JP5944254B2 - 放射線画像取得装置 - Google Patents
放射線画像取得装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5944254B2 JP5944254B2 JP2012161919A JP2012161919A JP5944254B2 JP 5944254 B2 JP5944254 B2 JP 5944254B2 JP 2012161919 A JP2012161919 A JP 2012161919A JP 2012161919 A JP2012161919 A JP 2012161919A JP 5944254 B2 JP5944254 B2 JP 5944254B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- imaging
- wavelength conversion
- unit
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 95
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 125
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 117
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 63
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 16
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 13
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 3
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000018936 Vitellaria paradoxa Nutrition 0.000 description 1
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3306—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object rotates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3308—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object translates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/424—Imaging energy substraction image processing (dual energy processing)
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/50—Detectors
- G01N2223/505—Detectors scintillation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/611—Specific applications or type of materials patterned objects; electronic devices
- G01N2223/6113—Specific applications or type of materials patterned objects; electronic devices printed circuit board [PCB]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/611—Specific applications or type of materials patterned objects; electronic devices
- G01N2223/6116—Specific applications or type of materials patterned objects; electronic devices semiconductor wafer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
Claims (10)
- 対象物に向けて放射線を出射する放射線源と、
前記対象物を保持する保持部と、
前記放射線源から出射され、対象物を透過した前記放射線の入射に応じてシンチレーション光を発生させる波長変換部材と、
前記波長変換部材の前記放射線の入射面から出射されるシンチレーション光を集光して撮像する第1の撮像手段と、
前記波長変換部材の前記入射面とは反対側の面から出射されるシンチレーション光を集光して撮像する第2の撮像手段と、
前記放射線源と前記波長変換部材との間で前記保持部の位置を調整する保持部位置調整手段と、
前記第1の撮像手段の位置を調整する撮像位置調整手段と、を備え、
前記撮像位置調整手段は、前記第1の撮像手段の光軸と前記波長変換部材の前記入射面とが交わる点を回転中心として、前記第1の撮像手段を回転させることを特徴とする放射線画像取得装置。 - 前記撮像位置調整手段は、前記第1の撮像手段の光軸と前記波長変換部材の前記入射面とがなす角度を保ちながら、前記第1の撮像手段と前記波長変換部材とを回転させることを特徴とする請求項1記載の放射線画像取得装置。
- 前記撮像位置調整手段は、前記第2の撮像手段の光軸と前記波長変換部材の前記反対側の面とがなす角度を保ちながら、前記第1の撮像手段と前記波長変換部材と前記第2の撮像手段とを回転させることを特徴とする請求項2記載の放射線画像取得装置。
- 前記第1の撮像手段の視野に前記対象物が入っているか否かを検出する検出手段を備えることを特徴とする請求項3記載の放射線画像取得装置。
- 前記検出手段は、前記第1の撮像手段によって撮像された第1の画像および前記第2の撮像手段によって撮像された第2の画像に基づいて、前記第1の撮像手段の視野に前記対象物が入っているか否かを検出することを特徴とする請求項4記載の放射線画像取得装置。
- 前記検出手段は、前記第1の画像と前記第2の画像との光強度差に基づいて、前記第1の撮像手段の視野に前記対象物が入っているか否かを検出することを特徴とする請求項5記載の放射線画像取得装置。
- 前記検出手段は、前記第1の画像と前記第2の画像との差分画像に基づいて、前記第1の撮像手段の視野に前記対象物が入っているか否かを検出することを特徴とする請求項5記載の放射線画像取得装置。
- 前記検出手段は、前記第1の画像と前記第2の画像との輝度の比に基づいて、前記第1の撮像手段の視野に前記対象物が入っているか否かを検出することを特徴とする請求項5記載の放射線画像取得装置。
- 前記検出手段は、前記保持部位置調整手段によって前記保持部が動かされる間に前記第1の撮像手段によって連続して撮像された連続画像に基づいて、前記第1の撮像手段の視野に前記対象物が入っているか否かを検出することを特徴とする請求項5記載の放射線画像取得装置。
- 前記第1の撮像手段、前記波長変換部材、および前記第2の撮像手段の回転角度に基づいて、前記第1の撮像手段によって撮像された第1の画像および前記第2の撮像手段によって撮像された第2の画像の画像演算を行う画像演算手段を備えることを特徴とする請求項3〜9のいずれか一項に記載の放射線画像取得装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012161919A JP5944254B2 (ja) | 2012-07-20 | 2012-07-20 | 放射線画像取得装置 |
EP13820529.9A EP2876466B1 (en) | 2012-07-20 | 2013-06-18 | Radiation image acquisition device |
PCT/JP2013/066742 WO2014013829A1 (ja) | 2012-07-20 | 2013-06-18 | 放射線画像取得装置 |
US14/415,273 US9500600B2 (en) | 2012-07-20 | 2013-06-18 | Radiation image acquisition system |
CN201380038705.6A CN104487868B (zh) | 2012-07-20 | 2013-06-18 | 放射线图像取得装置 |
CN201610973428.3A CN106896398B (zh) | 2012-07-20 | 2013-06-18 | 放射线图像取得装置 |
US15/337,256 US10234406B2 (en) | 2012-07-20 | 2016-10-28 | Radiation image acquisition system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012161919A JP5944254B2 (ja) | 2012-07-20 | 2012-07-20 | 放射線画像取得装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016037356A Division JP6345720B2 (ja) | 2016-02-29 | 2016-02-29 | 放射線画像取得装置および放射線画像取得装置の調整方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014021015A JP2014021015A (ja) | 2014-02-03 |
JP5944254B2 true JP5944254B2 (ja) | 2016-07-05 |
Family
ID=49948664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012161919A Active JP5944254B2 (ja) | 2012-07-20 | 2012-07-20 | 放射線画像取得装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9500600B2 (ja) |
EP (1) | EP2876466B1 (ja) |
JP (1) | JP5944254B2 (ja) |
CN (2) | CN106896398B (ja) |
WO (1) | WO2014013829A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5792472B2 (ja) | 2011-01-25 | 2015-10-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得装置 |
JP5944254B2 (ja) * | 2012-07-20 | 2016-07-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得装置 |
WO2017056680A1 (ja) | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得システムおよび放射線画像取得方法 |
JP6738363B2 (ja) | 2018-03-09 | 2020-08-12 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得システムおよび画像取得方法 |
US11009449B2 (en) * | 2018-04-20 | 2021-05-18 | Fei Company | Scanning trajectories for region-of-interest tomograph |
EP3690429B1 (en) * | 2019-02-04 | 2021-11-03 | MICROTEC S.r.l. | Tunnel ct scanner |
JP6719004B1 (ja) | 2019-02-27 | 2020-07-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | 撮像ユニットおよび放射線画像取得システム |
JP7265505B2 (ja) | 2020-06-15 | 2023-04-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得システムおよび撮像ユニット |
JP7250891B2 (ja) * | 2020-07-17 | 2023-04-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得システムおよび画像取得方法 |
JP6985557B2 (ja) * | 2020-07-17 | 2021-12-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得システムおよび画像取得方法 |
US20230400421A1 (en) * | 2020-11-25 | 2023-12-14 | Hamamatsu Photonics K.K. | Imaging unit and imaging system |
Family Cites Families (55)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4578803A (en) * | 1981-12-07 | 1986-03-25 | Albert Macovski | Energy-selective x-ray recording and readout system |
JPS6195299A (ja) | 1984-10-16 | 1986-05-14 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線像形成方法 |
JPH0795100B2 (ja) | 1986-09-24 | 1995-10-11 | 株式会社日立メデイコ | X線荷物検査装置 |
US5864146A (en) * | 1996-11-13 | 1999-01-26 | University Of Massachusetts Medical Center | System for quantitative radiographic imaging |
JPH05152391A (ja) | 1991-12-02 | 1993-06-18 | Fujitsu Ltd | X線検査装置 |
JPH05312734A (ja) * | 1992-05-11 | 1993-11-22 | Fujitsu Ltd | X線検出方法 |
JPH0727866A (ja) | 1993-07-14 | 1995-01-31 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線検出器 |
JPH0861941A (ja) | 1994-08-23 | 1996-03-08 | Toshiba Corp | 放射線検査装置 |
JP3269742B2 (ja) | 1994-10-12 | 2002-04-02 | 富士写真フイルム株式会社 | 蓄積性蛍光体シート |
US5886353A (en) * | 1995-04-21 | 1999-03-23 | Thermotrex Corporation | Imaging device |
CA2254877A1 (en) | 1996-05-13 | 1997-11-20 | Andrew Karellas | A system for quantitative radiographic imaging |
CN1092797C (zh) * | 1996-11-20 | 2002-10-16 | 中国科学技术大学 | 剂量场分布成象测量方法及装置 |
US6180946B1 (en) | 1997-04-17 | 2001-01-30 | Lexitek, Inc. | Radiation camera with high spatial, temporal, and energy resolution |
JPH11211677A (ja) * | 1998-01-23 | 1999-08-06 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | X線透過式内部判定装置 |
JP3474765B2 (ja) | 1998-03-17 | 2003-12-08 | 富士写真フイルム株式会社 | 画像記録・読み取りシステム |
JP2000039407A (ja) * | 1998-07-19 | 2000-02-08 | Elco:Kk | X線異物検査装置 |
JP2000298198A (ja) | 1999-02-08 | 2000-10-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像データ取得方法および装置 |
US6392237B1 (en) | 1999-02-08 | 2002-05-21 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method and apparatus for obtaining radiation image data |
JP2001004561A (ja) | 1999-06-17 | 2001-01-12 | On Denshi Kk | 基板検査装置 |
JP2001099996A (ja) | 1999-09-29 | 2001-04-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | 蓄積性蛍光体シート |
JP2001299733A (ja) | 2000-04-27 | 2001-10-30 | Konica Corp | Pci放射線画像処理装置、pci放射線画像検出処理装置、pci放射線画像出力装置及びpci画像診断支援装置 |
US6457860B1 (en) | 2001-01-10 | 2002-10-01 | Eastman Kodak Company | Light-weight imaging assemblies for oncology portal imaging |
US6510195B1 (en) | 2001-07-18 | 2003-01-21 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Solid state x-radiation detector modules and mosaics thereof, and an imaging method and apparatus employing the same |
JP4237966B2 (ja) | 2002-03-08 | 2009-03-11 | 浜松ホトニクス株式会社 | 検出器 |
US7019304B2 (en) | 2003-10-06 | 2006-03-28 | General Electric Company | Solid-state radiation imager with back-side irradiation |
US7130375B1 (en) * | 2004-01-14 | 2006-10-31 | Xradia, Inc. | High resolution direct-projection type x-ray microtomography system using synchrotron or laboratory-based x-ray source |
JP4494026B2 (ja) | 2004-01-21 | 2010-06-30 | 名古屋電機工業株式会社 | X線検査装置、x線検査方法およびx線検査装置の制御プログラム |
JP2007139604A (ja) | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 放射線用シンチレータプレート |
JP2007155653A (ja) | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Olympus Corp | 放射線観察装置 |
US7405406B1 (en) * | 2006-04-21 | 2008-07-29 | Radiation Monitoring Devices, Inc. | Two-sided scintillation detectors and related methods |
US7834321B2 (en) | 2006-07-14 | 2010-11-16 | Carestream Health, Inc. | Apparatus for asymmetric dual-screen digital radiography |
JPWO2008044439A1 (ja) | 2006-10-06 | 2010-02-04 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 骨塩量測定装置 |
US7692162B2 (en) | 2006-12-21 | 2010-04-06 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Imaging of two-dimensional arrays |
JP4853964B2 (ja) | 2006-12-28 | 2012-01-11 | 株式会社Ihi検査計測 | X線検査装置用のx線センサ |
US20090121142A1 (en) | 2007-07-20 | 2009-05-14 | Bjorn Heismann | Radiation detector module, radiation detector and imaging tomography device |
JP2007327967A (ja) | 2007-07-30 | 2007-12-20 | Toshiba Corp | 放射線弁別測定装置 |
CN101371787B (zh) * | 2007-08-24 | 2010-09-15 | 深圳市蓝韵实业有限公司 | 一种放射摄影探测器光路系统测试装置及测试方法 |
JP2009222578A (ja) | 2008-03-17 | 2009-10-01 | Toshiba Corp | X線固体検出器、x線固体検出方法及びx線ct装置 |
JP5136478B2 (ja) * | 2009-03-17 | 2013-02-06 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮影装置 |
JP5564303B2 (ja) | 2009-06-12 | 2014-07-30 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | X線透過検査装置 |
CN101937095B (zh) * | 2009-06-30 | 2012-05-09 | 同方威视技术股份有限公司 | 双能x射线探测器及双能x射线探测器阵列装置 |
JP5467830B2 (ja) | 2009-09-18 | 2014-04-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置 |
JP5176081B2 (ja) | 2010-01-18 | 2013-04-03 | 株式会社吉田製作所 | X線撮影方法およびx線撮影装置 |
JP4902753B2 (ja) * | 2010-01-29 | 2012-03-21 | 株式会社日立製作所 | 放射線撮像装置およびコリメータの位置推定方法 |
JP5844545B2 (ja) | 2010-05-31 | 2016-01-20 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影装置 |
JP5890099B2 (ja) * | 2011-01-25 | 2016-03-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得装置 |
JP5784916B2 (ja) * | 2011-01-25 | 2015-09-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得装置 |
JP2012154736A (ja) | 2011-01-25 | 2012-08-16 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線画像取得装置 |
JP5792472B2 (ja) * | 2011-01-25 | 2015-10-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得装置 |
JP5117584B2 (ja) * | 2011-01-25 | 2013-01-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | シンチレータプレート |
CN103975233B (zh) | 2012-02-06 | 2017-01-04 | 株式会社日立高新技术 | X射线检查装置、检查方法以及x射线检测器 |
JP5944254B2 (ja) | 2012-07-20 | 2016-07-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得装置 |
FR3001802B1 (fr) | 2013-02-04 | 2019-05-24 | Cyxplus | Dispositif et procede pour le controle non destructif de pneumatiques par tomographie |
US9364191B2 (en) * | 2013-02-11 | 2016-06-14 | University Of Rochester | Method and apparatus of spectral differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT |
JP2014198831A (ja) | 2013-03-14 | 2014-10-23 | 学校法人 東洋大学 | シンチレータ結晶 |
-
2012
- 2012-07-20 JP JP2012161919A patent/JP5944254B2/ja active Active
-
2013
- 2013-06-18 CN CN201610973428.3A patent/CN106896398B/zh active Active
- 2013-06-18 US US14/415,273 patent/US9500600B2/en active Active
- 2013-06-18 EP EP13820529.9A patent/EP2876466B1/en active Active
- 2013-06-18 WO PCT/JP2013/066742 patent/WO2014013829A1/ja active Application Filing
- 2013-06-18 CN CN201380038705.6A patent/CN104487868B/zh active Active
-
2016
- 2016-10-28 US US15/337,256 patent/US10234406B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106896398B (zh) | 2019-04-30 |
EP2876466A4 (en) | 2016-04-13 |
US20170122886A1 (en) | 2017-05-04 |
US10234406B2 (en) | 2019-03-19 |
US9500600B2 (en) | 2016-11-22 |
US20150185165A1 (en) | 2015-07-02 |
EP2876466A1 (en) | 2015-05-27 |
CN104487868B (zh) | 2016-12-07 |
CN106896398A (zh) | 2017-06-27 |
WO2014013829A1 (ja) | 2014-01-23 |
JP2014021015A (ja) | 2014-02-03 |
EP2876466B1 (en) | 2019-07-24 |
CN104487868A (zh) | 2015-04-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5944254B2 (ja) | 放射線画像取得装置 | |
JP5890099B2 (ja) | 放射線画像取得装置 | |
JP5792472B2 (ja) | 放射線画像取得装置 | |
JP5784916B2 (ja) | 放射線画像取得装置 | |
US11237278B2 (en) | Radiation image acquisition system and radiation image acquisition method | |
JP5117584B2 (ja) | シンチレータプレート | |
US12058472B2 (en) | Imaging unit and radiation image acquisition system | |
JP2005204810A (ja) | X線画像撮影装置 | |
JP6671413B2 (ja) | 放射線画像取得装置 | |
JP6345720B2 (ja) | 放射線画像取得装置および放射線画像取得装置の調整方法 | |
JP3204649U (ja) | 放射線画像取得装置及び撮像ユニット | |
JP5973040B2 (ja) | 放射線画像取得装置 | |
JP5706387B2 (ja) | シンチレータプレート及び画像取得装置 | |
WO2022113507A1 (ja) | 撮像ユニット及び撮像システム | |
JP2006149493A (ja) | X線の屈折効果を利用した高分解能画像診断装置 | |
JP2005066144A (ja) | X線画像撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150319 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160229 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160524 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160525 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5944254 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |