JP5113876B2 - 膜損傷検知方法及び膜ろ過設備 - Google Patents
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- Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
Description
k1=Vp×(1+1/n)+α・・・・(1)
k1=Vm+(Vp−Vm)/n+α・・・・(2)
αは計器誤差等を考慮した許容値を示す。
Vaは、一の膜モジュール10Aの測定値であり、次の膜モジュール10Bの場合の測定値は、Vbとなる。
k1=Vp×(1+1/n)+α・・・・(1)
k1=Vm+(Vp−Vm)/n+α・・・・(2)
αは計器誤差等を考慮した許容値を示す。
Vaは、一の膜モジュール10Aの測定値であり、次の膜モジュール10Bの場合の測定値は、Vbとなる。
k1=Vp×(1+1/n)+α・・・・(1)
k1=Vm+(Vp−Vm)/n+α・・・・(2)
αは計器誤差等を考慮した許容値を示す。
Vaは、一の膜モジュール10Aの測定値であり、次の膜モジュール10Bの場合の測定値は、Vbとなる。
初めに、直接法にて全モジュール(10Aと10Bと10C)の膜損傷について損傷が無と確認した直後に、精密濁度計から成る第二計測器31で基準共通濁度量(基準第二計測値)Vmが計測され、演算装置40に送信され蓄積される。
k1=Vp×(1+1/n)・・・・(1)
(nは、モジュール数を表わし、本実施例では、n=3となる。以下同じ)
上記(1)の代りとして、基準濁度量Vmを用い、下記(2)式より第一閾値k1が演算されても良い。
k1=Vm+(Vp−Vm)/n・・・・(2)
尚、上記(1)式または(2)式で求めた値に、計器誤差等を考慮した許容値を付加し、第一閾値k1を設定しても良い。
第一実施例と同様に演算装置40において、第一の膜モジュール10Aの切替弁11Aが開になっている状態で送信されてきた、第一計測器21で計測された個別濁度量Va(第一計測値)と、第二計測器31で計測された共通濁度量Vp(第二計測値)を基に上記(1)式または(2)式より演算された第一閾値k1と、が対比される。
第一実施例と同様に演算装置40において、第一の膜モジュール10Aの切替弁11Aが開になっている状態で送信されてきた、第一計測器21で計測された個別濁度量Va(第一計測値)と、第二計測器31で計測された共通濁度量Vp(第二計測値)を基に上記(1)式または(2)式より演算された第一閾値k1と、が対比される。
10,10A,10B,10C 膜モジュール
11,11A,11B,11C 切替弁
12,12A,12B,12C 膜透過水側配管
13 第一連結配管
14 第二連結配管
20 分岐配管
21 第一計測器
30 共通配管
31 第二計測器
40 演算装置
k1 第一閾値
k2 第二閾値
Va,Vb,Vc 第一計測値
Vm,Vp 第二計測値
n モジュール数
Claims (3)
- 膜透過水側配管に切換弁を有する複数の膜モジュールと、前記切換弁の切換えにより前記複数の膜モジュールの内の一の膜モジュールを透過した膜透過水が流通する第一計測器を有する分岐配管と、前記複数の膜モジュールを透過した膜透過水が合流した共通管透過水が流通する第二計測器を有する共通配管と、前記第一計測器及び前記第二計測器の計測値を基に演算する演算装置と、を備える膜ろ過設備の膜損傷若しくは膜劣化の有無を検知する膜損傷検知方法であって、
前記切換弁の切換えにより前記分岐配管を流通する一の膜モジュールを透過した膜透過水について前記第一計測器で第一計測値である個別濁度量Vaを計測し、前記一の膜モジュールを透過した膜透過水が合流した共通管透過水について前記第二計測器で第二計測値である基準共通濁度量Vmまたは/及び共通濁度量Vpを計測して前記演算装置で下記演算式(1)または(2)より第一閾値k1を演算し、前記第一計測値Vaを前記第一閾値k1と対比し、前記第一計測値が前記第一閾値外であるとき前記一の膜モジュールは膜損傷若しくは膜劣化が有と判定し、前記第一計測値が前記第一閾値内であるとき前記一の膜モジュールは膜損傷若しくは膜劣化が無と判定し、前記切換弁の切換えにより次の一の膜モジュールに移行し計測・演算及び判定を順次繰り返すことを特徴とする膜損傷検知方法。
k1=Vp×(1+1/n)+α・・・・(1)
k1=Vm+(Vp−Vm)/n+α・・・・(2)
αは計器誤差等を考慮した許容値を示す。
Vaは、一の膜モジュール10Aの測定値であり、次の膜モジュール10Bの場合の測定値は、Vbとなる。 - 膜透過水側配管に切換弁を有する複数の膜モジュールと、前記切換弁の切換えにより前記複数の膜モジュールの内の一の膜モジュールを透過した膜透過水が流通する第一計測器を有する分岐配管と、前記複数の膜モジュールを透過した膜透過水が合流した共通管透過水が流通する第二計測器を有する共通配管と、前記第一計測器及び前記第二計測器の計測値を基に演算する演算装置と、を備える膜ろ過設備の膜損傷若しくは膜劣化の有無を検知する膜損傷検知方法であって、
前記切換弁の切換えにより前記分岐配管を流通する一の膜モジュールを透過した膜透過水について前記第一計測器で第一計測値である個別濁度量Vaを計測し、前記一の膜モジュールを透過した膜透過水が合流した共通管透過水について前記第二計測器で第二計測値である基準共通濁度量Vmまたは/及び共通濁度量Vpを計測して前記演算装置で下記演算式(1)または(2)より第一閾値k1を演算し、前記第一計測値Vaを前記第一閾値k1と対比し、続けて前記切換弁の切換えにより次の一の膜モジュールに移行して計測・演算及び対比を順次繰り返し、同一の一の膜モジュールついて前記第一計測値が前記第一閾値外であることが複数回現出したとき、前記同一の一の膜モジュールは膜損傷若しくは膜劣化が有と判定することを特徴とする膜損傷検知方法。
k1=Vp×(1+1/n)+α・・・・(1)
k1=Vm+(Vp−Vm)/n+α・・・・(2)
αは計器誤差等を考慮した許容値を示す。
Vaは、一の膜モジュール10Aの測定値であり、次の膜モジュール10Bの場合の測定値は、Vbとなる。 - 膜透過水側配管に切換弁を有する複数の膜モジュールと、前記切換弁の切換えにより前記複数の膜モジュールの内の一の膜モジュールを透過した膜透過水が流通する第一計測器を有する分岐配管と、前記複数の膜モジュールを透過した膜透過水が合流した共通管透過水が流通する第二計測器を有する共通配管と、前記第一計測器及び前記第二計測器の計測値を基に演算する演算装置と、を備える膜ろ過設備の膜損傷若しくは膜劣化の有無を検知する膜損傷検知方法であって、
前記切換弁の切換えにより前記分岐配管を流通する一の膜モジュールを透過した膜透過水について前記第一計測器で第一計測値である個別濁度量Vaを計測し、前記一の膜モジュールを透過した膜透過水が合流した共通管透過水について前記第二計測器で第二計測値である基準共通濁度量Vmまたは/及び共通濁度量Vpを計測して前記演算装置で下記演算式(1)または(2)より第一閾値k1を演算し、前記第一計測値Vaを前記第一閾値k1と対比すると共に、前記第二計測値を過去の第二計測値より演算した第二閾値と対比し、前記第一計測値が前記第一閾値外または/及び前記第二計測値が前記第二閾値外であるとき前記一の膜モジュールは膜損傷若しくは膜劣化が有と判定し、前記第一計測値が前記第一閾値内で且つ前記第二計測値が前記第二閾値内あるとき前記一の膜モジュールは膜損傷若しくは膜劣化が無と判定し、前記切換弁の切換えにより次の一の膜モジュールに移行し計測・演算及び判定を順次繰り返すことを特徴とする膜損傷検知方法。
k1=Vp×(1+1/n)+α・・・・(1)
k1=Vm+(Vp−Vm)/n+α・・・・(2)
αは計器誤差等を考慮した許容値を示す。
Vaは、一の膜モジュール10Aの測定値であり、次の膜モジュール10Bの場合の測定値は、Vbとなる。
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JP2010100434A JP5113876B2 (ja) | 2010-04-24 | 2010-04-24 | 膜損傷検知方法及び膜ろ過設備 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010100434A JP5113876B2 (ja) | 2010-04-24 | 2010-04-24 | 膜損傷検知方法及び膜ろ過設備 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011230021A JP2011230021A (ja) | 2011-11-17 |
JP5113876B2 true JP5113876B2 (ja) | 2013-01-09 |
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JP2010100434A Active JP5113876B2 (ja) | 2010-04-24 | 2010-04-24 | 膜損傷検知方法及び膜ろ過設備 |
Country Status (1)
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JP2001062263A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-03-13 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 膜モジュールの漏洩検知装置 |
JP2004113957A (ja) * | 2002-09-27 | 2004-04-15 | Mitsubishi Electric Corp | 水処理システム |
JP2004237281A (ja) * | 2003-01-17 | 2004-08-26 | Japan Organo Co Ltd | 膜分離装置およびその装置における状態検知方法 |
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2010
- 2010-04-24 JP JP2010100434A patent/JP5113876B2/ja active Active
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JP2011230021A (ja) | 2011-11-17 |
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