JP5153949B1 - Cu−Zn−Sn−Ni−P系合金 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】質量%で、Sn:0.2〜0.8%、Zn:3〜18%、Ni:0.3〜1.2%、P:0.01〜0.12%含有し、残部がCu及び不可避不純物からなり、圧延平行方向の結晶粒径a、圧延直角方向の結晶粒径bとしたときの結晶粒径比a/bが0.9〜1.4、かつ圧延平行方向断面におけるNi-P系化合物粒子の個数密度が以下の範囲であるCu-Zn-Sn-Ni-P系合金である。
(1)2.0μm以上のNi-P系化合物粒子Aが10個/mm2以下
(2)100nm以上500nm以下のNi-P系化合物粒子Bが50個/mm2以上500個/mm2以下
【選択図】なし
Description
しかしながら、黄銅やりん青銅は強度、耐応力緩和特性が十分でないため、近年では析出強化型合金が広く使用されている。特に、析出強化型合金のなかでも、Cu-Ni-Si合金は、コルソン合金と呼ばれ、Ni2Si微細化合物の析出により高強度、高曲げ性、良好な耐応力緩和特性を有し、近年の民生用及び車載用コネクタに用いられている(特許文献1〜8)。
本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、CuやNiに比べ原料代が安く、銅スクラップに混入することがあるZnを3質量%以上含有すると共に、銅スクラップに混入するSnの含有を許容し、低コストで強度、曲げ性及び耐応力緩和特性に共に優れ、異方性が小さいCu-Zn-Sn-Ni-P系合金の提供を目的とする。
(1)2.0μm以上のNi-P系化合物粒子Aが10個/mm2以下
(2)100nm以上500nm以下のNi-P系化合物粒子Bが50個/mm2以上500個/mm2以下
更にMg、Mn、Ti、Cr及びZrの群から選ばれる少なくとも1種以上を総量で0.02〜0.25質量%含有することが好ましい。
[Sn及びZn]
合金中のSnの濃度を0.2〜0.8%とし、Znの濃度を3〜18%とする。Sn及びZnは合金の強度及び耐熱性を向上させ、さらにSnは耐応力緩和特性を向上させ、Znは、はんだ接合の耐熱性を向上させる。又、Znを3質量%以上含有させることで、引張強さを500MPa以上に向上できるとともに、Znが混入する銅スクラップを合金製造に利用して製造コストを低減できる。なお、後述するように、Znを3質量%以上含有させても、再結晶温度を低温(480℃以下)にしないと、結晶粒径の著しい粗大化が起こり、強度が低下して500MPa以上の引張強さが安定して得られない。
Sn及びZnの含有量が上記範囲未満であると、上述の効果が得られず、上記範囲を超えると導電性が低下する。さらに、Snの含有量が上記範囲を超えると熱間加工性が低下し、Znの含有量が上記範囲を超えると曲げ加工性が低下する。
[Ni及びP]
合金中のNiの濃度を0.3〜1.2%とし、Pの濃度を0.01〜0.12%とする。Ni及びPを共に含有させると、再結晶を目的とする短時間の熱処理中でも、合金中にNi3Pの微細析出物が析出するため、強度及び耐応力緩和特性が向上する。
Ni及びPの含有量が上記範囲未満であると、Ni3Pの析出が十分でなく、所望の強度及び応力緩和改善効果が得られない。Ni及びPの含有量が上記範囲を超えると、導電性が著しく低下することに加え、曲げ加工性及び熱間加工性が低下する。
合金中に、強度を改善する目的で、さらにMg、Mn、Ti、Cr及びZrの群から選ばれる少なくとも一種以上を総量で0.02〜0.25質量%含有してもよい。さらに、Mg、Mnは耐応力緩和特性を向上させ、Cr、Mnは熱間加工性を向上させる。
但し、これらの元素はZnに比べると酸化物の生成自由エネルギーが低く、これらの元素の総量が上記範囲を超えると、インゴット鋳造時の大気溶解中に酸化し、不必要な原料コストの上昇や、生成した酸化物を鋳造時に巻き込んでインゴット品質の低下を招く。
圧延平行方向の結晶粒径a、圧延直角方向の結晶粒径bとしたときの結晶粒径比a/bを0.9〜1.4とする。a/bが上記範囲を超えると、圧延平行方向と圧延直角方向の結晶粒径の差が大きくなって、BW方向の曲げ加工性が著しく劣化する。この理由は明確ではないが、一方向に向く繊維状組織を、繊維方向に曲げた場合と繊維方向に直角な方向に曲げた場合の加工性の違いと考えられる。つまり、曲げ軸を横切る結晶粒の大きさが、GW方向に比べてBW方向では大きくなるため、塑性変形時のひずみを個々の結晶粒のすべり変形で吸収できず、結晶粒界を伝播する形でクラックが発生することが考えられる。
なお、結晶粒径aは、圧延平行断面(圧延方向に平行な面で切断した断面)につき、JIS-H0501の切断法に準じ測定する。結晶粒径bは、圧延直角断面(圧延直角方向に平行な面で切断した断面)につき、JIS-H0501の切断法に準じ測定する。
圧延平行方向断面におけるNi-P系化合物粒子の個数密度を以下の範囲に制御する。
(1)2.0μm以上のNi-P系化合物粒子Aが10個/mm2以下
(2)100nm以上500nm以下のNi-P系化合物粒子Bが50個/mm2以上500個/mm2以下
ここで、Ni−P系化合物粒子(以下、Ni-P系粒子とする)とは、Niを50at%以上含有し、かつPを10at%以上含有する粒子であり、Ni−P系粒子の粒径は、粒子を囲む最小円の直径と定義する(以下同様)。上記した粒子Aは晶出物であり、個数密度が10個/mm2を超えると、GWおよびBWの曲げ性が劣化する。上記した粒子Bは析出物であり、50個/mm2未満では耐応力緩和特性向上に寄与する100nm未満のNi-P系粒子の析出が不十分となるため、所望の耐応力緩和特性が得られない。一方、500個/mm2以上では、Ni-P系粒子が成長する事で、前述の100nm未満の粒子が減少するため、所望の耐応力緩和特性が得られない。
上記した粒子A、Bの成分がNi-P系粒子であることは、FE−SEMの(電解放射型走査電子顕微鏡)所定視野において、代表的形態(径)の粒子をEDS〔エネルギー分散型X線分析〕を用いて分析することにより確認する。又、粒子A、Bは、試料の圧延平行断面をFE−SEMにて観察し、上記した粒径範囲の粒子の個数をFE−SEMに付属の粒子解析ソフトウェアにて計測し、個数密度を求める。
又、インゴットを鋳込む際の鋳型を銅製とする。鋳型が銅以外の材質(例えば、鋳鉄、黒鉛、煉瓦等)であると、インゴットに粗大晶出物が残留し、最終的に粒子Aの個数密度が1個/mm2を超えるため、GW及びBWの曲げ性が劣化する。
熱間圧延終了時の温度が600℃以上になる様に、パススケジュールを調整する。熱間圧延の終了温度が600℃未満であると、動的再結晶を起こさず、圧延方向に粗大組織が残る。このため、結晶粒径比a/bが0.9〜1.4の範囲から外れ、GW及びBWの最小曲げ半径MBR/tの少なくとも一方が1を超えて曲げ性が劣化する。
熱間圧延の最終パスの加工度を25〜40%とする。上記加工度が25%未満であると、動的再結晶を起こさず、圧延方向に粗大組織が残る。このため、結晶粒径比a/bが0.9〜1.4の範囲から外れ、GW及びBWの最小曲げ半径MBR/tの少なくとも一方が1を超えて曲げ性が劣化する。上記加工度が40%を超えると、熱延割れを起こす恐れがある。
再結晶焼鈍の焼鈍時間が25分未満であると、Ni-P化合物の析出が不十分で、粒子Bが50個/mm2未満となり、耐応力緩和特性が劣化する。再結晶焼鈍の焼鈍時間が70分を超えると、結晶粒径が10μmを超えて粗大化し、強度が低下すると共に、Ni-P析出物も粗大化することで、粒子Bが500個/mm2を超え、応力緩和に寄与する析出物が減少し、耐応力緩和特性が劣化する。
なお、生産コストの更なる低減のために、連続式焼鈍炉にて再結晶焼鈍を行なう事ができる。その際、焼鈍温度は550〜800℃とし、結晶粒径が目標サイズ以下(10μm)となる様に、材料の炉内滞在時間(通板速度と同義)を調整する。
一方、応力緩和率を25%以下にするためには、応力緩和に寄与する適度なサイズのNi3Pを母相中に析出物として分散させる必要がある。熱間圧延後の冷却を徐冷とした場合、Ni3Pの析出は進行するものの、Ni3Pのサイズが応力緩和に寄与するレベルの析出物サイズと比較して粗大となる。このため、熱間圧延終了後の析出を抑制し、かつ、NiおよびPを母相中に十分に固溶させる事で、後の素条焼鈍および再結晶焼鈍時にNi3Pが析出する様に材料中のNi及びPの状態を調整する。Ni及びPを固溶させるため、熱間圧延の終了温度は600℃以上とし、析出を抑制するため熱間圧延の終了後に材料を水冷する。
大気溶解炉中にて電気銅を溶解し、表1に示す添加元素を所定量投入し、溶湯を攪拌した。その後、鋳込み温度1170℃にて銅製の鋳型に出湯し、厚み30mm×幅60mm×長さ120mmの表1に示す組成の銅合金インゴットを得た。インゴットを片面当り2.5mm面削後、以下の順で熱間圧延、冷間圧延、熱処理を行い、板厚0.2mmの試料を得た。
(1)インゴットを保持温度850℃で3時間(保持時間)焼鈍後、板厚11mmまで熱間圧延し、熱間圧延終了時の材料温度(熱間圧延の終了温度)が660℃(誤差±10℃)となるように調整し、その後に水冷した。
(2)熱間圧延後の表層の酸化スケールを除去するため、片面0.5mmの面削を実施した。
(3)板厚0.36mmになるまで(加工度97%)、第1の冷間圧延を実施した。
(4)380℃×30分の再結晶焼鈍を実施した。
(5)再結晶焼鈍後の表面の酸化スケールを酸洗・バフ研磨で除去後、板厚0.25mmになるまで(加工度33.3%)、最終冷間圧延を施した。
(6)最終冷間圧延後、さらに300℃×0.5hの歪取り焼鈍を施した。
インゴットの組成をCu-0.4%Sn-10%Zn-1.0%Ni-0.05%Pとしたこと以外は、実験Aと同様にしてインゴットを得た。但し、インゴットの溶解鋳造条件、熱間圧延の条件、第1の冷間圧延の加工度、及び再結晶焼鈍条件を表3に示すように変化させた。再結晶焼鈍後の板厚0.3mmの材料を0,2mmになるまで(加工度:33.3%)最終冷間圧延を実施した。又、最終冷間圧延後、さらに300℃×0.5hの歪取り焼鈍を施した。
実験A,Bの歪取焼鈍後の材料について以下の項目を評価した。なお、本実験において発明例に示す異方性が小さい銅合金とは、圧延平行方向と圧延方向に直角な方向の引張強さの差及び、たわみ係数の差が下記基準に従って小さい銅合金を指す。
[平均結晶粒径及び結晶粒径比a/b]
幅20mm×長さ20mmのサンプルを電解研磨後、Philips社製FE-SEMにて反射電子像を観察した。観察倍率は1000倍とし、5視野の画像についてJISH0501に規定される切断法にて結晶粒径を求め、平均値を算出した。なお、圧延平行方向の結晶粒径a、圧延直角方向の結晶粒径bについてそれぞれ上記平均値を求め、結晶粒径比a/bを算出した。
Ni-P系化合物粒子の個数密度を測定するため、試料の圧延平行断面を直径1μmのダイヤモンド砥粒を用いた機械研磨で鏡面に仕上げた後、りん酸系研磨液で電解研磨した。電解研磨後の試料面をFE−SEM(電解放射型走査電子顕微鏡:PHILIPS社製)を用い、粒子Aについては、倍率500倍にて65視野、粒子Bについては倍率8000倍にて67視野で観察し、上記した粒径範囲の化合物粒子の個数をFE−SEMに付属の粒子解析ソフトウェアにて計測し、個数密度を求めた。上記した粒子A、Bの成分がNi-P系粒子であることは、各視野において、代表的形態(径)の粒子をFE−SEMのEDS(エネルギー分散型X線分析)を用いて分析することにより確認した。
各試料について、GW及びBWについて引張試験を行い、JISZ2241に準拠して引張強さ(TS)を求めた。引張強さが500MPa以上で強度が良好と判定し、GWおよびBWの引張強さの差が50MPa以下である場合に強度差が小さいと判定した。
[導電率]
各試料について、JISH0505に準拠し、ダブルブリッジ装置を用いた四端子法により求めた体積抵抗率から導電率(%IACS)を算出した。
[W曲げ性]
試料長手方向が圧延方向と平行(GW方向)または直角(BW方向)になるようにして幅10mm×長さ30mmの短冊試験片を採取した。この試験片のW曲げ試験(JCBA−T307)を行い、割れの発生しない最小曲げ半径をMBR(Minimum Bend Radius)とし、板厚t(mm)との比MBR/tにより評価した。両方向とも、MBR/tが1以下であるとき、曲げ性が良好と判定した。
GW及びBWの各試料について、日本伸銅協会技術標準(JCBAT312:2002)に準拠してたわみ係数を測定した。GW及びBWのたわみ係数の差が10GPa以下の場合、たわみ係数の差が小さいと判定した。
[耐応力緩和特性]
幅10mm×長さ100mmの短冊形状の試験片を,試験片の長手方向が圧延方向と平行になるように採取した。試験片の片端を固定し、固定位置から50mmの位置(l=50mm)を作用点として,試験片にy0のたわみを与え,0.2%耐力の80%に相当する応力(σ0)を負荷した。y0は次式により求めた。
y0=(2/3)・l2・σ0 / (E・t)
ここで,Eはたわみ係数(上記方法で測定した値)であり,tは試料の厚みである。試験片にy0のたわみを与えた状態で150℃にて1000時間加熱後に除荷し,永久変形量(高さ)yを測定し,応力緩和率{[y(mm)/y0(mm)]×100(%)}を算出した。応力緩和率が25%以下の場合、耐応力緩和特性が良好と判定した。
Sn、Zn、Ni、Pの含有量が規定範囲内であって、結晶粒径比a/bが0.9〜1.4を満たし、Ni-P系化合物である粒子Aおよび粒子Bの個数密度が規定範囲内である各実施例の場合、強度、曲げ性、耐応力緩和特性を良好に保持し、かつ異方性が小さくなった。
一方、Znが3%未満である比較例1、及びSnが0.2%未満である比較例3の場合、GW及びBWの引張強さがいずれも500MPa未満となり、強度が劣化した。
Znが18%を超えた比較例2の場合、BWの最小曲げ半径MBR/tが1を超え、応力緩和率も25%を超えて劣化した。
Snが0.8%を超えた比較例4の場合、及びPが0.12%を超えた比較例8の場合、いずれも熱間圧延で割れが発生し、合金を製造できなかった。
Niが0.3%未満である比較例5の場合、Ni-P系粒子の析出が不十分で、応力緩和率が25%を超えて劣化した。
Niが1.2%を超えた比較例6の場合、BWの最小曲げ半径MBR/tが1を超えた。
Pが0.01%未満である比較例7の場合、Ni-P系粒子の析出が不十分で、応力緩和率が25%を超えて劣化した。
インゴットの溶解鋳造、熱間圧延、第1の冷間圧延、及び再結晶焼鈍の条件が規定範囲を満たす各実施例の場合、結晶粒径比a/bが0.9〜1.4を満たし、かつNi-P系化合物である粒子Aおよび粒子Bの個数密度が規定範囲内となって、強度、曲げ性、耐応力緩和特性を良好に保持し、異方性も小さくなった。
又、インゴットを鋳込む際の鋳型を銅以外の材質(それぞれ鋳鉄、黒鉛、煉瓦等)とした比較例13〜15の場合、インゴットに粗大晶出物が残留し、粒子Aの個数密度が10個/mm2を超え、GW及びBWの最小曲げ半径MBR/tが1を超えて曲げ性が劣化した。
熱間圧延の最終パスの加工度が25%未満である比較例17の場合、動的再結晶を起こさず、圧延方向に粗大組織が残った。このため、結晶粒径比a/bが0.9〜1.4の範囲から外れ、異方性が大きくなると共に、BWの最小曲げ半径MBR/tが1を超えて曲げ性が劣化した。一方、熱間圧延の最終パス加工度が40%を超えた比較例18の場合、熱延割れを起こし、それ以上の製造ができなかった。
再結晶焼鈍の温度が380℃未満である比較例20の場合、再結晶が十分に起こらず、観察領域の大部分に未再結晶領域が残留し、GW及びBWの最小曲げ半径MBR/tがいずれも1を超えて曲げ性が劣化した。
再結晶焼鈍の温度が500℃を超えた比較例21の場合、結晶粒径が10μmを超えて粗大化し、GW及びBWの引張強さが500MPa未満に低下した。 さらに粒子Bの個数密度が500個/mm2を超え、応力緩和に寄与する微細析出物が減少した結果、耐応力緩和特性が劣化した。
再結晶焼鈍の焼鈍時間が25分未満である比較例22の場合、Ni-P系粒子の析出が不十分で、粒子Bの個数密度が50個/mm2未満となり、耐応力緩和特性が劣化した。再結晶焼鈍の焼鈍時間が70分を超えた比較例23の場合、結晶粒径が10μmを超えて粗大化し、GWの引張強さが500MPa未満に低下した。また、粒子Bの個数密度が500個/mm2以上となり、応力緩和に寄与する微細析出物が減少した結果、耐応力緩和特性が劣化した。
Claims (3)
- 質量%で、Sn:0.2〜0.8%、Zn:3〜18%、Ni:0.3〜1.2%、P:0.01〜0.12%含有し、残部がCu及び不可避不純物からなり、
圧延平行方向の結晶粒径a、圧延直角方向の結晶粒径bとしたときの結晶粒径比a/bが0.9〜1.4、かつ圧延平行方向断面におけるNi-P系化合物粒子の個数密度が以下の範囲であるCu-Zn-Sn-Ni-P系合金。
(1)2.0μm以上のNi-P系化合物粒子Aが10個/mm2以下
(2)100nm以上500nm以下のNi-P系化合物粒子Bが50個/mm2以上500個/mm2以下 - GW及びBWの引張強さがいずれも500MPa以上、GW及びBWの引張強さの差が50MPa以下、GW及びBWの最小曲げ半径MBR/tがいずれも1以下、かつGW及びBWのたわみ係数の差が10GPa以下である請求項1記載のCu-Zn-Sn-Ni-P系合金。
- 更にMg、Mn、Ti、Cr及びZrの群から選ばれる少なくとも1種以上を総量で0.02〜0.25質量%含有する請求項1又は2記載のCu-Zn-Sn-Ni-P系合金。
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