JP5389389B2 - 線間電圧測定装置およびプログラム - Google Patents
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
誤差率e=H/(α−1) ・・・・・・・・・・・・・・・・・ (1)
なお、本例では上記したように、変化率算出処理において、差分ΔVdを高利得時の参照電圧Vd2で除算することにより、高利得時の変化率H(=ΔVd/Vd2)を算出しているため、誤差率eとして、フィードバックループが高利得時(利得をα倍したとき)の誤差率e2が算出される。
U=Vr−V4a1 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (2)
V4a1=G×U ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (3)
また、このとき、入力であるVrに対する誤差Uの割合を誤差率e1として考えたときに、この誤差率e1は、下記の式(4)で表される。
誤差率e1=U/Vr=1/(1+G) ・・・・・・・・・・・ (4)
U=Vr−V4a2 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (5)
V4a2=α×G×U ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (6)
また、このとき、入力であるVrに対する誤差Uの割合を誤差率e2として考えたときに、この誤差率e2は、下記の式(7)で表される。
誤差率e2=U/Vr=1/(1+α×G) ・・・・・・・・・・ (7)
ε=e1−e2
=(Vr−V4a1)/Vr−(Vr−V4a2)/Vr
=1/(1+G)−1/(1+α×G)
=(α−1)×G/(1+(α+1)×G+α×G2) ・・・・ (8)
なお、εは下記式(9)とも表される。
ε=e1−e2
=(Vr−V4a1)/Vr−(Vr−V4a2)/Vr
=(−V4a1+V4a2)/Vr
=ΔV4a/Vr ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (9)
ε≒(α−1)×(1/(1+α×G)) ・・・・・・・・・・ (10)
また、この式(10)の右式の(1/(1+α×G))は、式(7)より誤差率e2であることから、さらに下記式(11)のように表される。
ε≒(α−1)×e2 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (11)
また、上記のように利得GがG≫1であるときには、各参照電圧V4a1,V4a2は電圧Vrと完全には一致しないものの、ほぼ電圧Vrとみなしてよい程度に電圧Vrに接近した値となっているが、利得の変更後(α×G)の参照電圧V4a2の方が電圧Vrに接近したものとなっていると考えられる。このため、上記式(9)中のVrを参照電圧V4a1,V4a2のうちの高利得時の参照電圧(本例では参照電圧V4a2)とすることにより、εは下記式(12)のように近似することができ、これはステップ104において算出した変化率Hと一致する。
ε≒ΔV4a/V4a2(=H) ・・・・・・・・・・・・・・・・ (12)
したがって、上記式(11),(12)に基づいて、誤差率e2、すなわち利得を大きくしたときの誤差率eは上記式(1)で表される。
Vr=V4a2/(1−e2) ・・・・・・・・・・・・・・・・ (13)
ここで、この式(13)は、利得変更後、つまり利得を大きくしたときに成り立つ上記式(5),(7)から導出されたものである。したがって、フィードバック制御部FC1の利得を変更する前に測定した参照電圧V4a1と、この利得をα倍した後に測定した参照電圧V4a2と、この既知の倍率αとに基づいて、変更の前後におけるフィードバック制御部FC1の利得が良好なものであるという条件下において、電路Rの電圧Vrを直接的に算出できることが理解される。
U=Vs−V4b1 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (2A)
V4b1=G×U ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (3A)
また、このとき、入力であるVsに対する誤差Uの割合を誤差率e1として考えたときに、この誤差率e1は、下記の式(4A)で表される。
誤差率e1=U/Vs=1/(1+G) ・・・・・・・・・・・ (4A)
U=Vs−V4b2 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (5A)
V4b2=α×G×U ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (6A)
また、このとき、入力であるVsに対する誤差Uの割合を誤差率e2として考えたときに、この誤差率e2は、下記の式(7A)で表される。
誤差率e2=U/Vs=1/(1+α×G) ・・・・・・・・・・ (7A)
ε=e1−e2
=(Vs−V4b1)/Vs−(Vs−V4b2)/Vs
=1/(1+G)−1/(1+α×G)
=(α−1)×G/(1+(α+1)×G+α×G2) ・・・・ (8A)
なお、εは下記式(9A)とも表される。
ε=e1−e2
=(Vs−V4b1)/Vs−(Vs−V4b2)/Vs
=(−V4b1+V4b2)/Vs
=ΔV4b/Vs ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (9A)
ε≒(α−1)×(1/(1+α×G)) ・・・・・・・・・・ (10A)
また、この式(10A)の右式の(1/(1+α×G))は、式(7A)より誤差率e2であることから、さらに下記式(11A)のように表される。
ε≒(α−1)×e2 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (11A)
また、上記のように利得GがG≫1であるときには、各参照電圧V4b1,V4b2は電圧Vsと完全には一致しないものの、ほぼ電圧Vsとみなしてよい程度に電圧Vsに接近した値となっているが、利得の変更後(α×G)の参照電圧V4b2の方が電圧Vsに接近したものとなっていると考えられる。このため、上記式(9A)中のVsを参照電圧V4b1,V4b2のうちの高利得時の参照電圧(本例では参照電圧V4b2)とすることにより、εは下記式(12A)のように近似することができ、これはステップ104において算出した変化率Hと一致する。
ε≒ΔV4b/V4b2(=H) ・・・・・・・・・・・・・・・・ (12A)
したがって、上記式(11A),(12A)に基づいて、誤差率e2、すなわち利得を大きくしたときの誤差率eは上記式(1)で表される。
Vs=V4b2/(1−e2) ・・・・・・・・・・・・・・・・ (13A)
ここで、この式(13A)は、利得変更後、つまり利得を大きくしたときに成り立つ上記式(5A),(7A)から導出されたものである。したがって、フィードバック制御部FC2の利得を変更する前に測定した参照電圧V4b1と、この利得をα倍した後に測定した参照電圧V4b2と、この既知の倍率αとに基づいて、変更の前後におけるフィードバック制御部FC2の利得が良好なものであるという条件下において、電路Sの電圧Vsを直接的に算出できることが理解される。
Vrs=(V4a2−V4b2)/(1−e2)
=Vd2/(1−e2) ・・・・・・・・・・・・・・・・ (14)
e2=(Vd2−Vd1)/Vd2 ・・・・・・・・・・・・・ (15)
また、これにより、線間電圧Vrsを算出するための上記式(15)は、下記式(16)のように表される。
Vrs=Vd2/(1−e2)
=Vd2/(1−((Vd2−Vd1)/Vd2))
=Vd2×(Vd2/Vd1) ・・・・・・・・・・・・ (16)
e2=(Vd2−Vd1)/Vd1 ・・・・・・・・・・・・・ (17)
Vrs=Vd2/(1−((Vd2−Vd1)/Vd1))
=Vd2/(1−(Vd2/Vd1−1))
ここで、(Vd2/Vd1−1)≪1となるため、線間電圧Vrsは下記式(18)のように近似される。
Vrs≒Vd2×(1+(Vd2/Vd1−1))
=Vd2×(Vd2/Vd1) ・・・・・・・・・・・・・ (18)
2 プローブユニット(センサ部)
3 電圧測定部
3a 制御部
3b 電圧生成部
3c 電圧計
11 ケース
12 検出電極
14 駆動回路
15 電流検出器
19 可変容量回路
100 電圧測定処理
DP 出力部
E11〜E14 第1電気的要素
E22,E23 第2電気的要素
E33,E34 第3電気的要素
OP 処理部
R,S 電路
Tr3 トランス
S3 検出信号
V4 参照電圧
Vr,Vs 電路の電圧
Claims (15)
- 一対の電路間の線間電圧を測定する線間電圧測定装置であって、
前記一対の電路のうちの一方の電路の第1電圧に対応する第1参照電圧を前記第1電圧との差が減少するようにフィードバック制御によって生成すると共に、前記第1参照電圧に基づいて前記第1電圧を算出する第1電圧測定ユニットと、
前記一対の電路のうちの他方の電路の第2電圧に対応する第2参照電圧を前記第2電圧との差が減少するようにフィードバック制御によって生成すると共に、前記第2参照電圧に基づいて前記第2電圧を算出する第2電圧測定ユニットと、
前記第1電圧および前記第2電圧の差分電圧を検出する差分検出部と、
前記各電圧測定ユニットの前記フィードバック制御の利得を変更して当該変更の前後における前記差分電圧を前記差分検出部から取得し、当該取得した2つの差分電圧の差分を当該2つの差分電圧のうちのいずれか一方で除算した算出値が予め決められた基準値以上のときに前記フィードバック制御が不良であると判別する判別処理、および当該算出値が当該基準値未満のときに前記フィードバック制御が良であると判別する判別処理の少なくとも一方を実行する演算制御部とを備えている線間電圧測定装置。 - 前記演算制御部は、前記判別処理の結果を出力部に出力させる請求項1記載の線間電圧測定装置。
- 前記演算制御部は、前記判別処理において前記フィードバック制御が良とされたときに、前記取得した2つの差分電圧の差分を当該2つの差分電圧のうちのいずれか一方で除算した算出値と、前記変更前の利得に対する前記変更後の利得の倍率と、当該2つの差分電圧のうちの高利得時の差分電圧とに基づいて、前記線間電圧を算出する請求項1記載の線間電圧測定装置。
- 前記演算制御部は、前記各電圧測定ユニットの前記フィードバック制御の利得を2倍に変更して当該変更の前後における前記差分電圧を前記差分検出部から取得し、前記判別処理において前記フィードバック制御が良とされたときに、前記取得した2つの差分電圧のうちの高利得時の差分電圧を低利得時の差分電圧で除算した算出値と、当該高利得時の差分電圧とに基づいて、前記線間電圧を算出する請求項1記載の線間電圧測定装置。
- 前記演算制御部は、前記算出した前記線間電圧を出力部に出力させる請求項3または4記載の線間電圧測定装置。
- 一対の電路間の線間電圧を測定する線間電圧測定装置であって、
前記一対の電路のうちの一方の電路の第1電圧に対応する第1参照電圧を前記第1電圧との差が減少するようにフィードバック制御によって生成すると共に、前記第1参照電圧に基づいて前記第1電圧を算出する第1電圧測定ユニットと、
前記一対の電路のうちの他方の電路の第2電圧に対応する第2参照電圧を前記第2電圧との差が減少するようにフィードバック制御によって生成すると共に、前記第2参照電圧に基づいて前記第2電圧を算出する第2電圧測定ユニットと、
前記第1電圧および前記第2電圧の差分電圧を検出する差分検出部と、
前記各電圧測定ユニットの前記フィードバック制御の利得を変更して当該変更の前後における前記差分電圧を前記差分検出部から取得し、当該取得した2つの差分電圧の差分を当該2つの差分電圧のうちのいずれか一方で除算した算出値が予め決められた基準値以上のときに当該算出値が当該基準値以上である旨を出力する出力処理、および前記算出値が当該基準値未満のときに当該算出値が当該基準値未満である旨を出力する出力処理の少なくとも一方を実行する演算制御部とを備えている線間電圧測定装置。 - 前記第1電圧測定ユニットは、前記第1参照電圧を生成する第1電圧生成部と、前記第1電圧と前記第1参照電圧との間の電位差に応じて振幅が変化する第1検出信号を出力する第1センサ部と、当該第1検出信号の振幅が減少するように前記第1電圧生成部に対して前記第1参照電圧を変化させる第1制御部とをフィードバックループ内に有し、当該第1電圧生成部、当該第1センサ部および当該第1制御部のうちの少なくとも1つの利得が制御されて前記フィードバック制御の前記利得を変更する第1フィードバック制御部を備え、
前記第2電圧測定ユニットは、前記第2参照電圧を生成する第2電圧生成部と、前記第2電圧と前記第2参照電圧との間の電位差に応じて振幅が変化する第2検出信号を出力する第2センサ部と、当該第2検出信号の振幅が減少するように前記第2電圧生成部に対して前記第2参照電圧を変化させる第2制御部とをフィードバックループ内に有し、当該第2電圧生成部、当該第2センサ部および当該第2制御部のうちの少なくとも1つの利得が制御されて前記フィードバック制御の前記利得を変更する第2フィードバック制御部を備えている請求項1から6のいずれかに記載の線間電圧測定装置。 - 前記第1センサ部は、前記一方の電路に対向可能な第1検出電極と、当該第1検出電極に接続されてその静電容量を変化可能に構成された第1可変容量回路と、静電容量変化時において前記第1可変容量回路に発生する電流または前記第1可変容量回路の両端間電圧を前記第1検出信号として検出する第1検出回路とを備え、
前記第2センサ部は、前記他方の電路に対向可能な第2検出電極と、当該第2検出電極に接続されてその静電容量を変化可能に構成された第2可変容量回路と、静電容量変化時において前記第2可変容量回路に発生する電流または前記第2可変容量回路の両端間電圧を前記第2検出信号として検出する第2検出回路とを備えている請求項7記載の線間電圧測定装置。 - 前記各可変容量回路は、直流信号の通過を阻止しつつ印加電圧の絶対値の大きさに応じて容量が変化する電気的要素を含んで構成されている請求項8記載の線間電圧測定装置。
- 前記可変容量回路は、ブリッジ状に接続された4つの前記電気的要素を備えている請求項9記載の線間電圧測定装置。
- 一対の電路間の線間電圧を測定する線間電圧測定装置であって、
前記一対の電路のうちの一方の電路の第1電圧に対応する第1参照電圧を前記第1電圧との差が減少するようにフィードバック制御によって生成すると共に、前記第1参照電圧を前記第1電圧として測定する第1電圧測定ユニットと、
前記一対の電路のうちの他方の電路の第2電圧に対応する第2参照電圧を前記第2電圧との差が減少するようにフィードバック制御によって生成すると共に、前記第2参照電圧を前記第2電圧として測定する第2電圧測定ユニットと、
前記第1電圧および前記第2電圧の差分電圧を検出する差分検出部と、
前記各電圧測定ユニットの前記フィードバック制御の利得を変更して当該変更の前後における前記差分電圧を前記差分検出部から取得し、当該取得した2つの差分電圧に基づいて前記フィードバック制御の動作状態を判別して表示させる処理部とを備えている線間電圧測定装置。 - コンピュータに一対の電路間の線間電圧を測定させるプログラムであって、
前記一対の電路のうちの一方の電路の第1電圧に対応する第1参照電圧を生成すると共に、当該第1電圧と当該第1参照電圧との差分を検出して、当該差分が減少するように前記第1参照電圧をフィードバック制御する第1フィードバック制御部と、前記第1参照電圧を測定する第1測定部とを備えた第1電圧測定ユニットにおける前記第1フィードバック制御部に対してフィードバックループの利得を変更させる手順と、
前記一対の電路のうちの他方の電路の第2電圧に対応する第2参照電圧を生成すると共に、当該第2電圧と当該第2参照電圧との差分を検出して、当該差分が減少するように前記第2参照電圧をフィードバック制御する第2フィードバック制御部と、前記第2参照電圧を測定する第2測定部とを備えた第2電圧測定ユニットにおける前記第2フィードバック制御部に対してフィードバックループの利得を変更させる手順と、
前記利得の変更の前における前記第1参照電圧および前記第2参照電圧の差分電圧と前記利得の変更の後における前記前記第1参照電圧および前記第2参照電圧の差分電圧とを取得する手順と、
当該取得した2つの前記差分電圧の差分を当該2つの差分電圧のうちのいずれか一方で除算して算出値を算出する手順と、
前記算出値が予め決められた基準値以上のときに前記フィードバック制御が不良であると判別する判別処理、および当該算出値が当該基準値未満のときに前記フィードバック制御が良であると判別する判別処理の少なくとも一方を実行する手順とを実行させるためのプログラム。 - 前記判別処理において前記フィードバック制御が良とされたときに、前記算出値と、前記変更前の利得に対する前記変更後の利得の倍率と、前記2つの差分電圧のうちの高利得時の差分電圧とに基づいて、前記線間電圧を算出する手順を実行させる請求項12記載のプログラム。
- 前記各電圧測定ユニットの前記フィードバックループの前記利得を変更させる前記手順において、当該各フィードバックループの当該利得を2倍に変更させ、
前記判別処理において前記フィードバック制御が良とされたときに、前記取得した2つの前記差分電圧のうちの高利得時の差分電圧を低利得時の差分電圧で除算して算出値を算出する手順と、当該算出値と、前記高利得時の差分電圧とに基づいて、前記線間電圧を算出する手順とを実行させる請求項12記載のプログラム。 - コンピュータに一対の電路間の線間電圧を測定させるプログラムであって、
前記一対の電路のうちの一方の電路の第1電圧に対応する第1参照電圧を生成すると共に、当該第1電圧と当該第1参照電圧との差分を検出して、当該差分が減少するように前記第1参照電圧をフィードバック制御する第1フィードバック制御部と、前記第1参照電圧を測定する第1測定部とを備えた第1電圧測定ユニットにおける前記第1フィードバック制御部に対してフィードバックループの利得を変更させる手順と、
前記一対の電路のうちの他方の電路の第2電圧に対応する第2参照電圧を生成すると共に、当該第2電圧と当該第2参照電圧との差分を検出して、当該差分が減少するように前記第2参照電圧をフィードバック制御する第2フィードバック制御部と、前記第2参照電圧を測定する第2測定部とを備えた第2電圧測定ユニットにおける前記第2フィードバック制御部に対してフィードバックループの利得を変更させる手順と、
前記利得の変更の前における前記第1参照電圧および前記第2参照電圧の差分電圧と前記利得の変更の後における前記前記第1参照電圧および前記第2参照電圧の差分電圧とを取得する手順と、
当該取得した2つの前記差分電圧の差分を当該2つの差分電圧のうちのいずれか一方で除算して算出値を算出する手順と、
前記算出値が予め決められた基準値以上のときに当該算出値が当該基準値以上である旨を出力する出力処理、および当該算出値が当該基準値未満のときに当該算出値が当該基準値未満である旨を出力する出力処理の少なくとも一方を実行する手順とを実行させるためのプログラム。
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US10502807B2 (en) | 2017-09-05 | 2019-12-10 | Fluke Corporation | Calibration system for voltage measurement devices |
US10509063B2 (en) | 2017-11-28 | 2019-12-17 | Fluke Corporation | Electrical signal measurement device using reference signal |
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US10775409B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-09-15 | Fluke Corporation | Clamp probe for non-contact electrical parameter measurement |
US10551416B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-02-04 | Fluke Corporation | Multi-sensor configuration for non-contact voltage measurement devices |
US10746767B2 (en) | 2018-05-09 | 2020-08-18 | Fluke Corporation | Adjustable length Rogowski coil measurement device with non-contact voltage measurement |
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