JP6075646B2 - 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 - Google Patents
固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6075646B2 JP6075646B2 JP2014053667A JP2014053667A JP6075646B2 JP 6075646 B2 JP6075646 B2 JP 6075646B2 JP 2014053667 A JP2014053667 A JP 2014053667A JP 2014053667 A JP2014053667 A JP 2014053667A JP 6075646 B2 JP6075646 B2 JP 6075646B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pixel
- charge
- photoelectric conversion
- transistor
- imaging device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/813—Electronic components shared by multiple pixels, e.g. one amplifier shared by two pixels
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/40—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
- H04N25/46—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by combining or binning pixels
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/703—SSIS architectures incorporating pixels for producing signals other than image signals
- H04N25/704—Pixels specially adapted for focusing, e.g. phase difference pixel sets
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/18—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/199—Back-illuminated image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/802—Geometry or disposition of elements in pixels, e.g. address-lines or gate electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/803—Pixels having integrated switching, control, storage or amplification elements
- H10F39/8033—Photosensitive area
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/803—Pixels having integrated switching, control, storage or amplification elements
- H10F39/8037—Pixels having integrated switching, control, storage or amplification elements the integrated elements comprising a transistor
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/806—Optical elements or arrangements associated with the image sensors
- H10F39/8063—Microlenses
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/811—Interconnections
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
1.固体撮像装置の概略構成例
2.第1の実施の形態の画素回路構成(FD部を横方向に接続する第1の構成)
3.第2の実施の形態の画素回路構成(FD部を横方向に接続する第2の構成)
4.第3の実施の形態の画素回路構成(FD部を縦方向に接続する第1の構成)
5.第4の実施の形態の画素回路構成(FD部を縦方向に接続する第2の構成)
6.第5の実施の形態の画素回路構成(FD部を縦方向及び横方向に接続する構成)
7.第6の実施の形態の画素回路構成(読み出し回路を4画素で共有する構成)
8.電子機器への適用例
図1は、本開示に係る固体撮像装置の概略構成を示している。
次に、固体撮像装置1の画素アレイ部3内の画素回路について説明するが、その前に、本実施の形態の画素回路の基本となる基本画素の回路構成について説明する。
これに対して、図3は、固体撮像装置1の画素アレイ部3の第1の画素回路構成を示している。
図4は、図3に示した4つの画素211乃至214のうち、画素212の駆動例を示すタイミングチャートである。
図5は、固体撮像装置1の画素2の断面構造図である。
図7は、固体撮像装置1の画素アレイ部3の第2の画素回路構成を示している。
図8は、固体撮像装置1の画素アレイ部3の第3の画素回路構成を示している。
そこで、図11は、縦方向に配列された各FD部63どうしを接続するようにFD結合トランジスタ67が配置されている場合に、フォトダイオード61Aの信号電荷の読み出しとフォトダイオード61Bの信号電荷の読み出しを同時に行うようにした画素回路構成を示している。
図15は、固体撮像装置1の画素アレイ部3の第5の画素回路構成を示している。
上述した第1乃至第5の実施の形態では、読み出し回路であるFD部63、リセットトランジスタ64、増幅トランジスタ65、および選択トランジスタ66が、隣接する2画素で共有されている例について説明した。
図1の固体撮像装置1は、図17Aに示されるように、1枚の半導体基板12に、複数の画素2が配列されている画素領域121と、画素2を制御する制御回路122と、画素信号の信号処理回路を含むロジック回路123とが形成された構成とされている。
本開示の技術は、固体撮像装置への適用に限られるものではない。即ち、本開示の技術は、デジタルスチルカメラやビデオカメラ等の撮像装置や、撮像機能を有する携帯端末装置や、画像読取部に固体撮像装置を用いる複写機など、画像取込部(光電変換部)に固体撮像装置を用いる電子機器全般に対して適用可能である。固体撮像装置は、ワンチップとして形成された形態であってもよいし、撮像部と信号処理部または光学系とがまとめてパッケージングされた撮像機能を有するモジュール状の形態であってもよい。
(1)
行列状に2次元配置された複数の画素それぞれは、1つのマイクロレンズを介して入射された光を光電変換する第1の光電変換部と第2の光電変換部を有しており、
前記第1の光電変換部で生成された電荷を読み出す第1の読み出し回路と、前記第2の光電変換部で生成された電荷を読み出す第2の読み出し回路と、
前記第1の読み出し回路に含まれる第1の電荷保持部と、前記第2の読み出し回路に含まれる第2の電荷保持部とを接続するトランジスタと
を備える固体撮像装置。
(2)
前記トランジスタは、前記画素を画像生成用の画素として用いる場合、前記第1の電荷保持部と前記第2の電荷保持部を接続し、前記画素を焦点検出用の画素として用いる場合、前記第1の電荷保持部と前記第2の電荷保持部を切り離す
前記(1)に記載の固体撮像装置。
(3)
前記画素が焦点検出用の画素として用いられる場合、前記第1の読み出し回路による前記第1の光電変換部の前記電荷を読み出しと、前記第2の読み出し回路による前記第2の光電変換部の前記電荷を読み出しが、同時に行われる
前記(1)または(2)に記載の固体撮像装置。
(4)
前記第1の読み出し回路と前記第2の読み出し回路のそれぞれは、隣接する1以上の他画素の光電変換部と共有されている
前記(1)乃至(3)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(5)
前記第1の読み出し回路と前記第2の読み出し回路のそれぞれは、隣接する複数の他画素の光電変換部と共有されている
前記(4)に記載の固体撮像装置。
(6)
前記トランジスタを制御する制御線が、列方向に沿って配置されている
前記(1)乃至(5)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(7)
前記トランジスタを制御する制御線が、行方向に沿って配置されている
前記(1)乃至(5)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(8)
裏面照射型である
前記(1)乃至(7)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(9)
表面照射型である
前記(1)乃至(7)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(10)
前記画素は、前記複数の画素で同時に露光動作を行い、読み出しは行単位に行われる回路構成を有する
前記(1)乃至(9)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(11)
前記複数の画素が配列された画素領域が少なくとも形成された第1の半導体基板と、前記画素から出力された画素信号を処理するロジック回路が少なくとも形成された第2の半導体基板とが積層された構成を有する
前記(1)乃至(10)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(12)
行列状に2次元配置された複数の画素それぞれは、1つのマイクロレンズを介して入射された光を光電変換する第1の光電変換部と第2の光電変換部を有しており、
前記第1の光電変換部で生成された電荷を読み出す第1の読み出し回路と、前記第2の光電変換部で生成された電荷を読み出す第2の読み出し回路と、
前記第1の読み出し回路に含まれる第1の電荷保持部と、前記第2の読み出し回路に含まれる第2の電荷保持部とを接続するトランジスタとを備え、
前記トランジスタは、前記画素を画像生成用の画素として用いる場合、前記第1の電荷保持部と前記第2の電荷保持部を接続し、前記画素を焦点検出用の画素として用いる場合、前記第1の電荷保持部と前記第2の電荷保持部を切り離す
固体撮像装置の駆動方法。
(13)
行列状に2次元配置された複数の画素それぞれは、1つのマイクロレンズを介して入射された光を光電変換する第1の光電変換部と第2の光電変換部を有しており、
前記第1の光電変換部で生成された電荷を読み出す第1の読み出し回路と、前記第2の光電変換部で生成された電荷を読み出す第2の読み出し回路と、
前記第1の読み出し回路に含まれる第1の電荷保持部と、前記第2の読み出し回路に含まれる第2の電荷保持部とを接続するトランジスタと
を備える固体撮像装置
を備える電子機器。
Claims (13)
- 行列状に2次元配置された複数の画素それぞれは、1つのマイクロレンズを介して入射された光を光電変換する第1の光電変換部と第2の光電変換部を有しており、
前記第1の光電変換部で生成された電荷を保持する第1の電荷保持部、前記第1の電荷保持部の電位に応じた画素信号を出力する第1の増幅トランジスタ、および、前記第1の増幅トランジスタからの画素信号を垂直信号線に出力する第1の選択トランジスタを含む第1の読み出し回路と、
前記第2の光電変換部で生成された電荷を保持する第2の電荷保持部、前記第2の電荷保持部の電位に応じた画素信号を出力する第2の増幅トランジスタ、および、前記第2の増幅トランジスタからの画素信号を垂直信号線に出力する第2の選択トランジスタを含む第2の読み出し回路と、
前記第1の電荷保持部と、前記第2の電荷保持部とを接続する第1の電荷結合トランジスタと
を備え、
前記第1の読み出し回路は、隣接する1以上の他画素の前記第1の光電変換部と共有され、
前記第2の読み出し回路は、隣接する1以上の他画素の前記第2の光電変換部と共有されている
固体撮像装置。 - 前記第1の電荷結合トランジスタは、前記画素を画像生成用の画素として用いる場合、前記第1の電荷保持部と前記第2の電荷保持部を接続し、前記画素を焦点検出用の画素として用いる場合、前記第1の電荷保持部と前記第2の電荷保持部を切り離す
請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記画素が焦点検出用の画素として用いられる場合、前記第1の読み出し回路による前記第1の光電変換部の前記電荷の読み出しと、前記第2の読み出し回路による前記第2の光電変換部の前記電荷の読み出しが、同時に行われる
請求項1または2に記載の固体撮像装置。 - 前記画素の前記第1の電荷保持部と、前記画素に隣接する他画素の前記第1の電荷保持部とを接続する第2の電荷結合トランジスタと、
前記画素の前記第2の電荷保持部と、前記画素に隣接する他画素の前記第2の電荷保持部とを接続する第3の電荷結合トランジスタと
をさらに備える
請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記第1の読み出し回路は、隣接する複数の他画素の前記第1の光電変換部と共有され、
前記第2の読み出し回路は、隣接する複数の他画素の前記第2の光電変換部と共有されている
請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記第1の電荷結合トランジスタを制御する制御線が、列方向に沿って配置されている
請求項1乃至5のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 前記第1の電荷結合トランジスタを制御する制御線が、行方向に沿って配置されている
請求項1乃至5のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 裏面照射型である
請求項1乃至7のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 表面照射型である
請求項1乃至7のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 前記画素は、前記複数の画素で同時に露光動作を行い、読み出しは行単位に行われる回路構成を有する
請求項1乃至9のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 前記複数の画素が配列された画素領域が少なくとも形成された第1の半導体基板と、前記画素から出力された画素信号を処理するロジック回路が少なくとも形成された第2の半導体基板とが積層された構成を有する
請求項1乃至10のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 行列状に2次元配置された複数の画素それぞれは、1つのマイクロレンズを介して入射された光を光電変換する第1の光電変換部と第2の光電変換部を有しており、
前記第1の光電変換部で生成された電荷を保持する第1の電荷保持部、前記第1の電荷保持部の電位に応じた画素信号を出力する第1の増幅トランジスタ、および、前記第1の増幅トランジスタからの画素信号を垂直信号線に出力する第1の選択トランジスタを含む第1の読み出し回路と、
前記第2の光電変換部で生成された電荷を保持する第2の電荷保持部、前記第2の電荷保持部の電位に応じた画素信号を出力する第2の増幅トランジスタ、および、前記第2の増幅トランジスタからの画素信号を垂直信号線に出力する第2の選択トランジスタを含む第2の読み出し回路と、
前記第1の電荷保持部と、前記第2の電荷保持部とを接続する電荷結合トランジスタとを備え、
前記第1の読み出し回路は、隣接する1以上の他画素の前記第1の光電変換部と共有され、
前記第2の読み出し回路は、隣接する1以上の他画素の前記第2の光電変換部と共有されており、
前記電荷結合トランジスタは、前記画素を画像生成用の画素として用いる場合、前記第1の電荷保持部と前記第2の電荷保持部を接続し、前記画素を焦点検出用の画素として用いる場合、前記第1の電荷保持部と前記第2の電荷保持部を切り離す
固体撮像装置の駆動方法。 - 行列状に2次元配置された複数の画素それぞれは、1つのマイクロレンズを介して入射された光を光電変換する第1の光電変換部と第2の光電変換部を有しており、
前記第1の光電変換部で生成された電荷を保持する第1の電荷保持部、前記第1の電荷保持部の電位に応じた画素信号を出力する第1の増幅トランジスタ、および、前記第1の増幅トランジスタからの画素信号を垂直信号線に出力する第1の選択トランジスタを含む第1の読み出し回路と、
前記第2の光電変換部で生成された電荷を保持する第2の電荷保持部、前記第2の電荷保持部の電位に応じた画素信号を出力する第2の増幅トランジスタ、および、前記第2の増幅トランジスタからの画素信号を垂直信号線に出力する第2の選択トランジスタを含む第2の読み出し回路と、
前記第1の電荷保持部と、前記第2の電荷保持部とを接続する電荷結合トランジスタと
を備え、
前記第1の読み出し回路は、隣接する1以上の他画素の前記第1の光電変換部と共有され、
前記第2の読み出し回路は、隣接する1以上の他画素の前記第2の光電変換部と共有されている固体撮像装置
を備える電子機器。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014053667A JP6075646B2 (ja) | 2014-03-17 | 2014-03-17 | 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 |
TW104103322A TWI653892B (zh) | 2014-03-17 | 2015-01-30 | 固態成像器件及其驅動方法,以及電子裝置 |
CN201580000727.2A CN105210363B (zh) | 2014-03-17 | 2015-03-04 | 固体摄像器件、固体摄像器件的驱动方法和电子设备 |
KR1020227005598A KR102542664B1 (ko) | 2014-03-17 | 2015-03-04 | 고체 촬상 장치 및 그 구동 방법, 및 전자 기기 |
PCT/JP2015/001142 WO2015141161A1 (en) | 2014-03-17 | 2015-03-04 | Solid-state imaging device, driving method therefor, and electronic apparatus |
KR1020157030922A KR102369398B1 (ko) | 2014-03-17 | 2015-03-04 | 고체 촬상 장치 및 그 구동 방법, 및 전자 기기 |
US14/889,947 US10403672B2 (en) | 2014-03-17 | 2015-03-04 | Solid-state imaging device with pixels having first and second photoelectric conversion units, driving method therefor, and electronic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014053667A JP6075646B2 (ja) | 2014-03-17 | 2014-03-17 | 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015177429A JP2015177429A (ja) | 2015-10-05 |
JP2015177429A5 JP2015177429A5 (ja) | 2016-02-12 |
JP6075646B2 true JP6075646B2 (ja) | 2017-02-08 |
Family
ID=52774437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014053667A Active JP6075646B2 (ja) | 2014-03-17 | 2014-03-17 | 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10403672B2 (ja) |
JP (1) | JP6075646B2 (ja) |
KR (2) | KR102369398B1 (ja) |
CN (1) | CN105210363B (ja) |
TW (1) | TWI653892B (ja) |
WO (1) | WO2015141161A1 (ja) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6588702B2 (ja) * | 2015-01-05 | 2019-10-09 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体 |
JP5897752B1 (ja) * | 2015-05-14 | 2016-03-30 | ブリルニクスジャパン株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法、電子機器 |
KR20170019581A (ko) * | 2015-08-12 | 2017-02-22 | 삼성전자주식회사 | 지문 감지 센서, 이를 포함하는 전자 장치 및 지문 감지 센서의 동작 방법 |
JP6663209B2 (ja) * | 2015-11-30 | 2020-03-11 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像システム及び撮像装置の駆動方法 |
JP6746301B2 (ja) * | 2015-11-30 | 2020-08-26 | キヤノン株式会社 | 撮像装置の駆動方法、撮像装置、撮像システム |
JP6600246B2 (ja) * | 2015-12-17 | 2019-10-30 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びカメラ |
US10313612B2 (en) | 2015-12-18 | 2019-06-04 | Guangdong Oppo Mobile Telecommunications Corp., Ltd. | Image sensor, control method, and electronic device |
JP2017142356A (ja) * | 2016-02-10 | 2017-08-17 | ソニー株式会社 | 撮像装置、および、撮像装置の制御方法 |
CN109076180B (zh) * | 2016-02-29 | 2021-12-07 | 株式会社尼康 | 摄像元件及摄像装置 |
US9936150B2 (en) * | 2016-03-17 | 2018-04-03 | Semiconductor Components Industries, Llc | Image sensors with a rolling shutter scanning mode and high dynamic range |
JP2017184075A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子および撮像装置 |
EP3913908B1 (en) | 2016-05-24 | 2024-08-21 | Sony Group Corporation | Solid-state image pickup device and image pickup apparatus |
EP3726830A1 (en) | 2016-05-31 | 2020-10-21 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Image capturing device, image capturing method, camera module, and electronic device |
JP6765859B2 (ja) | 2016-05-31 | 2020-10-07 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、およびその制御方法 |
JP6688165B2 (ja) * | 2016-06-10 | 2020-04-28 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム |
US10038863B2 (en) * | 2016-08-17 | 2018-07-31 | Renesas Electronics Corporation | Image sensing device |
JP6778595B2 (ja) * | 2016-08-17 | 2020-11-04 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 撮像素子 |
JP6804140B2 (ja) * | 2016-09-02 | 2020-12-23 | 東芝情報システム株式会社 | 固体撮像素子 |
JP6667431B2 (ja) * | 2016-12-27 | 2020-03-18 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像システム |
JP6769349B2 (ja) * | 2017-03-03 | 2020-10-14 | 株式会社リコー | 固体撮像素子及び撮像装置 |
WO2018181463A1 (ja) * | 2017-03-31 | 2018-10-04 | ブリルニクスジャパン株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、および電子機器 |
JP2019050522A (ja) | 2017-09-11 | 2019-03-28 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
CN115720298A (zh) * | 2017-11-22 | 2023-02-28 | 索尼半导体解决方案公司 | 像素阵列、摄像元件和电子设备 |
JP7013973B2 (ja) * | 2018-03-19 | 2022-02-01 | 株式会社リコー | 固体撮像素子及び撮像装置 |
WO2019189892A1 (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-03 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JP7111810B2 (ja) * | 2018-05-29 | 2022-08-02 | オリンパス株式会社 | 固体撮像装置および撮像システム |
US10890482B2 (en) * | 2019-01-18 | 2021-01-12 | Himax Imaging Limited | Pixel circuit for generating an output signal in response to incident radiation |
KR102714983B1 (ko) * | 2019-05-07 | 2024-10-10 | 삼성전자주식회사 | 복수의 포토 다이오드들을 포함하는 픽셀을 포함하는 이미지 센서 |
US11381768B2 (en) * | 2019-05-07 | 2022-07-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Image sensor with pixels including photodiodes sharing floating diffusion region |
WO2020241717A1 (ja) * | 2019-05-31 | 2020-12-03 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置 |
TWI857128B (zh) * | 2019-09-06 | 2024-10-01 | 日商索尼股份有限公司 | 攝像元件及攝像裝置 |
CN114205543A (zh) | 2020-09-18 | 2022-03-18 | 三星电子株式会社 | 图像传感器 |
US20220116557A1 (en) * | 2020-10-08 | 2022-04-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Pixel array and image sensor including the same |
KR20220169592A (ko) * | 2021-06-21 | 2022-12-28 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센싱 장치 |
FR3129526B1 (fr) * | 2021-11-25 | 2023-11-24 | St Microelectronics Crolles 2 Sas | Capteur d'image |
WO2024106196A1 (ja) * | 2022-11-16 | 2024-05-23 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置および電子機器 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3774597B2 (ja) * | 1999-09-13 | 2006-05-17 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
JP2001250931A (ja) * | 2000-03-07 | 2001-09-14 | Canon Inc | 固体撮像装置およびこれを用いた撮像システム |
JP2002043381A (ja) * | 2000-07-19 | 2002-02-08 | Tokyo Electron Ltd | ウエハ温度制御装置 |
US6521881B2 (en) * | 2001-04-16 | 2003-02-18 | Kingpak Technology Inc. | Stacked structure of an image sensor and method for manufacturing the same |
KR20050095792A (ko) * | 2003-02-20 | 2005-10-04 | 닛뽄 세이꼬 가부시기가이샤 | 전동식 파워 스티어링 장치 및 이를 위한 보조 장치 |
CN101213829A (zh) * | 2005-06-01 | 2008-07-02 | 伊斯曼柯达公司 | 具有可选择装仓的cmos图像传感器像素 |
US7705900B2 (en) * | 2005-06-01 | 2010-04-27 | Eastman Kodak Company | CMOS image sensor pixel with selectable binning and conversion gain |
US7613157B2 (en) * | 2005-08-30 | 2009-11-03 | Interdigital Technology Corporation | Wireless communication method and apparatus for processing enhanced uplink scheduling grants |
JP4710660B2 (ja) | 2006-03-10 | 2011-06-29 | 株式会社ニコン | 固体撮像素子及びこれを用いた電子カメラ |
NZ582614A (en) * | 2007-07-19 | 2013-02-22 | Disney Entpr Inc | Rendering surface locations on texture maps with topological adjacency |
KR20090090776A (ko) * | 2008-02-22 | 2009-08-26 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 및 그 제조 방법 |
US7777171B2 (en) * | 2008-08-26 | 2010-08-17 | Eastman Kodak Company | In-pixel summing of charge generated by two or more pixels having two reset transistors connected in series |
US8913166B2 (en) * | 2009-01-21 | 2014-12-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid-state imaging apparatus |
JP5359465B2 (ja) * | 2009-03-31 | 2013-12-04 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の信号処理方法および撮像装置 |
JP5511541B2 (ja) * | 2010-06-24 | 2014-06-04 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法 |
