JP5510387B2 - X線検査装置 - Google Patents
X線検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5510387B2 JP5510387B2 JP2011105110A JP2011105110A JP5510387B2 JP 5510387 B2 JP5510387 B2 JP 5510387B2 JP 2011105110 A JP2011105110 A JP 2011105110A JP 2011105110 A JP2011105110 A JP 2011105110A JP 5510387 B2 JP5510387 B2 JP 5510387B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- ray
- appearance
- past
- stored
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 82
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 33
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 30
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 13
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000003709 image segmentation Methods 0.000 description 4
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 4
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- FGRBYDKOBBBPOI-UHFFFAOYSA-N 10,10-dioxo-2-[4-(N-phenylanilino)phenyl]thioxanthen-9-one Chemical compound O=C1c2ccccc2S(=O)(=O)c2ccc(cc12)-c1ccc(cc1)N(c1ccccc1)c1ccccc1 FGRBYDKOBBBPOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
すなわち、この発明に係るX線検査装置(前者の発明)は、対象物に対してX線検査を行うX線検査装置であって、X線を対象物に対して照射するX線照射手段と、照射された前記X線を検出して前記X線検査を行うことで当該対象物のX線像を取得するX線検出手段と、対象物に対して光学撮影を行うことで当該対象物の外観像を取得する光学カメラとを備えるとともに、前記X線検出手段により取得されたX線像と前記光学カメラにより取得された外観像とを同一対象物毎に互いに関連付けてそれぞれ記憶する記憶手段と、その記憶手段に過去に記憶された複数の前記X線像からなるX線像群または複数の前記外観像からなる外観像群のいずれか一方の画像群の中から対象となる一方の画像を選択する画像選択手段と、その画像選択手段で選択された前記一方の画像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶された他方の画像を読み出して表示する表示手段とを備えることを特徴とするものである。
また、前者の発明とは別のX線検査装置(後者の発明)によれば、X線検出手段により取得された複数のX線像と光学カメラにより取得された外観像とを同一対象物毎に互いに関連付けるとともに、X線像をそれに該当する外観像の区分箇所に関連付けて、記憶手段にそれぞれ記憶する。そして、その記憶手段に過去に記憶された複数のX線像または外観像の中から対象となるX線像または外観像の区分箇所のいずれか一方の画像を画像選択手段が選択する。その画像選択手段で選択された一方の画像に関連付けられ、かつ記憶手段に過去に記憶された他方の画像を読み出して表示手段に表示するとともに、選択された外観像の区分箇所あるいは選択されたX線像に関連付けられた外観像の区分箇所を、当該外観像の他の箇所と識別して表示手段に表示する。その結果、対象物から過去に撮影された画像を検索することができる、または過去に撮影された画像から対象物中のどの部分かがわかることができる。
図1は、各実施例に係るX線検査装置の概略構成図およびブロック図である。後述する実施例2〜4も含めて、本実施例1では、対象物(サンプル)として集積回路(IC)を例に採って説明するとともに、X線像としてX線透視像を例に採って説明する。
図6、図7は、実施例2に係る画像選択および表示の一実施態様である。上述した実施例1と共通する箇所については、同じ符号を付してその説明を省略する。また、図1に示すように、本実施例2に係るX線検査装置1は、実施例1に係るX線検査装置1と同じ構成である。
図8(a)、図8(b)は、実施例3に係る画像選択および表示の一実施態様である。上述した実施例1、2と共通する箇所については、同じ符号を付してその説明を省略する。また、図1に示すように、本実施例3に係るX線検査装置1は、実施例1、2に係るX線検査装置1と同じ構成である。
図8(c)、図8(d)は、実施例4に係る画像選択および表示の一実施態様である。上述した実施例1〜3と共通する箇所については、同じ符号を付してその説明を省略する。また、図1に示すように、本実施例4に係るX線検査装置1は、実施例1〜3に係るX線検査装置1と同じ構成である。
8 … メモリ部
8a … テーブル
9 … 入力部
10 … 出力部
10M … モニタ
12 … 光学カメラ
21 … X線管
22 … X線検出器
F … X線透視像
I … 外観像
O … 対象物
Claims (15)
- 対象物に対してX線検査を行うX線検査装置であって、
X線を対象物に対して照射するX線照射手段と、
照射された前記X線を検出して前記X線検査を行うことで当該対象物のX線像を取得するX線検出手段と、
対象物に対して光学撮影を行うことで当該対象物の外観像を取得する光学カメラと
を備えるとともに、
前記X線検出手段により取得されたX線像と前記光学カメラにより取得された外観像とを同一対象物毎に互いに関連付けてそれぞれ記憶する記憶手段と、
その記憶手段に過去に記憶された複数の前記X線像からなるX線像群または複数の前記外観像からなる外観像群のいずれか一方の画像群の中から対象となる一方の画像を選択する画像選択手段と、
その画像選択手段で選択された前記一方の画像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶された他方の画像を読み出して表示する表示手段と
を備えることを特徴とするX線検査装置。 - 請求項1に記載のX線検査装置において、
前記画像選択手段は、前記記憶手段に過去に記憶された前記外観像群の中から対象となる外観像を選択し、
前記表示手段は、前記画像選択手段で選択された前記外観像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶されたX線像を読み出して表示する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項2に記載のX線検査装置において、
前記表示手段は、前記記憶手段に過去に記憶された前記外観像を読み出して複数に一覧表示し、
前記画像選択手段は、前記表示手段に一覧表示された複数の前記外観像からなる外観像群の中から対象となる外観像を選択することで、前記記憶手段に過去に記憶された前記外観像群の中から対象となる外観像を選択する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項2または請求項3に記載のX線検査装置において、
前記表示手段は、前記画像選択手段で選択された前記外観像を表示するとともに、当該外観像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶されたX線像を読み出して表示する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項1に記載のX線検査装置において、
前記画像選択手段は、前記記憶手段に過去に記憶された前記X線像群の中から対象となるX線像を選択し、
前記表示手段は、前記画像選択手段で選択された前記X線像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶された外観像を読み出して表示する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項5に記載のX線検査装置において、
前記表示手段は、前記記憶手段に過去に記憶された前記X線像を読み出して複数に一覧表示し、
前記画像選択手段は、前記表示手段に一覧表示された複数の前記X線像からなるX線像群の中から対象となるX線像を選択することで、前記記憶手段に過去に記憶された前記X線像群の中から対象となるX線像を選択する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項5または請求項6に記載のX線検査装置において、
前記表示手段は、前記画像選択手段で選択された前記X線像を表示するとともに、当該X線像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶された外観像を読み出して表示する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項1から請求項7のいずれかに記載のX線検査装置において、
前記記憶手段は、前記X線像をそれに該当する外観像の区分箇所に関連付けてそれぞれ記憶し、
前記画像選択手段は、前記記憶手段に過去に記憶された複数のX線像または前記外観像の中から対象となるX線像または外観像の区分箇所のいずれか一方の画像を選択し、
前記表示手段は、前記画像選択手段で選択された前記一方の画像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶された他方の画像を読み出して表示するとともに、選択された外観像の区分箇所あるいは選択されたX線像に関連付けられた外観像の区分箇所を、当該外観像の他の箇所と識別して表示する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 対象物に対してX線検査を行うX線検査装置であって、
X線を対象物に対して照射するX線照射手段と、
照射された前記X線を検出して前記X線検査を行うことで当該対象物のX線像を取得するX線検出手段と、
対象物に対して光学撮影を行うことで当該対象物の外観像を取得する光学カメラと
を備えるとともに、
前記X線検出手段により取得された複数のX線像と前記光学カメラにより取得された外観像とを同一対象物毎に互いに関連付けるとともに、X線像をそれに該当する外観像の区分箇所に関連付けてそれぞれ記憶する記憶手段と、
その記憶手段に過去に記憶された複数のX線像または前記外観像の中から対象となるX線像または外観像の区分箇所のいずれか一方の画像を選択する画像選択手段と、
その画像選択手段で選択された前記一方の画像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶された他方の画像を読み出して表示するとともに、選択された外観像の区分箇所あるいは選択されたX線像に関連付けられた外観像の区分箇所を、当該外観像の他の箇所と識別して表示する表示手段と
を備えることを特徴とするX線検査装置。 - 請求項8または請求項9に記載のX線検査装置において、
前記画像選択手段は、前記記憶手段に過去に記憶された前記外観像の中から対象となる外観像の区分箇所を選択し、
前記表示手段は、前記画像選択手段で選択された前記外観像の区分箇所に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶されたX線像を読み出して表示するとともに、選択された外観像の区分箇所を当該外観像の他の箇所と識別して表示する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項10に記載のX線検査装置において、
前記表示手段は、前記記憶手段に過去に記憶された前記外観像の区分箇所を読み出して複数に一覧表示し、
前記画像選択手段は、前記表示手段に一覧表示された複数の前記区分箇所の中から対象となる区分箇所を選択することで、前記記憶手段に過去に記憶された前記外観像の中から対象となる外観像の区分箇所を選択する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項10または請求項11に記載のX線検査装置において、
前記表示手段は、前記画像選択手段で選択された前記外観像の区分箇所を表示し、選択された外観像の区分箇所を当該外観像の他の箇所と識別して表示するとともに、当該外観像の区分箇所に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶されたX線像を読み出して表示する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項8または請求項9に記載のX線検査装置において、
前記画像選択手段は、前記記憶手段に過去に記憶された複数の前記X線像の中から対象となるX線像を選択し、
前記表示手段は、前記画像選択手段で選択された前記X線像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶された外観像の区分箇所を読み出して表示するとともに、選択されたX線像に関連付けられた外観像の区分箇所を当該外観像の他の箇所と識別して表示する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項13に記載のX線検査装置において、
前記表示手段は、前記記憶手段に過去に記憶された前記X線像を読み出して複数に一覧表示し、
前記画像選択手段は、前記表示手段に一覧表示された複数の前記X線像の中から対象となるX線像を選択することで、前記記憶手段に過去に記憶された複数の前記X線像の中から対象となるX線像を選択する
ことを特徴とするX線検査装置。 - 請求項13または請求項14に記載のX線検査装置において、
前記表示手段は、前記画像選択手段で選択された前記X線像を表示し、当該X線像に関連付けられ、かつ前記記憶手段に過去に記憶された外観像の区分箇所を読み出して表示するとともに、選択されたX線像に関連付けられた外観像の区分箇所を当該外観像の他の箇所と識別して表示する
ことを特徴とするX線検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011105110A JP5510387B2 (ja) | 2011-05-10 | 2011-05-10 | X線検査装置 |
CN201210017764.2A CN102778465B (zh) | 2011-05-10 | 2012-01-19 | X射线检查装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011105110A JP5510387B2 (ja) | 2011-05-10 | 2011-05-10 | X線検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012237577A JP2012237577A (ja) | 2012-12-06 |
JP5510387B2 true JP5510387B2 (ja) | 2014-06-04 |
Family
ID=47123447
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011105110A Active JP5510387B2 (ja) | 2011-05-10 | 2011-05-10 | X線検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5510387B2 (ja) |
CN (1) | CN102778465B (ja) |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3689868B2 (ja) * | 1998-06-23 | 2005-08-31 | 京セラ株式会社 | X線検査装置 |
JP2006064508A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
JP4143859B2 (ja) * | 2004-09-22 | 2008-09-03 | 株式会社島津製作所 | X線透視装置 |
KR100888530B1 (ko) * | 2004-11-12 | 2009-03-11 | 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 | X선 ct 장치 및 x선 ct 방법 |
JP4536548B2 (ja) * | 2005-02-22 | 2010-09-01 | アンリツ産機システム株式会社 | X線検査装置および蓄積情報抽出システム |
JP2006343193A (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Shimadzu Corp | X線透視装置 |
JP4577214B2 (ja) * | 2005-12-27 | 2010-11-10 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
DE102006001850B4 (de) * | 2006-01-13 | 2015-03-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Bildgebendes medizintechnisches Gerät und Verfahren |
JP2009216679A (ja) * | 2008-03-13 | 2009-09-24 | Shimadzu Corp | X線透視検査装置 |
CN101706458A (zh) * | 2009-11-30 | 2010-05-12 | 中北大学 | 高分辨率印刷电路板自动检测系统及检测方法 |
-
2011
- 2011-05-10 JP JP2011105110A patent/JP5510387B2/ja active Active
-
2012
- 2012-01-19 CN CN201210017764.2A patent/CN102778465B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102778465A (zh) | 2012-11-14 |
JP2012237577A (ja) | 2012-12-06 |
CN102778465B (zh) | 2014-12-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6141084B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP2007288731A (ja) | リアルタイムパノラマ画像合成方法及びその装置 | |
KR20140105036A (ko) | 화상 처리 장치, 화상 표시 시스템, 화상 처리 방법 및 컴퓨터 판독가능 기억 매체 | |
JP5018868B2 (ja) | 試料の観察方法およびその装置 | |
CN111134699B (zh) | 放射线成像系统和方法、控制装置、以及计算机可读介质 | |
JP2020087513A (ja) | 走査電子顕微鏡および画像処理方法 | |
WO2011024287A1 (ja) | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラム | |
JP2008032754A (ja) | X線透視検査装置 | |
JP4715986B2 (ja) | X線透視装置 | |
JP5549407B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP5510387B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP4072420B2 (ja) | X線透視検査装置の較正方法 | |
JP2005000369A (ja) | X線照射条件制御装置 | |
JP5396846B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2005030966A (ja) | 検査データ設定方法及びそれを使った検査方法並びに装置 | |
JP2013257155A (ja) | X線検査装置 | |
JP2009294465A (ja) | 顕微鏡用撮像装置と、対物ミクロメータ | |
JP4665696B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP5088287B2 (ja) | 放射線撮影装置 | |
JP2005205086A (ja) | X線診断装置 | |
JP2013250072A (ja) | X線検査装置 | |
JP2007170926A (ja) | X線検査装置、断層画像異常表示装置、x線検査方法、断層画像異常表示方法、プログラム、および記録媒体 | |
WO2024180824A1 (ja) | 表示制御装置、表示制御方法、及び表示制御プログラム | |
JP4665774B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP4609643B2 (ja) | X線ct装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130730 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140212 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140225 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140310 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5510387 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |