[go: up one dir, main page]

JP5447516B2 - 画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡 - Google Patents

画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP5447516B2
JP5447516B2 JP2011518464A JP2011518464A JP5447516B2 JP 5447516 B2 JP5447516 B2 JP 5447516B2 JP 2011518464 A JP2011518464 A JP 2011518464A JP 2011518464 A JP2011518464 A JP 2011518464A JP 5447516 B2 JP5447516 B2 JP 5447516B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
microscope
reference point
bright
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011518464A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2010140609A1 (ja
Inventor
高明 岡本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2011518464A priority Critical patent/JP5447516B2/ja
Publication of JPWO2010140609A1 publication Critical patent/JPWO2010140609A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5447516B2 publication Critical patent/JP5447516B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0088Inverse microscopes
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T5/00Image enhancement or restoration
    • G06T5/50Image enhancement or restoration using two or more images, e.g. averaging or subtraction
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/30Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration
    • G06T7/33Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration using feature-based methods
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B15/00Optical objectives with means for varying the magnification
    • G02B15/02Optical objectives with means for varying the magnification by changing, adding, or subtracting a part of the objective, e.g. convertible objective
    • G02B15/04Optical objectives with means for varying the magnification by changing, adding, or subtracting a part of the objective, e.g. convertible objective by changing a part
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10056Microscopic image
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10064Fluorescence image
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30004Biomedical image processing
    • G06T2207/30024Cell structures in vitro; Tissue sections in vitro

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Description

本発明は、画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡に関し、特に、全反射顕微鏡により撮影された画像と、共焦点顕微鏡により撮影された画像を重ね合わせる場合に用いて好適な画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡に関する。
従来、光学部材を切り替えることにより、全反射顕微鏡(TIRF(Total Internal Reflection Fluorescence)顕微鏡、全反射照明蛍光顕微鏡)と共焦点顕微鏡(コンフォーカル顕微鏡)の両方に使用できる顕微鏡が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2004−85811号公報
ところで、全反射顕微鏡により得られた画像(以下、TIRF画像と称する)と、共焦点顕微鏡により得られた画像(以下、コンフォーカル画像と称する)との両方を用いて試料の現象を確認する場合、例えば、2つの画像を重ね合わせて、双方の画像に出現する物体が同一のものであるか否かを判断するときがある。しかし、全反射顕微鏡と共焦点顕微鏡とでは、試料の画像取得方法(試料への照明方法)が異なるため、TIRF画像とコンフォーカル画像とでは、観察範囲(試料の深さ方向)や画像のサイズなどが異なる。従って、2つの画像を重ね合わせるためには、画像の拡大、縮小、回転、平行移動、反転といった補正を行なう必要がある。
しかしながら、従来の顕微鏡では、ユーザが、目視で確認しながら、画像の補正を行ない、TIRF画像とコンフォーカル画像を重ね合わせなければならなかった。
本発明は、このような状況を鑑みてなされたものであり、例えば、TIRF画像とコンフォーカル画像のように、異なる観察手法の顕微鏡によりそれぞれ取得した画像を簡単かつ正確に重ね合わせることができるようにするものである。
本発明の第1の側面の画像処理装置は、第1の顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点、及び第2の顕微鏡を用いて取得した試料の所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点が、互いに試料の所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられるか否か判定するとともに、対応付けられた輝点を基準点としてそれぞれ3点以上検出する基準点検出手段と、第1の蛍光画像における基準点の第1の座標系と第2の蛍光画像における基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算する計算手段と、変換係数を用いて、第1の蛍光画像と第2の蛍光画像とを重ね合わせる重ね合わせ手段とを含む。
本発明の第1の側面の画像処理方法は、第1の顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点、及び第2の顕微鏡を用いて取得した試料の所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点が、互いに試料の所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられるか否か判定するとともに、対応付けられた輝点を基準点としてそれぞれ3点以上検出し、第1の蛍光画像における基準点の第1の座標系と第2の蛍光画像における基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算し、変換係数を用いて、第1の蛍光画像と第2の蛍光画像とを重ね合わせるステップを含む。
本発明の第1の側面のプログラムは、第1の顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点、及び第2の顕微鏡を用いて取得した試料の所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点が、互いに試料の所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられるか否か判定するとともに、対応付けられた輝点を基準点としてそれぞれ3点以上検出し、第1の蛍光画像における基準点の第1の座標系と第2の蛍光画像における基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算し、変換係数を用いて、第1の蛍光画像と第2の蛍光画像とを重ね合わせるステップを含む処理をコンピュータに実行させるためのものである。
本発明の第1の側面においては、第1の顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点、及び第2の顕微鏡を用いて取得した試料の所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点が、互いに試料の所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられるか否か判定されるとともに、対応付けられた輝点が基準点としてそれぞれ3点以上検出され、第1の蛍光画像における基準点の第1の座標系と第2の蛍光画像における基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数が計算され、変換係数を用いて、第1の蛍光画像と第2の蛍光画像とを重ね合わせられる。
本発明の第2の側面の顕微鏡は、全反射顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第1の輝点の組み合わせと、共焦点顕微鏡を用いて取得した試料の所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第2の輝点の組み合わせとのペアのうち、各組み合わせに含まれる3つの輝点を頂点とする3角形が相似するペアに含まれる輝点を、互いに試料の所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられる基準点としてそれぞれ検出する基準点検出手段と、第1の蛍光画像における基準点の第1の座標系と第2の蛍光画像における基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算する計算手段と、変換係数を用いて、第1の蛍光画像と第2の蛍光画像とを重ね合わせるか、或いは、共焦点顕微鏡を用いて取得した、所定面とは異なる試料の面に関する画像を第1の蛍光画像と重ね合わせる重ね合わせ手段とを含む。
本発明の第2の側面においては、全反射顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第1の輝点の組み合わせと、共焦点顕微鏡を用いて取得した試料の所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第2の輝点の組み合わせとのペアのうち、各組み合わせに含まれる3つの輝点を頂点とする3角形が相似するペアに含まれる輝点が、互いに試料の所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられる基準点としてそれぞれ検出され、第1の蛍光画像における基準点の第1の座標系と第2の蛍光画像における基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数が計算され、変換係数を用いて、第1の蛍光画像と第2の蛍光画像とが重ね合わせられるか、或いは、共焦点顕微鏡を用いて取得した、所定面とは異なる試料の面に関する画像が第1の蛍光画像と重ね合わせられる。
本発明の第3の側面の画像処理装置は、全反射顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第1の輝点の組み合わせと、共焦点顕微鏡を用いて取得した試料の所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第2の輝点の組み合わせとのペアのうち、各組み合わせに含まれる3つの輝点を頂点とする3角形が相似するペアに含まれる輝点が、互いに試料の所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられる基準点としてそれぞれ検出され、第1の蛍光画像における基準点の第1の座標系と第2の蛍光画像における基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数が計算され、変換係数を用いて、第1の蛍光画像と第2の蛍光画像とが重ね合わせられるか、或いは、共焦点顕微鏡を用いて取得した、所定面とは異なる試料の面に関する画像が第1の蛍光画像と重ね合わせられる。
本発明の第3の側面の画像処理方法は、全反射顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第1の輝点の組み合わせと、共焦点顕微鏡を用いて取得した試料の所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第2の輝点の組み合わせとのペアのうち、各組み合わせに含まれる3つの輝点を頂点とする3角形が相似するペアに含まれる輝点を、互いに試料の所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられる基準点としてそれぞれ検出し、第1の蛍光画像における基準点の第1の座標系と第2の蛍光画像における基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算し、変換係数を用いて、第1の蛍光画像と第2の蛍光画像とを重ね合わせるか、或いは、共焦点顕微鏡を用いて取得した、所定面とは異なる試料の面に関する画像を第1の蛍光画像と重ね合わせるステップを含む。
本発明の第3の側面においては、全反射顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第1の輝点の組み合わせと、共焦点顕微鏡を用いて取得した試料の所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第2の輝点の組み合わせとのペアのうち、各組み合わせに含まれる3つの輝点を頂点とする3角形が相似するペアに含まれる輝点が、互いに試料の所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられる基準点としてそれぞれ検出され、第1の蛍光画像における基準点の第1の座標系と第2の蛍光画像における基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数が計算され、変換係数を用いて、第1の蛍光画像と第2の蛍光画像とが重ね合わせられるか、或いは、共焦点顕微鏡を用いて取得した、所定面とは異なる試料の面に関する画像が第1の蛍光画像と重ね合わせられる。
本発明の第1乃至第3の側面によれば、全反射顕微鏡により撮影した画像の座標系と、共焦点顕微鏡により撮影した画像の座標系とを相互に変換することができる。その結果、全反射顕微鏡により撮影した画像と、共焦点顕微鏡により撮影した画像とを簡単かつ正確に重ね合わせることができる。
本発明を適用した顕微鏡システムを共焦点顕微鏡として使用する場合の構成を示す図である。 本発明を適用した顕微鏡システムを全反射顕微鏡として使用する場合の構成を示す図である。 顕微鏡システムのコンピュータにより実現される画像処理部の構成例を示すブロック図である。 顕微鏡システムにより実行される座標変換係数計算処理を説明するためのフローチャートである。 サンプル試料の例を示す図である。 顕微鏡システムにより実行される重ね合わせ処理の第1の実施の形態を説明するためのフローチャートである。 TIRF画像の撮影位置を説明するための図である。 TIRF画像の一例を示す図である。 コンフォーカル画像の撮影位置を説明するための図である。 コンフォーカル画像の一例を示す図である。 TIRF画像とコンフォーカル画像を重ね合わせた画像の一例を示す図である。 顕微鏡システムにより実行される重ね合わせ処理の第2の実施の形態を説明するためのフローチャートである。 コンフォーカル画像の撮影位置を説明するための図である。 コンフォーカル画像の一例を示す図である。 TIRF画像の2値化画像の一例を示す図である。 TIRF画像の輝点の位置を示す図である。 コンフォーカル画像の2値化画像の一例を示す図である。 コンフォーカル画像の輝点の位置を示す図である。 TIRF画像とコンフォーカル画像のコンフォーカル画像の輝点の位置の違いを説明するための図である。 TIRF画像の輝度の分布の例を示す図である。 コンフォーカル画像の輝度の分布の例を示す図である。
以下、図を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
図1および図2は本発明を適用した顕微鏡システムの一実施の形態を示している。顕微鏡システム1は、顕微鏡11、画像生成回路12、撮像装置13、画像生成回路14、コンピュータ15、および、表示装置16を含むように構成される。
顕微鏡11は、レンズ支持部材35および光学素子支持部材36の設定位置を変えることにより、共焦点顕微鏡または全反射顕微鏡として使用することができる。
具体的には、レンズ支持部材35は、例えば、回転ターレットなどにより構成され、回転軸35aを中心に回転可能に配置されている。また、レンズ支持部材35は、第2リレーレンズ系51と第3リレーレンズ系52を備えている。
一方、光学素子支持部材36は、例えば、回転ターレットなどにより構成され、回転軸36a回りに回転可能に配置されている。また、光学素子支持部材36は、ビームスプリッタ61と照明光カットフィルタ62を一体に設けた光路分割光学素子36bを備えている。
そして、図1に示されるように、レンズ支持部材35の第2リレーレンズ系51を顕微鏡11の光軸上に挿入し、光学素子支持部材36の光路分割光学素子36bを顕微鏡11の光軸上に挿入しないように設定した場合、顕微鏡11を共焦点顕微鏡として使用することができる。一方、図2に示されるように、レンズ支持部材35の第3リレーレンズ系52、および、光学素子支持部材36の光路分割光学素子36bを顕微鏡11の光軸上に挿入するように設定した場合、顕微鏡11を全反射顕微鏡として使用することができる。
まず、図1を参照して、顕微鏡11を共焦点顕微鏡として使用する場合について説明する。
レーザ照明光源31から出射された照明光(以下、コンフォーカル光と称する)は、ビームスプリッタ32を透過し、二次元スキャナ33に入射する。そして、二次元スキャナ33から出射されたコンフォーカル光は、第1リレーレンズ系34および第2リレーレンズ系51を介して対物レンズ37に入射し、カバーガラス2上に載置されている試料3に集光する。
このとき、制御回路41は、コンピュータ15から供給される制御信号に基づいて、二次元スキャナ33に設けられている、光偏向方向が互いに直行する2個のスキャナを制御することにより、走査範囲や走査速度を制御しながら、試料3の二次元平面内でコンフォーカル光を走査させる。
試料3からの光(蛍光)は、対物レンズ37で集光され、コンフォーカル光と同じ光路を通って、ビームスプリッタ32により結像レンズ38の方向に反射され、結像レンズ38とピンホール39を介して、フォトマルチプライヤー40に結像される。フォトマルチプライヤー40は、結像した光の強度を検出し、検出した光の強度を表す光検出信号を画像生成回路12に供給する。
画像生成回路12は、コンピュータ15から供給される制御信号に基づいて、フォトマルチプライヤー40からの光検出信号を、二次元スキャナ33による走査速度に応じて1画素ずつ並べる画像処理を行ない、共焦点顕微鏡による観察画像であるコンフォーカル画像を生成する。画像生成回路12は、生成したコンフォーカル画像をコンピュータ15に供給し、表示装置16は、コンピュータ15の制御の基に、コンフォーカル画像を表示する。
次に、図2を参照して、顕微鏡11を全反射顕微鏡として使用する場合について説明する。
レーザ照明光源31から出射された照明光(以下、TIRF光と称する)は、ビームスプリッタ32を透過し、二次元スキャナ33に入射する。そして、二次元スキャナ33から出射されたTIRF光は、第1リレーレンズ系34に入射し、第3リレーレンズ系52を構成するリレーレンズ系52aとリレーレンズ系52bとを介して、対物レンズ37の入射瞳面(像側焦点面)Iの近傍に集光する。そして、TIRF光は、対物レンズ37を透過することにより、ほぼ平行光となり、試料3に照射される。
このとき、制御回路41は、コンピュータ15から供給される制御信号に基づいて、二次元スキャナ33の走査動作を制御することにより、TIRF光が対物レンズ37の入射瞳面Iに入射する位置を調整する。そして、TIRF光の入射位置を入射瞳面Iの中心から周辺に移動させるにつれて、TIRF光の試料3への入射角が大きくなり、入射角が所定の角度を超えると、TIRF光は、試料3とカバーガラス2との境界面Sで全反射されるようになる。この全反射状態にあるとき、境界面Sの近傍においてエバネッセント光が発生し、試料3の境界面Sの近傍のごく薄い範囲のみがエバネッセント光により照射される。
そして、エバネッセント光により励起された試料3からの光(蛍光)は、対物レンズ37により集光され、ビームスプリッタ61により照明光カットフィルタ62の方向に反射され、照明光カットフィルタ62、結像レンズ42を介して、撮像装置(例えば、CCDカメラ等)13に結像される。そして、撮像装置13により、全反射顕微鏡による観察画像であるTIRF画像が撮影される。撮像装置13により撮影されたTIRF画像は、画像生成回路14で処理され、コンピュータ15に供給され、表示装置16は、コンピュータ15の制御の基に、TIRF画像を表示する。
また、後述するように、コンピュータ15は、顕微鏡11を全反射顕微鏡として使用した場合に得られたTIRF画像と、顕微鏡11を共焦点顕微鏡として使用した場合に得られたコンフォーカル画像とを、自動的に重ね合わせる機能を有している。
図3は、コンピュータ15が所定の制御プログラムを実行することにより実現される機能の1つである画像処理部101の構成例を示している。画像処理部101は、TIRF画像とコンフォーカル画像を自動的に重ね合わせる機能を有している。
具体的には、基準点検出部111は、画像生成回路14から供給されるTIRF画像、および、画像生成回路12から供給されるコンフォーカル画像において、試料3の同じ位置に対応する基準点を3点以上検出する。基準点検出部111は、検出した基準点の各画像の座標系における座標を座標変換係数計算部112に通知する。
座標変換係数計算部112は、基準点検出部111により検出された基準点に基づいて、TIRF画像の座標系とコンフォーカル画像の座標系とを相互に変換するための座標変換係数を計算する。座標変換係数計算部112は、計算した座標変換係数を重ね合わせ部113に通知する。
重ね合わせ部113は、コンピュータ15の操作部(不図示)を介してユーザから入力される指令に従って、座標変換係数計算部112により計算された座標変換係数を用いて、画像生成回路14から供給されるTIRF画像と、画像生成回路12から供給されるコンフォーカル画像との重ね合わせを行なう。そして、重ね合わせ部113は、重ね合わせた画像を後段(例えば、コンピュータ15の表示制御装置)に出力する。また、重ね合わせ部113は、必要に応じて、座標変換係数の計算を基準点検出部111および座標変換係数計算部112に指令するとともに、TIRF画像およびコンフォーカル画像を基準点検出部111に供給する。
次に、図4のフローチャートを参照して、顕微鏡システム1により実行される座標変換係数計算処理について説明する。
ステップS1において、顕微鏡システム1は、サンプル試料201のTIRF画像を取得する。具体的には、まず、ユーザは、試料3の代わりに、図5に示されるサンプル試料201を顕微鏡11のステージ上のカバーガラス2の上に載置し、顕微鏡11を全反射顕微鏡として使用する状態(図2の状態)に設定する。
なお、サンプル試料201は、所定の波長の光を照射したときに蛍光を発する試薬により、点M1乃至M3(以下、マーカM1乃至M3と称する)の3点が染色されている。また、マーカM1乃至M3の位置は、マーカM1乃至M3の位置を明確に区別できるように、マーカM1乃至M3により形成される三角形の各辺の長さおよび各点の角度がそれぞれ異なるように設定される。
そして、顕微鏡システム1は、マーカM1乃至M3を励起する波長のTIRF光を、カバーガラス2とサンプル試料201の境界面Sで全反射させた状態で、撮像装置13によりサンプル試料201を撮影する。撮像装置13は、撮影の結果得られたサンプル試料201のTIRF画像を、画像生成回路14を介して、基準点検出部111に供給する。
ステップS2において、顕微鏡システム1は、サンプル試料201のコンフォーカル画像を取得する。具体的には、まず、ユーザは、サンプル試料201を顕微鏡11のステージ上のカバーガラス2の上に載置したまま、顕微鏡11を共焦点顕微鏡として使用する状態(図1の状態)に設定する。そして、顕微鏡システム1は、マーカM1乃至M3を励起する波長のコンフォーカル光を、カバーガラス2とサンプル試料201の境界面S上を走査(TIRF光と同じ面を走査)させながら、フォトマルチプライヤー40によりサンプル試料201からの光の強度を検出する。フォトマルチプライヤー40は、検出した光の強度を表す光検出信号を画像生成回路12に供給し、画像生成回路12は、光検出信号に基づいて、サンプル試料201のコンフォーカル画像を生成する。画像生成回路12は、生成したコンフォーカル画像を、基準点検出部111に供給する。
ステップS3において、基準点検出部111は、TIRF画像におけるマーカM1乃至M3の座標を検出する。具体的には、基準点検出部111は、TIRF画像において、マーカM1乃至M3により発せられた蛍光による輝点領域を検出し、検出した輝点領域の重心のTIRF画像の座標系における座標を求める。また、基準点検出部111は、TIRF画像の各輝点領域の重心を頂点とする三角形を、マーカM1乃至M3を頂点とする既知の三角形と比較することにより、各輝点領域の重心の座標をマーカM1乃至M3にそれぞれ対応付ける。そして、基準点検出部111は、TIRF画像における対応付けしたマーカM1乃至M3の座標を、座標変換係数計算部112に通知する。
ステップS4において、基準点検出部111は、ステップS3と同様の処理により、コンフォーカル画像におけるマーカM1乃至M3の座標を検出し、コンフォーカル画像における対応付けしたマーカM1乃至M3の座標を、座標変換係数計算部112に通知する。
ステップS5において、座標変換係数計算部112は、TIRF画像の座標系とコンフォーカル画像の座標系との間の座標変換係数を計算する。
サンプル試料201の同じ面を撮影したTIRF画像とコンフォーカル画像の関係は、2次変換(拡大、縮小、回転、平行移動、反転)の関係となる。このうち、画像の反転は、目視により簡単に判別し、修正することが可能であり、撮影光学系の構成により発生の有無が予め分かっているので、画像処理部101の処理対象から除外すると、TIRF画像の座標系とコンフォーカル画像の座標系とは、ヘルマート変換により相互に変換することができる。
ここで、ヘルマート変換を用いて、座標系Aにおける座標(X,Y)を座標系Bにおける座標(x,y)に変換する場合について考える。この場合、座標(X,Y)と座標(x,y)の関係は、以下の式(1)および式(2)により表される。
x=X・cosθ+Y・sinθ+c ・・・(1)
y=−X・sinθ+Y・cosθ+d ・・・(2)
なお、θは、座標系Aの座標軸を座標系Bの座標軸に合わせる場合の座標軸の回転角を示し、係数cおよび係数dは、座標系Aの座標軸を座標系Bの座標軸に合わせる場合の原点のx軸方向およびy軸方向の平行移動量を示している。ここで、a=cosθとし、b=sinθとし、式(1)および式(2)を行列により表現すると、以下の式(3)となる。
Figure 0005447516
従って、TIRF画像の座標系におけるマーカM1乃至M3の座標を(X1,Y1)乃至(X3,Y3)とし、コンフォーカル画像の座標系におけるマーカM1乃至M3の座標を(x1,y1)乃至(x3,y3)とすると、座標(X1,Y1)乃至(X3,Y3)と座標(x1,y1)乃至(x3,y3)との間の関係式は、以下の式(4)により表される。
Figure 0005447516
なお、vx1乃至vy3は誤差を示している。
そして、誤差vx1乃至vy3を最小にする係数a乃至dは、最小二乗法を用いて、以下の式(5)乃至(8)により求めることができる。
Figure 0005447516
このようにして、座標変換係数計算部112は、マーカM1乃至M3を基準点として用いて、TIRF画像の座標系とコンフォーカル画像の座標系とを相互に変換するための座標変換係数a乃至dを計算し、座標変換係数a乃至dを重ね合わせ部113に供給する。その後、座標変換係数計算処理は終了する。
なお、座標変換係数の計算に用いるマーカを、4点以上設定するようにしてもよい。
次に、図6のフローチャートを参照して、顕微鏡システム1により実行される重ね合わせ処理について説明する。
ステップS21において、顕微鏡システム1は、試料3のTIRF画像を取得する。具体的には、まず、ユーザは、観察したい試料3を顕微鏡11のステージ上のカバーガラス2の上に載置し、顕微鏡11を全反射顕微鏡として使用する状態(図2の状態)に設定する。そして、顕微鏡システム1は、図7に示される試料3とカバーガラス2(図7では図示せず)との境界面SでTIRF光を全反射させた状態で、撮像装置13により試料3を撮影する。これにより、境界面Sの近傍のごく薄い範囲のみに光が照射され、背景光が少ない状態で試料3が撮影される。なお、図7の縦軸は、試料3の深さ方向(=顕微鏡11の光軸方向)を示している。撮像装置13は、試料3のTIRF画像を、画像生成回路14を介して、重ね合わせ部113に供給する。
図8は、試料3のTIRF画像の一例を示している。なお、TIRF画像211内の白い輝点は、試薬により染色され、TIRF光により励起され蛍光を発した部分を含んでいる。
ステップS22において、顕微鏡システム1は、試料3のコンフォーカル画像を取得する。具体的には、まず、ユーザは、観察したい試料3を顕微鏡11のステージ上のカバーガラス2の上に載置したまま、顕微鏡11を共焦点顕微鏡として使用する状態(図1の状態)に設定する。そして、顕微鏡システム1は、例えば、図9の試料3の厚さ方向(=顕微鏡11の光軸方向)の位置Z1における平面(顕微鏡11の光軸に垂直な切断面)上をコンフォーカル光を走査させる。そして、顕微鏡システム1は、コンフォーカル光の走査に合わせて、フォトマルチプライヤー40により試料3からの光の強度を検出し、画像生成回路12により、試料3の位置Z1における切断面のコンフォーカル画像を生成する。同様にして、顕微鏡システム1は、例えば、試料3の位置Z2乃至Z6における各切断面のコンフォーカル画像を生成する。画像生成回路12は、生成したコンフォーカル画像を重ね合わせ部113に供給する。
図10は、試料3のコンフォーカル画像の一例を示している。なお、コンフォーカル画像221内の白い輝点は、試薬により染色され、コンフォーカル光により励起され蛍光を発した部分を含んでいる。
ステップS23において、重ね合わせ部113は、TIRF画像とコンフォーカル画像を重ね合わせる。具体的には、ユーザは、コンピュータ15の操作部(不図示)を操作して、TIRF画像と所望のコンフォーカル画像を選択し、操作部は、その情報を重ね合わせ部113に通知する。重ね合わせ部113は、座標変換係数計算部112により計算された座標変換係数を用いて、ユーザにより選択されたコンフォーカル画像の座標系を、TIRF画像の座標系に変換した画像を生成する。また、重ね合わせ部113は、ユーザにより選択されたTIRF画像と、座標系を変換したコンフォーカル画像とを重ね合わせた画像を生成する。そして、表示装置16は、コンピュータ15の制御の基に、重ね合わせた画像を表示する。その後、重ね合わせ処理は終了する。
図11は、図8のTIRF画像211と図10のコンフォーカル画像221とを重ね合わせた画像を示している。
なお、重ね合わせるTIRF画像とコンフォーカル画像の枚数は、特に限定されるものではなく、例えば、TIRF画像とコンフォーカル画像を1枚ずつ重ね合わせることも可能であるし、試料3の厚さ方向の各切断面のコンフォーカル画像を重ね合わせた3次元画像とTIRF画像とを重ね合わせることも可能である。
以上のようにして、TIRF画像とコンフォーカル画像を簡単かつ正確に重ね合わせることができる。
次に、図12のフローチャートを参照して、顕微鏡システム1により実行される重ね合わせ処理の第2の実施の形態について説明する。なお、この重ね合わせ処理の第2の実施の形態は、サンプル試料201を用いずに、TIRF画像とコンフォーカル画像の重ね合わせをできるようにするものである。
ステップS41において、図6のステップS21の処理と同様に、試料3のTIRF画像が取得される。取得されたTIRF画像は、重ね合わせ部113に供給される。
ステップS42において、図6のステップS22の処理と同様に、試料3のコンフォーカル画像が取得される。なお、このとき、図13に示されるように、試料3の位置Z1乃至Z6における各切断面のコンフォーカル画像だけでなく、カバーガラス2と試料3との間の境界面Sにおけるコンフォーカル画像も取得される。取得されたコンフォーカル画像は、重ね合わせ部113に供給される。
図14のコンフォーカル画像301は、試料3の境界面Sにおけるコンフォーカル画像の一例を示している。
ステップS43において、重ね合わせ部113は、座標変換係数の計算が必要であるか否かを判定する。座標変換係数の計算が必要であると判定された場合、処理はステップS44に進む。
なお、座標変換係数の計算が必要であると判定される条件としては、例えば、ユーザにより座標変換係数の計算が指令された場合、または、顕微鏡1の光学系の部品(例えば、対物レンズ37)の交換もしくは設定の変更が行なわれた場合、または、座標変換係数の計算がまだ行なわれていない場合、または、試料3が変更された場合などが考えられる。
ステップS44において、基準点検出部111は、TIRF画像の輝点を抽出する。具体的には、重ね合わせ部113は、TIRF画像、および、境界面Sにおけるコンフォーカル画像を基準点検出部111に供給するとともに、座標変換係数の計算を基準点検出部111および座標変換係数計算部112に指令する。
基準点検出部111は、TIRF画像を所定の閾値を用いて2値化する。すなわち、基準点検出部111は、TIRF画像の各画素について、輝度が所定の閾値以上の画素の画素値を最大値(白)に設定し、輝度が所定の閾値未満の画素の画素値を0(黒)に設定した2値化画像を生成する。例えば、図8のTIRF画像211を2値化することにより、図15の2値化画像311が得られる。
なお、以下、2値化画像の画素のうち、画素値が最大値に設定されている画素を白色画素と称し、画素値が0に設定されている画素を黒色画素と称する。
次に、基準点検出部111は、TIRF画像の2値化画像において、所定の数(例えば、2)以上の白色画素が、縦、横または斜め方向に互いに隣接する領域を輝点領域として抽出する。そして、基準点検出部111は、各輝点領域の重心(以下、単に「輝点」と称する)のTIRF画像の座標系における座標を求める。
図16は、図15の2値化画像311から検出された輝点Pt1乃至Pt16の位置を示している。
ステップS45において、基準点検出部111は、TIRF画像の輝点の3点ずつの組み合わせをリストアップする。例えば、図16の2値化画像311の場合、(輝点Pt1、輝点Pt2、輝点Pt3)、(輝点Pt1、輝点Pt2、輝点Pt4)、・・・、(輝点Pt14、輝点Pt15、輝点Pt16)の、3つの輝点からなる560組の組み合わせがリストアップされる。
ステップS46において、基準点検出部111は、リストアップしたTIRF画像の輝点の各組み合わせの3点間の角度を計算する。例えば、2値化画像311の輝点Pt1、輝点Pt2、輝点Pt3からなる組み合わせの場合、輝点Pt1、輝点Pt2、輝点Pt3を頂点とする三角形の各頂点の角度が計算される。そして、この三角形の各頂点の角度の計算が。リストップされた全ての輝点の組み合わせについて行なわれる。
ステップS47において、ステップS44と同様の処理により、コンフォーカル画像の輝点が抽出され、抽出された各輝点のコンフォーカル画像の座標系における座標が求められる。なお、図17は、図14のコンフォーカル画像301を2値化した2値化画像321を示している。また、図18は、2値化画像321から抽出された輝点Pc1乃至Pc7の位置を示している。
ステップS48において、ステップS45と同様の処理により、コンフォーカル画像の輝点の3点ずつの組み合わせがリストアップされる。
ステップS49において、ステップS46と同様の処理により、リストアップしたコンフォーカル画像の輝点の各組み合わせの3点間の角度が計算される。
ここで、同じ試料3の境界面Sを撮影した画像でも、TIRF画像とコンフォーカル画像とでは、照明光の照射範囲が異なるため、抽出される輝点は必ずしも一致しない。すなわち、TIRF画像の撮影時には、試料3の境界面Sの近傍のごく浅い範囲のみにTIRF光が照射される一方、コンフォーカル画像の撮影時には、TIRF光より深い位置までコンフォーカル光が照射される。
具体的には、図19は、試料3の縦方向の断面を示しており、点P1乃至P4は試薬により染色された位置を示している。例えば、TIRF光を試料3の境界面Sに照射した場合、境界面Sから深さD1の範囲までTIRF光が照射され、照射範囲内の点P1乃至P3が励起され蛍光を発する。一方、コンフォーカル光を試料3の境界面Sに集光した場合、境界面Sから深さD2の範囲まで発散したコンフォーカル光が照射され、照射範囲内の点P1乃至P4が励起され蛍光を発する。従って、TIRF画像では、点P1乃至P3の3点が輝点として抽出され、コンフォーカル画像では、点P1乃至P4(ピンホール39と略共役な領域)が輝点として抽出されることになり、抽出される輝点が一致しない。
また、図20は、試料3の境界面Sを撮影したTIRF画像の輝度分布の例を示しており、図21は、試料3の境界面Sを撮影したコンフォーカル画像の輝度分布の例を示している。なお、図20および図21の横軸は輝度を示し、縦軸は画素数を示している。図20と図21を比較して明らかなように、コンフォーカル画像とTIRF画像とでは輝度分布が異なっているため、2つの画像間で抽出される輝点に違いが出ると考えられる。
そこで、これから説明するステップS50乃至S52の処理で、TIRF画像から抽出された輝点とコンフォーカル画像から抽出された輝点の対応付けを行ない、座標変換係数の計算に用いる基準点を決定する。
具体的には、ステップS50において、基準点検出部111は、TIRF画像とコンフォーカル画像で3点間の角度が一致する輝点の組み合わせのペアを抽出する。すなわち、基準点検出部111は、TIRF画像の輝点の3点ずつの組み合わせのうちの1つと、コンフォーカル画像の輝点の3点ずつの組み合わせのうちの1つとからなるペアの全てについて、3点間の角度を比較し、角度の差が所定の範囲内となるペアを抽出する。
例えば、TIRF画像の輝点A乃至Cの組み合わせと、コンフォーカル画像の輝点P乃至Rの組み合わせとからなるペアについて考える。この場合、輝点A乃至Cを頂点とする三角形ABCと、輝点P乃至Rを頂点とする三角形PQRのそれぞれ対応する角度の差が所定の範囲内(例えば、3度以内)であるとき、換言すれば、三角形ABCと三角形PQRがほぼ相似するとき、輝点A乃至Cと輝点P乃至Rのペアは、3点間の角度が一致する輝点の組み合わせのペアとして抽出され、角度の差が所定の範囲を超えるとき、輝点A乃至Cと輝点P乃至Rのペアは、3点間の角度が一致する輝点の組み合わせのペアとして抽出されない。
ステップS51において、基準点検出部111は、3点間の角度が一致する輝点の組み合わせのペアを、3点間の長さの比率に基づいて分類する。具体的には、基準点検出部111は、ステップS50において抽出した輝点の組み合わせの各ペアについて、一方の組み合わせにおける輝点の3点間の長さと、他方の組み合わせにおける輝点の3点間の長さとの比率を計算する。
例えば、TIRF画像の輝点A乃至Cの組み合わせと、コンフォーカル画像の輝点P乃至Rの組み合わせのペアが抽出されており、輝点A乃至Cを頂点とする三角形ABCと輝点P乃至Rを頂点とする三角形PQRで、角度a≒角度p、角度b≒角度q、角度c≒角度rである場合について考える。この場合、三角形ABCと三角形PQRはほぼ相似なので、辺ABの長さ/辺PQの長さ≒辺BCの長さ/辺QRの長さ≒辺CAの長さ/辺RPの長さ≒比率αとなり、この比率αが、3点間の長さの比率として求められる。
基準点検出部111は、抽出した全てのペアについてこの比率αを計算する。そして、基準点検出部111は、比率αに基づいて各ペアを分類する。すなわち、基準点検出部111は、比率αの値を所定の間隔で複数の範囲に分け、比率αが同じ値の範囲内に入るペアを1つのグループにまとめる。これにより、3つの輝点を頂点とする三角形の大きさの比率が近い輝点の組み合わせのペアが、1つのグループにまとめられる。
ステップS52において、基準点検出部111は、最もペアの数が多いグループに属する輝点を基準点に設定する。すなわち、基準点検出部111は、比率αに基づいて分類した輝点の組み合わせのペアからなるグループのうち、ペアの数が最も多いグループに属する輝点を基準点に設定する。
例えば、輝点の組み合わせのペアがグループ1とグループ2に分類され、TIRF画像の輝点A、B、Cと、コンフォーカル画像の輝点P、Q、Rとのペアがグループ1に属し、TIRF画像の輝点A、B、Dと、コンフォーカル画像の輝点P、Q、Sとのペア、および、TIRF画像の輝点B、D、Fと、コンフォーカル画像の輝点Q、S、Tとのペアがグループ2に属する場合、ペアの数が多いグループ2に属するTIRF画像の輝点A、B、D、F、および、コンフォーカル画像の輝点P、Q、S、Tが、基準点に設定される。
このステップS50乃至S52の処理により、TIRF画像およびコンフォーカル画像において試料3の同じ位置に対応する輝点が、基準点として検出される一方、TIRF画像またはコンフォーカル画像の一方のみに存在する輝点が、基準点として検出されることが防止される。
ステップS53において、図4のステップS5の処理と同様に、設定された基準点に基づいて、TIRF画像の座標系とコンフォーカル画像の座標系との間の座標変換係数が計算される。その後、処理はステップS54に進む。
一方、ステップS43において、座標変換係数の計算が必要でないと判定された場合、ステップS44乃至S53の処理はスキップされ、処理はステップS54に進む。
ステップS54において、図6のステップS23の処理と同様に、TIRF画像とコンフォーカル画像とが重ね合わされて、表示装置16に表示される。
このようにして、サンプル試料201を用いずに、実際の試料3を撮影した画像に基づいて、座標変換係数が計算され、TIRF画像とコンフォーカル画像を重ね合わせることができる。従って、試料の交換などの手間を省略することができ、より簡単にTIRF画像とコンフォーカル画像を重ね合わせることができる。
なお、図12のフローチャートにおいて、ステップS43の判定処理を行なわずに、毎回座標変換係数を計算するようにしてもよい。また、ステップS50乃至S52の処理で、各画像から基準点が4点ずつ以上検出された場合、そのうちの3点ずつのみを用いて、座標変換係数を計算するようにしてもよい。
なお、以上の説明では、同じ顕微鏡11を用いて撮影したTIRF画像およびコンフォーカル画像の重ね合わせを行なう処理について説明したが、本発明は、異なる顕微鏡を用いて同じ試料を撮影したTIRF画像とコンフォーカル画像とを重ね合わせる場合にも適用することができる。
また、以上の説明では、コンフォーカル画像の座標系をTIRF画像の座標系に変換して、画像を重ね合わせる例を示したが、逆に、TIRF画像の座標系をコンフォーカル画像の座標系に変換して、画像を重ね合わせるようにしてもよい。あるいは、TIRF画像の座標系とコンフォーカル画像の座標系を、2つの座標系とは異なる第3の座標系に変換して、画像を重ね合わせるようにしてもよい。
また、以上の説明では、コンフォーカル画像とTIRF画像との重ね合わせ処理について説明したが、コンフォーカル画像と蛍光観察画像(いわゆる通常の光学顕微鏡により取得)、超解像画像(超解像用顕微鏡により取得)、および位相差観察画像(位相差顕微鏡により取得)のうちのいずれか一つとの重ね合わせ処理でもよい。また、TIRF画像と蛍光観察画像、超解像画像、位相差観察画像のうちのいずれか一つとの重ね合わせ処理でもよい。
さらに、画像処理部101の機能を、必ずしもコンピュータ15に搭載する必要はなく、例えば、顕微鏡11に搭載するようにしてもよい。
上述した一連の処理は、ハードウエアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、例えば、そのソフトウエアを構成するプログラムが、コンピュータ15にインストールされる。ここで、コンピュータ15には、専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータや、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどが含まれる。
コンピュータ15が実行するプログラムは、例えば、パッケージメディア等としてのリムーバブルメディアに記録して提供することができる。また、プログラムは、ローカルエリアネットワーク、インターネット、デジタル衛星放送といった、有線または無線の伝送媒体を介して提供することができる。さらに、プログラムは、コンピュータ15のメモリなどに、あらかじめインストールしておくことができる。
なお、コンピュータ15が実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。
また、本明細書において、システムの用語は、複数の装置、手段などより構成される全体的な装置を意味するものとする。
さらに、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
1 顕微鏡システム, 2 カバーガラス, 3 試料, 11 顕微鏡, 12 画像生成回路, 13 撮像装置, 14 画像生成回路, 15 コンピュータ, 16 表示装置, 101 画像処理部, 111 基準点検出部, 112 座標変換係数計算部, 113 重ね合わせ部

Claims (13)

  1. 第1の顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点、及び第2の顕微鏡を用いて取得した前記試料の前記所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点が、互いに前記試料の前記所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられるか否か判定するとともに、対応付けられた輝点を基準点としてそれぞれ3点以上検出する基準点検出手段と、
    前記第1の蛍光画像における前記基準点の第1の座標系と前記第2の蛍光画像における前記基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算する計算手段と
    前記変換係数を用いて、前記第1の蛍光画像と前記第2の蛍光画像とを重ね合わせる重ね合わせ手段と
    を含む画像処理装置。
  2. 前記基準点検出手段は、前記第1の蛍光画像における前記複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第1の輝点の組み合わせと、前記第2の蛍光画像における前記複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第2の輝点の組み合わせとのペアを互いに比較して、前記基準点を3点以上検出する
    請求項1に記載の画像処理装置。
  3. 前記基準点検出手段は前記第1の輝点の組み合わせと前記第2の輝点の組み合わせとのペアのうち、各組み合わせに含まれる3つの輝点を頂点とする角形が相似するペアに含まれる輝点を前記基準点として検出する
    請求項に記載の画像処理装置。
  4. 前記基準点検出手段は、3角形が相似する前記ペアを、一方の組み合わせにおける輝点の3点間の長さと、他方の組み合わせにおける輝点の3点間の長さとの比率に基づいて複数のグループに分類した場合に、最もペアの数が多いグループに属する輝点を基準点に設定する
    請求項3に記載の画像処理装置。
  5. 前記基準点検出手段は、前記第1の蛍光画像を所定の閾値を用いて2値化した第1の2値化画像、および、前記第2の蛍光画像を所定の閾値を用いて2値化した第2の2値化画像を用いて前記輝点を抽出する
    請求項1乃至4のいずれかに記載の画像処理装置。
  6. 前記計算手段は、前記第1の座標系と前記第2の座標系とをヘルマート変換により相互に変換する場合の前記変換係数を計算する
    請求項1乃至5のいずれかに記載の画像処理装置。
  7. 前記計算手段は、前記第1の座標系と前記第2の座標系とは異なる第3の座標系に変換する場合の前記変換係数を計算する
    請求項1乃至5のいずれかに記載の画像処理装置。
  8. 前記第1の顕微鏡は全反射顕微鏡であり、前記第2の顕微鏡は共焦点顕微鏡であり、
    前記所定面は、前記全反射顕微鏡における照明光を前記試料とカバーガラスとの界面において全反射させる面である
    請求項1乃至7のいずれかに記載の画像処理装置。
  9. 第1の顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点、及び第2の顕微鏡を用いて取得した前記試料の前記所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点が、互いに前記試料の前記所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられるか否か判定するとともに、対応付けられた輝点を基準点としてそれぞれ3点以上検出し、
    前記第1の蛍光画像における前記基準点の第1の座標系と前記第2の蛍光画像における前記基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算し、
    前記変換係数を用いて、前記第1の蛍光画像と前記第2の蛍光画像とを重ね合わせる
    ステップを含む画像処理方法。
  10. 第1の顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点、及び第2の顕微鏡を用いて取得した前記試料の前記所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点が、互いに前記試料の前記所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられるか否か判定するとともに、対応付けられた輝点を基準点としてそれぞれ3点以上検出し、
    前記第1の蛍光画像における前記基準点の第1の座標系と前記第2の蛍光画像における前記基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算し、
    前記変換係数を用いて、前記第1の蛍光画像と前記第2の蛍光画像とを重ね合わせる
    ステップを含む処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。
  11. 第1の顕微鏡および第2の顕微鏡として使用することができる顕微鏡において、
    前記第1の顕微鏡として使用した場合に取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点、及び前記第2の顕微鏡として使用した場合に取得した前記試料の前記所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点が、互いに前記試料の前記所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられるか否か判定するとともに、対応付けられた輝点を基準点としてそれぞれ3点以上検出する基準点検出手段と、
    前記第1の蛍光画像における前記基準点の第1の座標系と前記第2の蛍光画像における前記基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算する計算手段と
    前記変換係数を用いて、前記第1の蛍光画像と前記第2の蛍光画像とを重ね合わせる重ね合わせ手段と
    を含む顕微鏡。
  12. 全反射顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第1の輝点の組み合わせと、共焦点顕微鏡を用いて取得した前記試料の前記所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第2の輝点の組み合わせとのペアのうち、各組み合わせに含まれる3つの輝点を頂点とする3角形が相似するペアに含まれる輝点を、互いに前記試料の前記所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられる基準点としてそれぞれ検出する基準点検出手段と、
    前記第1の蛍光画像における前記基準点の第1の座標系と前記第2の蛍光画像における前記基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算する計算手段と、
    前記変換係数を用いて、前記第1の蛍光画像と前記第2の蛍光画像とを重ね合わせるか、或いは、前記共焦点顕微鏡を用いて取得した、前記所定面とは異なる前記試料の面に関する画像を前記第1の蛍光画像と重ね合わせる重ね合わせ手段と
    を含む画像処理装置。
  13. 全反射顕微鏡を用いて取得した、試薬により染色された試料の所定面に関する第1の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第1の輝点の組み合わせと、共焦点顕微鏡を用いて取得した前記試料の前記所定面に関する第2の蛍光画像における複数の輝点のうちから選択された3つの輝点からなる第2の輝点の組み合わせとのペアのうち、各組み合わせに含まれる3つの輝点を頂点とする3角形が相似するペアに含まれる輝点を、互いに前記試料の前記所定面内の同じ位置の輝点として対応付けられる基準点としてそれぞれ検出し、
    前記第1の蛍光画像における前記基準点の第1の座標系と前記第2の蛍光画像における前記基準点の第2の座標系とを合致させるための変換係数を計算し、
    前記変換係数を用いて、前記第1の蛍光画像と前記第2の蛍光画像とを重ね合わせるか、或いは、前記共焦点顕微鏡を用いて取得した、前記所定面とは異なる前記試料の面に関する画像を前記第1の蛍光画像と重ね合わせる
    ステップを含む画像処理方法。
JP2011518464A 2009-06-02 2010-06-02 画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡 Active JP5447516B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011518464A JP5447516B2 (ja) 2009-06-02 2010-06-02 画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009132734 2009-06-02
JP2009132734 2009-06-02
JP2011518464A JP5447516B2 (ja) 2009-06-02 2010-06-02 画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡
PCT/JP2010/059318 WO2010140609A1 (ja) 2009-06-02 2010-06-02 画像処理装置、プログラム、および、顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2010140609A1 JPWO2010140609A1 (ja) 2012-11-22
JP5447516B2 true JP5447516B2 (ja) 2014-03-19

Family

ID=43297742

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011518464A Active JP5447516B2 (ja) 2009-06-02 2010-06-02 画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9030546B2 (ja)
EP (1) EP2439576B1 (ja)
JP (1) JP5447516B2 (ja)
CN (1) CN102449527B (ja)
WO (1) WO2010140609A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106226895A (zh) * 2016-08-25 2016-12-14 浙江大学 一种带反馈的旋转全内反射显微方法及装置

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012102983A1 (de) * 2012-04-05 2013-10-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen eines kritischen Winkels eines Anregungslichtstrahls
GB201215771D0 (en) * 2012-09-04 2012-10-17 Univ Nottingham Monitoring and/or characterising biological or chemicl material
JP6373864B2 (ja) 2012-12-14 2018-08-15 ザ ジェイ. デヴィッド グラッドストーン インスティテューツ 自動ロボット顕微鏡検査システム
EP2796917A1 (en) * 2013-04-26 2014-10-29 Baden-Württemberg Stiftung gGmbH A method for automated platform and/or reference object independent acquisition of positional information and localization of objects of interest in a microscope
US10036704B2 (en) * 2014-07-31 2018-07-31 National Taiwan University Fluorescence intensity analyzing and fluorescence image synthesizing system
DE102017214189A1 (de) * 2017-08-15 2019-02-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zum Betrieb einer Mikroskopieranordnung und Mikroskopieranordnung mit einem ersten Mikroskop und mindestens einem weiteren Mikroskop
JP6631647B2 (ja) * 2018-03-08 2020-01-15 株式会社島津製作所 走査型プローブ顕微鏡及び表面画像補正方法
DE102018114090A1 (de) * 2018-06-13 2019-12-19 SURFACE CONCEPT GmbH Bildverarbeitungsvorrichtung und Verfahren zur Bildverarbeitung, insbesondere für ein superauflösendes Mikroskop
US20200292297A1 (en) * 2019-03-15 2020-09-17 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional measurement device
GB201907953D0 (en) 2019-06-04 2019-07-17 Smi Drug Discovery Ltd An optical microscope

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0462858A (ja) * 1990-06-25 1992-02-27 Hitachi Ltd 異物の観察、分析方法
JPH06258240A (ja) * 1993-03-09 1994-09-16 Seiko Instr Inc 座標変換方法
JP2000284186A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Sapporo Breweries Ltd 観察装置の位置設定手段における座標変換方法及び座標変換手段を備える観察装置
JP2003164433A (ja) * 2001-11-29 2003-06-10 Hitachi Medical Corp 医療支援システム
JP2004085811A (ja) * 2002-08-26 2004-03-18 Nikon Corp 顕微鏡
JP2004334222A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Leica Microsystems Wetzlar Gmbh 重畳画像を生成するための顕微鏡及び鏡検方法。
JP2006039048A (ja) * 2004-07-23 2006-02-09 Olympus Corp 顕微鏡装置
JP2006106346A (ja) * 2004-10-05 2006-04-20 Olympus Corp 顕微鏡システム
JP2007093488A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Olympus Corp 生物由来の被験試料の画像を、光学的結像手段を用いて取得する方法及び装置
JP2007328134A (ja) * 2006-06-08 2007-12-20 Nikon Corp 観察装置、および観察プログラム
JP2009008739A (ja) * 2007-06-26 2009-01-15 Olympus Corp 生体観察装置

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0355496A3 (en) * 1988-08-15 1990-10-10 Sumitomo Heavy Industries Co., Ltd. Position detector employing a sector fresnel zone plate
KR970072024A (ko) * 1996-04-09 1997-11-07 오노 시게오 투영노광장치
US6472671B1 (en) * 2000-02-09 2002-10-29 Jean I. Montagu Quantified fluorescence microscopy
DE60129387T2 (de) * 2000-03-06 2008-03-20 Olympus Co. Konfokales Mikroskop mit musterformender Rotationsscheibe
CN1209653C (zh) * 2000-04-26 2005-07-06 西安交通大学 光纤面板共焦显微镜测量三维面形的方法和装置
US20050037406A1 (en) * 2002-06-12 2005-02-17 De La Torre-Bueno Jose Methods and apparatus for analysis of a biological specimen
ATE427515T1 (de) * 2003-09-25 2009-04-15 Leica Microsystems Mikroskop mit evaneszenter probenbeleuchtung
JP4756819B2 (ja) * 2003-10-21 2011-08-24 オリンパス株式会社 走査型顕微鏡システム
EP1716254B1 (en) * 2004-02-19 2010-04-07 Helicos Biosciences Corporation Methods for analyzing polynucleotide sequences
JP4673000B2 (ja) * 2004-05-21 2011-04-20 株式会社キーエンス 蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡装置を使用した表示方法、蛍光顕微鏡画像表示プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記憶した機器
DE102004034987A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop und Verwendung
WO2007034796A1 (ja) * 2005-09-26 2007-03-29 National University Corporation Hamamatsu University School Of Medicine 複数の観察手法を用いた顕微鏡細胞観察・検査システム
DE102006028530A1 (de) * 2005-11-11 2007-05-16 Till I D Gmbh Mikroskopvorrichtung
EP1785714B1 (en) * 2005-11-15 2017-02-22 Olympus Corporation Lens evaluation device
US8417060B2 (en) * 2006-03-20 2013-04-09 Arizona Board Of Regents For And On Behalf Of Arizona State University Methods for multi-point descriptors for image registrations
DE102007018922A1 (de) * 2007-02-12 2008-08-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop
CN101542520B (zh) * 2007-03-09 2011-12-07 欧姆龙株式会社 识别处理方法及使用该方法的图像处理装置
JP5286774B2 (ja) * 2007-04-11 2013-09-11 株式会社ニコン 顕微鏡装置と、これに用いられる蛍光キューブ
EP1998205B1 (en) 2007-05-29 2011-07-06 Olympus Corporation Observation apparatus
JP4735758B2 (ja) * 2007-06-13 2011-07-27 株式会社ニコン 共焦点顕微鏡装置
JP2009207808A (ja) * 2008-03-06 2009-09-17 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置
US8107711B2 (en) * 2008-05-12 2012-01-31 Vala Sciences, Inc. User interface method and system for management and control of automated image processing in high content screening or high throughput screening
DE102008054317A1 (de) * 2008-11-03 2010-05-06 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Kombinationsmikroskopie
DE102011087196A1 (de) * 2011-11-28 2013-05-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopbeleuchtungssystem und -verfahren

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0462858A (ja) * 1990-06-25 1992-02-27 Hitachi Ltd 異物の観察、分析方法
JPH06258240A (ja) * 1993-03-09 1994-09-16 Seiko Instr Inc 座標変換方法
JP2000284186A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Sapporo Breweries Ltd 観察装置の位置設定手段における座標変換方法及び座標変換手段を備える観察装置
JP2003164433A (ja) * 2001-11-29 2003-06-10 Hitachi Medical Corp 医療支援システム
JP2004085811A (ja) * 2002-08-26 2004-03-18 Nikon Corp 顕微鏡
JP2004334222A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Leica Microsystems Wetzlar Gmbh 重畳画像を生成するための顕微鏡及び鏡検方法。
JP2006039048A (ja) * 2004-07-23 2006-02-09 Olympus Corp 顕微鏡装置
JP2006106346A (ja) * 2004-10-05 2006-04-20 Olympus Corp 顕微鏡システム
JP2007093488A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Olympus Corp 生物由来の被験試料の画像を、光学的結像手段を用いて取得する方法及び装置
JP2007328134A (ja) * 2006-06-08 2007-12-20 Nikon Corp 観察装置、および観察プログラム
JP2009008739A (ja) * 2007-06-26 2009-01-15 Olympus Corp 生体観察装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106226895A (zh) * 2016-08-25 2016-12-14 浙江大学 一种带反馈的旋转全内反射显微方法及装置
CN106226895B (zh) * 2016-08-25 2019-02-26 浙江大学 一种带反馈的旋转全内反射显微方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP2439576A4 (en) 2014-11-12
WO2010140609A1 (ja) 2010-12-09
US9030546B2 (en) 2015-05-12
EP2439576B1 (en) 2018-05-16
US20120147172A1 (en) 2012-06-14
EP2439576A1 (en) 2012-04-11
CN102449527B (zh) 2015-08-19
JPWO2010140609A1 (ja) 2012-11-22
CN102449527A (zh) 2012-05-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5447516B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および、顕微鏡
US9088729B2 (en) Imaging apparatus and method of controlling same
JP6637653B2 (ja) 顕微鏡およびspim顕微鏡検査方法
JP6146265B2 (ja) 顕微鏡システムおよびオートフォーカス方法
JP6132650B2 (ja) 共焦点顕微鏡装置
US11010914B2 (en) Image processing device, microscope system, image processing method, and program
JP2014222321A (ja) 顕微鏡システム、貼り合わせ領域の決定方法、及び、プログラム
JP2005172805A (ja) 試料情報測定方法および走査型共焦点顕微鏡
JP6480713B2 (ja) 顕微鏡システム
JP6716383B2 (ja) 顕微鏡システム、情報提示方法、プログラム
JP6029293B2 (ja) 走査型電子顕微鏡の画像処理装置、および、走査方法
JP2010266461A (ja) 走査型共焦点顕微鏡
JP5718012B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JP4885439B2 (ja) カラー画像取得方法及び共焦点レーザ顕微鏡
JP5191265B2 (ja) 光学顕微鏡装置及び光学顕微鏡用データ処理装置
JP2009151163A (ja) シェーディング補正装置及びシェーディング補正方法
JP2006293219A (ja) 走査型共焦点顕微鏡および試料情報測定方法
JP2004029537A (ja) 顕微鏡、三次元画像生成方法、三次元画像を生成する制御をコンピュータに行わせるプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体
JP5019279B2 (ja) 共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法
JP2010160371A (ja) 共焦点顕微鏡
JPH06308390A (ja) 共焦点顕微鏡
JP2017044752A (ja) 顕微鏡システム、制御方法、プログラム、貼り合わせ画像生成方法
JP2017083790A (ja) 画像取得装置、及びそれを用いた画像取得方法
JP2007279085A (ja) 共焦点顕微鏡
JP5305838B2 (ja) 共焦点顕微鏡システム

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130131

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130322

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131216

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5447516

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250