JP6145671B2 - スズ又はスズ合金メッキ浴及び当該メッキ浴を用いて皮膜形成した電子部品 - Google Patents
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Description
当該スズメッキやスズ合金メッキにあっては、メッキ浴から得られる電着皮膜の膜厚や合金組成を均一に保持すること(以下、メッキ皮膜の均一性という)が重要であり、また、メッキ浴の成分濃度が変動しても当該膜厚や合金組成が安定であること(以下、メッキ皮膜の安定性という)も重要である。
この点を詳述すると、メッキ皮膜の外観が良好であっても、例えば、上記メッキ皮膜の均一性が損なわれると、電子部品を基板に接合した場合、膜厚が薄い部位では接合不良を起こし、また、スズ合金皮膜の合金組成が均一でなく各部位で組成が異なると、融点の差異に起因して皮膜が溶融しない部位が生じて、やはり接合不良を招き、製品の信頼性を低下させてしまう。
(1)特許文献1
モノスルフィド結合の一方がベンゾアゾール環、他方がアルキレンスルホン酸(塩)基であるベンゾアゾール系スルホン酸化合物をスズ又はスズ合金メッキ浴に添加して、広い電流密度範囲にて皮膜外観やハンダ付け性を向上する(請求項1、段落1、5、44)。
上記ベンゾアゾール系スルホン酸化合物には、2−メルカプトベンズイミダゾール−S−メタンスルホン酸塩、2−メルカプトベンゾチアゾール−S−プロパンスルホン酸塩、5−エチル−2−メルカプトベンゾオキサゾール−S−ブタンスルホン酸塩などのベンゾアゾール環基に隣接してスルフィド基が結合したスルフィド類が挙げられる(段落17〜18)。
ジピリジルジスルフィド、トリアゾリルジスルフィド、ジテトラゾリルジスルフィド、ジイミダゾリルジスルフィド、ジチアゾリルジスルフィド、ジモルホリノジスルフィド、ジピリダジニルジスルフィド、ジキノリルジスルフィドなどの塩基性窒素原子を有する特定のスルフィド化合物をスズ−銀合金を含む銀合金メッキ浴に添加して、電着皮膜の外観、メッキ浴の経時安定性、銀と他種の金属の共析化などを向上する(請求項1〜2、段落1、7)。
2−メルカプトベンゾアゾール誘導体をスズ又はスズ合金メッキ浴に添加して、メッキ皮膜に美麗な皮膜外観を付与する(請求項1〜2、段落1、17)。
上記2−メルカプトベンゾアゾール誘導体には、2−(3−ヒドロキシプロピルチオ)ベンゾチアゾール、2−(4−ヒドロキシブチルチオ)ベンゾチアゾールなどのベンゾアゾール環基に隣接してスルフィド基が結合したスルフィド類が挙げられる(請求項3、段落22)。
ジベンゾアゾールジスルフィドスルホン酸化合物をスズ又はスズ合金メッキ浴に添加して、広い電流密度範囲でのメッキ皮膜の均一性、皮膜外観、ハンダ付け性などを向上する(請求項1、段落1、18)。
上記ジベンゾアゾールジスルフィドスルホン酸化合物には、ジベンゾチアゾリルジスルフィドジスルホン酸塩、ジベンゾオキサゾリルジスルフィドジスルホン酸塩、ジベンズイミダゾリルジスルフィドジスルホン酸塩などの、スルフィド基の両側にスルホン酸(塩)基を有するベンゾアゾール環基が結合したスルフィド類が挙げられる(段落22)。
芳香族スルフィド類や芳香族メルカプタン類をスズ−銀合金メッキ浴に添加して、メッキ外観やハンダ付け性などを向上する(請求項1、4、段落1、18)。
上記芳香族スルフィド類には2,2′−ジピリジルジスルフィド、2,2′−ジチオジアニリン、3,4,5−トリヒドロキシジフェニルスルフィド、芳香族メルカプタン類にはメルカプトピリジン、2−アミノチオフェノールなどが挙げられる(段落30〜31)。
チオ尿素類と、2−メルカプト基含有芳香族化合物と、ノニオン系界面活性剤とをスズ−銅合金メッキ浴に添加して、ハンダ付け性や浴の安定性を改善する(請求項1、段落8)。
上記2−メルカプト基含有芳香族化合物には、メルカプトピリジン、2−メルカプトベンゾイミダゾール系化合物、2−メルカプトベンゾオキサゾール系化合物、2−メルカプトベンゾチアゾール系化合物、メルカプトフェノール、2−メルカプトエチルアミンなどが挙げられる(請求項2、段落22)。
可溶性酒石酸塩と、ビスマス塩と、アニオン性界面活性剤と、含窒素化合物と、含イオウ化合物とをシアン系スズ−銅合金メッキ浴に添加して、広い電流密度範囲で平滑性や光沢性を改善する(請求項1〜4)。
上記含イオウ化合物には、2−メルカプトベンゾイミダゾール、2−メルカプトベンゾチアゾール、或いはこれらの誘導体からなるメルカプタン類、ジベンゾチアジルジスルフィド、ベンゾチアジルモルホリノスルフィド、ベンゾチアジルモルホリノジスルフィドからなるスルフィド類などの含イオウ複素環式化合物が挙げられる(段落15、化学式3〜4参照)。
非シアン系スズ−銀合金メッキ浴に、芳香族チオール化合物又は芳香族スルフィド化合物を添加して、浴の安定性が向上し、1〜30μmの薄膜が得られる(請求項1〜2、段落10)。
上記芳香族チオール化合物にはメルカプトフェノール、チオサリチル酸、ヘンゼンチオフェノール、メルカプトピリジンなどが挙げられ、芳香族スルフィド化合物には2,2−ジピリジルジスルフィド、4,4−チオジフェノール、チオビスチオフェノール、2,2−ジチオジ安息香酸などが挙げられる(請求項3、段落6)。
また、特許文献8に開示された芳香族スルフィド化合物のうち、4,4−チオジフェノールをスズ又はスズ合金メッキ浴に添加しても、或いは、特許文献4に開示されたチオジフェノールの誘導体である3,4,5−トリヒドロキシジフェニルスルフィドを添加しても、同様に、メッキ皮膜の均一性に劣る。
このように、上記特許文献1〜8に開示された各種含イオウ化合物をスズ又はスズ合金メッキ浴に添加しても、メッキ皮膜の均一性を向上するには不充分であり、特に、電着皮膜の膜厚や合金組成を均一に保持したり、メッキ浴の濃度が変動しても当該膜厚や合金組成を安定にすることは困難である。
その結果、窒素、イオウ、酸素から選ばれた原子を含み、且つ、ベンズイミダゾール、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾールのいわゆるベンゾアゾール環基を除く単環式複素環基又は縮合複素環基に隣接してスルフィド基又はメルカプト基が結合した含イオウ化合物について、スズ又はスズ−銀合金及びスズ−銅合金を除く特定のスズ合金メッキ浴に添加すると、得られるメッキ皮膜の膜厚や合金組成のバラツキを抑えてメッキ皮膜の均一性を向上できるとともに、メッキ浴の濃度が変動しても当該膜厚や合金組成を安定化できること、スズ−銅合金メッキ浴については、ピリジン、モルホリン、ベンゾアゾール環基を除く上記複素環基に隣接してスルフィド基又はメルカプト基が結合した含イオウ化合物の添加により、また、スズ−銀合金メッキ浴については、ピリジン、モルホリン、ベンゾアゾール環基を除く上記複素環基に隣接してメルカプト基が結合した含イオウ化合物の添加により、同様に、メッキ皮膜の均一性や安定性を向上できることを見い出し、本発明を完成した。
(B)酸と、
(C)窒素、イオウ、酸素から選ばれた原子の少なくとも一種を1〜5個含む単環式複素環基又は縮合複素環基(但し、ベンズイミダゾール、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾール環基を除く)を有し、且つ、当該複素環基に隣接してスルフィド基又はメルカプト基が結合した含イオウ化合物
とを含有するスズ及びスズ合金メッキ浴である。
(B)酸と、
(C)窒素、イオウ、酸素から選ばれた原子の少なくとも一種を1〜5個含む単環式複素環基又は縮合複素環基を有し、且つ、当該複素環基に隣接してスルフィド基又はメルカプト基が結合した含イオウ化合物とを含有し、
上記含イオウ化合物(C)の単環式複素環基又は縮合複素環基がチアゾール、チアジアゾール、イミダゾール、キノリン、フラン、チオフェン、オキサゾール、オキサジアゾール、ピロール、ピラゾール、ピラジン、イソチアゾール、イソオキサゾール、ピラゾリジン、ピリミジン、ピリダジン、ピロリジン、インドリジン、インドール、イソインドール、インダゾール、プリン、イソキノリン、ナフチリジン、キノキサリン、カルバゾール、フェナントロリン、フェナジン、フェノチアジン、フェノキサジン、フェナントリジン、ピロリン、イミダゾリジン、ピラゾリン、イミダゾリン、ピペリジン、ピペラジン、インドリン、チアントレンより選ばれた複素環基のいずれかであることを特徴とするスズ−銅合金メッキ浴である。
(B)酸と、
(C)窒素、イオウ、酸素から選ばれた原子の少なくとも一種を1〜5個含む単環式複素環基又は縮合複素環基(但し、ピリジン、ベンズイミダゾール、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾール環基を除く)を有し、且つ、当該複素環基に隣接してメルカプト基が結合した含イオウ化合物
とを含有するスズ−銀合金メッキ浴である。
このため、本発明のスズ、又は、スズ−銀合金、スズ−銅合金、スズ−ビスマス合金、スズ−亜鉛合金、スズ−ニッケル合金などの各種のスズ合金メッキ浴を用いて基板に電着皮膜を形成しても、メッキの全面に亘り膜厚が薄い部位や皮膜の合金組成が異なる部位の発生を防止することができるため、当該メッキ皮膜を介して電子部品を基板に良好に接合して製品の信頼性を高められる。
これらの化合物は、いずれもベンゾアゾール環基とスルフィド基が隣接した含イオウ化合物であるが、本発明のスズ及びスズ合金メッキ浴に添加する含イオウ化合物にあっては、当該含イオウ化合物を構成する単環式複素環基又は縮合複素環基に、いわゆるベンゾアゾール環基は含まれない。
特許文献5や特許文献8にも、2,2′−ジピリジルジスルフィドなどの芳香族スルフィド類やメルカプトピリジンなどの芳香族メルカプタン類をスズ−銀合金メッキ浴に添加することが記載される。
これらの化合物は、いずれもピリジン環、トリアゾール環基、イミダゾリン環基などの複素環基とスルフィド基が隣接した含イオウ化合物であるが、本発明のスズ−銀合金メッキ浴に添加する含イオウ化合物にあっては、当該含イオウ化合物を構成する単環式複素環基又は縮合複素環基に結合するのはメルカプト基だけであり、スルフィド基は排除されるうえ、当該複素環基にピリジン環基は含まれない。
また、特許文献1、3〜4のスズ合金メッキ浴にはスズ−銀合金メッキ浴を含み、特許文献1ではスルフィド類に属するベンゾアゾール系スルホン酸化合物を、特許文献3ではスルフィド類に属する2−メルカプトベンゾアゾール誘導体を、特許文献4ではスルフィド類に属するジベンゾアゾールジスルフィドスルホン酸化合物を夫々添加するが、本発明のスズ−銀合金メッキ浴に添加する含イオウ化合物を構成する複素環基には、いわゆるベンゾアゾール環基を含まないうえ、複素環基に結合するのはスルフィド基ではなく、メルカプト基である。
また、上述したように、特許文献1、3〜4のスズ合金メッキ浴にはスズ−銅合金メッキ浴を含み、特許文献1ではスルフィドに属するベンゾアゾール系スルホン酸化合物を、特許文献3ではスルフィドに属する2−メルカプトベンゾアゾール誘導体を、特許文献4ではスルフィドに属するジベンゾアゾールジスルフィドスルホン酸化合物を夫々添加することが記載される。
しかしながら、本発明のスズ−銅合金メッキ浴に添加する含イオウ化合物を構成する単環式複素環基又は縮合複素環基には、ピリジン環基、モルホリン環基、或いはいわゆるベンゾアゾール環基は共に含まれない。
この場合、第一の発明(つまり、上記本発明1のスズ浴、或いは特定のスズ合金浴)において、単環式複素環基又は縮合複素環基から、ベンズイミダゾール、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾール環基からなる、いわゆるベンゾアゾール環基は除かれるとともに、上記特定のスズ合金浴にスズ−銅合金及びスズ−銀合金のメッキ浴は含まれない。
第二の発明(上記本発明3のスズ−銅合金メッキ浴)において、単環式複素環基又は縮合複素環基はチアゾールなどの所定の環基であり、ピリジン環基、モルホリン環基、ベンゾアゾール環基、テトラゾール環基、トリアゾール環基は除かれる。
第三の発明(上記本発明4のスズ−銀合金メッキ浴)において、単環式複素環基又は縮合複素環基から、ピリジン環基、ベンゾアゾール環基は除かれるとともに、当該複素環基に隣接するのはメルカプト基だけであり、スルフィド基は除かれる。
他方、本発明1のスズ合金メッキ浴は、スズ−銅合金とスズ−銀合金を除く特定のスズ合金のメッキ浴であり、(A)第一スズ塩及び亜鉛、ニッケル、ビスマス、コバルト、インジウム、アンチモン、金、鉛から選ばれた金属の塩の混合物とのいずれかの可溶性塩と、(B)酸と、上記含イオウ化合物(C)とを含有する。
上記単環式複素環基又は縮合複素環基の好ましい例としては、テトラゾール、トリアゾール、チアゾール、チアジアゾール、イミダゾール、キノリン、フラン、モルホリン、チオフェン、ピリジン、オキサゾール、オキサジアゾール、ピロール、ピラゾール、ピラジン、イソチアゾール、イソオキサゾール、ピラゾリジン、ピリミジン、ピリダジン、ピロリジン、インドリジン、インドール、イソインドール、インダゾール、プリン、イソキノリン、ナフチリジン、キノキサリン、カルバゾール、フェナントロリン、フェナジン、フェノチアジン、フェノチアジン、フェノキサジン、フェナントリジン、ピロリン、イミダゾリジン、ピラゾリン、イミダゾリン、ピペリジン、ピペラジン、インドリン、チアントレンであり(本発明2参照)、より好ましくはテトラゾール、トリアゾール、チアゾール、チアジアゾール、チオフェン、ピリジン、イミダゾール、キノリン、フェナントロリン、イミダゾリジン、イミダゾリン、ピペリジンである。
前述したように、この単環式又は複合式の複素環基については、本発明3のスズ−銅合金メッキ浴では、ベンズイミダゾール、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾールよりなる、いわゆるベンゾアゾール環基、ピリジン環基、モルホリン環基、或は、テトラゾール環基、トリアゾール環基が除かれるため、これらを除いた複素環基の中から好ましいものを選択することになる。
本発明4のスズ−銀合金メッキ浴では、ベンゾアゾール環基、ピリジン環基が除かれ、本発明1のスズメッキ浴、或いはスズ−銀合金とスズ−銅合金を除く特定のスズ合金メッキ浴では、ベンゾアゾール環基が排除され、排除で残った複素環基から具体的に選択する点はスズ−銅合金メッキ浴の場合と同じである。
スルフィド基はモノスルフィドだけではなく、ジスルフィド、トリスルフィド、テトラスルフィドなどの2〜5個のイオウ原子が結合したポリスルフィドを包含する。
複素環基に隣接するスルフィド基の場合、モノスルフィド又はポリスルフィドの間にC1〜C6アルキレン基が介在しても良い。但し、この場合でも、複素環基に隣接するのは必ずスルフィド基であって、アルキレン基ではない。
また、複素環基とスルフィド基の結合では、スルフィド基の両側に隣接して複素環基が結合しても良いし、スルフィド基の一方の側だけに隣接して複素環基が結合し、他方には、例えば、アリール基、アルキル基、アルケニル基、アリールアルキル基などの複素環基以外が結合しても良い。
上記複素環基には、アルキル、アルケニル、ヒドロキシル、ヒドロキシアルキル、カルボキシル、アミノ、ハロゲン、スルホン酸基、アセチル、ニトロ、メルカプト、アルキルスルホン酸基などの置換基が1〜5個結合しても良いし、無置換でも良い。
上記含イオウ化合物(C)の浴中の総濃度は、0.0001〜10モル/Lが好ましく、より好ましくは0.001〜5モル/Lである。
例えば、単環式複素環基又は縮合複素環基にモノスルフィド基が隣接した化合物は、ナトリウムチオラートとハロゲン化物を反応させ、モノスルフィド結合を生成するなどの常法により合成される。また、単環式複素環基又は縮合複素環基にジスルフィド基が隣接した化合物は、チオール化合物を過酸化水素やヨウ素などの酸化剤で酸化し、ジスルフィド結合を生成するなどの常法で合成される。
また、単環式複素環基又は縮合複素環基にメルカプト基が隣接した化合物は、ハロゲン化物をアルカリの存在下で硫化水素と反応させるなどの常法により合成される。
本発明の含イオウ化合物において、入手可能な好ましい具体例を挙げると、5,5′−ジチオビス(1−フェニル−1H−テトラゾール)、4,4′−ジイミダゾールジスルフィド、2−メルカプト−1−メチルイミダゾール、5−メルカプト−1−メチルテトラゾール、(2−メルカプト−4−メチルチアゾール−5−イル) 酢酸、4−メルカプトモルホリン、3,3′−ジチオビス−1H−1,2,4−トリアゾール、2,2′−ジチオジピリジン、4−メルカプトキノリン−3−スルホン酸、2−メチル−3−フランチオール、2,2′−ジチエニルジスルフィド、2−メルカプトピリジン、メチル−2−ピリジルスルフィド、2−メルカプト−3−ピリジンカルボン酸、2,2′−ジチオビス(5−ニトロピリジン)、2−ピリミジンチオール、4,6′−ジメチルピリミジン−2−チオール、4,6′−ジヒドロキシ−2−メルカプトピリミジン、4,6′−ジアミノ−2−メルカプトピリミジン、1,3′−ジチオレン−2−チオン、2−メルカプトチオフェン、1,3,5−トリアゾール−2−トリチオール、1,3,4−チアジアゾール−2−チオール、2,5−ジメルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−メチルチオ−1,3,4−チアジアゾール−2−チオール、2−メルカプト−5−メチル−1,3,4−チアジアゾール、3,3−(トリメチレンビスチオ)ビス[4−アミノ−1H−1,2,4−トリアゾール−5(4H)−チオン]、3−(2−ピリジンチオ)−プロパンスルホン酸などである。
この相手方の金属の可溶性塩について述べれば、例えば、ビスマスの可溶性塩には、硫酸ビスマス、グルコン酸ビスマス、硝酸ビスマス、酸化ビスマス、炭酸ビスマス、塩化ビスマス、メタンスルホン酸ビスマス、2−ヒドロキシプロパンスルホン酸ビスマスなどがある。
インジウムの可溶性塩には、スルファミン酸インジウム、硫酸インジウム、ホウフッ化インジウム、酸化インジウム、メタンスルホン酸インジウム、2−ヒドロキシプロパンスルホン酸インジウムなどがある。
亜鉛の可溶性塩には、硫酸亜鉛、硝酸亜鉛、塩化亜鉛、ピロリン酸亜鉛、シアン化亜鉛、メタンスルホン酸亜鉛、2−ヒドロキシエタンスルホン酸亜鉛、2−ヒドロキシプロパンスルホン酸亜鉛などがある。
アンチモンの可溶性塩には、ホウフッ化アンチモン、塩化アンチモン、酒石酸アンチモニルカリウム、ピロアンチモン酸カリウム、酒石酸アンチモン、メタンスルホン酸アンチモン、2−ヒドロキシプロパンスルホン酸アンチモンなどがある。
ニッケルの可溶性塩には、硫酸ニッケル、ギ酸ニッケル、塩化ニッケル、スルファミン酸ニッケル、ホウフッ化ニッケル、酢酸ニッケル、メタンスルホン酸ニッケル、2−ヒドロキシプロパンスルホン酸ニッケルなどがある。
鉛の可溶性塩には、酢酸鉛、硝酸鉛、炭酸鉛、ホウフッ化鉛、スルファミン酸鉛、メタンスルホン酸鉛、エタンスルホン酸鉛、2−ヒドロキシエタンスルホン酸鉛、2−ヒドロキシプロパンスルホン酸鉛などがある。
コバルトの可溶性塩には、硫酸コバルト、塩化コバルト、酢酸コバルト、ホウフッ化コバルト、メタンスルホン酸コバルト、2−ヒドロキシプロパンスルホン酸コバルトなどがある。
また、可溶性第一スズ塩と、合金を形成する相手方の金属の可溶性塩との混合割合は、所望するスズ合金メッキ皮膜の組成比に応じて適宜調整すれば良い。
浴管理の観点からは既述の2成分系のスズ合金が好ましい。
上記有機酸としては、有機スルホン酸、脂肪族カルボン酸などが挙げられ、無機酸としては、硫酸、塩酸、ホウフッ化水素酸、ケイフッ化水素酸、スルファミン酸などが挙げられる。この中では、硫酸浴を初め、スズの溶解性、排水処理の容易性などの見地から有機スルホン酸又はその塩の浴が好ましい。
上記酸又はその塩は単用又は併用でき、その含有量は0.1〜10モル/L、好ましくは0.5〜5モル/Lである。
CmH2m+1-CH(OH)-CpH2p-SO3H(例えば、m=0〜6、p=1〜5)
で示されるものが使用でき、具体的には、2―ヒドロキシエタン―1―スルホン酸(イセチオン酸)、2―ヒドロキシプロパン―1―スルホン酸(2−プロパノールスルホン酸)、3―ヒドロキシプロパン―1―スルホン酸、2―ヒドロキシブタン―1―スルホン酸、2―ヒドロキシペンタン―1―スルホン酸などの外、1―ヒドロキシプロパン―2―スルホン酸、4―ヒドロキシブタン―1―スルホン酸、2―ヒドロキシヘキサン―1―スルホン酸などが挙げられる。
上記有機スルホン酸では、メタンスルホン酸、エタンスルホン酸、2−プロパノールスルホン酸、2−ヒドロキシエタンスルホン酸などが好ましい。
成分(A)のうち、銅の可溶性塩には、硫酸銅、硝酸銅、炭酸銅、ピロリン酸銅、塩化銅、シアン化銅、ホウフッ化銅、スルファミン酸銅、メタンスルホン酸銅、2−ヒドロキシエタンスルホン酸銅、2−ヒドロキシプロパンスルホン酸銅などがある。
成分(B)の酸は本発明1と同様である。
成分(C)の含イオウ化合物は、複素環基からベンゾアゾール環基に加えて、ピリジン環基、モルホリン環基、テトラゾール環基、トリアゾール環基を排除する以外は、基本的に本発明1と同様である。
従って、2−メルカプトベンゾチアゾールなどのベンゾアゾール化合物だけではなく、メルカプトピリジンやモルホリノスルフィドなどの含イオウ化合物を添加したスズ−銅合金浴は、本発明3のスズ−銅合金メッキ浴から排除される。
本発明3のスズ−銅合金メッキ浴の場合、単環式複素環基又は縮合複素環基の具体例としては、チアゾール、チアジアゾール、イミダゾール、キノリン、フラン、チオフェン、オキサゾール、オキサジアゾール、ピロール、ピラゾール、ピラジン、イソチアゾール、イソオキサゾール、ピラゾリジン、ピリミジン、ピリダジン、ピロリジン、インドリジン、インドール、イソインドール、インダゾール、プリン、イソキノリン、ナフチリジン、キノキサリン、カルバゾール、フェナントロリン、フェナジン、フェノチアジン、フェノチアジン、フェノキサジン、フェナントリジン、ピロリン、イミダゾリジン、ピラゾリン、イミダゾリン、ピペリジン、ピペラジン、インドリン、チアントレンであり、より好ましくはテトラゾール、トリアゾール、チアゾール、チアジアゾール、チオフェン、ピリジン、イミダゾール、キノリン、フェナントロリン、イミダゾリジン、イミダゾリン、ピペリジンである。
成分(A)のうち、銀の可溶性塩としては、酢酸銀、硝酸銀、塩化銀、酸化銀、シアン化銀、シアン化銀カリウム、メタンスルホン酸銀、2−ヒドロキシエタンスルホン酸銀、2−ヒドロキシプロパンスルホン酸銀などが挙げられる。
成分(B)の酸は本発明1と同じである。
成分(C)の含イオウ化合物は、複素環基からベンゾアゾール環基に加えてピリジン環基を排除する点と、複素環基に隣接して結合するのはメルカプト基であってスルフィド基は排除される点以外は、基本的に本発明1と同様である。
従って、2−メルカプトベンゾチアゾールなどのベンゾアゾール環基とメルカプト基が結合した含イオウ化合物、メルカプトピリジンのようなピリジン環基とメルカプト基が結合した含イオウ化合物、或いは、トリアゾールスルフィド、ジイミダゾールジスルフィドなどの単環式複素環基とスルフィド基が結合した含イオウ化合物を添加したスズ−銅合金浴は、本発明4のスズ−銀合金メッキ浴から排除される。
本発明4のスズ−銀合金浴の場合、単環式複素環基又は縮合複素環基の好ましい例としては、テトラゾール、トリアゾール、チアゾール、チアジアゾール、イミダゾール、キノリン、フラン、モルホリン、チオフェン、オキサゾール、オキサジアゾール、ピロール、ピラゾール、ピラジン、イソチアゾール、イソオキサゾール、ピラゾリジン、ピリミジン、ピリダジン、ピロリジン、インドリジン、インドール、イソインドール、インダゾール、プリン、イソキノリン、ナフチリジン、キノキサリン、カルバゾール、フェナントロリン、フェナジン、フェノチアジン、フェノチアジン、フェノキサジン、フェナントリジン、ピロリン、イミダゾリジン、ピラゾリン、イミダゾリン、ピペリジン、ピペラジン、インドリン、チアントレンであり、より好ましくはテトラゾール、トリアゾール、チアゾール、チアジアゾール、チオフェン、ピリジン、イミダゾール、キノリン、フェナントロリン、イミダゾリジン、イミダゾリン、ピペリジンである。
基本的に、第一スズイオンは酸性では安定であるが、中性付近では白色沈澱が生じ易い。このため、本発明を中性付近のスズメッキ浴に適用する場合には、スズイオンを安定化させる目的で、錯化剤を含有するのが好ましい。
上記錯化剤は、オキシカルボン酸、ポリカルボン酸、モノカルボン酸などであり、具体的には、グルコン酸、クエン酸、グルコヘプトン酸、グルコノラクトン、グルコヘプトラクトン、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、アスコルビン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グリコール酸、リンゴ酸、酒石酸、ジグリコール酸、或はこれらの塩などが挙げられる。好ましくは、グルコン酸、クエン酸、グルコヘプトン酸、グルコノラクトン、グルコヘプトラクトン、或はこれらの塩などである。
また、エチレンジアミン、エチレンジアミン四酢酸(EDTA)、ジエチレントリアミン五酢酸(DTPA)、ニトリロ三酢酸(NTA)、イミノジ酢酸(IDA)、イミノジプロピオン酸(IDP)、ヒドロキシエチルエチレンジアミン三酢酸(HEDTA)、トリエチレンテトラミン六酢酸(TTHA)、エチレンジオキシビス(エチルアミン)−N,N,N′,N′−テトラ酢酸、グリシン類、ニトリロトリメチルホスホン酸、1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸、或はこれらの塩などのポリアミンやアミノカルボン酸類も錯化剤として有効である。
当該安定剤としては、チオ尿素、或はジメチルチオ尿素、トリメチルチオ尿素、ジエチルチオ尿素、アリルチオ尿素、アセチルチオ尿素、チオセミカルバジドなどのチオ尿素誘導体などのチオアミド類、チオグリコール(HS−CH2CH2OH)、チオグリコール酸(HSCH2COOH)、メルカプトプロピオン酸(CH3CH(SH)COOH)、メルカプトコハク酸などのメルカプタン類、チオジグリコール(HOCH2CH2−S−CH2CH2OH)、チオビス(ドデカエチレングリコール)(H−(OCH2CH2)12−S−(CH2CH2O)12−H)、チオジグリコール酸(HOOCCH2−S−CH2COOH)、ジチオジアニリン、ジピリジルジスルフィド、3,6−ジチオ−1,8−オクタンジオール、4,7−ジチオ−1,10−デカンジオールなどのスルフィド類、或は、亜硫酸塩等が挙げられる。
さらに、前記錯化剤として列挙したオキシカルボン酸、ポリカルボン酸又はこれらの塩、或はポリアミンやアミノカルボン酸類なども有効である。
上記酸化防止剤は浴中のSn2+の酸化防止を目的としたもので、アスコルビン酸又はその塩、ハイドロキノン、カテコール、レゾルシン、ヒドロキノン、フロログルシン、クレゾールスルホン酸又はその塩、フェノールスルホン酸又はその塩、カテコールスルホン酸又はその塩、ハイドロキノンスルホン酸又はその塩、ヒドロキシナフタレンスルホン酸又はその塩、ヒドラジンなどが挙げられる。例えば、中性浴ではアスコルビン酸又はその塩などが好ましい。
上記界面活性剤は、メッキ皮膜の外観、緻密性、平滑性、密着性などの改善を目的とし、通常のアニオン系、カチオン系、ノニオン系、或は両性などの各種界面活性剤が使用できる。
上記アニオン系界面活性剤としては、アルキル硫酸塩、ポリオキシエチレンアルキルエーテル硫酸塩、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル硫酸塩、アルキルベンゼンスルホン酸塩、アルキルナフタレンスルホン酸塩などが挙げられる。カチオン系界面活性剤としては、モノ〜トリアルキルアミン塩、ジメチルジアルキルアンモニウム塩、トリメチルアルキルアンモニウム塩などが挙げられる。ノニオン系界面活性剤としては、C1〜C20アルカノール、フェノール、ナフトール、ビスフェノール類、C1〜C25アルキルフェノール、アリールアルキルフェノール、C1〜C25アルキルナフトール、C1〜C25アルコキシルリン酸(塩)、ソルビタンエステル、ポリアルキレングリコール、C1〜C22脂肪族アミドなどにエチレンオキシド(EO)及び/又はプロピレンオキシド(PO)を2〜300モル付加縮合させたものなどが挙げられる。両性界面活性剤としては、カルボキシベタイン、イミダゾリンベタイン、アミノカルボン酸などが挙げられる。
また、ゼラチン、ポリペプトン、N-(3-ヒドロキシブチリデン)-p-スルファニル酸、N-ブチリデンスルファニル酸、N-シンナモイリデンスルファニル酸、2,4-ジアミノ-6-(2’-メチルイミダゾリル(1’))エチル-1,3,5-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-(2’-エチル-4-メチルイミダゾリル(1’))エチル-1,3,5-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-(2’-ウンデシルイミダゾリル(1’))エチル-1,3,5-トリアジン、サリチル酸フェニル、或は、ベンゾチアゾール類も平滑剤として有効である。
上記ベンゾチアゾール類としては、ベンゾチアゾール、2-メチルベンゾチアゾール、2-メルカプトベンゾチアゾール、2-(メチルメルカプト)ベンゾチアゾール、2-アミノベンゾチアゾール、2-アミノ-6-メトキシベンゾチアゾール、2-メチル-5-クロロベンゾチアゾール、2-ヒドロキシベンゾチアゾール、2-アミノ-6-メチルベンゾチアゾール、2-クロロベンゾチアゾール、2,5-ジメチルベンゾチアゾール、6-ニトロ-2-メルカプトベンゾチアゾール、5-ヒドロキシ-2-メチルベンゾチアゾール、2-ベンゾチアゾールチオ酢酸などが挙げられる。
上記導電性塩としては、硫酸、塩酸、リン酸、スルファミン酸、スルホン酸などのナトリウム塩、カリウム塩、マグネシウム塩、アンモニウム塩、アミン塩などが挙げられるが、上記pH調整剤で共用できる場合もある。
上記防腐剤としては、ホウ酸、5−クロロ−2−メチル−4−イソチアゾリン−3−オン、塩化ベンザルコニウム、フェノール、フェノールポリエトキシレート、チモール、レゾルシン、イソプロピルアミン、グアヤコールなどが挙げられる。
上記消泡剤としては、プルロニック界面活性剤、高級脂肪族アルコール、アセチレンアルコール及びそれらのポリアルコキシレートなどが挙げられる。
上記電子部品としては、プリント配線板、ガラス基板、シリコン基板、半導体集積回路、抵抗、可変抵抗、コンデンサ、フィルター、インダクタ、サーミスタ、水晶振動子、スイッチ、リード線、太陽電池などが挙げられる。
本発明のスズ又はスズ合金メッキ浴を用いた電気メッキでは、バレルメッキ、ラックメッキ、高速連続メッキ、ラックレスメッキ、カップメッキ、ディップメッキなどの各種メッキ方式が採用できる。
電気メッキの条件としては、浴温は0℃以上、好ましくは10〜50℃程度であり、陰極電流密度は0.001〜30A/dm2、好ましくは0.01〜10A/dm2である。
尚、本発明は下記の合成例、実施例、試験例に拘束されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で任意の変形をなし得ることは勿論である。
実施例1〜10のうち、実施例1〜2はスズメッキ浴の例、実施例3はスズ−金合金メッキ浴の例、実施例4はスズ−亜鉛合金メッキ浴の例、実施例5はスズ−ニッケル合金メッキ浴の例、実施例6はスズ−ビスマス合金メッキ浴の例、実施例7はスズ−コバルト合金メッキ浴の例、実施例8はスズ−インジウム合金メッキ浴の例、実施例9はスズ−鉛合金メッキ浴の例、実施例10はスズ−アンチモン合金メッキ浴の例である。
この実施例1〜10において、実施例1〜2、6〜7、10は本発明の含イオウ化合物が複素環基を有するスルフィド類の例、実施例3〜5、8〜9は複素環基を有するメルカプタン類の例である。
下記の組成でスズメッキ浴を建浴した。
硫酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
硫酸 125g/L
5,5′−ジチオビス(1−フェニル−1H−テトラゾール) 5g/L
ビスフェノールAポリエトキシレート(EO13モル) 5g/L
アルキルナフタレンスルホン酸ナトリウム 3g/L
カテコール 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズメッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 35g/L
メタンスルホン酸 150g/L
4,4′−ジイミダゾールジスルフィド 0.5g/L
プルロニック系界面活性剤 10g/L
2,2′−ビピリジル 0.03g/L
カテコール 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:30℃
下記の組成でスズ−金合金メッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 10g/l
亜硫酸金ナトリウム(Au+として) 2g/L
亜硫酸ナトリウム 80g/L
2−メルカプト−1−メチルイミダゾール 30g/L
テトロニック系界面活性剤 10g/L
β−ナフトールポリエトキシレート(EO12モル) 3g/L
ハイドロキノン 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−亜鉛合金メッキ浴を建浴した。
硫酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
硫酸亜鉛(Zn2+として) 2g/L
硫酸 100g/L
(2−メルカプト−4−メチルチアゾール−5−イル) 酢酸 3.5g/L
ドデシルアルコールポリエトキシレート(EO15モル) 5g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:30℃
下記の組成でスズ−ニッケル合金メッキ浴を建浴した。
スルファミン酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L
スルファミン酸ニッケル(Ni2+として) 40g/L
スルファミン酸 125g/L
ホウ酸 30g/L
4−メルカプトモルホリン 1g/L
オクチルフェノールポリエトキシレート(EO10モル) 5g/L
カテコール 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:50℃
下記の組成でスズ−ビスマス合金メッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 15g/L
メタンスルホン酸ビスマス(Bi3+として) 40g/L
メタンスルホン酸 100g/L
3,3′−ジチオビス−1H−1,2,4−トリアゾール 2g/L
スチレン化ポリエトキシレート(EO10モル) 5g/L
ハイドロキノン 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−コバルト合金メッキ浴を建浴した。
硫酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
硫酸コバルト(Co2+として) 10g/L
硫酸 150g/L
2,2′−ジチオジピリジン 10g/L
ビスフェノールFポリエトキシレート(EO15モル) 10g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−インジウム合金メッキ浴を建浴した。
スルファミン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
スルファミン酸インジウム(In3+として) 10g/L
スルファミン酸 150g/L
4−メルカプトキノリン−3−スルホン酸 4g/L
ビスフェノールAポリエトキシレート(EO15モル) 10g/L
ベンジルトリブチルアンモニウムヒドロキシド 2g/L
ポリエチレンイミン 1g/L
カテコール 0.5g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−鉛合金メッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 40g/L
メタンスルホン酸 150g/L
2−メチル−3−フランチオール 0.3g/L
クミルフェノールポリエトキシレート(EO20モル) 10g/L
テトロニック系界面活性剤 2g/L
カテコール 0.75g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−アンチモン合金メッキ浴を建浴した。
塩化第一スズ(Sn2+として) 50g/L
塩化アンチモン(Sb2+として) 50g/L
フッ化ナトリウム 40g/L
酸性フッ化アンモニウム 20g/L
2,2′−ジチエニルジスルフィド 5g/L
スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO20モル) 10g/L
ポリエチレングリコール(分子量4000) 10g/L
イミダゾリン系両性界面活性剤 0.5g/L
ハイドロキノン 1g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズメッキ浴を建浴した。
硫酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
硫酸 125g/L
ビス(3−スルホプロピル)ジスルフィド 5g/L
ビスフェノールAポリエトキシレート(EO13モル) 5g/L
アルキルナフタレンスルホン酸ナトリウム 3g/L
カテコール 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズメッキ浴を建浴した。
硫酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
硫酸 125g/L
ビスフェノールAポリエトキシレート(EO13モル) 5g/L
アルキルナフタレンスルホン酸ナトリウム 3g/L
カテコール 1g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:30℃
下記の組成でスズ−金合金メッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 10g/l
亜硫酸金ナトリウム(Au+として) 2g/L
亜硫酸ナトリウム 80g/L
DL−メチオニン 1.5 g/L
テトロニック系界面活性剤 10g/L
β−ナフトールポリエトキシレート(EO12モル) 3g/L
ハイドロキノン 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−金合金メッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 10g/l
亜硫酸金ナトリウム(Au+として) 2g/L
亜硫酸ナトリウム 80g/L
テトロニック系界面活性剤 10g/L
β−ナフトールポリエトキシレート(EO12モル) 3g/L
ハイドロキノン 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−銅合金メッキ浴を建浴した。
プロパンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 10g/L
プロパンスルホン酸銅(Cu2+として) 35g/L
プロパンスルホン酸 120g/L
チオ尿素 3g/L
アルキルグリシン系両性界面活性剤 2.5g/L
ポリビニルピロリドン 1g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−銅合金メッキ浴を建浴した。
プロパンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 10g/L
プロパンスルホン酸銅(Cu2+として) 35g/L
プロパンスルホン酸 120g/L
アルキルグリシン系両性界面活性剤 2.5g/L
ポリビニルピロリドン 1g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−亜鉛合金メッキ浴を建浴した。
硫酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
硫酸亜鉛(Zn2+として) 2g/L
硫酸 100g/L
3−メルカプト−1−プロパンスルホン酸 5.0g/L
ドデシルアルコールポリエトキシレート(EO15モル) 5g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:35℃
下記の組成でスズ−亜鉛合金メッキ浴を建浴した。
硫酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
硫酸亜鉛(Zn2+として) 2g/L
硫酸 100g/L
ドデシルアルコールポリエトキシレート(EO15モル) 5g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:35℃
下記の組成でスズ−ニッケル合金メッキ浴を建浴した。
スルファミン酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L
スルファミン酸ニッケル(Ni2+として) 40g/L
スルファミン酸 125g/L
ホウ酸 30g/L
4,4−チオジフェノール 1g/L
オクチルフェノールポリエトキシレート(EO10モル) 5g/L
カテコール 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:50℃
下記の組成でスズ−ニッケル合金メッキ浴を建浴した。
スルファミン酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L
スルファミン酸ニッケル(Ni2+として) 40g/L
スルファミン酸 125g/L
ホウ酸 30g/L
オクチルフェノールポリエトキシレート(EO10モル) 5g/L
カテコール 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:50℃
下記の組成でスズ−ビスマス合金メッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 15g/L
メタンスルホン酸ビスマス(Bi3+として) 40g/L
メタンスルホン酸 100g/L
3,3′−ジチオビス−プロパンスルホン酸ジナトリウム塩 4.5g/L
スチレン化ポリエトキシレート(EO10モル) 5g/L
ハイドロキノン 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−ビスマス合金メッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 15g/L
メタンスルホン酸ビスマス(Bi3+として) 40g/L
メタンスルホン酸 100g/L
スチレン化ポリエトキシレート(EO10モル) 5g/L
ハイドロキノン 3g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−コバルト合金メッキ浴を建浴した。
硫酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
硫酸コバルト(Co2+として) 10g/L
硫酸 150g/L
ジチオジアニリン 10g/L
ビスフェノールFポリエトキシレート(EO15モル) 10g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−コバルト合金メッキ浴を建浴した。
硫酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
硫酸コバルト(Co2+として) 10g/L
硫酸 150g/L
ビスフェノールFポリエトキシレート(EO15モル) 10g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−インジウム合金メッキ浴を建浴した。
スルファミン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
スルファミン酸インジウム(In3+として) 10g/L
スルファミン酸 150g/L
イミダゾール 10g/L
ビスフェノールAポリエトキシレート(EO15モル) 10g/L
ベンジルトリブチルアンモニウムヒドロキシド 2g/L
ポリエチレンイミン 1g/L
カテコール 0.5g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−インジウム合金メッキ浴を建浴した。
スルファミン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
スルファミン酸インジウム(In3+として) 10g/L
スルファミン酸 150g/L
ビスフェノールAポリエトキシレート(EO15モル) 10g/L
ベンジルトリブチルアンモニウムヒドロキシド 2g/L
ポリエチレンイミン 1g/L
カテコール 0.5g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−鉛合金メッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 40g/L
メタンスルホン酸 150g/L
タウリン 20g/L
クミルフェノールポリエトキシレート(EO20モル) 10g/L
テトロニック系界面活性剤 2g/L
カテコール 0.75g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−鉛合金メッキ浴を建浴した。
メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L
メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 40g/L
メタンスルホン酸 150g/L
クミルフェノールポリエトキシレート(EO20モル) 10g/L
テトロニック系界面活性剤 2g/L
カテコール 0.75g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−アンチモン合金メッキ浴を建浴した。
塩化第一スズ(Sn2+として) 50g/L
塩化アンチモン(Sb2+として) 50g/L
フッ化ナトリウム 40g/L
酸性フッ化アンモニウム 20g/L
2−アミノエタンチオール 2.5g/L
スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO20モル) 10g/L
ポリエチレングリコール(分子量4000) 10g/L
イミダゾリン系両性界面活性剤 0.5g/L
ハイドロキノン 1g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
下記の組成でスズ−アンチモン合金メッキ浴を建浴した。
塩化第一スズ(Sn2+として) 50g/L
塩化アンチモン(Sb2+として) 50g/L
フッ化ナトリウム 40g/L
酸性フッ化アンモニウム 20g/L
2,2′−ジチエニルジスルフィド 5g/L
スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO20モル) 10g/L
ポリエチレングリコール(分子量4000) 10g/L
イミダゾリン系両性界面活性剤 0.5g/L
ハイドロキノン 1g/L
イオン交換水 残部
[メッキ温度]
浴温:25℃
《メッキ膜厚の均一性試験例》
25mm×25mm角の平板鋼板に陰極電流密度3A/dm2、メッキ時間30分の条件で電気メッキを行い、得られたメッキ皮膜の全面に適正にバラつかせて選択した10地点の膜厚を測定し、この10点測定した数値のうち、その最大膜厚La、最小膜厚Sa、平均膜厚Taから次式で表される変動率Qa(%)を算出し、下記の基準で膜厚の均一性の優劣を評価した。
Qa=〔(La−Sa)/Ta〕×100
[評価基準]
〇:変動率Qaが20%以下である。
×:変動率Qaが20%より大きい。
25mm×25mm角の平板鋼板に陰極電流密度3A/dm2、メッキ時間30分の条件で電気スズ合金メッキを行い、得られたメッキ皮膜の全面に適正にバラつかせて選択した10地点の膜厚を測定し、この10点測定した数値のうち、スズの相手方の金属の最大組成Lb、最小組成Sb、平均組成Tbから次式で表される変動率Qb(%)を算出し、下記の基準で合金組成の均一性の優劣を評価した。
Qb=〔(Lb−Sb)/Tb〕×100
[評価基準]
〇:変動率Qbが20%以下である。
×:変動率Qbが20%より大きい。
各メッキ液成分を0.8倍、1.2倍濃度で建浴し、各メッキ液を用いて得られた電着皮膜の膜厚、或いは、スズ合金組成が、1.0倍のメッキ液組成を用いた場合のこれらの膜厚や合金組成に対する差異の有無を調べて、下記の基準でメッキ皮膜の安定性の優劣を評価した。
[評価基準]
〇:差異が±15%以内であり、良好な安定性を示した。
×:差異が±15%を越えており、安定性は低かった。
メッキ浴種 膜厚均一性 合金組成均一性 安定性
実施例1 Sn 〇 −− 〇
実施例2 Sn 〇 −− 〇
実施例3 Sn-Au 〇 〇 〇
実施例4 Sn-Zn 〇 〇 〇
実施例5 Sn-Ni 〇 〇 〇
実施例6 Sn-Bi 〇 〇 〇
実施例7 Sn-Co 〇 〇 〇
実施例8 Sn-In 〇 〇 〇
実施例9 Sn-Pb 〇 〇 〇
実施例10 Sn-Sb 〇 〇 〇
比較例1 Sn × −− 〇
比較例2 Sn × −− 〇
比較例3 Sn-Au × 〇 〇
比較例4 Sn-Au × × ×
比較例5 Sn-Cu 〇 × ×
比較例6 Sn-Cu × × 〇
比較例7 Sn-Zn × × 〇
比較例8 Sn-Zn × 〇 〇
比較例9 Sn-Ni × × 〇
比較例10 Sn-Ni × × ×
比較例11 Sn-Bi × 〇 ×
比較例12 Sn-Bi 〇 × ×
比較例13 Sn-Co 〇 × 〇
比較例14 Sn-Co 〇 × ×
比較例15 Sn-In 〇 〇 ×
比較例16 Sn-In × × ×
比較例17 Sn-Pb 〇 × 〇
比較例18 Sn-Pb 〇 × 〇
比較例19 Sn-Sb × 〇 〇
比較例20 Sn-Sb × × 〇
上表によると、本発明の含イオウ化合物を含まないブランク例である比較例4(スズ−金合金浴)、比較例10(スズ−ニッケル合金浴)、比較例16(スズ−インジウム合金浴)では、メッキ膜厚及び合金組成の均一性、安定性の3つの試験項目のすべてで劣っており、同じくブランク例の比較例6(スズ−銅合金浴)、比較例12(スズ−ビスマス合金浴)、比較例14(スズ−コバルト合金浴)、比較例20(スズ−アンチモン合金浴)では、3つの試験項目のうちの2つまでが劣っていた。また、ブランク例の比較例2(スズ浴)では膜厚の均一性が劣っており、残りのブランク例(比較例8(スズ−亜鉛合金浴)、比較例18(スズ−鉛合金浴)など)でも、3つの試験項目のうちの1つが劣っていた。
これに対して、本発明の含イオウ化合物をスズ浴、或いは特定のスズ合金浴に添加した実施例1〜10では、3つの試験項目ともに良好な結果を示し、単環式複素環基又は縮合複素環基に隣接してスルフィド基又はメルカプト基が結合した本発明の含イオウ化合物をスズ浴或いはスズ合金浴に添加すると、メッキ皮膜の膜厚の均一性だけではなく、合金組成の均一性をも改善でき、また、メッキ浴の成分濃度が変化してもこれら膜厚や合金組成を安定に保持できることが確認できた。
また、芳香族系のスルフィド類をスズ−ニッケル合金浴に添加した比較例9では膜厚の均一性及び合金組成の均一性ともに劣り、同じくスズ−コバルト合金浴に添加した比較例13でも合金組成の均一性に劣っていた。
本発明とは別種の複素環基を有する含イオウ化合物をスズ−インジウム合金浴に添加した比較例15ではメッキ皮膜の安定性に劣り、スズ−鉛合金浴に添加した比較例17では合金組成の均一性に劣っていた。
これに対して、本発明の含イオウ化合物をスズ浴、或いはスズ合金浴に添加した実施例1〜10では、3つの試験項目ともに良好な結果を示すことから、同じ含イオウ化合物であっても、メッキ皮膜の均一性及び安定性の面で、特定の複素環基に隣接してスルフィド基又はメルカプト基が結合した本発明の含イオウ化合物の、比較例(比較例3、7などの奇数の例)の化合物に対する優位性が裏付けられた。
Claims (6)
- (A)第一スズ塩と、第一スズ塩及び亜鉛、ニッケル、ビスマス、コバルト、インジウム、アンチモン、金、鉛から選ばれた金属の塩の混合物とのいずれかの可溶性塩と、
(B)酸と、
(C)窒素、イオウ、酸素から選ばれた原子の少なくとも一種を1〜5個含む単環式複素環基又は縮合複素環基(但し、ベンズイミダゾール、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾール環基を除く)を有し、且つ、当該複素環基に隣接してスルフィド基又はメルカプト基が結合した含イオウ化合物
とを含有するスズ及びスズ合金メッキ浴。 - 含イオウ化合物に具備される単環式複素環基又は縮合複素環基が、テトラゾール、トリアゾール、チアゾール、チアジアゾール、イミダゾール、キノリン、フラン、モルホリン、チオフェン、ピリジン、オキサゾール、オキサジアゾール、ピロール、ピラゾール、ピラジン、イソチアゾール、イソオキサゾール、ピラゾリジン、ピリミジン、ピリダジン、ピロリジン、インドリジン、インドール、イソインドール、インダゾール、プリン、イソキノリン、ナフチリジン、キノキサリン、カルバゾール、フェナントロリン、フェナジン、フェノチアジン、フェノキサジン、フェナントリジン、ピロリン、イミダゾリジン、ピラゾリン、イミダゾリン、ピペリジン、ピペラジン、インドリン、チアントレンより選ばれた複素環基のいずれかであることを特徴とする請求項1に記載のスズ及びスズ合金メッキ浴。
- (A)可溶性第一スズ塩及び可溶性銅塩の混合物と、
(B)酸と、
(C)窒素、イオウ、酸素から選ばれた原子の少なくとも一種を1〜5個含む単環式複素環基又は縮合複素環基を有し、且つ、当該複素環基に隣接してスルフィド基又はメルカプト基が結合した含イオウ化合物とを含有し、
上記含イオウ化合物(C)の単環式複素環基又は縮合複素環基がチアゾール、チアジアゾール、イミダゾール、キノリン、フラン、チオフェン、オキサゾール、オキサジアゾール、ピロール、ピラゾール、ピラジン、イソチアゾール、イソオキサゾール、ピラゾリジン、ピリミジン、ピリダジン、ピロリジン、インドリジン、インドール、イソインドール、インダゾール、プリン、イソキノリン、ナフチリジン、キノキサリン、カルバゾール、フェナントロリン、フェナジン、フェノチアジン、フェノキサジン、フェナントリジン、ピロリン、イミダゾリジン、ピラゾリン、イミダゾリン、ピペリジン、ピペラジン、インドリン、チアントレンより選ばれた複素環基のいずれかであることを特徴とするスズ−銅合金メッキ浴。 - (A)可溶性第一スズ塩及び可溶性銀塩の混合物、
(B)酸と、
(C)窒素、イオウ、酸素から選ばれた原子の少なくとも一種を1〜5個含む単環式複素環基又は縮合複素環基(但し、ピリジン、ベンズイミダゾール、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾール環基を除く)を有し、且つ、当該複素環基に隣接してメルカプト基が結合した含イオウ化合物
とを含有するスズ−銀合金メッキ浴。 - 界面活性剤、酸化防止剤、光沢剤、半光沢剤、錯化剤、pH調整剤より選ばれた添加剤の少なくとも一種を含有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載のスズ及びスズ合金メッキ浴。
- 請求項1〜5のいずれか1項のスズ又はスズ合金メッキ浴を用いて、スズ又はスズ合金皮膜を形成した電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012280399A JP6145671B2 (ja) | 2012-12-24 | 2012-12-24 | スズ又はスズ合金メッキ浴及び当該メッキ浴を用いて皮膜形成した電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012280399A JP6145671B2 (ja) | 2012-12-24 | 2012-12-24 | スズ又はスズ合金メッキ浴及び当該メッキ浴を用いて皮膜形成した電子部品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014122410A JP2014122410A (ja) | 2014-07-03 |
JP6145671B2 true JP6145671B2 (ja) | 2017-06-14 |
Family
ID=51403141
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012280399A Active JP6145671B2 (ja) | 2012-12-24 | 2012-12-24 | スズ又はスズ合金メッキ浴及び当該メッキ浴を用いて皮膜形成した電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6145671B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10260159B2 (en) * | 2013-07-05 | 2019-04-16 | The Boeing Company | Methods and apparatuses for mitigating tin whisker growth on tin and tin-plated surfaces by doping tin with gold |
CN107709628B (zh) * | 2015-06-26 | 2020-06-16 | 美泰乐科技(日本)股份有限公司 | 用于电解硬质金镀敷液的防置换剂和包含其的电解硬质金镀敷液 |
JP6210148B2 (ja) | 2015-12-28 | 2017-10-11 | 三菱マテリアル株式会社 | SnAg合金めっき液 |
JP6601269B2 (ja) * | 2016-03-02 | 2019-11-06 | 三菱マテリアル株式会社 | めっき液 |
JP6834070B2 (ja) | 2016-06-13 | 2021-02-24 | 石原ケミカル株式会社 | 電気スズ及びスズ合金メッキ浴、当該メッキ浴を用いて電着物を形成した電子部品の製造方法 |
JP7121390B2 (ja) * | 2018-08-21 | 2022-08-18 | ディップソール株式会社 | すず合金電気めっき浴及びそれを用いためっき方法 |
JP7455675B2 (ja) * | 2020-06-04 | 2024-03-26 | 上村工業株式会社 | 錫または錫合金めっき浴 |
CN113957495A (zh) * | 2020-07-21 | 2022-01-21 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种用于psa电镀锡不溶性阳极体系的光亮剂及应用 |
CN114059115B (zh) * | 2021-12-20 | 2024-10-15 | 中国计量大学 | 锡锑电镀液及其制备方法 |
CN115710735A (zh) * | 2022-12-13 | 2023-02-24 | 广东光华科技股份有限公司 | 一种电镀锡液及其制备方法和应用 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4911292B1 (ja) * | 1970-07-15 | 1974-03-15 | ||
JP3433291B2 (ja) * | 1999-09-27 | 2003-08-04 | 石原薬品株式会社 | スズ−銅含有合金メッキ浴、スズ−銅含有合金メッキ方法及びスズ−銅含有合金メッキ皮膜が形成された物品 |
JP5642928B2 (ja) * | 2007-12-12 | 2014-12-17 | ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. | 青銅の電気めっき |
EP2660360A1 (en) * | 2011-08-30 | 2013-11-06 | Rohm and Haas Electronic Materials LLC | Adhesion promotion of cyanide-free white bronze |
US8888984B2 (en) * | 2012-02-09 | 2014-11-18 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Plating bath and method |
-
2012
- 2012-12-24 JP JP2012280399A patent/JP6145671B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014122410A (ja) | 2014-07-03 |
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A621 | Written request for application examination |
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