JP5198587B2 - Polishing pad - Google Patents
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Description
本発明は、半導体、電子部品等の被研磨部材の研磨加工に使用される研磨パッドに関し、詳しくは半導体ウエハ等の被研磨部材の研磨加工において、研磨対象物の平坦性を高め、かつ長寿命化を図ることができる研磨パッドに関する。 The present invention relates to a polishing pad used for polishing a member to be polished such as a semiconductor or an electronic component. More specifically, the polishing pad of a member to be polished such as a semiconductor wafer is improved in flatness and has a long life. The present invention relates to a polishing pad that can be made simple.
一般にウエハの研磨は、研磨パッドを下定盤側に保持し、研磨対象物であるウエハを上定盤側に保持して、研磨スラリーを供給しながら、ウエハと研磨パッドを加圧した状態で相対的に摺動させることによって行われる。 In general, when polishing a wafer, the polishing pad is held on the lower surface plate side, the wafer as the object to be polished is held on the upper surface plate side, and the wafer and the polishing pad are pressurized while supplying the polishing slurry. This is done by sliding it.
ところで、従来の研磨パッドは、図5に示すように、パッド本体10と、該パッド本体10に感圧接着剤層15を介して積層された下地層11と、両面接着テープ14とを有している。このような研磨パッド20を製造する場合には、図6に示すように、下地層11とパッド本体10とを両面接着テープ15を介して張り合わせ、この積層体を研磨パッド形状に打ち抜くことで研磨パッド20を得ている。
Incidentally, as shown in FIG. 5 , the conventional polishing pad has a pad
ところが、この研磨パッド20を用いて、ウエハの研磨を行うと、スラリーが、下地層11の周側面から内部に浸透し、その結果、スラリーの浸透により下地層の圧縮率等の物性が変化して研磨性能が低下するという欠点があり、またスラリーの浸透により接着剤層と下地層間の剥離等の不良が起こるという欠点がある。
However, when the wafer is polished using the
さらに、ウエハの研磨をしながらウエハ表面の研磨レートを測定するために、レーザー光又は可視光が通過するための透明な窓部材を設けた研磨パッドにおいては、スラリーが、その測定用窓へしみ込むために検出不良になるという欠点もある。 Furthermore, in a polishing pad provided with a transparent window member through which laser light or visible light passes in order to measure the polishing rate of the wafer surface while polishing the wafer, the slurry soaks into the measurement window. For this reason, there is a disadvantage that detection failure occurs.
本発明は上記の欠点を解消するためになされたものであって、その目的とするところは、下地層内にスラリーが浸透することを防止して、研磨特性に悪影響を及ぼさず、また研磨レートの検出精度を上げることができる研磨パッドを提供することにある。 The present invention has been made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks. The object of the present invention is to prevent the slurry from penetrating into the underlayer, so that the polishing characteristics are not adversely affected, and the polishing rate is not affected. It is an object of the present invention to provide a polishing pad that can improve the detection accuracy of.
請求項1記載の研磨パッドは、下地層と該下地層の表面に積層されたパッド本体とを有する研磨パッドであって、該下地層の周側面にスラリーの浸透を防止し得る防水層が設けられており、前記下地層の定盤側面に第1の両面接着テープが貼り付けられ、前記パッド本体の下地層側面に第2の両面接着テープが貼り付けられ、パッド本体の周縁部が下地層の周囲より外側へ延出され、該パッド本体の周辺部において第1の両面接着テープと第2の両面接着テープが接着して前記防水層が形成されており、そのことにより上記目的が達成される。
The polishing pad according to
請求項2に記載の研磨パッドは、下地層と該下地層の表面に積層されたパッド本体とを有する研磨パッドであって、該下地層の周側面にスラリーの浸透を防止し得る防水層が設けられており、前記防水層が、前記下地層の少なくとも周側面に樹脂、エラストマーまたはゴムを塗布することにより形成されている。
The polishing pad according to
請求項3に記載の研磨パッドは、下地層と該下地層の表面に積層されたパッド本体とを有する研磨パッドであって、該下地層の周側面にスラリーの浸透を防止し得る防水層が設けられており、前記防水層が、下地層の周辺部の密度を中央部に比べて高くすることにより形成されている。 The polishing pad according to claim 3 is a polishing pad having a base layer and a pad body laminated on the surface of the base layer, and a waterproof layer capable of preventing the penetration of slurry on the peripheral side surface of the base layer. The waterproof layer is provided by increasing the density of the peripheral part of the base layer compared to the central part.
本発明の作用は次の通りである。 The operation of the present invention is as follows.
研磨パッドに優れた研磨特性を付与するたるために、下地層は一般に弾性を有する多孔質のもので形成されており、従って、この下地層の周端面よりスラリーが内部へ浸透し易いのであるが、本発明では、下地層の周側面にスラリーの浸透を防止し得る防水層が設けられていることにより、スラリーが下地層内部へ浸透することを防止して、研磨特性(ユニフォーミティ)の変化を和らげることができ、それによって歩留まりの向上、生産性向上および品質安定化を図ることができる。 In order to impart excellent polishing characteristics to the polishing pad, the underlayer is generally formed of a porous material having elasticity. Therefore, the slurry can easily penetrate into the inside from the peripheral end surface of the underlayer. In the present invention, a waterproof layer capable of preventing the penetration of the slurry is provided on the peripheral side surface of the underlayer, thereby preventing the slurry from penetrating into the underlayer and changing the polishing characteristics (uniformity). Can be eased, thereby improving yield, improving productivity and stabilizing quality.
本発明によれば、下地層内にスラリーが浸透することが防止できるので、研磨特性に悪影響を及ぼさず、また研磨レートの検出精度を上げることができる。従って、研磨特性(ユニフォーミティ)の変化を和らげることができ、それによって歩留まりの向上、生産性向上および品質安定化を図ることができる。 According to the present invention, since the slurry can be prevented from penetrating into the underlayer, the polishing characteristics are not adversely affected, and the detection accuracy of the polishing rate can be increased. Therefore, changes in polishing characteristics (uniformity) can be moderated, thereby improving yield, improving productivity, and stabilizing quality.
以下本発明を詳細に説明する。
(実施形態)
図1に示すように、研磨パッド1は、弾性を有する多孔質な下地層11と該下地層11の表面に感圧接着剤層(両面接着テープ)15を介して積層されたパッド本体10とを有する。
The present invention will be described in detail below.
(Embodiment)
As shown in FIG. 1, a
パッド本体10は、通常は微細な気泡を有する樹脂層にて形成されている。下地層11は、パッド本体10に比べて弾性を有する合成樹脂の発泡層や不織布等から形成されている。この下地層11の裏面に感圧接着剤層(両面接着テープ)14を介して離型シート(図示せず)が積層されており、離型シートを剥がして感圧接着剤層14を定盤に貼り付けることにより研磨パッド1は使用される。
The
パッド本体10は、ウレタン樹脂、アクリル樹脂、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリエステル等の一種または2種以上から、公知の注型法、押し出し成形法等によって製造することができる。通常は、熱可塑性樹脂を用い、注型法、押し出し成形法によって製造されるが、熱硬化性樹脂を用いて加熱硬化させることで製造して得てもよい。
The
下地層11は、ウレタン樹脂、アクリル樹脂、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリエステル等の一種または2種以上から、公知の注型法、押し出し成形法等によって製造することができる。通常は、熱可塑性樹脂を用い、注型法、押し出し成形法によって製造される。また、不織布等のように通気性を有する材料で形成することもできる。
The
この下地層11の周側面に、スラリーの浸透を防止し得る防水層12が設けられている。
A
防水層12は以下のようにして形成されている。
The
(1)下地層11の定盤側面に第1の両面接着テープ14が貼り付けられ、該パッド本体10の下地層11側面に第2の両面接着テープ15が貼り付けられている。パッド本体10の周縁部は下地層11の周囲より外側へ延出されて延出部16が形成され、パッド本体10の周辺部において第1の両面接着テープ14と第2の両面接着テープ15が接着されている。本実施形態では、第1両面接着テープ14が下地層11の下面より延出されていて、第1両面接着テープ14の端部がパッド本体10の延出部の下面に貼着してある第2の両面接着テープ15に貼り付けられている。第1両面接着テープ14は、下地層11の周側面に沿っており、下地層11の周側面との間に若干の隙間が形成されていてもいなくてもよい。また、第2両面接着テープ15を第1両面接着テープ14側に貼付けるようにしてもよい。
(1) A first double-sided
このようにして作製された研磨パッド1は、図2に示すように、下定盤2上に貼り付けられ、研磨パッド1とウエハとの間に供給されるスラリーが、下地層11内にその周側面から浸透しようとするが、防水層12によって遮断され、下地層11内へスラリーが浸透することはない。
As shown in FIG. 2, the
研磨パッド1の製造法の一例を示すと以下の通りである。
An example of the manufacturing method of the
図3に示すように、パッド本体10の下面に第2両面接着テープ15を貼着し、このパッド本体10の下面に第2両面接着テープ15を介して下地層11を貼付ける。ここで、パッド本体10のサイズに比べて下地層11のサイズをやや小さく形成しておく。次に、図に示すように、下地層11の下面(定盤2側面)に第1の両面接着テープ14を貼着し、第1両面接着テープ14の周辺部を下地層11の周縁部に沿わせて第2両面接着テープ15に貼付ける。
As shown in FIG. 3, the second double-sided
また、防水層12は以下のようにして形成することもできる。
Moreover, the
(2)下地層11の少なくとも周側面に樹脂、エラストマーまたはゴムを塗布することにより防水層12を形成してもよい。この場合、例えば、シリコーン系シーリング剤、シリコーン系コーティング剤を下地層11の周面に塗布、乾燥して防水層12を形成するのが好ましい。また、シリコン系、フッ素系撥水剤を下地層11の周側面に塗布することで防水層12を形成してもよい。
(2) The
(3)パッド本体10、第2両面接着テープ15、下地層11、第1両面接着テープ14および離型紙の積層体を、打ち抜き刃で打ち抜く際に、刃を加熱しておき、下地層11の周辺部を加熱することで下地層11の周辺部の密度を中央部に比べて高くする(つまり、下地層11の周辺部の多孔性を低下させる)。このように下地層11を構成することにより、下地層11の周辺部のみの防水性を高めながら、適度な弾性を保持することができる。
(3) When the laminated body of the pad
なお、研磨パッド1は、その一部に透明な窓部材が形成されたものでもよい。この場合、下地層11には、窓部材に相当する位置において開口部が形成される。
The
以下、本発明を実施例により詳細に説明する。
(実施例1)
図4に示すように、下地層11の上面にパッド本体10を第2の両面接着テープ15を介して積層し、下地層11の下面に第1の両面接着テープ14を貼着し、この第1の両面接着テープ14の延長端部を第2両面接着テープ15に接着して研磨パッド1を構成した。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples.
Example 1
As shown in FIG. 4, the pad
この研磨パッド1を以下の条件にてスラリーの中に浸漬させ、スラリーの浸透性を目視にて観察した。
The
研磨パッドのサイズ:102mm径(パッド本体)×93mm径(下地層)
浸漬液: 着色したスラリー
浸漬時間: 60℃浸漬時間: 18時間
浸漬後、研磨パッドをスラリーから取り出し、下地層をパッド本体から剥離してスラリーの浸透状況を調べたところ、スラリーは下地層内に全く浸透していなかった。
Polishing pad size: 102mm diameter (pad body) x 93mm diameter (underlayer)
Immersion solution: Colored slurry immersion time: 60 ° C. immersion time: 18 hours After immersion, the polishing pad was taken out of the slurry, and the base layer was peeled off from the pad body to examine the state of penetration of the slurry. It did not penetrate at all.
(実施例2)
実施例1で作製した研磨パッド1を、研磨機の下定盤2に取り付け、キャリアに何もつけないで、研磨機を稼動させ、スラリーの浸透性を目視にて観察した。
(Example 2)
The
試験条件は以下の通りである。
研磨機: Strasbaugh製
Down force:4.3(psi)
プラテン速度:30(rpm)
キャリア速度:27(rpm)
キャリア径:230(mm)
使用液体:スラリー
スラリー流量:300(ml/min)循環方式
稼動時間:480(min)
試験の結果、下地層の端部からのスラリーの浸透は見られなかった。さらに、下地層とパッド本体との間に剥離は全く見られなかった。
The test conditions are as follows.
Polishing machine: Strasbaugh's Down force: 4.3 (psi)
Platen speed: 30 (rpm)
Carrier speed: 27 (rpm)
Carrier diameter: 230 (mm)
Liquid used: Slurry Slurry flow rate: 300 (ml / min) Circulation system operation time: 480 (min)
As a result of the test, no permeation of the slurry from the end of the underlayer was observed. Furthermore, no peeling was observed between the underlayer and the pad body.
実施例2と同様の条件で従来の研磨パッドについて試験を行ったところ、下地層の端部からのスラリーの浸透(20mmほど)が見られた。 When the conventional polishing pad was tested under the same conditions as in Example 2, the penetration of the slurry from the end of the underlayer (about 20 mm) was observed.
1 研磨パッド
2 研磨機
10 パッド本体
11 下地層
12 防水層
14 第1の両面接着テープ
15 第2の両面接着テープ
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記下地層の定盤側面に第1の両面接着テープが貼り付けられ、前記パッド本体の下地層側面に第2の両面接着テープが貼り付けられ、パッド本体の周縁部が下地層の周囲より外側へ延出され、該パッド本体の周辺部において第1の両面接着テープと第2の両面接着テープが接着して前記防水層が形成されている研磨パッド。 A polishing pad having a base layer and a pad body laminated on the surface of the base layer, and a waterproof layer capable of preventing the penetration of slurry is provided on the peripheral side surface of the base layer ,
A first double-sided adhesive tape is affixed to the side of the surface of the base layer, a second double-sided adhesive tape is affixed to the side of the base layer of the pad body, and the periphery of the pad body is outside the periphery of the base layer A polishing pad that extends to the periphery of the pad main body and has the waterproof layer formed by adhering the first double-sided adhesive tape and the second double-sided adhesive tape to the periphery of the pad body .
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