JP5942781B2 - 記憶制御装置、メモリシステム、情報処理システム、および、記憶制御方法 - Google Patents
記憶制御装置、メモリシステム、情報処理システム、および、記憶制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5942781B2 JP5942781B2 JP2012237590A JP2012237590A JP5942781B2 JP 5942781 B2 JP5942781 B2 JP 5942781B2 JP 2012237590 A JP2012237590 A JP 2012237590A JP 2012237590 A JP2012237590 A JP 2012237590A JP 5942781 B2 JP5942781 B2 JP 5942781B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- write
- determination
- bits
- reference value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims description 208
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 181
- 230000010365 information processing Effects 0.000 title description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 122
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 47
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 39
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 33
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 18
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 17
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 17
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1006—Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
- Memory System (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
1.第1の実施の形態(特定の値のビット数に応じてライトデータを反転する例)
2.第2の実施の形態(設定されたデータサイズのライトデータを反転する例)
3.第3の実施の形態(ページバッファに保持されたライトデータを反転する例)
4.第4の実施の形態(ページバッファに保持されたライトデータ内の「0」ビット数に応じてライトデータを反転する例)
5.第5の実施の形態(ライトデータの一部を反転する例)
6.変形例(ライトデータの一部を反転してから判定ビットを生成する例)
[情報処理システムの構成例]
図1は、実施の形態における情報処理システムの一構成例を示すブロック図である。この情報処理システムは、ホストコンピュータ300およびメモリシステムを備える。このメモリシステムは、メモリ制御部100およびNVRAM200を備える。
図4は、第1の実施の形態におけるライト処理部120の一構成例を示すブロック図である。このライト処理部120は、多数ビット判定部121、ページバッファ122、ライト側反転部123、および、ECC生成部124を備える。
図5は、第1の実施の形態におけるリード処理部130の一構成例を示すブロック図である。このリード処理部130は、リード側反転部131、ページバッファ132、および、エラー検出訂正部133を備える。
図8は、第1の実施の形態におけるメモリシステムの動作の一例を示すフローチャートである。この動作は、例えば、ホストコンピュータ300によりメモリシステムに対して初期化が指示されたときに開始する。
[メモリ制御部の構成例]
図20は、第2の実施の形態におけるメモリ制御部100の一構成例を示すブロック図である。第2の実施の形態におけるメモリ制御部100は、NVRAM200の仕様に応じて、データサイズを変更することができる点において第1の実施の形態と異なる。具体的には、第2の実施の形態のメモリ制御部100は、データサイズ変更部150をさらに備える。
[メモリ制御部の構成例]
図22は、第3の実施の形態におけるメモリ制御部100の一構成例を示すブロック図である。第3の実施の形態におけるメモリ制御部100は、ページバッファの構成を変更した点において第1の実施の形態と異なる。具体的には、メモリ制御部100が、ライト処理部120およびリード処理部130により共有されるページバッファ160をさらに備える点において第1の実施の形態と異なる。
図23は、第3の実施の形態におけるライト処理部120の一構成例を示すブロック図である。第3の実施形態のライト処理部120は、ページバッファ122を備えない点において第1の実施の形態と異なる。ライト処理部120における多数ビット判定部121は、ユーザデータおよび判定データをページバッファ122の代わりにページバッファ160に保持する。ライト側反転部123は、ページバッファ160に保持されたユーザデータおよび判定データを読み出し、判定データに基づいて、必要に応じてデータを反転する。
図24は、第3の実施の形態におけるリード処理部130の一構成例を示すブロック図である。第3の実施形態のリード処理部130は、ページバッファ132を備えない点において第1の実施の形態と異なる。リード処理部130におけるエラー検出訂正部133は、ページバッファ132を介さないで、リード側反転部131にユーザデータおよび判定データを供給する。リード側反転部131は、リードデータを含むユーザデータと、判定データとをページバッファ160に保持する。
[メモリ制御部の構成例]
図25は、第4の実施の形態におけるメモリ制御部100の一構成例を示すブロック図である。第4の実施の形態におけるメモリ制御部100は、ページバッファ160の配置を変更した点において第3の実施の形態と異なる。ホストインターフェース110とライト処理部120およびリード処理部130との間にページバッファ160が配置される点において第3の実施の形態と異なる。ホストインターフェース110は、ライト処理部120およびリード処理部130との間において、ページバッファ160を介して、コマンド、アドレス、データ、および、ステータスなどをやりとりする。
図26は、第4の実施の形態におけるライト処理部120の一構成例を示すブロック図である。第4の実施形態の多数ビット判定部121は、ホストインターフェース110のまたはリード処理部130から、ページバッファ160を介して転送されたユーザデータを受け取る。多数ビット判定部121は、そのユーザデータについて判定データを生成し
図27は、第4の実施の形態におけるリード処理部130の一構成例を示すブロック図である。第4の実施の形態のリード処理部130は、判定データをページバッファ160に保持させず、ユーザデータのみをページバッファ160に保持させる点において、第3の実施の形態と異なる。
[メモリ制御部の構成例]
第1の実施の形態では、nビットのデータの全ビットを反転する処理を実行することにより、そのデータ内の特定の値のビット数をn/2以下にしていた。しかし、nビットのデータ内の特定の値のビット数をn/2以下にすることができる処理であれば、全ビットを反転する処理以外の処理を行ってもよい。例えば、メモリ制御部100は、データの全ビットを反転する処理の代わりに、一部のビットを反転する処理を行ってもよい。第5の実施の形態のメモリ制御部100は、一部のビットを反転する処理を実行することにより、nビットのデータ内の特定の値のビット数をn/2以下にする点において第1の実施の形態と異なる。
図29は、第5の実施の形態における反転対象ビット列判定部161の一構成例を示すブロック図である。この反転対象ビット列判定部161は、奇数ビット列計数部162、偶数ビット列計数部163、および、計数値比較部164を備える。
図32は、第5の実施の形態におけるリード処理部130の一構成例を示すブロック図である。第5の実施の形態のリード処理部130は、リード側反転部131の代わりに、リード側部分反転部134を備える点において第1の実施の形態と異なる。
図33は、第5の実施の形態におけるメモリ制御部側ライト処理の一例を示すフローチャートである。第5の実施の形態におけるメモリ制御部側ライト処理は、ステップS920およびS930の代わりに、ステップS911およびS915を実行する点において第1の実施の形態と異なる。メモリ制御部100は、奇数ビット列の「0」の個数の方が多いか否かを判定するための反転対象ビット列判定処理を実行する(ステップS911)。次いで、メモリ制御部100は、奇数ビット列または偶数ビット列を反転するためのライト側部分反転処理を実行する(ステップS915)。ステップS915の後、メモリ制御部100は、メモリ制御部側ライト処理を終了する。
[メモリ制御部の構成例]
第5の実施の形態では、メモリ制御部100は、判定ビットを生成した後にデータの一部のビットを反転していたが、一部のビットを反転した後に判定ビットを生成することもできる。第5の実施の形態の変形例のメモリ制御部100は、一部のビットを反転した後に判定ビットを生成する点において第5の実施の形態と異なる。
図39は、第5の実施の形態の変形例におけるメモリ制御部側ライト処理の一例を示すフローチャートである。変形例のメモリ制御部側ライト処理は、ステップS915の代わりにステップS995を実行する点において第5の実施の形態と異なる。メモリ制御部100は、ステップS911を実行した後、判定ビットと、一部を反転したデータとを転送するためのデータ転送処理を実行する(ステップS995)。ステップS995の後、メモリ制御部100は、メモリ制御部側ライト処理を終了する。
(1)ライト処理時に2値のうちの一方の値への書換えと他方の値への書換えとを順に実行するメモリセルに対する入力データの少なくとも一部において前記2値のうちの特定の値のビット数が基準値を超えるか否かを判定して当該判定の結果を示す判定データを生成する判定部と、
前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記少なくとも一部を反転した前記入力データをライトデータとして前記判定データとともに前記メモリセルへ出力するライト側出力部と
を具備する記憶制御装置。
(2)前記基準値は、前記入力データの全ビットの数の半数であり、
前記判定部は、前記全ビットのうち前記特定の値のビット数が前記基準値を超えるか否かを判定し、
前記ライト側出力部は、前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記入力データを反転して前記ライトデータとして出力し、前記ビット数が前記基準値を超えないと判定された場合には前記入力データを反転せずに前記ライトデータとして出力する
前記(1)記載の記憶制御装置。
(3)前記入力データは2つの部分からなり、
前記判定部は、前記2つの部分のうちの一方の部分において前記ビット数が前記基準値を超えるか否かを判定し、
前記基準値は、前記2つの部分のうちの他方の部分における前記特定の値のビット数であり、
前記ライト側出力部は、前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記一方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力し、前記ビット数が前記基準値を超えないと判定された場合には前記他方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力する
前記(1)記載の記憶制御装置。
(4)データと当該データに対応する前記判定データとを前記メモリセルから取得するデータ取得部と、
前記ビット数が前記基準値を超えることを前記判定データが示す場合には前記取得されたデータにおいて前記少なくとも一部を反転してリードデータとして出力するリード側出力部と
をさらに具備する前記(1)乃至(3)のいずれかに記載の記憶制御装置。
(5)前記リードデータと当該リードデータに対応する前記判定データとを保持するバッファをさらに具備し、
前記ライト側出力部は、前記リードデータおよび前記判定データを前記バッファから読み出して前記ビット数が前記基準値を超えることを前記判定データが示す場合には前記少なくとも一部を反転した前記リードデータを前記ライトデータとして出力する
前記(4)記載の記憶制御装置。
(6)前記リードデータを保持するバッファをさらに具備し、
前記多数ビット判定部は、前記リードデータを前記バッファから読み出して前記リードデータの少なくとも一部において前記特定の値のビット数が前記基準値を超えるか否かをさらに判定して前記判定データを生成し、
前記ライト側反転部は、前記ビット数が前記基準値を超えることを前記判定データが示す場合には前記少なくとも一部を反転した前記リードデータを前記ライトデータとしてさらに出力する
前記(4)または(5)に記載の記憶制御装置。
(7)前記メモリセルから通知されたデータサイズに基づいて前記入力データの全ビットの数を変更するデータサイズ変更部をさらに具備し、
前記多数ビット判定部は、前記変更された前記全ビットの数に応じて前記基準値を変更する
前記(1)乃至(6)のいずれかに記載の記憶制御装置。
(8)前記多数ビット判定部は、前記対象データにおいて前記特定の値のビット数を計数して当該計数値を前記基準値と比較することにより前記特定の値のビット数が前記基準値より多いか否かを判定する
前記(1)乃至(7)のいずれかに記載の記憶制御装置。
(9)ライト処理時に2値のうちの一方の値への書換えと他方の値への書換えとを順に実行するメモリセルと、
前記メモリセルに対する入力データの少なくとも一部において前記2値のうちの特定の値のビット数が基準値を超えるか否かを判定して当該判定の結果を示す判定データを生成する判定部と、
前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記少なくとも一部を反転した前記入力データをライトデータとして前記判定データとともに前記メモリセルへ出力するライト側出力部と
を具備するメモリシステム。
(10)入力データのライト処理を指示するライトコマンドを発行するホストコンピュータと、
前記ライト処理において2値のうちの一方の値への書換えと他方の値への書換えとを順に実行するメモリセルと、
前記入力データの少なくとも一部において前記2値のうちの特定の値のビット数が基準値を超えるか否かを判定して当該判定の結果を示す判定データを生成する判定部と、
前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記少なくとも一部を反転した前記入力データをライトデータとして前記判定データとともに前記メモリセルへ出力するライト側出力部と
を具備する情報処理システム。
(11)判定部が、ライト処理時に2値のうちの一方の値への書換えと他方の値への書換えとを順に実行するメモリセルに対する入力データの少なくとも一部において前記2値のうちの特定の値のビット数が基準値を超えるか否かを判定して当該判定の結果を示す判定データを生成する判定手順と、
ライト出力部が、前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記少なくとも一部を反転した前記入力データをライトデータとして前記判定データとともに前記メモリセルへ出力するライト側出力手順と
を具備する記憶制御方法。
110 ホストインターフェース
120 ライト処理部
121 多数ビット判定部
122、132、160 ページバッファ
123 ライト側反転部
124 ECC生成部
130 リード処理部
131 リード側反転部
133 エラー検出訂正部
134 リード側部分反転部
140 メモリインタ−フェース
150 データサイズ変更部
161、171 反転対象ビット列判定部
162 奇数ビット列計数部
163 偶数ビット列計数部
164 計数値比較部
165 ライト側部分反転部
172 データ転送処理部
200 NVRAM
210 制御インターフェース
220 NVRAM制御部
230 メモリセルアレイ
300 ホストコンピュータ
Claims (8)
- ライト処理時に2値のうちの一方の値への書換えと他方の値への書換えとを順に実行するメモリセルに対する入力データの一部において前記2値のうちの特定の値のビット数が基準値を超えるか否かを判定して当該判定の結果を示す判定データを生成する判定部と、
前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記一部を反転した前記入力データをライトデータとして前記判定データとともに前記メモリセルへ出力するライト側出力部と
を具備し、
前記入力データは2つの部分からなり、
前記判定部は、前記2つの部分のうちの一方の部分において前記ビット数が前記基準値を超えるか否かを判定し、
前記基準値は、前記2つの部分のうちの他方の部分における前記特定の値のビット数であり、
前記ライト側出力部は、前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記一方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力し、前記ビット数が前記基準値を超えないと判定された場合には前記他方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力する
記憶制御装置。 - データと当該データに対応する前記判定データとを前記メモリセルから取得するデータ取得部と、
前記ビット数が前記基準値を超えることを前記判定データが示す場合には前記取得されたデータにおいて前記一部を反転してリードデータとして出力するリード側出力部と
をさらに具備する請求項1記載の記憶制御装置。 - 前記リードデータと当該リードデータに対応する前記判定データとを保持するバッファをさらに具備し、
前記ライト側出力部は、前記リードデータおよび前記判定データを前記バッファから読み出して前記ビット数が前記基準値を超えることを前記判定データが示す場合には前記一部を反転した前記リードデータを前記ライトデータとして出力する
請求項2記載の記憶制御装置。 - 前記リードデータを保持するバッファをさらに具備し、
前記判定部は、前記リードデータを前記バッファから読み出して前記リードデータの一部において前記特定の値のビット数が前記基準値を超えるか否かをさらに判定して前記判定データを生成し、
前記ライト側出力部は、前記ビット数が前記基準値を超えることを前記判定データが示す場合には前記一部を反転した前記リードデータを前記ライトデータとしてさらに出力する
請求項2記載の記憶制御装置。 - 前記判定部は、前記一部において前記特定の値のビット数を計数して当該計数値を前記基準値と比較することにより前記特定の値のビット数が前記基準値より多いか否かを判定する
請求項1記載の記憶制御装置。 - ライト処理時に2値のうちの一方の値への書換えと他方の値への書換えとを順に実行するメモリセルと、
前記メモリセルに対する入力データの一部において前記2値のうちの特定の値のビット数が基準値を超えるか否かを判定して当該判定の結果を示す判定データを生成する判定部と、
前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記一部を反転した前記入力データをライトデータとして前記判定データとともに前記メモリセルへ出力するライト側出力部と
を具備し、
前記入力データは2つの部分からなり、
前記判定部は、前記2つの部分のうちの一方の部分において前記ビット数が前記基準値を超えるか否かを判定し、
前記基準値は、前記2つの部分のうちの他方の部分における前記特定の値のビット数であり、
前記ライト側出力部は、前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記一方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力し、前記ビット数が前記基準値を超えないと判定された場合には前記他方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力する
メモリシステム。 - 入力データのライト処理を指示するライトコマンドを発行するホストコンピュータと、
前記ライト処理において2値のうちの一方の値への書換えと他方の値への書換えとを順に実行するメモリセルと、
前記入力データの一部において前記2値のうちの特定の値のビット数が基準値を超えるか否かを判定して当該判定の結果を示す判定データを生成する判定部と、
前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記一部を反転した前記入力データをライトデータとして前記判定データとともに前記メモリセルへ出力するライト側出力部と
を具備し、
前記入力データは2つの部分からなり、
前記判定部は、前記2つの部分のうちの一方の部分において前記ビット数が前記基準値を超えるか否かを判定し、
前記基準値は、前記2つの部分のうちの他方の部分における前記特定の値のビット数であり、
前記ライト側出力部は、前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記一方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力し、前記ビット数が前記基準値を超えないと判定された場合には前記他方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力する
情報処理システム。 - 判定部が、ライト処理時に2値のうちの一方の値への書換えと他方の値への書換えとを順に実行するメモリセルに対する入力データの一部において前記2値のうちの特定の値のビット数が基準値を超えるか否かを判定して当該判定の結果を示す判定データを生成する判定手順と、
ライト側出力部が、前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記一部を反転した前記入力データをライトデータとして前記判定データとともに前記メモリセルへ出力するライト側出力手順と
を具備し、
前記入力データは2つの部分からなり、
前記判定手順において、前記2つの部分のうちの一方の部分において前記ビット数が前記基準値を超えるか否かを判定し、
前記基準値は、前記2つの部分のうちの他方の部分における前記特定の値のビット数であり、
前記ライト側出力手順において、前記ビット数が前記基準値を超えると判定された場合には前記一方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力し、前記ビット数が前記基準値を超えないと判定された場合には前記他方の部分を反転した前記入力データを前記ライトデータとして出力する
記憶制御方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012237590A JP5942781B2 (ja) | 2012-04-16 | 2012-10-29 | 記憶制御装置、メモリシステム、情報処理システム、および、記憶制御方法 |
US13/780,655 US9361952B2 (en) | 2012-04-16 | 2013-02-28 | Storage controlling apparatus, memory system, information processing system and storage controlling method |
CN201310120350.7A CN103377139B (zh) | 2012-04-16 | 2013-04-09 | 存储控制装置、存储器系统、信息处理系统及存储控制方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012092591 | 2012-04-16 | ||
JP2012092591 | 2012-04-16 | ||
JP2012237590A JP5942781B2 (ja) | 2012-04-16 | 2012-10-29 | 記憶制御装置、メモリシステム、情報処理システム、および、記憶制御方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013239142A JP2013239142A (ja) | 2013-11-28 |
JP5942781B2 true JP5942781B2 (ja) | 2016-06-29 |
Family
ID=49324950
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012237590A Expired - Fee Related JP5942781B2 (ja) | 2012-04-16 | 2012-10-29 | 記憶制御装置、メモリシステム、情報処理システム、および、記憶制御方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9361952B2 (ja) |
JP (1) | JP5942781B2 (ja) |
CN (1) | CN103377139B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102680521B1 (ko) | 2019-06-18 | 2024-07-04 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 컨트롤러 및 그 동작 방법 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5929790B2 (ja) * | 2012-06-19 | 2016-06-08 | ソニー株式会社 | 記憶制御装置、記憶装置、情報処理システム、および、それらにおける処理方法 |
WO2016013285A1 (ja) * | 2014-07-24 | 2016-01-28 | ソニー株式会社 | メモリコントローラおよびメモリコントローラの制御方法 |
CN107077430B (zh) * | 2014-10-24 | 2020-06-30 | 索尼公司 | 存储器控制器、存储器系统以及存储器控制器控制方法 |
JP6657634B2 (ja) | 2015-07-24 | 2020-03-04 | ソニー株式会社 | 符号化装置、メモリシステム、通信システムおよび符号化方法 |
WO2017138235A1 (ja) * | 2016-02-08 | 2017-08-17 | ソニー株式会社 | メモリコントローラ、不揮発性メモリおよびメモリコントローラの制御方法 |
CN107195321B (zh) * | 2017-05-15 | 2020-05-19 | 华中科技大学 | 一种交叉开关结构阻变式存储器性能优化方法及系统 |
US10032511B1 (en) * | 2017-05-18 | 2018-07-24 | Macronix International Co., Ltd. | Memory with dynamic permissible bit write logic and method |
KR20190036795A (ko) * | 2017-09-28 | 2019-04-05 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 전류 소모량을 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치 및 이를 포함하는 시스템 |
US10431301B2 (en) | 2017-12-22 | 2019-10-01 | Micron Technology, Inc. | Auto-referenced memory cell read techniques |
US10566052B2 (en) | 2017-12-22 | 2020-02-18 | Micron Technology, Inc. | Auto-referenced memory cell read techniques |
JP6894012B2 (ja) | 2018-01-23 | 2021-06-23 | ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社 | 不揮発性メモリ装置およびその書込み方法 |
US10916324B2 (en) | 2018-09-11 | 2021-02-09 | Micron Technology, Inc. | Data state synchronization involving memory cells having an inverted data state written thereto |
US11456033B2 (en) | 2018-09-12 | 2022-09-27 | Micron Technology, Inc. | Dedicated commands for memory operations |
US10622065B2 (en) | 2018-09-12 | 2020-04-14 | Micron Technology, Inc. | Dedicated commands for memory operations |
JP2020047352A (ja) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置 |
KR102580634B1 (ko) * | 2018-10-26 | 2023-09-19 | 양쯔 메모리 테크놀로지스 씨오., 엘티디. | 메모리를 위한 데이터 처리 방법 및 관련 데이터 프로세서 |
TWI708253B (zh) * | 2018-11-16 | 2020-10-21 | 力旺電子股份有限公司 | 非揮發性記憶體良率提升的設計暨測試方法 |
US10951232B2 (en) | 2018-11-26 | 2021-03-16 | Micron Technology, Inc. | Error correction bit flipping scheme |
US11144388B2 (en) * | 2018-12-11 | 2021-10-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Nonvolatile memory device and memory system including nonvolatile memory device |
JP2020154525A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | キオクシア株式会社 | メモリシステムおよび情報処理システム |
US12027209B2 (en) * | 2019-06-17 | 2024-07-02 | SK Hynix Inc. | Memory device and method of operating the same |
JP2021179672A (ja) | 2020-05-11 | 2021-11-18 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | メモリモジュール |
CN114115701A (zh) * | 2020-09-01 | 2022-03-01 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 非易失性存储器及其写入方法及读取方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0845275A (ja) * | 1994-07-29 | 1996-02-16 | Toshiba Corp | メモリリード/ライト制御方法およびその方法を使用したメモリ装置 |
US6292868B1 (en) * | 1996-10-15 | 2001-09-18 | Micron Technology, Inc. | System and method for encoding data to reduce power and time required to write the encoded data to a flash memory |
JP4330396B2 (ja) * | 2003-07-24 | 2009-09-16 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
JP2006106577A (ja) | 2004-10-08 | 2006-04-20 | Pasuko:Kk | 映像再生表示システム |
JP2008146255A (ja) * | 2006-12-07 | 2008-06-26 | Sony Corp | 記憶装置およびコンピュータシステム、並びに記憶装置のデータ処理方法 |
US7783846B2 (en) * | 2007-08-09 | 2010-08-24 | International Business Machines Corporation | Method, apparatus and computer program product providing energy reduction when storing data in a memory |
US20090091968A1 (en) * | 2007-10-08 | 2009-04-09 | Stefan Dietrich | Integrated circuit including a memory having a data inversion circuit |
JP4719236B2 (ja) * | 2008-03-21 | 2011-07-06 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置及び半導体記憶システム |
JP2010027163A (ja) * | 2008-07-22 | 2010-02-04 | Toshiba Corp | 半導体メモリコントローラ、および半導体メモリシステム、および半導体メモリシステムの記録再生方法 |
US8351290B1 (en) * | 2008-09-12 | 2013-01-08 | Marvell International Ltd. | Erased page detection |
JP2010129154A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Samsung Electronics Co Ltd | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2011008850A (ja) * | 2009-06-24 | 2011-01-13 | Sony Corp | メモリ及び情報処理方法 |
-
2012
- 2012-10-29 JP JP2012237590A patent/JP5942781B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-02-28 US US13/780,655 patent/US9361952B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-04-09 CN CN201310120350.7A patent/CN103377139B/zh active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102680521B1 (ko) | 2019-06-18 | 2024-07-04 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 컨트롤러 및 그 동작 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20130272078A1 (en) | 2013-10-17 |
US9361952B2 (en) | 2016-06-07 |
JP2013239142A (ja) | 2013-11-28 |
CN103377139B (zh) | 2018-04-27 |
CN103377139A (zh) | 2013-10-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5942781B2 (ja) | 記憶制御装置、メモリシステム、情報処理システム、および、記憶制御方法 | |
JP6950149B2 (ja) | メモリコントローラ、メモリシステム、および、メモリコントローラの制御方法 | |
JP5929790B2 (ja) | 記憶制御装置、記憶装置、情報処理システム、および、それらにおける処理方法 | |
EP2800097B1 (en) | Storage control device, storage device, information processing system, and processing methods therefor | |
JP6102632B2 (ja) | 記憶制御装置、ホストコンピュータ、情報処理システムおよび記憶制御装置の制御方法 | |
JP6686892B2 (ja) | メモリコントローラ、メモリシステム、および、メモリコントローラの制御方法 | |
JP5929456B2 (ja) | 記憶制御装置、記憶装置、情報処理システム、および、それらにおける処理方法 | |
JP6447629B2 (ja) | 記憶制御装置、記憶装置、および、その記憶制御方法 | |
JP6497394B2 (ja) | メモリシステム、記憶装置、および、メモリシステムの制御方法 | |
JP6891817B2 (ja) | メモリコントローラ、メモリシステム、および、メモリコントローラの制御方法 | |
JP2013092854A (ja) | 記憶制御装置、記憶装置、情報処理システム、および、記憶制御方法 | |
JP5867264B2 (ja) | 記憶制御装置、メモリシステム、情報処理システム、および、記憶制御方法 | |
WO2016035451A1 (ja) | 記憶制御装置、記憶装置、および、記憶制御方法 | |
EP2799998A1 (en) | Storage control device, storage device, information processing system, and processing methods in same | |
JP2015011421A (ja) | 記憶制御装置、記憶装置、および、その記憶制御方法 | |
JP6497395B2 (ja) | メモリコントローラ、メモリシステム、および、メモリコントローラの制御方法 | |
JP6493062B2 (ja) | メモリコントローラ、メモリシステムおよび情報処理システム | |
JP2014022004A (ja) | 記憶制御装置、記憶装置、および、それらにおける処理方法 | |
WO2017073127A1 (ja) | メモリコントローラ、記憶装置、情報処理システムおよびメモリの制御方法 | |
WO2017010147A1 (ja) | 不揮発メモリ、メモリコントローラ、記憶装置、情報処理システムおよび不揮発メモリの制御方法 | |
WO2017043140A1 (ja) | メモリコントローラ、メモリシステム、および、メモリコントローラの制御方法 | |
JP2014013635A (ja) | 記憶制御装置、記憶装置、情報処理システム、および、それらにおける処理方法 | |
WO2022158120A1 (ja) | コントローラ、不揮発性記憶装置、および、制御方法 | |
JP2013143118A (ja) | 記憶制御装置、記憶装置、情報処理システム、および、それらにおける処理方法 | |
JP2018055400A (ja) | メモリコントローラ、メモリシステム及びメモリ制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150130 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151014 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20151020 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151201 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160325 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20160407 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160426 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160509 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5942781 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |