JP5564349B2 - 画像処理装置及び外観検査方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置10を含む画像システム1のシステム構成例を示す図である。
図1に示すカメラ30と照明装置60を利用することで得られる「距離画像」とは、ワークを撮像するカメラ30から、ワークまでの距離に応じて各画素の濃淡値が変化する画像をいう。換言すれば、カメラ30からワークまでの距離に基づいて濃淡値が決定される画像ともいえるし、ワークまでの距離に応じた濃淡値を有する多値画像ともいえるし、或いは、ワークの高さに応じた濃淡値を有する多値画像ともいえる。さらに、濃淡画像の画素ごとに、カメラ30からの距離を濃淡値に変換した多値画像ともいえる。例えば、図2(a)に示すように、半径の異なる円柱が2段重なったようなワークの距離画像を考える。ワークの最上面S1とカメラ30までの距離はl1であり、ワークの中段面S2とカメラ30までの距離はl2であり、ワークの載置面S3とカメラ30までの距離はl3であり、ワークの高さはL(=l3−l1)である。このようなワークから、例えば図2(b)に示すような距離画像を得ることができる。図2(b)によれば、ワークの最上面S1が最も濃く(例えば黒色)、ワークの載置面S3が最も薄く(例えば白色)、ワークの中段面S2がこれらの中間色(例えば灰色)となっている。すなわち、ワークとカメラ30までの距離l1,l2,l3(l1<l2<l3)に応じて、最上面S1,中段面S2,載置面S3という順番で各画素の濃淡値が小さくなっている。このように、距離画像では、カメラ30からワークまでの距離に応じて各画素の濃淡値が変化する。
図3は、本実施形態に係る画像処理装置10のハードウェア構成例を示すブロック図である。図3に示すように、画像処理装置10は、各種プログラムに基づき数値計算や情報処理を行うとともに、ハードウェア各部の制御を行う主制御部11を有している。主制御部11は、例えば、中央演算処理装置としてのCPU11aと、主制御部11が各種プログラムを実行する際のワークエリアとして機能するRAMなどのワークメモリ11bと、起動プログラムや初期化プログラムなどが格納されたROM,フラッシュROM,又はEEPROMなどのプログラムメモリ11cとを有している。
図4は、本実施形態に係る画像処理装置10の機能構成例を示す図である。
図5〜図12は、本実施形態に係る画像処理装置10において検査領域が特定される様子に関する説明図である。なお、図5〜図12は、モニタ40に表示される画面の一部である。
上述した実施形態では、アライメントマークM1がプレスによる僅かな凹凸で構成されることにより、アライメントマークM1を濃淡画像上で検出できない例について説明したが、例えば図21に示すように、アライメントマークM2を距離画像上で検出できないケースも考えられる。図21は、図4に示す機能構成において濃淡画像取得手段110と距離算出手段120及び距離画像生成手段130とを入れ替えたときのアプリケーション具体例を示す図である。具体的には、図21(a)に示すように、アライメントマークM2がワークの左端に(凹凸を無視できる程度で)印字されており、ワークの中央付近には、(正しい位置に形成されているか否かの)検査対象となる4個の凸部が形成されている。このようなワークの濃淡画像では、図21(b)に示すように、アライメントマークM2は明瞭に現れる一方、4個の凸部は明瞭に現れない。しかし、図21(c)に示すように、距離画像では、アライメントマークM2は全く現れないが、4個の凸部は明瞭に現れる。したがって、図21(b)に示す濃淡画像において、図15を用いて説明したようなパターン領域R1を設定し、図21(c)に示す距離画像において、図16を用いて説明したような基準検査領域R2−1〜R2−4を設定する。これにより、画像処理装置10の運転中に、ワークの位置がずれたとしても、濃淡画像からアライメントマークM2を検出し、検出したアライメントマークM2に基づいて、基準検査領域R2−1〜R2−4の位置を補正することができる。
11 主制御部
12 照明制御部
13 画像入力部
14 操作入力部
15 表示制御部
16 通信部
17 画像処理部
30 カメラ
40 モニタ
50 コンソール
60 照明
70 PLC
80 PC
110 濃淡画像取得手段
120 距離算出手段
130 距離画像生成手段
140 検出条件設定受付手段
150 特定パターン検出手段
160 基準検査領域設定受付手段
170 検査領域特定手段
180 特徴量算出手段
190 判定手段
Claims (8)
- ワークを撮像するカメラを有し、当該カメラから取得した画像に基づいてワーク表面における所定の検査範囲を検査し、ワークの良否を判定する画像処理装置において、
各画素が、前記カメラの受光量に応じた濃淡値を有する濃淡画像を取得する濃淡画像取得手段と、
前記カメラから取得した画像を用いて、前記カメラからワーク表面までの距離を算出する距離算出手段と、
各画素が、算出された距離に応じた濃淡値を有する距離画像を生成する距離画像生成手段と、
前記濃淡画像と前記距離画像の一方の画像において、他方の画像上で前記検査範囲に相当する検査領域を特定するための特定パターンを検出する特定パターン検出手段と、
前記濃淡画像と前記距離画像の他方の画像において、前記特定パターンと一定の相対位置関係にある基準検査領域の設定を受け付ける基準検査領域設定受付手段と、
前記特定パターン検出手段により前記濃淡画像と前記距離画像の一方の画像において検出された特定パターンの位置及び傾斜角度の少なくとも一方に基づいて、前記濃淡画像と前記距離画像の他方の画像において設定された前記基準検査領域を位置補正することにより前記検査領域を特定する検査領域特定手段と、
特定された前記検査領域から特徴量を算出する特徴量算出手段と、
算出された特徴量に基づいて、ワークの良否を判定する判定手段と、を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 前記濃淡画像と前記距離画像の一方の画像からエッジを抽出するエッジ抽出手段を備え、
前記検査領域特定手段は、前記エッジ抽出手段により抽出されたエッジに基づくエッジパターンの位置及び傾斜角度の少なくとも一方に基づいて、他方の画像上で当該エッジパターンに対応する領域を生成することにより、前記検査領域を特定することを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。 - 前記特定パターンを検出するための検出条件の設定を受け付ける検出条件設定受付手段と、
受け付けた検出条件を記憶する検出条件記憶手段と、を備え、
前記特定パターン検出出手段は、前記検出条件記憶手段に記憶された検出条件に基づいて、他方の画像上で前記検査範囲に相当する検査領域を特定するための特定パターンを検出することを特徴とする請求項1又は2記載の画像処理装置。 - 前記検出条件は、少なくとも前記特定パターンを検出するためのエッジ強度が含まれることを特徴とする請求項3記載の画像処理装置。
- 前記濃淡画像取得手段により受光量に応じた濃淡値を有する濃淡画像を取得するカメラと、前記距離算出手段によりワーク表面までの距離を算出するカメラとは、同一のカメラであることを特徴とする請求項1から4のいずれか記載の画像処理装置。
- 前記検査領域特定手段は、前記濃淡画像と前記距離画像の一方の画像においても、前記特定パターン検出手段により検出された特定パターンの位置及び傾斜角度の少なくとも一方に基づいて、前記検査領域を特定し、
前記特徴量算出手段は、前記濃淡画像及び前記距離画像において特定された検査領域から、それぞれ第一及び第二の特徴量を算出するとともに、
前記判定手段は、前記第一及び第二の特徴量のうち少なくとも一方に基づいて、ワークの良否を判定することを特徴とする請求項1から5のいずれか記載の画像処理装置。 - 前記判定手段は、前記第一及び第二の特徴量に基づいて、ワークの良否を判定することを特徴とする請求項6記載の画像処理装置。
- ワークを撮像するカメラを有し、当該カメラから取得した画像に基づいてワーク表面における所定の検査範囲を検査し、ワークの良否を判定する画像処理装置を用いた外観検査方法において、
各画素が、前記カメラの受光量に応じた濃淡値を有する濃淡画像を取得するステップと、
前記カメラから取得した画像を用いて、前記カメラからワーク表面までの距離を算出するステップと、
各画素が、算出された距離に応じた濃淡値を有する距離画像を生成するステップと、
前記濃淡画像と前記距離画像の一方の画像において、他方の画像上で前記検査範囲に相当する検査領域を特定するための特定パターンを検出するステップと、
前記濃淡画像と前記距離画像の一方の画像において検出された特定パターンの位置及び傾斜角度の少なくとも一方に基づいて、前記濃淡画像と前記距離画像の他方の画像において設定された前記特定パターンと一定の相対位置関係にある基準検査領域を位置補正することにより前記検査領域を特定するステップと、
特定された前記検査領域から特徴量を算出するステップと、
算出された特徴量に基づいて、ワークの良否を判定するステップと、を含むことを特徴とする画像処理装置を用いた外観検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010160994A JP5564349B2 (ja) | 2010-07-15 | 2010-07-15 | 画像処理装置及び外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010160994A JP5564349B2 (ja) | 2010-07-15 | 2010-07-15 | 画像処理装置及び外観検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012021914A JP2012021914A (ja) | 2012-02-02 |
JP5564349B2 true JP5564349B2 (ja) | 2014-07-30 |
Family
ID=45776306
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010160994A Expired - Fee Related JP5564349B2 (ja) | 2010-07-15 | 2010-07-15 | 画像処理装置及び外観検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5564349B2 (ja) |
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JP2012021914A (ja) | 2012-02-02 |
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A621 | Written request for application examination |
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