JP5988883B2 - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents
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Description
近年、眼科用OCT装置において、眼底組織の形状をイメージングする通常のOCT画像に加えて、眼底組織の光学特性の一つである偏光パラメータ(リターデーションとオリエンテーション)を用いてイメージングする偏光OCT画像が取得されている。
偏光OCTは、偏光パラメータを利用して、偏光OCT画像を構成し、眼底組織の区別やセグメンテーションを行うことができる。偏光OCTは、試料を観察する測定光に円偏光に変調した光を用い、干渉光を2つの直交する直線偏光として分割して検出し、偏光OCT画像を生成する(特許文献1参照)。
本件の目的の一つは、ユーザが偏光状態を示す画像を効率的に確認できるように画像を提示することである。
なお、前記目的に限らず、後述する発明を実施するための形態に示す各構成により導かれる作用効果であって、従来の技術によっては得られない作用効果を奏することも本件の他の目的の1つとして位置付けることができる。
被検体の平面画像を取得する平面画像取得手段と、
測定光を照射した前記被検体からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、該被検体の偏光状態を示す断層画像を取得する断層画像取得手段と、
表示手段に表示された前記偏光状態を示す断層画像上の一部分が指定手段により指定された場合に前記指定手段により指定された部分に対応する位置を示す位置情報を前記表示手段に表示された前記平面画像上に表示させる表示制御手段と、
を備える。
図1は、本実施形態における撮影装置の一例である「眼科装置」の全体構成の概略図である。なお、後述する信号処理部190の少なくとも一部を「画像処理装置」とみなすことができ、また、この場合、「眼科装置」全体を「眼科システム」、あるいは「撮影装置」全体を「撮影システム」とみなすこともできる。
PS−OCT100の構成について説明する。
イバカップラ104に導かれ、測定光(以下、「断層画像用の測定光」や「OCT測定光」ともいう)と、測定光に対応する参照光とに分割される。
PS−SLO140の構成について説明する。
光源141は、半導体レーザであり、本実施例では、例えば、中心波長780nmの光を出射する。光源141から出射された測定光(以下、「眼底画像用の測定光」や「SLO測定光」ともいう)は、PMファイバ142を介し、偏光コントローラ145で直線偏光になるよう偏光制御され、コリメータ143から平行光として出射される。出射された測定光は穴あきミラー144の穴あき部を通過し、レンズ155を介し、眼底Erにおいて測定光を水平方向にスキャンするガルバノミラーから構成されるXスキャナ146、レンズ147、148、眼底Erにおいて測定光を垂直方向にスキャンするガルバノミラーから構成されるYスキャナ149を介し、ダイクロイックミラー154に到達する。Xスキャナ146、Yスキャナ149は駆動制御部180により制御され、眼底上で所望の範囲を測定光で走査できる。なお、Xスキャナ146、Yスキャナ149は、PS−SLO用の走査手段の一例であり、共通のXYスキャナとして構成しても良い。ダイクロイックミラー154は、760nm〜800nmを反射し、それ以外の光を透過する特性を有する。
前眼部撮像部160について説明する。
前眼部撮像部160は、波長1000nmの照明光を発するLED115−a、115−bから成る照明光源115により前眼部Eaを照射する。前眼部Eaで反射され光は、レンズ114、偏光板113、レンズ112、ダイクロイックミラー111、154を介し、ダイクロイックミラー161に達する。ダイクロイックミラー161は、980nm〜1100nmの光を反射し、それ以外の光を透過する特性を有する。ダイクロイックミラー161で反射された光は、レンズ162、163、164を介し、前眼部カメラ165で受光される。前眼部カメラ165で受光された光は、電気信号に変換され、信号処理部190で受ける。
内部固視灯170について説明する。
内部固視灯170は、内部固視灯用表示部171、レンズ172で構成される。内部固視灯用表示部171として複数の発光ダイオード(LD)がマトリックス状に配置されたものを用いる。発光ダイオードの点灯位置は、駆動制御部180の制御により撮像したい部位に合わせて変更される。内部固視灯用表示部171からの光は、レンズ172を介し、被検眼に導かれる。内部固視灯用表示部171から出射される光は520nmで、制御部180により所望のパターンが表示される。
本装置全体を制御するための制御部200について説明する。
制御部200は、駆動制御部180、信号処理部190、表示制御部191、表示部192から構成される。
駆動制御部180は、上述の通り各部を制御する。
信号処理部190は、ラインカメラ129及び133、APD152及び153、前眼部カメラ165からそれぞれ出力される信号に基づき、画像の生成、生成された画像の解析、解析結果の可視化情報の生成を行う。なお、画像の生成などの詳細については、後述する。
次に、信号処理部190における画像生成、画像解析について説明する。
信号処理部190は、ラインカメラ129、133から出力されたそれぞれの干渉信号に対して、一般的なSD−OCT(Spectral Domain OCT)に用いられる再構成処理を行うことで、各偏光成分に基づいた2つの断層画像である第一の偏光に対応する断層画像と、第二の偏光に対応する断層画像とを生成する。
信号処理部190は、前述した2つの断層信号から断層輝度画像を生成する。
断層輝度画像は従来のOCTにおける断層画像と基本的に同じもので、その画素値rは各ラインセンサ129、133から得られた断層信号AHおよびAVから式1によって計算される。
・・・(式1)
また、同様に、2つの眼底画像から眼底輝度画像を生成する。
信号処理部190は、互いに直行する偏光成分の断層画像からリターデーション画像を生成する。
図2(b)は、このように生成された視神経乳頭部のリターデーション画像の例を示したものであり、各Bスキャン画像に対して式2を計算することによって得ることができる。ここで、上述した通り、リターデーション画像は、2つの偏光が被検眼で受ける影響の違いを示す断層画像のことである。図2(b)は、上記比を示す値を断層画像としてカラーで表示しており、濃淡の濃い場所は上記比を示す値が小さく、濃淡の淡い場所は上記比を示す値が大きいことを表している。そのため、リターデーション画像を生成することにより、複屈折性のある層を把握することが可能となる。なお、詳細は、「E. Gotzinger et al., Opt. Express 13, 10217, 2005」に記載されている通りである。
信号処理部190は、複数のBスキャン像に対して得たリターデーション(Retardation)画像からリターデーションマップを生成する。
信号処理部190は、先に生成されたリターデーション画像の各Aスキャン画像において、ILMからRNFLの範囲でリターデーションδの値を線形近似し、その傾きを当該Aスキャン画像の網膜上の位置における複屈折として決定する。すなわち、リターデーションはRNFLにおける距離と複屈折と積であるため、各Aスキャン画像において深さとリターデーションの値をプロットすると線形の関係が得られる。したがって、このプロットに対して最小二乗法等により線形近似を行い、その傾きを求めればそれが当該Aスキャン画像におけるRNFLの複屈折の値となる。この処理を取得した全てのリターデーション画像に対して行うことで、複屈折を表すマップを生成する。
信号処理部190は、取得した断層信号AH、AVとそれらの間の位相差ΔΦから、各画素毎にストークスベクトルSを式3により計算する。
ただし、ΔΦは2つの断層画像を計算する際に得られる各信号の位相ΦHとΦVからΔΦ=ΦV−ΦHとして計算する。
ただし、Qm、Um、Vmは各ウィンドウ内のストークスベクトルの要素Q,U,Vを平均した値である。この処理をBスキャン画像内の全てのウィンドウに対して行うことで、図2(e)に示す視神経乳頭部のDOPU画像)が生成される。ここで、上述した通り、DOPU画像は、2つの偏光の均一度を示す断層画像のことである。
信号処理部190は、前述した輝度画像を用いて断層画像のセグメンテーションを行う。
次に本画像処理装置による処理動作について説明する。
まず、ステップS101において、被検眼を本装置に配置した状態で、本装置と被検眼のアライメントを行う。アライメントの説明に関して、本実施形態に特有な処理について説明し、ワーキングディスタンス等のXYZ方向のアライメント、フォーカス、コヒーレンスゲートの調整等は一般的であるのでその説明は省略する。
図4は、調整時に表示部192に表示されるウィンドウ400を示している。図において、第一の表示領域の一例である表示領域410には、PS−SLO140で撮像され、信号処理部190で生成された眼底画像411が表示され、眼底画像411上に、PS−OCT100の撮像範囲(取得範囲、取得位置とも言う)を示す枠412が重畳表示されている。
λ/4偏光板113の調整について説明する。
画像を用いた微フォーカス調整を行っても良い。
ステップS102〜S104において、光源101、光源141からそれぞれ測定光を出射して、網膜Erからの戻り光を、ラインカメラ129、133、APD152、153で受光して、信号処理部190で、前述の通り各画像を生成・解析する。
次に、生成した各画像及び解析した結果の出力処理ステップS105について説明する。
もちろん、画像に重ねて表示させずに、画像の上側や横側に表示させても良く、画像と対応させるように表示させれば良い。
次に、表示部192に表示された種々の画像に対して操作を行った場合の表示部192の表示形式について説明する。
また、サークル1013−1〜1013−4のそれぞれの近傍に「1」〜「4」等の順序を示す表示する場合には、DOPU画像1021上に表示される複数のサークルのそれぞれの近傍にも同様の表示を行うこととしてもよい。
なお、λ/4偏光板113を光路から抜いた状態で撮像を行うことでも、眼底カメラで得られる眼底画像と同様の画像を得ることができる。
本件は上記の実施形態に限定されるものではなく、本件の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。例えば、眼底画像511として眼底輝度画像が用いられる場合について述べているが、これに限定されるものではなく、例えば、眼底画像511に代えて眼底平面方向のリターデーション画像または眼底平面方向のDOPU画像を用いることとしてもよい。
Claims (28)
- 被検体の平面画像を取得する平面画像取得手段と、
測定光を照射した前記被検体からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、該被検体の偏光状態を示す断層画像を取得する断層画像取得手段と、
表示手段に表示された前記偏光状態を示す断層画像上の一部分が指定手段により指定された場合に前記指定手段により指定された部分に対応する位置を示す位置情報を前記表示手段に表示された前記平面画像上に表示させる表示制御手段と、
を備えたことを特徴とする画像処理装置。 - 前記表示制御手段は、前記平面画像と前記偏光状態を示す断層画像とを並べて前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
- 前記表示制御手段は、前記指定手段により前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す断層画像上の複数の部分が指定された場合、前記指定手段により指定された複数の部分に対応する複数の前記位置情報を前記平面画像上に表示させることを特徴とする請求項1または請求項2記載の画像処理装置。
- 前記表示制御手段は、前記偏光状態を示す断層画像上の複数の部分が指定された順序に応じて、前記複数の位置情報を異なる形態で表示させることを特徴とする請求項3記載の画像処理装置。
- 前記表示制御手段は、前記指定手段により前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す断層画像上の複数の部分が指定された場合、前記指定手段により指定された複数の部分に対応する複数の前記位置情報のうち、前記指定手段により指定された複数の部分のうち最後に指定された部分に対応する前記位置情報のみを前記平面画像上に表示させることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
- 前記平面画像取得手段は、前記断層画像取得手段によって取得された複数の前記偏光状態を示す断層画像に基づいて前記平面画像を取得することを特徴とする請求項1〜5のいいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記平面画像取得手段は、光を照射した前記被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記被検体の偏光状態を示す平面画像を取得し、
前記表示制御手段は、前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す断層画像上の一部分が前記指定手段により指定された場合に前記指定手段により指定された部分に対応する位置を示す位置情報を前記表示手段に表示された前記被検体の偏光状態を示す平面画像上に表示させることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。 - 前記断層画像取得手段は、前記被検体の偏光状態を示す3次元の断層画像を取得し、前記平面画像取得手段は、前記偏光状態を示す3次元の断層画像に基づいて、前記被検体の偏光状態を示す平面画像を取得し、
前記表示制御手段は、前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す断層画像上の一部分が前記指定手段により指定された場合に前記指定手段により指定された部分に対応する位置を示す位置情報を前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す平面画像上に表示させることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。 - 前記表示制御手段は、前記偏光状態を示す平面画像と前記偏光状態を示す断層画像とを前記表示手段に並べて表示させることを特徴とする請求項7または8記載の画像処理装置。
- 前記平面画像取得手段は、光を照射した前記被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記被検体の偏光状態を示す平面画像を取得し
前記断層画像取得手段は、測定光を照射した前記被検体からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検体の断層輝度画像を取得し、前記表示制御手段は、前記表示手段に表示された前記断層輝度画像上の一部分が指定手段により指定された場合に前記指定手段により指定された部分に対応する位置を示す位置情報を前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す平面画像上に表示させることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。 - 前記表示制御手段は、前記偏光状態を示す平面画像と前記断層輝度画像とを前記表示手段に並べて表示させることを特徴とする請求項10記載の画像処理装置。
- 前記偏光状態を示す断層画像が、リターデーション画像、DOPU画像を含むことを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記偏光状態を示す平面画像が、リターデーション画像、DOPU画像を含むことを特徴とする請求項7〜11のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記平面画像取得手段は、光を照射した前記被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記被検体の平面輝度画像を取得し、
前記表示制御手段は、前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す断層画像上の一部分が前記指定手段により指定された場合に前記指定手段により指定された部分に対応する位置を示す位置情報を前記表示手段に表示された前記平面輝度画像上に表示させることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。 - 前記表示制御手段は、前記平面輝度画像と前記偏光状態を示す断層画像とを前記表示手段に並べて表示させることを特徴とする請求項14記載の画像処理装置。
- 前記互いに異なる偏光の光を検出する検出手段を備えた撮影装置と通信可能に接続され、
前記断層画像取得手段は、前記検出手段により検出された前記互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号に基づいて、前記偏光状態を示す断層画像を取得することを特徴とする請求項1〜15のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記表示制御手段は、前記指定手段により指定された前記部分に対応する位置に存在する層の連続する長さに応じて異なるサイズの前記位置情報を、前記平面画像上に表示させることを特徴とする請求項1〜16のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記表示制御手段は、前記指定手段により前記部分が指定された前記偏光状態を示す断層画像の偏光特性に応じて異なる種類の前記位置情報を、前記平面画像上に表示させることを特徴とする請求項1〜17のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 被検体の偏光状態を示す平面画像を取得する平面画像取得手段と、
測定光を照射した前記被検体からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検体の断層輝度画像を取得する断層画像取得手段と、
表示手段に表示された前記断層輝度画像上の一部分が指定手段により指定された場合に前記指定手段により指定された部分に対応する位置を示す位置情報を前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す平面画像上に表示させる表示制御手段と、
を備えたことを特徴とする画像処理装置。 - 前記表示制御手段は、前記偏光状態を示す平面画像と前記断層輝度画像とを前記表示手段に並べて表示させることを特徴とする請求項19記載の画像処理装置。
- 前記平面画像取得手段は、光を照射した前記被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記被検体の偏光状態を示す平面画像を取得することを特徴とする請求項19記載の画像処理装置。
- 前記断層画像取得手段は、前記測定光を照射した前記被検体からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記断層輝度画像及び前記被検体の偏光状態を示す3次元の断層画像を取得し、
前記平面画像取得手段は、前記偏光状態を示す3次元の断層画像に基づいて、前記被検体の偏光状態を示す平面画像を取得することを特徴とする請求項19記載の画像処理装置。 - 前記互いに異なる偏光の光を検出する検出手段を備えた撮影装置と通信可能に接続され、
前記断層画像取得手段は、前記検出手段により検出された前記互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号に基づいて、前記断層輝度画像及び前記偏光状態を示す3次元の断層画像を取得することを特徴とする請求項22記載の画像処理装置。 - 前記表示制御手段は、前記指定手段により指定された前記部分に対応する位置に存在する層の連続する長さに応じて異なるサイズの前記位置情報を、前記偏光状態を示す平面画像上に表示させることを特徴とする請求項19〜23のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記被検体は、被検眼であることを特徴とする請求項1〜24のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 被検体の平面画像を取得する平面画像取得工程と、
測定光を照射した前記被検体からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、該被検体の偏光状態を示す断層画像を取得する断層画像取得工程と、
前記平面画像と前記偏光状態を示す断層画像とを表示手段に並べて表示させるとともに、前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す断層画像上の一部分が指定手段により指定された場合に前記指定手段により指定された部分に対応する前記偏光状態を示す断層画像上の位置を示す位置情報を前記平面画像上に表示させる表示制御工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。 - 被検体の偏光状態を示す平面画像を取得する平面画像取得工程と、
測定光を照射した前記被検体からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検体の断層輝度画像を取得する断層画像取得工程と、
表示手段に表示された前記断層輝度画像上の一部分が指定手段により指定された場合に前記指定手段により指定された部分に対応する位置を示す位置情報を前記表示手段に表示された前記偏光状態を示す平面画像上に表示させる表示制御工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。 - 請求項26または27記載の画像処理方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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