JP5193940B2 - 自動分析装置 - Google Patents
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Description
x=a0+a1*exp(−k1*t)+a2*exp(−k2*t) …(数2)
x=c+(1/(b0+b1*t)) …(数3)
x=d+(e/(exp(r*t)+s)) …(数4)
x=a*t+b+Σ{ci*exp(−ki*t)} …(数8)
x=a*t+b+e/(t+d) …(数9)
x=a*t+b+w/{exp(u*t)+v} …(数10)
x=a*t+b+p*log{1+q*exp(r*t)} …(数11)
p+p0*x(t)+p1*x[1](t)+p2*x[2](t)=0 …(数16)
q2*x(t)^2+q3*x[1](t)=0 …(数17)
q1*x(t)+q2*x(t)^2+q3*x[1](t)=0 …(数18)
q0+q1*x(t)+q2*x(t)^2+q3*x[1](t)=0 …(数19)
y2 1
y3 1
: :
y(m−1) 1
X=AR …(数22)
2 試薬ディスク
3 反応ディスク
4 反応槽
5 サンプリング機構
6 ピペッティング機構
7 攪拌機構
8 測光機構
9 洗浄機構
10 表示部
11 入力部
12 記憶部
13 制御部
14 圧電素子ドライバ
15 攪拌機構コントローラ
16 試料容器
17,19 円形ディスク
18 試薬ボトル
20 保冷庫
21 反応容器
22 反応容器ホルダ
23 駆動機構
24,27 プローブ
25,28 支承軸
26,29 アーム
31 固定部
32 電極
33 ノズル
34 上下駆動機構
110 時間の経過を表す軸
120 吸光度を表す軸
130 主反応を起こす試薬の添加された時刻を示す破線
140 計測された吸光度を表す記号
150 近似式により計算される吸光度の時間変化
220 パラメータの値を表す軸
240 各時刻において算出されたパラメータの値を表す記号
320 パラメータの分散を表す軸
330 分散に設定された閾値を示す破線
340 各時刻において算出されたパラメータの分散を表す記号
420 濃度値の誤差を表す軸
440 濃度値の誤差の平均値を表す記号
460 濃度値の誤差の標準偏差を表す線分
500 検査項目と、用いる試薬の組み合わせに対し、最適な近似式と反応時間を記述したテーブル
510 検査項目を記述した列
520 試薬の種類を記述した列
530 近似式の種類を記述した列
540 反応時間を記述した列
Claims (22)
- 測定項目毎、または検体毎に対応付けられた、測定値の時間変化の近似式を記憶する記憶機構と、
1の検体測定から得られる所定時間毎の実測値の測定の度に、前記近似式のパラメータを最適化するパラメータ最適化機構と、
前記パラメータ最適化機構で実測値の測定の度に最適化されたパラメータの時間変動を数値化し、数値化された値が、予め定めた範囲になったか否かを判定する判定機構と、
を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記判定機構が、予め定めた範囲になったと判定した時点で、前記パラメータ最適化機構が最適化したパラメータに基づき、前記近似式を確定し、確定された近似式により、反応終了時点での測定値を算出する測定値算出機構と、
を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記判定機構は、予め定めた範囲を基準空間として記憶し、現時点でのパラメータの変化に基づいてマハラノビスの距離を算出して、予め定めた範囲になったか否かを判定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記判定機構は、ニューラルネットワークを用いて、予め定めた範囲になったか否かを判定することを特徴とする自動分析装置。 - 測定項目毎、または検体毎に対応付けられた、測定値の時間変化の近似式を記憶する記憶機構と、
1の検体測定から得られる所定時間毎の実測値の測定の度に、前記近似式のパラメータを最適化するパラメータ最適化機構と、
前記パラメータ最適化機構で最適化されたパラメータに基づき測定対象物質の濃度を算出する測定対象物質濃度算出機構と、
該測定対象物質濃度算出機構で実測値の測定の度に算出された測定対象物質の濃度と、既に記憶されている測定対象物質の濃度との差が予め定めた範囲になったか否かを前記所定時間毎に判定する判定機構と、該判定機構が予め定めた範囲になったと判定した時点で測定対象物質の濃度を出力する出力機構と、を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 測定項目毎、または検体毎に対応付けられた、測定値の時間変化の近似式を記憶する記憶機構と、
1の検体測定から得られる所定時間毎の実測値の測定の度に、前記近似式のパラメータを最適化するパラメータ最適化機構と、
前記パラメータ最適化機構で最適化されたパラメータに基づき測定対象物質の濃度を予測する測定対象物質濃度予測機構と、
該測定対象物質濃度予測機構で実測値の測定の度に算出された測定対象物質の濃度と、既に記憶されている測定対象物質の濃度との差が予め定めた範囲になったか否かを前記所定時間毎に判定する判定機構と、該判定機構が予め定めた範囲になったと判定した時点で測定対象物質の濃度を出力する出力機構と、を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 測定項目毎、または検体毎に対応付けられた、測定値の時間変化の近似式を記憶する記憶機構と、
予め濃度がわかっている試料の、所定時間毎の実測値の測定の度に、前記近似式のパラメータを最適化するパラメータ最適化機構と、
前記パラメータ最適化機構で最適化されたパラメータに基づき測定物質の濃度を算出する測定物質濃度算出機構と、
該測定物質濃度算出機構で実測値の測定の度に算出された測定物質の濃度と、予めわかっている濃度との差が予め定めた範囲になったか否かを前記所定時間毎に判定する判定機構と、該判定機構が予め定めた範囲になったと判定した時点を記憶する時点記憶機構と、
を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項7記載の自動分析装置において、
前記時点記憶機構に記憶された時点で、前記パラメータ最適化機構で最適化されたパラメータに基づき、前記測定物質濃度算出機構で一般検体の濃度を算出することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記記憶機構は前記近似式を複数記憶しており、計測対象とする測定対象物質または用いる試薬の種類により前記近似式の中から1種類の数式を選択する近似式選択機構を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計算値をx、乗算を表す記号を*とする時、
x=a0+a1*exp(−k1*t)+a2*exp(−k2*t)
であり、前記パラメータがa0,a1,a2,k1,k2であることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計算値をxとし、Σ{ }を{ }内の式のiを1からnまで変化させ、加算した和を表す記号、nを自然数、乗算を表す記号を*とする時、
x=a0+Σ{ai*exp(−ki*t)}
であり、前記パラメータがa0,ai,kiであることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計算値をx、乗算を表す記号を*とする時、
x=c+(1/(b0+b1*t))
であり、前記パラメータがb0,b1,cであることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計算値をx、乗算を表す記号を*とする時、
x=d+(e/(exp(r*t)+s))
であり、前記パラメータがd,e,r,sであることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計算値をx、ψを複数のパラメータ、乗算を表す記号を*とする時、
x=a*t+b+h(t,ψ)
であり、前記パラメータがa,b,ψであり、前記aの値から測定対象物質の濃度を計算することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計算値をx、乗算を表す記号を*とする時、
x=a*t+b+c1*exp(−k1*t)
であり、前記パラメータがa,b,c1,k1であることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計算値をxとし、Σ{ }を{ }内の式のiを1からnまで変化させ、加算した和を表す記号、nを自然数、乗算を表す記号を*とする時、前記1または複数のパラメータを含む数式が
x=a*t+b+Σ{ci*exp(−ki*t)}
であり、前記パラメータがa,b,ci,kiであることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計測値をx、乗算を表す記号を*とする時、
x=a*t+b+e/(t+d)
であり、前記パラメータがa,b,d,eであることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計測値をx、乗算を表す記号を*とする時、
x=a*t+b+w/{exp(u*t)+v}
であり、前記パラメータがa,b,u,v,wであることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計算値をx、乗算を表す記号を*とする時、
x=a*t+b+p*log{1+q*exp(r*t)}
であり、前記パラメータがa,b,p,q,rであることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の少なくとも1つは、測定時刻をt、計算値をx、φを複数のパラメータとする時、
x=g(t,φ)
であり、前記パラメータがφであり、前記式の時間2次微分g″(t,φ)の絶対値が最小となるtにおける前記式の時間1次微分g′(t,φ)の値から測定対象物質の濃度を計算することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式は、測定時刻をt、前記吸光度をx、計測値の時刻tにおけるn次時間微分をx[n](t)、Σ{ }を{ }内の式のiを0からnまで変化させ、加算した和を表す記号、nを1以上の整数、乗算を表す記号を*とする時、
p+Σ{pi*x[n](t)}=0
であり、前記パラメータがp0,piであることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式は、測定時刻をt、計測値をx、Σ{ }を{ }内の式のiを0からnまで変化させ、加算した和を表す記号、nを1以上の整数、fi(t,x)をtまたはxまたはxの任意の次数の時間微分を含む関数,乗算を表す記号を*とし、fi(t,x)は定数である場合も含む時、
Σ{qi*fi(t,x)}=0
であり、前記パラメータがqiであることを特徴とする自動分析装置。
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