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JP5398620B2 - Automatic analyzer - Google Patents

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JP5398620B2
JP5398620B2 JP2010078910A JP2010078910A JP5398620B2 JP 5398620 B2 JP5398620 B2 JP 5398620B2 JP 2010078910 A JP2010078910 A JP 2010078910A JP 2010078910 A JP2010078910 A JP 2010078910A JP 5398620 B2 JP5398620 B2 JP 5398620B2
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本発明は、サンプルに含まれる成分の濃度や活性値等を試薬との化学反応を利用して光学的又は電気的に測定する自動分析装置に関する。   The present invention relates to an automatic analyzer that optically or electrically measures the concentration, activity value, and the like of a component contained in a sample using a chemical reaction with a reagent.

血清や尿等のサンプルが収容されるサンプル容器は、サンプルディスク上に円周状に設置されている。近年、サンプルディスクに設置されるサンプル容器の数が増加している。サンプル容器の数の増加に伴い、例えば、内周サンプルディスクと外周サンプルディスクとからなるサンプルディスクが登場している(例えば、特許文献1参照)。内周サンプルディスクと外周サンプルディスクとの各々には、円周上に複数のサンプル容器が設置されている。このように、サンプル容器は、同心円上に並べて設置されている。   A sample container for storing a sample such as serum or urine is circumferentially installed on a sample disk. In recent years, the number of sample containers installed on sample disks has increased. With an increase in the number of sample containers, for example, a sample disk composed of an inner peripheral sample disk and an outer peripheral sample disk has appeared (for example, see Patent Document 1). Each of the inner sample disk and the outer sample disk is provided with a plurality of sample containers on the circumference. Thus, the sample containers are arranged side by side on a concentric circle.

サンプルは、サンプルプローブによりサンプル容器から吸入され、移動経路に沿って回転移動され、反応ディスク内の反応管へ吐出される。移動経路下には、分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器だけでなく、他のサンプルが収容されたサンプル容器も配置されている。サンプルプローブの汚れや振動等により、回転移動中、サンプルプローブの内壁や外壁に付着されたサンプルが他のサンプル容器に落下してしまう場合がある。この場合、落下したサンプルは、元々他のサンプル容器に収容されていたサンプルを汚染してしまい、サンプルの測定結果に悪影響を与える。このように、サンプルプローブからのサンプルの落下は、測定結果の信頼性を低下させている。   The sample is sucked from the sample container by the sample probe, rotated and moved along the movement path, and discharged to the reaction tube in the reaction disk. Under the movement path, not only a sample container containing a sample to be dispensed but also a sample container containing another sample is arranged. Due to dirt or vibration of the sample probe, the sample attached to the inner wall or outer wall of the sample probe may fall into another sample container during the rotational movement. In this case, the dropped sample contaminates the sample originally stored in another sample container, and adversely affects the measurement result of the sample. Thus, dropping of the sample from the sample probe reduces the reliability of the measurement result.

特開平06―230016号公報Japanese Patent Laid-Open No. 06-230016

本発明の目的は、測定結果の信頼性の向上を可能とする自動分析装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an automatic analyzer capable of improving the reliability of measurement results.

本発明の第1局面に係る自動分析装置は、同心円上に配列された複数の容器を保持するディスクと、前記同心円に沿って前記ディスクを回転可能に支持するディスク支持機構と、前記複数の容器の各々から溶液を分注するプローブと、前記プローブを溶液の吸入位置と吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転移動可能に支持するプローブ支持機構と、前記プローブ支持機構を制御し、前記移動経路に沿って前記プローブを前記吸入位置から前記吐出位置まで回転移動するプローブ制御部と、前記ディスク支持機構を制御し、前記ディスクを回転し、前記ディスク上に設けられ、前記プローブから落下された溶液を受けるための退避エリアを前記移動経路下に配置するディスク制御部と、を具備する。   An automatic analyzer according to a first aspect of the present invention includes a disk that holds a plurality of containers arranged concentrically, a disk support mechanism that rotatably supports the disk along the concentric circles, and the plurality of containers A probe that dispenses the solution from each of the above, a probe support mechanism that supports the probe so as to be able to rotate and move along a movement path connecting the suction position and the discharge position of the solution, and the probe support mechanism that controls the movement A probe control unit that rotates and moves the probe from the suction position to the discharge position along the path, and controls the disk support mechanism, rotates the disk, is provided on the disk, and is dropped from the probe And a disk control unit that arranges a retreat area for receiving the solution below the movement path.

本発明によれば、測定結果の信頼性の向上を可能とする自動分析装置を提供することが可能となる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the automatic analyzer which can improve the reliability of a measurement result.

本発明の実施形態に係る自動分析装置の外観を示す図。The figure which shows the external appearance of the automatic analyzer which concerns on embodiment of this invention. 本実施形態の第1実施例に係るサンプラをステージ上方から眺めた外観図。The external view which looked at the sampler which concerns on 1st Example of this embodiment from the stage upper direction. 第1及び第2実施例に係る自動分析装置のサンプル系統とその他の主要構成要素との機能ブロック図。The functional block diagram of the sample system | strain and other main components of the automatic analyzer which concerns on 1st and 2nd Example. 図3のサンプル系統制御部による制御に従って行なわれる第1実施例に係るサンプルの分注動作の典型的な流れを示す図。The figure which shows the typical flow of the sample dispensing operation | movement based on 1st Example performed according to control by the sample system | strain control part of FIG. 本実施形態の第2実施例に係るサンプラをステージ上方から眺めた外観図。The external view which looked at the sampler which concerns on 2nd Example of this embodiment from the stage upper direction. 図3のサンプル系統制御部による制御に従って行なわれる第2実施例に係るサンプルの分注動作の典型的な流れを示す図。The figure which shows the typical flow of the sample dispensing operation | movement based on 2nd Example performed according to control by the sample system | strain control part of FIG.

以下、図面を参照しながら本発明の実施形態に係わる自動分析装置を説明する。   Hereinafter, an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の実施形態に係る自動分析装置1の外観を示す図である。図1に示すように自動分析装置1のステージ10の略中央部には反応ディスク22が設けられている。反応ディスク20は、円周上に配列された複数の反応管22を着脱可能に保持する。反応ディスク20は、所定のサイクルで回動と停止とを繰り返す。   FIG. 1 is a diagram showing an appearance of an automatic analyzer 1 according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, a reaction disk 22 is provided at a substantially central portion of the stage 10 of the automatic analyzer 1. The reaction disk 20 detachably holds a plurality of reaction tubes 22 arranged on the circumference. The reaction disk 20 repeats rotation and stop in a predetermined cycle.

反応ディスク20の近傍には、サンプラ30が配置されている。サンプラ30は、円盤状のサンプルディスク32を備える。サンプルディスク32は、同心円上に配列された複数のサンプル容器34を保持する。サンプル容器34には、サンプルが収容されている。サンプルディスク32には、サンプルディスク支持機構36が取り付けられている。サンプルディスク支持機構36は、サンプルディスクを回転方向に沿って回転可能に支持する。回転方向は、サンプルディスク32の円周方向に一致する。例えば、サンプルディスク支持機構36は、回転軸回りにサンプルディスク32を回転し、分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器(以下、分注対象のサンプル容器と呼ぶことにする)をサンプラ30上のサンプル吸入位置に配置する。   A sampler 30 is disposed in the vicinity of the reaction disk 20. The sampler 30 includes a disk-shaped sample disk 32. The sample disk 32 holds a plurality of sample containers 34 arranged concentrically. The sample container 34 contains a sample. A sample disk support mechanism 36 is attached to the sample disk 32. The sample disk support mechanism 36 supports the sample disk so as to be rotatable along the rotation direction. The rotation direction coincides with the circumferential direction of the sample disk 32. For example, the sample disk support mechanism 36 rotates the sample disk 32 around the rotation axis, and a sample container (hereinafter referred to as a sample container to be dispensed) in which the sample to be dispensed is accommodated on the sampler 30. Place in the sample inhalation position.

反応ディスク20の近傍には、第1試薬庫40が配置される。第1試薬庫40は、円盤状の第1試薬ディスクを有する。第1試薬ディスクは、同心円上に配列された複数の第1試薬容器を保持する。第1試薬容器は、サンプルに含まれる各測定項目に応じた成分と化学反応する第1試薬を収容する。第1試薬ディスクには、第1試薬ディスク支持機構が取り付けられている。第1試薬ディスク支持機構は、第1試薬ディスクを回転方向に沿って回転可能に支持する。回転方向は、第1試薬ディスクの円周方向に一致する。例えば、第1試薬ディスク支持機構は、回転軸回りに第1試薬ディスクを回転し、分注対象の第1試薬が収容された第1試薬容器を第1試薬庫40上の第1試薬吸入位置に配置する。   A first reagent storage 40 is arranged in the vicinity of the reaction disk 20. The first reagent storage 40 has a disk-shaped first reagent disk. The first reagent disk holds a plurality of first reagent containers arranged concentrically. The first reagent container accommodates a first reagent that chemically reacts with a component corresponding to each measurement item included in the sample. A first reagent disk support mechanism is attached to the first reagent disk. The first reagent disk support mechanism supports the first reagent disk so as to be rotatable along the rotation direction. The rotation direction coincides with the circumferential direction of the first reagent disk. For example, the first reagent disk support mechanism rotates the first reagent disk around the rotation axis, and the first reagent container in which the first reagent to be dispensed is accommodated is the first reagent suction position on the first reagent storage 40. To place.

反応ディスク20の内側には、第2試薬庫50が配置される。第2試薬庫50は、円盤状の第2試薬ディスク52を有する。第2試薬ディスク52は、円周上に配列された複数の第2試薬容器54を保持する。第2試薬容器54は、第1試薬に対応する第2試薬を収容する。第2試薬ディスク52には、第2試薬ディスク支持機構56が取り付けられている。第2試薬ディスク支持機構56は、回転方向に沿って第2試薬ディスク52を回転し、分注対象の第2試薬が収容された第2試薬容器54を第2試薬庫50上の第2試薬吸入位置に配置する。回転方向は、第2試薬ディスク52の円周方向に一致する。   A second reagent storage 50 is disposed inside the reaction disk 20. The second reagent storage 50 has a disk-shaped second reagent disk 52. The second reagent disk 52 holds a plurality of second reagent containers 54 arranged on the circumference. The second reagent container 54 accommodates a second reagent corresponding to the first reagent. A second reagent disk support mechanism 56 is attached to the second reagent disk 52. The second reagent disk support mechanism 56 rotates the second reagent disk 52 along the rotation direction, and moves the second reagent container 54 containing the second reagent to be dispensed to the second reagent container 50. Place in the inhalation position. The rotation direction coincides with the circumferential direction of the second reagent disk 52.

反応ディスク20とサンプラ30との間にはサンプルアーム61Aが配置される。サンプルアーム61Aの先端には、サンプルプローブ63Aが取り付けられている。サンプルプローブ63Aは、図示しない電動式のサンプルポンプによりサンプルを吸入したり吐出したりする。サンプルアーム61Aは、サンプルプローブ63Aをサンプラ30上のサンプル吸入位置と反応ディスク20上のサンプル吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転軸65A回りに回転移動可能に支持する支持機構である。また、サンプルアーム61Aは、サンプルプローブ63Aを上下動可能に支持する支持機構でもある。   A sample arm 61 </ b> A is disposed between the reaction disk 20 and the sampler 30. A sample probe 63A is attached to the tip of the sample arm 61A. The sample probe 63A sucks and discharges a sample by an electric sample pump (not shown). The sample arm 61A is a support mechanism that supports the sample probe 63A so as to be rotatable about a rotation axis 65A along a movement path connecting a sample suction position on the sampler 30 and a sample discharge position on the reaction disk 20. The sample arm 61A is also a support mechanism that supports the sample probe 63A so as to be movable up and down.

反応ディスク20と第1試薬庫40との間には第1試薬アーム61Bが配置される。第1試薬アーム61Bの先端には第1試薬プローブ63Bが取り付けられている。第1試薬プローブ63Bは、図示しない第1試薬ポンプにより第1試薬を吸入したり吐出したりする。第1試薬アーム61Bは、第1試薬プローブ63Bを第1試薬庫40上の第1試薬吸入位置と反応ディスク20上の第1試薬吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転軸65B回りに回転移動可能に支持する支持機構である。また、第1試薬アーム61Bは、第1試薬プローブ63Bを上下動可能に支持する支持機構でもある。   A first reagent arm 61B is disposed between the reaction disk 20 and the first reagent storage 40. A first reagent probe 63B is attached to the tip of the first reagent arm 61B. The first reagent probe 63B sucks and discharges the first reagent by a first reagent pump (not shown). The first reagent arm 61B rotates the first reagent probe 63B around the rotation axis 65B along a movement path connecting the first reagent suction position on the first reagent storage 40 and the first reagent discharge position on the reaction disk 20. This is a support mechanism that is movably supported. The first reagent arm 61B is also a support mechanism that supports the first reagent probe 63B so as to be movable up and down.

反応ディスク20の外周近傍には第2試薬アーム61Cが配置される。第2試薬アーム61Cの先端には第2試薬プローブ63Cが取り付けられている。第2試薬プローブ63Cは、図示しない第2試薬ポンプにより第2試薬を吸入したり吐出したりする。第2試薬アーム61Cは、第2試薬プローブ63Cを第2試薬庫50上の第2試薬吸入位置と反応ディスク20上の第2試薬吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転軸65C回りに回転移動可能に支持する支持機構である。また、第2試薬アーム61Cは、第2試薬プローブ63Cを上下動可能に支持する支持機構でもある。   A second reagent arm 61 </ b> C is disposed in the vicinity of the outer periphery of the reaction disk 20. A second reagent probe 63C is attached to the tip of the second reagent arm 61C. The second reagent probe 63C sucks and discharges the second reagent by a second reagent pump (not shown). The second reagent arm 61C rotates the second reagent probe 63C about the rotation axis 65C along a movement path connecting the second reagent suction position on the second reagent storage 50 and the second reagent discharge position on the reaction disk 20. This is a support mechanism that is movably supported. The second reagent arm 61C is also a support mechanism that supports the second reagent probe 63C so as to be movable up and down.

さらに、反応ディスク20の外周近傍には、撹拌部70が設けられている。撹拌部70は、図示しない撹拌子を有している。撹拌部70は、反応ディスク20上の撹拌位置に反応管22が停止されると、撹拌子で反応管22内のサンプル及び第1試薬の混合液や、サンプル、第1試薬、及び第2試薬の混合液を撹拌する。反応管22内部の混合液は、反応ディスク20の内部等に設けられた測定部による測定に供される。   Further, a stirring unit 70 is provided in the vicinity of the outer periphery of the reaction disk 20. The stirring unit 70 has a stirring bar (not shown). When the reaction tube 22 is stopped at the stirring position on the reaction disk 20, the stirring unit 70 uses a stirring bar to mix the sample and the first reagent in the reaction tube 22, the sample, the first reagent, and the second reagent. Stir the mixture. The liquid mixture inside the reaction tube 22 is subjected to measurement by a measurement unit provided inside the reaction disk 20 or the like.

本実施形態に係る自動分析装置1は、プローブ63(サンプルプローブ63A、第1試薬プローブ63B)の溶液吸入位置(サンプル吸入位置、第1試薬吸入位置)から溶液吐出位置(サンプル吐出位置、第1試薬吐出位置)までの回転移動前又は回転移動中にディスク(サンプルディスク32、第1試薬ディスク)を回転させることにより、プローブ63から容器(サンプル容器34、第1試薬容器)へ溶液が落下することを防止する。以下にこの防止策について詳細に説明する。なお、以下に説明する本実施形態に係る防止策は、サンプル系統と第1試薬系統との何れの分注系統にも適用可能である。しかしながら、説明を具体的に行なうため、サンプル系統を例に挙げて防止策について説明する。   The automatic analyzer 1 according to the present embodiment has a solution discharge position (sample discharge position, first reagent position) from a solution suction position (sample suction position, first reagent suction position) of the probe 63 (sample probe 63A, first reagent probe 63B). By rotating the disk (sample disk 32, first reagent disk) before or during the rotational movement to the reagent discharge position), the solution falls from the probe 63 to the container (sample container 34, first reagent container). To prevent that. This preventive measure will be described in detail below. In addition, the preventive measure which concerns on this embodiment demonstrated below is applicable to any dispensing system | strain of a sample system | strain and a 1st reagent system | strain. However, for the sake of specific explanation, the preventive measures will be described using a sample system as an example.

また、標準的なディスクサンプラ32の構造として第1のタイプと第2のタイプとが知られている。第1のタイプのサンプラは、単一のサンプルディスクを備える。第2のタイプのサンプラは、互いに独立して回転可能な内周サンプルディスクと外周サンプルディスクとを備える。第1実施例では第1のタイプのサンプラを例に挙げて本実施形態に係る防止策について説明し、第2実施例では第2のタイプのサンプラを例に挙げて本実施形態に係る防止策について説明する。   Further, a first type and a second type are known as the structure of the standard disc sampler 32. The first type of sampler comprises a single sample disk. The second type of sampler includes an inner peripheral sample disk and an outer peripheral sample disk that are rotatable independently of each other. In the first example, the first type sampler is taken as an example to describe the preventive measure according to the present embodiment, and in the second example, the second type sampler is taken as an example to prevent the measure according to the present embodiment. Will be described.

(第1実施例)
図2は、本実施形態の第1実施例に係るサンプラ30をステージ10の上方から眺めた外観図である。図2に示すように、サンプラ30は、円盤状のサンプルディスク32Aを搭載する。サンプルディスク32Aには、同心円上(複数の円周CA上)に配列された複数の容器保持孔33を有する。図2においては、複数の容器保持孔33は、中心(サンプルディスク32Aの円中心)を共有し、直径が異なる内周CA1と外周CA2とに配列される。各容器保持孔33には、サンプル容器34が挿入される。すなわち、内周CA1と外周CA2とは、サンプル容器34の吸引口の移動経路である。なお全ての容器保持孔33にサンプル容器34が挿入されている必要はなく、サンプル容器34が挿入されていない容器保持孔33があってもよい。また、サンプル容器34には、必ずしもサンプルが収容されていなくてもよい。
(First embodiment)
FIG. 2 is an external view of the sampler 30 according to the first example of the present embodiment as viewed from above the stage 10. As shown in FIG. 2, the sampler 30 mounts a disk-shaped sample disk 32A. The sample disk 32A has a plurality of container holding holes 33 arranged concentrically (on a plurality of circumferences CA). In FIG. 2, the plurality of container holding holes 33 share the center (the center of the circle of the sample disk 32A) and are arranged on the inner circumference CA1 and the outer circumference CA2 having different diameters. A sample container 34 is inserted into each container holding hole 33. That is, the inner circumference CA1 and the outer circumference CA2 are moving paths of the suction port of the sample container 34. Note that the sample containers 34 need not be inserted into all the container holding holes 33, and there may be container holding holes 33 into which the sample containers 34 are not inserted. The sample container 34 does not necessarily contain a sample.

各円周CA1、CA2とサンプルプローブ63Aの移動経路67とが重なるサンプラ30上の位置は、サンプル吸入位置PAに規定される。ここで、内周CA1上のサンプル吸入位置PAを内側吸入位置PA1、外周CA2上のサンプル吸入位置PAを外側吸入位置PA2と呼ぶことにする。分注対象のサンプル容器34が内周CA1に配置されている場合、サンプルディスク32Aが回転軸RA回りに回転することにより、分注対象のサンプル容器34は、内側吸入位置PA1に配置される。同様に、分注対象のサンプル容器34が外周CA2に配置されている場合、サンプルディスク32Aが回転軸RA回りに回転することにより、分注対象のサンプル容器34は、外側吸入位置PA2に配置される。   The position on the sampler 30 where each of the circumferences CA1 and CA2 and the movement path 67 of the sample probe 63A overlap is defined as a sample suction position PA. Here, the sample suction position PA on the inner circumference CA1 is referred to as an inner suction position PA1, and the sample suction position PA on the outer circumference CA2 is referred to as an outer suction position PA2. When the sample container 34 to be dispensed is arranged on the inner circumference CA1, the sample disk 34A is arranged around the rotation axis RA, whereby the sample container 34 to be dispensed is arranged at the inner suction position PA1. Similarly, when the sample container 34 to be dispensed is arranged on the outer periphery CA2, the sample container 34 to be dispensed is arranged at the outer suction position PA2 by rotating the sample disk 32A around the rotation axis RA. The

サンプラ30は、安全板37Aを搭載している。安全板37Aは、サンプルディスク32Aの上方に配置される。安全板37Aは、サンプルディスク32A上の円周CAの数と同数のプローブ挿入孔38を有している。図2においては、安全板37Aは、2つのプローブ挿入孔38を有している。安全板37Aは、この2つのプローブ挿入孔38が内側吸入位置PA1(移動経路67と内周CA1との交点)と外側吸入位置PA2(移動経路67と外周CA2との交点)とにそれぞれ重なるように配置されている。安全板37Aは、オペレータによるサンプルアーム61Aやサンプルプローブ63A等への接触を防止したり、サンプルプローブ63Aからサンプルディスク32Aへのサンプルの落下を防止したりするために設けられている。   The sampler 30 is equipped with a safety plate 37A. The safety plate 37A is disposed above the sample disk 32A. The safety plate 37A has the same number of probe insertion holes 38 as the number of circumferences CA on the sample disk 32A. In FIG. 2, the safety plate 37 </ b> A has two probe insertion holes 38. In the safety plate 37A, the two probe insertion holes 38 overlap the inner suction position PA1 (intersection of the movement path 67 and the inner circumference CA1) and the outer suction position PA2 (intersection of the movement path 67 and the outer circumference CA2), respectively. Is arranged. The safety plate 37A is provided to prevent the operator from contacting the sample arm 61A, the sample probe 63A, etc., or to prevent the sample from dropping from the sample probe 63A to the sample disk 32A.

サンプルディスク32A上には、退避エリア39Aが設けられている。退避エリア39Aは、サンプルプローブ63Aから落下したサンプルを受けるために設けられる。すなわち退避エリア39Aには、サンプルディスク32A上のエリアであって、非分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器(以下、非分注対象のサンプル容器と呼ぶことにする)が占めるエリアは含まれない。なお分注対象のサンプルは、1サイクル毎に変更される。分注対象のサンプルが変更される毎に非分注対象のサンプルも変更される。   A retreat area 39A is provided on the sample disk 32A. The retreat area 39A is provided for receiving a sample dropped from the sample probe 63A. That is, the evacuation area 39A includes an area on the sample disk 32A that is occupied by a sample container in which a sample to be non-dispensed (hereinafter referred to as a sample container to be non-dispensed) is occupied. I can't. The sample to be dispensed is changed every cycle. Each time the sample to be dispensed is changed, the sample to be dispensed is also changed.

退避エリア39Aには、大きく分けて2つのタイプがある。第1の退避エリア39Aは、サンプル容器34が配置されていないサンプルディスク32A上のエリアである。より具体的には、第1の退避エリア39Aは、例えば、容器挿入孔34が設けられていないサンプルディスク32A上のエリアである。この容器挿入孔34が設けられていないエリアは、このために特別に形成されても良いし、既存のサンプルディスクにおける容器挿入孔間のエリアであってもよい。また、第1の退避エリア39Aは、サンプル容器34が挿入されていない容器挿入孔33が占めるエリアであってもよい。また、第1の退避エリア39Aは、サンプル容器34の外壁に貼付されたバーコードを読み取るためのバーコード読み取り器の進入経路が占めるエリアであってもよい。第2の退避エリア39Aは、サンプルが収容されていない空のサンプル容器34の吸入口が占めるエリアである。これら退避エリア39Aの種類は、オペレータにより手動で又は操作卓を介して任意に設定可能である。   There are roughly two types of retreat area 39A. The first retreat area 39A is an area on the sample disk 32A where the sample container 34 is not disposed. More specifically, the first evacuation area 39A is an area on the sample disk 32A in which the container insertion hole 34 is not provided, for example. The area where the container insertion hole 34 is not provided may be formed specifically for this purpose, or may be an area between container insertion holes in an existing sample disk. The first retreat area 39A may be an area occupied by the container insertion hole 33 into which the sample container 34 is not inserted. The first evacuation area 39A may be an area occupied by an entrance path of a barcode reader for reading a barcode attached to the outer wall of the sample container 34. The second evacuation area 39A is an area occupied by the suction port of an empty sample container 34 in which no sample is accommodated. The type of the evacuation area 39A can be arbitrarily set manually by an operator or via an operator console.

図3は、第1実施例に係る自動分析装置1のサンプル系統とその他の主要構成要素との機能ブロック図である。図3に示すように、自動分析装置1は、サンプル位置検出部81とサンプル系統制御部82とサンプル系統83とを有している。   FIG. 3 is a functional block diagram of the sample system and other main components of the automatic analyzer 1 according to the first embodiment. As shown in FIG. 3, the automatic analyzer 1 includes a sample position detection unit 81, a sample system control unit 82, and a sample system 83.

位置検出部81は、分注対象のサンプル容器34のサンプラ30上での位置や退避エリア39Aのサンプラ30上での位置を検出する。検出された位置のデータは、サンプル系統制御部82に供給される。   The position detector 81 detects the position of the sample container 34 to be dispensed on the sampler 30 and the position of the retreat area 39A on the sampler 30. The detected position data is supplied to the sample system controller 82.

なおサンプラ30上におけるサンプルディスク32A上の任意位置(例えば、各サンプル容器34の位置や退避エリア39Aの位置)は、例えば、サンプルディスク32Aの回転軸RA回りの回転角度により規定されている。例えば、サンプルディスク32A上の基準位置(例えば、番号1のサンプル容器34)が移動経路67下に配置されている状態を基準角度(θ=0)とする。これによりサンプルディスク32Aの基準位置のサンプラ30上の位置は、基準角度からの回転角度により規定される。また、サンプルディスク32A上の任意位置(例えば、各サンプル容器34の位置や退避エリア39Aの位置)は、サンプルディスク32A上の基準位置からの中心点(中心軸RAとサンプルディスク32Aとの交点)回りの回転角度により規定されている。従ってサンプルディスク32A上の任意位置のサンプラ30上の位置が規定できる。   An arbitrary position on the sample disk 32A on the sampler 30 (for example, the position of each sample container 34 or the position of the retreat area 39A) is defined by, for example, the rotation angle around the rotation axis RA of the sample disk 32A. For example, a state in which the reference position (for example, the sample container 34 of number 1) on the sample disk 32A is disposed under the movement path 67 is defined as a reference angle (θ = 0). As a result, the position of the reference position of the sample disk 32A on the sampler 30 is defined by the rotation angle from the reference angle. An arbitrary position on the sample disk 32A (for example, the position of each sample container 34 or the position of the retreat area 39A) is a center point from the reference position on the sample disk 32A (intersection of the center axis RA and the sample disk 32A). It is defined by the rotation angle around. Therefore, an arbitrary position on the sampler 30 on the sample disk 32A can be defined.

サンプル系統制御部82は、本実施形態に特有なサンプルの分注動作を実行するために、位置検出部81からの位置のデータ等に従ってサンプル系統83を制御する。図3に示すように、サンプル系統83は、サンプルディスク回転制御部84、サンプルディスク支持機構36、サンプルプローブ回転制御部85、サンプルプローブ上下動制御部86、サンプルアーム61A、サンプルポンプ制御部87、及びサンプルポンプ68Aを有する。   The sample system control unit 82 controls the sample system 83 in accordance with the position data from the position detection unit 81 and the like in order to execute the sample dispensing operation unique to the present embodiment. As shown in FIG. 3, the sample system 83 includes a sample disk rotation control unit 84, a sample disk support mechanism 36, a sample probe rotation control unit 85, a sample probe vertical movement control unit 86, a sample arm 61A, a sample pump control unit 87, And a sample pump 68A.

サンプルディスク回転制御部84は、サンプル系統制御部82による制御に従ってサンプルディスク支持機構36を駆動制御する。サンプルディスク支持機構36は、サンプルディスク回転制御部84による駆動制御に従ってサンプルディスク32Aを回転する。   The sample disk rotation control unit 84 drives and controls the sample disk support mechanism 36 according to the control by the sample system control unit 82. The sample disk support mechanism 36 rotates the sample disk 32 </ b> A according to drive control by the sample disk rotation control unit 84.

サンプルプローブ回転制御部85は、サンプル系統制御部82による制御に従ってサンプルアーム61Aを駆動制御する。サンプルアーム61Aは、サンプルプローブ回転制御部85による駆動制御に従ってサンプルプローブ63Aを移動軌跡に沿って回転移動させる。   The sample probe rotation control unit 85 drives and controls the sample arm 61A according to the control by the sample system control unit 82. The sample arm 61A rotates and moves the sample probe 63A along the movement locus in accordance with the drive control by the sample probe rotation control unit 85.

サンプルプローブ上下動制御部86は、サンプル系統制御部82による制御に従ってサンプルアーム61Aを駆動制御する。サンプルアーム61Aは、サンプルプローブ上下動制御部86による駆動制御に従ってサンプルプローブ63Aを上下動させる。   The sample probe vertical movement control unit 86 drives and controls the sample arm 61 </ b> A according to the control by the sample system control unit 82. The sample arm 61 </ b> A moves the sample probe 63 </ b> A up and down according to drive control by the sample probe up / down movement control unit 86.

サンプルポンプ制御部87は、サンプル系統制御部82による制御に従ってサンプルポンプ68Aを駆動制御する。サンプルポンプ68Aは、サンプルポンプ制御部87による駆動制御に従ってサンプルプローブ63Aにサンプルを吸入させたり、サンプルを吐出させたりする。   The sample pump control unit 87 drives and controls the sample pump 68A according to the control by the sample system control unit 82. The sample pump 68A causes the sample probe 63A to inhale a sample or cause the sample to be discharged according to drive control by the sample pump control unit 87.

次に図4を参照しながら、サンプル系統制御部82による制御に従って行なわれる第1実施例に係るサンプルの分注動作の典型的な流れについて説明する。   Next, a typical flow of the sample dispensing operation according to the first embodiment performed according to the control by the sample system control unit 82 will be described with reference to FIG.

まずサンプル系統制御部82等により分注対象のサンプルが設定されると、位置検出部81は、設定された分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器(分注対象のサンプル容器)34のサンプラ30上の位置を特定する。特定された位置のデータは、サンプル系統制御部82に供給される。   First, when a sample to be dispensed is set by the sample system control unit 82 or the like, the position detection unit 81 sets a sampler of a sample container (a sample container to be dispensed) 34 in which the set sample to be dispensed is stored. A position on 30 is specified. The data of the specified position is supplied to the sample system control unit 82.

そしてサンプル系統制御部82は、分注対象のサンプル容器34のサンプラ30上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部85に回転処理を行なわせる(ステップSA1)。ステップSA1においてサンプルディスク回転制御部85は、分注対象のサンプル容器34のサンプラ30上の位置とサンプル吸入位置PAのサンプラ30上の位置とに従ってサンプルディスク支持機構36を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構36は、サンプルディスク32Aを回転軸RA回りに回転し、分注対象のサンプル容器34をサンプル吸入位置PAに配置する。   Then, the sample system control unit 82 causes the sample disk rotation control unit 85 to perform rotation processing according to the position of the sample container 34 to be dispensed on the sampler 30 (step SA1). In step SA1, the sample disk rotation control unit 85 drives and controls the sample disk support mechanism 36 according to the position of the sample container 34 to be dispensed on the sampler 30 and the position of the sample suction position PA on the sampler 30. In response to this drive control, the sample disk support mechanism 36 rotates the sample disk 32A about the rotation axis RA, and places the sample container 34 to be dispensed at the sample suction position PA.

ステップSA1が行なわれるとサンプル系統制御部82は、分注対象のサンプル容器34が配置されている円周CAの位置に従ってサンプルプローブ回転制御部85に回転移動処理を行なわせる(ステップSA2)。ステップSA2においてサンプルプローブ回転制御部85は、分注対象のサンプル容器34が配置されている円周CAの位置に応じてサンプルアーム61Aの回転移動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム61Aは、移動経路67に沿ってサンプルプローブ63Aを回転移動し、分注対象のサンプル容器34が配置されている円周CA上のサンプル吸入位置PAにサンプルプローブ63Aを配置する。例えば、分注対象のサンプル容器34が内周CA1に配置されている場合、サンプルプローブ63Aは、内側吸入位置PA1に配置され、分注対象のサンプル容器34が外周CA2に配置されている場合、サンプルプローブ63Aは、外側吸入位置PA2に配置される。   When step SA1 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample probe rotation control unit 85 to perform a rotational movement process according to the position of the circumference CA where the sample container 34 to be dispensed is disposed (step SA2). In step SA2, the sample probe rotation control unit 85 drives and controls the rotation movement mechanism of the sample arm 61A according to the position of the circumference CA where the sample container 34 to be dispensed is arranged. Under this drive control, the sample arm 61A rotates and moves the sample probe 63A along the movement path 67, and the sample probe 63A is placed at the sample suction position PA on the circumference CA where the sample container 34 to be dispensed is arranged. Place. For example, when the sample container 34 to be dispensed is arranged at the inner circumference CA1, the sample probe 63A is arranged at the inner suction position PA1, and when the sample container 34 to be dispensed is arranged at the outer circumference CA2, The sample probe 63A is disposed at the outer suction position PA2.

ステップSA2が行なわれるとサンプル系統制御部82は、サンプルプローブ上下動制御部86とサンプルポンプ制御部87とに吸入処理を行なわせる(ステップSA3)。ステップSA3においてサンプルプローブ上下動制御部86は、サンプルアーム61Aの上下動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム61Aは、分注対象のサンプルや測定項目に応じた下降量だけサンプルプローブ63Aを下降させる。下降が終了するとサンプルポンプ制御部87は、サンプルポンプ68Aを駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルポンプ68Aは、所定量のサンプルをサンプルプローブ63Aを介してサンプル容器34から吸入する。所定量は、例えば、分注対象のサンプルや測定項目に応じて設定されている。吸入が終了するとサンプルプローブ上下動制御部86は、サンプルアーム61Aの上下動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム61Aは、下降量と略同一の量だけサンプルプローブ63Aを上昇させる。   When step SA2 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample probe vertical movement control unit 86 and the sample pump control unit 87 to perform a suction process (step SA3). In step SA3, the sample probe vertical movement controller 86 controls the vertical movement mechanism of the sample arm 61A. In response to this drive control, the sample arm 61A lowers the sample probe 63A by a descending amount corresponding to the sample to be dispensed and the measurement item. When the descent is completed, the sample pump control unit 87 controls the driving of the sample pump 68A. Under this drive control, the sample pump 68A sucks a predetermined amount of sample from the sample container 34 via the sample probe 63A. The predetermined amount is set according to, for example, a sample to be dispensed and a measurement item. When the inhalation is completed, the sample probe vertical movement control unit 86 controls the vertical movement mechanism of the sample arm 61A. In response to this drive control, the sample arm 61A raises the sample probe 63A by substantially the same amount as the lowered amount.

ステップSA3が行なわれるとサンプル系統制御部82は、退避エリア39Aのサンプラ30上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部84に回転処理を行なわせる(ステップSA4)。なお退避エリア39Aのサンプラ30上の位置は、ステップSA2が終了してからステップSAが開始されるまでの間に位置検出部81により検出され、検出された位置のデータは、サンプル系統制御部82に供給されているものとする。ステップSA4においてサンプルディスク回転制御部84は、退避エリア39Aのサンプラ30上の位置とサンプル吸入位置PAのサンプラ30上の位置とに従ってサンプルディスク支持機構36を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構36は、サンプルディスク32Aを回転軸RA回りに回転し、サンプルディスク32A上の退避エリア39Aを移動経路67下に配置する。   When step SA3 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample disk rotation control unit 84 to perform rotation processing according to the position of the retreat area 39A on the sampler 30 (step SA4). The position on the sampler 30 in the evacuation area 39A is detected by the position detection unit 81 between the end of step SA2 and the start of step SA, and the data of the detected position is the sample system control unit 82. Shall be supplied to In step SA4, the sample disk rotation control unit 84 drives and controls the sample disk support mechanism 36 according to the position of the retreat area 39A on the sampler 30 and the position of the sample suction position PA on the sampler 30. In response to this drive control, the sample disk support mechanism 36 rotates the sample disk 32A around the rotation axis RA, and arranges the retreat area 39A on the sample disk 32A below the movement path 67.

なお、図2において退避エリア39Aは一箇所に設けられている。しかしながら本実施形態は、これに限定する必要はない。例えば、退避エリア39Aは、サンプルディスク32A上に複数個所設けられていても良い。この場合、複数の退避エリア39Aのうちの特定の退避エリア39Aがオペレータにより操作卓を介して設定される。ステップSA2が終了してからステップSAが開始されるまでの間に位置検出部81は、設定された退避エリア39のサンプラ30上の位置を検出する。そしてステップS4においてサンプルディスク回転制御部34は、設定された退避エリア39を移動経路67下に配置する。   In FIG. 2, the retreat area 39A is provided at one place. However, the present embodiment need not be limited to this. For example, a plurality of evacuation areas 39A may be provided on the sample disk 32A. In this case, a specific evacuation area 39A among the plurality of evacuation areas 39A is set by the operator via the console. The position detector 81 detects the set position of the evacuation area 39 on the sampler 30 between the end of step SA2 and the start of step SA. In step S4, the sample disk rotation control unit 34 arranges the set save area 39 under the movement path 67.

また、内周CA1上の退避エリア39Aと外周CA2上の退避エリア39Aとがサンプルディスク32A上の同一径上に無い場合がある。この場合、サンプルディスク支持機構36は、外周CA2上の退避エリア39Aを移動経路67下に配置する。   In some cases, the save area 39A on the inner circumference CA1 and the save area 39A on the outer circumference CA2 are not on the same diameter on the sample disk 32A. In this case, the sample disk support mechanism 36 arranges the retreat area 39A on the outer periphery CA2 below the movement path 67.

また、分注対象のサンプル容器34が外周CA2上に配置されている場合、サンプルプローブ63Aから他のサンプル容器34内へサンプルが落下する虞が無いので、ステップSA4は行なわれなくても良い。この場合、ステップSA3の次にステップSA5が行なわれる。   Further, when the sample container 34 to be dispensed is disposed on the outer periphery CA2, there is no possibility that the sample falls from the sample probe 63A into the other sample container 34, and therefore step SA4 may not be performed. In this case, step SA5 is performed after step SA3.

ステップSA4が行なわれるとサンプル系統制御部82は、サンプルプローブ回転制御部85に回転移動処理を行なわせる(ステップSA5)。ステップSA5においてサンプルプローブ回転制御部85は、サンプルアーム61Aの回転移動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム61Aは、移動経路67に沿ってサンプルプローブ61Aを回転移動し、反応ディスク20上のサンプル吐出位置にサンプルプローブ63Aを配置する。   When step SA4 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample probe rotation control unit 85 to perform a rotational movement process (step SA5). In step SA5, the sample probe rotation control unit 85 drives and controls the rotation movement mechanism of the sample arm 61A. Under this drive control, the sample arm 61A rotates and moves the sample probe 61A along the movement path 67, and places the sample probe 63A at the sample discharge position on the reaction disk 20.

ステップSA5が行なわれるとサンプル系統制御部82は、サンプルプローブ上下動制御部86とサンプルポンプ制御部87とに吐出処理を行なわせる(ステップSA6)。ステップSA6においてサンプルプローブ上下動制御部86は、サンプルアーム61Aの上下動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム61Aは、吐出のための下降量だけサンプルプローブ63Aを下降させる。下降が終了するとサンプルポンプ制御部87は、サンプルポンプ68Aを駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルポンプ68Aは、ステップSA3において吸入したサンプルをサンプルプローブ63Aを介して反応管22に吐出する。吐出が終了するとサンプルプローブ上下動制御部86は、サンプルアーム61Aの上下動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム61Aは、下降量と略同一の量だけサンプルプローブ63Aを上昇させる。   When step SA5 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample probe vertical movement control unit 86 and the sample pump control unit 87 to perform discharge processing (step SA6). In step SA6, the sample probe vertical movement control unit 86 drives and controls the vertical movement mechanism of the sample arm 61A. Under this drive control, the sample arm 61A lowers the sample probe 63A by the lowering amount for ejection. When the descent is completed, the sample pump control unit 87 controls the driving of the sample pump 68A. Under this drive control, the sample pump 68A discharges the sample sucked in step SA3 to the reaction tube 22 via the sample probe 63A. When the ejection is completed, the sample probe vertical movement control unit 86 controls the vertical movement mechanism of the sample arm 61A. In response to this drive control, the sample arm 61A raises the sample probe 63A by substantially the same amount as the lowered amount.

ステップSA6が終了するとサンプル系統制御部82は、第1実施例に係るサンプルの分注動作を終了する。この後、別のサンプルについて分注をする場合、サンプル系統制御部82による制御に従って再び図4の分注動作が行われる。   When step SA6 ends, the sample system control unit 82 ends the sample dispensing operation according to the first embodiment. Thereafter, when another sample is dispensed, the dispensing operation of FIG. 4 is performed again according to the control by the sample system control unit 82.

(第2実施例)
次に本実施形態の第2実施例について説明する。なお以下の説明において、第1実施例と略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。
(Second embodiment)
Next, a second example of the present embodiment will be described. In the following description, components having substantially the same functions as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description is provided only when necessary.

図5は、本実施形態の第2実施例に係るサンプラ30をステージ10の上方から眺めた外観図である。図5に示すように、第2実施例に係るサンプラ30は、内周サンプルディスク32B―1と外周サンプルディスク32B―2とを搭載する。内周サンプルディスク32B―1と外周サンプルディスク32B―2とは、互いに独立して回転可能にサンプルディスク支持機構36により支持されている。   FIG. 5 is an external view of the sampler 30 according to the second example of the present embodiment as viewed from above the stage 10. As shown in FIG. 5, the sampler 30 according to the second embodiment mounts an inner sample disk 32B-1 and an outer sample disk 32B-2. The inner sample disk 32B-1 and the outer sample disk 32B-2 are supported by the sample disk support mechanism 36 so as to be rotatable independently of each other.

各サンプルディスク32B―1、32B―2には、同心円上(複数の円周上)に配列された複数の容器保持孔33を有する。図5において複数のサンプル容器33は、中心を共有し直径が異なる4つの円周CB1、CB2、CB3、CB4上に配列される。ここで、4つの円周CB1、CB2、CB3、CB4を内側から順番に第1円周CB1、第2円周CB2、第3円周CB3、第4円周CB4と呼ぶことにする。第1円周CB1と第2円周CB2とが内周サンプルディスク32B―1上に設けられ、第3円周CB3と第4円周CB4とが外周サンプルディスク32B―2上に設けられている。   Each of the sample disks 32B-1 and 32B-2 has a plurality of container holding holes 33 arranged concentrically (on a plurality of circumferences). In FIG. 5, the plurality of sample containers 33 are arranged on four circumferences CB1, CB2, CB3, and CB4 that share the center and have different diameters. Here, the four circumferences CB1, CB2, CB3, and CB4 are referred to as a first circumference CB1, a second circumference CB2, a third circumference CB3, and a fourth circumference CB4 in order from the inside. A first circumference CB1 and a second circumference CB2 are provided on the inner sample disk 32B-1, and a third circumference CB3 and a fourth circumference CB4 are provided on the outer sample disk 32B-2. .

各円周CB1、CB2、CB3、CB4とサンプルプローブ63Aの移動経路67とが重なるサンプラ30上の位置は、サンプル吸入位置PBに規定される。ここで、第1円周CB1上のサンプル吸入位置PBを第1吸入位置PB1、第2円周CB2上のサンプル吸入位置PBを第2吸入位置PB2、第3円周CB3上のサンプル吸入位置PBを第3吸入位置PB3、第4円周CB4上のサンプル吸入位置PBを第4吸入位置PB4と呼ぶことにする。   A position on the sampler 30 where each of the circumferences CB1, CB2, CB3, CB4 and the moving path 67 of the sample probe 63A overlap is defined as a sample suction position PB. Here, the sample suction position PB on the first circumference CB1 is the first suction position PB1, the sample suction position PB on the second circumference CB2 is the second suction position PB2, and the sample suction position PB on the third circumference CB3. Is referred to as a third suction position PB3, and the sample suction position PB on the fourth circumference CB4 is referred to as a fourth suction position PB4.

第2実施例に係る安全板37Bは、4つのプローブ挿入孔38を有している。安全板37Bは、この4つのプローブ挿入孔38が第1吸入位置PB1(移動経路67と第1円周CB1との交点)と第2吸入位置PB2(移動経路67と第2円周CB2との交点)と第3吸入位置PB3(移動経路67と第3円周CB3との交点)と第4吸入位置PB4(移動経路67と第4円周CB4との交点)とにそれぞれ重なるように配置されている。   The safety plate 37B according to the second embodiment has four probe insertion holes 38. In the safety plate 37B, the four probe insertion holes 38 are formed between the first suction position PB1 (intersection of the movement path 67 and the first circumference CB1) and the second suction position PB2 (movement path 67 and the second circumference CB2). Intersection point), the third suction position PB3 (intersection point between the movement path 67 and the third circumference CB3), and the fourth suction position PB4 (intersection point between the movement path 67 and the fourth circumference CB4), respectively. ing.

外周サンプルディスク32B―2上には、退避エリア39Bが設けられている。内周サンプルディスク32B―1上には、退避エリア39Bが設けられていても、設けられていなくても良い。以下、説明を具体的に行うため、内周サンプルディスク32B―1上には退避エリア39Bが設けられていないものとする。   A retreat area 39B is provided on the outer peripheral sample disk 32B-2. On the inner sample disk 32B-1, the evacuation area 39B may or may not be provided. Hereinafter, for the sake of specific description, it is assumed that the save area 39B is not provided on the inner sample disk 32B-1.

次に図6を参照しながら、サンプル系統制御部82の制御に従って行なわれる第2実施例に係るサンプルの分注動作の典型的な流れについて説明する。   Next, a typical flow of the sample dispensing operation according to the second embodiment performed in accordance with the control of the sample system control unit 82 will be described with reference to FIG.

まずサンプル系統制御部82等により分注対象のサンプルが設定されると、位置検出部81は、設定された分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器(分注対象のサンプル容器)34のサンプラ30上の位置を特定する。特定された位置のデータは、サンプル系統制御部82に供給される。   First, when a sample to be dispensed is set by the sample system control unit 82 or the like, the position detection unit 81 sets a sampler of a sample container (a sample container to be dispensed) 34 in which the set sample to be dispensed is stored. A position on 30 is specified. The data of the specified position is supplied to the sample system control unit 82.

そしてサンプル系統制御部82は、分注対象のサンプル容器34が内周サンプルディスク32B―1上に配置されているか否かを判定する(ステップSB1)。サンプル系統制御部82は、サンプル容器34の識別情報と容器挿入孔34の識別情報とを関連付けたテーブルを保持している。このテーブル上において各容器挿入孔34の識別情報は、内周サンプルディスク32B―1の識別情報又は外周サンプルディスク32B―2の識別情報に関連付けられている。このテーブルを利用してサンプル系統制御部82は、ステップSB1の判定処理を行なう。具体的には、まず、サンプル系統制御部82は、分注対象のサンプル容器34の識別情報を検索キーワードとして上記のテーブルを検索し、分注対象のサンプル容器34が挿入されている容器挿入孔33の識別情報を特定する。そしてサンプル系統制御部82は、容器挿入孔33の識別情報が内周サンプルディスク32B―1の識別情報に関連付けられているか、あるいは外周サンプルディスク32B―2に関連付けられているかを判定する。容器挿入孔33の識別情報が内周サンプルディスク32B―1の識別情報に関連付けられていると判定した場合、サンプル系統制御部82は、サンプル容器34が内周サンプルディスク32B―1上に配置されていると判定する。一方、容器挿入孔33の識別情報が外周サンプルディスク32B―2の識別情報に関連付けられていると判定した場合、サンプル系統制御部82は、サンプル容器34が内周サンプルディスク32B―1上に配置されていないと判定する。   Then, the sample system control unit 82 determines whether or not the sample container 34 to be dispensed is arranged on the inner sample disk 32B-1 (step SB1). The sample system control unit 82 holds a table that associates the identification information of the sample container 34 with the identification information of the container insertion hole 34. On this table, the identification information of each container insertion hole 34 is associated with the identification information of the inner sample disk 32B-1 or the identification information of the outer sample disk 32B-2. Using this table, the sample system control unit 82 performs the determination process of step SB1. Specifically, first, the sample system control unit 82 searches the table using the identification information of the sample container 34 to be dispensed as a search keyword, and the container insertion hole into which the sample container 34 to be dispensed is inserted. 33 identification information is specified. The sample system controller 82 determines whether the identification information of the container insertion hole 33 is associated with the identification information of the inner sample disk 32B-1 or the outer sample disk 32B-2. When it is determined that the identification information of the container insertion hole 33 is associated with the identification information of the inner sample disk 32B-1, the sample system control unit 82 places the sample container 34 on the inner sample disk 32B-1. It is determined that On the other hand, when it is determined that the identification information of the container insertion hole 33 is associated with the identification information of the outer peripheral sample disk 32B-2, the sample system control unit 82 places the sample container 34 on the inner peripheral sample disk 32B-1. Judge that it is not.

内周サンプルディスク32B―1上に配置されていると判定した場合(ステップSB1:YES)、サンプル系統制御部82は、分注対象のサンプル容器34のサンプラ30上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部84に内周回転処理を行なわせる(ステップSB2)。ステップSB2においてサンプルディスク回転制御部84は、分注対象のサンプル容器34のサンプラ30上の位置とサンプル吸入位置PBのサンプラ30上の位置とに従ってサンプルディスク回転支持機構36を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構36は、内周サンプルディスク32B―1を回転軸RA回りに回転し、分注対象のサンプル容器34をサンプル吸入位置PBに配置する。   When it is determined that the sample is placed on the inner sample disk 32B-1 (step SB1: YES), the sample system control unit 82 determines the sample disk rotation control unit according to the position on the sampler 30 of the sample container 34 to be dispensed. 84 is caused to perform an inner periphery rotation process (step SB2). In step SB2, the sample disk rotation control unit 84 drives and controls the sample disk rotation support mechanism 36 according to the position of the sample container 34 to be dispensed on the sampler 30 and the position of the sample suction position PB on the sampler 30. Under this drive control, the sample disk support mechanism 36 rotates the inner peripheral sample disk 32B-1 around the rotation axis RA, and arranges the sample container 34 to be dispensed at the sample suction position PB.

ステップSB2が行なわれるとサンプル系統制御部82は、退避エリア39Bのサンプラ30上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部84に外周回転処理を行なわせる(ステップSB3)。ステップSB3においてサンプルディスク回転制御部84は、退避エリア39Bのサンプラ30上の位置に従ってサンプルディスク支持機構36を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構36は、外周サンプルディスク32B―2を回転軸RA回りに回転し、外周サンプルディスク32B―2上の退避エリア39Bを移動経路67下に配置する。なお、退避エリア39Bのサンプラ30上の位置は、位置検出部81により検出される。   When step SB2 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample disk rotation control unit 84 to perform the outer periphery rotation process according to the position of the retreat area 39B on the sampler 30 (step SB3). In step SB3, the sample disk rotation control unit 84 drives and controls the sample disk support mechanism 36 according to the position of the retreat area 39B on the sampler 30. In response to this drive control, the sample disk support mechanism 36 rotates the outer peripheral sample disk 32B-2 around the rotation axis RA, and arranges the retreat area 39B on the outer peripheral sample disk 32B-2 below the movement path 67. The position of the retreat area 39B on the sampler 30 is detected by the position detector 81.

一方、サンプル容器34が内周サンプルディスク32B―1上に配置されていないと判定した場合(ステップSB1:NO)、サンプル系統制御部82は、分注対象のサンプル容器34のサンプラ30上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部84に外周回転処理を行なわせる(ステップSB4)。ステップSB4においてサンプルディスク回転制御部84は、分注対象のサンプル容器34のサンプラ30上の位置とサンプル吸入位置PBのサンプラ30上の位置とに従ってサンプルディスク回転支持機構36を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構36は、外周サンプルディスク32B―2を回転軸36回りに回転し、分注対象のサンプル容器34をサンプル吸入位置PBに配置する。   On the other hand, when it is determined that the sample container 34 is not arranged on the inner sample disk 32B-1 (step SB1: NO), the sample system control unit 82 positions the sample container 34 to be dispensed on the sampler 30. Accordingly, the sample disk rotation control unit 84 is caused to perform outer periphery rotation processing (step SB4). In step SB4, the sample disk rotation control unit 84 drives and controls the sample disk rotation support mechanism 36 according to the position of the sample container 34 to be dispensed on the sampler 30 and the position of the sample suction position PB on the sampler 30. Under this drive control, the sample disk support mechanism 36 rotates the outer peripheral sample disk 32B-2 around the rotation shaft 36, and places the sample container 34 to be dispensed at the sample suction position PB.

ステップSB3又はSB4が行なわれるとサンプル系統制御部82は、分注対象のサンプル容器34が配置されている円周CBの位置に従ってサンプルプローブ回転制御部85に回転移動処理を行なわせる(ステップSB5)。ステップSB5においてサンプルプローブ回転制御部82は、分注対象のサンプル容器34が配置されている円周CAの位置に従ってサンプルアーム61Aの回転移動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム61Aは、移動経路67に沿ってサンプルプローブ63Aを回転移動し、分注対象のサンプル容器34が配置されている円周CB上のサンプル吸入位置PBにサンプルプローブ63Aを配置する。   When step SB3 or SB4 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample probe rotation control unit 85 to perform rotational movement processing according to the position of the circumference CB where the sample container 34 to be dispensed is disposed (step SB5). . In step SB5, the sample probe rotation control unit 82 drives and controls the rotation movement mechanism of the sample arm 61A according to the position of the circumference CA where the sample container 34 to be dispensed is arranged. Under this drive control, the sample arm 61A rotates the sample probe 63A along the movement path 67, and the sample probe 63A is placed at the sample suction position PB on the circumference CB where the sample container 34 to be dispensed is arranged. Place.

ステップSB5が行なわれるとサンプル系統制御部82は、サンプルプローブ上下動制御部86とサンプルポンプ制御部87とに吸入処理を行なわせる(ステップSB6)。ステップSB6の処理は、ステップSA3の処理と同一であるので説明を省略する。   When step SB5 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample probe vertical movement control unit 86 and the sample pump control unit 87 to perform a suction process (step SB6). Since the process of step SB6 is the same as the process of step SA3, description is abbreviate | omitted.

ステップSB6が行なわれるとサンプル系統制御部82は、サンプルプローブ回転制御部85に回転移動処理を行なわせる(ステップSB7)。ステップSB7においてサンプルプローブ回転制御部85は、サンプルアーム61Aの回転移動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム61Aは、移動経路67に沿ってサンプルプローブ63Aを回転移動し、反応ディスク20上のサンプル吐出位置にサンプルプローブ63Aを配置する。   When step SB6 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample probe rotation control unit 85 to perform a rotational movement process (step SB7). In step SB7, the sample probe rotation control unit 85 drives and controls the rotation movement mechanism of the sample arm 61A. Under this drive control, the sample arm 61A rotates the sample probe 63A along the movement path 67, and places the sample probe 63A at the sample discharge position on the reaction disk 20.

ステップSB7が行なわれるとサンプル系統制御部82は、サンプルプローブ上下動制御部85とサンプルポンプ制御部87とに吐出処理を行なわせる(ステップSB8)。ステップSB8の処理は、ステップSA6の処理と同一であるので説明を省略する。   When step SB7 is performed, the sample system control unit 82 causes the sample probe vertical movement control unit 85 and the sample pump control unit 87 to perform discharge processing (step SB8). Since the process of step SB8 is the same as the process of step SA6, description is abbreviate | omitted.

ステップSB8が終了するとサンプル系統制御部82は、サンプルの分注動作を終了する。なお第1実施例と同様、この後、別のサンプルについて分注をする場合、サンプル系統制御部82による制御に従って再び図6の分注動作が行われる。   When step SB8 ends, the sample system control unit 82 ends the sample dispensing operation. As in the first embodiment, when another sample is dispensed thereafter, the dispensing operation of FIG. 6 is performed again according to the control by the sample system control unit 82.

なお内周サンプルディスク32B―1に退避エリア39Bが設けられている場合、第2実施例に係る分注動作と第1実施例に係る分注動作とを組み合わせることができる。より詳細には、分注対象のサンプル容器34が内周側サンプルディスク32B―1の第1円周に配置されている場合、第1実施例と同様に、分注対象のサンプルを吸入してから、内周側サンプルディスク32B―1上の退避エリア39Bを移動経路67下に配置するとよい。これにより、サンプルプローブ63Aが第1吸入位置PB1からサンプル吐出位置へ回転移動している間にサンプルプローブ63Aから落下したサンプルが、第2円周PB2上の非分注対象のサンプル容器34に入ってしまうことを防止できる。   When the retreat area 39B is provided in the inner sample disk 32B-1, the dispensing operation according to the second embodiment and the dispensing operation according to the first embodiment can be combined. More specifically, when the sample container 34 to be dispensed is arranged on the first circumference of the inner circumferential side sample disk 32B-1, the sample to be dispensed is sucked in the same manner as in the first embodiment. Therefore, the retreat area 39B on the inner sample disk 32B-1 may be disposed below the movement path 67. As a result, the sample dropped from the sample probe 63A while the sample probe 63A is rotating from the first suction position PB1 to the sample discharge position enters the non-dispensing sample container 34 on the second circumference PB2. Can be prevented.

本実施形態によれば以下の効果が得られる。   According to the present embodiment, the following effects can be obtained.

本実施形態に係る自動分析装置1は、プローブ63が溶液吸入位置から溶液吐出位置へ移動している期間、プローブ63の移動経路下に退避エリアを配置させている。これにより、プローブ63の移動経路と非分注対象の容器の吸引口の移動経路とが交わらない。これによりプローブ63から溶液が落下した場合、落下した溶液が他の容器内へ進入することが無くなる。従って本実施形態に係る自動分析装置1は、プローブ63からの溶液の落下による他の溶液の汚染を防止することができる。これに伴って本実施形態に係る自動分析装置1は、測定結果の信頼性を向上することができる。   In the automatic analyzer 1 according to the present embodiment, the retreat area is arranged under the movement path of the probe 63 during the period when the probe 63 is moving from the solution suction position to the solution discharge position. Thereby, the movement path | route of the probe 63 and the movement path | route of the suction opening of the container of a non-dispensing object do not cross. Thereby, when a solution falls from the probe 63, the dropped solution does not enter into another container. Therefore, the automatic analyzer 1 according to this embodiment can prevent contamination of other solutions due to the drop of the solution from the probe 63. Accordingly, the automatic analyzer 1 according to the present embodiment can improve the reliability of the measurement result.

本実施形態は、測定項目がHbA1Cの場合に顕著な効果を発揮する。測定項目がHbA1Cの場合、全血や血球等のサンプルが採血管(サンプル容器)34から吸入される。この際、サンプルプローブ63Aを採血管34の底近くまで下降させなければならない。サンプルプローブ63Aを採血管34の底近くまで下降させることにより、サンプルプローブ63Aの外壁にサンプルが付着する可能性が高くなる。そのため、測定項目がHbA1Cの場合、サンプルプローブ63Aからサンプルが飛び散ったり、ボタ落ちしたりする事態が多く発生する。しかし本実施形態によれば、サンプルプローブ63Aからサンプルが落下したとした場合でも、落下したサンプルは、退避エリア39に滴下し、他のサンプル容器34内に滴下することはない。従って本実施形態によれば、HbA1Cの測定結果の信頼性が向上する。   This embodiment exhibits a remarkable effect when the measurement item is HbA1C. When the measurement item is HbA1C, a sample such as whole blood or blood cells is inhaled from the blood collection tube (sample container) 34. At this time, the sample probe 63A must be lowered to near the bottom of the blood collection tube. Lowering the sample probe 63A to near the bottom of the blood collection tube 34 increases the possibility that the sample will adhere to the outer wall of the sample probe 63A. Therefore, when the measurement item is HbA1C, there are many cases where the sample scatters from the sample probe 63A or drops. However, according to the present embodiment, even when the sample falls from the sample probe 63A, the dropped sample does not drop into the retreat area 39 and does not drop into other sample containers 34. Therefore, according to this embodiment, the reliability of the measurement result of HbA1C is improved.

かくして本実施形態によれば、測定結果の信頼性の向上を可能とする自動分析装置1を提供することが実現する。   Thus, according to the present embodiment, it is possible to provide the automatic analyzer 1 that can improve the reliability of the measurement result.

なお、上述の第1実施例と第2実施例とをサンプル系統を例に挙げて説明したが、上述のように、本実施形態はサンプル系統ではなく第1試薬系統にも適用可能である。第1試薬系統の場合、退避エリアは、第1試薬ディスク上の第1試薬容器の吸入口が配置されていない第1エリア、第1試薬が収容されていない第1試薬容器(空の第1試薬容器)の吸入口が占める第2エリア、あるいは特定の第1試薬が収容された第1試薬容器の吸入口が占める第3エリアである。特定の第1試薬は、分注対象の第1試薬と同種、且つ分注対象の第1試薬と同一の製造番号(ロットナンバー(lot number))に属する第1試薬である。第1エリアは、例えば、第1試薬容器が配置されていないラックが占めるエリアや、第1試薬容器の外壁に貼付されたバーコード読み取り器の進入経路が占めるエリア等である。   In addition, although the above-mentioned 1st Example and 2nd Example were mentioned taking the sample system | strain as an example, as above-mentioned, this embodiment is applicable not to a sample system | strain but to a 1st reagent system | strain. In the case of the first reagent system, the evacuation area includes a first area where the suction port of the first reagent container on the first reagent disk is not arranged, and a first reagent container (empty first container) that does not contain the first reagent. The second area occupied by the suction port of the reagent container) or the third area occupied by the suction port of the first reagent container containing the specific first reagent. The specific first reagent is the first reagent belonging to the same type as the first reagent to be dispensed and belonging to the same manufacturing number (lot number) as the first reagent to be dispensed. The first area is, for example, an area occupied by a rack in which the first reagent container is not disposed, an area occupied by an entry path of a barcode reader attached to the outer wall of the first reagent container, or the like.

また、上記の第1実施例と第2実施例とを測定項目の測定時を例に挙げて説明したが、本実施形態は、メンテナンス時においても適用可能である。メンテナンス時において用いられるサンプルとしては、例えば、キャリブレーション用標準サンプル、精度管理用標準サンプル、測定対象のサンプル等がある。これら種々のサンプルは、メンテンス中においてサンプル容器34から反応管へ分注される。従ってメンテンス時に本実施形態を適用することにより、本実施形態に係る自動分析装置1は、これら種々のサンプルのサンプルプローブからの落下による他のサンプルの汚染を防止することが可能である。   Moreover, although said 1st Example and 2nd Example were mentioned as an example at the time of measurement of a measurement item, this embodiment is applicable also at the time of a maintenance. Examples of the sample used at the time of maintenance include a standard sample for calibration, a standard sample for accuracy management, and a sample to be measured. These various samples are dispensed from the sample vessel 34 into the reaction tube during maintenance. Therefore, by applying this embodiment during maintenance, the automatic analyzer 1 according to this embodiment can prevent contamination of other samples due to dropping of these various samples from the sample probe.

また、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。   Further, the present invention is not limited to the above-described embodiments as they are, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.

以上本発明によれば、測定結果の信頼性の向上を可能とする自動分析装置を提供することを実現することができる。   As described above, according to the present invention, it is possible to provide an automatic analyzer that can improve the reliability of measurement results.

1…自動分析装置、10…ステージ、20…反応ディスク、22…反応管、30…サンプラ、32…サンプルディスク、32A…サンプルディスク、33…容器挿入孔、34…サンプル容器、36…サンプルディスク支持機構、37A…安全板、39A…退避エリア、40…第1試薬庫、50…第2試薬庫、52…第2試薬ディスク、54…第2試薬容器、56…第2試薬ディスク支持機構、61A…サンプルアーム、63A…サンプルプローブ、65A…サンプルアームの回転軸、61B…第1試薬アーム、63B…第1試薬プローブ、65B…第1試薬アームの回転軸、61C…第1試薬アーム、63C…第1試薬プローブ、65C…第1試薬アームの回転軸、70…撹拌部、CA1…内周、CA2…外周、PA1…内側吸入位置、PA2…外側吸入位置   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Automatic analyzer, 10 ... Stage, 20 ... Reaction disk, 22 ... Reaction tube, 30 ... Sampler, 32 ... Sample disk, 32A ... Sample disk, 33 ... Container insertion hole, 34 ... Sample container, 36 ... Sample disk support Mechanism 37A ... Safety plate 39A ... Retraction area 40 ... First reagent storage 50 ... Second reagent storage 52 ... Second reagent disc 54 ... Second reagent container 56 ... Second reagent disc support mechanism 61A Sample arm, 63A ... Sample probe, 65A ... Sample arm rotation axis, 61B ... First reagent arm, 63B ... First reagent probe, 65B ... First reagent arm rotation axis, 61C ... First reagent arm, 63C ... First reagent probe, 65C: rotation axis of first reagent arm, 70: stirring portion, CA1: inner circumference, CA2: outer circumference, PA1: inner suction position, PA ... outside inhalation position

Claims (6)

同心円上に配列された複数の容器を保持する円盤状のディスクと、
前記ディスクを回転可能に支持するディスク支持機構と、
前記複数の容器の各々から溶液を分注するプローブと、
前記プローブを溶液の吸入位置と吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転移動可能に支持するプローブ支持機構と、
前記プローブ支持機構を制御し、前記移動経路に沿って前記プローブを前記吸入位置から前記吐出位置まで回転移動するプローブ制御部と、
前記ディスク支持機構を制御し、前記ディスクを回転し、前記ディスク上に設けられ、前記プローブから落下された溶液を受けるための退避エリアを前記移動経路下に配置するディスク制御部と、
を具備する自動分析装置。
A disk-shaped disc holding a plurality of containers arranged concentrically, and
A disk support mechanism for rotatably supporting the disk;
A probe for dispensing a solution from each of the plurality of containers;
A probe support mechanism for rotatably supporting the probe along a movement path connecting the solution suction position and the discharge position;
A probe control unit for controlling the probe support mechanism and rotating the probe from the suction position to the discharge position along the movement path;
A disk control unit that controls the disk support mechanism, rotates the disk, and is disposed on the disk, and a retreat area for receiving the solution dropped from the probe is disposed below the movement path;
An automatic analyzer comprising:
前記溶液は、試薬と反応させるサンプルである、
請求項1記載の自動分析装置。
The solution is a sample to be reacted with a reagent.
The automatic analyzer according to claim 1.
前記退避エリアは、前記複数の容器の各々に付されたバーコードを読み取るバーコード読み取り器の進入経路が占めるエリア、前記サンプルが収容されていない容器が占めるエリア、又は前記複数の容器が配置されていないエリアである、請求項2記載の自動分析装置。   In the evacuation area, an area occupied by an entry path of a barcode reader that reads a barcode attached to each of the plurality of containers, an area occupied by a container not containing the sample, or the plurality of containers are arranged. The automatic analyzer according to claim 2, which is an unoccupied area. 前記溶液は、サンプルと反応させる試薬である、
請求項1記載の自動分析装置。
The solution is a reagent that is reacted with a sample.
The automatic analyzer according to claim 1.
前記退避エリアは、前記複数の容器の各々に付されたバーコードを読み取るバーコード読み取り器の進入経路が占めるエリア、前記試薬が収容されていない容器が占めるエリア、前記複数の容器が配置されていないエリア、又は分注対象の試薬と同一の生産単位に属する試薬が収容された容器が占めるエリアである、請求項4記載の自動分析装置。   In the evacuation area, an area occupied by an entrance path of a barcode reader that reads a barcode attached to each of the plurality of containers, an area occupied by a container not containing the reagent, and the plurality of containers are arranged. The automatic analyzer according to claim 4, which is an area occupied by a container that contains no reagent or a reagent that belongs to the same production unit as the reagent to be dispensed. 前記退避エリアは、前記ディスク上のエリアであって、非分注対象の溶液が収容されている容器が占めるエリア以外のエリアである、請求項1記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 1, wherein the evacuation area is an area on the disc other than an area occupied by a container in which a solution to be dispensed is accommodated.
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