US20130018215A1 (en) * | 2011-01-18 | 2013-01-17 | Merit Medical Systems, Inc. | Esophageal stent and methods for use of same |
JP5839807B2 (ja) * | 2011-02-09 | 2016-01-06 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置の製造方法 |
JP5885403B2 (ja) * | 2011-06-08 | 2016-03-15 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
JP6172888B2 (ja) * | 2012-01-18 | 2017-08-02 | キヤノン株式会社 | 撮像装置および撮像システム |
JP2013157883A (ja) | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Sony Corp | 固体撮像素子およびカメラシステム |
JP2013172210A (ja) * | 2012-02-17 | 2013-09-02 | Canon Inc | 撮像装置 |
US9554115B2 (en) * | 2012-02-27 | 2017-01-24 | Semiconductor Components Industries, Llc | Imaging pixels with depth sensing capabilities |
JP2014049727A (ja) * | 2012-09-04 | 2014-03-17 | Canon Inc | 固体撮像装置 |
JP6164867B2 (ja) * | 2013-02-21 | 2017-07-19 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置、その制御方法、および制御プログラム |
-
2014
- 2014-03-17 JP JP2014053667A patent/JP6075646B2/ja active Active
-
2015
- 2015-01-30 TW TW104103322A patent/TWI653892B/zh active
- 2015-03-04 US US14/889,947 patent/US10403672B2/en active Active
- 2015-03-04 KR KR1020157030922A patent/KR102369398B1/ko active Active
- 2015-03-04 WO PCT/JP2015/001142 patent/WO2015141161A1/en active Application Filing
- 2015-03-04 CN CN201580000727.2A patent/CN105210363B/zh active Active
- 2015-03-04 KR KR1020227005598A patent/KR102542664B1/ko active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10403672B2 (en) | 2019-09-03 |
KR102369398B1 (ko) | 2022-03-04 |
TWI653892B (zh) | 2019-03-11 |
US20160141326A1 (en) | 2016-05-19 |
KR102542664B1 (ko) | 2023-06-14 |
WO2015141161A1 (en) | 2015-09-24 |
JP2015177429A (ja) | 2015-10-05 |
CN105210363A (zh) | 2015-12-30 |
TW201537983A (zh) | 2015-10-01 |
KR20220025945A (ko) | 2022-03-03 |
CN105210363B (zh) | 2019-08-09 |
KR20160132342A (ko) | 2016-11-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6075646B2 (ja) | 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 | |
US11902678B2 (en) | Solid-state imaging device, method of driving the same, and electronic apparatus | |
JP5821315B2 (ja) | 電子機器、電子機器の駆動方法 | |
US9343500B2 (en) | Solid-state imaging device, driving method thereof, and electronic device | |
US9438840B2 (en) | Solid-state image capturing apparatus, driving method thereof and electronic apparatus | |
CN102843527B (zh) | 固态成像装置、驱动固态成像装置的方法和电子系统 | |
CN103517045B (zh) | 固体摄像器件及其控制方法以及电子装置 | |
WO2015170628A1 (ja) | 固体撮像装置および電子機器 | |
JPWO2018105334A1 (ja) | 固体撮像素子及び電子機器 | |
JP2018078405A (ja) | 固体撮像素子、固体撮像素子の駆動方法、及び、電子機器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151216 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20151216 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160819 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160823 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160930 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161215 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161228 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6075646 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |