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JP6006569B2 - Laminate and method for producing laminate - Google Patents

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JP6006569B2
JP6006569B2 JP2012163113A JP2012163113A JP6006569B2 JP 6006569 B2 JP6006569 B2 JP 6006569B2 JP 2012163113 A JP2012163113 A JP 2012163113A JP 2012163113 A JP2012163113 A JP 2012163113A JP 6006569 B2 JP6006569 B2 JP 6006569B2
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淳 宮成
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Description

本発明は、基板と支持体とが積層された積層体及び積層体の製造方法に関する。   The present invention relates to a laminate in which a substrate and a support are laminated, and a method for manufacturing the laminate.

近年、ICカード、携帯電話などの電子機器の薄型化、小型化、軽量化などが要求されている。これらの要求を満たすためには、組み込まれる半導体チップについても薄型の半導体チップを使用しなければならない。このため、半導体チップの基となるウエハ基板の厚さ(膜厚)は現状では125μm〜150μmであるが、次世代のチップ用には25μm〜50μmにしなければならないといわれている。したがって、上記の膜厚のウエハ基板を得るためには、ウエハ基板の薄板化工程が必要不可欠である。   In recent years, electronic devices such as IC cards and mobile phones have been required to be thinner, smaller, and lighter. In order to satisfy these requirements, a thin semiconductor chip must be used as a semiconductor chip to be incorporated. For this reason, the thickness (film thickness) of the wafer substrate on which the semiconductor chip is based is currently 125 μm to 150 μm, but it is said that it must be 25 μm to 50 μm for the next generation chip. Therefore, in order to obtain a wafer substrate having the above film thickness, a wafer substrate thinning step is indispensable.

ウエハ基板は、薄板化により強度が低下するので、薄板化したウエハ基板の破損を防ぐために、製造プロセス中は、ウエハ基板にサポートプレートを貼り合わされた状態で自動搬送しながら、ウエハ基板上に回路等の構造物を実装する。そして、製造プロセス後に、ウエハ基板をサポートプレートから分離する。したがって、製造プロセス中は、ウエハ基板とサポートプレートとが強固に接着していることが好ましいが、製造プロセス後には、サポートプレートからウエハ基板を円滑に分離できることが好ましい。   Since the strength of the wafer substrate is reduced due to the thin plate, in order to prevent damage to the thinned wafer substrate, a circuit is placed on the wafer substrate while automatically supporting the support plate on the wafer substrate during the manufacturing process. Etc. are mounted. Then, after the manufacturing process, the wafer substrate is separated from the support plate. Therefore, it is preferable that the wafer substrate and the support plate are firmly bonded during the manufacturing process, but it is preferable that the wafer substrate can be smoothly separated from the support plate after the manufacturing process.

ウエハ基板とサポートプレートとを強固に接着した場合、接着材料によっては、ウエハ基板上に実装した構造物を破損させることなく、ウエハ基板からサポートプレートを分離することは困難である。したがって、製造プロセス中にはウエハ基板とサポートプレートとの強固な接着を実現しつつ、製造プロセス後にはウエハ基板上に実装した素子を破損させることなく分離するという、非常に困難な仮止め技術の開発が求められている。   When the wafer substrate and the support plate are firmly bonded, depending on the adhesive material, it is difficult to separate the support plate from the wafer substrate without damaging the structure mounted on the wafer substrate. Therefore, it is a very difficult temporary fixing technology that realizes strong adhesion between the wafer substrate and the support plate during the manufacturing process and separates the elements mounted on the wafer substrate without damaging them after the manufacturing process. Development is required.

半導体ウエハに支持体を貼り合わせ、半導体ウエハを処理した後、支持体を分離するような半導体チップの製造方法として、特許文献1に記載のような方法が知られている。特許文献1に記載の方法においては、光透過性の支持体と半導体ウエハとを、支持体側に設けられた光熱変換層と接着剤層とを介して貼り合わせ、半導体ウエハを処理した後、支持体側から放射エネルギーを照射することによって光熱変換層を分解して、支持体から半導体ウエハを分離する。   As a method for manufacturing a semiconductor chip in which a support is bonded to a semiconductor wafer, the semiconductor wafer is processed, and then the support is separated, a method described in Patent Document 1 is known. In the method described in Patent Document 1, a light-transmitting support and a semiconductor wafer are bonded together via a photothermal conversion layer and an adhesive layer provided on the support, and the semiconductor wafer is processed and then supported. By irradiating radiation energy from the body side, the photothermal conversion layer is decomposed, and the semiconductor wafer is separated from the support.

特開2005−159155号公報(2005年6月16日公開)Japanese Patent Laying-Open No. 2005-159155 (released on June 16, 2005)

ウエハ等の基材と支持体とを、後で分離するための分離層を介して貼り合わせた積層体に対して、様々な処理を行なう際に、処理の途中で当該分離層が薬品等によって変質すると、処理の途中で剥がれてしまうという問題が起こる。   When various processes are performed on a laminate in which a base material such as a wafer and a support are bonded to each other via a separation layer for later separation, the separation layer is caused by chemicals or the like during the process. If the quality changes, there will be a problem of peeling off during the process.

例えば、レジスト剥離工程等において、特に高温下で剥離液に当該積層体が曝されると、積層体のエッジ端面から剥離液が浸透してウエハが剥がれてしまう。   For example, in a resist stripping process or the like, when the laminate is exposed to a stripping solution particularly at a high temperature, the stripping solution penetrates from the edge end surface of the laminate and the wafer is peeled off.

処理の途中で剥がれるとウエハにクラックが入ったり、割れたり、凹凸が発生したりするため、次工程に進むことができない。   If it is peeled off in the middle of processing, the wafer is cracked, cracked, or uneven, and cannot proceed to the next step.

本発明はこのような問題に鑑みて成されたものであり、積層体に対して所望の処理を行なう際に、ウエハが剥離することを抑制するために、分離層が保護された積層体を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such problems, and in order to suppress separation of the wafer when a desired treatment is performed on the laminate, a laminate in which the separation layer is protected is provided. The purpose is to provide.

上記の課題を解決するために、本発明に係る積層体は、基板と、接着層と、光を吸収することにより変質する分離層と、支持体とをこの順に積層してなり、上記分離層の表面であって上記支持体と接着していない面のうち、少なくとも上記接着層と重畳していない面を覆う保護層をさらに備えていることを特徴としている。   In order to solve the above problems, a laminate according to the present invention comprises a substrate, an adhesive layer, a separation layer that is altered by absorbing light, and a support, which are laminated in this order. And a protective layer that covers at least a surface that does not overlap with the adhesive layer among the surfaces that are not bonded to the support.

また、本発明に係る積層体の製造方法は、支持体上に、光を吸収することにより変質する分離層を形成する分離層形成工程と、基板上又は上記分離層上に接着層を形成する接着層形成工程と、上記基板と、上記接着層と、上記分離層と、上記支持体とをこの順に積層する積層工程と、を含み、上記分離層の表面であって上記支持体と接着していない面のうち、上記積層工程において積層させたときに上記接着層と重畳しない面を少なくとも覆う保護層を形成する保護層形成工程を、上記積層工程の前にさらに含むことを特徴としている。   Moreover, the manufacturing method of the laminated body which concerns on this invention forms the separated layer formation process which forms the separated layer which changes in quality by absorbing light on a support body, and forms an contact bonding layer on a board | substrate or the said separated layer. An adhesive layer forming step, a laminating step of laminating the substrate, the adhesive layer, the separation layer, and the support in this order, and a surface of the separation layer that adheres to the support. A protective layer forming step of forming a protective layer that covers at least a surface that does not overlap with the adhesive layer when being laminated in the laminating step is included before the laminating step.

本発明によれば、積層体に対して所望の処理を行なう際に、分離層が保護されているため、ウエハが剥離することを抑制することができるという効果を奏する。   According to the present invention, since the separation layer is protected when a desired treatment is performed on the laminate, it is possible to suppress the peeling of the wafer.

本発明の積層体の一実施形態に係る積層体10の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of the laminated body 10 which concerns on one Embodiment of the laminated body of this invention. 本発明の積層体の製造方法の一実施形態に係る図である。It is a figure which concerns on one Embodiment of the manufacturing method of the laminated body of this invention.

<積層体>
本発明に係る積層体を、一実施形態である積層体10を例にして、図1を用いて説明する。図1は本発明の積層体の一実施形態に係る積層体10の構造を示す図である。
<Laminated body>
A laminated body according to the present invention will be described with reference to FIG. 1 using a laminated body 10 according to an embodiment as an example. FIG. 1 is a diagram showing a structure of a laminate 10 according to an embodiment of the laminate of the present invention.

積層体10は、基板11と、接着層13と、光を吸収することにより変質する分離層14と、サポートプレート(支持体)12とをこの順に積層してなり、分離層14の表面であってサポートプレートと接着していない面のうち、少なくとも接着層13と重畳していない面を覆う保護層15をさらに備えている。   The laminated body 10 is formed by laminating a substrate 11, an adhesive layer 13, a separation layer 14 that is altered by absorbing light, and a support plate (support) 12 in this order. And a protective layer 15 that covers at least a surface that does not overlap with the adhesive layer 13 among the surfaces that are not bonded to the support plate.

保護層15は接着層13と重畳していない分離層14の表面を少なくとも覆っているので、基板11の製造プロセスにおいて、レジスト剥離工程等の様々な処理を行なう場合にも、分離層14は当該処理等で用いられる剥離液等の薬品や、高温環境による熱から保護される。よって、積層体10に対して所望の処理を行なう際にも、分離層14は保護されているため、基板11が剥離することを抑制することができる。   Since the protective layer 15 covers at least the surface of the separation layer 14 that does not overlap with the adhesive layer 13, the separation layer 14 can be used even when various processes such as a resist stripping process are performed in the manufacturing process of the substrate 11. It is protected from chemicals such as stripping solution used in processing and heat from high temperature environment. Therefore, even when a desired treatment is performed on the stacked body 10, the separation layer 14 is protected, so that the substrate 11 can be prevented from peeling off.

〔基板〕
基板11は、サポートプレート12に支持された状態で、薄化、実装等のプロセスに供されるものである。本実施形態では基板11はウエハであるが、本発明に係る積層体が備える基板は、ウエハに限定されず、薄いフィルム基板、フレキシブル基板等の任意の基板を採用することができる。また、基板11における接着層13側の面には、電気回路等の電子素子の微細構造が形成されていてもよい。
〔substrate〕
The substrate 11 is subjected to processes such as thinning and mounting while being supported by the support plate 12. In the present embodiment, the substrate 11 is a wafer, but the substrate included in the laminate according to the present invention is not limited to a wafer, and any substrate such as a thin film substrate or a flexible substrate can be employed. Further, a fine structure of an electronic element such as an electric circuit may be formed on the surface of the substrate 11 on the adhesive layer 13 side.

〔サポートプレート〕
サポートプレート12は、基板11を支持する支持体であり、光透過性を有している。そのため、積層体10の外からサポートプレート12に向けて光が照射されたときに、当該光がサポートプレート12を通過して分離層14に到達する。また、サポートプレート12は、必ずしも全ての光を透過させる必要はなく、分離層14に吸収されるべき(所定の波長を有している)光を透過させることができればよい。
[Support plate]
The support plate 12 is a support body that supports the substrate 11 and has optical transparency. Therefore, when light is irradiated from the outside of the laminated body 10 toward the support plate 12, the light passes through the support plate 12 and reaches the separation layer 14. Further, the support plate 12 does not necessarily need to transmit all the light, and it is sufficient if the support plate 12 can transmit the light to be absorbed by the separation layer 14 (having a predetermined wavelength).

サポートプレート12は、基板11を支持するものであり、基板11の薄化、搬送、実装等のプロセス時に、基板11の破損又は変形を防ぐために必要な強度を有していればよい。以上のような観点から、サポートプレート12としては、ガラス、シリコン、アクリル樹脂からなるもの等が挙げられる。   The support plate 12 supports the substrate 11 and may have a strength necessary for preventing the substrate 11 from being damaged or deformed during processes such as thinning, transporting, and mounting of the substrate 11. From the above viewpoint, examples of the support plate 12 include those made of glass, silicon, and acrylic resin.

〔分離層〕
分離層14は、サポートプレート12を介して照射される光を吸収することによって変質する材料から形成されている層である。本明細書において、分離層14が「変質する」とは、分離層14をわずかな外力を受けて破壊され得る状態、又は分離層14と接する層との接着力が低下した状態にさせる現象を意味する。光を吸収することによって生じる分離層14の変質の結果として、分離層14は、光の照射を受ける前の強度又は接着性を失う。よって、わずかな外力を加える(例えば、サポートプレート12を持ち上げるなど)ことによって、分離層14が破壊されて、サポートプレート12と基板11とを容易に分離することができる。
(Separation layer)
The separation layer 14 is a layer formed of a material that changes quality by absorbing light irradiated through the support plate 12. In the present specification, the “deterioration” of the separation layer 14 is a phenomenon in which the separation layer 14 can be broken by receiving a slight external force, or a state in which the adhesive force with the layer in contact with the separation layer 14 is reduced. means. As a result of the alteration of the separation layer 14 caused by absorbing light, the separation layer 14 loses its strength or adhesion prior to receiving light irradiation. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support plate 12), the separation layer 14 is broken, and the support plate 12 and the substrate 11 can be easily separated.

また、分離層14の変質は、吸収した光のエネルギーによる(発熱性又は非発熱性の)分解、架橋、立体配置の変化又は官能基の解離(そして、これらにともなう分離層の硬化、脱ガス、収縮又は膨張)等であり得る。分離層14の変質は、分離層14を構成する材料による光の吸収の結果として生じる。よって、分離層14の変質の種類は、分離層14を構成する材料の種類に応じて変化し得る。   Further, the alteration of the separation layer 14 includes decomposition (exothermic or non-exothermic), cross-linking, configuration change or dissociation of functional groups (and curing of the separation layer accompanying these, degassing). , Contraction or expansion) and the like. The alteration of the separation layer 14 occurs as a result of light absorption by the material constituting the separation layer 14. Therefore, the type of alteration of the separation layer 14 can be changed according to the type of material constituting the separation layer 14.

分離層14は、サポートプレート12における、接着層13を介して基板11が貼り合わされる側の表面に設けられている。すなわち、分離層14は、サポートプレート12と接着層13との間に設けられている。   The separation layer 14 is provided on the surface of the support plate 12 on the side where the substrate 11 is bonded via the adhesive layer 13. That is, the separation layer 14 is provided between the support plate 12 and the adhesive layer 13.

分離層14の厚さは、例えば、0.05〜50μmであることがより好ましく、0.3〜1μmであることがさらに好ましい。分離層14の厚さが0.05〜50μmの範囲内に収まっていれば、短時間の光の照射及び低エネルギーの光の照射によって、分離層14に所望の変質を生じさせることができる。また、分離層14の厚さは、生産性の観点から1μm以下の範囲内に収まっていることが特に好ましい。   The thickness of the separation layer 14 is more preferably, for example, 0.05 to 50 μm, and further preferably 0.3 to 1 μm. If the thickness of the separation layer 14 is within the range of 0.05 to 50 μm, desired alteration can be caused in the separation layer 14 by short-time light irradiation and low-energy light irradiation. The thickness of the separation layer 14 is particularly preferably within a range of 1 μm or less from the viewpoint of productivity.

なお、積層体10において、分離層14とサポートプレート12との間に他の層がさらに形成されていてもよい。この場合、他の層は光を透過する材料から構成されていればよい。これによって、分離層14への光の入射を妨げることなく、積層体10に好ましい性質などを付与する層を、適宜追加することができる。分離層14を構成している材料の種類によって、用い得る光の波長が異なる。よって、他の層を構成する材料は、すべての光を透過させる必要はなく、分離層14を構成する材料を変質させ得る波長の光を透過させることができる材料から適宜選択し得る。   In the laminate 10, another layer may be further formed between the separation layer 14 and the support plate 12. In this case, the other layer should just be comprised from the material which permeate | transmits light. Accordingly, a layer imparting preferable properties to the stacked body 10 can be appropriately added without hindering the incidence of light on the separation layer 14. The wavelength of light that can be used varies depending on the type of material constituting the separation layer 14. Therefore, the material constituting the other layer does not need to transmit all light, and can be appropriately selected from materials capable of transmitting light having a wavelength that can alter the material constituting the separation layer 14.

また、分離層14は、光を吸収する構造を有する材料のみから形成されていることが好ましいが、本発明における本質的な特性を損なわない範囲において、光を吸収する構造を有していない材料を添加して、分離層14を形成してもよい。また、分離層14における接着層13に対向する側の面が平坦である(凹凸が形成されていない)ことが好ましく、これにより、分離層14の形成が容易に行なえ、且つ貼り付けにおいても均一に貼り付けることが可能となる。   In addition, the separation layer 14 is preferably formed only from a material having a structure that absorbs light, but the material does not have a structure that absorbs light as long as the essential characteristics in the present invention are not impaired. May be added to form the separation layer 14. Further, it is preferable that the surface of the separation layer 14 on the side facing the adhesive layer 13 is flat (unevenness is not formed), whereby the separation layer 14 can be easily formed, and even when pasted. It becomes possible to paste on.

分離層14は、以下に示すような分離層14を構成する材料を予めフィルム状に形成したものをサポートプレート12に貼り合わせて用いてもよいし、サポートプレート12上に分離層14を構成する材料を塗布してフィルム状に固化したものを用いてもよい。サポートプレート12上に分離層14を構成する材料を塗布する方法は、分離層14を構成する材料の種類に応じて、化学気相成長(CVD)法による堆積等の従来公知の方法から適宜選択することができる。   As the separation layer 14, a material that forms the separation layer 14 as described below may be used by bonding it to the support plate 12 in advance, or the separation layer 14 may be formed on the support plate 12. You may use what applied the material and solidified in the film form. The method of applying the material constituting the separation layer 14 on the support plate 12 is appropriately selected from conventionally known methods such as chemical vapor deposition (CVD) deposition according to the type of material constituting the separation layer 14. can do.

分離層14は、レーザから照射される光を吸収することによって変質するものであってもよい。すなわち、分離層14を変質させるために分離層14に照射される光は、レーザから照射されたものであってもよい。分離層14に照射する光を発射するレーザの例としては、YAGレーザ、リビーレーザ、ガラスレーザ、YVOレーザ、LDレーザ、ファイバーレーザ等の固体レーザ、色素レーザ等の液体レーザ、COレーザ、エキシマレーザ、Arレーザ、He−Neレーザ等の気体レーザ、半導体レーザ、自由電子レーザ等のレーザ光、又は、非レーザ光等が挙げられる。分離層14に照射する光を発射するレーザは、分離層14を構成している材料に応じて適宜選択することが可能であり、分離層14を構成する材料を変質させ得る波長の光を照射するレーザを選択すればよい。 The separation layer 14 may be altered by absorbing light irradiated from the laser. That is, the light applied to the separation layer 14 to alter the separation layer 14 may be light emitted from a laser. Examples of lasers that emit light to irradiate the separation layer 14 include YAG lasers, Libby lasers, glass lasers, YVO 4 lasers, LD lasers, liquid lasers such as fiber lasers, liquid lasers such as dye lasers, CO 2 lasers, and excimers. Examples thereof include gas lasers such as lasers, Ar lasers, and He—Ne lasers, laser beams such as semiconductor lasers and free electron lasers, and non-laser beams. The laser that emits light to irradiate the separation layer 14 can be appropriately selected according to the material constituting the separation layer 14 and irradiates light having a wavelength that can alter the material constituting the separation layer 14. The laser to be selected may be selected.

(光吸収性を有している構造をその繰返し単位に含んでいる重合体)
分離層14は、光吸収性を有している構造をその繰返し単位に含んでいる重合体を含有していてもよい。当該重合体は、光の照射を受けて変質する。当該重合体の変質は、上記構造が照射された光を吸収することによって生じる。分離層14は、重合体の変質の結果として、光の照射を受ける前の強度又は接着性を失っている。よって、わずかな外力を加える(例えば、サポートプレート12を持ち上げるなど)ことによって、分離層14が破壊されて、サポートプレート12と基板11とを容易に分離することができる。
(Polymer containing light absorbing structure in its repeating unit)
The separation layer 14 may contain a polymer containing a light-absorbing structure in its repeating unit. The polymer is altered by irradiation with light. The alteration of the polymer occurs when the structure absorbs the irradiated light. The separation layer 14 loses its strength or adhesiveness before being irradiated with light as a result of the alteration of the polymer. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support plate 12), the separation layer 14 is broken, and the support plate 12 and the substrate 11 can be easily separated.

光吸収性を有している上記構造は、光を吸収して、繰返し単位として当該構造を含んでいる重合体を変質させる化学構造である。当該構造は、例えば、置換もしくは非置換のベンゼン環、縮合環又は複素環からなる共役π電子系を含んでいる原子団である。より詳細には、当該構造は、カルド構造、又は上記重合体の側鎖に存在するベンゾフェノン構造、ジフェニルスルフォキシド構造、ジフェニルスルホン構造(ビスフェニルスルホン構造)、ジフェニル構造もしくはジフェニルアミン構造であり得る。   The structure having light absorption is a chemical structure that absorbs light and alters the polymer containing the structure as a repeating unit. The structure is an atomic group including a conjugated π electron system composed of, for example, a substituted or unsubstituted benzene ring, condensed ring, or heterocyclic ring. More specifically, the structure may be a cardo structure or a benzophenone structure, diphenyl sulfoxide structure, diphenyl sulfone structure (bisphenyl sulfone structure), diphenyl structure or diphenylamine structure present in the side chain of the polymer.

上記構造が上記重合体の側鎖に存在する場合、当該構造は以下の式によって表され得る。   When the structure is present in the side chain of the polymer, the structure can be represented by the following formula:

Figure 0006006569
式中、Rはそれぞれ独立して、アルキル基、アリール基、ハロゲン、水酸基、ケトン基、スルホキシド基、スルホン基又はN(R)(R)であり(ここで、R及びRはそれぞれ独立して、水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である)、Zは、存在しないか、又は−CO−、−SO−、−SO−もしくは−NH−であり、nは0又は1〜5の整数である。
Figure 0006006569
In the formula, each R is independently an alkyl group, aryl group, halogen, hydroxyl group, ketone group, sulfoxide group, sulfone group, or N (R 1 ) (R 2 ) (where R 1 and R 2 are Each independently a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms), Z is absent or —CO—, —SO 2 —, —SO— or —NH—, and n is 0 Or it is an integer of 1-5.

また、上記重合体は、例えば、以下の式のうち、(a)〜(d)のいずれかによって表される繰返し単位を含んでいるか、(e)によって表されるか、又は(f)の構造をその主鎖に含んでいる。   In addition, the polymer includes, for example, a repeating unit represented by any one of (a) to (d) among the following formulas, represented by (e), or represented by (f) Contains structure in its main chain.

Figure 0006006569
式中、lは1以上の整数であり、mは0又は1〜2の整数であり、Xは、(a)〜(e)において上記の“化1”に示した式のいずれかであり、(f)において上記の“化1”に示した式のいずれかであるか、又は存在せず、Y及びYはそれぞれ独立して、−CO−又は−SO−である。lは好ましくは10以下の整数である。
Figure 0006006569
In the formula, l is an integer of 1 or more, m is 0 or an integer of 1 to 2, and X is any one of the formulas shown in the above “Chemical Formula 1” in (a) to (e). , (F) is any one of the formulas shown in the above “Chemical Formula 1” or does not exist, and Y 1 and Y 2 are each independently —CO— or —SO 2 —. l is preferably an integer of 10 or less.

上記の“化1”に示されるベンゼン環、縮合環及び複素環の例としては、フェニル、置換フェニル、ベンジル、置換ベンジル、ナフタレン、置換ナフタレン、アントラセン、置換アントラセン、アントラキノン、置換アントラキノン、アクリジン、置換アクリジン、アゾベンゼン、置換アゾベンゼン、フルオリム、置換フルオリム、フルオリモン、置換フルオリモン、カルバゾール、置換カルバゾール、N−アルキルカルバゾール、ジベンゾフラン、置換ジベンゾフラン、フェナンスレン、置換フェナンスレン、ピレン及び置換ピレンが挙げられる。例示した置換基が置換を有している場合、その置換基は、例えば、アルキル、アリール、ハロゲン原子、アルコキシ、ニトロ、アルデヒド、シアノ、アミド、ジアルキルアミノ、スルホンアミド、イミド、カルボン酸、カルボン酸エステル、スルホン酸、スルホン酸エステル、アルキルアミノ及びアリールアミノから選択される。   Examples of the benzene ring, condensed ring and heterocyclic ring shown in the above “chemical formula 1” include phenyl, substituted phenyl, benzyl, substituted benzyl, naphthalene, substituted naphthalene, anthracene, substituted anthracene, anthraquinone, substituted anthraquinone, acridine, substituted Examples include acridine, azobenzene, substituted azobenzene, fluoride, substituted fluoride, fluoride, substituted fluoride, carbazole, substituted carbazole, N-alkylcarbazole, dibenzofuran, substituted dibenzofuran, phenanthrene, substituted phenanthrene, pyrene, and substituted pyrene. When the exemplified substituent has a substituent, the substituent is, for example, alkyl, aryl, halogen atom, alkoxy, nitro, aldehyde, cyano, amide, dialkylamino, sulfonamide, imide, carboxylic acid, carboxylic acid Selected from esters, sulfonic acids, sulfonate esters, alkylaminos and arylaminos.

上記の“化1”に示される置換基のうち、フェニル基を2つ有している5番目の置換基であって、Zが−SO−である場合の例としては、ビス(2,4‐ジヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(3,4‐ジヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(3,5‐ジヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(3,6‐ジヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(4‐ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(3‐ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(2‐ヒドロキシフェニル)スルホン、及びビス(3,5‐ジメチル‐4‐ヒドロキシフェニル)スルホンなどが挙げられる。 Of the substituents represented by “Chemical Formula 1” above, as an example of the fifth substituent having two phenyl groups and Z being —SO 2 —, bis (2, 4-dihydroxyphenyl) sulfone, bis (3,4-dihydroxyphenyl) sulfone, bis (3,5-dihydroxyphenyl) sulfone, bis (3,6-dihydroxyphenyl) sulfone, bis (4-hydroxyphenyl) sulfone, bis (3-hydroxyphenyl) sulfone, bis (2-hydroxyphenyl) sulfone, bis (3,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) sulfone and the like can be mentioned.

上記の“化1”に示される置換基のうち、フェニル基を2つ有している5番目の置換基であって、Zが−SO−である場合の例としては、ビス(2,3‐ジヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(5‐クロロ‐2,3‐ジヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(2,4‐ジヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(2,4‐ジヒドロキシ‐6‐メチルフェニル)スルホキシド、ビス(5‐クロロ‐2,4‐ジヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(2,5‐ジヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(3,4‐ジヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(3,5‐ジヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(2,3,4‐トリヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(2,3,4‐トリヒドロキシ‐6‐メチルフェニル)‐スルホキシド、ビス(5‐クロロ‐2,3,4‐トリヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(2,4,6‐トリヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(5‐クロロ‐2,4,6‐トリヒドロキシフェニル)スルホキシドなどが挙げられる。   Of the substituents represented by “Chemical Formula 1” above, as an example of the fifth substituent having two phenyl groups and Z being —SO—, bis (2,3 -Dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (5-chloro-2,3-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (2,4-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (2,4-dihydroxy-6-methylphenyl) sulfoxide, bis (5 -Chloro-2,4-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (2,5-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (3,4-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (3,5-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (2,3 , 4-Trihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (2,3,4-trihydroxy-6-methylpheny ) -Sulfoxide, bis (5-chloro-2,3,4-trihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (2,4,6-trihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (5-chloro-2,4,6-trihydroxy) Phenyl) sulfoxide and the like.

上記の“化1”に示される置換基のうち、フェニル基を2つ有している5番目の置換基であって、Zが−C(=O)−である場合の例としては、2,4‐ジヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4‐トリヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,4,4’‐テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,5,6’‐テトラヒドロキシベンゾフェノン、2‐ヒドロキシ‐4‐メトキシベンゾフェノン、2‐ヒドロキシ‐4‐オクトキシベンゾフェノン、2‐ヒドロキシ‐4‐ドデシルオキシベンゾフェノン、2,2’‐ジヒドロキシ‐4‐メトキシベンゾフェノン、2,6‐ジヒドロキシ‐4‐メトキシベンゾフェノン、2,2’‐ジヒドロキシ‐4,4’‐ジメトキシベンゾフェノン、4‐アミノ‐2’‐ヒドロキシベンゾフェノン、4‐ジメチルアミノ‐2’‐ヒドロキシベンゾフェノン、4‐ジエチルアミノ‐2’‐ヒドロキシベンゾフェノン、4‐ジメチルアミノ‐4’‐メトキシ‐2’‐ヒドロキシベンゾフェノン、4‐ジメチルアミノ‐2’,4’‐ジヒドロキシベンゾフェノン、及び4‐ジメチルアミノ‐3’,4’‐ジヒドロキシベンゾフェノンなどが挙げられる。   Among the substituents represented by the above “Chemical Formula 1”, the fifth substituent having two phenyl groups and Z is —C (═O) — , 4-dihydroxybenzophenone, 2,3,4-trihydroxybenzophenone, 2,2 ', 4,4'-tetrahydroxybenzophenone, 2,2', 5,6'-tetrahydroxybenzophenone, 2-hydroxy-4- Methoxybenzophenone, 2-hydroxy-4-octoxybenzophenone, 2-hydroxy-4-dodecyloxybenzophenone, 2,2'-dihydroxy-4-methoxybenzophenone, 2,6-dihydroxy-4-methoxybenzophenone, 2,2 ' -Dihydroxy-4,4'-dimethoxybenzophenone, 4-amino-2'-hydroxybenzophenone, 4-dimethyl Ruamino-2'-hydroxybenzophenone, 4-diethylamino-2'-hydroxybenzophenone, 4-dimethylamino-4'-methoxy-2'-hydroxybenzophenone, 4-dimethylamino-2 ', 4'-dihydroxybenzophenone, and 4 -Dimethylamino-3 ', 4'-dihydroxybenzophenone and the like.

上記構造が上記重合体の側鎖に存在している場合、上記構造を含んでいる繰返し単位の、上記重合体に占める割合は、分離層14の光の透過率が0.001〜10%になる範囲にある。当該割合がこのような範囲に収まるように重合体が調製されていれば、分離層14が十分に光を吸収して、確実かつ迅速に変質し得る。すなわち、積層体10からのサポートプレート12の除去が容易であり、当該除去に必要な光の照射時間を短縮させることができる。   When the structure is present in the side chain of the polymer, the proportion of the repeating unit containing the structure in the polymer is such that the light transmittance of the separation layer 14 is 0.001 to 10%. It is in the range. If the polymer is prepared so that the ratio falls within such a range, the separation layer 14 can sufficiently absorb light and can be surely and rapidly altered. That is, it is easy to remove the support plate 12 from the stacked body 10, and the irradiation time of light necessary for the removal can be shortened.

上記構造は、その種類の選択によって、所望の範囲の波長を有している光を吸収することができる。例えば、上記構造が吸収可能な光の波長は、100〜2000nmであることがより好ましい。この範囲のうち、上記構造が吸収可能な光の波長は、より短波長側であり、例えば、100〜500nmである。例えば、上記構造は、好ましくは約300〜370nmの波長を有している紫外光を吸収することによって、当該構造を含んでいる重合体を変質させ得る。   The said structure can absorb the light which has a wavelength of a desired range by selection of the kind. For example, the wavelength of light that can be absorbed by the above structure is more preferably 100 to 2000 nm. Within this range, the wavelength of light that can be absorbed by the structure is on the shorter wavelength side, for example, 100 to 500 nm. For example, the structure can alter the polymer containing the structure by absorbing ultraviolet light, preferably having a wavelength of about 300-370 nm.

上記構造が吸収可能な光は、例えば、高圧水銀ランプ(波長:254nm〜436nm)、KrFエキシマレーザ(波長:248nm)、ArFエキシマレーザ(波長:193nm)、Fエキシマレーザ(波長:157nm)、XeClレーザ(308nm)、XeFレーザ(波長:351nm)もしくは固体UVレーザ(波長:355nm)から発せられる光、又はg線(波長:436nm)、h線(波長:405nm)もしくはi線(波長:365nm)などである。 The light that can be absorbed by the above structure is, for example, a high-pressure mercury lamp (wavelength: 254 nm to 436 nm), a KrF excimer laser (wavelength: 248 nm), an ArF excimer laser (wavelength: 193 nm), an F 2 excimer laser (wavelength: 157 nm), Light emitted from XeCl laser (308 nm), XeF laser (wavelength: 351 nm) or solid-state UV laser (wavelength: 355 nm), or g-line (wavelength: 436 nm), h-line (wavelength: 405 nm) or i-line (wavelength: 365 nm) ) Etc.

上述した分離層14は、繰り返し単位として上記構造を含んでいる重合体を含有しているが、分離層14はさらに、上記重合体以外の成分を含み得る。当該成分としては、フィラー、可塑剤、及びサポートプレート12の剥離性を向上し得る成分などが挙げられる。これらの成分は、上記構造による光の吸収、及び重合体の変質を妨げないか、又は促進する、従来公知の物質又は材料から適宜選択される。   Although the separation layer 14 described above contains a polymer containing the above structure as a repeating unit, the separation layer 14 may further contain a component other than the polymer. Examples of the component include a filler, a plasticizer, and a component that can improve the peelability of the support plate 12. These components are appropriately selected from conventionally known substances or materials that do not hinder or promote the absorption of light by the above structure and the alteration of the polymer.

(無機物)
分離層14は、無機物からなっていてもよい。分離層14は、無機物によって構成されることにより、光を吸収することによって変質するようになっており、その結果として、光の照射を受ける前の強度又は接着性を失う。よって、わずかな外力を加える(例えば、サポートプレート12を持ち上げるなど)ことによって、分離層14が破壊されて、サポートプレート12と基板11とを容易に分離することができる。
(Inorganic)
The separation layer 14 may be made of an inorganic material. The separation layer 14 is composed of an inorganic substance, and is thereby altered by absorbing light. As a result, the separation layer 14 loses strength or adhesiveness before being irradiated with light. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support plate 12), the separation layer 14 is broken, and the support plate 12 and the substrate 11 can be easily separated.

上記無機物は、光を吸収することによって変質する構成であればよく、例えば、金属、金属化合物及びカーボンからなる群より選択される1種類以上の無機物を好適に用いることができる。金属化合物とは、金属原子を含む化合物を指し、例えば、金属酸化物、金属窒化物であり得る。このような無機物の例示としては、これに限定されるものではないが、金、銀、銅、鉄、ニッケル、アルミニウム、チタン、クロム、SiO、SiN、Si、TiN、及びカーボンからなる群より選ばれる1種類以上の無機物が挙げられる。なお、カーボンとは炭素の同素体も含まれ得る概念であり、例えば、ダイヤモンド、フラーレン、ダイヤモンドライクカーボン、カーボンナノチューブ等であり得る。 The said inorganic substance should just be the structure which changes in quality by absorbing light, for example, 1 or more types of inorganic substances selected from the group which consists of a metal, a metal compound, and carbon can be used conveniently. The metal compound refers to a compound containing a metal atom, and can be, for example, a metal oxide or a metal nitride. Examples of such inorganic materials include, but are not limited to, gold, silver, copper, iron, nickel, aluminum, titanium, chromium, SiO 2 , SiN, Si 3 N 4 , TiN, and carbon. One or more inorganic substances selected from the group consisting of: Carbon is a concept that may include an allotrope of carbon, for example, diamond, fullerene, diamond-like carbon, carbon nanotube, and the like.

上記無機物は、その種類によって固有の範囲の波長を有する光を吸収する。分離層14に用いた無機物が吸収する範囲の波長の光を分離層に照射することにより、上記無機物を好適に変質させ得る。   The inorganic material absorbs light having a wavelength in a specific range depending on the type. By irradiating the separation layer with light having a wavelength within a range that the inorganic material used for the separation layer 14 absorbs, the inorganic material can be suitably altered.

無機物からなる分離層14に照射する光としては、上記無機物が吸収可能な波長に応じて、例えば、YAGレーザ、リビーレーザ、ガラスレーザ、YVOレーザ、LDレーザ、ファイバーレーザ等の固体レーザ、色素レーザ等の液体レーザ、COレーザ、エキシマレーザ、Arレーザ、He−Neレーザ等の気体レーザ、半導体レーザ、自由電子レーザ等のレーザ光、又は、非レーザ光を適宜用いればよい。 The light applied to the separation layer 14 made of an inorganic material may be, for example, a solid-state laser such as a YAG laser, Libby laser, glass laser, YVO 4 laser, LD laser, or fiber laser, or a dye laser depending on the wavelength that the inorganic material can absorb. For example, a liquid laser such as a CO 2 laser, an excimer laser, an Ar laser, a He—Ne laser, or a laser beam such as a semiconductor laser or a free electron laser, or a non-laser beam may be used as appropriate.

無機物からなる分離層14は、例えばスパッタ、化学蒸着(CVD)、メッキ、プラズマCVD、スピンコート等の公知の技術により、サポートプレート12上に形成され得る。無機物からなる分離層14の厚さは特に限定されず、使用する光を十分に吸収し得る膜厚であればよいが、例えば、0.05〜10μmの膜厚とすることがより好ましい。また、分離層14を構成する無機物からなる無機膜(例えば、金属膜)の両面又は片面に予め接着剤を塗布し、サポートプレート12及び基板11に貼り付けてもよい。   The separation layer 14 made of an inorganic material can be formed on the support plate 12 by a known technique such as sputtering, chemical vapor deposition (CVD), plating, plasma CVD, or spin coating. The thickness of the separation layer 14 made of an inorganic material is not particularly limited as long as it is a film thickness that can sufficiently absorb the light to be used. For example, a film thickness of 0.05 to 10 μm is more preferable. Alternatively, an adhesive may be applied in advance to both surfaces or one surface of an inorganic film (for example, a metal film) made of an inorganic material constituting the separation layer 14 and attached to the support plate 12 and the substrate 11.

なお、分離層14として金属膜を使用する場合には、分離層14の膜質、レーザ光源の種類、レーザ出力等の条件によっては、レーザの反射や膜への帯電等が起こり得る。そのため、反射防止膜や帯電防止膜を分離層14の上下又はどちらか一方に設けることで、それらの対策をとることが好ましい。   When a metal film is used as the separation layer 14, laser reflection or charging of the film may occur depending on conditions such as the film quality of the separation layer 14, the type of laser light source, and laser output. Therefore, it is preferable to take such measures by providing an antireflection film or an antistatic film on the upper and lower sides of the separation layer 14 or one of them.

(赤外線吸収性の構造を有する化合物)
分離層14は、赤外線吸収性の構造を有する化合物によって形成されていてもよい。当該化合物は、赤外線を吸収することにより変質する。分離層14は、化合物の変質の結果として、赤外線の照射を受ける前の強度又は接着性を失っている。よって、わずかな外力を加える(例えば、サポートプレートを持ち上げるなど)ことによって、分離層14が破壊されて、サポートプレート12と基板11とを容易に分離することができる。
(Compound having infrared absorbing structure)
The separation layer 14 may be formed of a compound having an infrared absorbing structure. The compound is altered by absorbing infrared rays. The separation layer 14 has lost its strength or adhesiveness before being irradiated with infrared rays as a result of the alteration of the compound. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support plate), the separation layer 14 is broken, and the support plate 12 and the substrate 11 can be easily separated.

赤外線吸収性を有している構造又は赤外線吸収性を有している構造を含む化合物としては、例えば、アルカン、アルケン(ビニル、トランス、シス、ビニリデン、三置換、四置換、共役、クムレン、環式)、アルキン(一置換、二置換)、単環式芳香族(ベンゼン、一置換、二置換、三置換)、アルコール及びフェノール類(自由OH、分子内水素結合、分子間水素結合、飽和第二級、飽和第三級、不飽和第二級、不飽和第三級)、アセタール、ケタール、脂肪族エーテル、芳香族エーテル、ビニルエーテル、オキシラン環エーテル、過酸化物エーテル、ケトン、ジアルキルカルボニル、芳香族カルボニル、1,3−ジケトンのエノール、o−ヒドロキシアリールケトン、ジアルキルアルデヒド、芳香族アルデヒド、カルボン酸(二量体、カルボン酸アニオン)、ギ酸エステル、酢酸エステル、共役エステル、非共役エステル、芳香族エステル、ラクトン(β−、γ−、δ−)、脂肪族酸塩化物、芳香族酸塩化物、酸無水物(共役、非共役、環式、非環式)、第一級アミド、第二級アミド、ラクタム、第一級アミン(脂肪族、芳香族)、第二級アミン(脂肪族、芳香族)、第三級アミン(脂肪族、芳香族)、第一級アミン塩、第二級アミン塩、第三級アミン塩、アンモニウムイオン、脂肪族ニトリル、芳香族ニトリル、カルボジイミド、脂肪族イソニトリル、芳香族イソニトリル、イソシアン酸エステル、チオシアン酸エステル、脂肪族イソチオシアン酸エステル、芳香族イソチオシアン酸エステル、脂肪族ニトロ化合物、芳香族ニトロ化合物、ニトロアミン、ニトロソアミン、硝酸エステル、亜硝酸エステル、ニトロソ結合(脂肪族、芳香族、単量体、二量体)、メルカプタン及びチオフェノール及びチオール酸などの硫黄化合物、チオカルボニル基、スルホキシド、スルホン、塩化スルホニル、第一級スルホンアミド、第二級スルホンアミド、硫酸エステル、炭素−ハロゲン結合、Si−A結合(Aは、H、C、O又はハロゲン)、P−A結合(Aは、H、C又はO)、又はTi−O結合であり得る。 Examples of the compound having an infrared absorptive structure or a compound having an infrared absorptive structure include alkanes, alkenes (vinyl, trans, cis, vinylidene, trisubstituted, tetrasubstituted, conjugated, cumulene, ring Formula), alkyne (monosubstituted, disubstituted), monocyclic aromatic (benzene, monosubstituted, disubstituted, trisubstituted), alcohol and phenols (free OH, intramolecular hydrogen bond, intermolecular hydrogen bond, saturated Secondary, saturated tertiary, unsaturated secondary, unsaturated tertiary), acetal, ketal, aliphatic ether, aromatic ether, vinyl ether, oxirane ether, peroxide ether, ketone, dialkylcarbonyl, aromatic Carbonyl, enol of 1,3-diketone, o-hydroxy aryl ketone, dialkyl aldehyde, aromatic aldehyde, carboxylic acid (dimer, Bonic acid anion), formic acid ester, acetic acid ester, conjugated ester, non-conjugated ester, aromatic ester, lactone (β-, γ-, δ-), aliphatic acid chloride, aromatic acid chloride, acid anhydride ( Conjugated, non-conjugated, cyclic, acyclic), primary amide, secondary amide, lactam, primary amine (aliphatic, aromatic), secondary amine (aliphatic, aromatic), secondary Tertiary amine (aliphatic, aromatic), primary amine salt, secondary amine salt, tertiary amine salt, ammonium ion, aliphatic nitrile, aromatic nitrile, carbodiimide, aliphatic isonitrile, aromatic isonitrile, Isocyanate ester, thiocyanate ester, aliphatic isothiocyanate ester, aromatic isothiocyanate ester, aliphatic nitro compound, aromatic nitro compound, nitroamine, nitrosamine, nitric acid Steal, nitrite, nitroso bond (aliphatic, aromatic, monomer, dimer), sulfur compounds such as mercaptan and thiophenol and thiolic acid, thiocarbonyl group, sulfoxide, sulfone, sulfonyl chloride, primary Sulfonamide, secondary sulfonamide, sulfate ester, carbon-halogen bond, Si-A 1 bond (A 1 is H, C, O or halogen), PA 2 bond (A 2 is H, C or O), or Ti—O bonds.

上記炭素−ハロゲン結合を含む構造としては、例えば、−CHCl、−CHBr、−CHI、−CF−、−CF、−CH=CF、−CF=CF、フッ化アリール、及び塩化アリールなどが挙げられる。 As a structure containing halogen bond, for example, -CH 2 Cl, -CH 2 Br , -CH 2 I, -CF 2 - - the carbon, - CF 3, -CH = CF 2, -CF = CF 2, fluoride Aryl chloride, and aryl chloride.

上記Si−A結合を含む構造としては、SiH、SiH、SiH、Si−CH、Si−CH−、Si−C、SiO脂肪族、Si−OCH、Si−OCHCH、Si−OC、Si−O−Si、Si−OH、SiF、SiF、及びSiFなどが挙げられる。Si−A結合を含む構造としては、特に、シロキサン骨格及びシルセスキオキサン骨格を形成していることが好ましい。 Examples of the structure including the Si—A 1 bond include SiH, SiH 2 , SiH 3 , Si—CH 3 , Si—CH 2 —, Si—C 6 H 5 , SiO aliphatic, Si—OCH 3 , Si—OCH. 2 CH 3, Si-OC 6 H 5, Si-O-Si, Si-OH, SiF, SiF 2, and the like SiF 3. As a structure including a Si—A 1 bond, a siloxane skeleton and a silsesquioxane skeleton are particularly preferably formed.

上記P−A結合を含む構造としては、PH、PH、P−CH、P−CH−、P−C、A −P−O(Aは脂肪族又は芳香族)、(AO)−P−O(Aはアルキル)、P−OCH、P−OCHCH、P−OC、P−O−P、P−OH、及びO=P−OHなどが挙げられる。 Examples of the structure containing the P—A 2 bond include PH, PH 2 , P—CH 3 , P—CH 2 —, P—C 6 H 5 , A 3 3 —PO— (A 3 is aliphatic or aromatic. family), (A 4 O) 3 -P-O (A 4 alkyl), P-OCH 3, P -OCH 2 CH 3, P-OC 6 H 5, P-O-P, P-OH, and O = P-OH and the like can be mentioned.

上記構造は、その種類の選択によって、所望の範囲の波長を有している赤外線を吸収することができる。具体的には、上記構造が吸収可能な赤外線の波長は、例えば1μm〜20μmの範囲内であり、2μm〜15μmの範囲内をより好適に吸収できる。さらに、上記構造がSi−O結合、Si−C結合及びTi−O結合である場合には、9μm〜11μmの範囲内であり得る。なお、各構造が吸収できる赤外線の波長は当業者であれば容易に理解することができる。例えば、各構造における吸収帯として、非特許文献:SILVERSTEIN・BASSLER・MORRILL著「有機化合物のスペクトルによる同定法(第5版)−MS、IR、NMR、UVの併用−」(1992年発行)第146頁〜第151頁の記載を参照することができる。   The said structure can absorb the infrared rays which have the wavelength of a desired range by selection of the kind. Specifically, the wavelength of infrared rays that can be absorbed by the above structure is, for example, in the range of 1 μm to 20 μm, and more preferably in the range of 2 μm to 15 μm. Further, when the structure is a Si—O bond, a Si—C bond, and a Ti—O bond, it can be in the range of 9 μm to 11 μm. In addition, those skilled in the art can easily understand the infrared wavelength that can be absorbed by each structure. For example, as an absorption band in each structure, Non-Patent Document: SILVERSTEIN / BASSLER / MORRILL, “Identification method by spectrum of organic compound (5th edition) —Combination of MS, IR, NMR and UV” (published in 1992) The description on page 146 to page 151 can be referred to.

分離層14の形成に用いられる、赤外線吸収性の構造を有する化合物としては、上述のような構造を有している化合物のうち、塗布のために溶媒に溶解でき、固化されて固層を形成できるものであれば、特に限定されるものではない。しかしながら、分離層14における化合物を効果的に変質させ、サポートプレート12と基板11との分離を容易にするには、分離層14における赤外線の吸収が大きいこと、すなわち、分離層14に赤外線を照射した際の赤外線の透過率が低いことが好ましい。具体的には、分離層14における赤外線の透過率が90%より低いことが好ましく、赤外線の透過率が80%より低いことがより好ましい。   As a compound having an infrared-absorbing structure used for forming the separation layer 14, among the compounds having the structure as described above, it can be dissolved in a solvent for coating and solidified to form a solid layer. As long as it is possible, there is no particular limitation. However, in order to effectively alter the compound in the separation layer 14 and facilitate separation of the support plate 12 and the substrate 11, the absorption of infrared rays in the separation layer 14 is large, that is, the separation layer 14 is irradiated with infrared rays. It is preferable that the infrared transmittance is low. Specifically, the infrared transmittance in the separation layer 14 is preferably lower than 90%, and the infrared transmittance is more preferably lower than 80%.

一例を挙げて説明すれば、シロキサン骨格を有する化合物としては、例えば、下記化学式(1)で表される繰り返し単位及び下記化学式(2)で表される繰り返し単位の共重合体である樹脂、あるいは下記化学式(1)で表される繰り返し単位及びアクリル系化合物由来の繰り返し単位の共重合体である樹脂を用いることができる。   For example, as the compound having a siloxane skeleton, for example, a resin that is a copolymer of a repeating unit represented by the following chemical formula (1) and a repeating unit represented by the following chemical formula (2), or A resin that is a copolymer of a repeating unit represented by the following chemical formula (1) and a repeating unit derived from an acrylic compound can be used.

Figure 0006006569
(化学式(2)中、Rは、水素、炭素数10以下のアルキル基、炭素数10以下のアルコキシ基である)
中でも、シロキサン骨格を有する化合物としては、上記化学式(1)で表される繰り返し単位及び下記化学式(3)で表される繰り返し単位の共重合体であるtert−ブチルスチレン(TBST)−ジメチルシロキサン共重合体がより好ましく、上記式(1)で表される繰り返し単位及び下記化学式(3)で表される繰り返し単位を1:1で含む、TBST−ジメチルシロキサン共重合体がさらに好ましい。
Figure 0006006569
(In the chemical formula (2), R 1 is hydrogen, an alkyl group having 10 or less carbon atoms, or an alkoxy group having 10 or less carbon atoms)
Among them, as a compound having a siloxane skeleton, a copolymer of tert-butylstyrene (TBST) -dimethylsiloxane which is a copolymer of a repeating unit represented by the above chemical formula (1) and a repeating unit represented by the following chemical formula (3). A polymer is more preferable, and a TBST-dimethylsiloxane copolymer containing a repeating unit represented by the above formula (1) and a repeating unit represented by the following chemical formula (3) in a ratio of 1: 1 is further preferable.

Figure 0006006569
また、シルセスキオキサン骨格を有する化合物としては、例えば、下記化学式(4)で表される繰り返し単位及び下記化学式(5)で表される繰り返し単位の共重合体である樹脂を用いることができる。
Figure 0006006569
Moreover, as the compound having a silsesquioxane skeleton, for example, a resin that is a copolymer of a repeating unit represented by the following chemical formula (4) and a repeating unit represented by the following chemical formula (5) can be used. .

Figure 0006006569
(化学式(4)中、Rは、水素又は炭素数1以上、10以下のアルキル基であり、化学式(5)中、Rは、炭素数1以上、10以下のアルキル基、又はフェニル基である)
シルセスキオキサン骨格を有する化合物としては、このほかにも、特許文献3:特開2007−258663号公報(2007年10月4日公開)、特許文献4:特開2010−120901号公報(2010年6月3日公開)、特許文献5:特開2009−263316号公報(2009年11月12日公開)及び特許文献6:特開2009−263596号公報(2009年11月12日公開)において開示されている各シルセスキオキサン樹脂を好適に利用できる。
Figure 0006006569
(In chemical formula (4), R 2 is hydrogen or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and in chemical formula (5), R 3 is an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, or a phenyl group. Is)
Other compounds having a silsesquioxane skeleton include Patent Document 3: Japanese Patent Laid-Open No. 2007-258663 (published on October 4, 2007), Patent Document 4: Japanese Patent Laid-Open No. 2010-120901 (2010). Published on June 3, 2009), Patent Document 5: JP 2009-263316 A (published on November 12, 2009) and Patent Document 6: JP 2009-263596 A (published on November 12, 2009). Each disclosed silsesquioxane resin can be suitably used.

中でも、シルセスキオキサン骨格を有する化合物としては、下記化学式(6)で表される繰り返し単位及び下記化学式(7)で表される繰り返し単位の共重合体がより好ましく、下記化学式(6)で表される繰り返し単位及び下記化学式(7)で表される繰り返し単位を7:3で含む共重合体がさらに好ましい。   Among them, as the compound having a silsesquioxane skeleton, a repeating unit represented by the following chemical formula (6) and a copolymer of a repeating unit represented by the following chemical formula (7) are more preferable. More preferably, the copolymer contains a repeating unit represented by the following chemical formula (7) and a repeating unit represented by the following chemical formula (7) at 7: 3.

Figure 0006006569
シルセスキオキサン骨格を有する重合体としては、ランダム構造、ラダー構造、及び籠型構造があり得るが、何れの構造であってもよい。
Figure 0006006569
The polymer having a silsesquioxane skeleton may have a random structure, a ladder structure, and a cage structure, and any structure may be used.

また、Ti−O結合を含む化合物としては、例えば、(i)テトラ−i−プロポキシチタン、テトラ−n−ブトキシチタン、テトラキス(2−エチルヘキシルオキシ)チタン、及びチタニウム−i−プロポキシオクチレングリコレートなどのアルコキシチタン、(ii)ジ−i−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナト)チタン、及びプロパンジオキシチタンビス(エチルアセトアセテート)などのキレートチタン、(iii)i−CO−[−Ti(O−i−C−O−]n −i−C、及びn−CO−[−Ti(O−n−C−O−]−n−Cなどのチタンポリマー、(iv)トリ−n−ブトキシチタンモノステアレート、チタニウムステアレート、ジ−i−プロポキシチタンジイソステアレート、及び(2−n−ブトキシカルボニルベンゾイルオキシ)トリブトキシチタンなどのアシレートチタン、(v)ジ−n−ブトキシ・ビス(トリエタノールアミナト)チタンなどの水溶性チタン化合物などが挙げられる。 Examples of the compound containing a Ti-O bond include (i) tetra-i-propoxytitanium, tetra-n-butoxytitanium, tetrakis (2-ethylhexyloxy) titanium, and titanium-i-propoxyoctylene glycolate. alkoxy titanium such as, (ii) di -i- propoxy bis (acetylacetonato) titanium, and propane di oxytitanium bis (ethylacetoacetate) chelate titanium such as, (iii) i-C 3 H 7 O - [- Ti (O-i-C 3 H 7) 2 -O-] n -i-C 3 H 7, and n-C 4 H 9 O - [- Ti (O-n-C 4 H 9) 2 -O - titanium polymers such as n -n-C 4 H 9, (iv) tri -n- butoxy titanium monostearate, titanium stearate, di -i- Puropokishichi Diisostearate, acylate titanium such as (2-n-butoxycarbonylbenzoyloxy) tributoxytitanium, (v) water-soluble titanium compounds such as di-n-butoxy-bis (triethanolaminato) titanium, etc. Can be mentioned.

中でも、Ti−O結合を含む化合物としては、ジ−n−ブトキシ・ビス(トリエタノールアミナト)チタン(Ti(OC[OCN(COH))が好ましい。 Among them, as a compound containing a Ti—O bond, di-n-butoxy bis (triethanolaminato) titanium (Ti (OC 4 H 9 ) 2 [OC 2 H 4 N (C 2 H 4 OH) 2 ] 2 ) is preferred.

上述した分離層14は、赤外線吸収性の構造を有する化合物を含有しているが、分離層14はさらに、上記化合物以外の成分を含み得る。当該成分としては、フィラー、可塑剤、及びサポートプレート12の剥離性を向上し得る成分などが挙げられる。これらの成分は、上記構造による赤外線の吸収、及び化合物の変質を妨げないか、又は促進する、従来公知の物質又は材料から適宜選択される。   Although the separation layer 14 described above contains a compound having an infrared absorbing structure, the separation layer 14 may further contain a component other than the above compound. Examples of the component include a filler, a plasticizer, and a component that can improve the peelability of the support plate 12. These components are appropriately selected from conventionally known substances or materials that do not interfere with or promote infrared absorption by the above structure and alteration of the compound.

(フルオロカーボン)
分離層14は、フルオロカーボンからなっていてもよい。分離層14は、フルオロカーボンによって構成されることにより、光を吸収することによって変質するようになっており、その結果として、光の照射を受ける前の強度又は接着性を失う。よって、わずかな外力を加える(例えば、サポートプレート12を持ち上げるなど)ことによって、分離層14が破壊されて、サポートプレート12と基板11とを容易に分離することができる。
(Fluorocarbon)
The separation layer 14 may be made of a fluorocarbon. Since the separation layer 14 is composed of fluorocarbon, the separation layer 14 is altered by absorbing light. As a result, the separation layer 14 loses strength or adhesiveness before being irradiated with light. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support plate 12), the separation layer 14 is broken, and the support plate 12 and the substrate 11 can be easily separated.

また、一つの観点からいえば、分離層14を構成するフルオロカーボンは、プラズマCVD法によって好適に成膜され得る。なお、フルオロカーボンは、C(パーフルオロカーボン)及びC(x、y及びzは整数)を含み、これらに限定されないが、例えば、CHF、CH、C、C、C、C等で有り得る。また、分離層14を構成するために用いるフルオロカーボンに対して、必要に応じて窒素、ヘリウム、アルゴン等の不活性ガス、アルカン、アルケンなどの炭化水素、及び、酸素、二酸化炭素、水素を添加してもよい。また、これらのガスを複数混合して用いてもよい(フルオロカーボン、水素、窒素の混合ガス等)。また、分離層14は、単一種のフルオロカーボンから構成されていてもよいし、2種類以上のフルオロカーボンから構成されていてもよい。 From one viewpoint, the fluorocarbon constituting the separation layer 14 can be suitably formed by a plasma CVD method. In addition, fluorocarbon includes C x F y (perfluorocarbon) and C x H y F z (x, y, and z are integers), but is not limited to these, for example, CHF 3 , CH 2 F 2 , C 2 It can be H 2 F 2 , C 4 F 8 , C 2 F 6 , C 5 F 8 or the like. Further, an inert gas such as nitrogen, helium, and argon, a hydrocarbon such as alkane and alkene, and oxygen, carbon dioxide, and hydrogen are added to the fluorocarbon used for constituting the separation layer 14 as necessary. May be. Further, a mixture of these gases may be used (a mixed gas of fluorocarbon, hydrogen, nitrogen, etc.). Further, the separation layer 14 may be composed of a single type of fluorocarbon, or may be composed of two or more types of fluorocarbon.

フルオロカーボンは、その種類によって固有の範囲の波長を有する光を吸収する。分離層14に用いたフルオロカーボンが吸収する範囲の波長の光を分離層に照射することにより、フルオロカーボンを好適に変質させ得る。なお、分離層14における光の吸収率は80%以上であることが好ましい。   The fluorocarbon absorbs light having a wavelength in a specific range depending on the type. By irradiating the separation layer with light having a wavelength within a range that is absorbed by the fluorocarbon used in the separation layer 14, the fluorocarbon can be suitably altered. The light absorption rate in the separation layer 14 is preferably 80% or more.

分離層14に照射する光としては、フルオロカーボンが吸収可能な波長に応じて、例えば、YAGレーザ、リビーレーザ、ガラスレーザ、YVOレーザ、LDレーザ、ファイバーレーザ等の固体レーザ、色素レーザ等の液体レーザ、COレーザ、エキシマレーザ、Arレーザ、He−Neレーザ等の気体レーザ、半導体レーザ、自由電子レーザ等のレーザ光、又は、非レーザ光を適宜用いればよい。フルオロカーボンを変質させ得る波長としては、これに限定されるものではないが、例えば、600nm以下の範囲のものを用いることができる。 As light to irradiate the separation layer 14, for example, a liquid laser such as a solid laser such as a YAG laser, Libby laser, glass laser, YVO 4 laser, LD laser, or fiber laser, or a dye laser, depending on the wavelength that can be absorbed by the fluorocarbon. A gas laser such as a CO 2 laser, an excimer laser, an Ar laser, or a He—Ne laser, a laser beam such as a semiconductor laser or a free electron laser, or a non-laser beam may be used as appropriate. The wavelength at which the fluorocarbon can be altered is not limited to this, but for example, a wavelength in the range of 600 nm or less can be used.

(赤外線吸収物質)
分離層14は、赤外線吸収物質を含有していてもよい。分離層14は、赤外線吸収物質を含有して構成されることにより、光を吸収することによって変質するようになっており、その結果として、光の照射を受ける前の強度又は接着性を失う。よって、わずかな外力を加える(例えば、サポートプレート12を持ち上げるなど)ことによって、分離層14が破壊されて、サポートプレート12と基板11とを容易に分離することができる。
(Infrared absorbing material)
The separation layer 14 may contain an infrared absorbing material. The separation layer 14 is configured to contain an infrared absorbing material, so that the separation layer 14 is altered by absorbing light. As a result, the strength or adhesiveness before receiving the light irradiation is lost. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support plate 12), the separation layer 14 is broken, and the support plate 12 and the substrate 11 can be easily separated.

赤外線吸収物質は、赤外線を吸収することによって変質する構成であればよく、例えば、カーボンブラック、鉄粒子、又はアルミニウム粒子を好適に用いることができる。赤外線吸収物質は、その種類によって固有の範囲の波長を有する光を吸収する。分離層14に用いた赤外線吸収物質が吸収する範囲の波長の光を分離層14に照射することにより、赤外線吸収物質を好適に変質させ得る。   The infrared absorbing material only needs to have a structure that is altered by absorbing infrared rays. For example, carbon black, iron particles, or aluminum particles can be suitably used. The infrared absorbing material absorbs light having a wavelength in a specific range depending on the type. By irradiating the separation layer 14 with light having a wavelength in a range that is absorbed by the infrared absorbing material used for the separation layer 14, the infrared absorbing material can be suitably altered.

〔接着層〕
接着層13は、基板11をサポートプレート12に接着固定すると同時に、基板11の表面を覆って保護する構成である。よって、接着層は、基板11の加工又は搬送の際に、サポートプレート12に対する基板11の固定、及び基板11の保護すべき面の被覆を維持する接着性及び強度を有している必要がある。一方で、サポートプレート12に対する基板11の固定が不要になったときに、基板11から容易に剥離又は除去され得る必要がある。
[Adhesive layer]
The adhesive layer 13 is configured to cover and protect the surface of the substrate 11 at the same time as the substrate 11 is adhesively fixed to the support plate 12. Therefore, the adhesive layer needs to have adhesiveness and strength for maintaining the fixing of the substrate 11 to the support plate 12 and the covering of the surface to be protected of the substrate 11 when the substrate 11 is processed or transported. . On the other hand, when it becomes unnecessary to fix the substrate 11 to the support plate 12, it needs to be easily peeled or removed from the substrate 11.

したがって、接着層13は、通常は強固な接着性を有しており、何らかの処理によって接着性が低下するか、又は特定の溶剤に対する可溶性を有する接着剤によって構成される。接着層13の厚さは、例えば、1〜200μmであることがより好ましく、10〜150μmであることがさらに好ましい。接着層13は、以下に示すような接着材料を、スピン塗布のような従来公知の方法により基板11上に塗布することによって、形成することができる。   Therefore, the adhesive layer 13 usually has strong adhesiveness, and the adhesive layer 13 is constituted by an adhesive whose adhesiveness is reduced by some treatment or has solubility in a specific solvent. The thickness of the adhesive layer 13 is more preferably, for example, 1 to 200 μm, and further preferably 10 to 150 μm. The adhesive layer 13 can be formed by applying an adhesive material as described below onto the substrate 11 by a conventionally known method such as spin coating.

接着剤として、例えばアクリル系、ノボラック系、ナフトキサン系、炭化水素系、ポリイミド系等の、当該分野において公知の種々の接着剤が、本発明に係る接着層13を構成する接着剤として使用可能である。以下では、本実施の形態における接着層13が含有する樹脂の組成について説明する。   As the adhesive, for example, various adhesives known in the art such as acrylic, novolak, naphthoxan, hydrocarbon, and polyimide can be used as the adhesive constituting the adhesive layer 13 according to the present invention. is there. Below, the composition of resin which the contact bonding layer 13 in this Embodiment contains is demonstrated.

接着層13が含有する樹脂としては、接着性を備えたものであればよく、例えば、炭化水素樹脂、アクリル−スチレン系樹脂、マレイミド系樹脂等、又はこれらを組み合わせたものなどが挙げられる。   The resin contained in the adhesive layer 13 is not particularly limited as long as it has adhesiveness, and examples thereof include hydrocarbon resins, acrylic-styrene resins, maleimide resins, and combinations thereof.

(炭化水素樹脂)
炭化水素樹脂は、炭化水素骨格を有し、単量体組成物を重合してなる樹脂である。炭化水素樹脂として、シクロオレフィン系ポリマー(以下、「樹脂(A)」ということがある)、ならびに、テルペン樹脂、ロジン系樹脂及び石油樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1種の樹脂(以下、「樹脂(B)」ということがある)等が挙げられるが、これに限定されない。
(Hydrocarbon resin)
The hydrocarbon resin is a resin that has a hydrocarbon skeleton and is obtained by polymerizing a monomer composition. As the hydrocarbon resin, cycloolefin polymer (hereinafter sometimes referred to as “resin (A)”), and at least one resin selected from the group consisting of terpene resin, rosin resin and petroleum resin (hereinafter referred to as “resin (A)”). Resin (B) ”), and the like, but is not limited thereto.

樹脂(A)としては、シクロオレフィン系モノマーを含む単量体成分を重合してなる樹脂であってもよい。具体的には、シクロオレフィン系モノマーを含む単量体成分の開環(共)重合体、シクロオレフィン系モノマーを含む単量体成分を付加(共)重合させた樹脂などが挙げられる。   The resin (A) may be a resin obtained by polymerizing a monomer component containing a cycloolefin monomer. Specific examples include a ring-opening (co) polymer of a monomer component containing a cycloolefin monomer, and a resin obtained by addition (co) polymerization of a monomer component containing a cycloolefin monomer.

樹脂(A)を構成する単量体成分に含まれる前記シクロオレフィン系モノマーとしては、例えば、ノルボルネン、ノルボルナジエンなどの二環体、ジシクロペンタジエン、ジヒドロキシペンタジエンなどの三環体、テトラシクロドデセンなどの四環体、シクロペンタジエン三量体などの五環体、テトラシクロペンタジエンなどの七環体、又はこれら多環体のアルキル(メチル、エチル、プロピル、ブチルなど)置換体、アルケニル(ビニルなど)置換体、アルキリデン(エチリデンなど)置換体、アリール(フェニル、トリル、ナフチルなど)置換体等が挙げられる。これらの中でも特に、ノルボルネン、テトラシクロドデセン、又はこれらのアルキル置換体からなる群より選ばれるノルボルネン系モノマーが好ましい。   Examples of the cycloolefin monomer contained in the monomer component constituting the resin (A) include bicyclic compounds such as norbornene and norbornadiene, tricyclic compounds such as dicyclopentadiene and dihydroxypentadiene, and tetracyclododecene. Tetracycles, pentacycles such as cyclopentadiene trimer, heptacycles such as tetracyclopentadiene, or polycyclic alkyl (methyl, ethyl, propyl, butyl, etc.) substituted alkenyls (vinyl, etc.) Examples include substituted, alkylidene (such as ethylidene) substituted, aryl (such as phenyl, tolyl, naphthyl) substituted, and the like. Among these, norbornene-based monomers selected from the group consisting of norbornene, tetracyclododecene, and alkyl-substituted products thereof are particularly preferable.

樹脂(A)を構成する単量体成分は、上述したシクロオレフィン系モノマーと共重合可能な他のモノマーを含有していてもよく、例えば、アルケンモノマーを含有することが好ましい。アルケンモノマーとしては、例えば、エチレン、プロピレン、1−ブテン、イソブテン、1−ヘキセン、α−オレフィンなどが挙げられる。アルケンモノマーは、直鎖状であってもよいし、分岐状であってもよい。   The monomer component constituting the resin (A) may contain another monomer copolymerizable with the above-described cycloolefin-based monomer, and preferably contains, for example, an alkene monomer. Examples of the alkene monomer include ethylene, propylene, 1-butene, isobutene, 1-hexene, and α-olefin. The alkene monomer may be linear or branched.

また、樹脂(A)を構成する単量体成分として、シクロオレフィンモノマーを含有することが、高耐熱性(低い熱分解、熱重量減少性)の観点から好ましい。樹脂(A)を構成する単量体成分全体に対するシクロオレフィンモノマーの割合は、5モル%以上であることが好ましく、10モル%以上であることがより好ましく、20モル%以上であることがさらに好ましい。また、樹脂(A)を構成する単量体成分全体に対するシクロオレフィンモノマーの割合は、特に限定されないが、溶解性及び溶液での経時安定性の観点からは80モル%以下であることが好ましく、70モル%以下であることがより好ましい。   Moreover, it is preferable from a viewpoint of high heat resistance (low thermal decomposition and thermal weight reduction property) to contain a cycloolefin monomer as a monomer component which comprises resin (A). The ratio of the cycloolefin monomer to the whole monomer component constituting the resin (A) is preferably 5 mol% or more, more preferably 10 mol% or more, and further preferably 20 mol% or more. preferable. Further, the ratio of the cycloolefin monomer to the whole monomer component constituting the resin (A) is not particularly limited, but is preferably 80 mol% or less from the viewpoint of solubility and stability over time in a solution, More preferably, it is 70 mol% or less.

また、樹脂(A)を構成する単量体成分として、直鎖状又は分岐鎖状のアルケンモノマーを含有してもよい。樹脂(A)を構成する単量体成分全体に対するアルケンモノマーの割合は、溶解性及び柔軟性の観点からは10〜90モル%であることが好ましく、20〜85モル%であることがより好ましく、30〜80モル%であることがさらに好ましい。   Moreover, you may contain a linear or branched alkene monomer as a monomer component which comprises resin (A). The ratio of the alkene monomer to the whole monomer component constituting the resin (A) is preferably 10 to 90 mol%, more preferably 20 to 85 mol% from the viewpoint of solubility and flexibility. 30 to 80 mol% is more preferable.

なお、樹脂(A)は、例えば、シクロオレフィン系モノマーとアルケンモノマーとからなる単量体成分を重合させてなる樹脂のように、極性基を有していない樹脂であることが、高温下でのガスの発生を抑制するうえで好ましい。   The resin (A) is a resin having no polar group, such as a resin obtained by polymerizing a monomer component composed of a cycloolefin monomer and an alkene monomer, at high temperatures. It is preferable for suppressing generation of gas.

単量体成分を重合する際の重合方法や重合条件等については、特に制限はなく、常法に従い適宜設定すればよい。   The polymerization method and polymerization conditions for polymerizing the monomer components are not particularly limited and may be appropriately set according to a conventional method.

樹脂(A)として用いることのできる市販品としては、例えば、ポリプラスチックス社製の「TOPAS」、三井化学社製の「APEL」、日本ゼオン社製の「ZEONOR」及び「ZEONEX」、JSR社製の「ARTON」などが挙げられる。   Examples of commercially available products that can be used as the resin (A) include “TOPAS” manufactured by Polyplastics, “APEL” manufactured by Mitsui Chemicals, “ZEONOR” and “ZEONEX” manufactured by Nippon Zeon, and JSR “ARTON” made by the manufacturer can be mentioned.

樹脂(A)のガラス転移点(Tg)は、60℃以上であることが好ましく、70℃以上であることが特に好ましい。樹脂(A)のガラス転移点が60℃以上であると、接着剤積層体が高温環境に曝されたときに接着剤層の軟化をさらに抑制することができる。   The glass transition point (Tg) of the resin (A) is preferably 60 ° C. or higher, and particularly preferably 70 ° C. or higher. When the glass transition point of the resin (A) is 60 ° C. or higher, softening of the adhesive layer can be further suppressed when the adhesive laminate is exposed to a high temperature environment.

樹脂(B)は、テルペン系樹脂、ロジン系樹脂及び石油樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1種の樹脂である。具体的には、テルペン系樹脂としては、例えば、テルペン樹脂、テルペンフェノール樹脂、変性テルペン樹脂、水添テルペン樹脂、水添テルペンフェノール樹脂等が挙げられる。ロジン系樹脂としては、例えば、ロジン、ロジンエステル、水添ロジン、水添ロジンエステル、重合ロジン、重合ロジンエステル、変性ロジン等が挙げられる。石油樹脂としては、例えば、脂肪族又は芳香族石油樹脂、水添石油樹脂、変性石油樹脂、脂環族石油樹脂、クマロン・インデン石油樹脂等が挙げられる。これらの中でも、水添テルペン樹脂、水添石油樹脂がより好ましい。   The resin (B) is at least one resin selected from the group consisting of terpene resins, rosin resins and petroleum resins. Specifically, examples of the terpene resin include terpene resins, terpene phenol resins, modified terpene resins, hydrogenated terpene resins, hydrogenated terpene phenol resins, and the like. Examples of the rosin resin include rosin, rosin ester, hydrogenated rosin, hydrogenated rosin ester, polymerized rosin, polymerized rosin ester, and modified rosin. Examples of petroleum resins include aliphatic or aromatic petroleum resins, hydrogenated petroleum resins, modified petroleum resins, alicyclic petroleum resins, coumarone-indene petroleum resins, and the like. Among these, hydrogenated terpene resins and hydrogenated petroleum resins are more preferable.

樹脂(B)の軟化点は特に限定されないが、80〜160℃であることが好ましい。樹脂(B)の軟化点が80℃以上であると、接着剤積層体が高温環境に曝されたときに軟化することを抑制することができ、接着不良を生じない。一方、樹脂(B)の軟化点が160℃以下であると、接着剤積層体を剥離する際の剥離速度が良好なものとなる。   Although the softening point of resin (B) is not specifically limited, It is preferable that it is 80-160 degreeC. When the softening point of the resin (B) is 80 ° C. or higher, the adhesive laminate can be suppressed from being softened when exposed to a high temperature environment, and adhesion failure does not occur. On the other hand, when the softening point of the resin (B) is 160 ° C. or lower, the peeling rate when peeling the adhesive laminate is good.

樹脂(B)の分子量は特に限定されないが、300〜3000であることが好ましい。樹脂(B)の分子量が300以上であると、耐熱性が充分なものとなり、高温環境下において脱ガス量が少なくなる。一方、樹脂(B)の分子量が3000以下であると、接着剤積層体を剥離する際の剥離速度が良好なものとなる。なお、本実施形態における樹脂(B)の分子量は、ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)で測定されるポリスチレン換算の分子量を意味するものである。   Although the molecular weight of resin (B) is not specifically limited, It is preferable that it is 300-3000. When the molecular weight of the resin (B) is 300 or more, the heat resistance is sufficient, and the degassing amount is reduced under a high temperature environment. On the other hand, when the molecular weight of the resin (B) is 3000 or less, the peeling rate when peeling the adhesive laminate is good. In addition, the molecular weight of resin (B) in this embodiment means the molecular weight of polystyrene conversion measured by gel permeation chromatography (GPC).

なお、樹脂として、樹脂(A)と樹脂(B)とを混合したものを用いてもよい。混合することにより、耐熱性及び剥離速度が良好なものとなる。例えば、樹脂(A)と樹脂(B)との混合割合としては、(A):(B)=80:20〜55:45(質量比)であることが、剥離速度、高温環境時の熱耐性、及び柔軟性に優れるので好ましい。   In addition, you may use what mixed resin (A) and resin (B) as resin. By mixing, heat resistance and peeling speed are improved. For example, the mixing ratio of the resin (A) and the resin (B) is (A) :( B) = 80: 20 to 55:45 (mass ratio). Since it is excellent in tolerance and flexibility, it is preferable.

(ブロック共重合体)
本発明に係る積層体が備える接着層を構成し得るブロック共重合体は、モノマー単位が連続して結合したブロック部位が2種以上結合した重合体であり、ブロックコポリマーと称することもある。
(Block copolymer)
The block copolymer that can constitute the adhesive layer included in the laminate according to the present invention is a polymer in which two or more block sites in which monomer units are continuously bonded are bonded, and may be referred to as a block copolymer.

ブロック共重合体として、種々のブロック共重合体を用いることが可能であるが、例えば、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー(SIS)、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー(SBS)、スチレン−ブタジエン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SBBS)、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SEBS)、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー)(SEPS)、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEEPS)等を用いることができる。   Various block copolymers can be used as the block copolymer. For example, styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), styrene-butadiene-butylene. Styrene block copolymer (SBBS), styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (styrene-isoprene-styrene block copolymer) (SEPS), styrene-ethylene-ethylene-propylene -Styrene block copolymer (SEEPS) etc. can be used.

本発明に係る積層体が備える接着層を構成し得るブロック共重合体には、少なくとも1個の官能基含有原子団が結合してもよい。このようなブロック共重合体は、例えば、公知のブロック共重合体に対し、変性剤を用いて当該官能基含有原子団を少なくとも1個結合させることによって得ることができる。   At least one functional group-containing atomic group may be bonded to the block copolymer that can constitute the adhesive layer included in the laminate according to the present invention. Such a block copolymer can be obtained, for example, by bonding at least one functional group-containing atomic group to a known block copolymer using a modifier.

官能基含有原子団とは、1個以上の官能基を含む原子団である。本発明における官能基含有原子団が含む官能基としては、例えば、アミノ基、酸無水物基(好ましくは無水マレイン酸基)、イミド基、ウレタン基、エポキシ基、イミノ基、水酸基、カルボキシル基、シラノール基、及びアルコキシシラン基(当該アルコキシ基は炭素数1〜6であることが好ましい)が挙げられる。本発明において、ブロック共重合体は、エラストマーであり、かつ、極性をもたらす官能基を有している。本発明において、少なくとも1個の官能基含有原子団を有するブロック共重合体を含有させることにより、接着剤組成物の柔軟性および接着性が向上する。   The functional group-containing atomic group is an atomic group containing one or more functional groups. Examples of the functional group contained in the functional group-containing atomic group in the present invention include an amino group, an acid anhydride group (preferably a maleic anhydride group), an imide group, a urethane group, an epoxy group, an imino group, a hydroxyl group, a carboxyl group, Examples include silanol groups and alkoxysilane groups (the alkoxy groups preferably have 1 to 6 carbon atoms). In the present invention, the block copolymer is an elastomer and has a functional group that brings about polarity. In this invention, the softness | flexibility and adhesiveness of an adhesive composition improve by containing the block copolymer which has an at least 1 functional group containing atomic group.

ブロック共重合体は、ジブロック共重合体又はトリブロック共重合体であることが好ましく、トリブロック共重合体であることがより好ましい。また、ジブロック共重合体とトリブロック共重合体とを組み合わせて用いてもよい。これにより、接着剤組成物を用いて形成した接着層の220℃における損失計数(tanσ)を、1.1以下の最適な値にすることができる。   The block copolymer is preferably a diblock copolymer or a triblock copolymer, and more preferably a triblock copolymer. A diblock copolymer and a triblock copolymer may be used in combination. Thereby, the loss count (tanσ) at 220 ° C. of the adhesive layer formed using the adhesive composition can be set to an optimal value of 1.1 or less.

また、ブロック共重合体は、スチレン基を含んでいることが好ましく、主鎖の両末端がスチレン基であることがより好ましい。熱安定性の高いスチレンを両末端にブロックすることでより高い耐熱性を示すからである。   The block copolymer preferably contains a styrene group, and more preferably both ends of the main chain are styrene groups. This is because styrene having high thermal stability is blocked at both ends, thereby exhibiting higher heat resistance.

ブロック共重合体のスチレン基含有量は、10重量%以上、65重量%以下であることが好ましく、13重量%以上、45重量%以下であることがより好ましい。これにより、接着剤組成物を用いて形成した接着層の23℃におけるヤング率を、0.1GPa以上の最適な値にすることができる。   The styrene group content of the block copolymer is preferably 10% by weight or more and 65% by weight or less, and more preferably 13% by weight or more and 45% by weight or less. Thereby, the Young's modulus at 23 degreeC of the contact bonding layer formed using the adhesive composition can be made into the optimal value of 0.1 GPa or more.

さらに、ブロック共重合体の重量平均分子量は、50,000以上、150,000以下であることが好ましく、60,000以上、120,000以下であることがより好ましい。これにより、接着剤組成物を用いて形成した接着層の220℃における貯蔵弾性率(G’)を、1×10Pa以下の最適な値にすることができる。 Furthermore, the weight average molecular weight of the block copolymer is preferably 50,000 or more and 150,000 or less, and more preferably 60,000 or more and 120,000 or less. Thereby, the storage elastic modulus (G ') at 220 degreeC of the contact bonding layer formed using the adhesive composition can be made into the optimal value of 1 * 10 < 5 > Pa or less.

また、ブロック共重合体のスチレン基含有量が13重量%以上、50重量%以下であり、ブロック共重合体の重量平均分子量が50,000以上、150,000以下であれば、炭化水素系溶剤への溶解性が優れているのでより好ましい。これにより、この接着剤組成物により形成した接着層を除去する際には、炭化水素系溶剤を用いて容易かつ迅速に除去することができる。   Further, if the styrene group content of the block copolymer is 13% by weight or more and 50% by weight or less, and the weight average molecular weight of the block copolymer is 50,000 or more and 150,000 or less, the hydrocarbon solvent It is more preferable because of its excellent solubility in water. Thereby, when removing the contact bonding layer formed with this adhesive composition, it can remove easily and rapidly using a hydrocarbon-type solvent.

さらに、ブロック共重合体は水添物であることがより好ましい。水添物であれば、熱に対する安定性が一層向上し、分解や重合等の変質が起こりにくい。また、炭化水素系溶剤への溶解性及びレジスト溶剤への耐性の観点からもより好ましい。   Furthermore, the block copolymer is more preferably a hydrogenated product. If it is a hydrogenated product, the stability to heat is further improved, and degradation such as decomposition and polymerization hardly occurs. Moreover, it is more preferable from the viewpoint of solubility in hydrocarbon solvents and resistance to resist solvents.

また、ブロック共重合体は、ガラス転移点が23℃以下のユニットを含んでいることが好ましい。ブロック共重合体が、ガラス転移点が23℃以下のユニットを含んでいることによって、接着剤組成物を用いて形成した接着層の23℃におけるヤング率を、0.1GPa以上の最適な値にすることができる。   Moreover, it is preferable that the block copolymer contains the unit whose glass transition point is 23 degrees C or less. When the block copolymer contains units having a glass transition point of 23 ° C. or lower, the Young's modulus at 23 ° C. of the adhesive layer formed using the adhesive composition is set to an optimal value of 0.1 GPa or higher. can do.

ブロック共重合体は、複数の種類を混合してもよい。つまり、本発明に係る接着剤組成物は複数の種類のブロック共重合体を含んでもよい。複数の種類のブロック共重合体のうち少なくとも一つが、スチレン基を含んでいることが好ましい。さらに、複数の種類のブロック共重合体のうち少なくとも一つにおける、スチレン基含有量が10重量%以上、65重量%以下の範囲であれば、また複数の種類のブロック共重合体のうち少なくとも一つにおける、重量平均分子量が50,000以上、150,000以下の範囲であれば、本発明の範疇である。また、本発明に係る接着剤組成物において、複数の種類のブロック共重合体を含む場合、混合した結果、スチレン基の含有量が上記の範囲となるように調整してもよい。   A plurality of types of block copolymers may be mixed. That is, the adhesive composition according to the present invention may include a plurality of types of block copolymers. It is preferable that at least one of the plurality of types of block copolymers contains a styrene group. Furthermore, if at least one of the plurality of types of block copolymers has a styrene group content in the range of 10 wt% or more and 65 wt% or less, at least one of the plurality of types of block copolymers. If the weight average molecular weight in the range is 50,000 or more and 150,000 or less, it is within the scope of the present invention. Moreover, in the adhesive composition which concerns on this invention, when several types of block copolymers are included, as a result of mixing, you may adjust so that content of a styrene group may become said range.

(アクリル−スチレン系樹脂)
アクリル−スチレン系樹脂としては、例えば、スチレン又はスチレンの誘導体と、(メタ)アクリル酸エステル等とを単量体として用いて重合した樹脂が挙げられる。
(Acrylic-styrene resin)
Examples of the acrylic-styrene resin include a resin obtained by polymerization using styrene or a styrene derivative and (meth) acrylic acid ester as monomers.

(メタ)アクリル酸エステルとしては、例えば、鎖式構造からなる(メタ)アクリル酸アルキルエステル、脂肪族環を有する(メタ)アクリル酸エステル、芳香族環を有する(メタ)アクリル酸エステルが挙げられる。鎖式構造からなる(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、炭素数15〜20のアルキル基を有するアクリル系長鎖アルキルエステル、炭素数1〜14のアルキル基を有するアクリル系アルキルエステル等が挙げられる。アクリル系長鎖アルキルエステルとしては、アルキル基がn−ペンタデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基、n−エイコシル基等であるアクリル酸又はメタクリル酸のアルキルエステルが挙げられる。なお、当該アルキル基は、分岐状であってもよい。   Examples of the (meth) acrylic acid ester include a (meth) acrylic acid alkyl ester having a chain structure, a (meth) acrylic acid ester having an aliphatic ring, and a (meth) acrylic acid ester having an aromatic ring. . Examples of the (meth) acrylic acid alkyl ester having a chain structure include an acrylic long-chain alkyl ester having an alkyl group having 15 to 20 carbon atoms and an acrylic alkyl ester having an alkyl group having 1 to 14 carbon atoms. . As acrylic long-chain alkyl esters, acrylic or methacrylic acid whose alkyl group is n-pentadecyl group, n-hexadecyl group, n-heptadecyl group, n-octadecyl group, n-nonadecyl group, n-eicosyl group, etc. Examples include alkyl esters. The alkyl group may be branched.

炭素数1〜14のアルキル基を有するアクリル系アルキルエステルとしては、既存のアクリル系接着剤に用いられている公知のアクリル系アルキルエステルが挙げられる。例えば、アルキル基が、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、2−エチルヘキシル基、イソオクチル基、イソノニル基、イソデシル基、ドデシル基、ラウリル基、トリデシル基等からなるアクリル酸又はメタクリル酸のアルキルエステルが挙げられる。   Examples of the acrylic alkyl ester having an alkyl group having 1 to 14 carbon atoms include known acrylic alkyl esters used in existing acrylic adhesives. For example, an alkyl group of acrylic acid or methacrylic acid in which the alkyl group is a methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, 2-ethylhexyl group, isooctyl group, isononyl group, isodecyl group, dodecyl group, lauryl group, tridecyl group, etc. Examples include esters.

脂肪族環を有する(メタ)アクリル酸エステルとしては、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、シクロペンチル(メタ)アクリレート、1−アダマンチル(メタ)アクリレート、ノルボルニル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、トリシクロデカニル(メタ)アクリレート、テトラシクロドデカニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート等が挙げられるが、イソボルニルメタアクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレートがより好ましい。   Examples of (meth) acrylic acid ester having an aliphatic ring include cyclohexyl (meth) acrylate, cyclopentyl (meth) acrylate, 1-adamantyl (meth) acrylate, norbornyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, and tricyclodecanyl. (Meth) acrylate, tetracyclododecanyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate and the like can be mentioned, and isobornyl methacrylate and dicyclopentanyl (meth) acrylate are more preferable.

芳香族環を有する(メタ)アクリル酸エステルとしては、特に限定されるものではないが、芳香族環としては、例えばフェニル基、ベンジル基、トリル基、キシリル基、ビフェニル基、ナフチル基、アントラセニル基、フェノキシメチル基、フェノキシエチル基等が挙げられる。また、芳香族環は、炭素数1〜5の鎖状又は分岐状のアルキル基を有していてもよい。具体的には、フェノキシエチルアクリレートが好ましい。   The (meth) acrylic acid ester having an aromatic ring is not particularly limited. Examples of the aromatic ring include a phenyl group, a benzyl group, a tolyl group, a xylyl group, a biphenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group. A phenoxymethyl group, a phenoxyethyl group, and the like. The aromatic ring may have a chain or branched alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. Specifically, phenoxyethyl acrylate is preferable.

(マレイミド系樹脂)
マレイミド系樹脂としては、例えば、単量体として、N−メチルマレイミド、N−エチルマレイミド、N−n−プロピルマレイミド、N−イソプロピルマレイミド、N−n−ブチルマレイミド、N−イソブチルマレイミド、N−sec−ブチルマレイミド、N−tert−ブチルマレイミド、N−n−ペンチルマレイミド、N−n−ヘキシルマレイミド、N−n−へプチルマレイミド、N−n−オクチルマレイミド、N−ラウリルマレイミド、N−ステアリルマレイミドなどのアルキル基を有するマレイミド、N−シクロプロピルマレイミド、N−シクロブチルマレイミド、N−シクロペンチルマレイミド、N−シクロヘキシルマレイミド、N−シクロヘプチルマレイミド、N−シクロオクチルマレイミド等の脂肪族炭化水素基を有するマレイミド、N−フェニルマレイミド、N−m−メチルフェニルマレイミド、N−o−メチルフェニルマレイミド、N−p−メチルフェニルマレイミド等のアリール基を有する芳香族マレイミド等を重合して得られた樹脂が挙げられる。
(Maleimide resin)
Examples of maleimide resins include N-methylmaleimide, N-ethylmaleimide, Nn-propylmaleimide, N-isopropylmaleimide, Nn-butylmaleimide, N-isobutylmaleimide, N-sec as monomers. -Butylmaleimide, N-tert-butylmaleimide, Nn-pentylmaleimide, Nn-hexylmaleimide, Nn-heptylmaleimide, Nn-octylmaleimide, N-laurylmaleimide, N-stearylmaleimide, etc. Males having an aliphatic hydrocarbon group such as maleimide having an alkyl group, N-cyclopropylmaleimide, N-cyclobutylmaleimide, N-cyclopentylmaleimide, N-cyclohexylmaleimide, N-cycloheptylmaleimide, N-cyclooctylmaleimide Resin obtained by polymerizing aromatic maleimide having an aryl group such as imide, N-phenylmaleimide, Nm-methylphenylmaleimide, N-o-methylphenylmaleimide, Np-methylphenylmaleimide, etc. It is done.

例えば、下記化学式(8)で表される繰り返し単位及び下記化学式(9)で表される繰り返し単位の共重合体であるシクロオレフィンコポリマーを接着成分の樹脂として用いることができる。   For example, a cycloolefin copolymer which is a copolymer of a repeating unit represented by the following chemical formula (8) and a repeating unit represented by the following chemical formula (9) can be used as the resin of the adhesive component.

Figure 0006006569
(化学式(9)中、nは0又は1〜3の整数である)
このようなシクロオレフィンコポリマーとしては、APL 8008T、APL 8009T、及びAPL 6013T(全て三井化学社製)などを使用できる。
Figure 0006006569
(In the chemical formula (9), n is 0 or an integer of 1 to 3)
As such cycloolefin copolymer, APL 8008T, APL 8009T, APL 6013T (all manufactured by Mitsui Chemicals, Inc.) and the like can be used.

なお、光硬化性樹脂(例えば、UV硬化性樹脂)以外の樹脂を用いて接着層13を形成することが好ましい。これは、光硬化性樹脂が、接着層13の剥離又は除去の後に、基板11の微小な凹凸の周辺に残渣として残ってしまう場合があり得るからである。特に、特定の溶剤に溶解する接着剤が接着層13を構成する材料として好ましい。これは、基板11に物理的な力を加えることなく、接着層13を溶剤に溶解させることによって除去可能なためである。接着層13の除去に際して、強度が低下した基板11からでさえ、基板11を破損させたり、変形させたりせずに、容易に接着層13を除去することができる。   Note that the adhesive layer 13 is preferably formed using a resin other than a photocurable resin (for example, a UV curable resin). This is because the photocurable resin may remain as a residue around the minute irregularities of the substrate 11 after the adhesive layer 13 is peeled or removed. In particular, an adhesive that dissolves in a specific solvent is preferable as a material constituting the adhesive layer 13. This is because the adhesive layer 13 can be removed by dissolving it in a solvent without applying physical force to the substrate 11. Even when the adhesive layer 13 is removed, the adhesive layer 13 can be easily removed without damaging or deforming the substrate 11 even from the substrate 11 having a reduced strength.

上述した分離層、接着層を形成する際の希釈溶剤として、例えば、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、メチルオクタン、デカン、ウンデカン、ドデカン、トリデカン等の直鎖状の炭化水素、炭素数3から15の分岐状の炭化水素、p−メンタン、o−メンタン、m−メンタン、ジフェニルメンタン、1,4−テルピン、1,8−テルピン、ボルナン、ノルボルナン、ピナン、ツジャン、カラン、ロンギホレン、ゲラニオール、ネロール、リナロール、シトラール、シトロネロール、メントール、イソメントール、ネオメントール、α−テルピネオール、β−テルピネオール、γ−テルピネオール、テルピネン−1−オール、テルピネン−4−オール、ジヒドロターピニルアセテート、1,4−シネオール、1,8−シネオール、ボルネオール、カルボン、ヨノン、ツヨン、カンファー、d−リモネン、l−リモネン、ジペンテン等のテルペン系溶剤;γ−ブチロラクトン等のラクトン類;アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン(CH)、メチル−n−ペンチルケトン、メチルイソペンチルケトン、2−ヘプタノン等のケトン類;エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、ジプロピレングリコール等の多価アルコール類;エチレングリコールモノアセテート、ジエチレングリコールモノアセテート、プロピレングリコールモノアセテート、又はジプロピレングリコールモノアセテート等のエステル結合を有する化合物、前記多価アルコール類又は前記エステル結合を有する化合物のモノメチルエーテル、モノエチルエーテル、モノプロピルエーテル、モノブチルエーテル等のモノアルキルエーテル又はモノフェニルエーテル等のエーテル結合を有する化合物等の多価アルコール類の誘導体(これらの中では、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)が好ましい);ジオキサンのような環式エーテル類や、乳酸メチル、乳酸エチル(EL)、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、メトキシブチルアセテート、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシプロピオン酸エチル等のエステル類;アニソール、エチルベンジルエーテル、クレジルメチルエーテル、ジフェニルエーテル、ジベンジルエーテル、フェネトール、ブチルフェニルエーテル等の芳香族系有機溶剤、縮合多環式炭化水素等を挙げることができる。   As a diluting solvent for forming the separation layer and the adhesive layer described above, for example, hexane, heptane, octane, nonane, methyloctane, decane, undecane, dodecane, tridecane and the like linear hydrocarbons, carbon number 3 to 15 Branched hydrocarbons of the following: p-menthane, o-menthane, m-menthane, diphenylmenthane, 1,4-terpine, 1,8-terpin, bornane, norbornane, pinane, tsujang, kalan, longifolene, geraniol, nerol, Linalool, citral, citronellol, menthol, isomenthol, neomenthol, α-terpineol, β-terpineol, γ-terpineol, terpinen-1-ol, terpinen-4-ol, dihydroterpinyl acetate, 1,4-cineole, 1,8-cineole, Borneo Terpene solvents such as ru, carvone, ionone, thuyon, camphor, d-limonene, l-limonene, dipentene; lactones such as γ-butyrolactone; acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone (CH), methyl-n-pentyl ketone, methyl Ketones such as isopentyl ketone and 2-heptanone; polyhydric alcohols such as ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol and dipropylene glycol; ethylene glycol monoacetate, diethylene glycol monoacetate, propylene glycol monoacetate or dipropylene glycol monoacetate Compounds having an ester bond such as monomethyl ether, monoethyl ether, monopropyl of the polyhydric alcohols or the compound having an ester bond Derivatives of polyhydric alcohols such as ethers, monoalkyl ethers such as monobutyl ether or compounds having an ether bond such as monophenyl ether (in these, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), propylene glycol monomethyl ether (PGME) Preferred); cyclic ethers such as dioxane, methyl lactate, ethyl lactate (EL), methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, methoxybutyl acetate, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl methoxypropionate, ethoxy Esters such as ethyl propionate; aromatics such as anisole, ethyl benzyl ether, cresyl methyl ether, diphenyl ether, dibenzyl ether, phenetole, butyl phenyl ether It may be mentioned solvent, the condensed polycyclic hydrocarbons.

縮合多環式炭化水素とは、2つ以上の単環がそれぞれの環の辺を互いに1つだけ供給してできる縮合環の炭化水素であり、2つの単環が縮合されてなる炭化水素を用いることが好ましい。   The condensed polycyclic hydrocarbon is a condensed ring hydrocarbon in which two or more monocycles supply only one side of each ring to each other, and is a hydrocarbon obtained by condensing two monocycles. It is preferable to use it.

そのような炭化水素としては、5員環および6員環の組み合わせ、または2つの6員環の組み合わせが挙げられる。5員環および6員環を組み合わせた炭化水素としては、例えば、インデン、ペンタレン、インダン、テトラヒドロインデン等が挙げられ、2つの6員環を組み合わせた炭化水素としては、例えば、ナフタレン、テトラヒドロナフタリン(テトラリン)およびデカヒドロナフタリン(デカリン)等が挙げられる。   Such hydrocarbons include combinations of 5-membered and 6-membered rings, or combinations of two 6-membered rings. Examples of hydrocarbons combining 5-membered and 6-membered rings include indene, pentalene, indane, tetrahydroindene and the like. Examples of hydrocarbons combining two 6-membered rings include naphthalene, tetrahydronaphthalene ( Tetralin) and decahydronaphthalene (decalin).

〔保護層〕
保護層15は、分離層14の表面であってサポートプレート12と接着していない面のうち、少なくとも接着層13と重畳していない面を覆うものである。保護層15は、例えば、レジスト剥離処理(レジスト剥離工程)等の高温且つ長時間の薬品処理や、その後に行なわれる高温(例えば260℃)での加熱処理工程によって分離層14が変質しないように保護することができる。
[Protective layer]
The protective layer 15 covers at least the surface of the separation layer 14 that is not bonded to the support plate 12 and that does not overlap with the adhesive layer 13. The protective layer 15 is formed so that the separation layer 14 is not deteriorated by, for example, a high-temperature and long-time chemical treatment such as a resist stripping process (resist stripping process) or a heat treatment process performed at a high temperature (for example, 260 ° C.). Can be protected.

保護層15が覆う分離層14の面は、分離層14の表面であってサポートプレート12と接着していない面のうち、少なくとも接着層13と重畳していない面が含まれればよい。   The surface of the separation layer 14 covered by the protective layer 15 only needs to include at least the surface that does not overlap with the adhesive layer 13 among the surfaces of the separation layer 14 that are not bonded to the support plate 12.

つまり、本実施形態において、保護層15は、分離層14の表面であってサポートプレート12と接着していない面のうち、接着層13と重畳している面をも覆っている。しかし、本発明に係る積層体が備える保護層はこのような形態に限定されず、分離層の表面であって支持体と接着していない面のうち、接着層と重畳していない面のみを覆ってもよい。いずれの構成であっても、少なくとも分離層の表面であって支持体(サポートプレート)と接着していない面のうち、少なくとも接着層と重畳していない面を覆っているので、レジスト剥離処理等の高温且つ長時間の薬品処理によって分離層が変質しないように保護することができる。   That is, in the present embodiment, the protective layer 15 also covers the surface of the separation layer 14 that does not adhere to the support plate 12 and overlaps the adhesive layer 13. However, the protective layer provided in the laminate according to the present invention is not limited to such a form, and only the surface that is the surface of the separation layer and is not bonded to the support is not overlapped with the adhesive layer. It may be covered. Regardless of the configuration, at least the surface of the separation layer that is not bonded to the support (support plate) covers at least the surface that does not overlap the adhesive layer. The separation layer can be protected from being altered by high-temperature and long-time chemical treatment.

保護層15を形成する材料としては、積層体10に対して行なう処理に応じて適宜選択することができる。つまり、当該処理において用いる薬品、当該処理が行なわれる環境に対して、耐性を有する材料を適宜選択すればよい。例えば、積層体10を高温且つ長時間のレジスト剥離工程に供するのであれば、当該工程にて用いる剥離液に対して耐性を有するものを選択すればよい。   The material for forming the protective layer 15 can be appropriately selected according to the treatment performed on the stacked body 10. That is, a material having resistance to the chemical used in the treatment and the environment in which the treatment is performed may be appropriately selected. For example, if the laminate 10 is subjected to a high-temperature and long-time resist stripping step, a material having resistance to the stripping solution used in the step may be selected.

保護層15を形成する材料の具体例としては、例えば、接着剤が挙げられる。接着層13との接着性を向上させることができるからである。   Specific examples of the material for forming the protective layer 15 include an adhesive. This is because the adhesiveness with the adhesive layer 13 can be improved.

保護層15を接着剤で構成する場合、当該接着剤は接着層13を構成する接着剤と同一組成のものであってもよい。接着層13を構成する接着剤としては上述の通り、剥離液等に対する薬品耐性があるものを選択しているので、そのような接着剤で保護層15を形成すれば、良好に分離層14を保護することができる。   When the protective layer 15 is composed of an adhesive, the adhesive may have the same composition as the adhesive that constitutes the adhesive layer 13. As described above, the adhesive constituting the adhesive layer 13 is selected from those having chemical resistance to the stripping solution, etc. Therefore, if the protective layer 15 is formed with such an adhesive, the separation layer 14 can be satisfactorily formed. Can be protected.

また、保護層15を構成する接着剤は、接着層13を構成する接着剤と異なる組成のものであってもよい。ただし、そのような接着剤であっても、接着層13を構成する接着剤の候補となる接着剤であることがより好ましい。接着層13を構成する接着剤としては上述の通り、剥離液等に対する薬品耐性があるものから選択され得るので、そのような接着剤の候補となる接着剤で保護層15を形成すれば、良好に分離層14を保護することができる。   Further, the adhesive constituting the protective layer 15 may have a composition different from that of the adhesive constituting the adhesive layer 13. However, even such an adhesive is more preferably an adhesive that is a candidate for an adhesive constituting the adhesive layer 13. As described above, the adhesive constituting the adhesive layer 13 can be selected from those having chemical resistance to the stripping solution, etc. Therefore, if the protective layer 15 is formed with such an adhesive candidate, it is good In addition, the separation layer 14 can be protected.

保護層15を構成する材料の具体例としては、例えば、ブロック共重合体、シクロオレフィン系ポリマー等が挙げられる。これらは単独で用いてもよく、複数種を混合して用いてもよい。ブロック共重合体及びシクロオレフィン系ポリマーの説明は、上述の接着層13において行なった各成分の説明に準ずる。   Specific examples of the material constituting the protective layer 15 include a block copolymer and a cycloolefin polymer. These may be used alone or in combination of two or more. The description of the block copolymer and the cycloolefin-based polymer is in accordance with the description of each component performed in the adhesive layer 13 described above.

保護層15の膜の厚さは、例えば、1〜10μmであることが好ましい。保護層15の膜の厚さが、1μm以上であることにより、保護層15が高温且つ長時間の様々な薬品処理に良好に耐えることができる。保護層15の膜の厚さが10μm以下であることにより、基板11を積層体から分離する工程において、基板11を良好に分離できる。   The thickness of the protective layer 15 is preferably 1 to 10 μm, for example. When the thickness of the protective layer 15 is 1 μm or more, the protective layer 15 can withstand various chemical treatments at a high temperature for a long time. When the thickness of the protective layer 15 is 10 μm or less, the substrate 11 can be satisfactorily separated in the step of separating the substrate 11 from the laminate.

<積層体の製造方法>
次に本発明に係る積層体の製造方法について、図2を用いて説明する。図2は本発明に係る積層体の製造方法の一実施形態を示す図である。
<Method for producing laminate>
Next, the manufacturing method of the laminated body which concerns on this invention is demonstrated using FIG. FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of a method for producing a laminate according to the present invention.

上述の通り、本発明に係る積層体が備える保護層は、分離層の表面であって支持体と接着していない面のうち、少なくとも接着層と重畳していない面が含まれればよく、例えば、分離層の表面であって支持体と接着していない面のうち、接着層と重畳している面をも覆っているものであってもよく、また、分離層の表面であって支持体と接着していない面のうち、接着層と重畳していない面のみを覆ってもよいが、本実施形態では、積層体10のように、分離層の表面であって支持体と接着していない面のうち、接着層と重畳している面をも覆っているものを製造する場合について説明する。   As described above, the protective layer included in the laminate according to the present invention only needs to include at least the surface that is not superposed on the adhesive layer among the surfaces that are the surfaces of the separation layer and are not adhered to the support. Of the surface of the separation layer that is not bonded to the support, the surface overlapping the adhesion layer may also be covered, or the surface of the separation layer and the support However, in the present embodiment, the surface of the separation layer that is not bonded to the adhesive layer and is not bonded to the support as in the laminate 10 may be covered. A description will be given of the case of manufacturing a non-covered surface that also covers the surface overlapping the adhesive layer.

本発明に係る積層体の製造方法の一実施形態は、サポートプレート12上に、光を吸収することにより変質する分離層14を形成する分離層形成工程と、基板11上に接着層13を形成する接着層形成工程と、基板11と、接着層13と、分離層14と、サポートプレート12とをこの順に積層する積層工程と、を含み、分離層14の表面であってサポートプレート12と接着していない面のうち、積層工程において積層させたときに接着層13と重畳しない面を少なくとも覆う保護層15を形成する保護層形成工程を、積層工程の前にさらに含む。   In one embodiment of the method for manufacturing a laminate according to the present invention, a separation layer forming step for forming a separation layer 14 that is altered by absorbing light on a support plate 12 and an adhesive layer 13 on a substrate 11 are formed. An adhesive layer forming step, a substrate 11, an adhesive layer 13, a separation layer 14, and a laminating step for laminating the support plate 12 in this order, the surface of the separation layer 14 being bonded to the support plate 12. A protective layer forming step of forming a protective layer 15 that covers at least a surface that does not overlap with the adhesive layer 13 when being laminated in the laminating step is included before the laminating step.

〔分離層形成工程〕
分離層形成工程とは、図2に示すようにサポートプレート12上に、光を吸収することにより変質する分離層14を形成する工程である。分離層形成工程の具体的な方法としては、例えば、分離層14をフルオロカーボンで形成する場合、プラズマCVD法を用いる方法が挙げられる。
[Separation layer forming step]
The separation layer forming step is a step of forming a separation layer 14 that is altered by absorbing light on the support plate 12 as shown in FIG. As a specific method of the separation layer forming step, for example, when the separation layer 14 is formed of fluorocarbon, a method using a plasma CVD method may be mentioned.

〔接着層形成工程〕
接着層形成工程では、基板11上に接着層13を形成する。図2に示すように、基板11上に、前述の炭化水素系樹脂を主たる成分とし溶剤に溶解させた接着剤をスピン塗布する。そして、温度を上昇させつつ段階的にベークすることによって接着剤を固化させ、接着層13を形成する工程が例として挙げられる。なお、本発明に係る積層体の製造方法における接着層形成工程は、基板上又は分離層上に接着層を形成すればよい。つまり、本実施形態のように基板11上に接着層13を形成してもよく、分離層上に接着層を形成してもよい。分離層上に接着層を形成する形態においては、分離層の面であって支持層に接していない面のうち、接着層が形成されずに露出した面に後述の保護層を形成すればよい。
[Adhesive layer forming step]
In the adhesive layer forming step, the adhesive layer 13 is formed on the substrate 11. As shown in FIG. 2, an adhesive prepared by using the above-described hydrocarbon-based resin as a main component and dissolved in a solvent is spin-coated on the substrate 11. And the process which solidifies an adhesive agent by baking in steps, raising temperature, and forms the contact bonding layer 13 is mentioned as an example. In addition, what is necessary is just to form an contact bonding layer on a board | substrate or a separated layer in the contact bonding layer formation process in the manufacturing method of the laminated body which concerns on this invention. That is, the adhesive layer 13 may be formed on the substrate 11 as in the present embodiment, or the adhesive layer may be formed on the separation layer. In the form of forming the adhesive layer on the separation layer, a protective layer described later may be formed on the surface of the separation layer that is not in contact with the support layer and is exposed without the adhesion layer being formed. .

〔保護層形成工程〕
保護層形成工程とは、積層工程において積層させたときに分離層14の表面であってサポートプレート12と接着していない面のうち、接着層13と重畳しない面を少なくとも覆う保護層15を形成する工程である。図2に示すように、サポートプレート12上に形成された分離層14上に、前述のブロック共重合体や炭化水素樹脂を主たる成分とし溶剤に溶解させた保護剤をスピン塗布する。そして、温度を上昇させつつ段階的にベークすることによって保護剤を固化させ、保護層15を形成する工程が例として挙げられる。又、保護層15は接着層13の形成に用いられる接着剤により形成することもできる。
[Protective layer forming step]
The protective layer forming step is to form a protective layer 15 that covers at least the surface of the separation layer 14 that is not bonded to the support plate 12 and that is not bonded to the support plate 12 when stacked in the stacking step. It is a process to do. As shown in FIG. 2, on the separation layer 14 formed on the support plate 12, the above-mentioned block copolymer or hydrocarbon resin as a main component is spin-coated with a protective agent dissolved in a solvent. And the process which solidifies a protective agent by baking in steps, raising temperature, and forms the protective layer 15 is mentioned as an example. The protective layer 15 can also be formed by an adhesive used for forming the adhesive layer 13.

〔積層工程〕
積層工程とは、基板11と、接着層13と、分離層14と、サポートプレート12とを、この順に積層する工程である。積層工程の具体的な方法としては、図2に示すように、基板11上の保護層15が形成された面とサポートプレート12の接着層13が形成された面とを貼り合わせ、真空下でベークし圧着することで積層する方法が挙げられる。
[Lamination process]
The lamination process is a process of laminating the substrate 11, the adhesive layer 13, the separation layer 14, and the support plate 12 in this order. As a specific method of the laminating process, as shown in FIG. 2, the surface of the substrate 11 on which the protective layer 15 is formed and the surface of the support plate 12 on which the adhesive layer 13 is formed are bonded together under vacuum. A method of laminating by baking and pressure bonding is mentioned.

なお、本発明に係る積層体の製造方法では、基板と、接着層と、分離層と、支持体とがこの順に積層され、保護層が分離層と接着層とが重畳しない部分を少なくとも保護できるようにできれば、特に各工程の順序は限定されない。   In the method for manufacturing a laminate according to the present invention, the substrate, the adhesive layer, the separation layer, and the support are laminated in this order, and the protective layer can at least protect a portion where the separation layer and the adhesion layer do not overlap. If possible, the order of the steps is not particularly limited.

〔実施例1〕
(接着剤組成物の調製)
接着剤樹脂としてポリプラスチックス社製の「TOPAS(商品名)8007X10、シクロオレフィンコポリマー、Mw=95,000、Mw/Mn=1.9、ノルボルネン:エチレン=35:65(モル比)」100重量部を主溶剤であるデカヒドロナフタリン800重量部に溶解させた。次に熱重合禁止剤入りの酢酸ブチル溶液を接着剤樹脂100重量部に対して、熱重合禁止剤が1重量部、酢酸ブチルが20重量部となるように加えた。このようにして接着剤組成物を得た。
[Example 1]
(Preparation of adhesive composition)
“TOPAS (trade name) 8007 × 10, cycloolefin copolymer, Mw = 95,000, Mw / Mn = 1.9, norbornene: ethylene = 35: 65 (molar ratio)” 100 weight, manufactured by Polyplastics as an adhesive resin A part was dissolved in 800 parts by weight of decahydronaphthalene as a main solvent. Next, a butyl acetate solution containing a thermal polymerization inhibitor was added to 100 parts by weight of the adhesive resin so that the thermal polymerization inhibitor was 1 part by weight and the butyl acetate was 20 parts by weight. In this way, an adhesive composition was obtained.

(プロセス) 流量400sccm、圧力700mTorr、高周波電力2500W及び成膜温度240℃の条件下において、反応ガスとしてCを使用したCVD法により、分離層であるフルオロカーボン膜(厚さ1μm)を支持体(12インチガラス基板、厚さ700μm)上に形成し(分離層形成工程)、その上に上記接着剤組成物を塗布し、220℃で3分間のベークを行なうことで膜厚3μmの保護層を形成した(保護層形成工程)。12インチシリコンウエハには主溶剤が280重量部の上記接着剤組成物をスピン塗布して、100℃、160℃、200℃で各3分加熱して接着剤層を形成し(膜厚50μm)(接着層形成工程)、真空下220℃、4000Kgの条件で3分間、ガラス支持体と貼り合せを行ない積層体とした(積層工程)。 (Process) A fluorocarbon film (thickness 1 μm) as a separation layer is supported by a CVD method using C 4 F 8 as a reaction gas under conditions of a flow rate of 400 sccm, a pressure of 700 mTorr, a high frequency power of 2500 W, and a film forming temperature of 240 ° C. Formed on a body (12-inch glass substrate, thickness 700 μm) (separation layer forming step), coated with the above adhesive composition, and baked at 220 ° C. for 3 minutes to protect the film thickness of 3 μm A layer was formed (protective layer forming step). A 12-inch silicon wafer was spin-coated with the above adhesive composition having a main solvent of 280 parts by weight, and heated at 100 ° C., 160 ° C., and 200 ° C. for 3 minutes each to form an adhesive layer (film thickness 50 μm) (Adhesive layer forming step) Under a vacuum of 220 ° C. and 4000 kg for 3 minutes, the laminate was laminated with a glass support (lamination step).

(薬品耐性評価)
ウエハを40μmまで研削して、各種の剥離液・有機溶剤による薬品耐性評価を行った。剥離液としては、NMP(N−メチル−2−ピロリドン)、DMSO(ジメチルスルホキシド)、並びに東京応化工業株式会社製の剥離液であるStripper104及びStripper106(いずれも商品名)を用いた。評価条件は表1中に示した。また、目視による外観検査、並びに顕微鏡にてガラス側、基板側からエッジ部を観察し、その結果、剥がれ等の不具合が無いものを「○」、不具合があるものを「×」とした。
(Chemical resistance evaluation)
The wafer was ground to 40 μm and evaluated for chemical resistance with various stripping solutions and organic solvents. As the stripping solution, NMP (N-methyl-2-pyrrolidone), DMSO (dimethyl sulfoxide), and Stripper 104 and Stripper 106 (both trade names), which are stripping solutions manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd., were used. The evaluation conditions are shown in Table 1. Further, the appearance was visually inspected, and the edge portion was observed from the glass side and the substrate side with a microscope. As a result, “◯” indicates that there is no defect such as peeling, and “X” indicates that there is a defect.

本実施例の積層体では高温、長時間の剥離液浸漬試験での全て問題ない結果となった。   In the laminated body of the present Example, all the results in the high temperature and long time stripping solution immersion test were obtained.

(加熱処理評価)
上述した薬品耐性評価後の積層体を、それぞれ、260℃のN環境下で30分間、加熱処理を行なった。その後、目視による外観検査、並びに顕微鏡にてガラス側、基板側からエッジ部を観察し、その結果、剥がれ等の不具合が無いものを「○」、不具合があるものを「×」とした。
(Evaluation of heat treatment)
Each of the laminated bodies after the chemical resistance evaluation described above was subjected to heat treatment for 30 minutes in an N 2 environment at 260 ° C. Thereafter, the appearance was visually inspected, and the edge portion was observed from the glass side and the substrate side with a microscope. As a result, “◯” indicates that there is no defect such as peeling, and “X” indicates that there is a defect.

(分離評価)
上述した加熱処理評価後の積層体のそれぞれに対して、532nmの波長を有するレーザを、積層体の支持体側から分離層に向けて照射した。その結果、支持体の分離ができたものを「○」、分離ができなかったものを「×」とした。
(Separation evaluation)
A laser having a wavelength of 532 nm was irradiated from the support side of the laminate toward the separation layer for each of the laminates after the heat treatment evaluation described above. As a result, the case where the support could be separated was designated as “◯”, and the case where the support was not separated was designated as “x”.

〔実施例2〜13、比較例1〜4〕
支持体(ガラス)に塗布した接着剤樹脂、基板(ウエハ)に塗布した接着剤樹脂、及びこれらの膜厚を以下の表1に示すものに変更した以外は実施例1と同じ操作を行ない、同様に薬品耐性等を評価した。結果を表1に示す。
[Examples 2 to 13, Comparative Examples 1 to 4]
The same operation as in Example 1 was performed except that the adhesive resin applied to the support (glass), the adhesive resin applied to the substrate (wafer), and the film thickness thereof were changed to those shown in Table 1 below. Similarly, chemical resistance and the like were evaluated. The results are shown in Table 1.

Figure 0006006569
なお、表1中のAPEL8008T、Septon2004、HG252、TOPAS6017の詳細は次の通りである。
Figure 0006006569
The details of APEL8008T, Septon2004, HG252, and TOPAS6017 in Table 1 are as follows.

APEL8008T(三井化学社製):シクロドデセン:エチレン=20:80(モル比)、分子量100,000
Septon2004(クラレ社製):SEPS:ポリスチレン-ポリ(エチレン/プロピレン)ブロック)−ポリスチレン、スチレン含有量18重量%、分子量94,000
HG252(クラレ社製):SEEPS−OH:ポリスチレン-ポリ(エチレン-エチレン/プロピレン)ブロック−ポリスチレン 末端水酸基変性、スチレン含有量28重量%、分子量67000
TOPAS6017(ポリプラスチック社製):ノルボルネン:エチレン=58:42(モル比)、分子量82,000
また、比較例1〜4においては、薬品耐性を評価した結果、高温、長時間の剥離液浸漬試験で、全て剥がれが発生して、シリコンに凹凸が発生した。さらに260℃のN環境下における加熱処理工程後にはウエハが割れており、ガラスの分離も不可能であった。
APEL8008T (Mitsui Chemicals): cyclododecene: ethylene = 20: 80 (molar ratio), molecular weight 100,000
Septon 2004 (manufactured by Kuraray Co., Ltd.): SEPS: polystyrene-poly (ethylene / propylene) block) -polystyrene, styrene content 18% by weight, molecular weight 94,000
HG252 (manufactured by Kuraray Co., Ltd.): SEEPS-OH: polystyrene-poly (ethylene-ethylene / propylene) block-polystyrene terminal hydroxyl group modification, styrene content 28% by weight, molecular weight 67000
TOPAS6017 (manufactured by Polyplastics): norbornene: ethylene = 58: 42 (molar ratio), molecular weight 82,000
Moreover, in Comparative Examples 1-4, as a result of evaluating chemical resistance, peeling occurred in the high-temperature, long-time stripping solution immersion test, and unevenness occurred in silicon. Furthermore, after the heat treatment step in a N 2 environment at 260 ° C., the wafer was cracked, and it was impossible to separate the glass.

〔実施例14〕
12インチガラスに実施例1と同じ条件でプラズマCVD法にてフルオロカーボン膜を形成し(厚さ1μm)、その上に実施例1と同じ接着剤組成物を、ウエハのエッジから3mmに滴下しながらスピン塗布した。その後、実施例1と同じ条件で加熱して、膜厚3μmを確認した。以降のプロセスは実施例1と同様に行ない、評価を行なった。その結果、剥離液及び有機溶剤による薬品耐性が問題ないことを確認した。
Example 14
A fluorocarbon film is formed on 12-inch glass by the plasma CVD method under the same conditions as in Example 1 (thickness: 1 μm), and the same adhesive composition as in Example 1 is dropped on the wafer edge 3 mm from the edge of the wafer. Spin applied. Then, it heated on the same conditions as Example 1, and confirmed the film thickness of 3 micrometers. The subsequent processes were performed in the same manner as in Example 1 and evaluated. As a result, it was confirmed that there was no problem in chemical resistance due to the stripping solution and the organic solvent.

本発明に係る積層体及び積層体の製造方法は、例えば、微細化された半導体装置の製造工程において好適に利用することができる。   The stacked body and the manufacturing method of the stacked body according to the present invention can be suitably used, for example, in a manufacturing process of a miniaturized semiconductor device.

10 積層体
11 基板
12 サポートプレート(支持体)
13 接着層
14 分離層
15 保護層
10 Laminated body 11 Substrate 12 Support plate (support)
13 Adhesive layer 14 Separation layer 15 Protective layer

Claims (11)

基板と、接着層と、光を吸収することにより変質する分離層と、支持体とをこの順に積層してなり、
上記分離層の表面であって上記支持体と接着していない面のうち、少なくとも上記接着層と重畳していない面を覆う保護層をさらに備えており、
上記保護層を形成する材料は、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー(SIS)、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー(SBS)、スチレン−ブタジエン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SBBS)、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SEBS)、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEPS)、及び、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEEPS)からなる群から選ばれる1種であることを特徴とする積層体。
A substrate, an adhesive layer, a separation layer that is altered by absorbing light, and a support are laminated in this order,
Of the surface of the separation layer that is not bonded to the support, further comprising a protective layer that covers at least the surface that does not overlap with the adhesive layer ,
Materials for forming the protective layer are styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), styrene-butadiene-butylene-styrene block copolymer (SBBS), styrene-ethylene-butylene- It is one kind selected from the group consisting of styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEPS), and styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS). Laminated body.
基板と、接着層と、光を吸収することにより変質する分離層と、支持体とをこの順に積層してなり、A substrate, an adhesive layer, a separation layer that is altered by absorbing light, and a support are laminated in this order,
上記分離層の表面であって上記支持体と接着していない面のうち、少なくとも上記接着層と重畳していない面を覆う保護層をさらに備えており、Of the surface of the separation layer that is not bonded to the support, further comprising a protective layer that covers at least the surface that does not overlap with the adhesive layer,
上記保護層を形成する材料、及び上記接着層を形成する材料は、夫々、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー(SIS)、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー(SBS)、スチレン−ブタジエン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SBBS)、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SEBS)、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEPS)、及び、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEEPS)、及び、シクロオレフィン系ポリマーからなる群より選ばれる1種であることを特徴とする積層体。The material forming the protective layer and the material forming the adhesive layer are respectively styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), styrene-butadiene-butylene-styrene block. Copolymer (SBBS), styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEPS), and styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS), and A laminate comprising one type selected from the group consisting of cycloolefin polymers.
上記保護層は、上記分離層の表面であって上記支持体と接着していない面のうち、上記接着層と重畳している面をも覆うものであることを特徴とする請求項1又は2に記載の積層体。   The said protective layer covers the surface which overlaps with the said contact bonding layer among the surfaces which are the surfaces of the said separation layer, and are not adhere | attached on the said support body, The 1 or 2 characterized by the above-mentioned. The laminated body as described in. 上記保護層は、上記分離層の表面であって上記支持体と接着していない面のうち、上記接着層と重畳していない面のみを覆うものであることを特徴とする請求項1又は2に記載の積層体。   The said protective layer is a surface of the said separation layer, and covers only the surface which has not overlapped with the said contact bonding layer among the surfaces which are not adhere | attached on the said support body, The characterized by the above-mentioned. The laminated body as described in. 上記保護層は接着剤により構成されるものであることを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の積層体。   The said protective layer is comprised with an adhesive agent, The laminated body in any one of Claims 1-4 characterized by the above-mentioned. 上記接着層を構成する接着剤は、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー(SIS)、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー(SBS)、スチレン−ブタジエン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SBBS)、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SEBS)、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEPS)、及び、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEEPS)からなる群から選ばれる1種であることを特徴とする請求項1に記載の積層体。The adhesive constituting the adhesive layer includes styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), styrene-butadiene-butylene-styrene block copolymer (SBBS), and styrene-ethylene-butylene. -One type selected from the group consisting of styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEPS), and styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS). The laminate according to claim 1. 上記保護層を構成する接着剤は上記接着層を構成する接着剤と同一組成のものであることを特徴とする請求項5又は6に記載の積層体。   The laminated body according to claim 5 or 6, wherein the adhesive constituting the protective layer has the same composition as the adhesive constituting the adhesive layer. 上記保護層を構成する接着剤は上記接着層を構成する接着剤と異なる組成のものであることを特徴とする請求項5又は6に記載の積層体。   The laminate according to claim 5 or 6, wherein the adhesive constituting the protective layer has a composition different from that of the adhesive constituting the adhesive layer. 支持体上に、光を吸収することにより変質する分離層を形成する分離層形成工程と、
基板上又は上記分離層上に接着層を形成する接着層形成工程と、
上記基板と、上記接着層と、上記分離層と、上記支持体とをこの順に積層する積層工程と、を含み、
上記分離層の表面であって上記支持体と接着していない面のうち、上記積層工程において積層させたときに上記接着層と重畳しない面を少なくとも覆う保護層を形成する保護層形成工程を、上記積層工程の前にさらに含み、
上記保護層を形成する材料は、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー(SIS)、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー(SBS)、スチレン−ブタジエン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SBBS)、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SEBS)、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEPS)、及び、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEEPS)からなる群から選ばれる1種であることを特徴とする積層体の製造方法。
A separation layer forming step of forming a separation layer which is altered by absorbing light on the support;
An adhesive layer forming step of forming an adhesive layer on the substrate or on the separation layer;
A laminating step of laminating the substrate, the adhesive layer, the separation layer, and the support in this order,
A protective layer forming step of forming a protective layer that covers at least a surface that does not overlap with the adhesive layer when being laminated in the laminating step among the surfaces of the separation layer that are not bonded to the support; Furthermore, only including in front of the lamination process,
Materials for forming the protective layer are styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), styrene-butadiene-butylene-styrene block copolymer (SBBS), styrene-ethylene-butylene- It is one kind selected from the group consisting of styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEPS), and styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS). A method for manufacturing a laminate.
上記接着層を構成する接着剤は、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー(SIS)、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー(SBS)、スチレン−ブタジエン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SBBS)、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SEBS)、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEPS)、及び、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEEPS)からなる群から選ばれる1種であることを特徴とする請求項9に記載の積層体の製造方法。The adhesive constituting the adhesive layer includes styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), styrene-butadiene-butylene-styrene block copolymer (SBBS), and styrene-ethylene-butylene. -One type selected from the group consisting of styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEPS), and styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS). The manufacturing method of the laminated body of Claim 9. 支持体上に、光を吸収することにより変質する分離層を形成する分離層形成工程と、A separation layer forming step of forming a separation layer which is altered by absorbing light on the support;
基板上又は上記分離層上に接着層を形成する接着層形成工程と、An adhesive layer forming step of forming an adhesive layer on the substrate or on the separation layer;
上記基板と、上記接着層と、上記分離層と、上記支持体とをこの順に積層する積層工程と、を含み、A laminating step of laminating the substrate, the adhesive layer, the separation layer, and the support in this order,
上記分離層の表面であって上記支持体と接着していない面のうち、上記積層工程において積層させたときに上記接着層と重畳しない面を少なくとも覆う保護層を形成する保護層形成工程を、上記積層工程の前にさらに含み、A protective layer forming step of forming a protective layer that covers at least a surface that does not overlap with the adhesive layer when being laminated in the laminating step among the surfaces of the separation layer that are not bonded to the support; Further including before the lamination step,
上記保護層を形成する材料、及び上記接着層を形成する材料は、夫々、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー(SIS)、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー(SBS)、スチレン−ブタジエン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SBBS)、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SEBS)、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEPS)、及び、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEEPS)、及び、シクロオレフィン系ポリマーからなる群より選ばれる1種であることを特徴とする積層体の製造方法。The material forming the protective layer and the material forming the adhesive layer are respectively styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), styrene-butadiene-butylene-styrene block. Copolymer (SBBS), styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEPS), and styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS), and A method for producing a laminate, which is one type selected from the group consisting of cycloolefin polymers.
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