JP5163544B2 - 半導体装置 - Google Patents
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Description
<<送受信部構成>>
図1は、携帯電話機の送受信部の構成を示すブロック図である。図1に示すように、携帯電話機1は、アプリケーションプロセッサ2、メモリ3、ベースバンド部4、RFIC5、電力増幅器6、SAW(Surface Acoustic Wave)フィルタ7、アンテナスイッチ8およびアンテナ9を有している。
以下では、このPAモジュールPA(図1の電力増幅器6)の回路ブロック構成について説明する。まず、図2は、PAモジュールPAをシングルアンプから構成する例を示す回路ブロック図である。シングルアンプとは、送信信号を増幅する経路が単一経路となっているPAモジュールPAをいうものとする。図2において、PAモジュールPAは、入力端子ITEと出力端子OTEとの間に、入力整合回路IMN、初段増幅回路FAMP、段間整合回路MMN、終段増幅回路SAMPおよび出力整合回路OMNを有している。
そこで、PAモジュールPAより出力される送信信号の電力が負荷の変動に影響されにくくするため、PAモジュールPAをバランスアンプから構成することが検討されている。バランスアンプは、互いに90度の位相差を有する送信信号が伝達する2つの増幅経路を有しており、最終的に、この2つの増幅経路を伝達するそれぞれの送信信号を電力結合器によって単一の出力とするものである。
バランスアンプから構成されているPAモジュールPAは上記のように構成されており、以下に、その動作について図5および図6を参照しながら説明する。
近年の携帯電話機では音声通話機能だけでなく様々なアプリケーション機能が追加されている。すなわち、携帯電話機を用いた配信音楽の視聴、動画伝送、データ転送などの音声通話機能以外の機能が携帯電話機に追加されている。このような携帯電話機の多機能化に伴い、世界各国での周波数帯(GSM(Global System for Mobile communications)帯、PCS(Personal Communication Services)帯など)や変調方式(GSM、EDGE(Enhanced Data rates for GSM Evolution)、WCDMA(Wideband Code Division Multiplex Access)など)が多数存在することになっている。したがって、携帯電話機では、複数の異なる周波数帯や異なる変調方式に対応した送受信信号に対応する必要がある。このことから、携帯電話機内に存在するPAモジュールPAにもそれぞれ異なる周波数帯の信号を増幅する機能が求められており、PAモジュールPAを構成する1つの半導体チップ内に異なる周波数帯の送信信号を増幅できるように構成することが行なわれている。すなわち、例えば、異なる2つの周波数帯の送信信号(ローバンド信号(第1周波数帯の信号)とハイバンド信号(第2周波数帯の信号)と呼ぶ)を増幅する場合を考えると、ローバンド信号用の増幅回路と、ハイバンド信号用の増幅回路を1つの半導体チップに形成することになる。このことは、PAモジュールPAをバランスアンプから構成する場合も同様に、1つの半導体チップにローバンド信号用バランスアンプと、ハイバンド信号用バランスアンプを形成することになる。
図8は、本実施の形態1におけるPAモジュールPAの構成を示す図である。図8において、本実施の形態1におけるPAモジュールPAの特徴は、PAモジュールPAの中心線CL2に対して、片側にローバンド信号用バランスアンプを形成し、かつ、もう一方の片側にハイバンド信号用バランスアンプを形成している点にある。そして、中心線CL2のそばに入力端子ITE(1n)、ITE(1p)および入力端子ITE(2n)、ITE(2p)を形成している点にある。このように構成することにより、概略的に、ローバンド信号用バランスアンプでは、入力端子ITE(1n)、ITE(1p)から入力した送信信号が図8の右側に向って進む経路が取られる。これに対し、ハイバンド信号用バランスアンプでは、入力端子ITE(2n)、ITE(2p)から入力した送信信号が図8の左側に向って進む経路が取られる。したがって、ローバンド信号用バランスアンプの増幅経路と、ハイバンド信号用バランスアンプの増幅経路とが正反対の方向に進むことになる。このことは、ローバンド信号用バランスアンプの増幅経路と、ハイバンド信号用バランスアンプの増幅経路とが互いに並走することなく配置できることを意味している。このため、ローバンド信号用バランスアンプの増幅経路と、ハイバンド信号用バランスアンプの増幅経路との並走によるクロストークを防止できる。この結果、ローバンド信号用バランスアンプとハイバンド信号用バランスアンプを搭載したPAモジュールPAの特性向上を図ることができる。
PAモジュールPA全体には、半導体チップCHPの他に複数の受動部品も搭載されている。そして、これらの複数の受動部品もバランスアンプを構成する部品である。したがって、バランスアンプのネガティブパスとポジティブパスとを均等に構成することで、バランスアンプの特性を向上できることから、複数の受動部品のレイアウト配置も工夫を施すことにより、PAモジュールPAを構成するバランスアンプの特性向上を図ることができると考えられる。以下では、配線基板上に搭載される複数の受動部品のレイアウト構成に関する技術的思想について説明する。
本実施の形態1におけるPAモジュールは上記のように回路構成されており、以下に、この回路構成に対応したPAモジュールの実装構成について説明する。まず、PAモジュールの実装構成を説明する前に、配線基板WBの各領域および半導体チップCHPの各領域の定義について説明する。図10は、配線基板WBの各領域と半導体チップCHPの各領域を示す図である。図10において、互いに直交する半導体チップCHPの中心線を中心線CL2および中心線CL1とする。このとき、半導体チップCHPの中心は、中心線CL2と中心線CL1の交点に設けられるように配置されている。この半導体チップCHPは、配線基板WBの中心に配置されることが望ましい。この場合、半導体チップCHPの中心を通る中心線CL2および中心線CL1は、配線基板WBの中心線とも言うことができる。ここで、半導体チップCHP内の領域のうち、中心線CL2で分割される領域をチップ分割領域と定義する。このとき、図10において、中心線CL2の右側領域をチップ分割領域CREG1と呼び、中心線CL2の左側領域をチップ分割領域CREG2と呼ぶことにする。続いて、配線基板WB上の分割領域の定義について説明する。図10に示すように、配線基板WBを構成する領域は、中心線CL2と中心線CL1により4つの領域に分割される。中心線CL2の右側領域で、かつ、中心線CL1の上側領域を領域REG1A(WB)と呼び、中心線CL2の左側領域で、かつ、中心線CL1の上側領域を領域REG1B(WB)と呼ぶことにする。一方、中心線CL2の右側領域で、かつ、中心線CL1の下側領域を領域REG2A(WB)と呼び、中心線CL2の左側領域で、かつ、中心線CL1の下側領域を領域REG2B(WB)と呼ぶことにする。
次に、本実施の形態1における第2特徴点について説明する。図11において、半導体チップCHPは矩形形状をしており、第1方向に延在する第1辺S1と、この第1方向と直交する第2方向に延在する一対の第2辺S2a、S2bを有している。このような半導体チップCHPには、ワイヤが接続されており、このワイヤから半導体チップCHPの内部へ送信信号(増幅前の入力信号)が入力される。このワイヤは複数形成されており、それぞれ、ローバンド信号用ネガティブパスに入力信号を供給するワイヤW(IN_LN)や、ローバンド信号用ポジティブパスに入力信号を供給するワイヤW(IN_LP)が含まれている。さらに、半導体チップCHPに接続されているワイヤには、ハイバンド信号用ネガティブパスに入力信号を供給するワイヤW(IN_HN)や、ハイバンド信号用ポジティブパスに入力信号を供給するワイヤW(IN_HP)が含まれている。このワイヤW(IN_LN)、ワイヤW(IN_LP)、ワイヤW(IN_HN)、ワイヤW(IN_HP)は、半導体チップCHPの第1辺S1をまたぐように形成されている。
本実施の形態1におけるPAモジュールは、配線基板WB上に半導体チップCHPと複数の受動部品が搭載されているが、配線基板WBは多層配線構造をしている。つまり、配線基板WBは多層にわたって複数の配線層が形成されている。このとき、本実施の形態1では、配線基板WB上に配置される複数の受動部品の対称性を高めている結果、配線基板WBの各配線層を形成する導体パターンの対称性も高めることができる。つまり、本実施の形態1では、配線基板WB上に配置される複数の受動部品の対称性を高めているだけでなく、配線基板WBの多層配線層を形成する導体パターンの対称性も高めていることに第3特徴点がある。これにより、バランスアンプのさらなる特性向上を図ることができる。
<<半導体チップ内のレイアウト構成(第4特徴点および第5特徴点)>>
前記実施の形態1では、配線基板WBに搭載される受動部品の対称性を高めることによりバランスアンプの特性向上を図る例について説明したが、本実施の形態2では、半導体チップCHP内のレイアウト構成を工夫する例について説明する。
次に、さらなるバランスアンプの特性を向上できる技術(第6特徴点)について説明する。図17は比較例の半導体チップCHPを示す図である。図17において、比較例では、入力パッドIPD(1n)の外側(右側)に入力パッドIPD(1p)が配置されている。そして、入力パッドIPD(1n)にはワイヤW(1n)が接続されており、入力パッドIPD(1p)にはワイヤW(1p)が接続されている。同様に、比較例では、入力パッドIPD(2n)の外側(左側)に入力パッドIPD(2p)が形成されている。そして、入力パッドIPD(2n)にはワイヤW(2n)が接続されており、入力パッドIPD(2p)にはワイヤW(2p)が接続されている。
2 アプリケーションプロセッサ
3 メモリ
4 ベースバンド部
5 RFIC
6 電力増幅器
7 SAWフィルタ
8 アンテナスイッチ
9 アンテナ
C1 容量素子
C1_HN 容量素子
C1_HP 容量素子
C1_LN 容量素子
C1_LP 容量素子
C2 容量素子
C2_H 容量素子
C2_L 容量素子
C3 容量素子
C3_H 容量素子
C3_L 容量素子
C4 容量素子
C4_H 容量素子
C4_L 容量素子
C5 容量素子
C5_L 容量素子
C6_H 容量素子
CB_HN 容量素子
CB_HP 容量素子
CB_LN 容量素子
CB_LP 容量素子
CHP 半導体チップ
CL1 中心線
CL2 中心線
CP1 導体パターン
CREG1 チップ分割領域
CREG2 チップ分割領域
FAMP 初段増幅回路
FAMP(1n) 初段増幅回路
FAMP(1p) 初段増幅回路
FAMP(2n) 初段増幅回路
FAMP(2p) 初段増幅回路
HBn ハイバンド信号用ネガティブパス
HBp ハイバンド信号用ポジティブパス
IMN 入力整合回路
IMN(1n) 入力整合回路
IMN(1p) 入力整合回路
IMN1 入力整合回路
IMN(2n) 入力整合回路
IMN(2p) 入力整合回路
IMN2 入力整合回路
IPD(1n) 入力パッド
IPD(1p) 入力パッド
IPD(2n) 入力パッド
IPD(2p) 入力パッド
ITE 入力端子
ITE(1n) 入力端子
ITE(1p) 入力端子
ITE(2n) 入力端子
ITE(2p) 入力端子
L1 インダクタ
L1_HN インダクタ
L1_HP インダクタ
L1_LN インダクタ
L1_LP インダクタ
L2 インダクタ
L3 インダクタ
LB_HN インダクタ
LB_HP インダクタ
LB_LN インダクタ
LB_LP インダクタ
LBn ローバンド信号用ネガティブパス
LBp ローバンド信号用ポジティブパス
Lc5_L インダクタ
Lc6_H インダクタ
LW_HN インダクタ
LW_HP インダクタ
LW_LN インダクタ
LW_LP インダクタ
MMN 段間整合回路
MMN(1n) 段間整合回路
MMN(1nA) 段間整合回路
MMN(1nB) 段間整合回路
MMN(1p) 段間整合回路
MMN(1pA) 段間整合回路
MMN(1pB) 段間整合回路
MMN(2n) 段間整合回路
MMN(2nA) 段間整合回路
MMN(2nB) 段間整合回路
MMN(2p) 段間整合回路
MMN(2pA) 段間整合回路
MMN(2pB) 段間整合回路
OMN 出力整合回路
OMN1 出力整合回路
OMN(1n) 出力整合回路
OMN(1p) 出力整合回路
OMN2 出力整合回路
OMN(2n) 出力整合回路
OMN(2p) 出力整合回路
OTE 出力端子
OTE1 出力端子
OTE2 出力端子
PA PAモジュール
PD パッド
PD1 電力分割器
REG1A(WB) 領域
REG1B(WB) 領域
REG2A(WB) 領域
REG2B(WB) 領域
RI_L 抵抗素子
RI_H 抵抗素子
S1 第1辺
S2a 第2辺
S2b 第2辺
SAMP 終段増幅回路
SAMP(1n) 終段増幅回路
SAMP(1p) 終段増幅回路
SAMP(2n) 終段増幅回路
SAMP(2p) 終段増幅回路
SL1_LN スパイラルインダクタ
SL1_LP スパイラルインダクタ
SL1_HN スパイラルインダクタ
SL1_HP スパイラルインダクタ
SL2_LN スパイラルインダクタ
SL2_LP スパイラルインダクタ
WB 配線基板
WC 電力結合器
WC1 電力結合器
WC2 電力結合器
W(IN_LN) ワイヤ
W(IN_LP) ワイヤ
W(IN_HN) ワイヤ
W(IN_HP) ワイヤ
WL(1n) 配線
WL(1p) 配線
WL(2n) 配線
WL(2p) 配線
W(OUT_LN) ワイヤ
W(OUT_LP) ワイヤ
W(OUT_HN) ワイヤ
W(OUT_HP) ワイヤ
Claims (13)
- ネガティブパス用の増幅器とポジティブパス用の増幅器によって構成されるバランスアンプ方式の電力増幅器を含む半導体装置であって、
(a)配線基板と、
(b)前記配線基板上に搭載された、前記電力増幅器を構成する複数のトランジスタを含む半導体チップを有し、
前記配線基板には、
(c1)前記ネガティブパス用の増幅器と電気的に接続した第1の出力整合回路を構成する第1の受動素子と、
(c2)前記ポジティブパス用の増幅器と電気的に接続した第2の出力整合回路を構成する第2の受動素子が形成され、
前記配線基板は、前記半導体チップの中心を通る第1の直線によって分割された第1の領域および第2の領域を有し、
前記第1の受動素子は、前記第1の領域に配置され、前記第2の受動素子は、前記第2の領域に配置され、
前記半導体チップは、
(d1)第1の入力パッドと、
(d2)前記第1の入力パッドと電気的に接続した第1の配線と、
(d3)前記第1の配線と電気的に接続した第1の入力整合回路と、
(d4)前記第1の入力整合回路と電気的に接続した前記ネガティブパス用の電力増幅器と、
(e1)第2の入力パッドと、
(e2)前記第2の入力パッドと電気的に接続した第2の配線と、
(e3)前記第2の配線と電気的に接続した第2の入力整合回路と、
(e4)前記第2の入力整合回路と電気的に接続した前記ポジティブパス用の電力増幅器と、を有し、
前記第1の配線の長さと、前記第2の配線の長さとは異なっており、
前記第1の配線と前記第2の配線のうちの長さの長い長配線と、前記第1の入力整合回路と前記第2の入力整合回路のうち前記長配線と電気的に接続されている長配線接続用入力整合回路との組み合わせによって位相シフタが構成されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1記載の半導体装置であって、
前記第1の受動素子と前記第2の受動素子は前記第1の直線に対して対称に配置されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1記載の半導体装置であって、
前記第1の受動素子と前記第2の受動素子はスパイラルインダクタであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項3記載の半導体装置であって、
前記第1の受動素子と前記第2の受動素子は前記第1の直線に対し鏡像の関係となる形状であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項3記載の半導体装置であって、
前記第1の受動素子と前記第2の受動素子はそれぞれ時計回り、反時計周りの形状であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1記載の半導体装置であって、
前記第1の受動素子と前記第2の受動素子はチップ部品であることを特徴とする半導体装置。 - 第1のネガティブパス用の増幅器と第1のポジティブパス用の増幅器によって構成されるバランスアンプ方式の第1の電力増幅器、および、第2のネガティブパス用の増幅器と第2のポジティブパス用の増幅器によって構成される第2の電力増幅器を有するバランスアンプ方式の電力増幅器を含む半導体装置であって、
(a)配線基板と、
(b)前記配線基板上に搭載された、前記第1の電力増幅器および前記第2の電力増幅器のそれぞれを構成する複数のトランジスタを含む半導体チップを有し、
前記配線基板には、
(c1)前記第1のネガティブパス用の増幅器と電気的に接続した第1の出力整合回路を構成する第1の受動素子と、
(c2)前記第1のポジティブパス用の増幅器と電気的に接続した第2の出力整合回路を構成する第2の受動素子と、
(c3)前記第2のネガティブパス用の増幅器と電気的に接続した第3の出力整合回路を構成する第3の受動素子と、
(c4)前記第2のポジティブパス用の増幅器と電気的に接続した第4の出力整合回路を構成する第4の受動素子が形成され、
前記配線基板は、前記半導体チップの中心を通る第1の直線によって分割された第1の領域および第2の領域を有し、
前記第1の受動素子および前記第3の受動素子は前記配線基板上の前記第1の領域に配置され、
前記第2の受動素子および前記第4の受動素子は前記配線基板上の前記第2の領域に配置され、
前記半導体チップは、
(d1)第1の入力パッドと、
(d2)前記第1の入力パッドと電気的に接続した第1の配線と、
(d3)前記第1の配線と電気的に接続した第1の入力整合回路と、
(d4)前記第1の入力整合回路と電気的に接続した前記第1のネガティブパス用の電力増幅器と、
(e1)第2の入力パッドと、
(e2)前記第2の入力パッドと電気的に接続した第2の配線と、
(e3)前記第2の配線と電気的に接続した第2の入力整合回路と、
(e4)前記第2の入力整合回路と電気的に接続した前記第1のポジティブパス用の電力増幅器と、
(f1)第3の入力パッドと、
(f2)前記第3の入力パッドと電気的に接続した第3の配線と、
(f3)前記第3の配線と電気的に接続した第3の入力整合回路と、
(f4)前記第3の入力整合回路と電気的に接続した前記第2のネガティブパス用の電力増幅器と、
(g1)第4の入力パッドと、
(g2)前記第4の入力パッドと電気的に接続した第4の配線と、
(g3)前記第4の配線と電気的に接続した第4の入力整合回路と、
(g4)前記第4の入力整合回路と電気的に接続した前記第2のポジティブパス用の電力増幅器と、を有し、
前記第1の配線の長さと、前記第2の配線の長さとは異なっており、
前記第1の配線と前記第2の配線のうちの長さの長い第1の長配線と、前記第1の入力整合回路と前記第2の入力整合回路のうち前記第1の長配線と電気的に接続されている第1の長配線接続用入力整合回路との組み合わせによって第1の位相シフタが構成され、
前記第3の配線の長さと、前記第4の配線の長さとは異なっており、
前記第3の配線と前記第4の配線のうちの長さの長い第2の長配線と、前記第3の入力整合回路と前記第4の入力整合回路のうち前記第2の長配線と電気的に接続されている第2の長配線接続用入力整合回路との組み合わせによって第2の位相シフタが構成されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項7記載の半導体装置であって、
前記半導体チップは、前記半導体チップの中心を通りかつ前記第1の直線と直交する第2の直線によって分割された第1のチップ分割領域および第2のチップ分割領域を有し、
前記第1の電力増幅器は前記半導体チップの前記第1のチップ分割領域に配置され、
前記第2の電力増幅器は前記半導体チップの前記第2のチップ分割領域に配置されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項8記載の半導体装置であって、
前記第1の受動素子と前記第2の受動素子は前記第1の直線に対し対称に配置され、
前記第3の受動素子と前記第4の受動素子は前記第1の直線に対し対称に配置されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項8記載の半導体装置であって、前記第1の受動素子、前記第2の受動素子、前記第3の受動素子および前記第4の受動素子はスパイラルインダクタであることを特徴とする半導体装置。
- 請求項10記載の半導体装置であって、
前記第1の受動素子と前記第2の受動素子は前記第1の直線に対し鏡像の関係となる形状であり、
前記第3の受動素子と前記第4の受動素子は前記第1の直線に対し鏡像の関係となる形状であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項10記載の半導体装置であって、
前記第1の受動素子と前記第2の受動素子はそれぞれ時計回り、反時計周りの形状であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項7記載の半導体装置であって、前記第1の受動素子と前記第2の受動素子はチップ部品であることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009051203A JP5163544B2 (ja) | 2009-03-04 | 2009-03-04 | 半導体装置 |
US12/647,688 US8076976B2 (en) | 2009-03-04 | 2009-12-28 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009051203A JP5163544B2 (ja) | 2009-03-04 | 2009-03-04 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010206649A JP2010206649A (ja) | 2010-09-16 |
JP5163544B2 true JP5163544B2 (ja) | 2013-03-13 |
Family
ID=42677710
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009051203A Active JP5163544B2 (ja) | 2009-03-04 | 2009-03-04 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8076976B2 (ja) |
JP (1) | JP5163544B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5076881B2 (ja) * | 2007-12-26 | 2012-11-21 | 富士通株式会社 | 伝送特性調整装置、回路基板、及び伝送特性調整方法 |
JP5170711B2 (ja) * | 2010-12-28 | 2013-03-27 | 株式会社デンソー | コントローラ |
JP5768375B2 (ja) * | 2011-01-14 | 2015-08-26 | 株式会社村田製作所 | 半導体装置 |
US8989683B2 (en) * | 2012-03-27 | 2015-03-24 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Ultra-wideband high power amplifier architecture |
CN102655394B (zh) * | 2012-05-23 | 2014-12-10 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 | 一种直流与微波信号交叉布线的放大器电路 |
US9030260B2 (en) * | 2013-07-19 | 2015-05-12 | Alcatel Lucent | Dual-band high efficiency Doherty amplifiers with hybrid packaged power devices |
CN109997311B (zh) * | 2016-11-30 | 2021-10-01 | 株式会社村田制作所 | 布线基板、耦合器模块以及通信装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10163772A (ja) * | 1996-10-04 | 1998-06-19 | Sanyo Electric Co Ltd | 電力増幅器およびチップキャリヤ |
WO2000007296A1 (fr) * | 1998-07-29 | 2000-02-10 | Hitachi, Ltd. | Telephone portable |
KR101354222B1 (ko) * | 2006-03-09 | 2014-01-22 | 스카이워크스 솔루션즈, 인코포레이티드 | 부하에 둔감한 고효율 전력 증폭기 회로 및 부하에 둔감한 고효율 전력 증폭기 회로 상에서 동작하는 방법 |
JP4859049B2 (ja) * | 2006-11-27 | 2012-01-18 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Rf電力増幅装置およびそれを搭載した無線通信端末装置 |
JP2009010685A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Hitachi Metals Ltd | 高周波回路部品およびこれを用いた通信装置 |
-
2009
- 2009-03-04 JP JP2009051203A patent/JP5163544B2/ja active Active
- 2009-12-28 US US12/647,688 patent/US8076976B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8076976B2 (en) | 2011-12-13 |
US20100225401A1 (en) | 2010-09-09 |
JP2010206649A (ja) | 2010-09-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111109 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20120323 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120802 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120807 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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