JP5116307B2 - 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム - Google Patents
集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5116307B2 JP5116307B2 JP2007000197A JP2007000197A JP5116307B2 JP 5116307 B2 JP5116307 B2 JP 5116307B2 JP 2007000197 A JP2007000197 A JP 2007000197A JP 2007000197 A JP2007000197 A JP 2007000197A JP 5116307 B2 JP5116307 B2 JP 5116307B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- circuit device
- regression line
- scatter diagram
- measurement result
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
2 測定値B情報ファイル
3 散布図作成ユニット
4 回帰直線算出ユニット
5 距離計算ユニット
6 判定ユニット
7 判定基準ファイル
8 結果出力ユニット
9 再帰回帰直線算出ユニット
10 変換散布図作成ユニット
Claims (7)
- 集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記録する記憶手段と、
前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記録する記憶手段と、
前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する手段と、
前記散布図の回帰直線を求める手段と、
前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める手段と、
予め定められた基準値を記録する記憶手段と、
前記距離が前記基準値を上回る集積回路装置を検出する手段と、
前記検出された集積回路装置を出力する手段と、
を備える集積回路装置異常検出装置。 - 前記回帰直線を求める手段が、回帰直線を算出し、前記散布図の各点と回帰直線との距離を算出し、事前に指定された値以上の距離を持つ点を除外する一連の処理を、新たに除外される点がなくなるまで再帰的に繰り返す、請求項1に記載の集積回路装置異常検出装置。
- 集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記憶手段から読み出す工程と、
前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記憶手段から読み出す工程と、
前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する工程と、
前記散布図の回帰直線を求める工程と、
前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める工程と、
前記距離が予め定めた基準値を上回る集積回路装置を検出する工程と、
前記検出された集積回路装置を出力する工程と、
を含む集積回路装置異常検出方法。 - 前記回帰直線を求める工程が、回帰直線を算出し、前記散布図の各点と回帰直線との距離を算出し、事前に指定された値以上の距離を持つ点を除外する一連の処理を、新たに除外される点がなくなるまで再帰的に繰り返す、請求項3に記載の集積回路装置異常検出方法。
- 集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記憶手段から読み出す処理と、
前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記憶手段から読み出す処理と、
前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する処理と、
前記散布図の回帰直線を求める処理と、
前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める処理と、
前記距離が予め定めた基準値を上回る集積回路装置を検出する処理と、
前記検出された集積回路装置を出力する処理と、
をコンピュータに実行させるプログラム。 - 前記回帰直線を算出する処理において、回帰直線を算出し、前記散布図の各点と回帰直線との距離を算出し、事前に指定された値以上の距離を持つ点を除外する一連の処理を、新たに除外される点がなくなるまで再帰的に繰り返す処理を、前記コンピュータに実行させる、請求項5に記載のプログラム。
- 請求項5または6に記載のプログラムを記録した記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007000197A JP5116307B2 (ja) | 2007-01-04 | 2007-01-04 | 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007000197A JP5116307B2 (ja) | 2007-01-04 | 2007-01-04 | 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008166644A JP2008166644A (ja) | 2008-07-17 |
JP5116307B2 true JP5116307B2 (ja) | 2013-01-09 |
Family
ID=39695697
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007000197A Expired - Fee Related JP5116307B2 (ja) | 2007-01-04 | 2007-01-04 | 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5116307B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009527903A (ja) * | 2006-02-17 | 2009-07-30 | テスト アドバンテージ, インコーポレイテッド | データ解析のための方法および装置 |
US10557840B2 (en) | 2011-08-19 | 2020-02-11 | Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company | System and method for performing industrial processes across facilities |
US9069725B2 (en) | 2011-08-19 | 2015-06-30 | Hartford Steam Boiler Inspection & Insurance Company | Dynamic outlier bias reduction system and method |
JP6172788B2 (ja) * | 2013-02-15 | 2017-08-02 | 東洋ゴム工業株式会社 | クラスタ分析方法、クラスタ分析装置及びコンピュータプログラム |
EP3514700A1 (en) * | 2013-02-20 | 2019-07-24 | Hartford Steam Boiler Inspection and Insurance Company | Dynamic outlier bias reduction system and method |
CA3116974A1 (en) | 2014-04-11 | 2015-10-15 | Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company | Improving future reliability prediction based on system operational and performance data modelling |
CN106783697A (zh) * | 2017-02-14 | 2017-05-31 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 一种增强半导体工艺中补值精确性的方法 |
US11636292B2 (en) | 2018-09-28 | 2023-04-25 | Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company | Dynamic outlier bias reduction system and method |
GB2625937B (en) | 2019-09-18 | 2025-01-29 | Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company | Computer-based systems, computing components and computing objects configured to implement dynamic outlier bias reduction in machine learning models |
US11615348B2 (en) | 2019-09-18 | 2023-03-28 | Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company | Computer-based systems, computing components and computing objects configured to implement dynamic outlier bias reduction in machine learning models |
US11328177B2 (en) | 2019-09-18 | 2022-05-10 | Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company | Computer-based systems, computing components and computing objects configured to implement dynamic outlier bias reduction in machine learning models |
KR102544293B1 (ko) * | 2020-11-06 | 2023-06-20 | 한국과학기술연구원 | 이상치 탐지 및 제거 방법 |
CN114265390B (zh) * | 2021-12-22 | 2024-02-20 | 苏州华星光电技术有限公司 | 设备数据采集诊断方法、装置、服务器及存储介质 |
-
2007
- 2007-01-04 JP JP2007000197A patent/JP5116307B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008166644A (ja) | 2008-07-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5116307B2 (ja) | 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム | |
CN102435616B (zh) | 一种新型晶边检测仪稳定性的监控方法 | |
JP6737277B2 (ja) | 製造プロセス分析装置、製造プロセス分析方法、及び、製造プロセス分析プログラム | |
JP5287985B2 (ja) | 製品選別装置、製品選別方法及びコンピュータプログラム | |
JP4568786B2 (ja) | 要因分析装置および要因分析方法 | |
US7557598B2 (en) | Method of inspecting quiescent power supply current in semiconductor integrated circuit and device for executing the method | |
CN107038697A (zh) | 用于诊断半导体晶圆的方法和系统 | |
JP2721799B2 (ja) | 機械の異常判定方法 | |
US20030158679A1 (en) | Anomaly detection system | |
WO2010137463A1 (ja) | 検査結果解析方法および検査結果解析装置、異常設備検出方法および異常設備検出装置、上記検査結果解析方法または異常設備検出方法をコンピュータに実行させるためのプログラム、並びに上記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
CN117330882B (zh) | 一种用于滤波器的自动化测试方法及系统 | |
JP2005109056A (ja) | 半導体素子の検査装置 | |
JP7128232B2 (ja) | 要因分析装置および要因分析方法 | |
JP2006317194A (ja) | マルチセンサ信号異常検知装置および方法 | |
CN116359019A (zh) | 一种弹性模量测定系统及其测定方法 | |
US20110172941A1 (en) | Screening apparatus, screening method, and program | |
Gaita et al. | A machine learning based wafer test ranking for root cause analysis | |
JP7435071B2 (ja) | 診断装置、診断方法およびプログラム | |
KR20150082976A (ko) | 반도체 생산 공정에서 센서 데이터들을 이용하여 웨이퍼의 수율을 분석하는 방법 | |
TWI472939B (zh) | 良率損失估算方法及相關電腦可讀媒體 | |
CN106918773A (zh) | 工艺型硬件木马监测方法与装置 | |
CN113985040A (zh) | 一种实验室检测设备精度控制的控制方法及装置 | |
JP2021110688A (ja) | 半導体素子診断装置および半導体素子診断方法 | |
JP6304951B2 (ja) | 半導体装置の試験プログラム、試験装置及び試験方法 | |
JP2008204525A (ja) | 磁気ヘッドの特性評価方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090911 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120227 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120321 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120423 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121016 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121016 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151026 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |