JP5134421B2 - 電磁波抑制材料及び電磁波抑制シート - Google Patents
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Description
また、本発明に係る電磁波抑制材料は、電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として2mol/Lの塩化ナトリウムと、上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して20〜35質量部のエチレングリコールとを含有し、且つ、当該ポリアクリルアミドゲルの凍結点が−20℃以下となるものである。
また、本発明に係る電磁波抑制材料は、電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として3mol/Lの塩化ナトリウムと、上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して15〜35質量部のエチレングリコールとを含有し、且つ、当該ポリアクリルアミドゲルの凍結点が−20℃以下となるものである。
また、本発明に係る電磁波抑制材料は、電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として4mol/Lの塩化ナトリウムと、上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して10〜35質量部のエチレングリコールとを含有し、且つ、当該ポリアクリルアミドゲルの凍結点が−20℃以下となるものである。
また、本発明に係る電磁波抑制材料は、電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、−7.5℃以下の凍結点を有し、上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として1〜4mol/Lの塩化ナトリウムと上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して10〜35質量部のエチレングリコールとを含有するものである。
また、本発明に係る電磁波抑制材料は、電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、−20℃以下の凍結点を有し、上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として1〜4mol/Lの塩化ナトリウムと上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して10〜35質量部のエチレングリコールとを含有するものである。
Claims (10)
- 電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、
上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、
当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として2〜4mol/Lの塩化ナトリウムと上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して10〜35質量部のエチレングリコールとを含有し、且つ、当該ポリアクリルアミドゲルの凍結点が−20℃以下となる電磁波抑制材料。 - 電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、
上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、
当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として2mol/Lの塩化ナトリウムと、上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して20〜35質量部のエチレングリコールとを含有し、且つ、当該ポリアクリルアミドゲルの凍結点が−20℃以下となる電磁波抑制材料。 - 周波数0.1〜0.5GHzにおいて、電磁波の損失率が上記エチレングリコールの含有量の増加に伴って増加する請求項2記載の電磁波抑制材料。
- 電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、
上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、
当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として3mol/Lの塩化ナトリウムと、上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して15〜35質量部のエチレングリコールとを含有し、且つ、当該ポリアクリルアミドゲルの凍結点が−20℃以下となる電磁波抑制材料。 - 周波数0.1〜0.5GHzにおいて、電磁波の損失率が上記エチレングリコールの含有量の増加に伴って増加する請求項4記載の電磁波抑制材料。
- 電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、
上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、
当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として4mol/Lの塩化ナトリウムと、上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して10〜35質量部のエチレングリコールとを含有し、且つ、当該ポリアクリルアミドゲルの凍結点が−20℃以下となる電磁波抑制材料。 - 周波数0.1〜0.4GHzにおいて、電磁波の損失率が上記エチレングリコールの含有量の増加に伴って増加する請求項6記載の電磁波抑制材料。
- 請求項1乃至7の何れかに記載の電磁波抑制材料が防湿フィルムに封止されてなる電磁波抑制シート。
- 電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、−7.5℃以下の凍結点を有し、
上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、
当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として1〜4mol/Lの塩化ナトリウムと上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して10〜35質量部のエチレングリコールとを含有する電磁波抑制材料。 - 電解質とアルコール類とを含有するアクリレート系高分子ゲルからなり、−20℃以下の凍結点を有し、
上記アクリレート系高分子ゲルは、アクリルアミドとN,N’−メチレンビスアクリルアミドとが重合されたポリアクリルアミドゲルであり、
当該ポリアクリルアミドゲルは、上記電解質として1〜4mol/Lの塩化ナトリウムと上記アルコール類として当該ポリアクリルアミドゲル100質量部に対して10〜35質量部のエチレングリコールとを含有する電磁波抑制材料。
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