JP5934156B2 - Substrate transport and supply method and substrate transport and supply apparatus - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 404
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 53
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 107
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 77
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 77
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 66
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 37
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 37
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 27
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 11
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 11
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 claims description 10
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 claims description 7
- 238000005304 joining Methods 0.000 claims description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 3
- 230000002040 relaxant effect Effects 0.000 claims description 2
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 24
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 238000000748 compression moulding Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K13/02—Feeding of components
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G49/00—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
- B65G49/05—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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Description
本発明は、電子部品を装着した基板を圧縮樹脂封止装置における成形型部の所定位置に搬送供給するための基板搬送供給方法及び装置に関し、特に、基板を圧縮樹脂封止用の上型面に供給して保持させる場合において、この基板を上型面に効率良く且つ確実に保持させることができるように改善した基板の搬送供給方法とこの方法を実施するための基板の搬送供給装置の改良に関する。 The present invention relates to a substrate transport and supply method and apparatus for transporting and supplying a substrate on which an electronic component is mounted to a predetermined position of a mold part in a compression resin sealing device, and in particular, an upper mold surface for compressing resin sealing. In the case where the substrate is supplied and held, the substrate transport and supply method improved so that the substrate can be efficiently and reliably held on the upper mold surface, and the substrate transport and supply apparatus for carrying out the method is improved. About.
基板の搬送手段としては、例えば、搬送プレートの上面に基板を係止した状態で移動させるものや、吸着プレートの上面に基板を吸着した状態で移動させるもの等が知られている(例えば、特許文献1参照)。
このような搬送プレート等を用いて、表面(上面)に複数(多数)の電子部品(半導体素子等)を装着させた基板を搬送する場合は、該基板上の電子部品と該搬送プレート等の上面とが接触しないように、基板の表面を上向きにして、即ち、基板の裏面(底面)を該搬送プレート等の上面に接合させた状態で載置するのが通例である。
As the substrate transfer means, for example, one that moves while the substrate is locked on the upper surface of the transfer plate, one that moves while the substrate is attracted to the upper surface of the suction plate, etc. are known (for example, patents) Reference 1).
When transporting a substrate having a plurality of (many) electronic components (semiconductor elements, etc.) mounted on the surface (upper surface) using such a transport plate, the electronic components on the substrate and the transport plate, etc. In general, the substrate is placed with the surface of the substrate facing upward, that is, with the back surface (bottom surface) of the substrate bonded to the upper surface of the transport plate or the like so as not to contact the upper surface.
ところで、基板を圧縮樹脂封止装置における上型面に供給して保持させると共に、その基板上の電子部品を下型キャビティ内の溶融樹脂材料中に浸漬し且つこの樹脂を圧縮して成形する圧縮樹脂封止成形を行う場合は、上記したような搬送プレート等をそのまま応用することができない。
即ち、基板上の電子部品を圧縮樹脂封止手段を用いて封止成形する場合は、図10に略図示するように、圧縮樹脂封止装置Aの上型1に設けた基板吸着機構2を介して、上型1の型面1aに基板Wの裏面側を吸着させ且つ基板Wに装着した電子部品3が下向き(下側)となるように保持させている。
従って、基板Wの搬送プレート4は、基板Wに装着した電子部品3を下向きにした状態で載置しなければならない。
このため、この基板搬送プレート4には、電子部品3を装着した基板Wの表面における周辺部位と接合して係止することができる係止部4aと、電子部品3が基板搬送プレート4側に接触しない状態で収容することができる収容凹部4bとが設けられている。
なお、電子部品3の樹脂封止成形は、上型1と下型5とを型締めして基板W上の電子部品3を下型5に設けた下型キャビティ5a内の溶融樹脂材料6中に浸漬すると共に、この溶融樹脂材料6を押圧部材5bにて圧縮することにより、電子部品3を樹脂封止するようにしている。
By the way, the substrate is supplied and held on the upper mold surface in the compression resin sealing device, and the electronic component on the board is immersed in the molten resin material in the lower mold cavity and the resin is compressed and molded. When resin sealing molding is performed, the above-described transport plate or the like cannot be applied as it is.
That is, when the electronic component on the substrate is sealed using the compression resin sealing means, the
Therefore, the
For this reason, the
The resin sealing molding of the electronic component 3 is performed in the
基板Wは、上記したように、基板吸着機構2を介して上型1の型面1aに吸着保持させることができる。
しかしながら、基板搬送プレート4上に載置した基板Wはその周辺部位が係止部4aの上面に係止されていること、また、基板Wの厚みは薄いこと、更に、基板Wの表面に装着された複数の電子部品3は下向きに支持されていることから、図10(2) に矢印にて示すように、基板Wの中央部が自重にて垂下し易い状態にある。
そして、このように下方へ弯曲した基板の変形状態においては、上型面1aに対して基板Wを確実に吸着保持させることができず、若しくは、その吸着保持効率が悪くなると云った問題がある。
また、基板Wの中央部が自重にて垂下し易い傾向は、近時における基板の大形化において特に顕著となっている。
また、基板W自体に反り等が発生しているような場合においては、その吸着保持効率を更に低下させる一因となっている。
As described above, the substrate W can be sucked and held on the mold surface 1a of the
However, the substrate W placed on the
In such a deformed state of the substrate bent downward, there is a problem that the substrate W cannot be reliably sucked and held on the upper mold surface 1a, or the suction and holding efficiency is deteriorated. .
Further, the tendency of the central portion of the substrate W to easily hang down due to its own weight is particularly noticeable in the recent increase in size of the substrate.
Further, in the case where the substrate W itself is warped or the like, this is one factor for further reducing the suction holding efficiency.
本発明は、基板の搬送供給装置(基板搬送プレート部)上に載置した基板の中央部が垂下して弯曲状に変形した状態にあるときや基板に反り等が発生している場合においても、該基板を圧縮樹脂封止装置における上型面に効率良く且つ確実に吸着保持させることができる基板の搬送供給方法とこの方法を実施するための基板の搬送供給装置を提供することを目的とする。 The present invention can be applied to the case where the central portion of the substrate placed on the substrate transport and supply device (substrate transport plate portion) hangs down and is deformed into a curved shape, or even when the substrate is warped. An object of the present invention is to provide a substrate transport and supply method capable of efficiently and surely adsorbing and holding the substrate on the upper mold surface of the compression resin sealing device, and a substrate transport and supply device for carrying out this method. To do.
上記した目的を達成するための本発明に係る基板の搬送供給方法は、表面に複数の電子部品30を装着させた基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aの下方位置に搬送すると共に、電子部品30を装着した基板Wの表面側を下向きとし且つその反対側となる基板Wの裏面側を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに吸着させ且つ保持させるための基板の搬送供給方法であって、
基板W表面の周辺部位と接合し且つ基板表面の周辺部位を所定の位置に係止するための係止部41aと、基板W表面の電子部品30の全体を係止部41aと接触しない状態で収容するための収容凹部41bとを備えた基板の搬送供給装置40の準備工程と、
基板W表面の周辺部位を基板の搬送供給装置40の係止部41aに接合して係止し、且つ、基板W表面の電子部品30を基板搬送プレート部41の収容凹部41bに収容する基板の搬送供給装置40上への基板載置工程と、
基板載置工程を経た基板の搬送供給装置40を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aの下方位置に搬送する基板の搬送供給装置40の前進工程と、
基板の搬送供給装置40の前進工程を経た基板の搬送供給装置40を相対的に上動させて基板Wの裏面側を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aの所定の位置に係合させる上型面10aへの基板位置決工程と、
上型面10aへの基板位置決工程を経た基板Wの裏面側を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに接合させる上型面への基板接合工程と、
基板接合工程時に、基板Wの表面側に圧縮エア43aを供給して基板Wの変形姿勢を矯正する基板姿勢矯正工程と、
基板姿勢矯正工程時に、及び/又は、基板姿勢矯正工程を経た後に、基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに吸着させる上型面への基板吸着工程と、
上型面への基板吸着工程時に、及び/又は、上型面への基板吸着工程を経た後に、基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに保持させる上型面への基板保持工程と、
上型面10aへの基板保持工程を経た後に、基板の搬送供給装置40を相対的に下動させると共に、これを圧縮樹脂封止装置Aの外部へ後退させる基板の搬送供給装置40の後退工程と、を含むことを特徴とする。
The substrate transport and supply method according to the present invention for achieving the above object transports a substrate W having a plurality of
A
A peripheral portion of the surface of the substrate W is joined and locked to the
A forward process of the substrate transport and
The substrate transport and
A substrate bonding step to the upper mold surface for bonding the back surface side of the substrate W that has undergone the substrate positioning process to the
A substrate posture correcting step of correcting the deformed posture of the substrate W by supplying compressed
A substrate adsorption step to the upper mold surface that adsorbs the substrate W to the
Holding the substrate on the upper mold surface that holds the substrate W on the
After the substrate holding process on the
また、本発明に係る基板の搬送供給方法は、基板姿勢矯正工程が基板搬送プレート部41における収容凹部41bの底面に設けた複数の圧縮エア供給孔41cから圧縮エア43aを収容凹部41b内に供給することにより行うことを特徴とする。
In the substrate transport and supply method according to the present invention, the substrate posture correcting step supplies the
また、本発明に係る基板の搬送供給方法は、基板姿勢矯正工程が基板Wと基板の搬送供給装置の係止部41aとの両者にて密閉状の収容凹部41bを構成すると共に、収容凹部41bの底面に設けた複数の圧縮エア供給孔41cから圧縮エア43aを密閉状の収容凹部41b内に供給することにより行うことを特徴とする。
Further, in the substrate transport and supply method according to the present invention, the substrate posture correcting step forms a sealed housing recess 41b in both the substrate W and the
また、本発明に係る基板の搬送供給方法は、基板姿勢矯正工程が基板Wと基板の搬送供給装置の係止部41aとの両者にて密閉状の収容凹部41bを構成すると共に、収容凹部41bの底面に設けた流体圧力緩和手段56を介して圧縮エア43aを密閉状の収容凹部41b内に供給することにより行うことを特徴とする。
Further, in the substrate transport and supply method according to the present invention, the substrate posture correcting step forms a sealed housing recess 41b in both the substrate W and the
上記した目的を達成するための本発明に係る基板の搬送供給装置は、表面に複数の電子部品30を装着させた基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aの下方位置に搬送すると共に、電子部品30を装着した基板Wの表面側を下向きとし且つその反対側となる基板Wの裏面側を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに吸着させ且つ保持させるための基板の搬送供給装置であって、
基板Wを載置する基板搬送プレート部41と、
基板搬送プレート部41を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aの下方位置に対して前進及び後退可能に配置するための進退往復動機構42とを備えており、
また、基板搬送プレート部41には、基板W表面の周辺部位と接合し且つ基板W表面の周辺部位を所定の位置に係止するための係止部41aと、基板W表面の電子部品30の全体を係止部41aと接触しない状態で収容するための収容凹部41bとを設け、
更に、基板搬送プレート部41における収容凹部41bの底面に複数の圧縮エア供給孔41cを配設し且つ圧縮エア供給孔41cと圧縮エア供給機構側とを連通接続させた基板の変形姿勢矯正手段43を配置して構成したことを特徴とする。
In order to achieve the above object, a substrate transport and supply device according to the present invention transports a substrate W having a plurality of
A substrate
An advancing and
Further, the substrate
Further, a substrate deformation posture correcting means 43 in which a plurality of compressed
また、本発明に係る基板の搬送供給装置は、基板の変形姿勢矯正手段43が、基板Wと基板搬送プレート部41の係止部41aとの両者にて密閉状の収容凹部41bを構成すると共に、収容凹部41bの底面に設けた複数の圧縮エア供給孔41cから圧縮エア43aを密閉状の収容凹部41b内に供給するように形成して構成したことを特徴とする。
In the substrate transport and supply apparatus according to the present invention, the substrate deformation posture correcting means 43 forms a sealed housing recess 41b with both the substrate W and the
また、本発明に係る基板の搬送供給装置は、基板の変形姿勢矯正手段43が、基板Wと基板搬送プレート部41の係止部41aとの両者にて密閉状の収容凹部41bを構成すると共に、収容凹部41bの底面に設けた流体圧力緩和機構56を介して圧縮エア43aを密閉状の収容凹部41b内に供給するように形成して構成したことを特徴とする。
In the substrate transport and supply apparatus according to the present invention, the substrate deformation posture correcting means 43 forms a sealed housing recess 41b with both the substrate W and the
本発明によれば、基板の搬送供給装置(基板搬送プレート部)上に載置した基板Wの中央部が自重により垂下して弯曲状に変形した状態にあるときや基板Wに反りが発生している場合においても、該基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型の型面に効率良く且つ確実に吸着保持させることができる。
また、本発明によれば、基板Wの中央部が垂下し易い傾向にある近時の大形基板を搬送供給する場合において特に顕著な効果を得ることができる。
According to the present invention, the substrate W is warped when the central portion of the substrate W placed on the substrate transport and supply device (substrate transport plate portion) is suspended by its own weight and deformed into a curved shape. Even in this case, the substrate W can be efficiently and surely adsorbed and held on the upper mold surface of the compression resin sealing apparatus A.
Further, according to the present invention, a particularly remarkable effect can be obtained in the case of transporting and supplying a recent large-sized substrate in which the central portion of the substrate W tends to hang down.
以下、本発明を、図1乃至図6に示す第一実施例図に基づいて説明する。 Hereinafter, the present invention will be described based on the first embodiment shown in FIGS.
図1は基板の搬送供給装置40を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型10(上型面10a)の下方位置に移動させた状態を示しており、また、図2及び図3は基板の搬送供給装置40の要部を示しており、また、図4乃至図6は基板Wを圧縮樹脂封止装置Aの上型面10aへ装着させる場合について示している。
FIG. 1 shows a state in which the substrate transport and
まず、圧縮樹脂封止装置Aの概要について説明する。
圧縮樹脂封止装置Aには、通常の場合、固定上型10と、その上型面10aの下方位置において上下動可能に配置した可動下型50とが備えられている(図1参照)。
また、上型10には基板Wを吸引作用にて上型面10aに吸着させる基板吸着機構20と、上型面10aに吸着させた基板Wを保持させる基板保持機構70とを備えている。
First, the outline | summary of the compression resin sealing apparatus A is demonstrated.
The compression resin sealing device A is normally provided with a fixed
Further, the
また、上記した基板吸着機構20は、上型面10aに開口した複数の吸気孔20aと、この複数の吸気孔20aと減圧機構(図示なし)側とを連通接続させて構成している。
従って、上型面10aに接合させた基板Wは、複数の吸気孔20aに生じる減圧機構からの吸引作用(真空引作用)によって該上型面10aに吸着させることができるように設けられている。
The
Accordingly, the substrate W bonded to the
また、下型50には樹脂材料を供給する下型キャビティ50aと、この下型キャビティ50a内にて加熱溶融化した樹脂材料60を圧縮するための押圧部材50bとが設けられている。
また、上型面10aに対する基板Wの装着は、後述する手順によって、電子部品30を装着していない基板Wの裏面側を上型面10aに吸着させ且つ保持させることにより行われる。
従って、このとき、上型面10aに吸着させた基板W上の電子部品30は下向きに保持されることになる。
なお、基板Wの表面には複数(多数)の電子部品が装着されているが、図ではこれを簡略化して示している。
The
Further, the mounting of the substrate W on the
Therefore, at this time, the
Note that a plurality (many) of electronic components are mounted on the surface of the substrate W, but these are shown in a simplified manner in the drawing.
また、上記圧縮樹脂封止装置Aを用いて基板W上の電子部品30を樹脂封止するには、基板の搬送供給装置40を圧縮樹脂封止装置Aの外部へ移動させた後に、上型10と下型50とを型締めして基板W上の電子部品30を下型50に設けた下型キャビティ50a内の溶融樹脂材料60中に浸漬すると共に、この溶融樹脂材料60を押圧部材50bにより所定の樹脂圧にて圧縮成形することによって行われる。
In order to resin-encapsulate the
なお、基板W上の電子部品30は下型キャビティ50aの形状に対応する樹脂成形体内に一括して樹脂封止される。
そして、一括して樹脂封止された各電子部品は、後工程となる切断加工工程において、個々の電子部品毎に切断分離されて製品となる。
The
Then, the electronic components collectively sealed with the resin are cut and separated into individual electronic components in a subsequent cutting process, which becomes a product.
次に、基板の搬送供給装置40について説明する。
基板の搬送供給装置40は、基板Wを載置する基板搬送プレート部41と、
基板搬送プレート部41を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aの下方位置に対して前進及び後退可能に配置するための進退往復動機構42とを備えている。
また、基板搬送プレート部41には、基板W表面の周辺部位と接合し且つ該基板W表面の周辺部位を所定の位置に係止するための係止部41aと、該基板W表面の電子部品30を係止部41aと接触しない状態で収容するための収容凹部41bとが設けられている。
更に、基板搬送プレート部41における収容凹部41bの底面に複数の圧縮エア供給孔41cを配設し且つ該圧縮エア供給孔41cと圧縮エア供給機構(図示なし)側とを連通接続させた基板の変形姿勢矯正手段43を配置して構成されている。
Next, the substrate transport /
The substrate transport and
A back and forth reciprocating
In addition, the substrate
Furthermore, a plurality of compressed
次に、圧縮樹脂封止装置Aと基板の搬送供給装置40との両者間において協働するように関係付けて配置される基板保持機構70について説明する。
即ち、この基板保持機構70は、上型10の両端部等の適当な個所に設けた少なくとも一対の基板保持爪71と、該各基板保持爪71の配設位置及び配設数に対応する基板の搬送供給装置40における基台44上の各位置に立設させた該各基板保持爪71の操作用ピン72とから構成されている。
また、上記した基板保持爪71は上型10に固設した支持軸73に回動自在の状態で枢着されている。
また、この基板保持爪71の基端部71aには弾性部材71bの弾性にて下方へ付勢した押動ピン71cによる弾性押圧力が加えられている。
更に、基板保持爪71の基端部71aに押動ピン71cの弾性押圧力が加えられているとき、その先端部71dは上記支持軸73を中心として回動すると共に、該先端部71dを上型面10aの下面位置にまで突出させることができるように設けられている(図4参照)。
Next, a description will be given of the
That is, the
The
Further, the
Further, when the elastic pressing force of the
また、基板保持爪71の操作用ピン72は、上記した基板保持爪71の基端部71aの位置と対応する基台44上の位置に立設されている。
そして、後述するように、基板の搬送供給装置40が上型面10aの下面位置へ移動する前進移動時及びこの位置から外部へ退避する後退移動時と、基板Wを上型面10aに接合させる上動時及びこの位置からの下動時において、該基板の搬送供給装置40と同じ方向へ同時に移動するように設けられている。
The
Then, as will be described later, the substrate W is bonded to the
なお、上記したように、基板保持爪71の基端部71aに押動ピン71cの弾性押圧力が加えられているとき、その先端部71dは、図4に示すように、上記支持軸73を中心として回動すると共に、該先端部71dを上型面10aの下面位置にまで突出させることができるように設けられている。
逆に、図5に示すように、基板保持爪71の操作用ピン72と基板搬送プレート部41上の基板Wとが同時に上動した場合、該操作用ピン72の上端部が基板保持爪71の基端部71aを押し上げてその先端部71dが上記支持軸73を中心として回動し該先端部71dを上型面10aの外方へ退避させることができるように設けられている。
そして、基板搬送プレート部41上における基板Wの上動は、該先端部71dを上型面10aの外方へ退避させた後に行われるように関係付けられており、従って、基板保持爪71の先端部71dが基板搬送プレート部41上における基板Wの上動作用を阻害しないように設けられている。
As described above, when the elastic pressing force of the
Conversely, as shown in FIG. 5, when the
The upward movement of the substrate W on the substrate
また、上記した上型10の上型面10aには、基板Wを該上型面10aの所定位置に案内するための位置決ピン10bが突設されている(図1参照)。
また、該位置決ピン10bの突設位置と対応する上記搬送供給装置40の係止部41aの位置には、該位置決ピン10b用の逃げ穴41dが設けられている(図2参照)。
なお、上型面10aの位置決ピン10bと係止部41aの逃げ穴41dとの配設位置及び配設数は必要に応じて適宜に選択して構成することができる。
Further, a
Further, a
The position and number of the positioning pins 10b on the
また、上記した基板搬送プレート部41における係止部41aの側面位置には、基板保持爪の先端部71dの回動作用を阻害しないための逃げ溝41eが設けられている。更に、この逃げ溝41eは、上記基台44における操作用ピン72の立設位置と対応する係止部41aの側面位置に設けられている(図2参照)。
Further, an
また、上記した基板搬送プレート部41における係止部41aの両端部には、基板Wを該係止部41aの所定位置に係止させるための位置決ピン41fが設けられている(図3参照)。
この位置決ピン41fによる基板Wの係止時においては、該位置決ピン41fの上端部が基板Wの係合用ピン孔31を通して該基板Wの厚み(高さ)よりも上方へ突出されている。
しかしながら、この位置決ピン41fは、図3(1) に略図示するように、弾性部材55の弾性に抗して下方へ押し込むように退避させることができるように設けられている。
このため、上型面10aに対する基板Wの接合時においては、該上型面10aに当接した位置決ピン41fが下方へ退避するので、該上型面10aと基板Wとの接合作用を阻害することはない。
なお、係止部41aにおける位置決ピン41fと基板Wの係合用ピン孔31との配設位置及び配設数は必要に応じて適宜に選択して構成することができる。
Positioning pins 41f for locking the substrate W at predetermined positions of the locking
When the substrate W is locked by the
However, the
For this reason, when the substrate W is bonded to the
The positions and number of the positioning pins 41f and the engagement pin holes 31 of the substrate W in the locking
以下、基板の搬送供給装置40を用いて基板Wを圧縮樹脂封止装置Aの固定上型10に搬送供給する場合、即ち、電子部品30を装着していない基板Wの裏面を上型面10aに吸着させ且つ保持させる場合について説明する。
Hereinafter, when the substrate W is transported and supplied to the fixed
まず、基板の搬送供給装置40の準備工程を行う。
そして、図3(1) に示すように、基板W表面の周辺部位を基板搬送プレート部41(基板の搬送供給装置40)における係止部41aに接合して係止し、且つ、基板W表面の電子部品30を基板搬送プレート部41の収容凹部41bに収容する基板の搬送供給装置40上への基板載置工程を行う。
このとき、基板Wは、上記係止部41aの位置決ピン41fを介して該係止部41aの所定位置に係止させることができる(図2参照)。
また、上記した基板Wは、基板W表面の周辺部位を基板搬送プレート部41の係止部41aに接合して係止させることができる大きさの矩形状基板を示している。
従って、該基板Wを係止部41aに接合して係止させたとき、上記した基板保持爪先端部71d用の逃げ溝41eの上部にも該基板Wの一部が載置された状態となる(図3参照)。
First, a preparation process for the substrate transport and
Then, as shown in FIG. 3 (1), the peripheral portion of the surface of the substrate W is joined and locked to the locking
At this time, the substrate W can be locked at a predetermined position of the locking
Further, the substrate W described above is a rectangular substrate having a size capable of joining and locking the peripheral portion of the surface of the substrate W to the locking
Therefore, when the substrate W is joined and locked to the locking
次に、基板の搬送供給装置40を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aの下方位置に搬送する基板の搬送供給装置40の前進工程を行う(図1及び図4参照)。
Next, the substrate transport /
次に、基板の搬送供給装置40を上動させて基板Wの裏面、即ち、電子部品30を装着していない基板Wの裏面側(図では上側)を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aの所定の位置に係合させる上型面10aへの基板位置決工程を行う。
続いて、上型面10aの所定位置に位置決めした基板Wの裏面側を該上型面10aに接合させる上型面への基板接合工程を行う(図5参照)。
上記した基板位置決工程及び基板接合工程は、図4及び図5に示すように、基板の搬送供給装置40を圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに向かって上動させることによって行うことができる。
即ち、基板保持爪71の基端部71aに押動ピン71cの弾性押圧力のみが加えられているときはその先端部71dは、図4に示すように、上型面10aの下面位置にまで突出するように回動している。しかしながら、図5に示すように、基板保持爪71の操作用ピン72の上端部が基板保持爪71の基端部71aを押し上げてその先端部71dを回動すると共に、上型面10aの外方へ退避させることによって、基板搬送プレート部41上における基板Wの上動作用をスムーズに行うことができる。
Next, the substrate transport and
Subsequently, a substrate bonding step to the upper mold surface is performed in which the back surface side of the substrate W positioned at a predetermined position on the
The substrate positioning step and the substrate bonding step described above are performed by moving the substrate transport and
That is, when only the elastic pressing force of the
また、上記した基板Wの裏面側を上型面10aの所定位置に接合させる際に、図3(2) に示すように、電子部品30を装着した基板Wの表面側に圧縮エア43aを供給して基板Wの変形姿勢を矯正する基板姿勢矯正工程を行う。
このとき、基板搬送プレート部41上に載置した基板Wはその周辺部位が係止部41aの上面に係止されていること、また、基板Wの厚みは薄いこと、更に、基板Wの表面に装着された複数の電子部品30は下向きとなるため、同図に示すように、基板Wの中央部は自重によって垂下した状態となる。
しかしながら、基板Wの表面側に圧縮エア43aを供給して基板Wの中央部を押し上げることにより、上記した基板Wの垂下姿勢を、同図に一点鎖線にて示す略水平状の姿勢位置にまでに修正する該基板Wの姿勢矯正工程を行うことができる。
なお、上記した圧縮エア43aの供給態様については、基板Wの垂下姿勢の度合いに対応して適宜に選択して実施することができる。
Further, when the back surface side of the substrate W is joined to a predetermined position of the
At this time, the peripheral portion of the substrate W placed on the substrate
However, by supplying the
The above-described supply mode of the
また、上記した基板Wの表面側に圧縮エア43aを供給して基板Wの変形姿勢を矯正する際に、基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに吸着させる上型面への基板吸着工程を行う(図5参照)。
即ち、この基板吸着工程は、上型面10aに接合させた基板Wを複数の吸気孔20aに生じる減圧機構からの吸引作用によって該上型面10aに吸着させることができる。
Further, when the
That is, in this substrate adsorption step, the substrate W bonded to the
或は、上記した基板Wの表面側に圧縮エア43aを供給して基板Wの変形姿勢を矯正した後に、基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに吸着させる上型面への基板吸着工程を行う(図5参照)。
即ち、この基板吸着工程は、上記したと同様に、上型面10aに接合させた基板Wを複数の吸気孔20aに生じる減圧機構からの吸引作用によって該上型面10aに吸着させることができる。
Alternatively, the
That is, in the substrate adsorption step, the substrate W bonded to the
また、上記した上型面10aに基板Wを吸着させる際に、基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに保持させる上型面への基板保持工程を行う(図6参照)。
即ち、上型面10aに基板Wを吸着させながら、該基板Wを上型面10aへ保持させる上型面への基板保持工程を行うことができる。
この上型面への基板保持工程は、基板の搬送供給装置40を下動させて、基板保持爪71の操作用ピン72の上端部と基板保持爪71の基端部71aとの係合状態を解除すればよい。
この操作用ピン72の上端部と基板保持爪の基端部71aとの係合状態を解除すると、基板保持爪の基端部71aには押動ピン71cの弾性押圧力が加えられてその先端部71dは、図6に示すように、上型面10aの下面位置にまで突出するように回動する。
このとき、基板搬送プレート部41における係止部41aの側面位置には、基板保持爪の先端部71dの回動作用を阻害しないための逃げ溝41eが設けられているので、基板保持爪の先端部71dは、該逃げ溝41eを通して回動し且つ該係止部41a(該逃げ溝41e)の上面に位置する基板Wの表面側(電子部品30の装着面側)に接合すると共に、当該部位を下方から保持するように係合する。
Further, when the substrate W is attracted to the
That is, it is possible to perform a substrate holding step on the upper mold surface that holds the substrate W on the
In the substrate holding process on the upper mold surface, the substrate transport and
When the engagement state between the upper end portion of the
At this time, a
或は、上記した上型面10aに基板Wを吸着させた後に、基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに保持させる上型面への基板保持工程を行う(図6参照)。
即ち、上型面10aに基板Wを吸着させた後に、該基板Wを上型面10aへ保持させる上型面への基板保持工程を行うことができる。
この上型面への基板保持工程は、上記したと同様に、基板の搬送供給装置40を下動させて、基板保持爪71の操作用ピン72の上端部と基板保持爪71の基端部71aとの係合状態を解除することによって行うことができる。
Or after adsorb | sucking the board | substrate W to the above-mentioned upper mold |
That is, after the substrate W is attracted to the
In the same manner as described above, the substrate holding process on the upper mold surface is performed by moving the substrate transport and
次に、基板の搬送供給装置40を下動させると共に、これを圧縮樹脂封止装置Aの外部へ後退させる基板の搬送供給装置40の後退工程を行う。
Next, the substrate transport /
上記した実施例においては、基板搬送プレート部41(基板の搬送供給装置)上に載置した基板Wの中央部が自重により垂下して弯曲状に変形した状態にあるときや基板W自体に反りが発生している場合においても、該基板Wの姿勢を水平状に矯正することによって、該基板Wを圧縮樹脂封止装置Aにおける上型面10aに効率良く且つ確実に吸着させ且つ保持させることができる。
また、基板Wの中央部が垂下し易い傾向にある近時の大形基板を搬送供給する場合において特に顕著な効果を得ることができる。
In the above-described embodiments, the central portion of the substrate W placed on the substrate transport plate portion 41 (substrate transport and supply device) is suspended by its own weight and deformed into a curved shape, or warps the substrate W itself. Even when this occurs, the substrate W can be efficiently and reliably adsorbed and held on the
In addition, a remarkable effect can be obtained particularly in the case of transporting and supplying a recent large-sized substrate in which the central portion of the substrate W tends to hang down.
次に、図7に示す第二実施例図に基づいて説明する。 Next, a description will be given based on the second embodiment shown in FIG.
前第一実施例は、基板搬送プレート部41における係止部41aの一部を切り欠いて該係止部41aの上面が連続しないように構成した場合を示しているが、この実施例では、該係止部41aの上面を連続させて構成した点で相違する。
なお、本実施例において前実施例と実質的に同じ構成については前実施例について説明した事項と同様である。従って、説明の重複を避けるため、両者に共通する構成については同じ符号を付している。
The previous first embodiment shows a case in which a part of the locking
In the present embodiment, the configuration substantially the same as that of the previous embodiment is the same as that described for the previous embodiment. Therefore, in order to avoid duplication of description, the same reference numerals are given to configurations common to both.
即ち、前第一実施例においては、一部を切り欠いて構成した係止部41aの上面に基板Wを係止させているため、電子部品30の収容凹部41bの一部は解放された状態となる。
しかしながら、図7に示すように、本実施例においては、係止部41aの上面が連続するように設けることにより、所謂、有底箱型容器の形状に構成したものである。
更に、連続した係止部41aの上面に基板Wを係止させると、その収容凹部41bは連続した係止部41aと基板Wとの両者にて密閉状に構成される。
従って、この実施例における基板の変形姿勢矯正手段は、上記したような密閉状収容凹部41bの底面に設けた複数の圧縮エア供給孔41cから圧縮エア43aを供給するように形成して構成されている。
That is, in the previous first embodiment, since the substrate W is locked on the upper surface of the locking
However, as shown in FIG. 7, in the present embodiment, a so-called bottomed box-shaped container is formed by providing the upper surface of the locking
Further, when the substrate W is locked to the upper surface of the
Accordingly, the substrate deformation posture correcting means in this embodiment is formed and configured to supply the
この実施例においては、密閉状収容凹部41bの底面に設けた複数の圧縮エア供給孔41cから圧縮エア43aを供給することにより、該密閉状収容凹部41bの内圧を高めることができる。このとき、該密閉状収容凹部41b内に収容された基板Wには、その中央部を緩やかに(スローモーションで)押し上げるような姿勢矯正力が加えられることになる。
従って、これによって、基板Wの垂下姿勢を略水平位置にまで修正する該基板Wの姿勢矯正工程を行うことができる。
なお、上記した圧縮エア43aの供給態様については、基板Wの垂下姿勢の度合いに対応して適宜に選択して実施することができる。
In this embodiment, by supplying the
Therefore, this makes it possible to perform a posture correction process of the substrate W that corrects the hanging posture of the substrate W to a substantially horizontal position.
The above-described supply mode of the
また、上記した収容凹部41bは密閉状に構成されているから、前第一実施例のものと較べて、密閉状収容凹部41b内に圧縮エア43aを供給して該密閉状収容凹部41bの内圧を高める作用は、より簡易に行うことができる。
従って、前第一実施例のものに較べて、基板Wの姿勢矯正工程を、より効率良く行うことができる点で有利である。
Further, since the above-described
Therefore, it is advantageous in that the posture correction process of the substrate W can be performed more efficiently than in the previous first embodiment.
次に、図8及び図9に示す第三実施例図に基づいて説明する。 Next, description will be made based on the third embodiment shown in FIGS.
前各実施例における基板の変形姿勢矯正手段は、収容凹部41bの底面に設けた複数の圧縮エア供給孔41cから圧縮エア43aを供給するように構成した場合を示しているが、この実施例では、係止部41aの上面を連続させて密閉状の収容凹部41bを構成すると共に、該密閉状収容凹部41bの底面に設けた流体圧力緩和機構56を介して圧縮エア43aを供給するように形成して構成した点で相違する。
なお、本実施例において前各実施例と実質的に同じ構成については前各実施例について説明した事項と同様である。従って、説明の重複を避けるため、共通する構成については同じ符号を付している。
The substrate deformation posture correcting means in each of the previous embodiments shows a case where the
In the present embodiment, the configuration substantially the same as that of each of the previous embodiments is the same as that described for each of the previous embodiments. Therefore, in order to avoid duplication of description, the same code | symbol is attached | subjected about the common structure.
即ち、図8及び図9に示すように、この実施例においては、係止部41aの上面が連続するように設けて有底箱型容器の形状に構成している。
そして、連続した係止部41aの上面に基板Wを係止させると、その収容凹部41bは連続した係止部41aと基板Wとの両者にて密閉状に構成される。
更に、この実施例における基板の変形姿勢矯正手段43は、上記した密閉状収容凹部41bの底面に設けた流体圧力緩和機構56を介して圧縮エア43aを供給するように形成して構成されている。
なお、上記した流体圧力緩和機構56としては、図例に示すように、密閉状収容凹部41bの底面に、所謂、バッフルプレートを採用することができる。
従って、この実施例における基板の変形姿勢矯正手段43は、上記密閉状収容凹部41bの底面に設けた流体圧力緩和機構(バッフルプレート)56における圧縮エア供給溝56aから圧縮エア43aを供給するように形成して構成されている。
このとき、該密閉状収容凹部41b内に収容された基板Wには、その中央部を緩やかに押し上げるような姿勢矯正力が加えられることになるため、基板Wの垂下姿勢を略水平位置にまで修正する該基板Wの姿勢矯正工程を行うことができる。
また、上記した圧縮エア43aの供給態様については、基板Wの垂下姿勢の度合いに対応して適宜に選択して実施することができる。
That is, as shown in FIGS. 8 and 9, in this embodiment, the upper surface of the locking
And when the board | substrate W is latched on the upper surface of the continuous latching | locking
Further, the substrate deformation
As the fluid
Accordingly, the substrate deformation
At this time, since the posture correcting force that gently pushes up the central portion is applied to the substrate W accommodated in the hermetic
Further, the above-described supply mode of the
この実施例においては、密閉状収容凹部41bの底面に設けた流体圧力緩和機構56における圧縮エア供給溝56aから圧縮エア43aを供給して該密閉状収容凹部41b内の内圧を高めることができる。その結果、基板Wの中央部を押し上げてその垂下姿勢を略水平位置にまで修正する該基板Wの姿勢矯正工程を行うことができる。
このとき、密閉状収容凹部41b内に導入される圧縮エア43aは流体圧力緩和機構56を介してその流体圧力が緩和されると共に、該圧縮エア43aが直接的に電子部品30に向かって吹き付けられるのを防止することができる。
従って、上記した電子部品30に、例えば、電気接続用の細いワイヤが取り付けられているような場合に、該ワイヤに圧縮エア43aが直接的に吹き付けられて該ワイヤを変形させたり或はこれを断線させる等の弊害を未然に防止することができる。
In this embodiment, the
At this time, the
Therefore, for example, when a thin wire for electrical connection is attached to the
また、上記した収容凹部41bは密閉状に構成されているから、前各実施例のものと較べて、密閉状収容凹部41b内に圧縮エア43aを供給して該密閉状収容凹部41bの内圧を高める作用は、より簡易に且つ確実に行うことができる。
従って、前各実施例のものに較べて、基板Wの姿勢矯正工程を、より効率良く行うことができる。
In addition, since the above-described
Therefore, the posture correction process of the substrate W can be performed more efficiently than in the previous embodiments.
本発明は、前述した各実施例のものに限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で、必要に応じて、任意に且つ適宜に変更・選択して採用することができる。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be arbitrarily changed and selected as needed within a range not departing from the gist of the present invention. .
A 圧縮樹脂封止装置
W 基板
10 上型
10a 上型面
10b 位置決ピン
20 基板吸着機構
20a 吸気孔
30 電子部品
31 ピン孔
40 基板の搬送供給装置
41 基板搬送プレート部
41a 係止部
41b 収容凹部
41c 圧縮エア供給孔
41d 逃げ穴
41e 逃げ溝
41f 位置決ピン
42 進退往復動機構
43 基板の変形姿勢矯正手段
43a 圧縮エア
44 基台
50 下型
50a 下型キャビティ
50b 押圧部材
55 弾性部材
56 流体圧力緩和手段
56a 圧縮エア供給溝
60 溶融樹脂材料
70 基板保持機構
71 基板保持爪
71a 基端部
71b 弾性部材
71c 押動ピン
71d 先端部
72 操作用ピン
73 支持軸
A Compression resin sealing device W Substrate
10 Upper mold
10a Upper mold surface
10b Positioning pin
20 Substrate adsorption mechanism
20a Air intake hole
30 electronic components
31 pin hole
40 Substrate transport and supply equipment
41 Board transfer plate
41a Locking part
41b recess
41c Compressed air supply hole
41d escape hole
41e Escape groove
41f Positioning pin
42 Reciprocating mechanism
43 Deformation posture correction means
43a Compressed air
44 base
50 Lower mold
50a Lower mold cavity
50b Pressing member
55 Elastic member
56 Fluid pressure relief means
56a Compressed air supply groove
60 Molten resin material
70 Board holding mechanism
71 Substrate holding claw
71a Base end
71b Elastic member
71c Push pin
71d Tip
72 Operation pin
73 Support shaft
Claims (7)
前記基板表面の周辺部位と接合し且つ前記基板表面の周辺部位を所定の位置に係止するための係止部と、前記基板表面の電子部品の全体を前記係止部と接触しない状態で収容するための収容凹部とを備えた基板の搬送供給装置の準備工程と、
前記基板表面の周辺部位を前記基板の搬送供給装置の係止部に接合して係止し、且つ、前記基板表面の電子部品を前記基板搬送プレート部の収容凹部に収容する基板の搬送供給装置上への基板載置工程と、
前記基板載置工程を経た基板の搬送供給装置を前記圧縮樹脂封止装置における上型面の下方位置に搬送する基板の搬送供給装置の前進工程と、
前記基板の搬送供給装置の前進工程を経た基板の搬送供給装置を前記圧縮樹脂封止装置における上型面に向かって相対的に上動させて前記基板の裏面側を前記圧縮樹脂封止装置における上型面の所定の位置に係合させる上型面への基板位置決工程と、
前記基板の搬送供給装置を、さらに前記圧縮樹脂封止装置における上型面に向かって相対的に上動させることで、前記係止部が前記基板の裏面側の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面に向かって押し上げて、前記基板の裏面側の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面に接合させる上型面への基板接合工程と、
前記係止部が前記基板の裏面側の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面に向かって押し上げて、前記基板の裏面側の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面に接合させことで、前記基板の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面と係止部とによって挟持させる工程と、
前記収容凹部内に圧縮エアを供給することで、前記収容凹部内における内圧を高める工程と、
前記収容凹部内における内圧を高めることで、前記基板の中央部における垂下した変形姿勢が上型面側に押し上げられて矯正される基板姿勢矯正工程と、
前記基板姿勢矯正工程時に、及び/又は、前記基板姿勢矯正工程を経た後に、基板を圧縮樹脂封止装置における上型面に吸着させる上型面への基板吸着工程と、
前記上型面への基板吸着工程時に、及び/又は、前記上型面への基板吸着工程を経た後に、基板を圧縮樹脂封止装置における上型面に保持させる上型面への基板保持工程と、
前記上型面への基板保持工程を経た後に、前記基板の搬送供給装置を相対的に下動させると共に、これを前記圧縮樹脂封止装置の外部へ後退させる基板の搬送供給装置の後退工程と、を含むことを特徴とする基板の搬送供給方法。 A substrate having a plurality of electronic components mounted on the surface thereof is transported to a position below the upper mold surface in the compression resin sealing device, and the surface of the substrate on which the electronic components are mounted is directed downward and the substrate on the opposite side. A method for transporting and supplying a substrate for adsorbing and holding a rear surface side to an upper mold surface in the compressed resin sealing device,
A locking portion for joining the peripheral portion of the substrate surface and locking the peripheral portion of the substrate surface at a predetermined position, and the entire electronic component on the substrate surface are accommodated without contacting the locking portion. A preparation process of a substrate transport and supply device including an accommodation recess for performing,
A substrate transport and supply device that joins and locks a peripheral portion of the substrate surface to a locking portion of the substrate transport and supply device, and stores electronic components on the substrate surface in a storage recess of the substrate transport plate portion A substrate mounting process on the top,
A forward step of a substrate transport and supply device that transports the substrate transport and supply device that has undergone the substrate placement step to a position below the upper mold surface in the compressed resin sealing device;
The substrate transport and supply device that has undergone the advancement process of the substrate transport and supply device is moved up relatively toward the upper mold surface of the compressed resin sealing device, and the back surface side of the substrate is moved toward the compressed resin sealing device. A substrate positioning step to the upper mold surface to be engaged with a predetermined position of the upper mold surface;
By further moving the transport and supply device of the substrate relatively toward the upper mold surface in the compressed resin sealing device, the locking portion seals the peripheral portion on the back side of the substrate with the compressed resin sealing. A substrate bonding step to the upper mold surface that pushes up toward the upper mold surface in the apparatus and bonds the peripheral portion on the back surface side of the substrate to the upper mold surface in the compressed resin sealing device ;
The engaging portion pushes up the peripheral portion on the back surface side of the substrate toward the upper mold surface in the compression resin sealing device, and the peripheral portion on the back surface side of the substrate becomes the upper mold surface in the compression resin sealing device. The step of sandwiching the peripheral portion of the substrate by the upper mold surface and the locking portion in the compression resin sealing device by bonding,
Increasing the internal pressure in the housing recess by supplying compressed air into the housing recess;
A substrate posture correction step in which the hanging posture at the center portion of the substrate is pushed up to the upper mold surface side and corrected by increasing the internal pressure in the housing recess ,
A substrate adsorption step to the upper mold surface that adsorbs the substrate to the upper mold surface in the compression resin sealing device at the time of the substrate posture correction process and / or after the substrate posture correction process;
The substrate holding step on the upper mold surface that holds the substrate on the upper mold surface in the compression resin sealing device during and / or after the substrate adsorption process on the upper mold surface. When,
After the substrate holding process on the upper mold surface , the substrate transport and supply device is relatively moved downward, and the substrate transport and supply device is retracted to the outside of the compressed resin sealing device. The board | substrate conveyance supply method characterized by including these.
前記基板を載置する基板搬送プレート部と、
前記基板搬送プレート部を前記圧縮樹脂封止装置における上型面の下方位置に対して前進及び後退可能に配置するための進退往復動機構とを備えており、
また、前記基板搬送プレート部には、前記基板表面の周辺部位と接合し且つ前記基板表面の周辺部位を所定の位置に係止するための係止部と、前記基板表面の電子部品の全体を前記係止部と接触しない状態で収容するための収容凹部とを設け、
更に、前記基板搬送プレート部における収容凹部の底面に複数の圧縮エア供給孔を配設し且つ前記圧縮エア供給孔と圧縮エア供給機構側とを連通接続させた前記基板の変形姿勢矯正手段を配置して構成し、
前記基板の搬送供給装置を、前記圧縮樹脂封止装置における上型面に向かって相対的に上動させることで、前記係止部が前記基板の裏面側の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面に向かって押し上げて、前記基板の裏面側の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面に接合させ、
前記係止部が前記基板の裏面側の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面に向かって押し上げて、前記基板の裏面側の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面に接合させることで、前記基板の周辺部位を前記圧縮樹脂封止装置における上型面と係止部とによって挟持させ、
前記収容凹部内に圧縮エアを供給することで、前記収容凹部内における内圧を高め、
前記収容凹部内における内圧を高めることで、前記基板の中央部における垂下した変形姿勢が上型面側に押し上げられて矯正され、
前記基板の中央部における垂下した変形姿勢が矯正されることで、前記基板の裏面側の中央部が前記圧縮樹脂封止装置における上型面に吸着される
ことを特徴とする基板の搬送供給装置。 A substrate having a plurality of electronic components mounted on the surface thereof is transported to a position below the upper mold surface in the compression resin sealing device, and the surface of the substrate on which the electronic components are mounted is directed downward and the substrate on the opposite side. A substrate transport and supply device for adsorbing and holding the back side to the upper mold surface in the compressed resin sealing device,
A substrate transport plate portion for placing the substrate;
An advancing and reciprocating mechanism for disposing the substrate transport plate portion so as to be capable of moving forward and backward with respect to a position below the upper mold surface in the compressed resin sealing device;
The substrate transport plate portion includes a locking portion for joining the peripheral portion of the substrate surface and locking the peripheral portion of the substrate surface at a predetermined position, and the entire electronic components on the substrate surface. An accommodation recess for accommodating in a state of not contacting the locking portion;
In addition, a plurality of compressed air supply holes are provided on the bottom surface of the housing recess in the substrate transport plate section, and the substrate deformation posture correcting means is provided in which the compressed air supply holes and the compressed air supply mechanism are connected in communication. to configure,
The substrate feeding and supplying device is relatively moved upward toward the upper mold surface of the compressed resin sealing device, so that the locking portion moves the peripheral portion on the back side of the substrate to the compressed resin sealing device. And pushed up toward the upper mold surface in order to join the peripheral part of the back side of the substrate to the upper mold surface in the compression resin sealing device,
The engaging portion pushes up the peripheral portion on the back surface side of the substrate toward the upper mold surface in the compression resin sealing device, and the peripheral portion on the back surface side of the substrate becomes the upper mold surface in the compression resin sealing device. By bonding, the peripheral portion of the substrate is sandwiched between the upper mold surface and the locking portion in the compression resin sealing device,
By supplying compressed air into the housing recess, the internal pressure in the housing recess is increased,
By increasing the internal pressure in the housing recess, the hanging deformation posture in the central portion of the substrate is pushed up to the upper mold surface side and corrected,
The substrate, wherein the central portion of the back surface side of the substrate is adsorbed to the upper mold surface of the compression resin sealing device by correcting the hanging deformation posture in the center portion of the substrate. Conveyor supply device.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013170610A JP5934156B2 (en) | 2013-08-20 | 2013-08-20 | Substrate transport and supply method and substrate transport and supply apparatus |
TW103118909A TWI552652B (en) | 2013-08-20 | 2014-05-30 | A substrate feeding method and a substrate feeding and feeding device |
CN201410247169.7A CN104427845B9 (en) | 2013-08-20 | 2014-06-05 | Substrate transports supply method and substrate transports feedway |
KR1020140072010A KR101537479B1 (en) | 2013-08-20 | 2014-06-13 | Method and apparatus for transfer-supplying substrate |
SG10201403872TA SG10201403872TA (en) | 2013-08-20 | 2014-07-04 | Substrate transport and feeding method and substrate transport and feeding apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013170610A JP5934156B2 (en) | 2013-08-20 | 2013-08-20 | Substrate transport and supply method and substrate transport and supply apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015041640A JP2015041640A (en) | 2015-03-02 |
JP5934156B2 true JP5934156B2 (en) | 2016-06-15 |
Family
ID=52695655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013170610A Active JP5934156B2 (en) | 2013-08-20 | 2013-08-20 | Substrate transport and supply method and substrate transport and supply apparatus |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5934156B2 (en) |
KR (1) | KR101537479B1 (en) |
CN (1) | CN104427845B9 (en) |
SG (1) | SG10201403872TA (en) |
TW (1) | TWI552652B (en) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104925473B (en) * | 2015-05-29 | 2017-03-01 | 光驰科技(上海)有限公司 | A kind of control method solving substrate conveyance dolly versatility |
KR20180133933A (en) * | 2016-05-06 | 2018-12-17 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | SYSTEMS, APPARATUS AND METHODS FOR IMPROVED SUBSTRATE HANDLING ASSEMBLY |
JP7164289B2 (en) * | 2016-09-05 | 2022-11-01 | 東京エレクトロン株式会社 | Position-Specific Tuning of Bow-Controlling Stress to Control Overlay During Semiconductor Processing |
JP6423399B2 (en) * | 2016-09-27 | 2018-11-14 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding method, film conveying apparatus, and resin molding apparatus |
CN106672619A (en) * | 2017-02-15 | 2017-05-17 | 苏州迈瑞微电子有限公司 | Molding compound transfer equipment and method |
WO2018163284A1 (en) * | 2017-03-07 | 2018-09-13 | ヤマハ発動機株式会社 | Component mounting device and method for holding substrate |
JP6804410B2 (en) * | 2017-08-09 | 2020-12-23 | Towa株式会社 | Conveying mechanism, resin molding device, method of delivering the object to be molded to the molding mold, and method of manufacturing the resin molded product |
JP7034700B2 (en) * | 2017-12-21 | 2022-03-14 | Towa株式会社 | Conveyor device, resin molding device and resin molded product manufacturing method |
JP7102238B2 (en) * | 2018-06-08 | 2022-07-19 | Towa株式会社 | Resin molding equipment and manufacturing method of resin molded products |
KR102226154B1 (en) * | 2019-07-01 | 2021-03-10 | 주식회사 휴템 | Substrates bonding apparatus |
JP7203778B2 (en) * | 2020-01-21 | 2023-01-13 | Towa株式会社 | RESIN MOLDING APPARATUS AND RESIN MOLDED PRODUCT MANUFACTURING METHOD |
CN113816144A (en) * | 2021-08-23 | 2021-12-21 | 甘肃旭盛显示科技有限公司 | Glass substrate fetching device and glass substrate production line |
CN114420623B (en) * | 2022-03-31 | 2022-06-07 | 三河建华高科有限责任公司 | Manipulator structure suitable for warpage wafer is got and is put |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3214788B2 (en) * | 1994-11-21 | 2001-10-02 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding device and resin molding method |
JPH09266242A (en) * | 1996-03-27 | 1997-10-07 | Kuroda Precision Ind Ltd | Adsorption chuck device |
JP2002043400A (en) * | 2000-07-24 | 2002-02-08 | Hiroshi Akashi | Rotation supporting device |
JP4519398B2 (en) * | 2002-11-26 | 2010-08-04 | Towa株式会社 | Resin sealing method and semiconductor device manufacturing method |
TWI327128B (en) * | 2003-07-08 | 2010-07-11 | Daifuku Kk | Plate-shaped work piece transporting apparatus |
JP4150041B2 (en) * | 2005-12-26 | 2008-09-17 | 富士通株式会社 | Bonded board manufacturing equipment |
JP4836661B2 (en) * | 2006-05-17 | 2011-12-14 | Towa株式会社 | Resin sealing molding method for electronic parts and mold for resin sealing molding |
JP5038783B2 (en) * | 2007-06-06 | 2012-10-03 | 住友重機械工業株式会社 | Film supply mechanism |
JP4551931B2 (en) * | 2008-01-08 | 2010-09-29 | 住友重機械工業株式会社 | Resin sealing method |
JP5156579B2 (en) * | 2008-10-31 | 2013-03-06 | Towa株式会社 | Board loading / unloading device |
CN103959453B (en) * | 2011-11-25 | 2017-03-08 | 信越工程株式会社 | Base board delivery device and substrate assembly line |
-
2013
- 2013-08-20 JP JP2013170610A patent/JP5934156B2/en active Active
-
2014
- 2014-05-30 TW TW103118909A patent/TWI552652B/en active
- 2014-06-05 CN CN201410247169.7A patent/CN104427845B9/en active Active
- 2014-06-13 KR KR1020140072010A patent/KR101537479B1/en active Active
- 2014-07-04 SG SG10201403872TA patent/SG10201403872TA/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201511625A (en) | 2015-03-16 |
SG10201403872TA (en) | 2015-03-30 |
CN104427845A (en) | 2015-03-18 |
CN104427845B9 (en) | 2017-08-08 |
KR20150021441A (en) | 2015-03-02 |
JP2015041640A (en) | 2015-03-02 |
KR101537479B1 (en) | 2015-07-16 |
TWI552652B (en) | 2016-10-01 |
CN104427845B (en) | 2017-06-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150806 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151211 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160506 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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