JP5082096B2 - ピクセル型電極構造のガス放射線検出器 - Google Patents
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Description
一方で、これら大強度の粒子線を有効に用いて結果を得るためには、対応する粒子線検出器が必要である。ワイヤーチェンバーなどのガス検出器は、個々の入射粒子に対する位置分解能、時間分解能に優れていることから、これまで粒子線検出器として広く使われてきた。しかし、ワイヤーを読出しに用いたものでは概ね104counts/mm2以上の高頻度入射粒子には対応できていない。
しかし実用に向けた開発では、十分な増幅率と動作安定性の確保のために、GEM(Gas Electron Multiplier)など他の検出器と組み合わせざるを得ないのが現状である。
特に、μ−PICについては、MSGCと比較して電極間の放電がかなり抑えられるようになったものの、電子などの粒子線飛跡検出に必要である104以上のガス増幅率においては、やはり放電による大電流における電極破壊が問題となっていた。
ここで、メッシュ電極の材料としては、ニッケルなどの電極材料を使用できる。
また、メッシュ電極が両面基板の表面上に所定間隔を設けて平行に配設されるとは、メッシュ電極の孔の部分が、円柱状陽極電極の真上に来る状態も、真上に来ない状態もどちらも許容する意味で用いている。
また、メッシュ電極と両面基板の間の所定間隔は、メッシュの粗さや、メッシュ電極に印加する電圧値や、ドリフトラインとの電圧差のパラメータによって、最適な間隔が決定されるものである。
メッシュ電極と陽極電極表面との間隔が、50μm未満では、メッシュ電極の存在により、電子が陽極電極に到達しにくくなり、増幅度が上がらなくなる。一方、メッシュ電極と陽極電極表面との間隔が、1000μmより大きくなると、メッシュ電極の影響が小さくなり、円柱状陽極の周囲に3次元的に広がりを持った高電場のガス増幅領域が形成されにくくなる。
メッシュ電極の孔が、20〜200μmの間隔で形成されているのは、陽極の間隔が400μmであり、それよりも狭い間隔で設けられる必要があるからである。
(A)μ−PICよりも利得が大きく、かつ電極部の信頼性を向上させることができる。
(B)陽極としてピクセルを用い、メッシュ電極により三次元的に電場を構成するため、高電場が作り易く増幅率が大きい。
(C)陰極は、陽極の周りを円状に囲み、メッシュ電極が陽極上方に配置されているため、陰極の端部分やメッシュ電極の電場は陽極に比べて遙に小さく、陰極やメッシュ電極から電子が飛び出し難く、放電が起こり難い。
(D)メッシュ電極を備えたことにより、陽極から陰極にかけて、距離に応じて急速に電場が弱まるので、放電への進展が極めて起こり難い。
(E)メッシュ電極を付け加えたことにより、陽極付近でのガス増幅に伴い生じる陽イオンのガスチェンバーへの拡散が抑制され、高頻度の粒子線入射に対しても増幅率の低下を招かない。
この他、μ−PICと同様の利点となるが、基本的にはプリント回路基板作製の技術を用いていることから大面積のものが安価に作れ、また、放電を起こした場合でも、致命的な損傷を受け難い(ピクセル単位の局所的破壊で収まる)。
本発明のガス放射線検出器は、
1)両面基板11の裏面に形成される陽極12と、
2)陽極12に植設されると共に上端面が両面基板11の表面に露出する円柱状陽極電極13と、
3)円柱状陽極電極13の上端面の回りに穴が形成される陰極電極14と、
4)両面基板11の表面上に所定間隔を設けて平行に配設されるメッシュ電極15と、
から構成される。図1において、両面基板11の下方は、陽極12の配置を見やすくするために、別体のように描かれているが一体の両面基板11から構成されている。両面基板11の材料として、例えば、ポリイミド薄膜を用いる。
この円柱状陽極電極13は円柱状の形状をしており、ピクセル型電極という。
入射粒子線によりガス中で電離された電子e- は、ドリフト電場により検出器表面方向の円柱状陽極電極13のピクセル型電極へドリフトされる。円柱状陽極電極(図2中、anode)の近傍では、陽極・陰極間(例えば480V)及び陽極・メッシュ電極間の電圧(例えば、550V)と点状の電極形状により作られる、三次元的な広がりを持った強力な電場により、電子はガス雪崩増幅を起こす。この結果生じた+イオンは、周囲の陰極電極(図2中、cathode)及びメッシュ電極(図2中、mesh)へ速やかにドリフトしていく。
(1)陽極としてピクセルを用いるので、高電場が作り易く増幅率が大きい。
(2)陰極は、陽極の周りを円状に囲み、メッシュ電極が陽極の上方に位置しているため、陰極の端部分、及びメッシュ上の電場は陽極に比べて遙に小さく、陰極やメッシュ電極から電子が飛び出し難く、放電が起こり難い。
(3)メッシュ電極が陽極の上方に位置しているため、ガス増幅に必要な高い電場を持つ領域を、陽極を中心として三次元的に構成することができ、高いガス増幅率が得られる。
(4)陽極から陰極にかけて、距離に応じて電場が弱まる効果がメッシュ電極により効果的に得られ、放電への進展が極めて起こり難い。
(5)このガス放射線検出器は、基本的にはプリント回路基板作製の技術を用いているため、大面積のものが安価に作れる。
(6)放電を起こした場合でも、致命的な損傷を受けにくい。つまり、局所(ピクセル単位)の破壊で収まる。
(7)陽極付近のガス増幅により生じた陽イオンは、陰極とメッシュの双方に吸収され、ガスチェンバー内への拡散による空間電荷効果による増幅率低下が起こりにくい。
なお、実測に使用したガス放射線検出器は、メッシュ電極と基板の距離が約300μmであり、メッシュ電極の格子の大きさ(孔の大きさ、間隔)については、孔の大きさは約40μm角程度で、間隔は500穴/インチ (=50μm程度)である。メッシュ電極の材料はニッケル金属を用いている。図2および図3から、金属メッシュなどの電極をピクセル型電極上部に配することで、陽極周囲に3次元的広がりを持った、高電場のガス増幅領域が形成されることが理解できる。
12 陽極
13 円柱状陽極電極
14 陰極電極
15 メッシュ電極
16 穴
Claims (3)
- 両面基板の裏面に形成される陽極と、前記陽極に植設されると共に上端面が前記両面基板の表面に露出する円柱状陽極電極と、前記円柱状陽極電極の上端面の回りに穴が形成される陰極電極から構成されるピクセル型電極構造のガス放射線検出器において、
前記両面基板の表面上に所定間隔を設けて平行に配設されるメッシュ電極を備え、
上記メッシュ電極は前記円柱状陽極電極の上部に配設され、
上記メッシュ電極に前記陰極電極に対して所定の負電圧が印加されることにより、前記円柱状陽極電極の周囲に3次元的に広がりを持つ高電場のガス増幅領域が形成され、上記メッシュ電極を設けない場合と比較してガス増幅率を向上させたことを特徴とするピクセル型電極構造のガス放射線検出器。 - 前記メッシュ電極は、陽極電極表面と平行に50〜1000μmの間隔で配設され、かつ、前記メッシュ電極は直径もしくは一辺10〜180μm相当の孔が20〜200μmの間隔で形成されていることを特徴とする請求項1記載のピクセル型電極構造のガス放射線検出器。
- 前記円柱状陽極電極は、直径40〜100μmで高さ50〜150μmの形状に形成され、250〜400μmの間隔で配置され、
前記陰極電極は、一定間隔で直径200〜300μmの孔が形成された、
請求項2記載のピクセル型電極構造のガス放射線検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007015255A JP5082096B2 (ja) | 2007-01-25 | 2007-01-25 | ピクセル型電極構造のガス放射線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007015255A JP5082096B2 (ja) | 2007-01-25 | 2007-01-25 | ピクセル型電極構造のガス放射線検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008180647A JP2008180647A (ja) | 2008-08-07 |
JP5082096B2 true JP5082096B2 (ja) | 2012-11-28 |
Family
ID=39724650
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007015255A Active JP5082096B2 (ja) | 2007-01-25 | 2007-01-25 | ピクセル型電極構造のガス放射線検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5082096B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5247589B2 (ja) * | 2008-12-01 | 2013-07-24 | 三菱電機株式会社 | 電離箱検出器および線量分布測定装置 |
EP2416176A1 (en) * | 2009-04-01 | 2012-02-08 | Tokuyama Corporation | Radiographic image detector |
JP5772258B2 (ja) * | 2011-06-08 | 2015-09-02 | 大日本印刷株式会社 | ガス増幅を用いた放射線検出器、及びガス増幅を用いた放射線の検出方法 |
CN103645492B (zh) * | 2013-12-06 | 2015-11-18 | 深圳市盛喜路科技有限公司 | 一种低成本多丝正比计数器电极阵列及其制作方法 |
US9568613B2 (en) * | 2015-06-25 | 2017-02-14 | Ge-Hitachi Nuclear Energy Americas Llc | Method, system and apparatus for providing an electronic signal for the surveillance and testing of Geiger-Muller radiation sensors |
JP6696147B2 (ja) * | 2015-10-29 | 2020-05-20 | 大日本印刷株式会社 | 放射線検出素子 |
CN105445779B (zh) * | 2015-12-29 | 2019-01-25 | 清华大学 | 慢中子转换体及慢中子探测器 |
JP2017191108A (ja) * | 2017-06-08 | 2017-10-19 | 大日本印刷株式会社 | ガス増幅を用いた放射線検出器、及びその製造方法 |
JP6645528B2 (ja) * | 2018-02-28 | 2020-02-14 | 大日本印刷株式会社 | 検出素子、検出素子の製造方法、および検出装置 |
CN113433580B (zh) * | 2021-06-25 | 2023-03-10 | 中国科学技术大学 | 气体探测器制作方法、气体探测器及射线探测装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19931772A1 (de) * | 1999-07-08 | 2001-01-11 | Philips Corp Intellectual Pty | Gaskammerdetektor mit Gas-Elektronenvervielfacher |
JP3354551B2 (ja) * | 2000-06-27 | 2002-12-09 | 科学技術振興事業団 | ピクセル型電極によるガス増幅を用いた粒子線画像検出器 |
JP2002014171A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Haruo Chisaka | 高性能He−3中性子計数装置 |
-
2007
- 2007-01-25 JP JP2007015255A patent/JP5082096B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008180647A (ja) | 2008-08-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091002 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110627 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110802 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110930 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120806 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
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