光の光源からカラーフィルタの各色に対応した原色を選択的に取り出すフィルタを用い、このフィルタを介して各原色光をカラーフィルタに照射することにより、それぞれの色毎にカラーフィルタの欠陥の有無を検査する方法である。この検査方法は、検査光として原色光を使用する点で本願発明と類似しているが、本願発明は、その原色光を照射する側の撮像系に、他の原色光をカットするフィルタを設け、他の原色光をカットした光像によって欠点を検査することを基本的な考えとしている。したがって、本願発明と、特開平4−37711号公報の検査方法とは、その検査手法が根本的に異なる。
特開2003−148927号公報の図1には、アクティブセンシング法を利用した三次元形状検査装置が開示されている。この検査装置は、検査対象物に対して異なる波長の光(赤色光、緑色光、青色光)を投光するリング状の発光体と、検査対象物から反射した前記光の反射光が入射するカラーCCDカメラとを備えている。異なる波長の光を照射角度を変えて検査対象物4に投光すると、カラーCCDカメラから見た検査対象物は、表面の形状に応じて異なる色彩で着色して見える。この画像の着色パターンを解析することによって、検査対象物の凹凸状態を判断する。この検査方法は、検査光として原色光を使用する点で本願発明と類似しているが、本願発明は、その原色光を照射する側の撮像系に、他の原色光をカットするフィルタを設け、他の原色光をカットした光像によって欠点を検査することを基本的な考えとしている。したがって、本願発明と、特開2003−148927号公報とは、その検査手法が全く異なる。
本発明の実施の形態に係る欠点検査装置の拡大斜視図 図1に示した欠点検査装置の側面図 図1に示した欠点検査装置のCCDカメラで撮像された映像を示す説明図 本発明の他の実施の形態に係る欠点検査装置の側面図 ガラス板に生じる欠点を説明するための模式図
符号の説明
10、50…欠点検査装置、12…ガラス基板、12A…ガラス基板の端部、12B…ガラス基板の上面、12C…ガラス基板の下面、13…検査部位、14…第1プリズム、16…第2プリズム、18、52、54、56…CCDカメラ、20…画像処理装置、22、24、26…LED、28…Bバンドカットフィルタ、30…Rバンドカットフィルタ、32…撮影レンズ、34…カメラ本体、36…CCDエリアセンサ、38…メモリ、40…自動判別装置

Claims (8)

  1. ガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射するとともに、ガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射してガラス板の欠点検査を行う欠点検査方法であって、
    前記ガラス板の一方面を、第1のプリズムと少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して撮像手段により撮像するとともに、ガラス板の他方面を、第2のプリズムと少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して前記撮像手段により撮像し、
    前記撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出手段によって検出することを特徴とするガラス板の欠点検査方法。
  2. 前記ガラス板の端部に向けて光を照射してガラス板の端部を前記撮像手段によって撮像し、前記撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出することを特徴とする請求項1に記載のガラス板の欠点検査方法。
  3. ガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射するとともに、ガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射してガラス板の欠点検査を行う欠点検査方法であって、
    前記ガラス板の一方面を、少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して第1の撮像手段により撮像するとともに、ガラス板の他方面を、少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して第2の撮像手段により撮像し、
    前記第1の撮像手段及び第2の撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出手段によって検出することを特徴とするガラス板の欠点検査方法。
  4. 前記ガラス板の端部に向けて光を照射してガラス板の端部を第3の撮像手段によって撮像し、第3の撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出することを特徴とする請求項3に記載のガラス板の欠点検査方法。
  5. ガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射する第1の照明手段と、ガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射する第2の照明手段とを用いてガラス板の欠点を検査する欠点検査装置であって、
    前記ガラス板の一方面を、第1のプリズムと少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して撮像するとともに、前記ガラス板の他方面を、第2のプリズムと少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタとを介して撮像する撮像手段と、
    前記撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出する検出手段と、
    を備えたことを特徴とするガラス板の欠点検査装置。
  6. 前記ガラス板の端部に向けて光を照射する第3の照明手段を有し、ガラス板の端部を前記撮像手段によって撮像し、撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出することを特徴とする請求項5に記載のガラス板の欠点検査装置。
  7. ガラス板の一方面に向けて光三原色のうちいずれか一つの原色光を照射する第1の照明手段と、ガラス板の他方面に向けて前記原色光以外の他の原色光を照射する第2の照明手段とを用いてガラス板の欠点を検査する欠点検査装置であって、
    前記ガラス板の一方面を、少なくとも前記他方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して撮像する第1の撮像手段と、
    前記ガラス板の他方面を、少なくとも前記一方面に向けて照射される原色光をカットするフィルタを介して撮像する第2の撮像手段と、
    前記第1の撮像手段及び第2の撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の一方面、及び他方面に存在する欠点を検出する検出手段と、
    を備えたことを特徴とするガラス板の欠点検査装置。
  8. 前記ガラス板の端部に向けて光を照射する第3の照明手段と、ガラス板の端部を撮像する第3の撮像手段とを有し、第3の撮像手段によって撮像された画像に基づき、前記ガラス板の端部に存在する欠点を前記検出手段によって検出することを特徴とする請求項7に記載のガラス板の欠点検査装置。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009139219A (ja) * 2007-12-06 2009-06-25 Honda Motor Co Ltd 金属ベルトの検査装置
JP2009164305A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Yamanashi Gijutsu Kobo:Kk ウェハ周縁端の異物検査方法、及び異物検査装置
JP2009294025A (ja) * 2008-06-04 2009-12-17 Honda Motor Co Ltd ベルト検査装置
JP2010160168A (ja) * 2010-04-21 2010-07-22 Honda Motor Co Ltd 金属ベルト端部の表面の傷を検査する検査方法
US7768636B2 (en) 2007-12-06 2010-08-03 Honda Motor Co., Ltd. Belt inspecting apparatus
WO2011155294A1 (ja) * 2010-06-09 2011-12-15 シャープ株式会社 基板処理装置、基板搬送装置および打痕検出装置
JP2012052512A (ja) * 2010-09-03 2012-03-15 Jtekt Corp カムシャフト装置
JP2013024667A (ja) * 2011-07-20 2013-02-04 Honda Motor Co Ltd ベルト検査装置
CN103597339A (zh) * 2011-06-06 2014-02-19 仓敷纺织株式会社 瓶罐的口部检查装置
WO2019198558A1 (ja) * 2018-04-10 2019-10-17 日本電気硝子株式会社 ガラス板、ガラス板の製造方法および端面検査方法
CN118641479A (zh) * 2024-08-15 2024-09-13 杭州利珀科技有限公司 一种硅片崩边缺陷视觉检测装置、方法及系统

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6296499B2 (ja) * 2014-08-11 2018-03-20 株式会社 東京ウエルズ 透明基板の外観検査装置および外観検査方法

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009139219A (ja) * 2007-12-06 2009-06-25 Honda Motor Co Ltd 金属ベルトの検査装置
US7768636B2 (en) 2007-12-06 2010-08-03 Honda Motor Co., Ltd. Belt inspecting apparatus
JP2009164305A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Yamanashi Gijutsu Kobo:Kk ウェハ周縁端の異物検査方法、及び異物検査装置
JP2009294025A (ja) * 2008-06-04 2009-12-17 Honda Motor Co Ltd ベルト検査装置
JP2010160168A (ja) * 2010-04-21 2010-07-22 Honda Motor Co Ltd 金属ベルト端部の表面の傷を検査する検査方法
WO2011155294A1 (ja) * 2010-06-09 2011-12-15 シャープ株式会社 基板処理装置、基板搬送装置および打痕検出装置
JP2012052512A (ja) * 2010-09-03 2012-03-15 Jtekt Corp カムシャフト装置
CN103597339A (zh) * 2011-06-06 2014-02-19 仓敷纺织株式会社 瓶罐的口部检查装置
CN103597339B (zh) * 2011-06-06 2016-05-11 仓敷纺织株式会社 瓶罐的口部检查装置
JP2013024667A (ja) * 2011-07-20 2013-02-04 Honda Motor Co Ltd ベルト検査装置
WO2019198558A1 (ja) * 2018-04-10 2019-10-17 日本電気硝子株式会社 ガラス板、ガラス板の製造方法および端面検査方法
CN111465842A (zh) * 2018-04-10 2020-07-28 日本电气硝子株式会社 玻璃板、玻璃板的制造方法以及端面检查方法
KR20200139663A (ko) * 2018-04-10 2020-12-14 니폰 덴키 가라스 가부시키가이샤 유리판, 유리판의 제조 방법 및 끝면 검사 방법
JPWO2019198558A1 (ja) * 2018-04-10 2021-05-13 日本電気硝子株式会社 ガラス板、ガラス板の製造方法および端面検査方法
JP7311842B2 (ja) 2018-04-10 2023-07-20 日本電気硝子株式会社 ディスプレイ用ガラス基板およびディスプレイ用ガラス基板の製造方法
KR102825483B1 (ko) 2018-04-10 2025-06-30 니폰 덴키 가라스 가부시키가이샤 유리판, 유리판의 제조 방법 및 끝면 검사 방법
CN118641479A (zh) * 2024-08-15 2024-09-13 杭州利珀科技有限公司 一种硅片崩边缺陷视觉检测装置、方法及系统

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